JPS62207902A - Capacitance type displacement detector - Google Patents
Capacitance type displacement detectorInfo
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- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は静電容量式変位検出装置に係り、変位に相応し
て静電容量が変化する可変コンデンサと静電容量が一定
の固定コンデンサとを設は積分コンデンサを共通として
二重積分して、可変コンデンサと固定コンデンサとの静
電容量比を時間長の比として評価して、変位をデジタル
的に検出できるようにした変位検出装置の改良に関する
。[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention relates to a capacitive displacement detection device, which includes a variable capacitor whose capacitance changes in accordance with displacement, a fixed capacitor whose capacitance is constant, and a fixed capacitor whose capacitance is constant. An improved displacement detection device that can digitally detect displacement by performing double integration using a common integrating capacitor and evaluating the capacitance ratio of the variable capacitor and fixed capacitor as the ratio of time length. Regarding.
長さ、重量、圧力等を自動測定するために変位検出装置
が広く採用されている0例えば直線変位測長器の如く測
定値をデジタル表示するために採用される変位検出装置
としてはその原理上光電式、接点式と種々あるが消費電
力の軽減、安定作動の保障の点から静電容量方式が採用
される場合がある。Displacement detection devices are widely used to automatically measure length, weight, pressure, etc. For example, displacement detection devices used to digitally display measured values, such as linear displacement length measuring devices, are based on their principles. There are various types such as photoelectric type and contact type, but the capacitive type is sometimes adopted from the viewpoint of reducing power consumption and ensuring stable operation.
従来かかる静電容量式の変位検出装置の構造としては第
4図に示す如く、要素電極103を一定ビ・7チで配設
した固定電極101に対し同じく要素電極102を一定
ピッチで配設した可動電極100を相対配置せしめ両者
間に図示しない高周波電源を印加し、第4図(A)でX
2方向に相対移動させることによって第4図(B)に示
すようなサイクリックな信号を発生せしめこれを評価し
て変位を検出するものでありた。As shown in FIG. 4, the conventional structure of such a capacitive displacement detection device is that element electrodes 102 are similarly arranged at a constant pitch to a fixed electrode 101 in which element electrodes 103 are arranged at a constant pitch. The movable electrodes 100 are placed relative to each other and a high frequency power source (not shown) is applied between the two, and as shown in FIG.
By relatively moving in two directions, a cyclic signal as shown in FIG. 4(B) is generated and the displacement is detected by evaluating this.
しかしながら、上記の従来の変位検出装置としては次の
ような欠点を有していた。However, the conventional displacement detection device described above has the following drawbacks.
■一定ピッチで複数の要素電極を配列しなければならな
いので、各要素電極の電気的特性、配設ピッチ、対向電
極とのクリアランス等の不揃いが発生し、これらは直接
精度に影響を及ぼすので高精変の検出が難しいという問
題があった。■Since multiple element electrodes must be arranged at a constant pitch, there will be irregularities in the electrical characteristics of each element electrode, arrangement pitch, clearance with the opposing electrode, etc., and these will directly affect accuracy, so high There was a problem in that it was difficult to detect changes.
■小型化に際しては要素電極を極めて微細な加工をしな
ければならず、また静電容量の変化が小さいので高周波
を用いる必要があり、この高周波電源装置が経済的負担
も大きいものであると同時に電源電圧の変動、周囲温度
の影響を受は易い等の欠点を有していた。■When miniaturizing, the element electrodes must be processed extremely finely, and since the change in capacitance is small, it is necessary to use high frequency, and this high frequency power supply has a large economic burden, and at the same time It has drawbacks such as being easily affected by fluctuations in power supply voltage and ambient temperature.
■また検出される信号はアナログ信号のために後に表示
や制御に使う場合等デジタル信号を求める場合には格別
のA/D変換器を採用しなければならないという問題も
あった。(2) Furthermore, since the detected signal is an analog signal, there is a problem in that a special A/D converter must be used if a digital signal is required for later use for display or control.
このように従来においては構造が簡単で感度が比較的高
いという静電容量式の一般的原理、原則は知られている
ものの上述のような大きな問題点のために実用化が阻ま
れていた。As described above, although the general principle of the capacitance type, which has a simple structure and relatively high sensitivity, has been known in the past, the major problems described above have prevented its practical application.
本発明は前記従来の問題点を解消するべくなされたもの
で、測定精度を安定して維持することができるとともに
、小型化、さらに変位検出量を直接デジタル信号として
検出できるようにした静電容量式変位検出装置を提供す
ることを目的とする。The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional problems, and has a capacitance that can stably maintain measurement accuracy, is compact, and can directly detect the amount of displacement as a digital signal. The purpose of the present invention is to provide a displacement detection device using the following formula.
C問題点を解決するための手段および作用〕(手段)
本発明は変位に伴って静電容量が変化するように形成さ
れた可変コンデンサとこれと別に静電容量が一定の固定
コンデンサ等を設は電源電圧および積分器の積分コンデ
ンサを共通としていわゆる二重積分を行い可変コンデン
サと固定コンデンサとの静電容量比を時間長の比として
評価し変位をデジタル的に検出できるようにした変位検
出装置を構成したものである。Means and Effects for Solving Problem C] (Means) The present invention provides a variable capacitor whose capacitance changes with displacement and a fixed capacitor whose capacitance is constant. is a displacement detection device that uses the power supply voltage and the integral capacitor of the integrator in common, performs so-called double integration, evaluates the capacitance ratio between the variable capacitor and the fixed capacitor as a ratio of time length, and can detect displacement digitally. It is composed of
具体的には変位に相応をさせて静電容量を変化するよう
形成された可変コンデンサと、静電容量が一定の固定コ
ンデンサと、前記可変コンデンサと固定コンデンサとが
切り換え接続される積分器゛と、所定の基準時間の経過
前には前記可変コンデンサを基準時間の経過後には前記
固定コンデンサを前記積分器に選択切り換えしつつ所定
の手順で二重積分動作をさせるためのシーケンス回路と
、前記積分器の出力電圧と参照電圧とを比較して両電圧
が等しくなるクロスポイントを求めるための比較回路と
、前記基準時間終了時点からクロスポイント到達時点ま
での有効測定時間を前記比較回路のクロスポイント信号
を利用して求める有効測定時間検出回路と、この有効測
定時間検出回路に接続され前記基準時間に対するを効測
定時間の比をもって当該可変コンデンサの静電容量相当
の変位量を検出するための変位検出回路と、を設は前記
目的を達成しようとするものである。Specifically, a variable capacitor formed to change capacitance in accordance with displacement, a fixed capacitor with a constant capacitance, and an integrator in which the variable capacitor and fixed capacitor are switched and connected. , a sequence circuit for selectively switching the variable capacitor to the integrator before the elapse of a predetermined reference time and the fixed capacitor to the integrator after the elapse of the reference time, and performing a double integration operation in a predetermined procedure; a comparison circuit for comparing the output voltage of the device with a reference voltage to find a cross point where both voltages are equal; and a cross point signal of the comparison circuit for an effective measurement time from the end of the reference time to the time the cross point is reached. and a displacement detection circuit connected to the effective measurement time detection circuit to detect the amount of displacement corresponding to the capacitance of the variable capacitor based on the ratio of the effective measurement time to the reference time. A circuit and a circuit are designed to achieve the above object.
(作用)
まず、変位に相応して静電容量が変化する可変コンデン
サを積分器に接続させて基準時間だけ正の積分動作を行
う。これにより積分コンデンサの電荷は高まり積分器の
出力電圧は徐々に高くなる。(Function) First, a variable capacitor whose capacitance changes in accordance with displacement is connected to an integrator, and a positive integration operation is performed for a reference time. This increases the charge on the integrating capacitor and gradually increases the output voltage of the integrator.
次いで、基準時間経過後、可変コンデンサに換えて固定
コンデンサを積分器に接続し、負の積分動作を行わせる
。積分器の出力電圧は徐々に降下する。その結果、出力
電圧と参照電圧とを比較して両電圧が等しくなるクロス
ポイントを比較回路において検出する。このクロスポイ
ントにおける検出信号、すなわちクロスポイント信萼を
利用して前記基準時間終了時点からクロスポイント信号
発生時(クロスポイント到達時)までの有効測定時間を
求める。ここに可変コンデンサをCX、固定コンデンサ
をC* 、基準時間をT、有効測定時間をTX とすれ
ばTヮーCX /Cl xTsの式が成立する。すなわ
ち可変コンデンサおよび固定コンデンサに対する電源電
圧および積分コンデンサを共通としているから、基準時
間T、と有効測定時間Tllは可変コンデンサCXと固
定コンデンサC6との比となる。従って、予め設定され
た基準時間T、に対する有効測定時間T8を求めれば静
電容量一定の固定コンデンサに対する可変コンデンサの
電気容量が求まることになる。ところで、可変コンデン
サの静電容量は変位に比例するから、結果として有効測
定時間が変位に相当することになる。Next, after a reference time has elapsed, a fixed capacitor is connected to the integrator instead of the variable capacitor, and a negative integration operation is performed. The integrator output voltage gradually drops. As a result, the output voltage and the reference voltage are compared, and a cross point where both voltages become equal is detected in the comparator circuit. Using the detection signal at this crosspoint, that is, the crosspoint signal, the effective measurement time from the end of the reference time to the time when the crosspoint signal is generated (when the crosspoint is reached) is determined. Here, if the variable capacitor is CX, the fixed capacitor is C*, the reference time is T, and the effective measurement time is TX, the formula Tw-CX/ClxTs is established. That is, since the power supply voltage and the integrating capacitor for the variable capacitor and the fixed capacitor are common, the reference time T and the effective measurement time Tll are the ratio of the variable capacitor CX and the fixed capacitor C6. Therefore, by finding the effective measurement time T8 with respect to the preset reference time T, the capacitance of the variable capacitor relative to the fixed capacitance constant capacitance can be found. By the way, since the capacitance of the variable capacitor is proportional to the displacement, the effective measurement time corresponds to the displacement.
従って、この有効測定時間TXを評価すれば変位量を検
出することができる。この評価は変位検出回路で例えば
時分割することによって直接的にデジタル信号として変
位量を検出することができる。Therefore, the amount of displacement can be detected by evaluating this effective measurement time TX. For this evaluation, the amount of displacement can be directly detected as a digital signal by, for example, time-sharing using a displacement detection circuit.
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
本発明の実施例は第1図および第3図に示され、可変コ
ンデンサCXと固定コンデンサC3とは第3図に示す如
く構成される。すなわち、可変他方電極1および固定他
方電極2を有する外筒4、変位に伴って軸方向に変位す
る筒状部5を存するスピンドル6および共通電極3はこ
の順で同芯状に配されている。そして可変コンデンサC
×は外筒4の可変他方電極1と共通電極3の間における
空−間をもって形成され、一方固定コンデンサC11は
同じく共通電極3と外筒4の固定他方電極2によって形
成される。従ってスピンドルを変位に伴って図でX1方
向に移動させれば共通電極3はスピンドル6の筒状部5
によって包囲される長さが異なるので結果として可変コ
ンデンサC8の静電容量はスピンドルの移動量、すなわ
ち変位に比例して変化するよう構成されている。An embodiment of the present invention is shown in FIGS. 1 and 3, and the variable capacitor CX and fixed capacitor C3 are constructed as shown in FIG. That is, the outer cylinder 4 having the variable other electrode 1 and the fixed other electrode 2, the spindle 6 having the cylindrical part 5 that is displaced in the axial direction with displacement, and the common electrode 3 are arranged concentrically in this order. . and variable capacitor C
× is formed by the space between the variable other electrode 1 of the outer cylinder 4 and the common electrode 3, while the fixed capacitor C11 is similarly formed by the common electrode 3 and the fixed other electrode 2 of the outer cylinder 4. Therefore, if the spindle is moved in the X1 direction in the figure along with the displacement, the common electrode 3 will be transferred to the cylindrical portion 5 of the spindle
As a result, the capacitance of the variable capacitor C8 is configured to change in proportion to the amount of movement of the spindle, that is, the displacement.
次にこの可変コンデンサCI+と固定コンデンサC8と
を含む静電容量式変位検出装置の全体を第1図をもって
説明する。Next, the entire capacitive displacement detection device including the variable capacitor CI+ and the fixed capacitor C8 will be explained with reference to FIG.
まずオペアンプ18および積分コンデンサ19で積分器
10が形成される。11は比較回路であって積分器の出
力電圧E、が参照電圧V*−t (この実施例ではア
ース電位すなわち零)と比較することによってクロスポ
イント信号Ecを求めるためのものである。15は有効
測定時間検出回路であってD−フリップフロップ20お
よびアンド回路21から形成されているフリップフロッ
プ回路20のCK端子には比較回路11の出力電圧E。First, an integrator 10 is formed by an operational amplifier 18 and an integrating capacitor 19. Reference numeral 11 denotes a comparison circuit for determining the cross point signal Ec by comparing the output voltage E of the integrator with a reference voltage V*-t (ground potential, ie, zero in this embodiment). Reference numeral 15 denotes an effective measurement time detection circuit, and the output voltage E of the comparator circuit 11 is connected to the CK terminal of the flip-flop circuit 20 formed from a D-flip-flop 20 and an AND circuit 21.
が接続されR端子には基準時間設定信号φBが接続され
る。また、D端子には電源電圧VDDが接続されている
。端子Qは積分動作中はHレベルであって、負の積分時
間動作に伴いクロスポイント信号E、がC1端子に入力
されるとHレベルからLレベルに反転する。アンド回路
21にはこのD−フリップフロップ回路20の端子石の
出力と有動領域時間設定信号φGが入力されている。こ
の両者がともにHレベルであるときに出力電圧がHレベ
ルとなりこれが有効測定時間TXということになる。変
位検出回路16はゲート22、カウンタ23、アンド回
路24および発振器26から形成され、ゲート24には
インバータ25を介して測定時間設定信号φAと発振器
26からの高周波数のパルス信号が入力される。ここに
ゲート22で有効測定時間TXの間だけパルス18号を
カウンタへ入力しカウンタ23で計数したカウント値が
、有効測定時間TXを時分割した変位量ということにな
る。is connected, and the reference time setting signal φB is connected to the R terminal. Further, a power supply voltage VDD is connected to the D terminal. The terminal Q is at the H level during the integration operation, and is inverted from the H level to the L level when the cross point signal E is input to the C1 terminal with the negative integration time operation. The output of the terminal of the D-flip-flop circuit 20 and the active area time setting signal φG are input to the AND circuit 21. When both of these are at H level, the output voltage becomes H level, which is the effective measurement time TX. The displacement detection circuit 16 is formed of a gate 22, a counter 23, an AND circuit 24, and an oscillator 26, and a measurement time setting signal φA and a high frequency pulse signal from the oscillator 26 are input to the gate 24 via an inverter 25. Here, pulse No. 18 is input to the counter at the gate 22 only during the effective measurement time TX, and the count value counted by the counter 23 is the displacement amount obtained by time-division of the effective measurement time TX.
従ってこの静電容量式変位検出装置においては有効測定
時間T工と発振器26からのパルス周波数により分解能
が決定できることになる。なお、デジタル表示器17は
カウンタ23でのカウント変位量をデジタル表示する手
段である。スイッチSWIからSW6は可変コンデンサ
CM と固定コンデンサCえとを切り換えて積分器10
に接続するものである。スイッチSW7が積分器の積分
コンデンサ19をディスチャージするものである。Therefore, in this capacitive displacement detection device, the resolution can be determined by the effective measurement time T and the pulse frequency from the oscillator 26. The digital display 17 is a means for digitally displaying the amount of displacement counted by the counter 23. Switches SWI to SW6 switch between the variable capacitor CM and the fixed capacitor C to connect the integrator 10.
It is connected to. The switch SW7 discharges the integrating capacitor 19 of the integrator.
ここにスイッチSW1からスイッチSW4は正の積分用
スイッチであって積分器10に可変コンデンサCXを接
続するために用せられる。また、スイッチSWI、SW
2およびスイッチSW5.3E6は負の積分用スイッチ
である。Here, switches SW1 to SW4 are positive integration switches and are used to connect the variable capacitor CX to the integrator 10. In addition, switches SWI, SW
2 and switch SW5.3E6 are negative integration switches.
ところで、この変位検出装置においては、高分解能と小
型化を達成するために、正の積分動作を可変コンデンサ
C11の電源電圧VDDをもってする充電工程とこの充
電工程により充電された可変コンデンサの電荷を積分器
lOの積分コンデンサ19に転移させる転移工程とを順
次繰り返して実行させるよう構成し、この充電工程にス
イッチSW1とスイッチSW3を閉成し、転移工程にお
いてスイッチSW2とスイッチSW4を閉成するようし
ている。同様に負の積分動作においても電源電圧VDD
をもって固定コンデンサCRに充電した逆極性の電荷に
より正の積分動作で充電した積分コンデンサ19の電荷
を減少するようにする放電工程と、固定コンデンサC1
1を接地する接地工° 程とを順次繰り返して実行され
るよう構成するために放電工程にはスイッチSWIおよ
びスイッチSW6が閉成され接地工程においてスイッチ
SW2およびスイッチSW5が閉成するようになってい
る。なお、正の積分動作中はスイッチSW6を開成し積
分器lOに固定コンデンサC11が接続されないようし
ている。また同様に負の積分動作においてはスイッチS
W4を開成し可変コンデンサCXが積分器10に接続さ
れないようされている。By the way, in this displacement detection device, in order to achieve high resolution and miniaturization, a charging process is performed in which a positive integral operation is performed using the power supply voltage VDD of the variable capacitor C11, and the electric charge of the variable capacitor charged by this charging process is integrated. The transfer step of transferring the charge to the integrating capacitor 19 of the battery IO is sequentially repeated, and the switch SW1 and the switch SW3 are closed during this charging step, and the switch SW2 and the switch SW4 are closed during the transfer step. ing. Similarly, in negative integral operation, the power supply voltage VDD
a discharging step in which the charge of the integral capacitor 19 charged by the positive integral operation is reduced by the charge of the opposite polarity charged to the fixed capacitor CR, and the fixed capacitor C1
In order to perform the grounding step in which the power source 1 is grounded in sequence, the switches SWI and SW6 are closed during the discharging step, and the switches SW2 and SW5 are closed during the grounding step. There is. Note that during the positive integration operation, the switch SW6 is opened to prevent the fixed capacitor C11 from being connected to the integrator IO. Similarly, in negative integral operation, switch S
W4 is opened so that variable capacitor CX is not connected to integrator 10.
12はシーケンス回路であってスイッチSW1からスイ
ッチSW7を所定の手順で切り換え正の積分と負の積分
を実行するようコントロールする。Reference numeral 12 denotes a sequence circuit which controls switches SW1 to SW7 to be switched in a predetermined sequence to execute positive integration and negative integration.
また測定時間T、の設定信号φA、有効領域時間TAの
設定信号φCおよび基準時間T、の設定信号φBを適時
出力するよう形成されている。13はクロックパルス発
生器でアナログスイッチとされたスイッチSW1からス
イッチSW6までをコントロールするための信号φlか
らφ6を発生されるための基準クロックパルスをシーケ
ンス回路12に供給するものである。14は基準時間設
定器であって所定分解能を得るために必要な有効測定時
間Txを確保するために可変コンデンサC8、固定コン
デンサCR1さらには当該変位検出装置のスピンドル6
の移動速度等から任意に決定するものである。なおデジ
タル表示器17は変位検出回路16によるカウンタ23
の出力をデジタル表示器に表示し読み取り容易性を確保
するためのものである。Further, it is formed to output a setting signal φA for the measurement time T, a setting signal φC for the effective area time TA, and a setting signal φB for the reference time T at appropriate times. A clock pulse generator 13 supplies the sequence circuit 12 with reference clock pulses for generating signals φ1 to φ6 for controlling switches SW1 to SW6, which are analog switches. Reference numeral 14 is a reference time setter, which is connected to a variable capacitor C8, a fixed capacitor CR1, and a spindle 6 of the displacement detecting device in order to secure the effective measurement time Tx necessary to obtain a predetermined resolution.
This is arbitrarily determined based on the moving speed, etc. Note that the digital display 17 is a counter 23 based on the displacement detection circuit 16.
This is to display the output on a digital display to ensure readability.
次にこの実施例における動作を主に第2図を用いて説明
する。Next, the operation of this embodiment will be explained mainly with reference to FIG.
いま変位に基づいて第3図におけるX1方向に移動する
スピンドル6は停止状態とされ、基準時間設定器14に
よって基準時間T、が設定されているものとする。この
実施例ではシーケンス回路12は基準時間T3が設定さ
れることにより測定時間TM、積分器10のリセット時
間、有効領域時間TAが自動的に決定される。ここで測
定時間設定信号φAがLレベルのときに測定時間T、1
が決定され、Hレベルのときに積分器10がリセットさ
れるものである。また基準時間設定信号φBがHレベル
のときに基準時間T、が規定され有効領域時間設定信号
φCも同じ< Hレベルのときに有効領域時間TAを指
定するものである。アナログスイッチとされたスイッチ
SWIを閉成するための閉成指令信号φ1 (以下単に
信号φlという。It is now assumed that the spindle 6, which moves in the X1 direction in FIG. 3 based on the displacement, is in a stopped state, and a reference time T is set by the reference time setting device 14. In this embodiment, the sequence circuit 12 automatically determines the measurement time TM, the reset time of the integrator 10, and the effective area time TA by setting the reference time T3. Here, when the measurement time setting signal φA is at L level, the measurement time T, 1
is determined, and the integrator 10 is reset when it is at H level. Further, when the reference time setting signal φB is at the H level, the reference time T is defined, and when the valid area time setting signal φC is also at the H level, the valid area time TA is specified. Closing command signal φ1 (hereinafter simply referred to as signal φl) for closing switch SWI, which is an analog switch.
その他の閉成I旨令信号についても同様とする。)およ
びこれと半周期遅れの信号φ2にはこの変位検出装置の
元電源がオンされている間は常に一定周期で発生されて
いるものである。また基準時間T、内にあっては信号φ
3は信号φ1に同期し、信号φ4は信号φ2に同期して
発生する。なお初期状態においてはすなわち積分器10
がリセント状態にあ′っても信号φ1およびφ3とが同
時にHレベルとなる場合があるため可変コンデンサCI
は電源電圧VDDにより充電されているものとされ、ま
たフリップフロップ20のQ端子の出力電圧はLレベル
とされている。このような条件下から正の積分工程につ
いて説明する。測定時間設定信号φAがLレベルとなり
基準時間設定信号φBが1ルベルとなる。信号φ2およ
びφ4が発生するとスイッチSW2およびスイッチSW
4を介し、可変コンデンサCx は積分器10に接続さ
れる。The same applies to other closing I command signals. ) and the signal φ2 delayed by half a cycle are always generated at a constant cycle while the main power source of this displacement detection device is turned on. Also, within the reference time T, the signal φ
3 is generated in synchronization with signal φ1, and signal φ4 is generated in synchronization with signal φ2. Note that in the initial state, that is, the integrator 10
Even if the variable capacitor CI is in the recent state, the signals φ1 and φ3 may become H level at the same time.
is assumed to be charged by the power supply voltage VDD, and the output voltage of the Q terminal of the flip-flop 20 is set to L level. The positive integration process will be explained under such conditions. The measurement time setting signal φA becomes L level and the reference time setting signal φB becomes 1 level. When signals φ2 and φ4 are generated, switch SW2 and switch SW
4, the variable capacitor Cx is connected to the integrator 10.
従って可変コンデンサCイに充電されていた電荷に基づ
いて積分器10には可変コンデンサCX側から負の電流
が流れ込む。これに対し積分コンデンサ19側からはオ
ペアンプ18の入力側に正の電流が流れ込む。従ってオ
ペアンプ18の出力電圧E0は上昇する。すなわち可変
コンデンサCxに充電された電荷が積分コンデンサ19
に移し換えられたことになる。続いてシーケンス回路1
2からの指令によって信号φ2、信号φ4によりスイッ
チSW2およびスイッチSW4が開成する。Therefore, a negative current flows into the integrator 10 from the variable capacitor CX side based on the charge stored in the variable capacitor C. On the other hand, a positive current flows into the input side of the operational amplifier 18 from the integrating capacitor 19 side. Therefore, the output voltage E0 of the operational amplifier 18 increases. That is, the electric charge charged in the variable capacitor Cx is transferred to the integrating capacitor 19.
It has been transferred to . Next, sequence circuit 1
The switch SW2 and the switch SW4 are opened in accordance with the command from the signal φ2 and the signal φ4.
その後にスイッチSW1およびスイッチSW3が閉成す
ると可変コンデンサCXには電源電圧VDDが印加され
、可変コンデンサCxが充電される。Thereafter, when switch SW1 and switch SW3 are closed, power supply voltage VDD is applied to variable capacitor CX, and variable capacitor Cx is charged.
この可変コンデンサCXの充電完了後、半周期遅れで再
びスイッチswt、sw3が開成し、スイッチSW2と
SW4とが閉成されると、上記と同様に可変コンデンサ
Cxの電荷は積分コンデンサ19に移し換えられさらに
積分器10の出力電圧−Eoは上昇する。このようにス
イッチSWI、SW3による充電工程とスイッチSW2
.SW4による転移工程が繰り返し行われ基準時間T、
の間は積分器10の出力電圧E0は図で実線で示すよう
に上昇する。なおこの基準時間T、の間は固定コンデン
サCMを積分器10のオペアンプ1日に接続させないた
めに信号φ6は出力されずスイッチSW6は閉成される
ことがない。After charging of the variable capacitor CX is completed, the switches swt and sw3 are opened again with a half-cycle delay, and when the switches SW2 and SW4 are closed, the charge of the variable capacitor Cx is transferred to the integrating capacitor 19 in the same way as above. Furthermore, the output voltage -Eo of the integrator 10 increases. In this way, the charging process by switches SWI and SW3 and the switch SW2
.. The transfer process by SW4 is repeated until the reference time T,
During this period, the output voltage E0 of the integrator 10 increases as shown by the solid line in the figure. Note that during this reference time T, the fixed capacitor CM is not connected to the operational amplifier of the integrator 10, so the signal φ6 is not output and the switch SW6 is not closed.
このように変位検出装置を小型化するために制限される
可変コンデンサCXの静電容量や電源電圧等を考慮して
実際には第2図の2点鎖線で示される如く階段状に積分
器10の出力電圧E、は傾斜上昇する。Considering the capacitance of the variable capacitor CX, the power supply voltage, etc., which are limited in order to miniaturize the displacement detection device, the integrator 10 is actually arranged in a stepped manner as shown by the two-dot chain line in FIG. The output voltage E, increases at a slope.
続いて負の積分工程を説明する。Next, the negative integration process will be explained.
基準時間T、が終了すると基準時間設定信号φBはLレ
ベルとなり代わって有効領域時間設定信号φCが■(レ
ベルとなる。従って、基準時間設定信号φBがLレベル
になることによってフリップフロップ20のQ端子電圧
はHレベルとされ、有効領域時間設定信号φCがHレベ
ルになることを条件として有効測定時間T、lが進行を
始める。すなわち、有効測定時間検出回路15のアンド
回路21からはI(レベルの信号E、tが出力される。When the reference time T ends, the reference time setting signal φB goes to the L level, and the effective area time setting signal φC goes to the (■) level. Therefore, when the reference time setting signal φB goes to the L level, the Q of the flip-flop 20 The terminal voltage is set to H level, and the effective measurement time T, l starts to advance on the condition that the effective area time setting signal φC becomes H level.In other words, the AND circuit 21 of the effective measurement time detection circuit 15 outputs I( Level signals E and t are output.
さて、を動領域時間T^内にあっては信号φ4はLレベ
ルとなり可変コンデンサCXはスイッチSW4が開成と
なるので積分器10のオペアンプ−18に接続されるこ
とはなくなる。一方基準時間T、内にあって信号φ2お
よびφ5に基づいて閉成されたスイッチSW2.SW5
を介し固定コンデンサC3は接地されていたので、シー
ケンス回路12からの信号φ1とφ6に基づいて閉成さ
れるスイッチSWlおよびSW6を介して固定コンデン
サC11は積分器10のオペアンプ18に接続される。Now, within the dynamic region time T^, the signal φ4 goes to L level, and the variable capacitor CX is no longer connected to the operational amplifier 18 of the integrator 10 because the switch SW4 is opened. On the other hand, switches SW2. SW5
Since the fixed capacitor C3 was grounded through the circuit 12, the fixed capacitor C11 is connected to the operational amplifier 18 of the integrator 10 through the switches SW1 and SW6, which are closed based on the signals φ1 and φ6 from the sequence circuit 12.
この場合、固定コンデンサC1は電源電圧VDDに接続
されるので電源電圧VDDからはオペアンプ18に正の
電流が流れ込む。これに対し、積分コンデンサ19側、
すなわちオペアンプ1Bの出力側からは負の電流がオペ
アンプ18の入力側に流れ込むことによって打ち消せる
よう作用する。In this case, since the fixed capacitor C1 is connected to the power supply voltage VDD, a positive current flows into the operational amplifier 18 from the power supply voltage VDD. On the other hand, the integrating capacitor 19 side,
That is, a negative current flows from the output side of the operational amplifier 1B into the input side of the operational amplifier 18, thereby acting to cancel the negative current.
従って正の積分工程において充電された積分コンデンサ
19の電荷は徐々に低減し積分器10の出力電圧E0が
降下する。その後再びスイッチSW2、SW5とスイッ
チSWI、SW6は半周期遅れで交互に開成、閉成を繰
り返すので第2図の有効領域時間内にあっては2点鎖線
で示す如く階段状に積分器10の出力電圧E0は下がり
、結果として実線で示す如く一定の傾斜で出力電圧E0
は低下していくとみなされる。このように負の積分工程
において積分器IOの出力電圧E、が参照電圧V 、、
f と比較回路11において比較され両者が等しくなっ
たときに比較回路11からクロスポイント信号E、が出
力される。すなわち参照電圧VR*fを零値しているの
で積分器IOの出力電圧E0が零値となったときにクロ
スポイント信号ECがHレベルとなり出力される。する
と有効測定時間検出回路15のフリップフロップ20の
CK線端子クロスポイント信号Ecが入力されるためQ
端子の出力電圧はLレベルとなり結果として有効測定時
間T、lの終点が規制される。Therefore, the electric charge of the integration capacitor 19 charged in the positive integration process gradually decreases, and the output voltage E0 of the integrator 10 drops. Thereafter, the switches SW2 and SW5 and the switches SWI and SW6 are alternately opened and closed with a half-cycle delay, so that the integrator 10 is turned on in a stepwise manner as shown by the two-dot chain line within the effective area time in FIG. The output voltage E0 decreases, and as a result, the output voltage E0 decreases with a constant slope as shown by the solid line.
is considered to be decreasing. In this way, in the negative integration process, the output voltage E of the integrator IO becomes the reference voltage V,
f and is compared in the comparator circuit 11, and when the two are equal, the comparator circuit 11 outputs a cross point signal E. That is, since the reference voltage VR*f is set to a zero value, when the output voltage E0 of the integrator IO becomes a zero value, the cross point signal EC becomes H level and is output. Then, since the CK line terminal cross point signal Ec of the flip-flop 20 of the effective measurement time detection circuit 15 is input, Q
The output voltage of the terminal becomes L level, and as a result, the end points of the effective measurement times T and l are regulated.
ところで、変位検出回路16においては有効測定時間検
出回路I5のアンド回路21から有効領域時間設定信号
φCがHレベルと有効測定時間T8が出力されているこ
とを条件としてゲート22の一方端子に入力され他方端
子には測定時間T4内すなわら積分器lOのリセット状
態にない場合の条件がインバータ14を通しゲート回路
24に、および発振器26からのクロックパルスが入力
されているので有効測定時間TxO間だけゲート22を
介し発振器26からのクロックパルスがカウンタ23に
人力され、カウンタ23ではこれを変位量として計数す
る。By the way, in the displacement detection circuit 16, the effective area time setting signal φC is input from the AND circuit 21 of the effective measurement time detection circuit I5 to one terminal of the gate 22 on the condition that the H level and the effective measurement time T8 are output. Since the clock pulse from the oscillator 26 and the gate circuit 24 through the inverter 14 are input to the other terminal within the measurement time T4, that is, the condition when the integrator IO is not in the reset state, the effective measurement time TxO is input. A clock pulse from the oscillator 26 is input to the counter 23 via the gate 22, and the counter 23 counts this as a displacement amount.
このように積分器lOを共通しシーケンス回路12に基
づく所定の手順に基づく信号にコントロールされ、可変
コンデンサCxを接続して行う正の積分工程と固定コン
デンサCRを接続した負の積分工程とを、積分器10の
出力電圧E0が零値からスタートし零値で完了させるよ
うしているので正の積分工程をする基準時間T、と有効
/ltq定時間TXの比は可変コンデンサCX と固定
コンデンサC3との比と等しくなる。In this way, the integrator IO is used in common and controlled by a signal based on a predetermined procedure based on the sequence circuit 12, and the positive integration process is performed by connecting the variable capacitor Cx, and the negative integration process is performed by connecting the fixed capacitor CR. Since the output voltage E0 of the integrator 10 starts from zero value and is completed at zero value, the ratio of the reference time T for the positive integration step and the effective/ltq constant time TX is determined by the variable capacitor CX and the fixed capacitor C3. is equal to the ratio of
ここに可変コンデンサCXの静電容量はスピンドル6の
一端に設けられた筒状部5によってコントロールされ測
定子7を介して関与される変位と比例するから結局カウ
ンタ23での計数した発振器26のクロックパルスの数
は変位量を求めたことになる。Here, since the capacitance of the variable capacitor CX is controlled by the cylindrical part 5 provided at one end of the spindle 6 and is proportional to the displacement involved via the probe 7, the clock of the oscillator 26 counted by the counter 23 eventually The number of pulses is the amount of displacement.
従って例えば可変コンデンサCx と固定コンデンサC
I+ とが等しい場合基準時間T、と有効測定時間T1
は等しいからこれを基準状態と指定しておけばこれを中
心としたカウンタ23での計数値の増減が基準位置に対
するスピンドル6の変位量として求められる。Therefore, for example, variable capacitor Cx and fixed capacitor C
If I+ are equal, the reference time T and the effective measurement time T1
Since these are equal, if this is designated as the reference state, the increase or decrease in the count value on the counter 23 around this can be determined as the amount of displacement of the spindle 6 with respect to the reference position.
カウンタ23にはデジタル表示器17が接続され、変位
量をデジタル表示器17でデジタル量として読み取るこ
とができる。A digital display 17 is connected to the counter 23, and the amount of displacement can be read as a digital amount on the digital display 17.
この実施例によれば従来の複数の小さな要素電極を一定
ピッチで配列するという加工上の問題もなく極めて小型
に形成することができる。また、変位量は時間の長さと
して評価できるのでこれを時分割するべくクロックパル
スの周波数をもって所望の分解能を容易に求めることが
できる。また、変位量は固定コンデンサCIに対する可
変コンデンサCXの比、すなわち有効測定時間に対する
基準時間での比として求めることができるから時分割用
クロックパルスの周波数をより高くすれば迅速な測定が
可能となる。これはまた、積分器の出力電圧を低めに抑
えることができるから消費電力が低減され結果として電
池容量が小さくて済む。According to this embodiment, it is possible to form an extremely compact device without the conventional processing problem of arranging a plurality of small element electrodes at a constant pitch. Further, since the amount of displacement can be evaluated as a length of time, a desired resolution can be easily obtained using the frequency of the clock pulse in order to time-divide the amount. In addition, since the amount of displacement can be determined as the ratio of the variable capacitor CX to the fixed capacitor CI, that is, the ratio of the effective measurement time to the reference time, rapid measurement is possible by increasing the frequency of the time-sharing clock pulse. . This also allows the output voltage of the integrator to be suppressed to a low level, so power consumption is reduced and, as a result, the battery capacity can be reduced.
取り分は片手操作の電源内蔵小型測定機等においては電
池を代えずに長時間運転することができるようになる。The benefit is that small measuring instruments with built-in power supplies that can be operated with one hand can be operated for long periods of time without changing batteries.
以上の実施例においては正の積分工程および負の積分工
程をそれぞれ段階的に繰り返し行ったが測定変位量が小
ストロークのような場合にはそれらを繰り返させず一回
の正の積分動作と同じく一回の負の積分動作で同様に目
的を達成することは可能である。また、可変コンデンサ
および固定コンデンサは回忌円上に配された電極をもっ
て構成したがこれに限定されずに平面電極をもって構成
することが可能である。また、変位検出回路のカウンタ
に接続される発振器もクロックパルス周波数を基準時間
または有効領域時間に基づいて所定の分解能をもって変
位量を求めるために適当な周波数に自動的に調整するよ
う構成することも可能である。In the above embodiment, the positive integral process and the negative integral process were repeated step by step, but if the measured displacement amount is a small stroke, these steps are not repeated and the same steps are performed as one positive integral process. It is possible to achieve the same objective with a single negative integral operation. Further, although the variable capacitor and the fixed capacitor are configured with electrodes arranged on a reciprocal circle, the present invention is not limited thereto, and can be configured with planar electrodes. Furthermore, the oscillator connected to the counter of the displacement detection circuit can also be configured to automatically adjust the clock pulse frequency to an appropriate frequency in order to obtain the displacement amount with a predetermined resolution based on the reference time or effective area time. It is possible.
さらに変位はスピンドルを介して直線上に関与されるも
のとしたが回転角度として関与する場合にもまた測定対
象は長さ厚さ等に限らす圧力重量等とも適用あるもので
ある。Furthermore, although the displacement is assumed to be involved in a straight line via the spindle, it is also applicable to cases where the displacement is involved as a rotation angle, and the measurement object is limited to length, thickness, etc., and pressure weight, etc.
第1図は本発明に係る静電容量式変位検出装置の一実施
例を示す全体説明図、第2図は同じく動作説明図、第3
図は可変コンデンサおよび固定コンデンサを構成するた
めの断面図、第4図は従来の静電容量式変位検出装置を
示し、第4図(A)は可動電極と固定電極の一部断面図
、第4図(B)は出力波形を示す線図である。
CX・・・可変コンデンサ、CI・・・固定コンデンサ
、10・・・積分器、11・・・比較回路、12・・・
シーケンス回路、14・・・基準時間設定器、15・・
・有効測定時間検出回路、16・・・変位検出回路、1
7・・・デジタル表示器、18・・・オペアンプ、19
・・・積分コンデンサ、23・・・カウンタ、26・・
・発振器。FIG. 1 is an overall explanatory diagram showing one embodiment of a capacitive displacement detection device according to the present invention, FIG. 2 is an operational explanatory diagram, and FIG.
The figure shows a cross-sectional view for configuring a variable capacitor and a fixed capacitor, FIG. 4 shows a conventional capacitive displacement detection device, FIG. FIG. 4(B) is a diagram showing the output waveform. CX...variable capacitor, CI...fixed capacitor, 10...integrator, 11...comparison circuit, 12...
Sequence circuit, 14...Reference time setting device, 15...
・Effective measurement time detection circuit, 16... Displacement detection circuit, 1
7... Digital display, 18... Operational amplifier, 19
... Integrating capacitor, 23... Counter, 26...
・Oscillator.
Claims (4)
れた可変コンデンサと、静電容量が一定の固定コンデン
サと、前記可変コンデンサと固定コンデンサとが切り換
え接続される積分器と、所定の基準時間の経過前には前
記可変コンデンサを、基準時間の経過後には前記固定コ
ンデンサを前記積分器に選択切り換え接続しつつ所定の
手順で二重積分動作をさせるためのシーケンス回路と、
前記積分器の出力電圧と参照電圧とを比較して両電圧が
等しくなるクロスポイントを求めるための比較回路と、
前記基準時間終了時点からクロスポイント到達時までの
有効測定時間を前記比較回路のクロスポイント信号を利
用して求める有効測定時間検出回路と、この有効測定時
間検出回路に接続され前記基準時間に対する有効測定時
間の比をもって当該可変コンデンサの静電容量相当の変
位を検出するための変位検出回路と、を備えている静電
容量式変位検出装置。(1) A variable capacitor whose capacitance changes in accordance with displacement, a fixed capacitor whose capacitance is constant, an integrator to which the variable capacitor and the fixed capacitor are switchably connected, and a predetermined a sequence circuit for selectively connecting the variable capacitor to the integrator before the reference time elapses and the fixed capacitor to the integrator after the reference time elapses, and performing a double integration operation in a predetermined procedure;
a comparison circuit for comparing the output voltage of the integrator and a reference voltage to find a cross point where both voltages become equal;
an effective measurement time detection circuit that calculates an effective measurement time from the end of the reference time to the arrival of the crosspoint using the crosspoint signal of the comparison circuit; and an effective measurement time detection circuit connected to the effective measurement time detection circuit for effective measurement with respect to the reference time. A capacitive displacement detecting device comprising: a displacement detecting circuit for detecting a displacement corresponding to the capacitance of the variable capacitor based on a time ratio.
ンス回路は、前記可変コンデンサを前記積分器に接続し
て行う正の積分動作を、前記可変コンデンサに電源電圧
をもってする充電工程とこの充電工程により充電された
可変コンデンサの電荷を前記積分器の積分コンデンサに
転移させる転移工程とを順次繰り返して実行させるとと
もに前記基準時間経過後に前記固定コンデンサを前記積
分器に接続して行う負の積分動作を、電源電圧をもって
前記固定コンデンサに充電した逆極性の電荷により前記
正の積分動作で充電した前記積分コンデンサの電荷を減
する放電工程と前記固定コンデンサを接地する接地工程
とを順次繰り返して実行させるよう構成したことを特徴
とする静電容量式変位検出装置。(2) In claim 1, the sequence circuit includes a positive integration operation performed by connecting the variable capacitor to the integrator, and a charging process in which the variable capacitor is supplied with a power supply voltage. A transfer step of transferring the charge of the variable capacitor charged by the above to the integrating capacitor of the integrator is sequentially repeated, and after the reference time has elapsed, a negative integration operation is performed by connecting the fixed capacitor to the integrator. , a discharging step of reducing the charge of the integral capacitor charged by the positive integral operation by a charge of opposite polarity charged in the fixed capacitor with a power supply voltage, and a grounding step of grounding the fixed capacitor are sequentially repeated. A capacitive displacement detection device characterized by the following configuration.
路は、前記参照電圧が零電圧とされ前記積分器の出力電
圧が零値となったことをもってクロクポイント信号を発
生するよう形成された静電容量式変位検出装置。(3) In claim 1, the comparison circuit is formed to generate a clock point signal when the reference voltage becomes zero voltage and the output voltage of the integrator becomes zero value. Capacitive displacement detection device.
ンデンサと固定コンデンサとは、丸軸状部材の外周面に
設けられた共通電極をともに一方電極とするとともに各
他方電極は共通電極と同芯的に配設され形成されたこと
を特徴とする静電容量式変位検出装置。(4) In claim 1, the variable capacitor and the fixed capacitor both have a common electrode provided on the outer peripheral surface of a round shaft-shaped member as one electrode, and each other electrode is the same as the common electrode. A capacitive displacement detection device characterized by being centrally arranged and formed.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5002986A JPS62207902A (en) | 1986-03-07 | 1986-03-07 | Capacitance type displacement detector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5002986A JPS62207902A (en) | 1986-03-07 | 1986-03-07 | Capacitance type displacement detector |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62207902A true JPS62207902A (en) | 1987-09-12 |
Family
ID=12847570
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5002986A Pending JPS62207902A (en) | 1986-03-07 | 1986-03-07 | Capacitance type displacement detector |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62207902A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005318236A (en) * | 2004-04-28 | 2005-11-10 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Electronic component equipment |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5750371A (en) * | 1980-09-06 | 1982-03-24 | Sony Corp | Video signal recorder |
| JPS614044A (en) * | 1984-06-18 | 1986-01-09 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | Silver halide color photographic sensitive material |
-
1986
- 1986-03-07 JP JP5002986A patent/JPS62207902A/en active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5750371A (en) * | 1980-09-06 | 1982-03-24 | Sony Corp | Video signal recorder |
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