JPS62232175A - 光起電力装置の製造方法 - Google Patents

光起電力装置の製造方法

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JPS62232175A
JPS62232175A JP61075263A JP7526386A JPS62232175A JP S62232175 A JPS62232175 A JP S62232175A JP 61075263 A JP61075263 A JP 61075263A JP 7526386 A JP7526386 A JP 7526386A JP S62232175 A JPS62232175 A JP S62232175A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野] 本発明は太陽電池や光センサー等の非晶質半導体層を有
する光起電力装置の製造方法に関する。
〔従来の技術〕
従来の光起電力装置の平面図を第3図(g)に示す。
絶縁基板1上に複数個の第1電極2g〜21が形成され
ている。該複数個の第1電極2g〜21上に連続的に連
なる非晶質半導体層3が被着され、さらに第1電極2g
〜21に対応し、非晶質半導体N3上に複数個の第2電
極4g〜41が形成される。
これにより絶縁基板l上に複数個の発電区域g〜iが形
成される。
第1電極2g〜21を形成する際、マスク操作又はエツ
チング処理により、非晶質半導体層3外に延びる第1電
極の接続用延長部21g〜21iが形成される。また、
第2電極4g〜41を形成する際、マスクの操作により
、非晶質半導体層3外に延び、かつ隣接する発電区域g
−hの第1電極の接続用延長部21g〜21hと重畳接
続する第2電極の接続用延長部41h〜41iが形成さ
れる。なお、発電区域gの第2電極の接続用延長部41
gはそのまま非晶質半導体層3外に形成され、また発電
区域iの第1電穫の接続用延長部21i上にリード線取
り出し用出力端子部61が形成される。
かくして、第1電掻の接続用延長部21g〜21hと第
2電極の接続用延長部41h〜41i とが発電区域g
”iを直列的関係になるべく夫々電気的接続が行われ、
出力は発電区域gの第2電極の接続用延長部41gとリ
ード線取り出し用出力端子部61との間で得られる。(
特公昭58−21827号公報)次に上述の光起電力装
置の製造方法を第3図(a)〜(g)の各工程における
平面図に基づいて説明する。
絶縁基板1を洗浄、乾燥しく第3図(a) ) 、該基
板1上に第1電極形成用マスク22を覆設する(第3図
(b))。 マスク22の形状は、該発電区域g−iの
第1電Fi2g〜21及びその接続用延長部21g〜2
1iが形成される窓を有する。
マスク22を介して、スプレー法、プラズマCVD法ス
パッタリング法を用いて、第1電掻2g〜21及びその
接続用延長部21g〜21i となる透明導電膜例えば
SnO□、 In、03等が被着される。 その後、該
マスク22を外す。これにより基板l上に夫々配列され
た第1電極2g〜21及びその接続用延長部21g〜2
1iが形成される(第3図(C))。
次に非晶質半導体層形成用マスク32を基板1に装着す
る(第3図(d))。ここで形成用マスク32は該第1
1を極2g〜21に連続的に連なり、かつその接続用延
長部21g〜21iが隠蔽される形状の窓を有す。
プラズマCVD装置に投入し、グロー放電分解で非晶質
半導体層3が被着される。非晶質半導体層3はP−1−
N接合が施されており、例えばPJliはシラン(Si
H4)、水素(Hり、 ジボラ ン(BIH,)の混合
ガスが、1層はシラン、水素の混合ガスが、NNiはシ
ラン+Ht+フォスフイン(Plh)の混合ガスが、ガ
ス圧1.2Torrで13.56MIIzの高周波電圧
が印加されることにより該マスク32を介して被着され
る。
該マスク32を外し、第1電極2g〜21上に連続的に
連なる非晶質半導体層3が形成される(第3図(e))
。
さらに、非晶質半導体層3上に第2電極4g〜41及び
その接続用延長部41g〜411、出力様端子61が形
成される様に所定形状の窓を有する第2電極形成用マス
ク42が装着される(第3図(f) ) 。
この状態でスパッタ法、抵抗加熱法、電子ビーム法を用
いて第2電14g〜41及びその接続用延長部41g〜
41i 、出力用端子部61となる金属膜が被着される
。使用される金属は、アルミニウム(AI)、ニッケル
(Ni)、クロム(Cr)、チタン(Ti)等であり、
0.4〜1μmの膜厚で被着される。
そして該マスク42を外し、所定形状の第2電極4g〜
41及びその接続用延長部41g〜41i 、出力用端
子61が形成される。(第3図(g))。
〔従来技術の問題点〕
しかしながら、従来の光起電力装置は基板lの全表面積
の15〜20χは発電に全く寄与しない接続部であり、
基板lの面積に対する有効受光面積(非晶質半導体層3
被着部分G)は、極めて低下してしまう。
これは非晶質半導体層3が接続部分Cに被着しない様に
マスク32が装着されるが、該非晶質半導体T43がマ
スク32と基板1との間隙に入り込む可能性があるため
、第1電掻の延長部21g〜21hと第2電極の延長部
41h〜41の重畳部分を大面積化し、接続の信頼性を
向上させていることに起因する。
また、前記マスク32により、グロー放電によるプラズ
マの干渉が発生し、非晶質半導体層3の膜質を不安定に
し出力特性を低下させ、外観を悪くするという問題があ
った。
〔本発明の目的〕
本発明は上述の問題点に鑑み、案出されたものであたり
、その目的は、基板に対する有効受光面積が増大し、か
つ、非晶質半導体層の膜質を向上させ、高い出力特性が
得られる光起電力装置の製造方法を提供することにある
。
〔目的を達成するための具体的手段〕
本発明が上述の目的を達成するために行った具体的手段
は、非晶質半導体層と、該非晶質半導体層を挟む第1.
第2電極とからなる複数個の発電区域を有し、該発電区
域を絶縁基板上に配列形成した光起電力装置の製造方法
において、該絶縁基板上に複数個の第1電極を形成し、
該複数個の第1電極を覆うように非晶質半導体層を被着
した後、該非晶質半導体層を貫通する接続用開口部を第
1電極の配列方向に沿った直線上に配置されるように形
成し、次いで各発電区域の起電力が直列に出力されるよ
うに非晶質半導体層上に複数個の第2電掻を形成し、隣
接する発電区域の第1電掻を該接続用開口部を通じて電
気的に接続したことである。
〔実施例〕
以下、本発明の光起電力装置の製造方法を図面に基づい
て説明する。
第1図(g)は本発明の光起電力装置の製造方法によっ
て製造された光起電力装置の平面図である。
基板1上に第1電極28〜2cを配列形成されている。
この時、各電極28〜2cには各発電区域a−cの側縁
部に延長する接続用延長部21a〜21cが同時に形成
される。
非晶質半導体層3が前記第1電f42a〜2c及びその
接続用延長部21a〜21cを完全に覆うように被着さ
れている。
5は基板1に配列した第1電掘の接続用延長部21a〜
21c上の非晶質半導体層3の一部に発電区域a−cの
配列方向に沿ってレーザー照射により形成した接続用開
口部である。接続用開口部5によって非晶質半導体層3
は貫通し、第1電極28〜2cの接続用延長部21a〜
21c及び基板1が露出する。
接続用開口部5の巾はレーザーの出力で決定されるが、
最低20μmあれば充分である。また、接続用開口部5
はレーザー発振のQスイッチの周波数と基板lに対する
レーザー走査速度により、最低20μmの直径の小孔を
断続的に形成してもよいし、また単一の小孔を形成して
もよい。
さらに、非晶質半導体層3上に第1電m2a〜2Cに対
応する複数個の第2電極4a〜4cが形成される。
これにより基板1上に複数個の発電区域a−Cが形成さ
れる。
第2 ’14i4a〜4cを形成する際、同一発電区域
a〜Cの第1ri極2a〜2cのに接続せず、隣接する
発電区域a=b第1電極28〜2bにまで延長する接続
用延長部41b〜41cが形成され、該接続用延長部4
1b〜41cは接続用開口部5を通じて隣接する発電区
域a−bの第1電極の接続用延長部21a〜21bに電
気的接続される。
かくして、直列的に電気接続された各発電区域a’wc
を有する光起電力装置の出力は、発電区域aの第2電極
4aから延びた接続用延長部41aと発電区域Cの第1
電極2cの延出部21cが露出する該レーザー接続用開
口部5上に形成された出力端子部6cとの間から得られ
る。
次に、本発明の光起電力装置の製造方法を第1図(a)
〜(g)の各工程における平面図に基づいて説明する。
ガラス、セラミック、ステンレスの表面に絶縁処理した
基板1を洗浄、乾燥しく第1図(a))、該基板1に第
1電極形成用マスク22を覆設する(第1図(b))。
マスク22の形状は発電区域a−Cの第1電極2a〜2
C及びその接続用延長部21a〜21Cが形成される所
定形状の窓を有する。
この状態でスプレー法、プラズマCVD法、スパッタ法
等を用いて、第1電極2a〜2c及びその接続用延長部
21a〜21cとなる透明導電膜、例えば酸化錫(Sn
O□)等が被着される。この後、マスク22を外し、基
板1上に所定形状の第1電極2a〜2C及びその接続用
延長部21a〜21cが配列形成される(第1図(C)
)。
この第1電極28〜2Cが被着した基板1をプラズマC
VD法装置に投入し、グロー放電分解により、該基板1
の全面に非晶質半導体層3を被着する(第1図(d))
。
非晶質半導体153はP−1−N接合が施されている非
晶質シリコンであり、P層の形成はシラン、水素及びP
型ドープ剤としてジボランを添加した混合ガスを用いて
、基板温度150〜200℃、ガス圧1.0〜1.3T
orrに保ち、13.56MIIzの高周波電圧印加す
る。IJIはシラン、水素を、N層はシラン、水素、N
型ドープ剤としてフォスフインを添加した混合ガスを用
いて夫々被着する。非晶質半導体層3の膜厚は0.5〜
1μmである。
次に、基板1に配列した第1電極28〜2cの接続用延
長部21a〜21c上の非晶質半導体層3の一部に配列
方向に沿ってレーザー照射で直線上の接続用開口部5が
形成される(第1図(e))。この接続用開口部5は非
晶質半導体層3を貫通して、第1電極の接続用延長部2
1a〜21c及び基板1を露出する。具体的には接続用
開口部5はNd−YAGレーザー光を照射し形成する。
例えばレーザー発振のロスインチの周波数を2KHz、
 q板lに対するレーザー走査速度を100mm/se
cとする。図では接続用開口部5は直線状の溝とし”ζ
示したが、ロスインチの周波数を低くしたり、基板lに
対するレーザー走査速度を増したりし、直径20〜20
0μIの小孔を断続的に形成することも可能である。 
さらに第1電極28〜2cにダメージを与えず所定の開
口中にするためレーザーの出力、ロスインチの周波数及
びレーザー走査速度を種々に設定することも可能である
。
さらに非晶質半導体層3上に第2電極28〜2c及びそ
の接続用延長部21a〜21c 、出力用端子部6cが
形成される所定形状の窓を有する第2電極形成用マスク
42が装着される(第1図(f))。
この状態でスパッタ法、抵抗加熱法、電子ビーム法を用
いて第2TL極4a〜4c及びその接続用延長部41a
〜41c、出力用端子部6cとなる金属膜が被着される
。金属はアルミニウム、ニッケル、クロム、チタン等で
あり、その厚膜は0.4〜1μmである。
非晶質半導体N3の膜厚よりも金属膜の方が薄くても、
金属膜の被着の際、基板lを回転させれば、接続用開口
部5のエッヂ部分での接続不良は生じない。
そして、該マスク42を外し、所定形状の第2電極48
〜4c及びその接続用延長部41a〜41c、出力用端
子部6cが形成され、前記接続用開口部5を介し、発電
区域aの第1″rf極の接続用延長部21aと発電区域
すの第2電極の接続用延長部41bとが、発電区域すの
第1電極の接続用延長部21bと発電区域Cの第2電極
の接続用延長部41cとが夫々電気的に接続され、発電
区域a−cが直列接続される。
本発明によれば、実質的に接続が行われる部分は20〜
200μmの開口巾を有する接続用開口部5であるため
、第1電極の接続用延長部21a〜2bと第21極の接
続用延長部41b〜41cの巾が該接続用開口部5より
もやや大きい寸法でよく、光起電力装置の接続部分が極
めて小面積となる。
第2図(a) (b)は本発明の光起電力装置の製造方
法の他の実施例の主要工程を示す平面図である。
基板1上に矩形状の第1電極2d〜2fが配列されてい
る。第1電極2d〜2fは接続用延長部はなく、基板1
のほぼ全面に位置する様に形成される。この第1電極2
d〜2f上に連続的に連なって非晶質半導体層3が形成
されている。非晶質半導体層3には第1 TL極2d〜
2fの配列方向に断続的な直線状の接続用開口部5d〜
5fが形成される(第2図(a))。
好ましくは、接続用開口部5d〜5「は、限りがなく第
1電極2d〜2fの端部に形成し、有効受光面積を増大
させる。
そして、第2電ff14d〜4f及び接続用延長部41
e〜41f、出力端子部6fが形成される(第2図(b
))、 具体的には上述の如く第2電極形成用マスクの
操作により所定形状で形成され、発電区域「の第2電極
4fの接続用延長部41fが接続用開口部5eを介して
発電区域eの第1電極2eに接続し、発電区J−1ie
の第2を極4eの接続用延長部41eが接続用開口部5
dを介して発電区域dの第111極2dに接続し、発電
区域f−dが直列的に電気接続されるようにする。
かくして、上述の光起電力装置の出力は発電区域dの第
2電極4dの接続用延長部41dと発電区域fの第1電
極2f上の接続用開口部5fを介して接続する出力端子
部6fとの間から得られる。
上述の光起電力装置の製造方法において、接続用開口部
を断続的に設けたため、同一発電区域における第1電極
と第2?i!極とが対向し合う発電寄与部分を極めて大
きくでき、同一寸法の基板で製造した従来装置に比べ短
絡電流値が極めて向上する。
尚、上述の実施例において、第1電極に透明導電膜を、
第2電極に金属膜を夫々用いたが、第1電極に金属膜を
、第2電極に透明導電膜を用いても構わない。また、各
第1、第2電極の形状にはマスク操作をしたが、レジス
ト膜とエツチング処理により所定形状の第1、第2電極
を形成してもよい。
〔効果〕
以上、上述した様に本発明は、絶縁基板上に複数個の第
1電極を配列形成し、該複数個の第1電掻を完全に覆う
非晶質半導体層を被着し、該複数個の第1?ilt極の
配列方向に沿ってレーザー照射で非晶質半導体層を貫通
する接続用開口部を形成し、さらに非晶質半導体層上に
複数個の第2電極を形成する際、接続用開口部を介し、
隣接する第1電極と電気的接続を施す光起電力装置の製
造方法であって、非晶質半導体層がマスクなしで被着さ
れるため、該非晶質半導体層にマスクとプラズマとによ
って生じる干渉が全くなく、膜質が安定し且つ外観品質
上極めて優れた非晶質半導体層が得られ、また各発電区
域の直列接続が最低−木の接続用開口部で達成できる。
また20〜200μmの巾又は直径の接続用開口部で接
続が施され、第1及び又は第2電掻の接続用延長部の巾
も極小化できるため基板に対する有効受光面積が向上す
る。これより製造用基板から取れる光起電力装置の個数
が増加するため、1個当たりの使用原料ガス、金属等が
少なくて済み、単価が極めて安価となる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)乃至第1図(g)は本発明の光起電力装置
の製造方法の各工程を示す平面図であり、特に第1図(
g)は本発明の光起電力装置の製造方法によって製造さ
れた光起電力装置の平面図である。 第2図(a) 、 (b)は本発明の本発明の光起電力
装置の製造方法の他の実施例の主要工程のみを示す平面
図であり、特に第2図(b)はその製造方法によって製
造された光起電力装置の平面図である。 第3図(a)乃至第3図軸)は従来の光起電力装置の製
造方法の各工程を示す平面図であり、特に第3図(g)
は従来の光起電力装置の製造方法によって製造された光
起電力装置の平面図である。 1 ・・・基板 2a〜21・・・第1電極 3 ・・・非晶質半導体層 4a〜41・・・第2電掻

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 非晶質半導体層と、該非晶質半導体層を挟む第1、第2
    電極とからなる複数個の発電区域を有し、該発電区域を
    絶縁基板上に配列形成した光起電力装置の製造方法にお
    いて、 前記絶縁基板上に複数個の第1電極を形成し、該複数個
    の第1電極を覆うように非晶質半導体層を被着した後、
    該非晶質半導体層を貫通する接続用開口部を第1電極の
    配列方向に沿った直線上に配置されるように形成し、次
    いで各発電区域の起電力が直列に出力されるように非晶
    質半導体層上に複数個の第2電極を形成し、隣接する発
    電区域の第1電極を該接続用開口部を通じて電気的に接
    続したことを特徴とする光起電力装置の製造方法。
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