JPS6220151A - 光メモリ−カ−ド - Google Patents
光メモリ−カ−ドInfo
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- JPS6220151A JPS6220151A JP15831885A JP15831885A JPS6220151A JP S6220151 A JPS6220151 A JP S6220151A JP 15831885 A JP15831885 A JP 15831885A JP 15831885 A JP15831885 A JP 15831885A JP S6220151 A JPS6220151 A JP S6220151A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recording
- guide groove
- memory card
- optical memory
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- Prior art date
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- Pending
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- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は光メモリーカードに関し、光ビームで情報の記
録・再生を行なう場合に用いて有用なものである。
録・再生を行なう場合に用いて有用なものである。
く従来の技術〉
従来、この種の光メモリーカードとしては。
例えば「La5er Card J (商標名〕と呼
ばれるものがある。この詳細については1例えば。
ばれるものがある。この詳細については1例えば。
Proceedings of 5PIE Vat 3
29 P 61〜68に記載されている。
29 P 61〜68に記載されている。
この従来技術に係る光メモリーカードの構造8第3図に
示す。同図Jこおいて、11は透明基体、12は記録薄
膜、13は記録薄膜12の記録感度を向上−させるため
の下地層、14は記録薄膜12および下地層13の保護
層。
示す。同図Jこおいて、11は透明基体、12は記録薄
膜、13は記録薄膜12の記録感度を向上−させるため
の下地層、14は記録薄膜12および下地層13の保護
層。
15は記811再生のためのレーザー光、16は記録し
たビットを示す。
たビットを示す。
この光メモリーカードにおける記録・再生の態様を以下
Iこ述べる。
Iこ述べる。
まず、情報の記録は透明基体11を通して集束したレー
ザー光15を照射し、記録薄膜12を溶融蒸発させるζ
七によシ行なう。そしてビット16列の形成は対物レン
ズを含む光学系を移動させながら、レーザー光15を点
滅させることによフ行なう。ざらに隣接したピッ)16
列を形成するためには、ビット16列の間隔分だけ光学
系を移動した後、同じ動作を〈ル返す。
ザー光15を照射し、記録薄膜12を溶融蒸発させるζ
七によシ行なう。そしてビット16列の形成は対物レン
ズを含む光学系を移動させながら、レーザー光15を点
滅させることによフ行なう。ざらに隣接したピッ)16
列を形成するためには、ビット16列の間隔分だけ光学
系を移動した後、同じ動作を〈ル返す。
記録した情報の再生は、レーザー光15の出力を記録薄
膜12が溶融しない程度に弱めてピッ1−16による反
射光量の変化をビット16列に沿って読み取ることによ
シ行なう。
膜12が溶融しない程度に弱めてピッ1−16による反
射光量の変化をビット16列に沿って読み取ることによ
シ行なう。
〈発明が解決しようとする問題点〉
ところで、上記従来技術に係る光メモリーカードにおけ
る再生において、ビット16列への光学系への位置決め
は、記録時と同じ位置へ光学系を移動させることによシ
行なうが。
る再生において、ビット16列への光学系への位置決め
は、記録時と同じ位置へ光学系を移動させることによシ
行なうが。
こnは機械的な移動のみによって行ない記録時のビット
16からの反射光による制御機構をもたないため、光メ
モリーカードの出し入孔。光学系の設定位置力)らのず
れ等によシ。
16からの反射光による制御機構をもたないため、光メ
モリーカードの出し入孔。光学系の設定位置力)らのず
れ等によシ。
レーザー光15の光ビームの照射位置がビット16列1
らずれ、信号の再生が行なえなくなること、あるいは隣
接したピッ)16列の信号を検出してしまう可能性があ
る。このためピット16の大きざおよびピット16の間
隔をあまり小さくすることはできない。丁tわち、ビッ
ト16の大きさは10μm、ビット16列の間隔は50
μm程度が下限であり。
らずれ、信号の再生が行なえなくなること、あるいは隣
接したピッ)16列の信号を検出してしまう可能性があ
る。このためピット16の大きざおよびピット16の間
隔をあまり小さくすることはできない。丁tわち、ビッ
ト16の大きさは10μm、ビット16列の間隔は50
μm程度が下限であり。
記録密度としては1名刺大のカードに約5XlOビツト
である。
である。
本発明は、上記従来技術に鑑み、記録・再生の動作が安
定に行なえるとともに高記録密度を達成し得る光メモリ
ーカード8提供することを目的とする。
定に行なえるとともに高記録密度を達成し得る光メモリ
ーカード8提供することを目的とする。
く問題点を解決するための手段〉
上記目的を達成する本発明の構成は、カード状の透明基
体上に記録薄膜を形成した光メモリーカードにおいて案
内溝に沿って情報の記録・再生を行なうよう蛇行する案
内溝を前記透明基体上に形成したことを特徴とする。
体上に記録薄膜を形成した光メモリーカードにおいて案
内溝に沿って情報の記録・再生を行なうよう蛇行する案
内溝を前記透明基体上に形成したことを特徴とする。
く作 用〉
上記光メモリーカードにおいては蛇行する案内溝に沿っ
てトラッキング制御をかけながら情報の記録・再生を行
なう。また、誘導用の案内溝に必要な溝間隔で決まるト
ラック間隔の増大による記録密度の減少を補うため。
てトラッキング制御をかけながら情報の記録・再生を行
なう。また、誘導用の案内溝に必要な溝間隔で決まるト
ラック間隔の増大による記録密度の減少を補うため。
情報記録用案内?IIを蛇行路とすることにより。
案内溝の有効長を増大させている。
く実 施 例〉
以下本発明の実施例を図面に基づき詳細iこ説明する。
第1図は本実施例の光メモリーカードの構成を示す説明
図、第2図はその断面構造を示す拡大図である。両図に
おいて、21は誘導用の案内溝、22は情報記録用の案
内溝、23は透明基体、24は記録薄膜、25は記録薄
膜24の記録感度を向上させるための断熱層、26は記
録薄膜24および断熱層25の保護層である。
図、第2図はその断面構造を示す拡大図である。両図に
おいて、21は誘導用の案内溝、22は情報記録用の案
内溝、23は透明基体、24は記録薄膜、25は記録薄
膜24の記録感度を向上させるための断熱層、26は記
録薄膜24および断熱層25の保護層である。
か力)る光メモリーカードの製造方法を以下に述べる。
この製造方法は従来の光ディスクの製造方法と類似して
いる。即ち、まずガラス板上にフォトレジストによシ案
内溝21゜22を形成し、溝原版を作製する。更に評言
すると、ガラス板上にスピンコードによりフォトレジス
トを塗布した後、フォトレジストの案内溝形成位!8集
光レーザービームによって露光する。これを現像するこ
とによシ案内溝21,22が形成でき、溝原版が作られ
る。次に、この溝原版に電極用として銀もしくはニッケ
ルを蒸着した後、ニッケル電鋳によってスタンパを作製
する。次に、このスタンパを用いてアクリル樹脂等のプ
ラスチック材料に射出成形法、2P(フォト・ポリマ)
法等の方法により溝を転写し、光メモリーカードの透明
基体23が得られる。次に、 TeもしくはTe化合物
等からなる記録薄膜24そ形成する。最後lこC5,等
の光吸収が小さく低熱伝導率の物質力1らなる断熱層2
5およびアクリル系光硬化樹脂等のプラスチック材料か
らなる保護層26を形成する。
いる。即ち、まずガラス板上にフォトレジストによシ案
内溝21゜22を形成し、溝原版を作製する。更に評言
すると、ガラス板上にスピンコードによりフォトレジス
トを塗布した後、フォトレジストの案内溝形成位!8集
光レーザービームによって露光する。これを現像するこ
とによシ案内溝21,22が形成でき、溝原版が作られ
る。次に、この溝原版に電極用として銀もしくはニッケ
ルを蒸着した後、ニッケル電鋳によってスタンパを作製
する。次に、このスタンパを用いてアクリル樹脂等のプ
ラスチック材料に射出成形法、2P(フォト・ポリマ)
法等の方法により溝を転写し、光メモリーカードの透明
基体23が得られる。次に、 TeもしくはTe化合物
等からなる記録薄膜24そ形成する。最後lこC5,等
の光吸収が小さく低熱伝導率の物質力1らなる断熱層2
5およびアクリル系光硬化樹脂等のプラスチック材料か
らなる保護層26を形成する。
次に1本実施例の光メモリーカードによる情報の記録お
よび再生の態様を述べる。この光メモリーカードにおけ
る情報の記録および再生は、従来の光ディスクの記録・
再生と類似しておシ、半導体レーザを用いた光学ヘッド
により焦点制御およびトラック制御を力1けて行なう。
よび再生の態様を述べる。この光メモリーカードにおけ
る情報の記録および再生は、従来の光ディスクの記録・
再生と類似しておシ、半導体レーザを用いた光学ヘッド
により焦点制御およびトラック制御を力1けて行なう。
記録・再生いずれの場合にも、まず、光メモリーカード
が装着さ几ると、光学ヘッドは所定の情報記録用案内5
!22への誘導用の案内溝2工の上にセットざnる。本
実施例の光メモリーカードにおける分岐した誘導路の間
隔はカード端で50μm隣接する誘導用の案内溝21と
の間隔は0.5聰程度であるから1機械的な移動のみで
光学ヘッドを分岐した誘導路間の上に位置決めすること
が可能である。次に、焦点制御およびトラック制御を力
1けると同時に光学ヘッドを誘導用の案内溝21と平行
方向に移動させると、光学ヘッドは誘導用の案内溝にト
ラッキングされた後、所定の情報記録用の案内溝22に
導かれる。さらに光学ヘッドを誘導用の案内溝21と平
行方向に移動させると、ヘッドはトラッキング機能によ
シ、蛇行する案内溝2工の上を左右に移動しながら進む
。情報記録用の案内溝21は1線状に蛇行しておシ、そ
のピッチは20μm、振幅は0.5mであシ、トラッキ
ングによる左右の移動が反転する部分の案内溝には半径
1μm程度の曲率をつけであるため、トラッキング機能
による追随が可能であシ、左右の移動の反転もスムーズ
tこ行なわれる。以上のトラッキング動作は後に述べる
再生の際と同じく記録薄膜24が溶融しない程度にレー
ザー光の出力を弱めて行なう。
が装着さ几ると、光学ヘッドは所定の情報記録用案内5
!22への誘導用の案内溝2工の上にセットざnる。本
実施例の光メモリーカードにおける分岐した誘導路の間
隔はカード端で50μm隣接する誘導用の案内溝21と
の間隔は0.5聰程度であるから1機械的な移動のみで
光学ヘッドを分岐した誘導路間の上に位置決めすること
が可能である。次に、焦点制御およびトラック制御を力
1けると同時に光学ヘッドを誘導用の案内溝21と平行
方向に移動させると、光学ヘッドは誘導用の案内溝にト
ラッキングされた後、所定の情報記録用の案内溝22に
導かれる。さらに光学ヘッドを誘導用の案内溝21と平
行方向に移動させると、ヘッドはトラッキング機能によ
シ、蛇行する案内溝2工の上を左右に移動しながら進む
。情報記録用の案内溝21は1線状に蛇行しておシ、そ
のピッチは20μm、振幅は0.5mであシ、トラッキ
ングによる左右の移動が反転する部分の案内溝には半径
1μm程度の曲率をつけであるため、トラッキング機能
による追随が可能であシ、左右の移動の反転もスムーズ
tこ行なわれる。以上のトラッキング動作は後に述べる
再生の際と同じく記録薄膜24が溶融しない程度にレー
ザー光の出力を弱めて行なう。
次に、記録の際には、情報記録用の案内溝22にトラッ
キングをかけながら、記録信号に従ってパルス状にレー
ザー光の出力を増大させ、記録薄膜241こビットを形
成する。再生の場合tこは、案内溝22に活って光学ヘ
ッドを移動しながら、ビットによる反射光量の変化を読
み取る。本実施例の光メモリーカードの情報記録用の案
内$22は直線状の蛇行路となっているためヘッドの左
右の移動が反転する案内溝の頂点付近では溝間の間隔が
狭くなるが、前述したようiζ、この部分には。
キングをかけながら、記録信号に従ってパルス状にレー
ザー光の出力を増大させ、記録薄膜241こビットを形
成する。再生の場合tこは、案内溝22に活って光学ヘ
ッドを移動しながら、ビットによる反射光量の変化を読
み取る。本実施例の光メモリーカードの情報記録用の案
内$22は直線状の蛇行路となっているためヘッドの左
右の移動が反転する案内溝の頂点付近では溝間の間隔が
狭くなるが、前述したようiζ、この部分には。
半径1/7fi程度の曲率をつけであるため最も近接し
た溝間の間隔は2μ惜以上あフ、クロストークはほとん
どない。
た溝間の間隔は2μ惜以上あフ、クロストークはほとん
どない。
次に、別の記録用の案内溝22に移って記録・再生を行
なう場合には、一旦所定の情報記録用の案内溝22への
誘導用の案内溝21上に光学ヘッドを移動した後、上述
の動作をくり返す。
なう場合には、一旦所定の情報記録用の案内溝22への
誘導用の案内溝21上に光学ヘッドを移動した後、上述
の動作をくり返す。
次に本発明の更に具体的な実施例について説明する。ガ
ラス板上にスピンコードにょシフオドレジスト%塗布し
た後、集束したアルゴンレーザ光で露光、現像すること
により1幅0.6ptn深さ700X(7)案内溝21
.22%形成した。1本の情報記録用の案内溝22はピ
ッチ20pm振幅0.5 wm (7)蛇行路とLl、
1枚のカード内に100本の案内溝22を形成した
。次にこの溝原版にニッケルを真空蒸着した後、ニッケ
ル電鋳にょシスタンプを作製した。次に、射出成形法に
より、ポリカーボネート基板lこ溝を転写し、90wx
855mの名刺大の透明基体23を作製した。次に、記
録?4膜24としてC82・Te薄膜をプラズマ重合法
によJ400Xの厚さに形成した後、断熱層25として
C8!薄膜をプラズマ重合法によシ2000Xの厚さに
形成した。ざらに、保護層26としてエポキシ系の光硬
化性樹脂を30μmの厚さに形成した。力1くして得た
光メモリーカードを半導体レーザを用いた記録再生装置
に装着し、トラッキング実験を試みたところ、光学ヘッ
ドが誘導用の案内11121にトラッキングさnた後、
所定の記録用の案内溝22に確実にトラッキングざnる
ことを確認した。トラッキングに要する時間は1秒以下
であル、カードの出し入れに対しても動作は安定であっ
た。次に記録用の案内溝22上への信号記録を試みたと
ころ、レーザパワーがカード上で6 m W 、パルス
幅100 n1ceで直径約1pmのビットが形成され
1本実施例の光メモリーカードに2×10ビツトの情報
を記録可能であることを確認した。さらに。
ラス板上にスピンコードにょシフオドレジスト%塗布し
た後、集束したアルゴンレーザ光で露光、現像すること
により1幅0.6ptn深さ700X(7)案内溝21
.22%形成した。1本の情報記録用の案内溝22はピ
ッチ20pm振幅0.5 wm (7)蛇行路とLl、
1枚のカード内に100本の案内溝22を形成した
。次にこの溝原版にニッケルを真空蒸着した後、ニッケ
ル電鋳にょシスタンプを作製した。次に、射出成形法に
より、ポリカーボネート基板lこ溝を転写し、90wx
855mの名刺大の透明基体23を作製した。次に、記
録?4膜24としてC82・Te薄膜をプラズマ重合法
によJ400Xの厚さに形成した後、断熱層25として
C8!薄膜をプラズマ重合法によシ2000Xの厚さに
形成した。ざらに、保護層26としてエポキシ系の光硬
化性樹脂を30μmの厚さに形成した。力1くして得た
光メモリーカードを半導体レーザを用いた記録再生装置
に装着し、トラッキング実験を試みたところ、光学ヘッ
ドが誘導用の案内11121にトラッキングさnた後、
所定の記録用の案内溝22に確実にトラッキングざnる
ことを確認した。トラッキングに要する時間は1秒以下
であル、カードの出し入れに対しても動作は安定であっ
た。次に記録用の案内溝22上への信号記録を試みたと
ころ、レーザパワーがカード上で6 m W 、パルス
幅100 n1ceで直径約1pmのビットが形成され
1本実施例の光メモリーカードに2×10ビツトの情報
を記録可能であることを確認した。さらに。
コード情報の記録−再生を試みたきころ、トラッキング
動作および案内溝22に泊った記録−再生の動作を確認
し、かつ良好な品質の再生信号を得た・ 〈発明の効果〉 以上説明したように5本発明の光メモIJ−カードによ
れば案内溝に沿ってトラッキングを力1けながら情報の
記録再生を行なうため。
動作および案内溝22に泊った記録−再生の動作を確認
し、かつ良好な品質の再生信号を得た・ 〈発明の効果〉 以上説明したように5本発明の光メモIJ−カードによ
れば案内溝に沿ってトラッキングを力1けながら情報の
記録再生を行なうため。
アクセスが容易であるば力1りでなく、情報記録用の案
内溝を蛇行路としたため、高豐度記録が可能であるとい
う利点がある。
内溝を蛇行路としたため、高豐度記録が可能であるとい
う利点がある。
m1図は本発明の実施例に係る光メモリーカードの構成
を示す説明図、第2図はその断面構造を示す拡大断面図
、第3図は従来技術に係る光メモリーカードの構造を示
す部分断面図である。 図 面 中。 21は誘導用の案内溝。 22は情報記録用の案内溝。 23は透明基体。 24は記録簿1x。 25は断熱層、 26は保護層である。
を示す説明図、第2図はその断面構造を示す拡大断面図
、第3図は従来技術に係る光メモリーカードの構造を示
す部分断面図である。 図 面 中。 21は誘導用の案内溝。 22は情報記録用の案内溝。 23は透明基体。 24は記録簿1x。 25は断熱層、 26は保護層である。
Claims (1)
- カード状の透明基体上に記録薄膜を形成した光メモリー
カードにおいて案内溝に沿つて情報の記録・再生を行な
うよう蛇行する案内溝を前記透明基体上に形成したこと
を特徴とする光メモリーカード。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15831885A JPS6220151A (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | 光メモリ−カ−ド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15831885A JPS6220151A (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | 光メモリ−カ−ド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6220151A true JPS6220151A (ja) | 1987-01-28 |
Family
ID=15669010
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15831885A Pending JPS6220151A (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | 光メモリ−カ−ド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6220151A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2769119A1 (fr) * | 1997-09-26 | 1999-04-02 | Thomson Csf | Disque d'enregistrement anti-piratage, procede de lecture et tete d'enregistrement |
-
1985
- 1985-07-19 JP JP15831885A patent/JPS6220151A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2769119A1 (fr) * | 1997-09-26 | 1999-04-02 | Thomson Csf | Disque d'enregistrement anti-piratage, procede de lecture et tete d'enregistrement |
| WO1999017281A1 (fr) * | 1997-09-26 | 1999-04-08 | Thomson-Csf | Disque d'enregistrement anti-piratage, procede de lecture et tete d'enregistrement |
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