JPS62204146A - 穀物乾燥機用水分計の含水率出力方法 - Google Patents
穀物乾燥機用水分計の含水率出力方法Info
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- JPS62204146A JPS62204146A JP4701686A JP4701686A JPS62204146A JP S62204146 A JPS62204146 A JP S62204146A JP 4701686 A JP4701686 A JP 4701686A JP 4701686 A JP4701686 A JP 4701686A JP S62204146 A JPS62204146 A JP S62204146A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 22
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims abstract description 22
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 16
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 6
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 claims description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 8
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、籾等の穀物を乾燥する穀物乾燥機に用いられ
乾燥中に定期的に穀物をサンプリングして含水率を自動
計測し含水率を出力する穀物乾燥機用水分計の含水率出
力方法に関する。
乾燥中に定期的に穀物をサンプリングして含水率を自動
計測し含水率を出力する穀物乾燥機用水分計の含水率出
力方法に関する。
穀物乾燥機では、乾燥開始前に乾燥終了時の穀物の含水
率の設定値Ｇａを設定しておき、水分計で穀物を定期的
にサンプリングして含水率を自動計測し、この含水率が
前記設定値Ｇａ以下となった場合には乾燥機による乾燥
を自動的に停止するようになっている。
率の設定値Ｇａを設定しておき、水分計で穀物を定期的
にサンプリングして含水率を自動計測し、この含水率が
前記設定値Ｇａ以下となった場合には乾燥機による乾燥
を自動的に停止するようになっている。
第３図には籾の乾燥における従来の含水率の測定値（・
印）の−例が示されており、含水率が設定値Ｇａより僅
か大きい値Ｇｂよりも大きい場合には、１時間毎にサン
プリングをして含水率が測定される。含水率がＧｂ以下
になった場合には、過乾燥を防止するため、短時間時間
間隔、例えば２０分おきに含水率が測定される。
印）の−例が示されており、含水率が設定値Ｇａより僅
か大きい値Ｇｂよりも大きい場合には、１時間毎にサン
プリングをして含水率が測定される。含水率がＧｂ以下
になった場合には、過乾燥を防止するため、短時間時間
間隔、例えば２０分おきに含水率が測定される。
しかし、ある時刻における各粒毎の含水率は異なり、ば
らつき（空間的ばらつき）があるので、短時間間隔で含
水率を測定するとその測定値に経時的ばらつきが生じる
。このため、第３図の例では、乾燥時間が６時間４０分
で含水率が設定値Ｇａ以下となって乾燥機が停止され、
その時点における平均穀物含水率は設定値Ｇａよりも大
きくなる。その大きさは毎回界なるため、乾燥機の停止
精度が悪くなるという問題点があった。
らつき（空間的ばらつき）があるので、短時間間隔で含
水率を測定するとその測定値に経時的ばらつきが生じる
。このため、第３図の例では、乾燥時間が６時間４０分
で含水率が設定値Ｇａ以下となって乾燥機が停止され、
その時点における平均穀物含水率は設定値Ｇａよりも大
きくなる。その大きさは毎回界なるため、乾燥機の停止
精度が悪くなるという問題点があった。
複数個の水分計を用いて計測値を平均すればこの問題点
を解決できるが、構成が？ｊｌ Ｎになり、コスト高と
なる。
を解決できるが、構成が？ｊｌ Ｎになり、コスト高と
なる。
本発明は、上記問題点に鑑み、単一の水分計を用い、平
均穀物含水率が設定値になったときに乾燥を停止させて
精度を向上させることが可能な穀物乾燥機用水分計の含
水率出力方法を提供することを目的とする。
均穀物含水率が設定値になったときに乾燥を停止させて
精度を向上させることが可能な穀物乾燥機用水分計の含
水率出力方法を提供することを目的とする。
本発明に係る穀物乾燥機用水分計の含水率出力方法では
、穀物乾燥機で穀物を乾燥中、含水率の計測値の経時的
散布度が所定値以上生じると考えられる時間間隔で穀物
をサンプリングしてその含水率を水分計で自動計測する
場合、現計測値と当該乾燥における過去の含水率の計測
値とを用い、平均化又は最小二乗法により現計′測値を
修正して出力することを特徴としている。
、穀物乾燥機で穀物を乾燥中、含水率の計測値の経時的
散布度が所定値以上生じると考えられる時間間隔で穀物
をサンプリングしてその含水率を水分計で自動計測する
場合、現計測値と当該乾燥における過去の含水率の計測
値とを用い、平均化又は最小二乗法により現計′測値を
修正して出力することを特徴としている。
従って、修正された含水率の出力値のばらつきは小さく
なり、ある時刻における穀物の平均含水率が予め設定さ
れた含水率へ近づいたときに乾燥機を停止させることが
可能となる。すなわち、含水率が平均含水率よりもかな
り小さい穀物をサンプリングすることにより、乾燥機が
停止される確率が小さくなる。
なり、ある時刻における穀物の平均含水率が予め設定さ
れた含水率へ近づいたときに乾燥機を停止させることが
可能となる。すなわち、含水率が平均含水率よりもかな
り小さい穀物をサンプリングすることにより、乾燥機が
停止される確率が小さくなる。
図面に従って本発明の詳細な説明する。
第１図には本発明が適用されたｉ環式穀物乾燥機の一例
が示されており、この循環式穀物乾燥機は、上部の貯留
部１０と下部の乾燥部１２とを有している。乾燥部１２
には網状壁面で仕切られた流下路１４が形成されており
、貯留部１０の穀物が流下して通るようになっている。
が示されており、この循環式穀物乾燥機は、上部の貯留
部１０と下部の乾燥部１２とを有している。乾燥部１２
には網状壁面で仕切られた流下路１４が形成されており
、貯留部１０の穀物が流下して通るようになっている。
隣り合う流下路１４の間には交互に熱風室１６、排風室
１８が形成されている。熱風室１６には図示しないバー
ナー及び吸引ファンにより熱風が送られ、熱風室１６か
ら流下路１４を通って排風室１８側へ流れるようになっ
ている。これにより、流下路１４内の穀物が乾燥される
。流下路１４の下端開口部にはロークリパルプ２０が近
設されており、乾燥された穀物を下ホツパ２２内へ落下
させるようになっている。下ホッパ２２の底部にはスク
リューコンベア２４が設けられており、穀物をパケット
コンベア２６の下部へ供給するようになっている。
１８が形成されている。熱風室１６には図示しないバー
ナー及び吸引ファンにより熱風が送られ、熱風室１６か
ら流下路１４を通って排風室１８側へ流れるようになっ
ている。これにより、流下路１４内の穀物が乾燥される
。流下路１４の下端開口部にはロークリパルプ２０が近
設されており、乾燥された穀物を下ホツパ２２内へ落下
させるようになっている。下ホッパ２２の底部にはスク
リューコンベア２４が設けられており、穀物をパケット
コンベア２６の下部へ供給するようになっている。
この穀物はパケットコンベア２６により貯留部１０の上
方へ持ち上げられ、回転式均分＠２８上に落下されるよ
うになっている。回転式均分機２８上の穀物は遠心力を
受けて貯留部１０内へ落下し、堆積された穀物の上表面
は播鉢状になっている。
方へ持ち上げられ、回転式均分＠２８上に落下されるよ
うになっている。回転式均分機２８上の穀物は遠心力を
受けて貯留部１０内へ落下し、堆積された穀物の上表面
は播鉢状になっている。
含水率検出装置３４は、サンプリング信号を受けてサン
プリングを開始し、含水率を計測してそ（７） ４Ｗ
ヲＡ ／ Ｄ変換器３６を介しマイクロコンピュータ３
８へ供給するようになっている。乾燥機を停止させるた
めの乾燥終了時の穀物の含水率、即ち目標含水率設定値
Ｇａは含水率設定器４０により設定され、その設定値が
マイクロコンピュータ３８へ供給されるようになってい
る。マイクロコンピュータ３日はドライバ４２を介して
含水率検出装置３４ヘサンプリング信号を供給し、また
ドライバ４２を介して表示器４４へ含水率を出力するよ
うになっている。表示器４４は次の表示値が供給される
まで前回の表示値を保持して表示するようになっている
。
プリングを開始し、含水率を計測してそ（７） ４Ｗ
ヲＡ ／ Ｄ変換器３６を介しマイクロコンピュータ３
８へ供給するようになっている。乾燥機を停止させるた
めの乾燥終了時の穀物の含水率、即ち目標含水率設定値
Ｇａは含水率設定器４０により設定され、その設定値が
マイクロコンピュータ３８へ供給されるようになってい
る。マイクロコンピュータ３日はドライバ４２を介して
含水率検出装置３４ヘサンプリング信号を供給し、また
ドライバ４２を介して表示器４４へ含水率を出力するよ
うになっている。表示器４４は次の表示値が供給される
まで前回の表示値を保持して表示するようになっている
。
次に、マイクロコンピュータ３８のソフトウェアの構成
を第２図に従って説明する。
を第２図に従って説明する。
ステップ１００において、第ｉサンプリングであること
を示すｉの値を１に設定し、短縮サンプリング周期（本
実施例では２０分）での第ｊサンプリングであることを
示すｊの値を０に設定する。
を示すｉの値を１に設定し、短縮サンプリング周期（本
実施例では２０分）での第ｊサンプリングであることを
示すｊの値を０に設定する。
また、サンプリング周期Ｔの値を６０（分）に設定する
。次いでステップ１０２へ進み、含水率設定器４０から
目標含水率設定値Ｇａを読み込む。
。次いでステップ１０２へ進み、含水率設定器４０から
目標含水率設定値Ｇａを読み込む。
次いでステップ１０４に進み、目標含水率設定値Ｇａか
ら一定値Δを減じた値をＧｂとする。ここでＧｂは、サ
ンプリング周期を短縮する時期を判定するための比較値
である（第３図参照）。次いでステップ１０６へ進み、
含水率検出装置へサンプリング信号を供給し、含水率検
出装置３４にょリサンプリングされた穀物の含水率Ｇｉ
を測定してその値を読み込む。次いでステップ１０８で
ｊの値がＯになっているか否かを判断する。最初はステ
ップ１００によりｊ−０となっているので、ステップ１
０８からステップ１１０へ進む。ステップ１１０でＧｂ
＜Ｇｉであれば、ステップ１１２へ進み含水率検出値Ｇ
ｉを含水率出力値Ｇとする０次いでステップ１１４へ進
み、ＧａくＧであればステップ１１６でこのＧの値を表
示器４４へ表示する。次いでステップ１１８において６
０分経過するのを待つ。次いでステップ１１９へ進み、
ｉの値をインクリメントする。次いで上記ステップ１０
６〜１１９の処理を繰り返す。
ら一定値Δを減じた値をＧｂとする。ここでＧｂは、サ
ンプリング周期を短縮する時期を判定するための比較値
である（第３図参照）。次いでステップ１０６へ進み、
含水率検出装置へサンプリング信号を供給し、含水率検
出装置３４にょリサンプリングされた穀物の含水率Ｇｉ
を測定してその値を読み込む。次いでステップ１０８で
ｊの値がＯになっているか否かを判断する。最初はステ
ップ１００によりｊ−０となっているので、ステップ１
０８からステップ１１０へ進む。ステップ１１０でＧｂ
＜Ｇｉであれば、ステップ１１２へ進み含水率検出値Ｇ
ｉを含水率出力値Ｇとする０次いでステップ１１４へ進
み、ＧａくＧであればステップ１１６でこのＧの値を表
示器４４へ表示する。次いでステップ１１８において６
０分経過するのを待つ。次いでステップ１１９へ進み、
ｉの値をインクリメントする。次いで上記ステップ１０
６〜１１９の処理を繰り返す。
ステップ１１０においてＧｂ≧Ｇｉである場合（第３図
に例ではｉ−７のとき）にはステップ１２０へ進み、Ｔ
の値をその１／３の２０ （分）とし、ｊの値を１とす
る。次いでＧｉの値をＧとしくステップ１１２）、ステ
ップ１１４．１１６へ進んでこのＧの値を表示する。
に例ではｉ−７のとき）にはステップ１２０へ進み、Ｔ
の値をその１／３の２０ （分）とし、ｊの値を１とす
る。次いでＧｉの値をＧとしくステップ１１２）、ステ
ップ１１４．１１６へ進んでこのＧの値を表示する。
次回ステップ１０Ｂへ進んだ場合には、前回ステップ１
２０でｊ＝１となっているので、ステップ１２２へ進み
ｊの値をインクリメントする。最初は、ｊの値が２であ
るのでステップ１２４．１２６へ進み、ＧｉとＱｉ−、
との算術平均値をＧの値とする。次いでステップ１１４
．１１６へ進み、このＧの値を表示する。
２０でｊ＝１となっているので、ステップ１２２へ進み
ｊの値をインクリメントする。最初は、ｊの値が２であ
るのでステップ１２４．１２６へ進み、ＧｉとＱｉ−、
との算術平均値をＧの値とする。次いでステップ１１４
．１１６へ進み、このＧの値を表示する。
次回ステップ１２４へ進んだときには、ｊ＝３となって
いるのでステップ１２８へ進み、Ｇ ！ ％Ｇｉ−いＧ
ｂ２の算出平均値がＧとされ、ステップ１１４．１１６
へ進んでこの値が表示される。
いるのでステップ１２８へ進み、Ｇ ！ ％Ｇｉ−いＧ
ｂ２の算出平均値がＧとされ、ステップ１１４．１１６
へ進んでこの値が表示される。
このように、含水率の検出値が目標含水率設定値Ｇａに
近づいてサンプリング周期が短縮された場合には、過去
４０分以内に検出した検出値をも考慮し、平均化により
含水率検出値を修正しているので、検出値のばらつきが
あっても含水率の出力値は第３図に示す如く滑らかな曲
線に近づくことになる。
近づいてサンプリング周期が短縮された場合には、過去
４０分以内に検出した検出値をも考慮し、平均化により
含水率検出値を修正しているので、検出値のばらつきが
あっても含水率の出力値は第３図に示す如く滑らかな曲
線に近づくことになる。
このような修正された検出値Ｇの値がステップ１１４に
おいてＧａ≧Ｇとなった場合には、ステップ１３０へ進
み、乾燥停止信号を出力しゼ乾燥機による穀物の乾燥を
停止する。
おいてＧａ≧Ｇとなった場合には、ステップ１３０へ進
み、乾燥停止信号を出力しゼ乾燥機による穀物の乾燥を
停止する。
なお、ステップ１２６．１２８においては算術平均を用
いているが、現在に近い過去の検出値はど大きな重みを
付けた加重平均によりＧの値を求めてもよい。また、最
小二乗法により、現在及び過去の検出値を用いて滑らか
な曲線又は直線を求め、その曲線又は直線から含水率出
力値Ｇを求めるようにしてもよい。
いているが、現在に近い過去の検出値はど大きな重みを
付けた加重平均によりＧの値を求めてもよい。また、最
小二乗法により、現在及び過去の検出値を用いて滑らか
な曲線又は直線を求め、その曲線又は直線から含水率出
力値Ｇを求めるようにしてもよい。
本実施例では短縮サンプリング周期を２０分としたが、
連続的にサンプリングを行ってもよい。
連続的にサンプリングを行ってもよい。
本発明に係る穀物乾燥機用水分計の含水率出力方法では
、穀物乾燥機で穀物を乾燥中、含水率の計測値に経時的
散布度が所定値以上生じると考えられる時間間隔で穀物
をサンプリングしてその含水率を水分計で自動計測する
場合、現計測値と当該乾燥における過去の含水率の計測
値とを用い、平均化又は最小二乗法により現計測値を修
正して出力するようになっているので、ある時点におけ
る穀物の各粒毎の含水率にばらつきがあっても修正され
た含水率の出力のばらつきは小さくなり、含水率が目標
含水率設定値に従来よりもより近づいた時点で乾燥機を
停止させることができ、単一の水分計を用いて乾燥機の
停止精度を向上させることができるという優れた効果を
有する。
、穀物乾燥機で穀物を乾燥中、含水率の計測値に経時的
散布度が所定値以上生じると考えられる時間間隔で穀物
をサンプリングしてその含水率を水分計で自動計測する
場合、現計測値と当該乾燥における過去の含水率の計測
値とを用い、平均化又は最小二乗法により現計測値を修
正して出力するようになっているので、ある時点におけ
る穀物の各粒毎の含水率にばらつきがあっても修正され
た含水率の出力のばらつきは小さくなり、含水率が目標
含水率設定値に従来よりもより近づいた時点で乾燥機を
停止させることができ、単一の水分計を用いて乾燥機の
停止精度を向上させることができるという優れた効果を
有する。
第１図本発明が適用された循環式穀物乾燥機を示す構成
図、第２図はフローチャート、第３図は乾燥中における
含水率の時間的変化を示すグラフである。 １０・・・貯留部、 １２・・・乾燥部、 １６・・・熱風室、 １８・・・排風室、 ２０・・・ロータリバルブ、 ２４・・・スクリューコンベア、 ２６・・・パケットコンベア、 ３４・・・含水率検出装置、 ４０・・・含水率設定器。
図、第２図はフローチャート、第３図は乾燥中における
含水率の時間的変化を示すグラフである。 １０・・・貯留部、 １２・・・乾燥部、 １６・・・熱風室、 １８・・・排風室、 ２０・・・ロータリバルブ、 ２４・・・スクリューコンベア、 ２６・・・パケットコンベア、 ３４・・・含水率検出装置、 ４０・・・含水率設定器。
Claims (1)
- 穀物乾燥機で穀物を乾燥中、含水率の計測値の経時的散
布度が所定値以上生じると考えられる時間間隔で穀物を
サンプリングしてその含水率を水分計で自動計測する場
合、現計測値と当該乾燥における過去の含水率の計測値
とを用い、平均化又は最小二乗法により現計測値を修正
して出力することを特徴とする穀物乾燥機用水分計の含
水率出力方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4701686A JPS62204146A (ja) | 1986-03-04 | 1986-03-04 | 穀物乾燥機用水分計の含水率出力方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4701686A JPS62204146A (ja) | 1986-03-04 | 1986-03-04 | 穀物乾燥機用水分計の含水率出力方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62204146A true JPS62204146A (ja) | 1987-09-08 |
Family
ID=12763376
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4701686A Pending JPS62204146A (ja) | 1986-03-04 | 1986-03-04 | 穀物乾燥機用水分計の含水率出力方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62204146A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52102158A (en) * | 1976-02-23 | 1977-08-26 | Shizuoka Seiki Co Ltd | Automatic measuring and controlling device for grain moisture content in dryer |
| JPS5643545A (en) * | 1979-09-18 | 1981-04-22 | Iseki & Co Ltd | Measuring method of water content of grain in drying machine |
-
1986
- 1986-03-04 JP JP4701686A patent/JPS62204146A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52102158A (en) * | 1976-02-23 | 1977-08-26 | Shizuoka Seiki Co Ltd | Automatic measuring and controlling device for grain moisture content in dryer |
| JPS5643545A (en) * | 1979-09-18 | 1981-04-22 | Iseki & Co Ltd | Measuring method of water content of grain in drying machine |
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