JPS62207934A - 粒子解析装置 - Google Patents
粒子解析装置Info
- Publication number
- JPS62207934A JPS62207934A JP61050752A JP5075286A JPS62207934A JP S62207934 A JPS62207934 A JP S62207934A JP 61050752 A JP61050752 A JP 61050752A JP 5075286 A JP5075286 A JP 5075286A JP S62207934 A JPS62207934 A JP S62207934A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- monitoring
- laser light
- particle analysis
- analysis device
- optical system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
C産業上の利用分野]
本発明は、サンプル液流の層流状態を目視により監視す
る監視系統に測定時のレーザー光が入射°することを防
止した粒子解析ia置に関するものである。
る監視系統に測定時のレーザー光が入射°することを防
止した粒子解析ia置に関するものである。
[従来の技術]
粒子解析装置とは、細胞浮遊溶液、即ちサンプル液をシ
ース液で包みながら高速で流し、それに例えばレーザー
光を照射して、その散乱光・蛍光による光電信号を検出
し、細胞の性質・構造等を解析する9tであり、細胞学
・免疫学・血液学・l111i瘍学・遺伝学等の分野で
使用されている。この粒子解析装置において正確な測定
を行うためには、サンプル液を安定した層流でセル又は
ノズルの中心に流すことがff1l’であり1層流の状
態でサンプル液がセル又はノズルの中心を流れているか
否かを監視する必要がある。そのために照射光軸方向と
、照射光軸及びサンプル液の流れの方向とにそれぞれ直
交する方向に、i察光学系又は顕微鏡を配置し、サンプ
ル液の流れを目視で監視するという方法が採用されてい
る。
ース液で包みながら高速で流し、それに例えばレーザー
光を照射して、その散乱光・蛍光による光電信号を検出
し、細胞の性質・構造等を解析する9tであり、細胞学
・免疫学・血液学・l111i瘍学・遺伝学等の分野で
使用されている。この粒子解析装置において正確な測定
を行うためには、サンプル液を安定した層流でセル又は
ノズルの中心に流すことがff1l’であり1層流の状
態でサンプル液がセル又はノズルの中心を流れているか
否かを監視する必要がある。そのために照射光軸方向と
、照射光軸及びサンプル液の流れの方向とにそれぞれ直
交する方向に、i察光学系又は顕微鏡を配置し、サンプ
ル液の流れを目視で監視するという方法が採用されてい
る。
しかしながら、不用意に監視光学系を覗き込むと、測定
用のレーザー光が入射することがあり眼を傷める危険性
がある。
用のレーザー光が入射することがあり眼を傷める危険性
がある。
[発明の目的]
本発明の目的は、上述の危険性を回避するために、レー
ザー光が発光している際には、監視系統にレーザー光束
が入射しないような危険防止対策を施した粒子解析装置
を提供することにある。
ザー光が発光している際には、監視系統にレーザー光束
が入射しないような危険防止対策を施した粒子解析装置
を提供することにある。
[発明のl!i’J!3
上述の目的を速成するための本発明の要旨は。
フローセルの流通部を流れる検体粒子にレーザー光を照
射する照射光学系と、該レーザー光が検体粒子によって
散乱された散乱光を測定する測光光学系と、サンプル液
流の層流状態を監視する監視光学系とを備えた粒子解析
装置において、レーザー光の照射状態を検出する手段と
、前記監視光学系内にレーザー光の遮断手段を設け、該
遮断手段の駆動を前記検出手段に連動するようにしたこ
とを特徴とする粒子解析装置である。
射する照射光学系と、該レーザー光が検体粒子によって
散乱された散乱光を測定する測光光学系と、サンプル液
流の層流状態を監視する監視光学系とを備えた粒子解析
装置において、レーザー光の照射状態を検出する手段と
、前記監視光学系内にレーザー光の遮断手段を設け、該
遮断手段の駆動を前記検出手段に連動するようにしたこ
とを特徴とする粒子解析装置である。
[発明の実施例]
本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する。
第1図は粒子解析装置の構成図を示し、1はフローセル
であり、検体粒子を含むサンプル液はシース液に包まれ
てフローセル1の流通部2を紙面に垂直方向に高速で流
れ、この流れと直交する方向にレーザー光源3が配置さ
れている。レーザー光源3の光軸01上には、ハーフミ
ラ−4゜5、結像レンズ6が配され、フローセル1に対
してレーザー光源3と反対側の光軸01上には2集光レ
ンズ7.ハーフミラー8.光電検出器9が順次に配列さ
れている。また、光軸O1及び検体粒子の流れの中心方
向のそれぞれに直交する方向の光軸02に沿って、測光
用対物レンズ10.ハーフミラ−11,絞り12.凸レ
ンズ13.波長選別手段14.15.反射ミラー16が
順次に配列されている。光軸02に対して斜設されたこ
れらの波長選別手段14.15及び反射ミラー16によ
り反射された方向の光路上に、凸レンズ17,18.1
9、バリヤフィルタ20,21.22.光ファイバ23
.24.25が配置されている。また、これらの光ファ
イバ23,24,25の他端には1図示しないフォトマ
ルチファイア等の光電検出器が接続され、微弱光を増強
して検出することが可使となっている。
であり、検体粒子を含むサンプル液はシース液に包まれ
てフローセル1の流通部2を紙面に垂直方向に高速で流
れ、この流れと直交する方向にレーザー光源3が配置さ
れている。レーザー光源3の光軸01上には、ハーフミ
ラ−4゜5、結像レンズ6が配され、フローセル1に対
してレーザー光源3と反対側の光軸01上には2集光レ
ンズ7.ハーフミラー8.光電検出器9が順次に配列さ
れている。また、光軸O1及び検体粒子の流れの中心方
向のそれぞれに直交する方向の光軸02に沿って、測光
用対物レンズ10.ハーフミラ−11,絞り12.凸レ
ンズ13.波長選別手段14.15.反射ミラー16が
順次に配列されている。光軸02に対して斜設されたこ
れらの波長選別手段14.15及び反射ミラー16によ
り反射された方向の光路上に、凸レンズ17,18.1
9、バリヤフィルタ20,21.22.光ファイバ23
.24.25が配置されている。また、これらの光ファ
イバ23,24,25の他端には1図示しないフォトマ
ルチファイア等の光電検出器が接続され、微弱光を増強
して検出することが可使となっている。
ハーフミラ−4のレーザー光源3かもの光束の反射側に
は、1に光レンズ30及び光電検出器31が設けられて
いる。また、ハーフミラ−5のフロー七ル1側からの光
束の反、射側には、レンズ32、監視用光源33が配置
され、対物レンズ10のフロー七ルlを挟んだ反対側己
は、レンズ34、監視用光源35が設けられている。更
に。
は、1に光レンズ30及び光電検出器31が設けられて
いる。また、ハーフミラ−5のフロー七ル1側からの光
束の反、射側には、レンズ32、監視用光源33が配置
され、対物レンズ10のフロー七ルlを挟んだ反対側己
は、レンズ34、監視用光源35が設けられている。更
に。
光電検出器9の前に斜設されたハーフミラ−8の反射側
の光軸上には、ピント板36、接眼レンズ37、ロータ
リンレノイド38により駆動されるシャッタ39が設け
られている。また、光軸02に対して斜設されたハーフ
ミラ−11の対物レンズ10側からの光束の反射側には
、順次にピント板40、接眼レンズ41.ロータリンレ
ノイド42により駆動されるシャッタ43が配されてい
る。
の光軸上には、ピント板36、接眼レンズ37、ロータ
リンレノイド38により駆動されるシャッタ39が設け
られている。また、光軸02に対して斜設されたハーフ
ミラ−11の対物レンズ10側からの光束の反射側には
、順次にピント板40、接眼レンズ41.ロータリンレ
ノイド42により駆動されるシャッタ43が配されてい
る。
そして、光電検出器31の出力は駆動回路44.45.
46に接続され、駆動回路44はロータリンレノイド3
8.42を、駆動回路45%46は監視用光源33.3
5をそれぞれ作動させるようになっている。
46に接続され、駆動回路44はロータリンレノイド3
8.42を、駆動回路45%46は監視用光源33.3
5をそれぞれ作動させるようになっている。
レーザー光源3かも出射されたレーザー光は。
フローセルl内の流通部2を通る検体粒子により散乱さ
れ、対物レンズ7.10により集光され。
れ、対物レンズ7.10により集光され。
それぞれ光電検出!!9.及び光ファイバ23゜24.
25に接続された光電検出器に入射し、散乱光或いは蛍
光の測定がなされる。
25に接続された光電検出器に入射し、散乱光或いは蛍
光の測定がなされる。
この測定に先立ち、レーザー光源3が作動していない状
態で、駆動回路45により監視用光鯨33を点灯し、こ
の照明光をレンズ32.ハーフミラ−5,結像レンズ6
を介してフローセル1に導キ、フローセル1内のサンプ
ル液の状態を対物レンズ7、ハーフミラ−8,接眼レン
ズ37を介して観察眼Eで監視し、必要に応じて図示し
ない調整機構により層流の状態を調整する0次に、駆動
回路46により監視用光源35を点灯し、接眼レンズ4
1を覗いて先の監視方向とは直角の方向の層流の状態を
監視し、必要に応じて調整する。
態で、駆動回路45により監視用光鯨33を点灯し、こ
の照明光をレンズ32.ハーフミラ−5,結像レンズ6
を介してフローセル1に導キ、フローセル1内のサンプ
ル液の状態を対物レンズ7、ハーフミラ−8,接眼レン
ズ37を介して観察眼Eで監視し、必要に応じて図示し
ない調整機構により層流の状態を調整する0次に、駆動
回路46により監視用光源35を点灯し、接眼レンズ4
1を覗いて先の監視方向とは直角の方向の層流の状態を
監視し、必要に応じて調整する。
そして測定開始により、ハーフミラ−4で反射されたレ
ーザー光の一部が光電検出器31に入射、つまりレーザ
ー光源3が点灯されると、駆動回路44を介してハーフ
ミラ−8,11で反射されるレーザー光をシャッタ39
.43で遮断するように、ロータリンレノイド38.4
2をそれぞれ駆動して1wL察眼Eにレーザー光が入射
しないようにする。なお、監視用光源33.35は粒子
解析のため測定時にはオフとし、監視時にオンとする。
ーザー光の一部が光電検出器31に入射、つまりレーザ
ー光源3が点灯されると、駆動回路44を介してハーフ
ミラ−8,11で反射されるレーザー光をシャッタ39
.43で遮断するように、ロータリンレノイド38.4
2をそれぞれ駆動して1wL察眼Eにレーザー光が入射
しないようにする。なお、監視用光源33.35は粒子
解析のため測定時にはオフとし、監視時にオンとする。
これは1例えば光電検出器31の出力に基づいて制御回
路45,46を介して消灯すればよい。
路45,46を介して消灯すればよい。
本実施例では、ロータリンレノイド38.42の作動を
光電検出器31の出力により行っているが、レーザー光
源3の電源オン時に駆動するようにしてもよい、また、
観察眼Eへのレーザー光の入射防止は、シャッタ39.
43の代りにハーフミラ−8及び11を回動させること
により、観察眼Eへの入射を遮断しても同様の効果が得
られる。
光電検出器31の出力により行っているが、レーザー光
源3の電源オン時に駆動するようにしてもよい、また、
観察眼Eへのレーザー光の入射防止は、シャッタ39.
43の代りにハーフミラ−8及び11を回動させること
により、観察眼Eへの入射を遮断しても同様の効果が得
られる。
[発明の効果]
以上説明したように本発明に係る粒子解析装置によれば
、サンプル液流の層流状態を監視する観察眼にレーザー
光が入射することを防止し、観察眼を傷付ける危険性を
回避することができる。
、サンプル液流の層流状態を監視する観察眼にレーザー
光が入射することを防止し、観察眼を傷付ける危険性を
回避することができる。
図面第1図は本発明に係る粒子解析装はの一実施例を示
す構成図である。 符号1はフローセル、2は流通部、3はレーザー光源、
4%5,8.11はハーフミラ−17,10は対物レン
ズ、9.31は光電検出器。 33.35は監視用光源、37.41は接眼レンズ、3
8.42はロータリンレノイド、39゜43はシャッタ
、44,45.46は駆動回路である。
す構成図である。 符号1はフローセル、2は流通部、3はレーザー光源、
4%5,8.11はハーフミラ−17,10は対物レン
ズ、9.31は光電検出器。 33.35は監視用光源、37.41は接眼レンズ、3
8.42はロータリンレノイド、39゜43はシャッタ
、44,45.46は駆動回路である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、フローセルの流通部を流れる検体粒子にレーザー光
を照射する照射光学系と、該レーザー光が検体粒子によ
って散乱された散乱光を測定する測光光学系と、サンプ
ル液流の層流状態を監視する監視光学系とを備えた粒子
解析装置において、レーザー光の照射状態を検出する手
段と、前記監視光学系内にレーザー光の遮断手段を設け
、該遮断手段の駆動を前記検出手段に連動するようにし
たことを特徴とする粒子解析装置。 2、前記監視光学系にはレーザー光以外の光源を使用す
るようにした特許請求の範囲第1項に記載の粒子解析装
置。 3、前記監視手段は前記フローセルを2方向から監視で
きるようにした特許請求の範囲第1項に記載の粒子解析
装置。 4、前記遮断手段はシャッタとした特許請求の範囲第1
項に記載の粒子解析装置。 5、前記遮断手段は反射ミラーの反射方向を変える手段
とした特許請求の範囲第1項に記載の粒子解析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61050752A JPS62207934A (ja) | 1986-03-08 | 1986-03-08 | 粒子解析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61050752A JPS62207934A (ja) | 1986-03-08 | 1986-03-08 | 粒子解析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62207934A true JPS62207934A (ja) | 1987-09-12 |
| JPH0579135B2 JPH0579135B2 (ja) | 1993-11-01 |
Family
ID=12867569
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61050752A Granted JPS62207934A (ja) | 1986-03-08 | 1986-03-08 | 粒子解析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62207934A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2898190A1 (fr) * | 2006-03-06 | 2007-09-07 | Horiba Abx Sas Soc Par Actions | Dispositif et procede de mesure de photoluminescence, d'absorption et de diffraction d'objets microscopiques dans un fluide. |
-
1986
- 1986-03-08 JP JP61050752A patent/JPS62207934A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2898190A1 (fr) * | 2006-03-06 | 2007-09-07 | Horiba Abx Sas Soc Par Actions | Dispositif et procede de mesure de photoluminescence, d'absorption et de diffraction d'objets microscopiques dans un fluide. |
| WO2007101932A3 (fr) * | 2006-03-06 | 2007-11-01 | Horiba Abx Sas | Dispositif et procédé de mesure de photoluminescence, d'absorption et de diffraction d'objets microscopiques dans un fluide |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0579135B2 (ja) | 1993-11-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5594544A (en) | Flow type particle image analyzing method and apparatus | |
| US9360410B2 (en) | Method and particle analyzer for determining a broad particle size distribution | |
| CN103364348B (zh) | 用于检测样本内的不均匀性的光学设备,特别是偏振计 | |
| US5513006A (en) | Photo-thermal sensor including an expansion lens in a light beam path through a sample for determining the concentration of a compound in the sample | |
| EP2352989B1 (en) | Sample analysis apparatus and a method of analysing a sample | |
| JPH05346391A (ja) | 粒子分析装置 | |
| CN111133291B (zh) | 用于落射荧光测量的光学流式细胞仪 | |
| CN115268047A (zh) | 用于样本的多模式检查的系统和方法 | |
| KR950014849A (ko) | 콜로이드 매체의 박막에 의해 산란된 광도 측정용 검출기 | |
| JPH0224535A (ja) | 粒子解析装置 | |
| JPS62207934A (ja) | 粒子解析装置 | |
| JPS61167838A (ja) | 粒子解析装置 | |
| JPS6370148A (ja) | 微細粒度分布測定装置 | |
| JP3325095B2 (ja) | 検査装置 | |
| JPH0486546A (ja) | 検体検査装置 | |
| JPS61294334A (ja) | 粒子解析装置 | |
| JPS63300940A (ja) | 粒子解析装置 | |
| JP3790411B2 (ja) | 粒径分布測定装置 | |
| JP2003121385A (ja) | 石英ガラス材内部の欠陥検査方法および検査装置 | |
| JPH0552896B2 (ja) | ||
| JPS6214037A (ja) | 粒子解析装置 | |
| JPH09257689A (ja) | 粒子解析装置 | |
| JPS61165639A (ja) | 粒子解析装置 | |
| JPH01240839A (ja) | 粒子解析装置 | |
| JPH03197841A (ja) | 検体検査装置 |