JPS62222925A - クリ−ンル−ム内移送システム - Google Patents
クリ−ンル−ム内移送システムInfo
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- JPS62222925A JPS62222925A JP6511886A JP6511886A JPS62222925A JP S62222925 A JPS62222925 A JP S62222925A JP 6511886 A JP6511886 A JP 6511886A JP 6511886 A JP6511886 A JP 6511886A JP S62222925 A JPS62222925 A JP S62222925A
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- Japan
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- station
- vehicle
- semiconductor manufacturing
- smif
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この発明は、超LSI、IC等の半導体製造分野におい
て、半導体製造装置間のウェーハカセットの搬送に用い
るクリーンルーム内移送システムに関する。
て、半導体製造装置間のウェーハカセットの搬送に用い
るクリーンルーム内移送システムに関する。
「従来の技術」
周知のように、半導体装置の製造工程、とりイつけ半導
体ウェーハ」二に回路素子を形成する前工程、及び製造
装置相互間のウェーハの搬送時において塵埃は天敵であ
り、作業雰囲気における清浄度がそのまま製品歩留まり
に結び付く。
体ウェーハ」二に回路素子を形成する前工程、及び製造
装置相互間のウェーハの搬送時において塵埃は天敵であ
り、作業雰囲気における清浄度がそのまま製品歩留まり
に結び付く。
従来、このような条件を満足させるものとしてSMIF
システムを用いたクリーンルームが知られている。
システムを用いたクリーンルームが知られている。
このSMIFシステムはその要部が、第10図に示すよ
うに、半導体製造装置1とその上部を覆う密閉カバー2
と、この密閉カバー2の」二部に取り付けられた高性能
フィルターと送風機とを有する清浄空気供給装置3と、
前記半導体製造装置I内の所定の位置にウェーハカセッ
トをセットするためのSMTPアーム4とからなってお
り、半導体製造装置1にウェーハカセットをセットする
際には、第11図に示す、ウェーハカセット5に収納さ
れた所定枚数のウェーハ6を外気から遮断するための密
閉容器であるSMIF’ポッド7に入れた状態で前記S
M’ I Pアーム4の上部に載置する。
うに、半導体製造装置1とその上部を覆う密閉カバー2
と、この密閉カバー2の」二部に取り付けられた高性能
フィルターと送風機とを有する清浄空気供給装置3と、
前記半導体製造装置I内の所定の位置にウェーハカセッ
トをセットするためのSMTPアーム4とからなってお
り、半導体製造装置1にウェーハカセットをセットする
際には、第11図に示す、ウェーハカセット5に収納さ
れた所定枚数のウェーハ6を外気から遮断するための密
閉容器であるSMIF’ポッド7に入れた状態で前記S
M’ I Pアーム4の上部に載置する。
ここで、SMIFポッド7はウェーハカセット5を載せ
る底板部7aとそれを覆う本体(カバー)7b部分とか
らなっており、それらは移送時には互いに固定されてい
るが、SMI+?アーム4上に載置すると、SMIFポ
ッド7の底板部分7aとその」二に載ったウェーハカセ
ット5かSMIFアーム4内に取り込まれ、次いで、ウ
ェーハカセット5のみが半導体製造装置l内ヘセットさ
れる。また、半導体製造装置1内での処理工程が終了し
たウェーハ6は別のウェーハカセット5に収納された後
、もう一方のSMIPアーム4内に取り込まれ、次いで
、その」二部に載置されている別のSMIFポット7内
に外気に触れることなく収められる。そして、前記SM
IFポッド7は、作業員8によって次の製造工程の半導
体製造装置(図示せず)まで運ばれた後、再び半導体製
造装置に併設されたSM■Fアーム(図示せず)上に載
置され、前述した工程と同様にして半導体製造装置内で
ウェーハが処理される。
る底板部7aとそれを覆う本体(カバー)7b部分とか
らなっており、それらは移送時には互いに固定されてい
るが、SMI+?アーム4上に載置すると、SMIFポ
ッド7の底板部分7aとその」二に載ったウェーハカセ
ット5かSMIFアーム4内に取り込まれ、次いで、ウ
ェーハカセット5のみが半導体製造装置l内ヘセットさ
れる。また、半導体製造装置1内での処理工程が終了し
たウェーハ6は別のウェーハカセット5に収納された後
、もう一方のSMIPアーム4内に取り込まれ、次いで
、その」二部に載置されている別のSMIFポット7内
に外気に触れることなく収められる。そして、前記SM
IFポッド7は、作業員8によって次の製造工程の半導
体製造装置(図示せず)まで運ばれた後、再び半導体製
造装置に併設されたSM■Fアーム(図示せず)上に載
置され、前述した工程と同様にして半導体製造装置内で
ウェーハが処理される。
したがって、このS M I Fシステムにおいては、
半導体製造装置内での処理中や作業員による運搬中を問
わず、ウェーハは外気と遮断され、その表面は清浄な空
気で覆われているため、クリーンルーム内の清浄度がク
ラスl000〜100000程度のものであっても、製
品の高い歩留まりを維持することができる。
半導体製造装置内での処理中や作業員による運搬中を問
わず、ウェーハは外気と遮断され、その表面は清浄な空
気で覆われているため、クリーンルーム内の清浄度がク
ラスl000〜100000程度のものであっても、製
品の高い歩留まりを維持することができる。
その結果、クリーンルームは、層流型の気流方式を採用
したクラスIO〜100といった超高清浄度のものは不
要となり、非層流型の気流方式を採用したクラスl00
0〜100000程度の清浄度のものでも良くなるため
、クリーンルームの付帯設備が簡易なものとなり、その
建設費や設備費及び維持費を大幅に低減することができ
る。また、作業員はクラス【O〜100といった超高清
浄度のクリーンルームよりは行動の制約が少なくてよく
、普通の室内に近い状況で、また通常の作業着で作業に
従事でき、従来のクリーンルームに比べて快適に仕事を
することができる。
したクラスIO〜100といった超高清浄度のものは不
要となり、非層流型の気流方式を採用したクラスl00
0〜100000程度の清浄度のものでも良くなるため
、クリーンルームの付帯設備が簡易なものとなり、その
建設費や設備費及び維持費を大幅に低減することができ
る。また、作業員はクラス【O〜100といった超高清
浄度のクリーンルームよりは行動の制約が少なくてよく
、普通の室内に近い状況で、また通常の作業着で作業に
従事でき、従来のクリーンルームに比べて快適に仕事を
することができる。
[発明が解決しようとする問題点J
しかし、前述したSMTPシステムを用いたクリーンル
ームにおいては、半導体製造装置間のウェーハの搬送や
、SMIFアームへのSMIFポッドのセットを作業員
が行うようになっており、それらの完全自動化が待たれ
ていた。
ームにおいては、半導体製造装置間のウェーハの搬送や
、SMIFアームへのSMIFポッドのセットを作業員
が行うようになっており、それらの完全自動化が待たれ
ていた。
本発明は、前記要求を満足させるためになされたもので
、クリーンルームの建設費や設備費及び維持費を大幅に
低減し、さらに、半導体製造装置間のウェーハの移送や
SMIFポッドのセットを自動化することにより、人の
介在を無くして省人化を図り、かつ製品の歩留まりを高
めるとともに、SMIFシステムを効率良く稼動させて
、製品のコストダウンを実現することのできるクリーン
ルーム内移送システムを提供することを目的としている
。
、クリーンルームの建設費や設備費及び維持費を大幅に
低減し、さらに、半導体製造装置間のウェーハの移送や
SMIFポッドのセットを自動化することにより、人の
介在を無くして省人化を図り、かつ製品の歩留まりを高
めるとともに、SMIFシステムを効率良く稼動させて
、製品のコストダウンを実現することのできるクリーン
ルーム内移送システムを提供することを目的としている
。
「問題点を解決するための手段」
本発明は、前記問題点を解決するために、清浄空気供給
装置をff1iiえた密閉カバーで」二部を覆った複数
の半導体製造装置と、前記複数の半導体製造装置間に配
設されたチューブと、このチューブ内をSMIF’ボン
ドを保持した状態で移動するビークルと、このビークル
を前記チューブと半導体製造装置との間で移送及び待機
させるための前記チューブから分岐する少なくとも一対
のステーションと、このステーションと前記半導体製造
装置との間に介在するSMIFアームと、前記チューブ
内でビークルを移動させるブロアとを具備したクリーン
ルーム内移送システムであって、前記ステーションの少
なくとも底板に前記チューブの底板より下方に傾斜する
傾斜面を形成して、チューブの底板と二重底を構成する
ようにチューブに固定するとともに、前記分岐部分のチ
ューブの底板を水平状態からステーションの傾斜した底
板との間で回動自在に構成し、さらに、面記ヂコーブと
ステーションとの境界面に、垂直状態からステーション
の天井板との間で回動自在な仕切板を取り付けたことを
特徴とする。
装置をff1iiえた密閉カバーで」二部を覆った複数
の半導体製造装置と、前記複数の半導体製造装置間に配
設されたチューブと、このチューブ内をSMIF’ボン
ドを保持した状態で移動するビークルと、このビークル
を前記チューブと半導体製造装置との間で移送及び待機
させるための前記チューブから分岐する少なくとも一対
のステーションと、このステーションと前記半導体製造
装置との間に介在するSMIFアームと、前記チューブ
内でビークルを移動させるブロアとを具備したクリーン
ルーム内移送システムであって、前記ステーションの少
なくとも底板に前記チューブの底板より下方に傾斜する
傾斜面を形成して、チューブの底板と二重底を構成する
ようにチューブに固定するとともに、前記分岐部分のチ
ューブの底板を水平状態からステーションの傾斜した底
板との間で回動自在に構成し、さらに、面記ヂコーブと
ステーションとの境界面に、垂直状態からステーション
の天井板との間で回動自在な仕切板を取り付けたことを
特徴とする。
この場合、前記チューブのステーションとの分岐部付近
に転倒自在なストッパを設けたり、前記ステーションに
前記ビークルをステーションとSMIFアームとの間で
昇降させるための昇降装置を設けたりすることが望まし
い。
に転倒自在なストッパを設けたり、前記ステーションに
前記ビークルをステーションとSMIFアームとの間で
昇降させるための昇降装置を設けたりすることが望まし
い。
「実施例J
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。第1図
ないし第8図及び第10図、第1I図は、本発明の一実
施例を示すものであり、これらの図において、前記第1
O図、第11図に示したSMIF’システムにおける構
成要素と同一の要素については同一符号を付し、その説
明を省略する。
ないし第8図及び第10図、第1I図は、本発明の一実
施例を示すものであり、これらの図において、前記第1
O図、第11図に示したSMIF’システムにおける構
成要素と同一の要素については同一符号を付し、その説
明を省略する。
第1図は本発明のクリーンルーム内移送システムの概要
を示す平面図であり、図において符号Iは清浄空気供給
装置3を備えた密閉カバー2で上部を覆った各種工程毎
の半導体製造装置であり、それらの間には四角断面のチ
ューブ20が設置されている。このチューブ20内では
SMIFポッド7を保持した状態(第7図参照)で、ビ
ークル2■が移動するようになっており、チューブ20
と各種半導体製造装置1との間には前記ビークル2Iを
その間で移送したり、待機させるためのローディング側
のステーション22及びアンローディング側のステーシ
ョン23とがチューブ2oから分岐して設けられており
、さらに、このステーション22.23と半導体製造装
置Iとの間にはSMIF”ポッド7と半導体製造装置l
との間でウェーハカセット5の受け渡しを行うSMIF
’アーム4が配設されている。また、チューブ2oの両
端部にはチューブ20内を負圧にすることによりビーク
ル21をチューブ20内で移動させるブロア24が取り
付けられている。
を示す平面図であり、図において符号Iは清浄空気供給
装置3を備えた密閉カバー2で上部を覆った各種工程毎
の半導体製造装置であり、それらの間には四角断面のチ
ューブ20が設置されている。このチューブ20内では
SMIFポッド7を保持した状態(第7図参照)で、ビ
ークル2■が移動するようになっており、チューブ20
と各種半導体製造装置1との間には前記ビークル2Iを
その間で移送したり、待機させるためのローディング側
のステーション22及びアンローディング側のステーシ
ョン23とがチューブ2oから分岐して設けられており
、さらに、このステーション22.23と半導体製造装
置Iとの間にはSMIF”ポッド7と半導体製造装置l
との間でウェーハカセット5の受け渡しを行うSMIF
’アーム4が配設されている。また、チューブ2oの両
端部にはチューブ20内を負圧にすることによりビーク
ル21をチューブ20内で移動させるブロア24が取り
付けられている。
前記ステーション22.23は、第2図ないし第5図に
示すように、先端に行くに従って下方に傾斜するように
傾斜面を形成してチューブ2oに固定され、その底板2
2a、23aはチューブ2゜の底板20aと二重底を構
成してチューブ20の側板(ステーションが接続される
方と反対側の側板)の底部と固定されている。また分岐
部分のヂコ−ブ20の底板20aは水平状態からステー
ション22.23の傾斜した底板22a、23aとの間
で回動自在にチューブ20の側板に取り付けられるとと
もに、チューブ20とステーション22.23との境界
面には、垂直状態からステーション22.23の傾斜し
た天井板22b、23bとの間で回動自在な仕切板25
がチューブ20の天井板部分に取り付Cノられでいる。
示すように、先端に行くに従って下方に傾斜するように
傾斜面を形成してチューブ2oに固定され、その底板2
2a、23aはチューブ2゜の底板20aと二重底を構
成してチューブ20の側板(ステーションが接続される
方と反対側の側板)の底部と固定されている。また分岐
部分のヂコ−ブ20の底板20aは水平状態からステー
ション22.23の傾斜した底板22a、23aとの間
で回動自在にチューブ20の側板に取り付けられるとと
もに、チューブ20とステーション22.23との境界
面には、垂直状態からステーション22.23の傾斜し
た天井板22b、23bとの間で回動自在な仕切板25
がチューブ20の天井板部分に取り付Cノられでいる。
前記、チューブ20の側板にはステーション22.23
と対応した位置にビークル2Iの通過を検知する複数の
検知器26が配設されており、ステーション22.23
との分岐部分の底板20a。
と対応した位置にビークル2Iの通過を検知する複数の
検知器26が配設されており、ステーション22.23
との分岐部分の底板20a。
20a、・・の両側には、転倒自在な一対のストッパ2
7が設けである。前記、ステーション22゜23の上部
にはビークル2Iをステーション22゜23とSMTP
アーム4との間で昇降させるためのフック式の昇降装置
28が設けられ、ステーション22.23の底部にはS
MIPアーム4と対応した位置に開閉自在な底蓋29が
設けられるとともに、先端部の側板にはビークル2Iに
衝撃を与えることなく停止させるためのダンパ30が取
り付けられている。
7が設けである。前記、ステーション22゜23の上部
にはビークル2Iをステーション22゜23とSMTP
アーム4との間で昇降させるためのフック式の昇降装置
28が設けられ、ステーション22.23の底部にはS
MIPアーム4と対応した位置に開閉自在な底蓋29が
設けられるとともに、先端部の側板にはビークル2Iに
衝撃を与えることなく停止させるためのダンパ30が取
り付けられている。
前記、底蓋29は各種半導体製造装置毎にSMIFポッ
ド7の向きを変える必要があることから、第8図に示す
ように、ターンテーブルの機能を備えており、底蓋本体
29aと、その中央部に形成された回転台29bと、こ
れを底蓋本体29aに回転自在に支持する支持部29c
と、回転台29.bを回転ギア29dを介して駆動する
駆動部29eとを主な構成要素としている。なお、前記
昇降装置28の吊糸が、ステーション22.23の天井
板22b、23bを貫通ずる部分は十分なシール性を有
した構造とするか、又は、ステーション22.23の天
井板22b、23bを改良して昇降装置28が収納可能
な空間部を形成し、そこに昇降装置28を設けるように
してもよい。
ド7の向きを変える必要があることから、第8図に示す
ように、ターンテーブルの機能を備えており、底蓋本体
29aと、その中央部に形成された回転台29bと、こ
れを底蓋本体29aに回転自在に支持する支持部29c
と、回転台29.bを回転ギア29dを介して駆動する
駆動部29eとを主な構成要素としている。なお、前記
昇降装置28の吊糸が、ステーション22.23の天井
板22b、23bを貫通ずる部分は十分なシール性を有
した構造とするか、又は、ステーション22.23の天
井板22b、23bを改良して昇降装置28が収納可能
な空間部を形成し、そこに昇降装置28を設けるように
してもよい。
つぎに、第6図、第7図は、ウェーハ6を収納したウェ
ーハカセット5を外気から遮断するための容器であるS
MIFポッド7を、内部に載せてチューブ20内を移送
するビークル2Iを示すものである。ビークル2Iは底
部に開口部31を設けた折状容器であり、その外面には
チューブ20の内部を円滑に移動するための複数のロー
ラ32が取り付けられ、上部には前記昇降装置28のフ
ックと係合する吊り金具(図示せず)が設(Jられ、開
口部31付近にはSMIF’ポッド7の底部を支持する
楔33と、それを吊持するスプリング付きの支持部材3
4が取り付けられている。そして、SMIFアーム4の
」二面にビークル21が載置された時に、SMrr’ア
ーム4の上面に設けられた楔33の着脱装置(図示せず
)によって楔33を上下させることにより、SMIF’
ポッド7とビークル21を固定したり、解放したりする
ようにしている。
ーハカセット5を外気から遮断するための容器であるS
MIFポッド7を、内部に載せてチューブ20内を移送
するビークル2Iを示すものである。ビークル2Iは底
部に開口部31を設けた折状容器であり、その外面には
チューブ20の内部を円滑に移動するための複数のロー
ラ32が取り付けられ、上部には前記昇降装置28のフ
ックと係合する吊り金具(図示せず)が設(Jられ、開
口部31付近にはSMIF’ポッド7の底部を支持する
楔33と、それを吊持するスプリング付きの支持部材3
4が取り付けられている。そして、SMIFアーム4の
」二面にビークル21が載置された時に、SMrr’ア
ーム4の上面に設けられた楔33の着脱装置(図示せず
)によって楔33を上下させることにより、SMIF’
ポッド7とビークル21を固定したり、解放したりする
ようにしている。
つぎに、前記クリーンルーム内移送システムの使用方法
について説明する。
について説明する。
(1) まず、ブロア24を稼動させてチューブ20
内を負圧にし、ウェーハカセット5を収納したSMIF
ポッド7を載せたビークル2Iをチューブ20内で移動
させる。そ1.て、ビークル21が所定の半導体製造装
置I付近の検知器26部分を通過したことを検知すると
、ブロア24の機能を調節してビークル2Iを減速させ
るとともに、一対のストッパ27の内、移動するビーク
ル21から遠い方のストッパ27を起こす。そうするこ
とにより、ビークル21はストッパ27によって前記半
導体製造装置lのローディング側のステーション22の
前面の底板2Oa上で停止させられるとともに、他のス
トッパ27を起こすことによってチューブ20内を移動
不可能な状態で摺動自在に挟まれる(第3図参照)。
内を負圧にし、ウェーハカセット5を収納したSMIF
ポッド7を載せたビークル2Iをチューブ20内で移動
させる。そ1.て、ビークル21が所定の半導体製造装
置I付近の検知器26部分を通過したことを検知すると
、ブロア24の機能を調節してビークル2Iを減速させ
るとともに、一対のストッパ27の内、移動するビーク
ル21から遠い方のストッパ27を起こす。そうするこ
とにより、ビークル21はストッパ27によって前記半
導体製造装置lのローディング側のステーション22の
前面の底板2Oa上で停止させられるとともに、他のス
トッパ27を起こすことによってチューブ20内を移動
不可能な状態で摺動自在に挟まれる(第3図参照)。
(2)つぎに、第4図に示すように、底板20aをステ
ーション22の底板22aと重なるように、また、仕切
板25をステーション22の天井板22bと重なるよう
にそれぞれ取付部を軸に回転させることによって、ビー
クル21をステーション22内に取り込む。その際、ビ
ークル2Iはステーション22の傾斜した底板22a上
を自走して移動した後、先端部のダンパー30に当たっ
て余り衝撃を受けることなく、底蓋39上の所定の位置
に停止するとともに、ビークル2Iがステーション22
内に取り込まれた後には、第5図に示すように、底板2
0aと仕切板25とをそれぞれ水平状態と垂直状態とに
戻すことにより、再びチューブ20の通路を形成する。
ーション22の底板22aと重なるように、また、仕切
板25をステーション22の天井板22bと重なるよう
にそれぞれ取付部を軸に回転させることによって、ビー
クル21をステーション22内に取り込む。その際、ビ
ークル2Iはステーション22の傾斜した底板22a上
を自走して移動した後、先端部のダンパー30に当たっ
て余り衝撃を受けることなく、底蓋39上の所定の位置
に停止するとともに、ビークル2Iがステーション22
内に取り込まれた後には、第5図に示すように、底板2
0aと仕切板25とをそれぞれ水平状態と垂直状態とに
戻すことにより、再びチューブ20の通路を形成する。
(3) ビークル21が底蓋29上に停止すると、つぎ
に、ビークル21をフック式の昇降装置28で吊持した
後、底蓋29を開放し、次第にSMIFアーム4の上面
に降ろして載置する。そうすると、−ビークル21がS
MIFアーム4上に載置される際に楔33が外れ、SM
IFポッド7はビークル21から離脱してSMIFアー
ム4の上面の所定に場所にセットされる。
に、ビークル21をフック式の昇降装置28で吊持した
後、底蓋29を開放し、次第にSMIFアーム4の上面
に降ろして載置する。そうすると、−ビークル21がS
MIFアーム4上に載置される際に楔33が外れ、SM
IFポッド7はビークル21から離脱してSMIFアー
ム4の上面の所定に場所にセットされる。
(4) SMTPアーム4の上面にSMIFポッド7
がセットされると、SMrFポッド7の底板7aは内部
のウェーハカセット5を載せた状態で、SMIFアーム
4内に取り込まれ、次いでウェーハカセット5のみが半
導体製造装置20にセットされる。その時、SMIFポ
ッド7の本体部分(カバ一部分°)7bはSMIFアー
ム4の上面を覆うような状態で残ったままとなっており
、ウェーハカセット5がSMIFアーム4内に取り込ま
れる際に、SMIFアーム4内へ塵埃が侵入してウェー
ハ6を汚染することがない。
がセットされると、SMrFポッド7の底板7aは内部
のウェーハカセット5を載せた状態で、SMIFアーム
4内に取り込まれ、次いでウェーハカセット5のみが半
導体製造装置20にセットされる。その時、SMIFポ
ッド7の本体部分(カバ一部分°)7bはSMIFアー
ム4の上面を覆うような状態で残ったままとなっており
、ウェーハカセット5がSMIFアーム4内に取り込ま
れる際に、SMIFアーム4内へ塵埃が侵入してウェー
ハ6を汚染することがない。
(5)ウェーハカセット5が半導体製造装置1内ヘセツ
トされると、ウェーハカセット5からウェーハ6が一枚
ずつ取り出されて半導体製造装置1内で処理された後、
半導体製造装置lのアンローディング側に設けられたウ
ェーハカセット5に収められ、今度はアンローディング
側のSMIFアーム4によって、前記(3X4 )の工
程を逆に行うことにより、SMIT?ポッド7を載せた
ビークル21をアンローディング側のステーション23
に取り込む。なお、ウェーハ6を半導体製造装置I内で
処理する間に、空のウェーハカセット5を収納したSM
II?ポッド7を載せたビークル21を、次ぎに進むべ
き半導体製造装置のアンローディング側のSMIF’ア
ーム4に移動させた後、SMIFアーム4によって空の
ウェーハカセッl−5を半導体製造装置20のアンロー
ディング位置にセットしておく。
トされると、ウェーハカセット5からウェーハ6が一枚
ずつ取り出されて半導体製造装置1内で処理された後、
半導体製造装置lのアンローディング側に設けられたウ
ェーハカセット5に収められ、今度はアンローディング
側のSMIFアーム4によって、前記(3X4 )の工
程を逆に行うことにより、SMIT?ポッド7を載せた
ビークル21をアンローディング側のステーション23
に取り込む。なお、ウェーハ6を半導体製造装置I内で
処理する間に、空のウェーハカセット5を収納したSM
II?ポッド7を載せたビークル21を、次ぎに進むべ
き半導体製造装置のアンローディング側のSMIF’ア
ーム4に移動させた後、SMIFアーム4によって空の
ウェーハカセッl−5を半導体製造装置20のアンロー
ディング位置にセットしておく。
(6)所定の半導体製造装置1内で処理の終イつったウ
ェーハ6を収めたウェーハカセット5を収納したSMI
Fポッド7と一体となったビークル21が、アンローデ
ィング側のステーション23に取り込まれると、つぎに
、ブロア24を稼動させてチューブ20内を負圧にする
とともに、第4図に示すように、底板20aと仕切板2
5とを回動させてチューブ20を開放し、ビークル21
をチューブ30内に引き上げた後、ストッパ27を倒し
、前記(1)ないしく5)の工程を繰り返すことにより
、逐次法の工程の半導体製造装置lにビークル21を移
送し、ウェーハ6の処理を行い製品を完成させる。
ェーハ6を収めたウェーハカセット5を収納したSMI
Fポッド7と一体となったビークル21が、アンローデ
ィング側のステーション23に取り込まれると、つぎに
、ブロア24を稼動させてチューブ20内を負圧にする
とともに、第4図に示すように、底板20aと仕切板2
5とを回動させてチューブ20を開放し、ビークル21
をチューブ30内に引き上げた後、ストッパ27を倒し
、前記(1)ないしく5)の工程を繰り返すことにより
、逐次法の工程の半導体製造装置lにビークル21を移
送し、ウェーハ6の処理を行い製品を完成させる。
上述したように、ウェーハカセット5内に収納されたウ
ェーハ6はチューブ20及びステーション22.23内
を移動する間にも、SMIFポッド7内に収められて外
気と遮断されているため、チューブ20やステーション
22.23内は通常の室内に近い清浄度(クラスl00
0〜1000〇〇程度)でもよく、さらに、チューブ2
0内に少量の外気が侵入したり、チューブ20の内面と
ビークル2Iのローラ32との摩擦によってチューブ2
0内に塵埃が発生した場合にも、ウェーハ6が汚染され
ることがない。そのため、チューブ20は高価な材料を
使用したり、密閉度や内面仕」二のために高精度の加工
を施す必要がなく、その製作費を低減させることができ
る。また、チューブ20に検知器26とストッパ27と
を設けたことにより、ビークル21を任意のステーショ
ンの前で停止させることができことになり、ブロア24
はチューブ20の両端部に設けるだけでよく、ウェーハ
カセットの連続移送が可能となる。また、チューブ20
には清浄装置等の付帯設備が不要であるので、半導体製
造装置1は室内で自由に、かつ安価にレイアウトするこ
とができる。
ェーハ6はチューブ20及びステーション22.23内
を移動する間にも、SMIFポッド7内に収められて外
気と遮断されているため、チューブ20やステーション
22.23内は通常の室内に近い清浄度(クラスl00
0〜1000〇〇程度)でもよく、さらに、チューブ2
0内に少量の外気が侵入したり、チューブ20の内面と
ビークル2Iのローラ32との摩擦によってチューブ2
0内に塵埃が発生した場合にも、ウェーハ6が汚染され
ることがない。そのため、チューブ20は高価な材料を
使用したり、密閉度や内面仕」二のために高精度の加工
を施す必要がなく、その製作費を低減させることができ
る。また、チューブ20に検知器26とストッパ27と
を設けたことにより、ビークル21を任意のステーショ
ンの前で停止させることができことになり、ブロア24
はチューブ20の両端部に設けるだけでよく、ウェーハ
カセットの連続移送が可能となる。また、チューブ20
には清浄装置等の付帯設備が不要であるので、半導体製
造装置1は室内で自由に、かつ安価にレイアウトするこ
とができる。
その結果、本発明のシステムを用いるクリーンルームは
、層流型の気流方式を採用したクラスIO〜100とい
った超高清浄度のものは不要となり、非層流型の気流方
式を採用したクラス+000〜1ooooo程度の清浄
度のものでも良くなるため、クリーンルームのイq帯設
備が簡易なものとなり、その建設費や設備費及び維持費
を大幅に低減することができる。また、半導体製造装置
間のウェーハの移送やSMIFポッドのセットを自動化
したことにより、人の介在を無くして省人化を図ること
ができ、かつ、製品の歩留まりをSMIFポッドを人力
で運ぶ場合よりもなお一層高めるとともに、SMIFシ
ステムを効率良く稼動させて、製品のコストダウンを実
現することができる。さらに、本実施例においては、ビ
ークルをステーション内に取り込む際に、ビークルはス
テージぢンの傾斜した底板を自走するようになっており
、ステーション内を負圧にする必要がなく、そのための
装置や制御システムが不要である。
、層流型の気流方式を採用したクラスIO〜100とい
った超高清浄度のものは不要となり、非層流型の気流方
式を採用したクラス+000〜1ooooo程度の清浄
度のものでも良くなるため、クリーンルームのイq帯設
備が簡易なものとなり、その建設費や設備費及び維持費
を大幅に低減することができる。また、半導体製造装置
間のウェーハの移送やSMIFポッドのセットを自動化
したことにより、人の介在を無くして省人化を図ること
ができ、かつ、製品の歩留まりをSMIFポッドを人力
で運ぶ場合よりもなお一層高めるとともに、SMIFシ
ステムを効率良く稼動させて、製品のコストダウンを実
現することができる。さらに、本実施例においては、ビ
ークルをステーション内に取り込む際に、ビークルはス
テージぢンの傾斜した底板を自走するようになっており
、ステーション内を負圧にする必要がなく、そのための
装置や制御システムが不要である。
なお、前記実施例におけるステーション22゜23は、
第9図に示すように、その先端部分(底蓋29が設けら
れる部分)において、傾斜を無くして水平に形成し、載
置されるビークル21の安定を図るようにしてもよい。
第9図に示すように、その先端部分(底蓋29が設けら
れる部分)において、傾斜を無くして水平に形成し、載
置されるビークル21の安定を図るようにしてもよい。
また、面紀実施例では、チューブ20内でウェーハ6を
移動させる際、SMII’;’ポッド7をビークル21
に載せて移動させるようにしているが、ビークル21を
用いずSMIFポッド7の外面に直接ローラ32を取り
付けて移動させるようにしてもよい。さらに、SMIF
’ポッド7をステーション22.23とSMIFアーム
4との間で移動させる際に、その安定を図るため、又は
その向きを変化させるためにステーション22.23と
SMIFアーム4との間にガイドを設けるようにしても
よい。
移動させる際、SMII’;’ポッド7をビークル21
に載せて移動させるようにしているが、ビークル21を
用いずSMIFポッド7の外面に直接ローラ32を取り
付けて移動させるようにしてもよい。さらに、SMIF
’ポッド7をステーション22.23とSMIFアーム
4との間で移動させる際に、その安定を図るため、又は
その向きを変化させるためにステーション22.23と
SMIFアーム4との間にガイドを設けるようにしても
よい。
「発明の効果」
以上説明したように本発明は、複数の半導体製造装置と
、この半導体製造装置間に配設されたチューブと、この
チューブ内をSMIFポッドを保持した状態で移動する
ビークルと、このビークルをチューブと半導体製造装置
との間で移送及び待機させるためのステーションと、S
MIFポッドと半導体製造装置の間でウェーハカセット
の受け渡しを行うSMIFアームと、ビークルをチュー
ブ内で移動させるブロアとを備えたクリーンルーム内移
送システムであって、前記ステーションに傾斜面を形成
してチューブの底板と二重底となるように固定するとと
もに、チューブの底板および仕切板を回動自在に構成し
たもの、であるので、クリーンルームは層流型の気流方
式を採用したクラスIO〜100といった超高清浄度の
ものは不要となり、非層流型の気流方式を採用したクラ
ス1000〜100000程度の清浄度のものでも良く
なるため、付帯設備が簡易なものとなり、建設費や設備
費及び維持費が大幅に低減され、さらに、人の介在が少
なくなり省人化が図れ、かつ製品の歩留まりが高まると
ともに、SMIPシステムを効率良く稼動させて、製品
のコストダウンを実現することができる。
、この半導体製造装置間に配設されたチューブと、この
チューブ内をSMIFポッドを保持した状態で移動する
ビークルと、このビークルをチューブと半導体製造装置
との間で移送及び待機させるためのステーションと、S
MIFポッドと半導体製造装置の間でウェーハカセット
の受け渡しを行うSMIFアームと、ビークルをチュー
ブ内で移動させるブロアとを備えたクリーンルーム内移
送システムであって、前記ステーションに傾斜面を形成
してチューブの底板と二重底となるように固定するとと
もに、チューブの底板および仕切板を回動自在に構成し
たもの、であるので、クリーンルームは層流型の気流方
式を採用したクラスIO〜100といった超高清浄度の
ものは不要となり、非層流型の気流方式を採用したクラ
ス1000〜100000程度の清浄度のものでも良く
なるため、付帯設備が簡易なものとなり、建設費や設備
費及び維持費が大幅に低減され、さらに、人の介在が少
なくなり省人化が図れ、かつ製品の歩留まりが高まると
ともに、SMIPシステムを効率良く稼動させて、製品
のコストダウンを実現することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第8図は、本発明の一実施例を示すもので
、第1図は本発明のクリーンルーム内移送システムの概
要を示す平面図、第2図はステーション付近を示す斜視
図を、第3図ないし第5図はチューブからステーション
にビークルを取り込むところを説明するための図であり
、第3図はチューブとステーションとの分岐部分にビー
クルが停止した状態を示す分岐部付近の側断面図、第4
図はステーション内にビークルが取り込まれたところを
示す分岐部付近の側断面図、第5図はステーション内に
ビークルが取り込まれた後の分岐部付近の側断面図、第
6図はチューブ内を移動させるはビークルの斜視図、第
7図はビークルにSMIFポッドを載ぜた状態を示す一
部断面をした正面図、第8図はステーションの底蓋の詳
細を示す側断面図、第9図は他の実施例を示し、先端部
を水平に形成したステーションの側断面図、第10図。 第11図は従来及び本実施例を説明するための図であり
、第1O図はSMIPシステムのクリーンルームを示す
斜視図、第11図は内部にウェーハカセットを収納した
状態のSM[;’ポッドの側断面図である。 I・・・・・・半導体製造装置、2・・・・・・密閉カ
バー、3・・・・・・清浄空気供給装置、4・・・・・
・SMIFアーム、5・・・・・・ウェーハカセット、
7・・・・・・SMIFポッド、20・・・・・・チュ
ーブ、20a・・・・底板、2I・・・・ビークル、2
2.23・・・・・・ステーション、24・・・・・・
ブロア、25・・・・・・仕切板、27・・・・・・ス
トッパ、28・・・・・・昇降装置。
、第1図は本発明のクリーンルーム内移送システムの概
要を示す平面図、第2図はステーション付近を示す斜視
図を、第3図ないし第5図はチューブからステーション
にビークルを取り込むところを説明するための図であり
、第3図はチューブとステーションとの分岐部分にビー
クルが停止した状態を示す分岐部付近の側断面図、第4
図はステーション内にビークルが取り込まれたところを
示す分岐部付近の側断面図、第5図はステーション内に
ビークルが取り込まれた後の分岐部付近の側断面図、第
6図はチューブ内を移動させるはビークルの斜視図、第
7図はビークルにSMIFポッドを載ぜた状態を示す一
部断面をした正面図、第8図はステーションの底蓋の詳
細を示す側断面図、第9図は他の実施例を示し、先端部
を水平に形成したステーションの側断面図、第10図。 第11図は従来及び本実施例を説明するための図であり
、第1O図はSMIPシステムのクリーンルームを示す
斜視図、第11図は内部にウェーハカセットを収納した
状態のSM[;’ポッドの側断面図である。 I・・・・・・半導体製造装置、2・・・・・・密閉カ
バー、3・・・・・・清浄空気供給装置、4・・・・・
・SMIFアーム、5・・・・・・ウェーハカセット、
7・・・・・・SMIFポッド、20・・・・・・チュ
ーブ、20a・・・・底板、2I・・・・ビークル、2
2.23・・・・・・ステーション、24・・・・・・
ブロア、25・・・・・・仕切板、27・・・・・・ス
トッパ、28・・・・・・昇降装置。
Claims (3)
- (1)清浄空気供給装置を備えた密閉カバーで上部を覆
った複数の半導体製造装置と、前記複数の半導体製造装
置間に配設されたチューブと、このチューブ内をウェー
ハカセットの密閉容器であるSMIFポッドを保持した
状態で移動するビークルと、このビークルを前記チュー
ブと半導体製造装置との間で移送及び待機させるための
前記チューブから分岐する少なくとも一対のステーショ
ンと、このステーションと前記半導体製造装置との間に
介在し前記SMIFポッドと半導体製造装置の間でウェ
ーハカセットの受け渡しを行うSMIFアームと、前記
チューブ内を負圧にすることによりビークルをチューブ
内で移動させるブロアとを具備したクリーンルーム内移
送システムであって、前記ステーションの少なくとも底
板に前記チューブの底板より下方に傾斜する傾斜面を形
成して、チューブの底板と二重底を構成するようにチュ
ーブに固定するとともに、前記分岐部分のチューブの底
板を水平状態からステーションの傾斜した底板との間で
回動自在に構成し、さらに、前記チューブとステーショ
ンとの境界面に、垂直状態からステーションの天井板と
の間で回動自在な仕切板を取り付けたことを特徴とする
クーンルーム内移送システム。 - (2)前記チューブのステーションとの分岐部付近に転
倒自在なストッパを設けたことを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載のクリーンルーム内移送システム。 - (3)前記ステーションに前記ビークルをステーション
とSMIFアームとの間で昇降させるための昇降装置を
設けたことを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2
項記載のクリーンルーム内移送システム。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6511886A JPS62222925A (ja) | 1986-03-24 | 1986-03-24 | クリ−ンル−ム内移送システム |
| US07/018,993 US4826360A (en) | 1986-03-10 | 1987-02-25 | Transfer system in a clean room |
| EP87301888A EP0239266A3 (en) | 1986-03-10 | 1987-03-04 | Transfer system in a clean room |
| CA000531391A CA1271271A (en) | 1986-03-10 | 1987-03-06 | Semiconductor wafer transport system in a clean room |
| KR870002102A KR870009446A (ko) | 1986-03-10 | 1987-03-09 | 크린룸 내의 이송 시스템 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6511886A JPS62222925A (ja) | 1986-03-24 | 1986-03-24 | クリ−ンル−ム内移送システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62222925A true JPS62222925A (ja) | 1987-09-30 |
Family
ID=13277648
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6511886A Pending JPS62222925A (ja) | 1986-03-10 | 1986-03-24 | クリ−ンル−ム内移送システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62222925A (ja) |
-
1986
- 1986-03-24 JP JP6511886A patent/JPS62222925A/ja active Pending
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