JPS62201313A - ロ−タリ−エンコ−ダ− - Google Patents
ロ−タリ−エンコ−ダ−Info
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- JPS62201313A JPS62201313A JP4455686A JP4455686A JPS62201313A JP S62201313 A JPS62201313 A JP S62201313A JP 4455686 A JP4455686 A JP 4455686A JP 4455686 A JP4455686 A JP 4455686A JP S62201313 A JPS62201313 A JP S62201313A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
く技術分野〉
本発明はロータリーエンコーダーに関し、特に放射状に
配した回折格子を回転物体に取付け、該回折格子に例え
ばレーザーからの光束を照射し、該回折格子からの回折
光を利用して、回折格子若しくは回転物体の回転速度や
回転速度の変動量等の回転状態を光電的に検出するロー
タリーエンコーダーに関するものである。
配した回折格子を回転物体に取付け、該回折格子に例え
ばレーザーからの光束を照射し、該回折格子からの回折
光を利用して、回折格子若しくは回転物体の回転速度や
回転速度の変動量等の回転状態を光電的に検出するロー
タリーエンコーダーに関するものである。
〈従来技術〉
従来よりフロッピーデスクの駆動等のコンピューター機
器、プリンター等の事務機器、あるいはNC工作機械さ
らにはVTRのキヤブステンモーター澗回転ドラム等の
回転機構の回転速度や回転速度の変動量を検出する為の
手段とし −て光電的なロータリーエンコーダーが利
用されてきている。
器、プリンター等の事務機器、あるいはNC工作機械さ
らにはVTRのキヤブステンモーター澗回転ドラム等の
回転機構の回転速度や回転速度の変動量を検出する為の
手段とし −て光電的なロータリーエンコーダーが利
用されてきている。
光電的なロータリーエンコーダーは例えば第5図に示す
ように回転軸30に連絡した円板35の周囲に透光部と
遮光部を等間隔に設けた、所謂メインスケール31とこ
れに対応してメイ1ンスケールと等しい間隔で透光部と
遮光部とを設けた所謂固定のインデックススケール32
との双方のスケールを投光手段33と受光毛段34で挟
んで対向配置した所謂インデックススケール方式の構成
を採っている。この方法はメインスケールの回転に伴っ
て双方のスケールの透光部と遮光部の間隔に同期した信
号が得られ、この信号を周波数解析して回転軸の回転速
度の変動を検出している。この為、双方のスケールの透
光部と遮光部とのスケール間隔を細かくすればする程、
検出精度を高めることができる。しかしながらスケール
間隔を細かくすると回折光の影響で受光手段からの出力
信号のS/N比が低下し、検出精度が低下してしまう欠
点があった。この為メインスケールの透光部と遮光部の
格子の総本数を固定させ、透光部と遮光部の間隔を回折
光の影響を受けない程度まで拡大しようとするとメイン
スケールの円板の直径が増大し更に厚さも増大し装首全
体が大型化し、この結果被検回転物体への負荷が大きく
なってくる等の欠点があった。
ように回転軸30に連絡した円板35の周囲に透光部と
遮光部を等間隔に設けた、所謂メインスケール31とこ
れに対応してメイ1ンスケールと等しい間隔で透光部と
遮光部とを設けた所謂固定のインデックススケール32
との双方のスケールを投光手段33と受光毛段34で挟
んで対向配置した所謂インデックススケール方式の構成
を採っている。この方法はメインスケールの回転に伴っ
て双方のスケールの透光部と遮光部の間隔に同期した信
号が得られ、この信号を周波数解析して回転軸の回転速
度の変動を検出している。この為、双方のスケールの透
光部と遮光部とのスケール間隔を細かくすればする程、
検出精度を高めることができる。しかしながらスケール
間隔を細かくすると回折光の影響で受光手段からの出力
信号のS/N比が低下し、検出精度が低下してしまう欠
点があった。この為メインスケールの透光部と遮光部の
格子の総本数を固定させ、透光部と遮光部の間隔を回折
光の影響を受けない程度まで拡大しようとするとメイン
スケールの円板の直径が増大し更に厚さも増大し装首全
体が大型化し、この結果被検回転物体への負荷が大きく
なってくる等の欠点があった。
−・方、従来からリニアエンコーダーに於て、移動物体
に取付けた回折格子に可干渉光束を入射せしめ、該回折
格子から出射する回折光同志を重ね合わせることにより
得られる干渉縞を受光手段で検出し、移動物体の移動の
際に生じる受光面上での干渉縞の明暗を光電変換して電
気信号(パルス)を得ることにより移動物体の移動量を
検知する方式が提案されていた。
に取付けた回折格子に可干渉光束を入射せしめ、該回折
格子から出射する回折光同志を重ね合わせることにより
得られる干渉縞を受光手段で検出し、移動物体の移動の
際に生じる受光面上での干渉縞の明暗を光電変換して電
気信号(パルス)を得ることにより移動物体の移動量を
検知する方式が提案されていた。
従って、リニアエンコーダーに於けるこの干渉縞検出方
式をロータリーエンコーダーに適用すれば、上記従来の
ロータリーエンコーダーの欠点は全て解消出来ると考え
られる。しかしながら、ロータリーエンコーダーにこの
方式を用いる場合1回折格子として円板の如き回転物体
上に放射格子を形成し、この放射格子上に可干渉光束を
入射させて測定する方法を用いる為、この放射格子の中
心と回転物体の回転中心とが正確に一致しないことから
、 1111定時に偏心誤差の影響を受けることが多い
。
式をロータリーエンコーダーに適用すれば、上記従来の
ロータリーエンコーダーの欠点は全て解消出来ると考え
られる。しかしながら、ロータリーエンコーダーにこの
方式を用いる場合1回折格子として円板の如き回転物体
上に放射格子を形成し、この放射格子上に可干渉光束を
入射させて測定する方法を用いる為、この放射格子の中
心と回転物体の回転中心とが正確に一致しないことから
、 1111定時に偏心誤差の影響を受けることが多い
。
従って、偏心誤差の影響を軽減する為に放射格子の複数
の位置から出射した回折光同志を干渉させる方式をとる
ことが有効であるが、円板の如き回転物体のf相性(平
行度)が悪いと互。
の位置から出射した回折光同志を干渉させる方式をとる
ことが有効であるが、円板の如き回転物体のf相性(平
行度)が悪いと互。
いに干渉させるべき回折光同志に光路長差が発生し、7
1+11定誤差を生じる可能性があった。
1+11定誤差を生じる可能性があった。
〈発明の概要〉
本発明の目的は、上記問題点に鑑み、ロータリーエンコ
ーターに於ける回転物体の平行度に着目し、A11l定
時の所望の許容誤差を満足させる平行度を備えた回転物
体を有するロータリーエンコーダーを提供することにあ
る。
ーターに於ける回転物体の平行度に着目し、A11l定
時の所望の許容誤差を満足させる平行度を備えた回転物
体を有するロータリーエンコーダーを提供することにあ
る。
に足口的を達成する為に、本発明に係るロータリーエン
コーダーは、回転する物体に設けた回折格子の異なる位
置に可干渉光束を入射させ1、核回折格子から出射する
相異なる回折光を互いに毛ね合わせて1′−#縞を形成
し、該干渉縞を受光手段で検出することにより前記物体
の回転状態を検知するロータリーエンコーダーに於て、
+iii記物体の平行度aが以下の式を満足する様にし
たことを特徴とする。
コーダーは、回転する物体に設けた回折格子の異なる位
置に可干渉光束を入射させ1、核回折格子から出射する
相異なる回折光を互いに毛ね合わせて1′−#縞を形成
し、該干渉縞を受光手段で検出することにより前記物体
の回転状態を検知するロータリーエンコーダーに於て、
+iii記物体の平行度aが以下の式を満足する様にし
たことを特徴とする。
a≦tarrl(” ” ” 0< )60noP
尚、ここで、m、nは回折光の次数、nQは物体の屈折
率、Pは回折格子のピッチ、λは可干渉光束の波及、θ
Kは角度誤差の許容値を示す。
率、Pは回折格子のピッチ、λは可干渉光束の波及、θ
Kは角度誤差の許容値を示す。
尚、本発明の更なる特徴は以下に示す実施例により理解
出来るであろう。
出来るであろう。
〈実施例〉
第1図は本発明に係るロータリーエンコーダーの一実施
例の光学系概略図である。
例の光学系概略図である。
本実施例ではレーザー1より放射された光束をコリメー
ターレンズ2によって平行光束とし偏光ビームスプリッ
タ−3に入射させ、略等光量の反射光束と透過光束の2
つの直線偏光の光束に分;13シている。このうち反射
した光束は嵐波長板4と反射鏡5を経て、円偏光とし、
被測定回転物体と連結した円板6上の放射状の回折格子
が設けられている放射格子7の位5’l M Lに入射
させている。そして放射格子7に入射し回折した透過回
折光のうち特定次数、例えば+m次の回折光を反射手段
8により反射させ、同一光路を逆行させ放射格子7上の
略同−位置M1に再入射させている。そして放射格子7
により再回折された特定次数の回折光を反射鏡5と電波
長板4を介して入射したときと90度偏光方位の異なる
直線偏光とし偏光ビームスプリッタ−3に入射させてい
る。
ターレンズ2によって平行光束とし偏光ビームスプリッ
タ−3に入射させ、略等光量の反射光束と透過光束の2
つの直線偏光の光束に分;13シている。このうち反射
した光束は嵐波長板4と反射鏡5を経て、円偏光とし、
被測定回転物体と連結した円板6上の放射状の回折格子
が設けられている放射格子7の位5’l M Lに入射
させている。そして放射格子7に入射し回折した透過回
折光のうち特定次数、例えば+m次の回折光を反射手段
8により反射させ、同一光路を逆行させ放射格子7上の
略同−位置M1に再入射させている。そして放射格子7
により再回折された特定次数の回折光を反射鏡5と電波
長板4を介して入射したときと90度偏光方位の異なる
直線偏光とし偏光ビームスプリッタ−3に入射させてい
る。
本実施例では偏光ビームスプリッタ−3から反射手段8
に至る特定次数の回折光の往復光路を同一としている。
に至る特定次数の回折光の往復光路を同一としている。
反射手段8としては1通常の反射鏡を用いることも可能
であるが、コーナキューブ等の光学素子に対する人出射
光束が常に平行となる様な光学素子が好ましい。
であるが、コーナキューブ等の光学素子に対する人出射
光束が常に平行となる様な光学素子が好ましい。
例えば1反射鏡を集光レンズの略焦点面上に配置し、集
光レンズに平行に入射してきた特定次数の回折光のみを
マスクの開日部を通過させ反射鏡で反射させた後1元の
光路を逆戻りするような構成の光学素子を用いると良い
。この時は他の次数の回折光はマスクにより遮光される
ことになる。反射膜1)として、この種の光学素子の機
能と同一のちのであれば、例えばキャッツアイ光学系等
どのような構成のものでも良い。このような光学系を用
いれば例えばレーザーの発振波長が変化し、回折角が多
少変化しても略同じ光路で戻すことかできる特徴がある
。
光レンズに平行に入射してきた特定次数の回折光のみを
マスクの開日部を通過させ反射鏡で反射させた後1元の
光路を逆戻りするような構成の光学素子を用いると良い
。この時は他の次数の回折光はマスクにより遮光される
ことになる。反射膜1)として、この種の光学素子の機
能と同一のちのであれば、例えばキャッツアイ光学系等
どのような構成のものでも良い。このような光学系を用
いれば例えばレーザーの発振波長が変化し、回折角が多
少変化しても略同じ光路で戻すことかできる特徴がある
。
又、キャッツアイ光学系に、屈折率分布型レンズ、例え
ば日本板硝子社製のセルフォックマイクロレンズ(商品
名)等を適用し、その両端平面な点に着目して片面に反
射膜を1没けることにより、構成が簡便で且つ又生産性
に富む光学素子として本発明に有効に適用することがで
きる。
ば日本板硝子社製のセルフォックマイクロレンズ(商品
名)等を適用し、その両端平面な点に着目して片面に反
射膜を1没けることにより、構成が簡便で且つ又生産性
に富む光学素子として本発明に有効に適用することがで
きる。
第1図に戻り偏光ビームスプリッタ−3で分割された2
つの光束のうち透過した光束は電波長板9を介し円偏光
とし、更に反射鏡lOを介して円板6上の放射格子7上
の位置M1と回転軸Oに対して略点対称の位iM2に入
射させている。そして放射格子7に入射し回折した透過
回折光のうち特定次数、例えば−m次の回折光を前述の
反射手段8と同様の反射手段11により同一光路を逆行
さ°せて、放射格子7の略同−位1fi M 2に再入
射させている。そして放射格子7より再回折された特定
次数の回折光を反射鏡10と電波長板9を介し入射した
ときは90度偏光方位の異なる直線偏光とし偏光ビーム
スプリッタ−3に入射させている。
つの光束のうち透過した光束は電波長板9を介し円偏光
とし、更に反射鏡lOを介して円板6上の放射格子7上
の位置M1と回転軸Oに対して略点対称の位iM2に入
射させている。そして放射格子7に入射し回折した透過
回折光のうち特定次数、例えば−m次の回折光を前述の
反射手段8と同様の反射手段11により同一光路を逆行
さ°せて、放射格子7の略同−位1fi M 2に再入
射させている。そして放射格子7より再回折された特定
次数の回折光を反射鏡10と電波長板9を介し入射した
ときは90度偏光方位の異なる直線偏光とし偏光ビーム
スプリッタ−3に入射させている。
このとき、透過光束も前述の反射光束と同様に偏光ビー
ムスプリッタ−3から反射手段11に至る特定次数の回
折光の往復光路を同一としている。そして反射手段8を
介し入射してきた回折光と毛なり合わせた後、電波長板
12を介し円偏光とし、光分割器13で2つの光束に分
割し、各々の光束を互いの偏光方位を45度傾けて配置
した偏光板14.16を介し双方の光束に90度の位相
差を伺けた直線偏光として各々の受光「一段15.17
に入射させている。そして受光り段15.17により形
成された2光東の干渉縞の強度を検出している。
ムスプリッタ−3から反射手段11に至る特定次数の回
折光の往復光路を同一としている。そして反射手段8を
介し入射してきた回折光と毛なり合わせた後、電波長板
12を介し円偏光とし、光分割器13で2つの光束に分
割し、各々の光束を互いの偏光方位を45度傾けて配置
した偏光板14.16を介し双方の光束に90度の位相
差を伺けた直線偏光として各々の受光「一段15.17
に入射させている。そして受光り段15.17により形
成された2光東の干渉縞の強度を検出している。
本実施例において被測定回転物体が放射格子7の1ピッ
チ分だけ回転するとm次の再回折光の位相は2mπだけ
変化する。同様に放射格子7により11回折されたn次
の回折光の位相は2nπだけ労化する。これにより全体
として受光「段からは(2m−2n)個の正弦波形が得
られる。
チ分だけ回転するとm次の再回折光の位相は2mπだけ
変化する。同様に放射格子7により11回折されたn次
の回折光の位相は2nπだけ労化する。これにより全体
として受光「段からは(2m−2n)個の正弦波形が得
られる。
本実施例ではこのときの正弦波形を検出することにより
回転eを測定している。
回転eを測定している。
第2図は第1図に示すロータリーエンコーダーの断面図
で、円板6より上方の光学系は省略している。尚、図中
の符番の内温1図と同じ符番は同一部材もしくは位置を
示している。
で、円板6より上方の光学系は省略している。尚、図中
の符番の内温1図と同じ符番は同一部材もしくは位置を
示している。
又、見は放射格子上の位置M1.M2間の距離、tt及
びt2は夫々M1及びM2側での円板の厚さを示す記り
である。
びt2は夫々M1及びM2側での円板の厚さを示す記り
である。
第1図に示す如き透過回折光を利用するロータリーエン
コーダーに於て、第2図の断面図に示す様な放射格子7
を形成している円板6がくさび条になっている場合を考
える。この場合、実線で示されるMlに入射して回折、
再回折を生じるm次の回折光の光路長と、破線で示され
るM2に入射して回折、再回折を生じる一m次の回折光
の光路長との間に差が生じて測定誤差を生じてしまう。
コーダーに於て、第2図の断面図に示す様な放射格子7
を形成している円板6がくさび条になっている場合を考
える。この場合、実線で示されるMlに入射して回折、
再回折を生じるm次の回折光の光路長と、破線で示され
るM2に入射して回折、再回折を生じる一m次の回折光
の光路長との間に差が生じて測定誤差を生じてしまう。
即ち、Ml、M2を入射用する光束は大々放射格子7を
往復入射させられる為、Ml、M2に於る厚さの差をΔ
=t 1−t2とすれば、放射格子7が形成された円板
6の屈折率をnQ、レーザーlの発振波長をλとする時
、n□XΔ=λ/2の光路長差が生じることにより円板
6が1回転する毎に±1パルス(+lE弦波形)の誤差
が生じる。
往復入射させられる為、Ml、M2に於る厚さの差をΔ
=t 1−t2とすれば、放射格子7が形成された円板
6の屈折率をnQ、レーザーlの発振波長をλとする時
、n□XΔ=λ/2の光路長差が生じることにより円板
6が1回転する毎に±1パルス(+lE弦波形)の誤差
が生じる。
従って、1回転ちり±にパルスの誤差を生じせしめるΔ
には Δ<=にλ/2nO−−−−−−−−−一−−−−−−
−−−−−−(1)で与えられる。
には Δ<=にλ/2nO−−−−−−−−−一−−−−−−
−−−−−−(1)で与えられる。
従って、放射路f−7が形成された円板6の平行度aは
a= jan−1(Δに/文) = tan−1(kx
/2no) −−−−−−(2)で表わすことが出来る
。
/2no) −−−−−−(2)で表わすことが出来る
。
−・方、円板5−1−の放射格子7の総本数をNとする
と、第1図に示すロータリーエンコーダーの1パルス当
りの角度分解能0を秒で表わすと、±m次の回折光を用
いる為、 0=360°X602/4mN (秒) =324,0
00 /mN (秒) −=−、(3)となる。
と、第1図に示すロータリーエンコーダーの1パルス当
りの角度分解能0を秒で表わすと、±m次の回折光を用
いる為、 0=360°X602/4mN (秒) =324,0
00 /mN (秒) −=−、(3)となる。
又、入射点M1及びM2は放射格子の中心Oに対し略対
称な位置であり、夫々の入射点に於る格子ピッチをPと
すると、 P=πi/Nであるから、(3)式の角度分
解能θは 0=324 、0OOP/πm!L−=−−−−−−−
−−−−−−−−(4)従って、±にパルス当りの誤差
は、次式に示すθに秒の誤差となる。
称な位置であり、夫々の入射点に於る格子ピッチをPと
すると、 P=πi/Nであるから、(3)式の角度分
解能θは 0=324 、0OOP/πm!L−=−−−−−−−
−−−−−−−−(4)従って、±にパルス当りの誤差
は、次式に示すθに秒の誤差となる。
θ=324,000kP/πmfL−=−−−−−−−
−−−−−−(5)上記(2)式と(5)式から、第1
図に示すロータリーエンコーダーに於ける角度誤差θに
秒と放射格子7が形成された円板6の平行度aとの関係
は、 πm入 tana(4,Oo no 0K):−−−−−
−−−−−(6)となる。
−−−−−−(5)上記(2)式と(5)式から、第1
図に示すロータリーエンコーダーに於ける角度誤差θに
秒と放射格子7が形成された円板6の平行度aとの関係
は、 πm入 tana(4,Oo no 0K):−−−−−
−−−−−(6)となる。
従って、測定精度OK秒を得る為には、円板6の平行度
aは πmλ a≦jan’(4,00noP θK ) −−−−
−−(7)となり、第1図に示す如きロータリーエンコ
ーダーに於ては、この(7)式を用いて、所望の角度精
度を得る為の円板6を作成すれば良い事になり1本実施
例では(7)式に基づき構成している。但し、実際の装
芒の詳細な設計に当たっては、この円板6の平面度以外
の種々の要因によっても測定精度が変化するので、夫々
の要因から生じるal一定誤差を考慮して最終的な仕様
を決定すべきである。
aは πmλ a≦jan’(4,00noP θK ) −−−−
−−(7)となり、第1図に示す如きロータリーエンコ
ーダーに於ては、この(7)式を用いて、所望の角度精
度を得る為の円板6を作成すれば良い事になり1本実施
例では(7)式に基づき構成している。但し、実際の装
芒の詳細な設計に当たっては、この円板6の平面度以外
の種々の要因によっても測定精度が変化するので、夫々
の要因から生じるal一定誤差を考慮して最終的な仕様
を決定すべきである。
次に、第(7)式を用いた数値実施例を示す。
第1図に示すロータリーエンコーダーに於て、使用する
回折光の次数をm=±1、レーザ1の発振波長をλ=
0.78ルm放射格子のピッチをP=2.85 pm、
円板6の屈折率をno=1.5とすると、要求される角
度精度θKに対する円板6の平行度aは a≦jan−1(8,84X l □−7θりとなり、
11111定精度に0K=lO(秒)を保証するには、
円板6の平行度は、上式にθに=10を代入して、 a ≦ 5.07X10−4 (度)Hl、8(秒)に
する必要があることになる。
回折光の次数をm=±1、レーザ1の発振波長をλ=
0.78ルm放射格子のピッチをP=2.85 pm、
円板6の屈折率をno=1.5とすると、要求される角
度精度θKに対する円板6の平行度aは a≦jan−1(8,84X l □−7θりとなり、
11111定精度に0K=lO(秒)を保証するには、
円板6の平行度は、上式にθに=10を代入して、 a ≦ 5.07X10−4 (度)Hl、8(秒)に
する必要があることになる。
第3図、第4図は第1図のロータリーエンコーダーに於
て、反射回折光を利用する形態を示す模式図であり1図
中の符番は全て第1図。
て、反射回折光を利用する形態を示す模式図であり1図
中の符番は全て第1図。
第2図の部材と同部材を示している。ここで示す如き所
ai?反射型のロータリーエンコーダーに於ても、図か
ら解る様に前述した(7)式を用いて、測定精度OKに
対する円板6の平行度aの許容値を求めることが可能で
ある。
ai?反射型のロータリーエンコーダーに於ても、図か
ら解る様に前述した(7)式を用いて、測定精度OKに
対する円板6の平行度aの許容値を求めることが可能で
ある。
又、第1図に示すロータリーエンコーダーは、反射手段
8,10を用いてMl、M2に回折光を再度導き、再び
回折光を生じせしめる構成を有するが、例えば反射手段
8.10を用いずに、M 1. M 2で生じた回折光
を所定の手段で直接重ね合わせて干渉縞を得る方式があ
る。
8,10を用いてMl、M2に回折光を再度導き、再び
回折光を生じせしめる構成を有するが、例えば反射手段
8.10を用いずに、M 1. M 2で生じた回折光
を所定の手段で直接重ね合わせて干渉縞を得る方式があ
る。
この時は、被測定回転物体が放射格子7の1ピッチ分で
け回転するとm次の回折光の位相はm=だけ変化し、同
様に放射格子7の異なる位置により回折されたn次の回
折光の位相はnπだけ変化し、全体として受光手段から
は(m−n)個の正弦波形が得られることになる。
け回転するとm次の回折光の位相はm=だけ変化し、同
様に放射格子7の異なる位置により回折されたn次の回
折光の位相はnπだけ変化し、全体として受光手段から
は(m−n)個の正弦波形が得られることになる。
更に第1図に関する説明では、同次数の±m次回折光同
志を干渉させた場合を例に挙げて(7)式を導いている
が、互いに干渉させ得る回折光は同次数の回折光に限ら
れるものではない。従って、(7)式は本発明を示す一
般式ではなく、以下に一般式を導入する。
志を干渉させた場合を例に挙げて(7)式を導いている
が、互いに干渉させ得る回折光は同次数の回折光に限ら
れるものではない。従って、(7)式は本発明を示す一
般式ではなく、以下に一般式を導入する。
第一1に、干渉縞を形成する為に用いる41定次数の回
折光が回折格子により回折を受けた回数、即ち放射格子
への入射回数をχ七とすれば、nOXΔ=入/χの光路
長差が生じることにより円板6が1回転する毎に±1パ
ルスの誤差が生じる。従って、前記第(1)式は Δに=にλ/χn o −−−−−−−−−−−−−
−−−−−−−−−−(1) ’と変形される。
折光が回折格子により回折を受けた回数、即ち放射格子
への入射回数をχ七とすれば、nOXΔ=入/χの光路
長差が生じることにより円板6が1回転する毎に±1パ
ルスの誤差が生じる。従って、前記第(1)式は Δに=にλ/χn o −−−−−−−−−−−−−
−−−−−−−−−−(1) ’と変形される。
従って、円板6の平行度を示す(2)式はに入
a = ta+r+ (χno文) −−−−−−−
−−−−−−−−−(2) ’となる。
−−−−−−−−−(2) ’となる。
一方、本発明に係るロータリーエンコーダーの1パルス
当りの角度分解能θを度で表わすと1m次及びn次の回
折光を用いるとして。
当りの角度分解能θを度で表わすと1m次及びn次の回
折光を用いるとして。
0 =360/χ(m −n) N −−一−−−=
−−−−−−(3) ’で表わされることになる。
−−−−−−(3) ’で表わされることになる。
従って、格子ピッチP、M、及びM2間距距離を用いて
(3)′式を書き直すと、 0 =360P/πlχ(m−n) −−−−−−−−
−−−−−(4) ′となる。
(3)′式を書き直すと、 0 =360P/πlχ(m−n) −−−−−−−−
−−−−−(4) ′となる。
従って、±にパルス当りの誤差は1次式に示すθに度の
誤差を生じていることになる。
誤差を生じていることになる。
OK= 360 kP/πlχ(m−n) −=−=−
−−−−(5) ’上記(2)′式と(5)′式から、
本発明に係るロータリーエンコーダーに於る角度誤差0
KCI■)と放射格子7が形成された円板6のモ行度a
(度)との関係は、 tan aH剥÷トLOK−一−−−−−−−−−−−
−−−(6)′となる。
−−−−(5) ’上記(2)′式と(5)′式から、
本発明に係るロータリーエンコーダーに於る角度誤差0
KCI■)と放射格子7が形成された円板6のモ行度a
(度)との関係は、 tan aH剥÷トLOK−一−−−−−−−−−−−
−−−(6)′となる。
従って、角度誤差OK(度)以内の装置を得る為には、
円板6のf行度a(度)は a≦”−1(+ 0K)−−−−−−(7)′となる。
円板6のf行度a(度)は a≦”−1(+ 0K)−−−−−−(7)′となる。
従って11本発明に係るロータリーエンコーダーでは、
(7)′式を満たす如き回折格子を有する物体に可干
渉光束を入射せしめて、回転物体の回転状態を所望の角
度;ill差範囲内で測定出来る。換言すれば、(7)
′式を用い、装置の仕様から許容角度誤差の値を設定し
、この許容角度誤差を満たす様にロータリーエンコーダ
ーを構成する回転物体の平行度が得られる如く回転物体
を設計、製作すれば良い、又、言うまでもなく、(7)
’式の下限値はOであり、明らかに完全に平行性が保れ
た回転物体に回折格子を形成するのが望ましい。
(7)′式を満たす如き回折格子を有する物体に可干
渉光束を入射せしめて、回転物体の回転状態を所望の角
度;ill差範囲内で測定出来る。換言すれば、(7)
′式を用い、装置の仕様から許容角度誤差の値を設定し
、この許容角度誤差を満たす様にロータリーエンコーダ
ーを構成する回転物体の平行度が得られる如く回転物体
を設計、製作すれば良い、又、言うまでもなく、(7)
’式の下限値はOであり、明らかに完全に平行性が保れ
た回転物体に回折格子を形成するのが望ましい。
又、第1図に示すロータリーエンコーダーは放射格子の
中心に対して略点対称な位jj!I M 1 !M2か
ら得られる回折光を利用するものであったが、例えば非
対称なT度120’ の角度を成す様な2つの位置から
得られる回折光を利用する場合であても(7)′式は十
分適用出来る。
中心に対して略点対称な位jj!I M 1 !M2か
ら得られる回折光を利用するものであったが、例えば非
対称なT度120’ の角度を成す様な2つの位置から
得られる回折光を利用する場合であても(7)′式は十
分適用出来る。
第1図に示すロータリーエンコーダーに戻り、このロー
タリーエンコーダーに於て、例えば回折格子のピッチが
2.851Lm、回折光として1次及び−1次を利用し
たとすれば回転物体がピッチの2.85gm分だけ回転
したとき受光素子からは4個の正弦波形が得られる。即
ち正弦波形1個当りの分解能として回折格子の1ピツチ
のハの2.85/4=0.71 gmが得られる。
タリーエンコーダーに於て、例えば回折格子のピッチが
2.851Lm、回折光として1次及び−1次を利用し
たとすれば回転物体がピッチの2.85gm分だけ回転
したとき受光素子からは4個の正弦波形が得られる。即
ち正弦波形1個当りの分解能として回折格子の1ピツチ
のハの2.85/4=0.71 gmが得られる。
本実施例では光分割器11により光束を2分割し各々の
光束間に90度の位相差をつけることにより回転物体の
回転方向も判別出来るようにしている。
光束間に90度の位相差をつけることにより回転物体の
回転方向も判別出来るようにしている。
尚、回転量のみを測定するのであれば光分割器13、偏
向板14.16及び一方の受光手段は不要である。
向板14.16及び一方の受光手段は不要である。
又、前述の如く回転中心に対して略点対称の2つの位置
M1.M2からの回折光を利用することにより回転物体
の回転中心と放射格子の中心との偏心による測定誤差を
軽減させている。
M1.M2からの回折光を利用することにより回転物体
の回転中心と放射格子の中心との偏心による測定誤差を
軽減させている。
更に一方の光束の回転軸中心寄りの光束要素と略点対称
な位置に入射させた他方の光束の回転軸中心寄りの光束
要素とを互いに爪なり合わせ、同様に回転中心の外側寄
りの光束要;に同志を重ね合わせることにより、放射格
子の外側と内側のピッチの違いより生じる波面収差の影
響を除去している。
な位置に入射させた他方の光束の回転軸中心寄りの光束
要素とを互いに爪なり合わせ、同様に回転中心の外側寄
りの光束要;に同志を重ね合わせることにより、放射格
子の外側と内側のピッチの違いより生じる波面収差の影
響を除去している。
又、偏光ビームスプリッタ−3から反射手段8.11に
至る特′・’t i’、(aの回折光の往復の光路を同
一とすることにより、偏光ビームスプリッタ−3におけ
る2つの回折光束の毛なり具合を容易にし、装置全体の
組立精度を向上させている。
至る特′・’t i’、(aの回折光の往復の光路を同
一とすることにより、偏光ビームスプリッタ−3におけ
る2つの回折光束の毛なり具合を容易にし、装置全体の
組立精度を向上させている。
更に、電波長板4,9は偏光ビームスプリッタ−3と反
射手段8.11との間であればどこに配置しても良い。
射手段8.11との間であればどこに配置しても良い。
又1各実施例においては透過回折光の代わりに反射回折
光を利用しても良い。
光を利用しても良い。
尚、本発明において使用する回折格子は、透光部と遮光
部から成る所謂振幅型の回折格子、IFいに異なる屈折
率をイ1する部分から成る位相型の回折格子である。特
に位相型の回折格子は1例えば透明円盤の円周上に凹凸
のレリーフパターンを形成することにより作成出来、エ
ンボス、スタンパ等のプロセスにより量産が可能である
。
部から成る所謂振幅型の回折格子、IFいに異なる屈折
率をイ1する部分から成る位相型の回折格子である。特
に位相型の回折格子は1例えば透明円盤の円周上に凹凸
のレリーフパターンを形成することにより作成出来、エ
ンボス、スタンパ等のプロセスにより量産が可能である
。
〈発明の効果〉
以北、本発明に係るロータリーエンコーダーは、411
1定時の所望の許容誤差を満足する平行度を有した回転
物体に回折路Tを設けて有り、要求される測定精度を常
時満足出来るロータリーエンコーダーである。
1定時の所望の許容誤差を満足する平行度を有した回転
物体に回折路Tを設けて有り、要求される測定精度を常
時満足出来るロータリーエンコーダーである。
第1図及び第2図は本発明に係るロータリーエンコーダ
ーの一例を示す図で、第1図は光学系概略図、第2図は
円板の断面図。 第3図及び第4図は本発明に係るロータリーエンコーダ
ーの他の例を示す模式図。 第5図は従来のロータリーエンコーダーを示す概略図。
ーの一例を示す図で、第1図は光学系概略図、第2図は
円板の断面図。 第3図及び第4図は本発明に係るロータリーエンコーダ
ーの他の例を示す模式図。 第5図は従来のロータリーエンコーダーを示す概略図。
Claims (1)
- (1)回転する物体に設けた回折格子の異なる位置に可
干渉光束を入射させ、該異なる位置から出射する特定次
数の回折光を互いに重ね合わせて干渉縞を形成し、該干
渉縞を受光手段で検出することにより前記物体の回転状
態を検知するロータリーエンコーダーに於て、前記物体
の平行度aが以下の式を満足する様にしたことを特徴と
するロータリーエンコーダー。 a≦tan^−^1([π(m−n)λ]/360n_
0Pθ_K)尚、ここで、m、nは回折光の次数、n_
0は物体の屈折率、Pは回折格子のピッチ、λは可干渉
光束の波長、θ_Kは角度誤差の許容値を示す。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4455686A JPS62201313A (ja) | 1986-02-28 | 1986-02-28 | ロ−タリ−エンコ−ダ− |
| DE3706277A DE3706277C2 (de) | 1986-02-28 | 1987-02-26 | Drehungsmeßgeber |
| GB8704851A GB2187282B (en) | 1986-02-28 | 1987-03-02 | Rotary encoder |
| US07/527,704 US5101102A (en) | 1986-02-28 | 1990-05-23 | Rotary encoder having a plurality of beams emitted by a diffraction grating |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4455686A JPS62201313A (ja) | 1986-02-28 | 1986-02-28 | ロ−タリ−エンコ−ダ− |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62201313A true JPS62201313A (ja) | 1987-09-05 |
Family
ID=12694772
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4455686A Pending JPS62201313A (ja) | 1986-02-28 | 1986-02-28 | ロ−タリ−エンコ−ダ− |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62201313A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5442172A (en) * | 1994-05-27 | 1995-08-15 | International Business Machines Corporation | Wavefront reconstruction optics for use in a disk drive position measurement system |
| US5909333A (en) * | 1994-05-27 | 1999-06-01 | International Business Machines Corporation | Servo-writing system for use in a data recording disk drive |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5953209B2 (ja) * | 1981-08-06 | 1984-12-24 | 工業技術院長 | 多結晶シリコンインゴットの鋳造法 |
-
1986
- 1986-02-28 JP JP4455686A patent/JPS62201313A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5953209B2 (ja) * | 1981-08-06 | 1984-12-24 | 工業技術院長 | 多結晶シリコンインゴットの鋳造法 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5442172A (en) * | 1994-05-27 | 1995-08-15 | International Business Machines Corporation | Wavefront reconstruction optics for use in a disk drive position measurement system |
| US5909333A (en) * | 1994-05-27 | 1999-06-01 | International Business Machines Corporation | Servo-writing system for use in a data recording disk drive |
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