JPS62188280A - GaAs集積回路 - Google Patents
GaAs集積回路Info
- Publication number
- JPS62188280A JPS62188280A JP60231560A JP23156085A JPS62188280A JP S62188280 A JPS62188280 A JP S62188280A JP 60231560 A JP60231560 A JP 60231560A JP 23156085 A JP23156085 A JP 23156085A JP S62188280 A JPS62188280 A JP S62188280A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- gate length
- fets
- fet
- scfl
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/094—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
- H03K19/09432—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors with coupled sources or source coupled logic
- H03K19/09436—Source coupled field-effect logic [SCFL]
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Mathematical Physics (AREA)
- Junction Field-Effect Transistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はG a A s集積回路、特にソースカッブル
ドFEToシック(SCFL)を用いたG a A s
集積回路に関する。
ドFEToシック(SCFL)を用いたG a A s
集積回路に関する。
従来の技術
G a A s集積回路は、G a A sの高い易動
度のためにシリコンを材料とした集積回路では実現でき
ない高速の信号処理が可能であるため各方面で開発が進
められている。特にソースカッブルドFETロジック(
SCFL)と呼ばれる回路形式は、すべてのFETをゲ
ートドレイン間容量の小さい領域で動作させることがで
きるだめ高速性にすぐれている。また基本的に電流駆動
型の差動動作であるため各FETの特性のばらつきに対
する許容度が大きく高速、高歩留りが実現可能なためG
a A s集積回路の回路形式として有力である。第
4図はSCFL回路の基本となるインバータを示す回路
図である。差動の入力A、AはスイッチングFETT、
、 T2をオン・オフすることによって定電流源T3
を流れる電流を切り換える。抵抗”1.R2での電圧降
下によって、出力B、Hには入力の反転信号、即ち13
=iが生ずる。なおFETT4〜T7タイオードD1.
D2は次段を駆動するだめのレベルシフト部である。
度のためにシリコンを材料とした集積回路では実現でき
ない高速の信号処理が可能であるため各方面で開発が進
められている。特にソースカッブルドFETロジック(
SCFL)と呼ばれる回路形式は、すべてのFETをゲ
ートドレイン間容量の小さい領域で動作させることがで
きるだめ高速性にすぐれている。また基本的に電流駆動
型の差動動作であるため各FETの特性のばらつきに対
する許容度が大きく高速、高歩留りが実現可能なためG
a A s集積回路の回路形式として有力である。第
4図はSCFL回路の基本となるインバータを示す回路
図である。差動の入力A、AはスイッチングFETT、
、 T2をオン・オフすることによって定電流源T3
を流れる電流を切り換える。抵抗”1.R2での電圧降
下によって、出力B、Hには入力の反転信号、即ち13
=iが生ずる。なおFETT4〜T7タイオードD1.
D2は次段を駆動するだめのレベルシフト部である。
一般に、G a A s集積回路の速度を決めているの
は各FETの特性である。即ちη、T2の相互フンダク
タンス9mの増大、ゲート容量の減少が高速化にとって
最も重要な要因となる。そのためにはFETのゲート長
を短縮することが最も効果的であり、いかに再現性良く
短ゲート長のFETを作作製するかがG a A s集
積回路の鍵を握っているといえる。しかしゲート長の短
縮に伴っていわゆるジョートチヤシネル効果と呼ばれる
問題が生ずる。
は各FETの特性である。即ちη、T2の相互フンダク
タンス9mの増大、ゲート容量の減少が高速化にとって
最も重要な要因となる。そのためにはFETのゲート長
を短縮することが最も効果的であり、いかに再現性良く
短ゲート長のFETを作作製するかがG a A s集
積回路の鍵を握っているといえる。しかしゲート長の短
縮に伴っていわゆるジョートチヤシネル効果と呼ばれる
問題が生ずる。
即ちゲート長が1μm以下になると、閾値の低下、閾値
のばらつきの増大、ドレインコンダクタンスの増大等の
現象が生ずる。第1図のようにFETT3. T6.
T7を定電流源として働かせるような5CFL回路にお
いては、これらのFETのドレインコンダクタンスの増
大は回路の性能を大きく劣化させる。つまり本来定電流
源であるべきFETT3が飽和特性を示さないために、
本来一定電位であるべきT1.T2の共通ソースの電圧
が変動する。
のばらつきの増大、ドレインコンダクタンスの増大等の
現象が生ずる。第1図のようにFETT3. T6.
T7を定電流源として働かせるような5CFL回路にお
いては、これらのFETのドレインコンダクタンスの増
大は回路の性能を大きく劣化させる。つまり本来定電流
源であるべきFETT3が飽和特性を示さないために、
本来一定電位であるべきT1.T2の共通ソースの電圧
が変動する。
同様にFETT6.T7が飽和特性を示さないために出
力の電位も変動し、安定な動作を阻害する結果となる。
力の電位も変動し、安定な動作を阻害する結果となる。
さらに電源電圧Vsllの変動によりFETT3.T6
.T7のドレインソース間電圧が変動するとT3. T
6. T7に流れる電流が変動する。従って電源電圧の
変動によって消費電流が大きく変動するという問題が生
ずる。
.T7のドレインソース間電圧が変動するとT3. T
6. T7に流れる電流が変動する。従って電源電圧の
変動によって消費電流が大きく変動するという問題が生
ずる。
発明が解決しようとする問題点
以上述べたように従来の5CFL回路を用いたG a
A s集積回路では、高速化のためFETのゲート長を
短くするとジョートチヤシネル効果により定電流源とな
るべきFETのドレインコンダクタンスが増大し、動作
が不安定となり、電流値が変動するという問題があった
。本発明はこのような点を解決しようとするものであり
、高速でしかも安定な動作をするS CF L GaA
s集積回路を提供しようとするものである。
A s集積回路では、高速化のためFETのゲート長を
短くするとジョートチヤシネル効果により定電流源とな
るべきFETのドレインコンダクタンスが増大し、動作
が不安定となり、電流値が変動するという問題があった
。本発明はこのような点を解決しようとするものであり
、高速でしかも安定な動作をするS CF L GaA
s集積回路を提供しようとするものである。
問題点を解決するための手段
本発明は上記問題点を解決するため、5CFL回路の中
で定電流源となるべきFETのゲート長を回路の高速性
を決める差動スイッチング部のFETのゲート長よりも
長くしたG a A s集積回路である。
で定電流源となるべきFETのゲート長を回路の高速性
を決める差動スイッチング部のFETのゲート長よりも
長くしたG a A s集積回路である。
作 用
本発明は上記の構成により、スイッチング部ではゲート
長の短縮により十分な高速性が得られ、定電、流源部で
はショートチャ%ネル効果を抑制することによって安定
な動作を実現可能とするものである。
長の短縮により十分な高速性が得られ、定電、流源部で
はショートチャ%ネル効果を抑制することによって安定
な動作を実現可能とするものである。
実施例
以上に本発明の一実施例における5CFL回路について
説明する。本実施例の5CFL回路は第4図における従
来の5CFL回路のスイッチングFETT1.T2のゲ
ート長をO,Bprn、電流源となるFETT3.T6
.T7のゲート長を1.07aとしたものである。この
とき、FETのソースドレイン間間隔は、T1.T2に
ついては2.4μm5T3については3.0μmとした
。
説明する。本実施例の5CFL回路は第4図における従
来の5CFL回路のスイッチングFETT1.T2のゲ
ート長をO,Bprn、電流源となるFETT3.T6
.T7のゲート長を1.07aとしたものである。この
とき、FETのソースドレイン間間隔は、T1.T2に
ついては2.4μm5T3については3.0μmとした
。
第1図はゲート長0.8μmのFETの電流電圧(Id
s −Vds )特性を、第2図はゲート長1.0 μ
mのFETの電流電圧特性を、それぞれ示す図である。
s −Vds )特性を、第2図はゲート長1.0 μ
mのFETの電流電圧特性を、それぞれ示す図である。
ゲート長0.8μmのFETの方が相互コンダクタンス
fmが太きいが、反面、ドレインコンダクタンス、すな
わちFETの飽和領域でのI −V特性の傾きが大きい
ことがわかる。5CFL回路で構成したG a A s
集積回路は定電流源となるFETを流れる電流を切り換
える動作であるため、定電流源となるFETの電流電圧
特性がそのまま消費電流の電源電圧依存性に反映する。
fmが太きいが、反面、ドレインコンダクタンス、すな
わちFETの飽和領域でのI −V特性の傾きが大きい
ことがわかる。5CFL回路で構成したG a A s
集積回路は定電流源となるFETを流れる電流を切り換
える動作であるため、定電流源となるFETの電流電圧
特性がそのまま消費電流の電源電圧依存性に反映する。
実際に、すべてのFETのゲート長を0.8μmとした
集積回路、具体的には可変分周器と、定電流源となるF
ETのゲート長のみ1μmとした可変分周器とを試作し
たところ、ドレインコンダクタンスの違いを反映して電
源電圧の変動に対する消費電流の安定性に改善が見られ
た。第3図のAはすべてのFETのゲ〒ト長0.8μm
のもの、Bは1μmゲート長のFETを用いたものの消
費電流依存性であるが電源電圧に対する安定性が明らか
である。また動作点の変動が少ないため定電流源FET
のゲート長を1μmとしたものの方が安定に動作し、最
高分周周波数が約20%増大した。
集積回路、具体的には可変分周器と、定電流源となるF
ETのゲート長のみ1μmとした可変分周器とを試作し
たところ、ドレインコンダクタンスの違いを反映して電
源電圧の変動に対する消費電流の安定性に改善が見られ
た。第3図のAはすべてのFETのゲ〒ト長0.8μm
のもの、Bは1μmゲート長のFETを用いたものの消
費電流依存性であるが電源電圧に対する安定性が明らか
である。また動作点の変動が少ないため定電流源FET
のゲート長を1μmとしたものの方が安定に動作し、最
高分周周波数が約20%増大した。
第4図では電流源となるFETとしてT、 、 T2と
同じ閾値のEFET (エンノ・ンスメント型FET)
を用い、バイアスvBによって電流値を調整する方式を
とったが、異なる閾値のFET、DFET(ディプレッ
ション型FET )であってもよい。
同じ閾値のEFET (エンノ・ンスメント型FET)
を用い、バイアスvBによって電流値を調整する方式を
とったが、異なる閾値のFET、DFET(ディプレッ
ション型FET )であってもよい。
一般にドレインコンダクタンスの増加はゲート長1μm
を境に急激におこることが知られているのでゲート長は
上の実施例では1.0μmとしたが、それ以上のゲート
長であってもよいことは当然である。
を境に急激におこることが知られているのでゲート長は
上の実施例では1.0μmとしたが、それ以上のゲート
長であってもよいことは当然である。
発明の効果
以上述べたように本発明によれば、ショートチャ臂ネル
効果によって生ずる5CFL回路の動作レベルの不安定
性、消費電源の変動のない高速なG a A s集積回
路を実現することができ、その実用的効果は極めて大き
い。
効果によって生ずる5CFL回路の動作レベルの不安定
性、消費電源の変動のない高速なG a A s集積回
路を実現することができ、その実用的効果は極めて大き
い。
第1図は本発明の一実施例における5CFLインバ一タ
回路に用いたゲート長0.8μのFETの電流電圧特性
図、第2図は同ゲート長1.0μmのFETの特性図、
第3図は本実施例回路を用いた可変分周器の消費電流の
電源電圧依存性を示す特性図、第4図は一般的な5CF
Lインバ一タ回路を示す回路図である。 T1.T2・・・・・・スイッチングトランジスタ(F
ET)、T3.T6.T7 ・・・・・・電流源となる
トランジスタ(FET)。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 Vrts (Vl 第2図 Vrts(VJ 第3図 〕舅1コ 湿りEfr三 Vpp(V)手続補正書口式
) ■事件の表示 昭和60年特許願間第31560 号2発明の名称 G a A s集積回路 3浦正をする者 事件との関係 特 許 出 願
人任 所 大阪府門真市大字門真1006番地名
称 (582)松下電器産業株式会社代表者
谷 井 昭 雄 4代理人 〒571 住 所 大阪府門真市大字門真1006番地松下電器
産業株式会社内 「GaAs集積回路」に補正します。
回路に用いたゲート長0.8μのFETの電流電圧特性
図、第2図は同ゲート長1.0μmのFETの特性図、
第3図は本実施例回路を用いた可変分周器の消費電流の
電源電圧依存性を示す特性図、第4図は一般的な5CF
Lインバ一タ回路を示す回路図である。 T1.T2・・・・・・スイッチングトランジスタ(F
ET)、T3.T6.T7 ・・・・・・電流源となる
トランジスタ(FET)。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 Vrts (Vl 第2図 Vrts(VJ 第3図 〕舅1コ 湿りEfr三 Vpp(V)手続補正書口式
) ■事件の表示 昭和60年特許願間第31560 号2発明の名称 G a A s集積回路 3浦正をする者 事件との関係 特 許 出 願
人任 所 大阪府門真市大字門真1006番地名
称 (582)松下電器産業株式会社代表者
谷 井 昭 雄 4代理人 〒571 住 所 大阪府門真市大字門真1006番地松下電器
産業株式会社内 「GaAs集積回路」に補正します。
Claims (1)
- ソースカッブルドFETロジックを用いたGaAs集積
回路であって、定電流源となるFETのゲート長を、差
動スイッチを構成するFETのゲート長より大きくして
なるGaAs集積回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60231560A JPS62188280A (ja) | 1985-10-17 | 1985-10-17 | GaAs集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60231560A JPS62188280A (ja) | 1985-10-17 | 1985-10-17 | GaAs集積回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62188280A true JPS62188280A (ja) | 1987-08-17 |
| JPH0334232B2 JPH0334232B2 (ja) | 1991-05-21 |
Family
ID=16925419
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60231560A Granted JPS62188280A (ja) | 1985-10-17 | 1985-10-17 | GaAs集積回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62188280A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0595277A (ja) * | 1991-10-02 | 1993-04-16 | Mitsubishi Electric Corp | ソース結合型論理回路 |
| US5376898A (en) * | 1992-03-30 | 1994-12-27 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit device |
| JP2010244067A (ja) * | 2001-10-24 | 2010-10-28 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置、表示装置、電子機器 |
-
1985
- 1985-10-17 JP JP60231560A patent/JPS62188280A/ja active Granted
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0595277A (ja) * | 1991-10-02 | 1993-04-16 | Mitsubishi Electric Corp | ソース結合型論理回路 |
| US5376898A (en) * | 1992-03-30 | 1994-12-27 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit device |
| JP2010244067A (ja) * | 2001-10-24 | 2010-10-28 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置、表示装置、電子機器 |
| US8378356B2 (en) | 2001-10-24 | 2013-02-19 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device including pixel |
| US8659027B2 (en) | 2001-10-24 | 2014-02-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and electronic device |
| US8994029B2 (en) | 2001-10-24 | 2015-03-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and driving method thereof |
| US9082734B2 (en) | 2001-10-24 | 2015-07-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and driving method thereof |
| US9449549B2 (en) | 2001-10-24 | 2016-09-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and driving method thereof |
| US9892679B2 (en) | 2001-10-24 | 2018-02-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
| US10679550B2 (en) | 2001-10-24 | 2020-06-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0334232B2 (ja) | 1991-05-21 |
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