JPS6220176A - 交代処理方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 交代処理方式であって、データに欠陥を検出した所定セ
クタには交代処理マークを記録すると共に、交代セクタ
位置情報を多重ブロック書きし、データ書込み／読取り
時に交代処理マークを検出した場合、当該セクタに多重
ブロック吉きされている交代セクタ位置情報を読取り、
指定のセクタでデータの書込み／読取りを行うようにす
ることにより、交代セクタ処理が簡易且つ高信頼性を持
って、迅速に処理可能となる。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、欠陥が検出されたセクタには交代処理マーク
と共に交代セクタ位置情報を多重ブロック書きする交代
処理方式に関する。

例えば、最近実用化に向けて大いに開発が行われている
再記録可能な光デイスク装置では、従来の磁気ディスク
装置とその処理方法がことなるため磁気ディスク装置で
採用している交代処理方式ではその処理が複雑且つ長時
間を要する。

かかる装置の交代処理方式として簡易な方法で信頼性が
高く、しかも短時間に処理が可能な交代処理方式の実用
化が待たれている。

〔従来の技術と発明が解決しようとする問題点〕第４図
は従来の交代処理状況を説明するデータフォーマット図
、第５図は従来の交代処理状況を説明するブロック図を
それぞれ示す。

第５図は再記録可能な光デイスク装置の読取゛り系機能
ブロック１の一部と書込み系機能ブロック３の一部を示
す。尚、この光デイスク装置には上記機能ブロック１，
３の他にこれら各機能ブロック１．３の動作を制御する
マイクロプロセッサ４（以下ＭＰＵ４と称する）を備え
ている。

あ゛と取り系機能ブロック１は、 読取り信号■（リード信号■）からセクタマークＳＭを
検出してセクタパルス■を出力するセクタマーク検出回
路１１と、 記録済みセクタか未記録セクタかを検出して検出信号■
を送出する記録／未記録検出回路１２と、リード信号■
を波形整形してリードパルス■を出力する波形整形回路
１３と、 セクタパルス■から記録／未記録検出ウィンド■を作成
するセクタ内ビットカウンタ１４と、リードパルス■か
らリードクロック■やＮＲＺデータ■（例えば、磁化方
向を反転する時“１”、反転しない時“０”と定義して
作成したデータ）を作成するＶＦＯ１５と、 Ｎ［ｌＺデータ■等をパラレルデータに変換するデータ
変換回路１６と、 データ変換回路１６の出力からシンクバイ）ＳＢ（第４
図に示すセクタ内データ領域ＤＴの先頭に記録されてい
る）を検出するＳＢ検出回路１７と、リードクロック■
とＳＢ検出回路１７からのＳＢ検出信号とによりライト
パルス■を作成し出力するライトパルス作成回路１８と
、 上位袋Ｗ（図示してない）へ転送するデータを格納する
データバッファ１９と、 交代セクタ位置情報を格納する交代セクタ情報バ・ノフ
ァ２０と、 記録／未記録検出ウィンド■と記録／未記録検出回路１
２から出力する検出信号■との論理積条件を取る論理積
回路２１と、 論理積回路２１の出力をラッチするＦ、　Ｆ２２と、Ｍ
ｒ’Ｕ、４から送出される信号をデータバッファ１９の
イネーブル信号として送出するインバータ２３と、セク
タパルス■をＦ、Ｆ２２のクリア信号として送出するイ
ンバータ２４とから構成されている。

又、書込み系機能ブロック３は、 １’１ＰＵ４から送出される交代セクタ位置情報を格納
する交代セクタ情報バッファ３１と、 上位装置（図示してない）から転送されて来たデータを
格納するデータバッファ３２と、交代セクタ位置情報及
び上位装置（図示してない）から転送されて来たデータ
をトラックａ上に書込むライト回路３３とから構成され
ている。

本例ではセクタＳ（ｉ　　＋１）のデータ領域［］Ｔに
何らかの欠陥がある場合を前提として説明する。

即ち、セクタＳ（ｔ　＋１）にデータの書込みをした直
後に行う書込みデータの欠陥検査（書込んだデータの検
査）で、セクタＳ（ｉ　＋１）に欠陥が検出されると、
ＭＰＵ４はセクタＳ（ｊ　＋１）内データ領域ＤＴには
ＭＰＵ４から転送されて、交代セクタ情報バッファ３１
に格納している交代セクタ位置情報をライト回路３３に
より書込む。

次に、上記の状態で同じセクタＳ（ｉ　＋１）へ上位装
置（図示してない）からの転送データの書込み命令があ
ると、まずセクタセクタＳ（ｉ　＋１）を読取りに行き
、読取ったリード信号■を波形整形回路１３で整形して
リードパルス■としてＶＦＯ１５へ送出する。

ＶＦＯ１５はリードパルス■からリードクロック■及び
ＮＩ？Ｚデータ■を作成し、これらクロック■及びデー
タ■をデータ変換回路１６でパラレルデータに変換して
ＳＢ検出回路１７．データバッファ１９及び交代セクタ
位置情報バッファ２０に送出する。

一方、ＳＢ検出回路１７はセクタ内ビットカウンタ１４
からのリードゲートに相当する所定ゲートを検出中にセ
クタＳ（ｉ　＋１）のデータ領域ＤＴのシンクバイト（
ＳＢ）を検出すると、Ｓｔ＋検出信号をライトパルス作
成回路１８へ送出し、ライトパルス作成回路１８は以降
のリードクロック■を８回毎に１回うイトパルス■とし
てデータバッファ１９及び交代セクタ情報バッファ２０
に送出する。

尚、この時点ではＭＰＵ４から交代セクタ情報バッファ
２０に対するデータ格納許可信号であるイネーブル信号
が送出されている。又、データバッファ１９に対しては
インバータ２３によりデータ格納が許可されてない状態
となる。

ＭＰＵ４はこの交代セクタ情報バッファ２０の交代セク
タ位置情報で指定された交代セクタに、書込み系ブロッ
ク３のデータバッファ３２に格納されている上位装置（
図示してない）からの転送データを書込むことになる。

尚、一般的なデータ書込みの場合でも、まずセクタ５（
０）から順次読取りを行う。即ち、リード信号■はセク
タマーク検出回路１１．記録／未記録検出回路１２及び
波形整形回路１３に送り込まれ、セクタマーク検出回路
１１ではセクタマークＳＭを検出する度にセクタパルス
■を送出し、セクタ内ピントカウンタ１４ではセクタ内
の時間をビット周期のクロックで計数する。

又、記録／未記録検出回路１２は各セクタ５（０）〜５
（ｎ）に対するデータの記録／未記録状態を検出して、
その検出信号■を論理積回路２１の一方の入力端子に送
出する。

更に、もう一方の入力端子にはセクタ内ビットカウンタ
１４からの記録／未記録検出ウィンド■が入力され、論
理積回路２１で論理積条件を取った結果をＦ、Ｆ２２に
ランチする。この内容を記録部検出信号■としてＭＰＵ
４に送出する。

一方、ＭＰＵ４は記録部検出信号■により未記録セクタ
Ｓ（ｉ　＋２）の検出を確認し、上位装置（図示してな
い）から転送されて来たデータを未記録セクタＳ（ｉ　
＋２）へ古込む。

次に、読取り時は上述のようにセクタ５（０）から順次
読取り、その時のデータをデータバッファ１９に格納す
る。尚、この時はＭＰＵ４からのイネーブル信号はデー
タバッファ１９に対して格納許可を与えるよう送出され
ている。

未記録セクタＳ（ｉ　＋２）が確認されると読取り動作
は終了となる。又、交代セクタ位置情報がセクタＳ（ｉ
　’＋１）にもし書込んだあった場合は、交代セクタ情
報バッファ２０にその交代セクタ位置情報を格納して、
新たにＭＰＵ４の制御のちとに交代セクタ位置情報で指
定される交代セクタに記録されるデータを読取る。

尚、交代セクタの読取りをこの一連の読取り動作中に実
施するか、一連の読取り動作が終了して行うかの判断は
ＭＰＵ４にて行う。

以上のように交代セクタ位置情報が記録されているセク
タは書込み動作時の未記録セクタ検出動作時又は読取り
動作時は一連の読取り動作時の中で検出されるため、交
代セクタへの処理が複雑になると共に、その処理に長時
間を要し、更に１つの交代セクタ位置情報のみではその
信頼性が低いと言う問題点がある。

〔問題点を解決するための手段〕

第１図は本発明の詳細な説明する図を示す。第１図に示
す原理図はトラックａ上のデータフォーマットの原理図
を示し、トラックａは 複数のセクタで分割され、このセクタはそれぞれ先頭か
らセクタマーク領域ＳＭ、セクータの物理的位置を示す
セクタアドレス領域ＳＡ、なにも記録してない空き領域
す及びユーザデータを記録するデータ領域ＤＴと、 各領域の間に設けられているギャップＧａｐとから構成
されている。

〔作用〕

複数セクタ中の所定セクタＳ（ｉ　＋１）に欠陥があれ
ば空き領域すに交代処理マーク叶を記録すると共に、そ
のデータ領域ＤＴにはユーザデータの代わりに当該セク
タＳ（ｉ　＋１）の交代セクタ位置情報ＣＤＴを多重ブ
ロック書きする。

上位装置から書込み／読取り命令があった時、セクタＳ
（ｉ　＋１）の交代処理マークＣＭを検出すると、書込
み時は当該セクタＳ（ｉ　＋１）への書込みを抑制し、
データ領域ＤＴに多量ブロック書きされた中で正常に読
取れた交代セクタ位置情報ＣＤＴで指示される交代セク
タにデータを書込む。

一方、読取り時は同様に正常に読取れた交代セクタ位置
情報ＣＤＴで指示される交代セクタでデータを読取るこ
とにより、交代セクタ処理が容易に且つその処理動作の
信頼性が高く、短時間に処理可能となる。

〔実施例〕

以下本発明の要旨を第２図、第３図に示す実施例により
具体的に説明する。

第２図は本発明の実施例であるデータフォーマツ１−の
制御動作図、第３図は本発明の実施例のブロック図をそ
れぞれ示す。尚、全図を通じて同一符号は同一対象物を
示す。

第２図の本実施例はセクタＳ（ｉ　＋１）が欠陥セクタ
として検出される実施例を示す。又、読取り系機能ブロ
ック１の中のセクタ内ピントカウンタ１４からは記録／
未記録検出ウィンド■と交代処理マークキ灸出ウィンド
［相］が送出されるものとする。

尚、交代処理マーク側を検出すると、検出信号■が送出
され、交代処理マーク検出ウィンド［相］が送出される
と論理積回路２５は検出信号■との論理積条件を取り、
その出力をＦ、Ｆ２７にラッチして交代処理マーク検出
信号０として所定部分に送出される。

この交代処理マーク検出信号■が送出された時は図示し
てないライトゲートを抑止し、交代セクタ位置情報が記
録されている多重ブロックＣＤＴＯ〜２　（本実施例で
は、３重ブロック書きされているものとする）を読取り
に行く。

一方、リードゲート部２８は交代処理マーク検出信号■
とセクタ内ビットカウンタ１４からの所定信号によりリ
ードゲート信号＠をＳＢ検出回路１７に送出する。

ＳＢ検出回路１７はリードゲート信号＠を検出中にシン
クバイトＳＢ　（データ領域ＤＴの先頭に記録されてい
る）を検出すると、ＳＢ検出信号をライトパルス作成回
路１８に送出し、ライトパルス作成回路１８は以降のり
一ドクロック■を８回毎に１回うイトパルス■として送
出し、このライトパルス■と肝Ｕ４からのイネーブル信
号とによりセクタＳ（ｉ　＋１）から読取った交代セク
タ位置情報を交代セクタ情報バッファ２０に格納する。

本交代セクタ位置情報しよ多重ブロックになっているた
め、どれか１つでも正常に読取れると良いので信頼性が
高い。尚、この時の処理状況を第２図に示し、（１）は
トラックａの状況、（２）はライト蒔の状況、（３）は
リード時の状況をそれぞれ示す。

書込み制御時は１１ＰＩＪ４が交代セクタ情報バッファ
２０の内容により指定される交代セクタに対して上位装
置（図示してない）から転送されて来たデータの書込み
処理を行う。

一方、データ読取り処理時には、交代処理マークＣＭを
検出すると引続きセクタＳ（ｉ　＋１）内データ領域Ｄ
Ｔに多重ブロック書きされている交代セクタ位置情報を
読取り、同様に交代セクタ情報バッファ２０に格納し、
肝Ｕ４は交代セクタ位置情報が指定する交代セクタに位
置付けてデータを読取る。

尚、書込み処、理時にセクタＳ（ｉ　＋１）で交代処理
マーク囲を検出しない時は、図示してないライトゲート
信号■がセントされ、セクタＳ（ｉ　＋１）内データ領
域ＤＴにデータが書込まれる。

〔発明の効果〕

以上のような本発明によれば、再記録可能な光デイスク
媒体上の複数セクタのデータの読取り／書込み処理動作
が容易に且つ交代セクタ処理動作が高信頼性で、しかも
短時間に処理出来ると言う効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理図、 第２図は本発明の実施例であるデータフォーマントの制
御動作図、 第３図は本発明の実施例のブロック図、第４図は従来の
交代処理状況を説明するデータフォーマント図・ 第５図は従来の交代処理状況を説明するブロック図、 をそれぞれ示す。 図において、 １は読取り系機能ブロック、 ３は書込み系機能ブロック、 ４はＭＰＵ　。 １１はセクタマーク検出回路、 １２は記録／未記録検出回路、 １３は波形整形回路、 １４はセクタ内ビントカウンク、 １５はＶＦＯｌ　　　　　　　１６はデータ変換回路、
１７はＳＢ検出回路、 １８はライトパルス作成回路、 １９．３２はデータバッファ、 ２０．３１は交代セクタ位置情報バッファ、２１．２５
は論理積回路、

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 記録媒体上のトラック（ａ）を複数のセクタで分割した
   記録／再生可能な記憶装置において、ライト命令実行時
   に記録したデータに欠陥を検出した該セクタ（Ｓ（ｉ＋
   １））にはデータ領域（ＤＴ）の直前に交代処理マーク
   （ＣＭ）と、 該セクタ（Ｓ（ｉ＋１））の交代セクタ位置情報（ＣＤ
   Ｔ）を該データ領域（ＤＴ）に多重ブロック書きし、リ
   ード命令実行時には、交代処理マーク（ＣＭ）を検出し
   た該セクタ（Ｓ（ｉ＋１））の該交代セクタ位置情報（
   ＣＤＴ）の多重ブロックを読取り、正確に読取った該交
   代セクタ位置情報（ＣＤＴ）が示すセクタに位置付けて
   データを読取ることを特徴とする交代処理方式。