JPS62223637A - 測光装置 - Google Patents

測光装置

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Publication number
JPS62223637A
JPS62223637A JP61066623A JP6662386A JPS62223637A JP S62223637 A JPS62223637 A JP S62223637A JP 61066623 A JP61066623 A JP 61066623A JP 6662386 A JP6662386 A JP 6662386A JP S62223637 A JPS62223637 A JP S62223637A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chopper
data
bimorph
output
measurement
Prior art date
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Pending
Application number
JP61066623A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Imura
健二 井村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Minolta Co Ltd filed Critical Minolta Co Ltd
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Publication of JPS62223637A publication Critical patent/JPS62223637A/ja
Priority to US07/241,815 priority patent/US4914673A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70233Optical aspects of catoptric systems, i.e. comprising only reflective elements, e.g. extreme ultraviolet [EUV] projection systems
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/08Optical arrangements
    • G01J5/0803Arrangements for time-dependent attenuation of radiation signals
    • G01J5/0805Means for chopping radiation
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/02Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the intensity of light
    • G02B26/04Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the intensity of light by periodically varying the intensity of light, e.g. using choppers

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 イ、産業上の利用分野 本発明は、各種の測定装置において用いられている光チ
ョッパにおいて特にバイモルフを用いた振動型の光チョ
ッパを用いた放射温度計に間する口、従来の技術 測光においては、信号を交流fヒした方が測光回路の動
作が安定し、S 、N比ら向上できる。特に10μin
帯の赤外線センサーでは、装置からの放射ノイズを除去
するためにも光をチョッピングしてセンサに入射させる
場合が多い、従来このような光チョッパとしては開口を
設けた円板をモータによって回転させると云う方式が一
般に用いられていた。しかし、この型の光チョッパは構
造的に大型であり、モータを用いかつその回転精度を上
げるためには高値となるほが寿命の点でも問題点があり
、バイモルフを用いたチョッパがその構造的単純さ、そ
のために安価軽量で信頼性が高く小型であると云う所が
注目されるようになってきた所でバイモルフを用いた光
チョッパでは光の断続のために充分な変位量を得るには
バイモルフを薄く長いものにする必要がある。即ちバイ
モルフは2枚の圧電素子を貼合せて一方が伸び他方が縮
むように電圧を印加するもので、バイモルフの先端の撓
み量は厚さの1.5〜2乗に反比例し、長さの1.5〜
2乗に比例するから、バイモルフの撓みを大きくするた
めには薄く長くする必要があるが、そうするとバイモル
フの外力による撓み易さも大きくなり、ポータプルな装
置の場合、装置の姿勢によってチョッパの重力による撓
み量が変化するなめ、光の断続期間の比率が変化して測
定誤差を生ずると云う問題がある。チョッパの重力によ
る撓みの影響は手動的に補正することは可能であるが、
装置を動かす度に補正をやり直すのは大変面倒である。
ハ 発明が解決しようとする問題点 本発明は、バイモルフを用いた光チョッパの重力による
撓みの影響を自動的に補正し、格別な調整操作なしに測
光装置の姿勢を自由に変えて、しかも測定誤差が生じな
いようにしようとするのもである。
二0問題点解決のための手段 バイモルフに保持されたチョッパの恒常的な変位を検出
する手段を設け5この検出手段の出力により上記光チョ
ッパの恒常的な変位による測定データの変化を補正する
ようにした。
ホ9作用 チョッパはバイモルフに保持され、バイモルフには交流
電圧或は正負のパルス電圧が印加されて振動せしめられ
、チョッピング動1tが行われる。
バイモルフが垂直であるときは重力の’M9はないが、
バイモルフが水平或は傾いた状態にあるときは重力によ
るバイモルフの撓みでチョッパの振動の中心位置はバイ
モルフが垂直である場合よりずれている。前項で恒常的
な変位と云うのはこのずれのことである。このずれを検
出し、このずれ信号と測定データの変化とのr75係の
実測により、ずれ信号と測定データのひずみの補正デー
タとの変換式を求めておくか、或は変換テーブルを作成
してコンピュータに記憶させておき、ずれ信号を基に測
定データを正しい測定値に補正するようにすれば、重力
によるチョッパの変位による。1m定データの変化が補
正され、測光装置をどのような方向に向けても、自動的
に姿勢の変1ヒによる測定データの変化が補正され、常
に正しい測定値を提供されることになる。
へ、実施例 以下述べる実施例は放射温度計に本発明を適用したもの
である。
実施例1゜第1図に第1の実施例を示す、第1図におい
て、1は光チョッパでバイモルフ2の上端に取f寸けら
れている。バイモルフ2は下端がベース3に固定され、
上端が自由な片持梁になっており、図で左右に撓み、そ
れに件ってチョッパ1も矢印1b、lc力方向変位せし
められる。4は光規制板で中央に開口4aを有し、チョ
ッパ1がこの開口を覆うことで開口を通過する光が遮断
され、開口4aからチョッパ1が退避することで光が開
口を通過する。第2図はこの実施例の側面を示す。この
図で光は左方から光規制板4の開口4aを通過する。放
射温度計は被検体からの赤外線を測光して被検体の温度
を測定するもので、開口4aの直後に赤外線センサ6が
配置されており、光チョッパ1は光規制板4の前面で同
仮に近接した位置に配置されている。
上述した装置を第1図で右或は左へ傾けて行くとバイモ
ルフ2は自重及びチョッパ1の重みで撓む。図のように
バイモルフ2が垂直である装置姿勢を基準にして、この
時バイモルフ2に電圧が印加されていない状態でチョッ
パ1は光規制板4の開口4aを丁度半分だけ遮蔽するよ
うにしてあり、チョッパ1はこの位置を中心にして左右
に振れ、光の断続の時間比率を等しくなるようにしであ
る。
上述実施例ではバイモルフ2が垂直である位置を基準に
して、チッパ1の重力による変位を検出する手段として
、光規制板4の開口4aの下方に2つの開口4a、4c
を並べて設け、上記基準位置で両開口は夫々がチョッパ
1によって面積の半分だけ遮蔽されているようにし、第
2図に示すようにチョッパ1の前側に光源の発光ダイオ
ードを配置し、開口4a、4cの直後に夫々光検出素子
としてフォトダイオード5b、5cを配置した。
この構成でチョッパ1が振動していないときはフォトダ
イオード5b、5cには夫々同じ元旦が入射して両者の
出力は等しい。この状態でチョッパ1を振動させるとフ
ォトダイオード5b、5cの出力は同じ周波数で振幅の
等しい交流信号となる、装置を傾けるとチョッパ1は重
力で左右何れかの側に偏移するが、例えば右に偏るとフ
ォトダイオード5bの出力が増し、5cの出力が減少し
、この状態でチョッパ1をwl動させると、この出力の
増減分だけの直流成分が重畳された交流信号が5b、5
cから出力される。このようにしてフォトダイオード5
b、5cの出力信号における直流成分の差がチョッパ1
の重力による偏移の検出信号で、この検出信号をAD変
換器16に入力し、AD変換器16によってディジタル
化したズレデータをマイクロコンピュータ11に赤外線
センサ6によって得られた測定データと共に入力し、そ
のズレデータと測定データを基にマイクロコンピュータ
11において、事前に較正測定で得られたズレデータと
補正データとの変換公式又は変換テーブル等を使った補
正演算により、測定データを正しい検出値に補正するの
である。
第3図は上述したズレデータを取出す回路を含む具体的
な回路構成を示す0図で1は光チョッパ、2はバイモル
フ、4は光用、$lll1.4aは開口、6は光センサ
で、これらの構成は第1(21のものと同じである。セ
ンサ6の出力はプリアンプ7、バンドパスフィルタ8、
両波整流器9、A/′D変換器10を経てマイクロコン
ピュータ11に取込まれ、温度に変換されて表示手段1
2に出力される、フォトダイオード5b、5cは差動的
に接続されて差動増幅器A1の反転端子に接続しである
光用刷板4における開口4b、’4cのチョッパ1によ
る遮蔽の増減が互いに相反しているから、フォトダイオ
ード5b、5cの出力の交流信号の位相は互いに半周期
ずれており、従って5b、5cを差動的に接続したとき
の出力では交流成分に直流成分の差が重畳された信号が
差動増幅23A1に入力されることになる。差動増幅器
A1の非反転端子はポテンショメータ15X1の12j
動子に接続しである。前述した基準位「では)4トダイ
オード5b、5cの出力の直流成分は原理的に眸し・(
差動増幅器A1の反転端子入力はOであるから非反転端
子入力はOにしておけばよいが、実際にはフォトダイオ
ード5b、5cの特性の差、開口4b、4cの形状誤差
等により、5b、5cの出力の直流成分の差は0でない
ので、基準位置で作動増幅器A1の出力が0になるよう
に予めポテンショメータ15aを調整しておくのである
。このようにして差動増幅L:A1の出力信号の平均は
フォトダイオード5J 5cの出力におけるチョッパ1
の重力による偏移に基づく直流成分の差に相当しており
、これがAD変114R16に入力される。AD変換!
6:、 16によってディジタル化された同ズレデータ
がマイクロコンピュータ11に入力される。コンデンサ
161)は作動増幅器A1の出力を平均し°ζ直流成分
のみ取出し、これをAD¥換31(−りにおくるために
設けたちのである。
実施例2.この実施例は第1図における赤外線センサ6
の出力を利用してチョッパ1の重力による偏移を検出す
るようにしたものである。従って横道的には第1.2図
において、光用刷板4に開口4 b +−4cがなく、
またフォトダイオード5b。
5cがないだけで他は同じでよい。従ってこの実施例の
構造図及び構造説明は省略する。この実施例において赤
外線センサ6は熱望のもので、一定時間受光したときの
素子の温度上昇を電気信号に変換するものであるから、
一種の積分型の検出素子である。第4図はこの型の放射
温度計の検出素子の出力波形が光の断続のデユーティ(
露光期間と遮光期間の時間比)によって変化する様子を
示す、同図Aはデユーティ比が1の場合、同Bは同じ周
期で露光期間が長くなった場合、同Cは遮光期間が長く
なった場合を示す、露光中素子温度は飽和温度から離れ
た所では入射光の強さに比例して直線的に上昇し、閏っ
て出力信号も直線的に上昇する。遮光期間中素子は直線
的に冷却して41き、出力信号も低下して、出力信号は
三角波信号となる。この三角波信号から単に直流成分除
去しただけでは正負の振れ幅が等しい三角波f3号が得
られるだけであるが、一度微分すると第4図Aの場合は
三角波の上昇降下両N間が等長であるから、上昇下降の
傾斜が等しく、微分波形は第・1図aに示すように正負
両期間とも時間幅の等しい矩形波となる。同様にして第
4図Bの場合は[21bのように正側の時間幅が広く負
側の時間幅が狭い矩形波となり、第4図Cの場合は逆に
同Cのように正の時間幅が狭く、負の時間幅が広い矩形
波となる。
6℃って光検出素子の出力の微分波形の正側時間幅と負
側時間幅との差は光チョッパの偏移の検出信号となるか
ら、この信号によ−)て、コンピュータが測定データの
補正を行うのである。
第5図は上述実施例の回路構成を示す0図で1は光チョ
ッパ、2はバイモルフ54は光用刷板、4aは開口、6
は光セ〉すで、センサ6の出力はプリアンプ7、バンド
パスフィルタ8、両波整流19、A/D変換≧り10を
経てマイクロコンピュータ11に取込まれ、温度に変換
されて表示手段12に出力される。これらの構成は第3
図のものと同じである。他方プリアンプ7の出力はコン
デンサ15a及び抵抗151〕よりなる微分回路で微分
され、微分出力がコンパレータ17に入力される。コン
パレータ17はこの入力信号電圧が正の時は1°′、負
の時は“0パなる論理信号をマイクロコンピュータ11
に入力する。コンピュータ11では光・1−ゴッパの動
作周期より短い周期のクロックパルス分コンパレータ1
7からの入力信号が1”である間だけ:I数し、その計
数値を基準値と比較する動1ヤを光チョッパの一動圧周
期毎に行っている。上記計数値と基準値との差が光グー
ゴソバのズレデータであり、このデータを決ってよ1定
データをt+I+正計算する方法は、第1実施例と全く
同じである。
l・、効果 本発明における光チョッパはバイモルフを用いているの
で構造的に簡単で軽量安価しからはtrI性が高く、こ
の型の光チョッパの欠点である重力の影響が自動的に補
正されるので、測光装置を河等の手動調整もなしに自由
な姿勢でf史用できるのである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例装置の正面121、第2図は
同案mr’Aの側面図、第3図は同実施例の信号処理部
の回路図、第4図は本発明の池の一実施例の動fヤ原理
を説明する信号波形図、第5図は同実施例の信号処理部
の回路図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 光をチョッピングして測光する方式で、バイモルフに保
    持された光チョッパの恒常的な変位を検出する手段と、
    この検出手段の出力とチョッパの恒常的な変位に対する
    測光値の補正量との関係データを用いて、測光値の補正
    を行う演算手段とを有する測光装置。
JP61066623A 1985-10-07 1986-03-25 測光装置 Pending JPS62223637A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61066623A JPS62223637A (ja) 1986-03-25 1986-03-25 測光装置
US07/241,815 US4914673A (en) 1985-10-07 1988-09-02 Radiation thermometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61066623A JPS62223637A (ja) 1986-03-25 1986-03-25 測光装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62223637A true JPS62223637A (ja) 1987-10-01

Family

ID=13321196

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61066623A Pending JPS62223637A (ja) 1985-10-07 1986-03-25 測光装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS62223637A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0694534A (ja) * 1992-09-17 1994-04-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 熱画像検出装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0694534A (ja) * 1992-09-17 1994-04-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 熱画像検出装置

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