JPS6216476B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6216476B2 JPS6216476B2 JP56038490A JP3849081A JPS6216476B2 JP S6216476 B2 JPS6216476 B2 JP S6216476B2 JP 56038490 A JP56038490 A JP 56038490A JP 3849081 A JP3849081 A JP 3849081A JP S6216476 B2 JPS6216476 B2 JP S6216476B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inverter
- circuit
- power
- potential
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/20—Memory cell initialisation circuits, e.g. when powering up or down, memory clear, latent image memory
Landscapes
- Static Random-Access Memory (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は絶縁ゲート電界効果素子を用いた記
憶回路装置に係り、特に安定した動作をするパワ
ー・オン・リセツト回路に関するものである。
憶回路装置に係り、特に安定した動作をするパワ
ー・オン・リセツト回路に関するものである。
従来集積回路装置では、電源を入れた場合、内
部状態を初期状態に設定するパワー・オン・リセ
ツト型記憶回路が多用されている。
部状態を初期状態に設定するパワー・オン・リセ
ツト型記憶回路が多用されている。
以下従来の回路の動作を第1図の回路図に従い
説明する。
説明する。
第1のインバータにおいてデプリーシヨン型の
第1の負荷トランジスタQ1はドレインを電源D
側に、ゲート及びソースを出力1に接続してあ
る。第2のインバータのエンハンスメント型負荷
トランジスタQ2はドレイン及びゲートを電源D
側に、ソースを出力2に接続してある。増幅用ト
ランジスタQ3のドレイン、ゲート、ソースはそ
れぞれ1,2、接地3に、同じく増幅トランジス
タQ4のドレイン、ゲート、ソースはそれぞれ
2,1,3に接続され、全体として2種類のイン
バータが正帰還する様に構成されている。又、出
力端子1,2と接地3間には配線容量等の浮遊容
量及びMOS容量で成るC1,C2が存在してい
る。又、出力1(あるいは2)と接地3間に書込
み用トランジスタQ5(あるいはQ6)が接続さ
れている。
第1の負荷トランジスタQ1はドレインを電源D
側に、ゲート及びソースを出力1に接続してあ
る。第2のインバータのエンハンスメント型負荷
トランジスタQ2はドレイン及びゲートを電源D
側に、ソースを出力2に接続してある。増幅用ト
ランジスタQ3のドレイン、ゲート、ソースはそ
れぞれ1,2、接地3に、同じく増幅トランジス
タQ4のドレイン、ゲート、ソースはそれぞれ
2,1,3に接続され、全体として2種類のイン
バータが正帰還する様に構成されている。又、出
力端子1,2と接地3間には配線容量等の浮遊容
量及びMOS容量で成るC1,C2が存在してい
る。又、出力1(あるいは2)と接地3間に書込
み用トランジスタQ5(あるいはQ6)が接続さ
れている。
電源が切れて接地点電位の場合、平衡状態では
すべての接点は接地点3の電位と同じであるた
め、電源が入つた瞬間、Q3,Q4は非導通とな
つている(Q5,Q6も非導通状態とする。)。こ
のため、Q1,Q2の導通時抵抗R1,R2及びC
1,C2によつて決定されるR1C1、R2C2の時定
数に従い、出力端1,2はQ4あるいはQ3のし
きい値電圧VT1に達するまで充電される。R1C1
≪R2C2と設計されている場合、出力端1は先に
VT1に達するためQ4は導通し始める。一般に増
幅用トランジスタの導通抵抗は負荷トランジスタ
の導通抵抗より十分小さいため、出力端2の電位
上昇は小さくなる。一方、Q3は非導通のままな
ので出力1は更に充電されQ4の導通抵抗を更に
下げ出力端2の電位を下降させる様に働く。
すべての接点は接地点3の電位と同じであるた
め、電源が入つた瞬間、Q3,Q4は非導通とな
つている(Q5,Q6も非導通状態とする。)。こ
のため、Q1,Q2の導通時抵抗R1,R2及びC
1,C2によつて決定されるR1C1、R2C2の時定
数に従い、出力端1,2はQ4あるいはQ3のし
きい値電圧VT1に達するまで充電される。R1C1
≪R2C2と設計されている場合、出力端1は先に
VT1に達するためQ4は導通し始める。一般に増
幅用トランジスタの導通抵抗は負荷トランジスタ
の導通抵抗より十分小さいため、出力端2の電位
上昇は小さくなる。一方、Q3は非導通のままな
ので出力1は更に充電されQ4の導通抵抗を更に
下げ出力端2の電位を下降させる様に働く。
以上の如く、R1C1≪R2C2となる様に設計され
た回路では平衡状態で電源を入れた場合、出力端
1は目的とする初期状態である電源電位VD側に
必ず引上げられる。
た回路では平衡状態で電源を入れた場合、出力端
1は目的とする初期状態である電源電位VD側に
必ず引上げられる。
ところで、上記初期状態に設定された後、上記
書込み用トランジスタQ5を導通させてC1の電
荷を放電し出力端1を接地電位側に下げると、出
力端2はQ2により充電され、十分時間が経過し
た後は出力端2の電位はVD−VT1となり、Q5
を非導通にしてもこの状態(第2の安定状態)を
保つ。さて、上記第2の安定状態の後電源Dを接
地電位に落とすとQ2,Q4は非導通となつてい
るため、出力端2の電位は保持される事になる。
保持時間は、漏洩電流ILとC2により決まるがI
Lは通常十分小さく、かつC2は大きく設定してい
るため十分長くなる。従つて保持された状態で再
び電源が入ると本回路は第2の安定状態のままと
なり、目的とする初期状態に設定されない。
書込み用トランジスタQ5を導通させてC1の電
荷を放電し出力端1を接地電位側に下げると、出
力端2はQ2により充電され、十分時間が経過し
た後は出力端2の電位はVD−VT1となり、Q5
を非導通にしてもこの状態(第2の安定状態)を
保つ。さて、上記第2の安定状態の後電源Dを接
地電位に落とすとQ2,Q4は非導通となつてい
るため、出力端2の電位は保持される事になる。
保持時間は、漏洩電流ILとC2により決まるがI
Lは通常十分小さく、かつC2は大きく設定してい
るため十分長くなる。従つて保持された状態で再
び電源が入ると本回路は第2の安定状態のままと
なり、目的とする初期状態に設定されない。
以上の如く、従来回路では電源の開閉間隔が短
い場合、目的とするパワー・オン・リセツト機能
が働かない欠点があつた。
い場合、目的とするパワー・オン・リセツト機能
が働かない欠点があつた。
本発明は上記従来回路の欠点を改善し、パワ
ー・オン・リセツト機能の確実な動作を可能とす
る絶縁ゲート型記憶回路を提供するものである。
ー・オン・リセツト機能の確実な動作を可能とす
る絶縁ゲート型記憶回路を提供するものである。
本発明は第1のインバータおよび第2のインバ
ータを有するフリツプ・フロツプ回路と、電源投
入に応答して前記第1のインバータの出力点を前
記第2のインバータの出力点よりも先に充電する
回路とを有する絶縁ゲート型記憶回路において、
電源遮断に応答して前記第2のインバータの出力
点電位を強制的に放電する回路を設けたことを特
徴とするものである。また前記放電回路は一端を
前記第2のインバータの出力点に、他端を電源の
一端に接続した電界効果トランジスタを含むこと
を特徴とする。
ータを有するフリツプ・フロツプ回路と、電源投
入に応答して前記第1のインバータの出力点を前
記第2のインバータの出力点よりも先に充電する
回路とを有する絶縁ゲート型記憶回路において、
電源遮断に応答して前記第2のインバータの出力
点電位を強制的に放電する回路を設けたことを特
徴とするものである。また前記放電回路は一端を
前記第2のインバータの出力点に、他端を電源の
一端に接続した電界効果トランジスタを含むこと
を特徴とする。
次に、本発明をその実施例に従い、図面を参照
して説明する。
して説明する。
第2図は本発明の一実施例を示す回路接続図で
あり、エンハンスメント型絶縁ゲート電界効果ト
ランジスタQ7を、トランジスタQ2と並列に、ゲ
ートが出力端2になるように接続して挿入されて
いることを除いて第1図の従来例と同じである。
電源が切れている場合、平衡状態ではすべての接
点は接地点3電位と同じである。
あり、エンハンスメント型絶縁ゲート電界効果ト
ランジスタQ7を、トランジスタQ2と並列に、ゲ
ートが出力端2になるように接続して挿入されて
いることを除いて第1図の従来例と同じである。
電源が切れている場合、平衡状態ではすべての接
点は接地点3電位と同じである。
電源が入つた場合、Q3,Q4及びQ7はオフ
しているため、上記従来回路と同じ動作で出力端
1は電源電位VD側に引上げられる。上記初期状
態が定まつた後、トランジスタQ5を導通させる
事により第2の安定状態(出力1を接地電位側に
下げ、出力2をVD−VT1に引き上げる)に反転
させた後、トランジスタQ5を非導通にさせる。
この後電源を切る(接地点電位に落とす)と、ト
ランジスタQ2,Q4は非導通となつているが、
Q7は電源Dの電位がVD−2VT1まで落ちた時、
導通し、出力端2に充電された電荷を放電する。
このため出力端2電位はVT1まで急速に回復す
る。従つて再び電源が入つた場合、前記時定数が
R1C1≪R2C2であり、更に上記第2のインバータ
はエンハンスメント型負荷であるため出力端2の
電位はVD−VT付近では極めて上昇しにくく、前
記第1のインバータの論理しきい値が高ければQ
4の導通により出力2の電位は下げられ初期状態
に設定される。
しているため、上記従来回路と同じ動作で出力端
1は電源電位VD側に引上げられる。上記初期状
態が定まつた後、トランジスタQ5を導通させる
事により第2の安定状態(出力1を接地電位側に
下げ、出力2をVD−VT1に引き上げる)に反転
させた後、トランジスタQ5を非導通にさせる。
この後電源を切る(接地点電位に落とす)と、ト
ランジスタQ2,Q4は非導通となつているが、
Q7は電源Dの電位がVD−2VT1まで落ちた時、
導通し、出力端2に充電された電荷を放電する。
このため出力端2電位はVT1まで急速に回復す
る。従つて再び電源が入つた場合、前記時定数が
R1C1≪R2C2であり、更に上記第2のインバータ
はエンハンスメント型負荷であるため出力端2の
電位はVD−VT付近では極めて上昇しにくく、前
記第1のインバータの論理しきい値が高ければQ
4の導通により出力2の電位は下げられ初期状態
に設定される。
なお、トランジスタQ7のしきい値電圧VT0の
絶対値を他のエンハンスメント型トランジスタよ
り低く設定した場合、前記第2の安定状態が保た
れた後、電源線の電位がVD−VT1−VT0まで落
ちるとQ7は導通し、出力2の電位はVT0まで急
速に下がる。従つて再び電源が入つた場合、出力
2はVT1まで充電されにくく、その結果更に確実
に目的とする初期状態が得られる。
絶対値を他のエンハンスメント型トランジスタよ
り低く設定した場合、前記第2の安定状態が保た
れた後、電源線の電位がVD−VT1−VT0まで落
ちるとQ7は導通し、出力2の電位はVT0まで急
速に下がる。従つて再び電源が入つた場合、出力
2はVT1まで充電されにくく、その結果更に確実
に目的とする初期状態が得られる。
以上に述べた如く、本発明により、従来技術で
は得られなかつたパワー・オン・リセツト機能の
確実な動作を達成する事が出来る。
は得られなかつたパワー・オン・リセツト機能の
確実な動作を達成する事が出来る。
第1図は従来の絶縁ゲート型記憶回路の回路接
続図、第2図は本発明の一実施例を示す回路接続
図である。 図において、Q1……デプリケーシヨン型トラ
ンジスタ、Q2,Q3,Q4,Q5,Q6……エ
ンハンスメント型トランジスタ、Q7……Q2〜
Q6のしきい値電圧と同じあるいは絶対値の低い
エンハンスメント型トランジスタ、D……電源
線、1,2……出力端、3……接地点、C1,C2
……浮遊容量あるいはゲート容量である。
続図、第2図は本発明の一実施例を示す回路接続
図である。 図において、Q1……デプリケーシヨン型トラ
ンジスタ、Q2,Q3,Q4,Q5,Q6……エ
ンハンスメント型トランジスタ、Q7……Q2〜
Q6のしきい値電圧と同じあるいは絶対値の低い
エンハンスメント型トランジスタ、D……電源
線、1,2……出力端、3……接地点、C1,C2
……浮遊容量あるいはゲート容量である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 第1のインバータおよび第2のインバータを
有するフリツプ・フロツプ回路と、電源投入に応
答して前記第1のインバータの出力点を前記第2
のインバータの出力点よりも先に充電する回路と
を有する絶縁ゲート型記憶回路において、電源遮
断に応答して前記第2のインバータの出力点電位
を強制的に放電する回路を設けたことを特徴とす
る絶縁ゲート型記憶回路。 2 前記放電回路は一端を前記第2のインバータ
の出力点に、他端を電源の一端に接続した電界効
果トランジスタを含むことを特徴とする特許請求
の範囲第1項記載の絶縁ゲート型記憶回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56038490A JPS57152593A (en) | 1981-03-17 | 1981-03-17 | Insulated gate type storing circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56038490A JPS57152593A (en) | 1981-03-17 | 1981-03-17 | Insulated gate type storing circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57152593A JPS57152593A (en) | 1982-09-20 |
| JPS6216476B2 true JPS6216476B2 (ja) | 1987-04-13 |
Family
ID=12526698
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56038490A Granted JPS57152593A (en) | 1981-03-17 | 1981-03-17 | Insulated gate type storing circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57152593A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5845695A (ja) * | 1981-09-10 | 1983-03-16 | Nec Corp | 絶縁ゲ−ト型記憶回路 |
| JPS59152597A (ja) * | 1983-02-18 | 1984-08-31 | Nec Corp | メモリ回路 |
-
1981
- 1981-03-17 JP JP56038490A patent/JPS57152593A/ja active Granted
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS=1977M10 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57152593A (en) | 1982-09-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4176289A (en) | Driving circuit for integrated circuit semiconductor memory | |
| US3676717A (en) | Nonvolatile flip-flop memory cell | |
| GB1589414A (en) | Fet driver circuits | |
| US4725981A (en) | Random access memory cell resistant to inadvertant change of state due to charged particles | |
| US4400799A (en) | Non-volatile memory cell | |
| US4150311A (en) | Differential amplifier circuit | |
| US4129794A (en) | Electrical integrated circuit chips | |
| JPS6323417A (ja) | Cmosパワ−オンリセツト回路 | |
| US4112296A (en) | Data latch | |
| US4336465A (en) | Reset circuit | |
| JPH0210517B2 (ja) | ||
| JPS6333734B2 (ja) | ||
| US3976895A (en) | Low power detector circuit | |
| US3971004A (en) | Memory cell with decoupled supply voltage while writing | |
| JPS61277227A (ja) | 高電圧絶縁回路 | |
| US4406956A (en) | FET Circuit for converting TTL to FET logic levels | |
| JPH0612869B2 (ja) | Cmosダイナミツクram用時間遅廷回路 | |
| US4525640A (en) | High performance and gate having an "natural" or zero threshold transistor for providing a faster rise time for the output | |
| JPH0715796B2 (ja) | 不揮発性ramメモリセル | |
| JPS5839117A (ja) | Mosトランジスタ駆動回路 | |
| JPS6143896B2 (ja) | ||
| US4868903A (en) | Safe logic zero and one supply for CMOS integrated circuits | |
| JPS5854875A (ja) | インバ−タ回路 | |
| JPH0410159B2 (ja) | ||
| EP0343872A2 (en) | CMOS power-on reset circuit |