JPS62177180A - 表面処理法 - Google Patents
表面処理法Info
- Publication number
- JPS62177180A JPS62177180A JP1795886A JP1795886A JPS62177180A JP S62177180 A JPS62177180 A JP S62177180A JP 1795886 A JP1795886 A JP 1795886A JP 1795886 A JP1795886 A JP 1795886A JP S62177180 A JPS62177180 A JP S62177180A
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- JP
- Japan
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- glow discharge
- gas
- auxiliary electrode
- substrate
- film
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- Pending
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- Solid-Phase Diffusion Into Metallic Material Surfaces (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明はグロー放電により被処理部材表面に目的物質を
拡散及びコーテイング膜を形成させる表面処理方法及び
表面処理装置に係り、特に被処理部材の前面にハチの巣
状にグロー放電室が複数個有した補助電極で供給ガスを
分解、励起、活性化する手段を有し、更にこの手段に前
記供給ガスを被処理部材表面に供給するガス供給口を設
けて、グロー放電の電流密度を著しく高めて反応に関与
する物質を活性化させ迅速な表面処理を可能にした表面
処理法に関する。
拡散及びコーテイング膜を形成させる表面処理方法及び
表面処理装置に係り、特に被処理部材の前面にハチの巣
状にグロー放電室が複数個有した補助電極で供給ガスを
分解、励起、活性化する手段を有し、更にこの手段に前
記供給ガスを被処理部材表面に供給するガス供給口を設
けて、グロー放電の電流密度を著しく高めて反応に関与
する物質を活性化させ迅速な表面処理を可能にした表面
処理法に関する。
表面処理法あるいは装置としては種々の方式がある。最
近、特に高周波プラズマCVD装置が高速、高性能被膜
形成法として注目されている。この−例として特開昭5
9−38373号がある。すなわち、この方法は10−
8〜10−”Torrに減圧した反応室内に反応に寄与
する原料ガスを供給し、この原料を前記減圧反応室内に
設けた高周波コイル等による電気エネルギーによりプラ
ズマ放電を形成させ、反応物質を分解、励起、電離等で
活性化させ、ヒーターあるいはグロー放電などにより予
め加熱した被処理部材の成膜面に導いて薄膜を生成した
ものである。しかし、この方法で、被膜形成速度は、プ
ラズマ中での反応物質の量とその活性化の程度が支配因
子となる。活性化の程度を向上させるためには、原料ガ
スを多量に供給する方法とプラズマ放電入力を大きくす
る方法がある。
近、特に高周波プラズマCVD装置が高速、高性能被膜
形成法として注目されている。この−例として特開昭5
9−38373号がある。すなわち、この方法は10−
8〜10−”Torrに減圧した反応室内に反応に寄与
する原料ガスを供給し、この原料を前記減圧反応室内に
設けた高周波コイル等による電気エネルギーによりプラ
ズマ放電を形成させ、反応物質を分解、励起、電離等で
活性化させ、ヒーターあるいはグロー放電などにより予
め加熱した被処理部材の成膜面に導いて薄膜を生成した
ものである。しかし、この方法で、被膜形成速度は、プ
ラズマ中での反応物質の量とその活性化の程度が支配因
子となる。活性化の程度を向上させるためには、原料ガ
スを多量に供給する方法とプラズマ放電入力を大きくす
る方法がある。
しかし、高周波プラズマCVDは高周波を発生できる圧
力領域が10−ITorr以下と低いため、供給できる
ガス流量は制限され、原料ガスを多量に供給する方法は
活性化の程度を向上させる点においては余り期待できな
い。
力領域が10−ITorr以下と低いため、供給できる
ガス流量は制限され、原料ガスを多量に供給する方法は
活性化の程度を向上させる点においては余り期待できな
い。
次に放電入力を大きくする方法であるが、プラズマ中の
反応物質の活性化を促進するために入力を高くすると、
電圧が高くなることによる放電のバラツキが生じたりあ
るいはプラズマに直接さらされている被処理部材の温度
が必要以上に上昇したりするため、膜質や膜の均一性が
悪くなったりあるいは被処理部材の材質に制限が加わる
ことがある。また、高周波プラズマは基板と原料ガスあ
るいはプラズマの活性部との距離をあまり短かくするこ
とができないので、広い面積に表面処理するのが困難で
あった。
反応物質の活性化を促進するために入力を高くすると、
電圧が高くなることによる放電のバラツキが生じたりあ
るいはプラズマに直接さらされている被処理部材の温度
が必要以上に上昇したりするため、膜質や膜の均一性が
悪くなったりあるいは被処理部材の材質に制限が加わる
ことがある。また、高周波プラズマは基板と原料ガスあ
るいはプラズマの活性部との距離をあまり短かくするこ
とができないので、広い面積に表面処理するのが困難で
あった。
このような理由により、高周波プラズマCVDでは被処
理部材表面に十分に活性化された反応物質を供給するに
は限界があり、良質で均一な被膜を短時間で生成させる
には困難があった。
理部材表面に十分に活性化された反応物質を供給するに
は限界があり、良質で均一な被膜を短時間で生成させる
には困難があった。
すなわち、均質かつ高速成膜を得るためには反応ガスを
効率的に分解し、被処理部材の処理部表面の電流密度が
著しく高いプラズマを形成し、分解、励起された反応ガ
ス物質を供給させることが必要である。
効率的に分解し、被処理部材の処理部表面の電流密度が
著しく高いプラズマを形成し、分解、励起された反応ガ
ス物質を供給させることが必要である。
グロー放電により目的物質を拡散あるいはコーテイング
膜を形成する他の方法として、直流放電プラズマCVD
法がある。その−例として特開昭57−188670号
公報があり、第3図にその装置例を示すにの処理方法は
金属ハロゲン化物質等のガス物質を含む0.1〜数To
rrの減圧反応室1内に直流電源5の陰極に接続された
導電性被処理部材2を配設し、この導電性被処理部材に
対向して、これと等電位の補助電極3を設け、導電性被
処理部材2のグロー放電と補助電極3のグロー放電との
間に相互作用を発生させてグロー放電表面処理を行い、
導電性被処理部材2の表面に目的物質をコーティングす
るものである。このような処理方法においては、被処理
部近傍で反応種の電離密度を高めることができるので、
他のグロー放電のみによる方式に比べて高速で良質の被
膜を形成することができる。しかし、この方式によって
、更に高速処理する場合には印加電圧を高めてグロー放
電電流密度を高めるか、あるいは補助電極と被処理部材
との間の間隙を少なくして相互作用より強力にする必要
がある。
膜を形成する他の方法として、直流放電プラズマCVD
法がある。その−例として特開昭57−188670号
公報があり、第3図にその装置例を示すにの処理方法は
金属ハロゲン化物質等のガス物質を含む0.1〜数To
rrの減圧反応室1内に直流電源5の陰極に接続された
導電性被処理部材2を配設し、この導電性被処理部材に
対向して、これと等電位の補助電極3を設け、導電性被
処理部材2のグロー放電と補助電極3のグロー放電との
間に相互作用を発生させてグロー放電表面処理を行い、
導電性被処理部材2の表面に目的物質をコーティングす
るものである。このような処理方法においては、被処理
部近傍で反応種の電離密度を高めることができるので、
他のグロー放電のみによる方式に比べて高速で良質の被
膜を形成することができる。しかし、この方式によって
、更に高速処理する場合には印加電圧を高めてグロー放
電電流密度を高めるか、あるいは補助電極と被処理部材
との間の間隙を少なくして相互作用より強力にする必要
がある。
しかしながら、前者の場合、グロー放電のエネルギーを
高めることは直接被処理部材表面のグロー放電電流の増
加となり、このことは被処理部材表面へのエネルギーの
供給量の増大になるので。
高めることは直接被処理部材表面のグロー放電電流の増
加となり、このことは被処理部材表面へのエネルギーの
供給量の増大になるので。
印加電圧を高くすると被処理部材の温度が上昇すること
になる。したがって被処理部材の材質によって適用温度
に限界があるという問題がある。
になる。したがって被処理部材の材質によって適用温度
に限界があるという問題がある。
一方、後者の場合、補助電極と被処理部材との間の間隙
を小さくする方式の場合には間隙を小さくするとグロー
放電間の相互作用が強くなるので高電流密度の放電とな
り、反応は促進される。しかし、間隙が小さくなると、
その空間内への新しいガスの供給が不十分になると共に
、その空間では双方の面から放出されるスパッタ原子の
帯留時間が長くなりコーティング層の純度が低下するこ
とになる。更にこの方式では被処理部材の性質として導
電性が要求される。したがって、絶縁物質の被処理材に
対しては被処理部材との間にグロー放電を発生すること
ができず、高速成膜は望めなかった。また、絶縁性の被
処理部材のみならず、導電率の低い被膜を形成するよう
な場合にも、成膜が進む程放電の電流密度が低くなるの
で高速成膜はむずかしく、この場合、更に放電維持電圧
が高くなるので、スパッター等で表面が粗くなったり膜
質が変化したりするため、膜質の制御もむずかしい。以
上のように従来の方法では、活性化された反応物質を被
処理部材表面やその近傍に面した部分で生成させている
ので、より多くの反応種を生成させようとすると、どう
しても被処理部材への影響を避けることができなかった
。
を小さくする方式の場合には間隙を小さくするとグロー
放電間の相互作用が強くなるので高電流密度の放電とな
り、反応は促進される。しかし、間隙が小さくなると、
その空間内への新しいガスの供給が不十分になると共に
、その空間では双方の面から放出されるスパッタ原子の
帯留時間が長くなりコーティング層の純度が低下するこ
とになる。更にこの方式では被処理部材の性質として導
電性が要求される。したがって、絶縁物質の被処理材に
対しては被処理部材との間にグロー放電を発生すること
ができず、高速成膜は望めなかった。また、絶縁性の被
処理部材のみならず、導電率の低い被膜を形成するよう
な場合にも、成膜が進む程放電の電流密度が低くなるの
で高速成膜はむずかしく、この場合、更に放電維持電圧
が高くなるので、スパッター等で表面が粗くなったり膜
質が変化したりするため、膜質の制御もむずかしい。以
上のように従来の方法では、活性化された反応物質を被
処理部材表面やその近傍に面した部分で生成させている
ので、より多くの反応種を生成させようとすると、どう
しても被処理部材への影響を避けることができなかった
。
本発明の目的は前述の従来技術の開運が解決でき、被処
理部材表面とその前面に配置した補助電極との空間に、
常に新しい活性化した反応ガスを供給し、その反応ガス
の電離密度と著しく高める箱とにより被処理部材の材質
及び温度を任意に、特に低温に保ったままで良質の被膜
を高速で成膜することを可能にする表面処理法を提供す
ることにある。
理部材表面とその前面に配置した補助電極との空間に、
常に新しい活性化した反応ガスを供給し、その反応ガス
の電離密度と著しく高める箱とにより被処理部材の材質
及び温度を任意に、特に低温に保ったままで良質の被膜
を高速で成膜することを可能にする表面処理法を提供す
ることにある。
本発明は減圧した反応室内に配置した被処理部材前面に
グロー放電室がハチの巣状に複数個有した補助電極を配
設するもので、該補助電極は減圧した反応室内の被処理
部材とその前面の補助電極のグロー放電室内及びその空
間に供給した反応ガスをプラズマによって分解、励起活
性化させる構造を有する部分と、活性化された反応ガス
を被処理部材表面まで導く部分とを備えることにより被
処理部材に悪影響を及ぼすことなく被処理部材表面に、
常に新しい活性化された反応種の存在割合を著しく増大
させて、任意の材質の被処理部材に適切な温度で所望の
被膜を良質かつ均一で高速に形成するものである。更に
、供給ガスを活性化する構造内には、少なくとも1個以
上グロー放電室あるいは181以上のガス供給口を設け
、グロー放電域に常に新鮮な反応ガスを供給し、電極の
スパッタ等による不純物が少なく、活性化した反応ガス
を供給させて被膜を形成するようにしだものでる。
グロー放電室がハチの巣状に複数個有した補助電極を配
設するもので、該補助電極は減圧した反応室内の被処理
部材とその前面の補助電極のグロー放電室内及びその空
間に供給した反応ガスをプラズマによって分解、励起活
性化させる構造を有する部分と、活性化された反応ガス
を被処理部材表面まで導く部分とを備えることにより被
処理部材に悪影響を及ぼすことなく被処理部材表面に、
常に新しい活性化された反応種の存在割合を著しく増大
させて、任意の材質の被処理部材に適切な温度で所望の
被膜を良質かつ均一で高速に形成するものである。更に
、供給ガスを活性化する構造内には、少なくとも1個以
上グロー放電室あるいは181以上のガス供給口を設け
、グロー放電域に常に新鮮な反応ガスを供給し、電極の
スパッタ等による不純物が少なく、活性化した反応ガス
を供給させて被膜を形成するようにしだものでる。
以下に本発明を更に詳細に説明する。既に述べたように
、従来の表面処理方式では高速で表面処理あるいは成膜
をしようとすると、印加電圧あるいは電流密度を高くす
るか、温度を高くする必要があった。しかし、この従来
の方式においては活性化された反応種が直接被処理部材
表面に面したプラズマ空間で形成されるため、高電圧が
印加されると被処理部材表面がスパッタリング等によっ
て、被股内に不純物が混入され、表面粗さを大きくする
と共に、被処理部材自体の温度が上昇して被膜の性質を
劣下させる等の悪影響を生じる。
、従来の表面処理方式では高速で表面処理あるいは成膜
をしようとすると、印加電圧あるいは電流密度を高くす
るか、温度を高くする必要があった。しかし、この従来
の方式においては活性化された反応種が直接被処理部材
表面に面したプラズマ空間で形成されるため、高電圧が
印加されると被処理部材表面がスパッタリング等によっ
て、被股内に不純物が混入され、表面粗さを大きくする
と共に、被処理部材自体の温度が上昇して被膜の性質を
劣下させる等の悪影響を生じる。
そこで1本発明者らは補助電極のグロー放電室内及び被
処理部材とその前面の補助電極との空間で反応ガス物質
を活性化させる構造を補助電極に具備することにより、
任意の被処理部材表面に、その温度を高めることなく、
活性化された反応種を高濃度で供給し、更にその活性化
させる空間には常に新しい反応ガスを多量に供給し、活
性化された反応ガスが均一に供給されるようにすること
によって、高純度で良質、均質な被膜を高速で成膜でき
ることを見い出した。
処理部材とその前面の補助電極との空間で反応ガス物質
を活性化させる構造を補助電極に具備することにより、
任意の被処理部材表面に、その温度を高めることなく、
活性化された反応種を高濃度で供給し、更にその活性化
させる空間には常に新しい反応ガスを多量に供給し、活
性化された反応ガスが均一に供給されるようにすること
によって、高純度で良質、均質な被膜を高速で成膜でき
ることを見い出した。
すなわち、本発明による方式は減圧した反応室内に配設
した被処理部材前面にハチの巣状にグロー放電室が複数
個有した補助電極を配設し、その空間に該補助電極の反
応ガス供給口により、常に新しい活性化した反応ガスを
供給することを特徴とするものである。
した被処理部材前面にハチの巣状にグロー放電室が複数
個有した補助電極を配設し、その空間に該補助電極の反
応ガス供給口により、常に新しい活性化した反応ガスを
供給することを特徴とするものである。
実施例1
第1図は本発明の実施例に係る表面処理装置の概略を示
したものである。同図において、減圧反応室1内には被
処理部材2を配設し、この前面に反応ガス供給口を兼ね
備えた補助電極3を補助電極のガス供給口から被処理部
材2までの距離を25mにして配設した。残留ガスはロ
ータリーポンプ4によって排気される。
したものである。同図において、減圧反応室1内には被
処理部材2を配設し、この前面に反応ガス供給口を兼ね
備えた補助電極3を補助電極のガス供給口から被処理部
材2までの距離を25mにして配設した。残留ガスはロ
ータリーポンプ4によって排気される。
補助電極3は第2図に示すような構造をしている。電極
3の被処理部材2に面した側は、直径100μmのガス
供給口5を有し、このガス供給5を囲むように直径7m
m、高さ15+mのグロー放電室6が間隔1a++で縦
横に配置されている。
3の被処理部材2に面した側は、直径100μmのガス
供給口5を有し、このガス供給5を囲むように直径7m
m、高さ15+mのグロー放電室6が間隔1a++で縦
横に配置されている。
かかる補助電極を用いた方式により、まず反応室1をI
Q−’Torr以下に減圧し、その後、ガス供給管8
を介してガス供給口5がら水素ガスを供給し、補助電極
3を直流電源7の陰極に接続し1反応室1の炉体を陽極
に接続して直流電圧を印加し、グロー放電を発生させ、
被処理部材2を250’Cまで加熱した。その後、水素
ガスをキャリアーとし5iHaガスを導入し、反応室1
をI Torrの圧力に保持しながら被処理部材1を2
50℃に維持して、アモルファスシリコンのコーティン
グを行った。放電電圧は450Vであった。被処理部材
1の形状及び材質については30 rrtn X 30
rm X 1聞のステンレス板、アルミ板及びアルミ
ナ板を用いた。この場合のグロー放電は補助電極3のグ
ロー放電室内で最も強くなっている。すなわち反応ガス
はこの空間を通過するので放電域でガスの分解、電離な
どの活性化が充分に行われていることを示唆している。
Q−’Torr以下に減圧し、その後、ガス供給管8
を介してガス供給口5がら水素ガスを供給し、補助電極
3を直流電源7の陰極に接続し1反応室1の炉体を陽極
に接続して直流電圧を印加し、グロー放電を発生させ、
被処理部材2を250’Cまで加熱した。その後、水素
ガスをキャリアーとし5iHaガスを導入し、反応室1
をI Torrの圧力に保持しながら被処理部材1を2
50℃に維持して、アモルファスシリコンのコーティン
グを行った。放電電圧は450Vであった。被処理部材
1の形状及び材質については30 rrtn X 30
rm X 1聞のステンレス板、アルミ板及びアルミ
ナ板を用いた。この場合のグロー放電は補助電極3のグ
ロー放電室内で最も強くなっている。すなわち反応ガス
はこの空間を通過するので放電域でガスの分解、電離な
どの活性化が充分に行われていることを示唆している。
更に充分に活性化された反応ガスはガス供給5から新し
いガスが供給されるので。
いガスが供給されるので。
次々と被処理部材2の表面へと送られる。このようにし
てアモルファスシリコンを被処理部材2上に成膜され、
1時間で約15μmが得られた。
てアモルファスシリコンを被処理部材2上に成膜され、
1時間で約15μmが得られた。
実施例2
実施例1と同様の補助電極を有する装置を用い、反応室
内を10−’Torrに減圧し、その後、水素ガスを供
給しグロー放電を発生させ、被処理部材であるステンレ
ス板、アルミ板及びアルミナ板(いずれも30mmX
30mmX 1mm)を250℃まで加熱した。その後
、S i H4を窒素、水素の混合ガスを供給して、被
処理部材上に5isNnを成膜した。
内を10−’Torrに減圧し、その後、水素ガスを供
給しグロー放電を発生させ、被処理部材であるステンレ
ス板、アルミ板及びアルミナ板(いずれも30mmX
30mmX 1mm)を250℃まで加熱した。その後
、S i H4を窒素、水素の混合ガスを供給して、被
処理部材上に5isNnを成膜した。
〔発明の効果〕
以上詳述したように、本発明の表面処理方法によれば、
被処理部材との前面にグロー放電室を複数個有した補助
電極を用いることにより、供給ガスの電離密度を被処理
部材前面の補助電極のグロー放電室内の空間で著しく高
めることができるので、被処理部材の材質が導電性ある
いは絶縁性であれ、またその温度を必要以上に高めるこ
となく任意の温度で、良質で均一な所望の被膜を高速で
成膜することが可能になった。
被処理部材との前面にグロー放電室を複数個有した補助
電極を用いることにより、供給ガスの電離密度を被処理
部材前面の補助電極のグロー放電室内の空間で著しく高
めることができるので、被処理部材の材質が導電性ある
いは絶縁性であれ、またその温度を必要以上に高めるこ
となく任意の温度で、良質で均一な所望の被膜を高速で
成膜することが可能になった。
第1図は本発明の一実施例に係る表面処理装置を示す概
略説明図、第2図は第1図に示した実施例に用いた補助
電極の構造図、第3図は従来の表面処理装置の概略説明
図である。 1・・・反応室、2・・・被処理部材、3・・・補助電
極、4帛2図 (α) (b)
略説明図、第2図は第1図に示した実施例に用いた補助
電極の構造図、第3図は従来の表面処理装置の概略説明
図である。 1・・・反応室、2・・・被処理部材、3・・・補助電
極、4帛2図 (α) (b)
Claims (1)
- 1、真空排気できる反応容器内に被処理部を配設し、そ
の前面に補助電極を有し、かつ、前記反応容器内に反応
ガスを供給し、グロー放電により分解、励起等により活
性化状態の反応ガスの電離密度を著しく高めて被処理部
材表面に導くことによつて、被処理部材表面に目的の物
質を拡散、コーティング等の表面処理をする方法におい
て、前記補助電極はハチの巣状のグロー放電室が複数個
有し、かつ、前記反応ガスをハチの巣状のガス供給口を
通して被処理部材と補助電極間に反応ガスを供給するこ
とを特徴とする表面処理法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1795886A JPS62177180A (ja) | 1986-01-31 | 1986-01-31 | 表面処理法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1795886A JPS62177180A (ja) | 1986-01-31 | 1986-01-31 | 表面処理法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62177180A true JPS62177180A (ja) | 1987-08-04 |
Family
ID=11958254
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1795886A Pending JPS62177180A (ja) | 1986-01-31 | 1986-01-31 | 表面処理法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62177180A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01165762A (ja) * | 1987-12-21 | 1989-06-29 | Hitachi Ltd | 被膜形成装置 |
| US5773100A (en) * | 1987-08-14 | 1998-06-30 | Applied Materials, Inc | PECVD of silicon nitride films |
| WO1999002755A1 (en) * | 1997-07-11 | 1999-01-21 | Applied Materials, Inc. | Chemical vapor deposition manifold |
-
1986
- 1986-01-31 JP JP1795886A patent/JPS62177180A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5773100A (en) * | 1987-08-14 | 1998-06-30 | Applied Materials, Inc | PECVD of silicon nitride films |
| US6040022A (en) * | 1987-08-14 | 2000-03-21 | Applied Materials, Inc. | PECVD of compounds of silicon from silane and nitrogen |
| JPH01165762A (ja) * | 1987-12-21 | 1989-06-29 | Hitachi Ltd | 被膜形成装置 |
| WO1999002755A1 (en) * | 1997-07-11 | 1999-01-21 | Applied Materials, Inc. | Chemical vapor deposition manifold |
| US6024799A (en) * | 1997-07-11 | 2000-02-15 | Applied Materials, Inc. | Chemical vapor deposition manifold |
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