JPS62207902A - 静電容量式変位検出装置 - Google Patents
静電容量式変位検出装置Info
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- JPS62207902A JPS62207902A JP5002986A JP5002986A JPS62207902A JP S62207902 A JPS62207902 A JP S62207902A JP 5002986 A JP5002986 A JP 5002986A JP 5002986 A JP5002986 A JP 5002986A JP S62207902 A JPS62207902 A JP S62207902A
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- integrator
- capacitor
- variable capacitor
- displacement
- circuit
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Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は静電容量式変位検出装置に係り、変位に相応し
て静電容量が変化する可変コンデンサと静電容量が一定
の固定コンデンサとを設は積分コンデンサを共通として
二重積分して、可変コンデンサと固定コンデンサとの静
電容量比を時間長の比として評価して、変位をデジタル
的に検出できるようにした変位検出装置の改良に関する
。
て静電容量が変化する可変コンデンサと静電容量が一定
の固定コンデンサとを設は積分コンデンサを共通として
二重積分して、可変コンデンサと固定コンデンサとの静
電容量比を時間長の比として評価して、変位をデジタル
的に検出できるようにした変位検出装置の改良に関する
。
長さ、重量、圧力等を自動測定するために変位検出装置
が広く採用されている0例えば直線変位測長器の如く測
定値をデジタル表示するために採用される変位検出装置
としてはその原理上光電式、接点式と種々あるが消費電
力の軽減、安定作動の保障の点から静電容量方式が採用
される場合がある。
が広く採用されている0例えば直線変位測長器の如く測
定値をデジタル表示するために採用される変位検出装置
としてはその原理上光電式、接点式と種々あるが消費電
力の軽減、安定作動の保障の点から静電容量方式が採用
される場合がある。
従来かかる静電容量式の変位検出装置の構造としては第
4図に示す如く、要素電極103を一定ビ・7チで配設
した固定電極101に対し同じく要素電極102を一定
ピッチで配設した可動電極100を相対配置せしめ両者
間に図示しない高周波電源を印加し、第4図(A)でX
2方向に相対移動させることによって第4図(B)に示
すようなサイクリックな信号を発生せしめこれを評価し
て変位を検出するものでありた。
4図に示す如く、要素電極103を一定ビ・7チで配設
した固定電極101に対し同じく要素電極102を一定
ピッチで配設した可動電極100を相対配置せしめ両者
間に図示しない高周波電源を印加し、第4図(A)でX
2方向に相対移動させることによって第4図(B)に示
すようなサイクリックな信号を発生せしめこれを評価し
て変位を検出するものでありた。
しかしながら、上記の従来の変位検出装置としては次の
ような欠点を有していた。
ような欠点を有していた。
■一定ピッチで複数の要素電極を配列しなければならな
いので、各要素電極の電気的特性、配設ピッチ、対向電
極とのクリアランス等の不揃いが発生し、これらは直接
精度に影響を及ぼすので高精変の検出が難しいという問
題があった。
いので、各要素電極の電気的特性、配設ピッチ、対向電
極とのクリアランス等の不揃いが発生し、これらは直接
精度に影響を及ぼすので高精変の検出が難しいという問
題があった。
■小型化に際しては要素電極を極めて微細な加工をしな
ければならず、また静電容量の変化が小さいので高周波
を用いる必要があり、この高周波電源装置が経済的負担
も大きいものであると同時に電源電圧の変動、周囲温度
の影響を受は易い等の欠点を有していた。
ければならず、また静電容量の変化が小さいので高周波
を用いる必要があり、この高周波電源装置が経済的負担
も大きいものであると同時に電源電圧の変動、周囲温度
の影響を受は易い等の欠点を有していた。
■また検出される信号はアナログ信号のために後に表示
や制御に使う場合等デジタル信号を求める場合には格別
のA/D変換器を採用しなければならないという問題も
あった。
や制御に使う場合等デジタル信号を求める場合には格別
のA/D変換器を採用しなければならないという問題も
あった。
このように従来においては構造が簡単で感度が比較的高
いという静電容量式の一般的原理、原則は知られている
ものの上述のような大きな問題点のために実用化が阻ま
れていた。
いという静電容量式の一般的原理、原則は知られている
ものの上述のような大きな問題点のために実用化が阻ま
れていた。
本発明は前記従来の問題点を解消するべくなされたもの
で、測定精度を安定して維持することができるとともに
、小型化、さらに変位検出量を直接デジタル信号として
検出できるようにした静電容量式変位検出装置を提供す
ることを目的とする。
で、測定精度を安定して維持することができるとともに
、小型化、さらに変位検出量を直接デジタル信号として
検出できるようにした静電容量式変位検出装置を提供す
ることを目的とする。
C問題点を解決するための手段および作用〕(手段)
本発明は変位に伴って静電容量が変化するように形成さ
れた可変コンデンサとこれと別に静電容量が一定の固定
コンデンサ等を設は電源電圧および積分器の積分コンデ
ンサを共通としていわゆる二重積分を行い可変コンデン
サと固定コンデンサとの静電容量比を時間長の比として
評価し変位をデジタル的に検出できるようにした変位検
出装置を構成したものである。
れた可変コンデンサとこれと別に静電容量が一定の固定
コンデンサ等を設は電源電圧および積分器の積分コンデ
ンサを共通としていわゆる二重積分を行い可変コンデン
サと固定コンデンサとの静電容量比を時間長の比として
評価し変位をデジタル的に検出できるようにした変位検
出装置を構成したものである。
具体的には変位に相応をさせて静電容量を変化するよう
形成された可変コンデンサと、静電容量が一定の固定コ
ンデンサと、前記可変コンデンサと固定コンデンサとが
切り換え接続される積分器゛と、所定の基準時間の経過
前には前記可変コンデンサを基準時間の経過後には前記
固定コンデンサを前記積分器に選択切り換えしつつ所定
の手順で二重積分動作をさせるためのシーケンス回路と
、前記積分器の出力電圧と参照電圧とを比較して両電圧
が等しくなるクロスポイントを求めるための比較回路と
、前記基準時間終了時点からクロスポイント到達時点ま
での有効測定時間を前記比較回路のクロスポイント信号
を利用して求める有効測定時間検出回路と、この有効測
定時間検出回路に接続され前記基準時間に対するを効測
定時間の比をもって当該可変コンデンサの静電容量相当
の変位量を検出するための変位検出回路と、を設は前記
目的を達成しようとするものである。
形成された可変コンデンサと、静電容量が一定の固定コ
ンデンサと、前記可変コンデンサと固定コンデンサとが
切り換え接続される積分器゛と、所定の基準時間の経過
前には前記可変コンデンサを基準時間の経過後には前記
固定コンデンサを前記積分器に選択切り換えしつつ所定
の手順で二重積分動作をさせるためのシーケンス回路と
、前記積分器の出力電圧と参照電圧とを比較して両電圧
が等しくなるクロスポイントを求めるための比較回路と
、前記基準時間終了時点からクロスポイント到達時点ま
での有効測定時間を前記比較回路のクロスポイント信号
を利用して求める有効測定時間検出回路と、この有効測
定時間検出回路に接続され前記基準時間に対するを効測
定時間の比をもって当該可変コンデンサの静電容量相当
の変位量を検出するための変位検出回路と、を設は前記
目的を達成しようとするものである。
(作用)
まず、変位に相応して静電容量が変化する可変コンデン
サを積分器に接続させて基準時間だけ正の積分動作を行
う。これにより積分コンデンサの電荷は高まり積分器の
出力電圧は徐々に高くなる。
サを積分器に接続させて基準時間だけ正の積分動作を行
う。これにより積分コンデンサの電荷は高まり積分器の
出力電圧は徐々に高くなる。
次いで、基準時間経過後、可変コンデンサに換えて固定
コンデンサを積分器に接続し、負の積分動作を行わせる
。積分器の出力電圧は徐々に降下する。その結果、出力
電圧と参照電圧とを比較して両電圧が等しくなるクロス
ポイントを比較回路において検出する。このクロスポイ
ントにおける検出信号、すなわちクロスポイント信萼を
利用して前記基準時間終了時点からクロスポイント信号
発生時(クロスポイント到達時)までの有効測定時間を
求める。ここに可変コンデンサをCX、固定コンデンサ
をC* 、基準時間をT、有効測定時間をTX とすれ
ばTヮーCX /Cl xTsの式が成立する。すなわ
ち可変コンデンサおよび固定コンデンサに対する電源電
圧および積分コンデンサを共通としているから、基準時
間T、と有効測定時間Tllは可変コンデンサCXと固
定コンデンサC6との比となる。従って、予め設定され
た基準時間T、に対する有効測定時間T8を求めれば静
電容量一定の固定コンデンサに対する可変コンデンサの
電気容量が求まることになる。ところで、可変コンデン
サの静電容量は変位に比例するから、結果として有効測
定時間が変位に相当することになる。
コンデンサを積分器に接続し、負の積分動作を行わせる
。積分器の出力電圧は徐々に降下する。その結果、出力
電圧と参照電圧とを比較して両電圧が等しくなるクロス
ポイントを比較回路において検出する。このクロスポイ
ントにおける検出信号、すなわちクロスポイント信萼を
利用して前記基準時間終了時点からクロスポイント信号
発生時(クロスポイント到達時)までの有効測定時間を
求める。ここに可変コンデンサをCX、固定コンデンサ
をC* 、基準時間をT、有効測定時間をTX とすれ
ばTヮーCX /Cl xTsの式が成立する。すなわ
ち可変コンデンサおよび固定コンデンサに対する電源電
圧および積分コンデンサを共通としているから、基準時
間T、と有効測定時間Tllは可変コンデンサCXと固
定コンデンサC6との比となる。従って、予め設定され
た基準時間T、に対する有効測定時間T8を求めれば静
電容量一定の固定コンデンサに対する可変コンデンサの
電気容量が求まることになる。ところで、可変コンデン
サの静電容量は変位に比例するから、結果として有効測
定時間が変位に相当することになる。
従って、この有効測定時間TXを評価すれば変位量を検
出することができる。この評価は変位検出回路で例えば
時分割することによって直接的にデジタル信号として変
位量を検出することができる。
出することができる。この評価は変位検出回路で例えば
時分割することによって直接的にデジタル信号として変
位量を検出することができる。
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
本発明の実施例は第1図および第3図に示され、可変コ
ンデンサCXと固定コンデンサC3とは第3図に示す如
く構成される。すなわち、可変他方電極1および固定他
方電極2を有する外筒4、変位に伴って軸方向に変位す
る筒状部5を存するスピンドル6および共通電極3はこ
の順で同芯状に配されている。そして可変コンデンサC
×は外筒4の可変他方電極1と共通電極3の間における
空−間をもって形成され、一方固定コンデンサC11は
同じく共通電極3と外筒4の固定他方電極2によって形
成される。従ってスピンドルを変位に伴って図でX1方
向に移動させれば共通電極3はスピンドル6の筒状部5
によって包囲される長さが異なるので結果として可変コ
ンデンサC8の静電容量はスピンドルの移動量、すなわ
ち変位に比例して変化するよう構成されている。
ンデンサCXと固定コンデンサC3とは第3図に示す如
く構成される。すなわち、可変他方電極1および固定他
方電極2を有する外筒4、変位に伴って軸方向に変位す
る筒状部5を存するスピンドル6および共通電極3はこ
の順で同芯状に配されている。そして可変コンデンサC
×は外筒4の可変他方電極1と共通電極3の間における
空−間をもって形成され、一方固定コンデンサC11は
同じく共通電極3と外筒4の固定他方電極2によって形
成される。従ってスピンドルを変位に伴って図でX1方
向に移動させれば共通電極3はスピンドル6の筒状部5
によって包囲される長さが異なるので結果として可変コ
ンデンサC8の静電容量はスピンドルの移動量、すなわ
ち変位に比例して変化するよう構成されている。
次にこの可変コンデンサCI+と固定コンデンサC8と
を含む静電容量式変位検出装置の全体を第1図をもって
説明する。
を含む静電容量式変位検出装置の全体を第1図をもって
説明する。
まずオペアンプ18および積分コンデンサ19で積分器
10が形成される。11は比較回路であって積分器の出
力電圧E、が参照電圧V*−t (この実施例ではア
ース電位すなわち零)と比較することによってクロスポ
イント信号Ecを求めるためのものである。15は有効
測定時間検出回路であってD−フリップフロップ20お
よびアンド回路21から形成されているフリップフロッ
プ回路20のCK端子には比較回路11の出力電圧E。
10が形成される。11は比較回路であって積分器の出
力電圧E、が参照電圧V*−t (この実施例ではア
ース電位すなわち零)と比較することによってクロスポ
イント信号Ecを求めるためのものである。15は有効
測定時間検出回路であってD−フリップフロップ20お
よびアンド回路21から形成されているフリップフロッ
プ回路20のCK端子には比較回路11の出力電圧E。
が接続されR端子には基準時間設定信号φBが接続され
る。また、D端子には電源電圧VDDが接続されている
。端子Qは積分動作中はHレベルであって、負の積分時
間動作に伴いクロスポイント信号E、がC1端子に入力
されるとHレベルからLレベルに反転する。アンド回路
21にはこのD−フリップフロップ回路20の端子石の
出力と有動領域時間設定信号φGが入力されている。こ
の両者がともにHレベルであるときに出力電圧がHレベ
ルとなりこれが有効測定時間TXということになる。変
位検出回路16はゲート22、カウンタ23、アンド回
路24および発振器26から形成され、ゲート24には
インバータ25を介して測定時間設定信号φAと発振器
26からの高周波数のパルス信号が入力される。ここに
ゲート22で有効測定時間TXの間だけパルス18号を
カウンタへ入力しカウンタ23で計数したカウント値が
、有効測定時間TXを時分割した変位量ということにな
る。
る。また、D端子には電源電圧VDDが接続されている
。端子Qは積分動作中はHレベルであって、負の積分時
間動作に伴いクロスポイント信号E、がC1端子に入力
されるとHレベルからLレベルに反転する。アンド回路
21にはこのD−フリップフロップ回路20の端子石の
出力と有動領域時間設定信号φGが入力されている。こ
の両者がともにHレベルであるときに出力電圧がHレベ
ルとなりこれが有効測定時間TXということになる。変
位検出回路16はゲート22、カウンタ23、アンド回
路24および発振器26から形成され、ゲート24には
インバータ25を介して測定時間設定信号φAと発振器
26からの高周波数のパルス信号が入力される。ここに
ゲート22で有効測定時間TXの間だけパルス18号を
カウンタへ入力しカウンタ23で計数したカウント値が
、有効測定時間TXを時分割した変位量ということにな
る。
従ってこの静電容量式変位検出装置においては有効測定
時間T工と発振器26からのパルス周波数により分解能
が決定できることになる。なお、デジタル表示器17は
カウンタ23でのカウント変位量をデジタル表示する手
段である。スイッチSWIからSW6は可変コンデンサ
CM と固定コンデンサCえとを切り換えて積分器10
に接続するものである。スイッチSW7が積分器の積分
コンデンサ19をディスチャージするものである。
時間T工と発振器26からのパルス周波数により分解能
が決定できることになる。なお、デジタル表示器17は
カウンタ23でのカウント変位量をデジタル表示する手
段である。スイッチSWIからSW6は可変コンデンサ
CM と固定コンデンサCえとを切り換えて積分器10
に接続するものである。スイッチSW7が積分器の積分
コンデンサ19をディスチャージするものである。
ここにスイッチSW1からスイッチSW4は正の積分用
スイッチであって積分器10に可変コンデンサCXを接
続するために用せられる。また、スイッチSWI、SW
2およびスイッチSW5.3E6は負の積分用スイッチ
である。
スイッチであって積分器10に可変コンデンサCXを接
続するために用せられる。また、スイッチSWI、SW
2およびスイッチSW5.3E6は負の積分用スイッチ
である。
ところで、この変位検出装置においては、高分解能と小
型化を達成するために、正の積分動作を可変コンデンサ
C11の電源電圧VDDをもってする充電工程とこの充
電工程により充電された可変コンデンサの電荷を積分器
lOの積分コンデンサ19に転移させる転移工程とを順
次繰り返して実行させるよう構成し、この充電工程にス
イッチSW1とスイッチSW3を閉成し、転移工程にお
いてスイッチSW2とスイッチSW4を閉成するようし
ている。同様に負の積分動作においても電源電圧VDD
をもって固定コンデンサCRに充電した逆極性の電荷に
より正の積分動作で充電した積分コンデンサ19の電荷
を減少するようにする放電工程と、固定コンデンサC1
1を接地する接地工° 程とを順次繰り返して実行され
るよう構成するために放電工程にはスイッチSWIおよ
びスイッチSW6が閉成され接地工程においてスイッチ
SW2およびスイッチSW5が閉成するようになってい
る。なお、正の積分動作中はスイッチSW6を開成し積
分器lOに固定コンデンサC11が接続されないようし
ている。また同様に負の積分動作においてはスイッチS
W4を開成し可変コンデンサCXが積分器10に接続さ
れないようされている。
型化を達成するために、正の積分動作を可変コンデンサ
C11の電源電圧VDDをもってする充電工程とこの充
電工程により充電された可変コンデンサの電荷を積分器
lOの積分コンデンサ19に転移させる転移工程とを順
次繰り返して実行させるよう構成し、この充電工程にス
イッチSW1とスイッチSW3を閉成し、転移工程にお
いてスイッチSW2とスイッチSW4を閉成するようし
ている。同様に負の積分動作においても電源電圧VDD
をもって固定コンデンサCRに充電した逆極性の電荷に
より正の積分動作で充電した積分コンデンサ19の電荷
を減少するようにする放電工程と、固定コンデンサC1
1を接地する接地工° 程とを順次繰り返して実行され
るよう構成するために放電工程にはスイッチSWIおよ
びスイッチSW6が閉成され接地工程においてスイッチ
SW2およびスイッチSW5が閉成するようになってい
る。なお、正の積分動作中はスイッチSW6を開成し積
分器lOに固定コンデンサC11が接続されないようし
ている。また同様に負の積分動作においてはスイッチS
W4を開成し可変コンデンサCXが積分器10に接続さ
れないようされている。
12はシーケンス回路であってスイッチSW1からスイ
ッチSW7を所定の手順で切り換え正の積分と負の積分
を実行するようコントロールする。
ッチSW7を所定の手順で切り換え正の積分と負の積分
を実行するようコントロールする。
また測定時間T、の設定信号φA、有効領域時間TAの
設定信号φCおよび基準時間T、の設定信号φBを適時
出力するよう形成されている。13はクロックパルス発
生器でアナログスイッチとされたスイッチSW1からス
イッチSW6までをコントロールするための信号φlか
らφ6を発生されるための基準クロックパルスをシーケ
ンス回路12に供給するものである。14は基準時間設
定器であって所定分解能を得るために必要な有効測定時
間Txを確保するために可変コンデンサC8、固定コン
デンサCR1さらには当該変位検出装置のスピンドル6
の移動速度等から任意に決定するものである。なおデジ
タル表示器17は変位検出回路16によるカウンタ23
の出力をデジタル表示器に表示し読み取り容易性を確保
するためのものである。
設定信号φCおよび基準時間T、の設定信号φBを適時
出力するよう形成されている。13はクロックパルス発
生器でアナログスイッチとされたスイッチSW1からス
イッチSW6までをコントロールするための信号φlか
らφ6を発生されるための基準クロックパルスをシーケ
ンス回路12に供給するものである。14は基準時間設
定器であって所定分解能を得るために必要な有効測定時
間Txを確保するために可変コンデンサC8、固定コン
デンサCR1さらには当該変位検出装置のスピンドル6
の移動速度等から任意に決定するものである。なおデジ
タル表示器17は変位検出回路16によるカウンタ23
の出力をデジタル表示器に表示し読み取り容易性を確保
するためのものである。
次にこの実施例における動作を主に第2図を用いて説明
する。
する。
いま変位に基づいて第3図におけるX1方向に移動する
スピンドル6は停止状態とされ、基準時間設定器14に
よって基準時間T、が設定されているものとする。この
実施例ではシーケンス回路12は基準時間T3が設定さ
れることにより測定時間TM、積分器10のリセット時
間、有効領域時間TAが自動的に決定される。ここで測
定時間設定信号φAがLレベルのときに測定時間T、1
が決定され、Hレベルのときに積分器10がリセットさ
れるものである。また基準時間設定信号φBがHレベル
のときに基準時間T、が規定され有効領域時間設定信号
φCも同じ< Hレベルのときに有効領域時間TAを指
定するものである。アナログスイッチとされたスイッチ
SWIを閉成するための閉成指令信号φ1 (以下単に
信号φlという。
スピンドル6は停止状態とされ、基準時間設定器14に
よって基準時間T、が設定されているものとする。この
実施例ではシーケンス回路12は基準時間T3が設定さ
れることにより測定時間TM、積分器10のリセット時
間、有効領域時間TAが自動的に決定される。ここで測
定時間設定信号φAがLレベルのときに測定時間T、1
が決定され、Hレベルのときに積分器10がリセットさ
れるものである。また基準時間設定信号φBがHレベル
のときに基準時間T、が規定され有効領域時間設定信号
φCも同じ< Hレベルのときに有効領域時間TAを指
定するものである。アナログスイッチとされたスイッチ
SWIを閉成するための閉成指令信号φ1 (以下単に
信号φlという。
その他の閉成I旨令信号についても同様とする。)およ
びこれと半周期遅れの信号φ2にはこの変位検出装置の
元電源がオンされている間は常に一定周期で発生されて
いるものである。また基準時間T、内にあっては信号φ
3は信号φ1に同期し、信号φ4は信号φ2に同期して
発生する。なお初期状態においてはすなわち積分器10
がリセント状態にあ′っても信号φ1およびφ3とが同
時にHレベルとなる場合があるため可変コンデンサCI
は電源電圧VDDにより充電されているものとされ、ま
たフリップフロップ20のQ端子の出力電圧はLレベル
とされている。このような条件下から正の積分工程につ
いて説明する。測定時間設定信号φAがLレベルとなり
基準時間設定信号φBが1ルベルとなる。信号φ2およ
びφ4が発生するとスイッチSW2およびスイッチSW
4を介し、可変コンデンサCx は積分器10に接続さ
れる。
びこれと半周期遅れの信号φ2にはこの変位検出装置の
元電源がオンされている間は常に一定周期で発生されて
いるものである。また基準時間T、内にあっては信号φ
3は信号φ1に同期し、信号φ4は信号φ2に同期して
発生する。なお初期状態においてはすなわち積分器10
がリセント状態にあ′っても信号φ1およびφ3とが同
時にHレベルとなる場合があるため可変コンデンサCI
は電源電圧VDDにより充電されているものとされ、ま
たフリップフロップ20のQ端子の出力電圧はLレベル
とされている。このような条件下から正の積分工程につ
いて説明する。測定時間設定信号φAがLレベルとなり
基準時間設定信号φBが1ルベルとなる。信号φ2およ
びφ4が発生するとスイッチSW2およびスイッチSW
4を介し、可変コンデンサCx は積分器10に接続さ
れる。
従って可変コンデンサCイに充電されていた電荷に基づ
いて積分器10には可変コンデンサCX側から負の電流
が流れ込む。これに対し積分コンデンサ19側からはオ
ペアンプ18の入力側に正の電流が流れ込む。従ってオ
ペアンプ18の出力電圧E0は上昇する。すなわち可変
コンデンサCxに充電された電荷が積分コンデンサ19
に移し換えられたことになる。続いてシーケンス回路1
2からの指令によって信号φ2、信号φ4によりスイッ
チSW2およびスイッチSW4が開成する。
いて積分器10には可変コンデンサCX側から負の電流
が流れ込む。これに対し積分コンデンサ19側からはオ
ペアンプ18の入力側に正の電流が流れ込む。従ってオ
ペアンプ18の出力電圧E0は上昇する。すなわち可変
コンデンサCxに充電された電荷が積分コンデンサ19
に移し換えられたことになる。続いてシーケンス回路1
2からの指令によって信号φ2、信号φ4によりスイッ
チSW2およびスイッチSW4が開成する。
その後にスイッチSW1およびスイッチSW3が閉成す
ると可変コンデンサCXには電源電圧VDDが印加され
、可変コンデンサCxが充電される。
ると可変コンデンサCXには電源電圧VDDが印加され
、可変コンデンサCxが充電される。
この可変コンデンサCXの充電完了後、半周期遅れで再
びスイッチswt、sw3が開成し、スイッチSW2と
SW4とが閉成されると、上記と同様に可変コンデンサ
Cxの電荷は積分コンデンサ19に移し換えられさらに
積分器10の出力電圧−Eoは上昇する。このようにス
イッチSWI、SW3による充電工程とスイッチSW2
.SW4による転移工程が繰り返し行われ基準時間T、
の間は積分器10の出力電圧E0は図で実線で示すよう
に上昇する。なおこの基準時間T、の間は固定コンデン
サCMを積分器10のオペアンプ1日に接続させないた
めに信号φ6は出力されずスイッチSW6は閉成される
ことがない。
びスイッチswt、sw3が開成し、スイッチSW2と
SW4とが閉成されると、上記と同様に可変コンデンサ
Cxの電荷は積分コンデンサ19に移し換えられさらに
積分器10の出力電圧−Eoは上昇する。このようにス
イッチSWI、SW3による充電工程とスイッチSW2
.SW4による転移工程が繰り返し行われ基準時間T、
の間は積分器10の出力電圧E0は図で実線で示すよう
に上昇する。なおこの基準時間T、の間は固定コンデン
サCMを積分器10のオペアンプ1日に接続させないた
めに信号φ6は出力されずスイッチSW6は閉成される
ことがない。
このように変位検出装置を小型化するために制限される
可変コンデンサCXの静電容量や電源電圧等を考慮して
実際には第2図の2点鎖線で示される如く階段状に積分
器10の出力電圧E、は傾斜上昇する。
可変コンデンサCXの静電容量や電源電圧等を考慮して
実際には第2図の2点鎖線で示される如く階段状に積分
器10の出力電圧E、は傾斜上昇する。
続いて負の積分工程を説明する。
基準時間T、が終了すると基準時間設定信号φBはLレ
ベルとなり代わって有効領域時間設定信号φCが■(レ
ベルとなる。従って、基準時間設定信号φBがLレベル
になることによってフリップフロップ20のQ端子電圧
はHレベルとされ、有効領域時間設定信号φCがHレベ
ルになることを条件として有効測定時間T、lが進行を
始める。すなわち、有効測定時間検出回路15のアンド
回路21からはI(レベルの信号E、tが出力される。
ベルとなり代わって有効領域時間設定信号φCが■(レ
ベルとなる。従って、基準時間設定信号φBがLレベル
になることによってフリップフロップ20のQ端子電圧
はHレベルとされ、有効領域時間設定信号φCがHレベ
ルになることを条件として有効測定時間T、lが進行を
始める。すなわち、有効測定時間検出回路15のアンド
回路21からはI(レベルの信号E、tが出力される。
さて、を動領域時間T^内にあっては信号φ4はLレベ
ルとなり可変コンデンサCXはスイッチSW4が開成と
なるので積分器10のオペアンプ−18に接続されるこ
とはなくなる。一方基準時間T、内にあって信号φ2お
よびφ5に基づいて閉成されたスイッチSW2.SW5
を介し固定コンデンサC3は接地されていたので、シー
ケンス回路12からの信号φ1とφ6に基づいて閉成さ
れるスイッチSWlおよびSW6を介して固定コンデン
サC11は積分器10のオペアンプ18に接続される。
ルとなり可変コンデンサCXはスイッチSW4が開成と
なるので積分器10のオペアンプ−18に接続されるこ
とはなくなる。一方基準時間T、内にあって信号φ2お
よびφ5に基づいて閉成されたスイッチSW2.SW5
を介し固定コンデンサC3は接地されていたので、シー
ケンス回路12からの信号φ1とφ6に基づいて閉成さ
れるスイッチSWlおよびSW6を介して固定コンデン
サC11は積分器10のオペアンプ18に接続される。
この場合、固定コンデンサC1は電源電圧VDDに接続
されるので電源電圧VDDからはオペアンプ18に正の
電流が流れ込む。これに対し、積分コンデンサ19側、
すなわちオペアンプ1Bの出力側からは負の電流がオペ
アンプ18の入力側に流れ込むことによって打ち消せる
よう作用する。
されるので電源電圧VDDからはオペアンプ18に正の
電流が流れ込む。これに対し、積分コンデンサ19側、
すなわちオペアンプ1Bの出力側からは負の電流がオペ
アンプ18の入力側に流れ込むことによって打ち消せる
よう作用する。
従って正の積分工程において充電された積分コンデンサ
19の電荷は徐々に低減し積分器10の出力電圧E0が
降下する。その後再びスイッチSW2、SW5とスイッ
チSWI、SW6は半周期遅れで交互に開成、閉成を繰
り返すので第2図の有効領域時間内にあっては2点鎖線
で示す如く階段状に積分器10の出力電圧E0は下がり
、結果として実線で示す如く一定の傾斜で出力電圧E0
は低下していくとみなされる。このように負の積分工程
において積分器IOの出力電圧E、が参照電圧V 、、
f と比較回路11において比較され両者が等しくなっ
たときに比較回路11からクロスポイント信号E、が出
力される。すなわち参照電圧VR*fを零値しているの
で積分器IOの出力電圧E0が零値となったときにクロ
スポイント信号ECがHレベルとなり出力される。する
と有効測定時間検出回路15のフリップフロップ20の
CK線端子クロスポイント信号Ecが入力されるためQ
端子の出力電圧はLレベルとなり結果として有効測定時
間T、lの終点が規制される。
19の電荷は徐々に低減し積分器10の出力電圧E0が
降下する。その後再びスイッチSW2、SW5とスイッ
チSWI、SW6は半周期遅れで交互に開成、閉成を繰
り返すので第2図の有効領域時間内にあっては2点鎖線
で示す如く階段状に積分器10の出力電圧E0は下がり
、結果として実線で示す如く一定の傾斜で出力電圧E0
は低下していくとみなされる。このように負の積分工程
において積分器IOの出力電圧E、が参照電圧V 、、
f と比較回路11において比較され両者が等しくなっ
たときに比較回路11からクロスポイント信号E、が出
力される。すなわち参照電圧VR*fを零値しているの
で積分器IOの出力電圧E0が零値となったときにクロ
スポイント信号ECがHレベルとなり出力される。する
と有効測定時間検出回路15のフリップフロップ20の
CK線端子クロスポイント信号Ecが入力されるためQ
端子の出力電圧はLレベルとなり結果として有効測定時
間T、lの終点が規制される。
ところで、変位検出回路16においては有効測定時間検
出回路I5のアンド回路21から有効領域時間設定信号
φCがHレベルと有効測定時間T8が出力されているこ
とを条件としてゲート22の一方端子に入力され他方端
子には測定時間T4内すなわら積分器lOのリセット状
態にない場合の条件がインバータ14を通しゲート回路
24に、および発振器26からのクロックパルスが入力
されているので有効測定時間TxO間だけゲート22を
介し発振器26からのクロックパルスがカウンタ23に
人力され、カウンタ23ではこれを変位量として計数す
る。
出回路I5のアンド回路21から有効領域時間設定信号
φCがHレベルと有効測定時間T8が出力されているこ
とを条件としてゲート22の一方端子に入力され他方端
子には測定時間T4内すなわら積分器lOのリセット状
態にない場合の条件がインバータ14を通しゲート回路
24に、および発振器26からのクロックパルスが入力
されているので有効測定時間TxO間だけゲート22を
介し発振器26からのクロックパルスがカウンタ23に
人力され、カウンタ23ではこれを変位量として計数す
る。
このように積分器lOを共通しシーケンス回路12に基
づく所定の手順に基づく信号にコントロールされ、可変
コンデンサCxを接続して行う正の積分工程と固定コン
デンサCRを接続した負の積分工程とを、積分器10の
出力電圧E0が零値からスタートし零値で完了させるよ
うしているので正の積分工程をする基準時間T、と有効
/ltq定時間TXの比は可変コンデンサCX と固定
コンデンサC3との比と等しくなる。
づく所定の手順に基づく信号にコントロールされ、可変
コンデンサCxを接続して行う正の積分工程と固定コン
デンサCRを接続した負の積分工程とを、積分器10の
出力電圧E0が零値からスタートし零値で完了させるよ
うしているので正の積分工程をする基準時間T、と有効
/ltq定時間TXの比は可変コンデンサCX と固定
コンデンサC3との比と等しくなる。
ここに可変コンデンサCXの静電容量はスピンドル6の
一端に設けられた筒状部5によってコントロールされ測
定子7を介して関与される変位と比例するから結局カウ
ンタ23での計数した発振器26のクロックパルスの数
は変位量を求めたことになる。
一端に設けられた筒状部5によってコントロールされ測
定子7を介して関与される変位と比例するから結局カウ
ンタ23での計数した発振器26のクロックパルスの数
は変位量を求めたことになる。
従って例えば可変コンデンサCx と固定コンデンサC
I+ とが等しい場合基準時間T、と有効測定時間T1
は等しいからこれを基準状態と指定しておけばこれを中
心としたカウンタ23での計数値の増減が基準位置に対
するスピンドル6の変位量として求められる。
I+ とが等しい場合基準時間T、と有効測定時間T1
は等しいからこれを基準状態と指定しておけばこれを中
心としたカウンタ23での計数値の増減が基準位置に対
するスピンドル6の変位量として求められる。
カウンタ23にはデジタル表示器17が接続され、変位
量をデジタル表示器17でデジタル量として読み取るこ
とができる。
量をデジタル表示器17でデジタル量として読み取るこ
とができる。
この実施例によれば従来の複数の小さな要素電極を一定
ピッチで配列するという加工上の問題もなく極めて小型
に形成することができる。また、変位量は時間の長さと
して評価できるのでこれを時分割するべくクロックパル
スの周波数をもって所望の分解能を容易に求めることが
できる。また、変位量は固定コンデンサCIに対する可
変コンデンサCXの比、すなわち有効測定時間に対する
基準時間での比として求めることができるから時分割用
クロックパルスの周波数をより高くすれば迅速な測定が
可能となる。これはまた、積分器の出力電圧を低めに抑
えることができるから消費電力が低減され結果として電
池容量が小さくて済む。
ピッチで配列するという加工上の問題もなく極めて小型
に形成することができる。また、変位量は時間の長さと
して評価できるのでこれを時分割するべくクロックパル
スの周波数をもって所望の分解能を容易に求めることが
できる。また、変位量は固定コンデンサCIに対する可
変コンデンサCXの比、すなわち有効測定時間に対する
基準時間での比として求めることができるから時分割用
クロックパルスの周波数をより高くすれば迅速な測定が
可能となる。これはまた、積分器の出力電圧を低めに抑
えることができるから消費電力が低減され結果として電
池容量が小さくて済む。
取り分は片手操作の電源内蔵小型測定機等においては電
池を代えずに長時間運転することができるようになる。
池を代えずに長時間運転することができるようになる。
以上の実施例においては正の積分工程および負の積分工
程をそれぞれ段階的に繰り返し行ったが測定変位量が小
ストロークのような場合にはそれらを繰り返させず一回
の正の積分動作と同じく一回の負の積分動作で同様に目
的を達成することは可能である。また、可変コンデンサ
および固定コンデンサは回忌円上に配された電極をもっ
て構成したがこれに限定されずに平面電極をもって構成
することが可能である。また、変位検出回路のカウンタ
に接続される発振器もクロックパルス周波数を基準時間
または有効領域時間に基づいて所定の分解能をもって変
位量を求めるために適当な周波数に自動的に調整するよ
う構成することも可能である。
程をそれぞれ段階的に繰り返し行ったが測定変位量が小
ストロークのような場合にはそれらを繰り返させず一回
の正の積分動作と同じく一回の負の積分動作で同様に目
的を達成することは可能である。また、可変コンデンサ
および固定コンデンサは回忌円上に配された電極をもっ
て構成したがこれに限定されずに平面電極をもって構成
することが可能である。また、変位検出回路のカウンタ
に接続される発振器もクロックパルス周波数を基準時間
または有効領域時間に基づいて所定の分解能をもって変
位量を求めるために適当な周波数に自動的に調整するよ
う構成することも可能である。
さらに変位はスピンドルを介して直線上に関与されるも
のとしたが回転角度として関与する場合にもまた測定対
象は長さ厚さ等に限らす圧力重量等とも適用あるもので
ある。
のとしたが回転角度として関与する場合にもまた測定対
象は長さ厚さ等に限らす圧力重量等とも適用あるもので
ある。
第1図は本発明に係る静電容量式変位検出装置の一実施
例を示す全体説明図、第2図は同じく動作説明図、第3
図は可変コンデンサおよび固定コンデンサを構成するた
めの断面図、第4図は従来の静電容量式変位検出装置を
示し、第4図(A)は可動電極と固定電極の一部断面図
、第4図(B)は出力波形を示す線図である。 CX・・・可変コンデンサ、CI・・・固定コンデンサ
、10・・・積分器、11・・・比較回路、12・・・
シーケンス回路、14・・・基準時間設定器、15・・
・有効測定時間検出回路、16・・・変位検出回路、1
7・・・デジタル表示器、18・・・オペアンプ、19
・・・積分コンデンサ、23・・・カウンタ、26・・
・発振器。
例を示す全体説明図、第2図は同じく動作説明図、第3
図は可変コンデンサおよび固定コンデンサを構成するた
めの断面図、第4図は従来の静電容量式変位検出装置を
示し、第4図(A)は可動電極と固定電極の一部断面図
、第4図(B)は出力波形を示す線図である。 CX・・・可変コンデンサ、CI・・・固定コンデンサ
、10・・・積分器、11・・・比較回路、12・・・
シーケンス回路、14・・・基準時間設定器、15・・
・有効測定時間検出回路、16・・・変位検出回路、1
7・・・デジタル表示器、18・・・オペアンプ、19
・・・積分コンデンサ、23・・・カウンタ、26・・
・発振器。
Claims (4)
- (1)変位に相応させて静電容量が変化するよう形成さ
れた可変コンデンサと、静電容量が一定の固定コンデン
サと、前記可変コンデンサと固定コンデンサとが切り換
え接続される積分器と、所定の基準時間の経過前には前
記可変コンデンサを、基準時間の経過後には前記固定コ
ンデンサを前記積分器に選択切り換え接続しつつ所定の
手順で二重積分動作をさせるためのシーケンス回路と、
前記積分器の出力電圧と参照電圧とを比較して両電圧が
等しくなるクロスポイントを求めるための比較回路と、
前記基準時間終了時点からクロスポイント到達時までの
有効測定時間を前記比較回路のクロスポイント信号を利
用して求める有効測定時間検出回路と、この有効測定時
間検出回路に接続され前記基準時間に対する有効測定時
間の比をもって当該可変コンデンサの静電容量相当の変
位を検出するための変位検出回路と、を備えている静電
容量式変位検出装置。 - (2)前記特許請求の範囲第1項において、前記シーケ
ンス回路は、前記可変コンデンサを前記積分器に接続し
て行う正の積分動作を、前記可変コンデンサに電源電圧
をもってする充電工程とこの充電工程により充電された
可変コンデンサの電荷を前記積分器の積分コンデンサに
転移させる転移工程とを順次繰り返して実行させるとと
もに前記基準時間経過後に前記固定コンデンサを前記積
分器に接続して行う負の積分動作を、電源電圧をもって
前記固定コンデンサに充電した逆極性の電荷により前記
正の積分動作で充電した前記積分コンデンサの電荷を減
する放電工程と前記固定コンデンサを接地する接地工程
とを順次繰り返して実行させるよう構成したことを特徴
とする静電容量式変位検出装置。 - (3)前記特許請求の範囲第1項において、前記比較回
路は、前記参照電圧が零電圧とされ前記積分器の出力電
圧が零値となったことをもってクロクポイント信号を発
生するよう形成された静電容量式変位検出装置。 - (4)前記特許請求の範囲第1項において、前記可変コ
ンデンサと固定コンデンサとは、丸軸状部材の外周面に
設けられた共通電極をともに一方電極とするとともに各
他方電極は共通電極と同芯的に配設され形成されたこと
を特徴とする静電容量式変位検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5002986A JPS62207902A (ja) | 1986-03-07 | 1986-03-07 | 静電容量式変位検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5002986A JPS62207902A (ja) | 1986-03-07 | 1986-03-07 | 静電容量式変位検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62207902A true JPS62207902A (ja) | 1987-09-12 |
Family
ID=12847570
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5002986A Pending JPS62207902A (ja) | 1986-03-07 | 1986-03-07 | 静電容量式変位検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62207902A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005318236A (ja) * | 2004-04-28 | 2005-11-10 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 電子部品装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5750371A (en) * | 1980-09-06 | 1982-03-24 | Sony Corp | Video signal recorder |
| JPS614044A (ja) * | 1984-06-18 | 1986-01-09 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | ハロゲン化銀カラ−写真感光材料 |
-
1986
- 1986-03-07 JP JP5002986A patent/JPS62207902A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5750371A (en) * | 1980-09-06 | 1982-03-24 | Sony Corp | Video signal recorder |
| JPS614044A (ja) * | 1984-06-18 | 1986-01-09 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | ハロゲン化銀カラ−写真感光材料 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005318236A (ja) * | 2004-04-28 | 2005-11-10 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 電子部品装置 |
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