JPS6223996A - 銀めつき方法 - Google Patents

銀めつき方法

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JPS6223996A
JPS6223996A JP16116685A JP16116685A JPS6223996A JP S6223996 A JPS6223996 A JP S6223996A JP 16116685 A JP16116685 A JP 16116685A JP 16116685 A JP16116685 A JP 16116685A JP S6223996 A JPS6223996 A JP S6223996A
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silver
plating
copper
soln
ring
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JP16116685A
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Yasuo Mori
康夫 森
Riichi Okubo
利一 大久保
Shunichi Kasai
笠井 俊一
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Eneos Corp
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Nippon Mining Co Ltd
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  • Electroplating And Plating Baths Therefor (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、銅、銅合金、銅めっき基材等銀より卑な金属
から成る基材表面の釦めつき方法に関するものであり、
特にはリードフレームを代表とする各挿置子部品材料の
高速部分銀めっきプロセスに有用な銀めっき方法に関す
る。
発明の背景 最近では、笥、子部品材料に銀めっきを施すとき、高速
部分めっきを行うことが多い。この方法において用いら
れる銀めっき液は銀濃度が非常に高いことを特徴とする
。このように銀濃度の高いめっき液に銀より卑な金属、
例えば銅、銅合金、42合金等から成る基材或いは銅等
を表面にめっきした基材を浸漬すると、浸漬しただけで
鎖が大量に置換析出してしまう。この置換析出帳層は基
材に対する密着性がきわめて悪いため、この上に銀を電
気めっきしても密着性は悪いま丁゛であり、従ってめっ
き皮膜の剥れを生じたり或い番:1加熱時にふくれや俊
色を生ずる結果をw−第6゜要1−れば、前換析出銀各
まその後の電気、銀めっき皮膜の密着不良の原因となる
。また、髪渣時の置換析出により基材のめつき不要部分
も銀で被覆され”(し甲うたぬ、高価格な銀の損失とな
る。更には、めっき液が置換反応を4丁よって溶出し7
た錆等の卑金属c))・イオ゛・k’−より汚染さ第1
る。
従来、銀の置換析出をfl’j 1f−iZ・ため&4
−1幾、棹かの鎖置挟析出防止剤が提唱された。例えば
、メルカプタン化合物(特公昭5B−55237号、特
開WA57−43995号)やジチオカAバミン酔、チ
オセミカルバジド(特公昭59−15994−54、特
開昭57−140091号)等を含むめ″つ^−液或い
は前処理液が提案されている。−F、記特公昭58〜5
5237@はメルカプタン化合物としでチオ乳酸やチオ
リンゴ酸を推奨しているが、これらは悲臭を有する一ト
一に、銅イAンなどを含み高温で使用されるめ”つき液
で使用した場合でも常温での前処理液とし1使用した場
合でもy、化しや達く、銀の置換析出否・防dt fる
効果が経時的←−二消失しや4゛いという欠点を一有し
゛しいる。−鮫に不安5.t!/、f:1!を挟析出抑
制剤11常渇C使用し、−■で)効果が低下し。
た場合に液の史数が容昂な前処理液と1.2て使Jfl
する力が有利でよ・る、[−記程開1ぐ4sy−・45
995壮が開示する環状杉゛に直接結合したメルカプト
基を有する芳香族ま介−しt複素環化音物並びド−)−
記ジザオカルバミン醗及び・ブA−セミカルバジドは、
7リーσ)シアン化物())濃度が高い銀めつ1S液中
1・3−添加した場・a叡″目銀の置換析出をl(/j
 、dすることか出来るが、7リーのシアン化物濃度!
バー1分低くなっている高速銀めっき液中では沈殿物を
生ぜLめ、IJ換析出牙1υ口1mする効嚇を・持たt
〔い。これら化合物全前処理液としr IfJいた場合
も1.T、 it ;>置換析出1丁11制剤は素材表
面に吸着しTめ−)き液中トー持ち込ツ:t【るのて同
様1二沈殿が生じてし4・う。尚、何i−1′する【、
−5高市流密Iσで行われる高速銀め〕2!′浴(、“
おいて7リーのシアン化Thi%1度が十分低くなつ一
ζ−いることは、リーp−J−ル(LesRoiial
 )社やエンゲルハード(Engelhard )  
社のレポートや米国特許2ilS4.024,051号
及び4.15 s、a 1y+1i等に開示されている
とおりである。高フリーシアンめっき液は多くの点で高
速めつき4.m 4f+適である。
こうし7た状況←二おいて本発明者等は、置換抑制効果
の安定性が優れまた従来浴の欠点を一有しない高速釦め
つき液と(7,て、 なるチオウレイ[ン基を境内に含む塊状化合物を・添加
した高速銀めっき液か提唱した(特[1旧J[4s c
;r−232288号)。更に、f:、配化合物(4目
)1:処理液として使用しても効果的であることもその
拶判明(、また。こうし7ためつき液或いは前処1jI
l液は置挨抑骸1効呆の安定性昏こ優れ、次のような釉
性牙持つ:(i)  各種金属材粕(銅、組合金、42
合金等)へ、安定した銀め′つきかできる。94にリー
ド7トームへの高速釦めつきにおいで、すぐむた相性の
め・つぎ皮膜が得られ4・。
(1得 銅材など1、一対する釦のM挟析出尺I(れ\
を・防止す“る効果がずぐれ、かつ効果が安什゛シ、で
持続寅る結果、銀の置換消耗が少tt<、めっき皮II
々の状態も−・定している。
(3)  広い範囲U−1m流密度でめつき操果ができ
る。
浴温度65°(゛、クズA1部σ)液流・沖(S ?1
f/@の条件1おいて50・〜200A、”dm”の陰
極電流密度でめっきが可能である。
(4)  pH砂衝能力が大きい。、 (5)耐熱性にすぐれた銀めっき皮膜がf■られる。
(61添加剤の効果が安定し゛(持続するかc)、め−
)き浴の常時活性炭枳理は必要でない71.Cハため、
添加剤の消耗や部分の損失が/シ)’l < ”’(−
4−む。
発明が解決しようとする即題点 し、か1.7ながら、@挟抑制AIl介・111すI・
’ai! ?& !ごおいて用いる場合とめ−)、N液
(−おいで#t■い・Sν♂合とで比較すると、置換抑
制剤をめ−)ぎ液で使71目2.た場合、累材がめつき
液&、−9漬さ壜1.、六一時点か(−、tilt換抑
制剤が動くまCの非常&−匂い時yil &、−::お
いむJlずか1銀が置換析出)゛る欠点が紹め第2)れ
ト)、千れに対し1′C2置換抑制剤を前処理液として
使用した場合、前処理液が漬後の累月のめ・つき液での
銀の置換析出抑制効果が、めっき液(゛−浸漬する時間
も一比例しで低下する欠点が認められる。すなわち、素
材に吸着しまた1a換析出抑制剤の経時的な脱落が生じ
るaさら1は、近時採用されることの多い高速部分銀め
っきにおいて前処理方式による場合に新たな問題がクロ
ーズアップされるよう&Jなった。それは、めっき不要
部分・\の弱電、流klよる銀の@極析出の問題である
。
詳しくは、高速釦めっきは、釦のイj゛効利用の点から
部分めっきされることが多い。第1図はり一ド7レ−ム
の一部を示すが、四角斜綜部分のみがめっきさ゛れる。
四角U)外側のめつき不要部分はめつき液と接触しない
よう被覆される。これは、例えば、めっき必要部分に対
応する穴のあいたシリコンゴム板を素材の両方からはさ
みつけ、該ゴム板をめっき中−fムチユーズを膨ませる
ことにより素材に密着させる方式において行われている
。ゴムチューブはエアプレス等によって所要時作動する
。こうしで、めっき必要部分のみに液を循環してそこに
銀を■■気的に析出させる。L7かし、実際のめつき操
業においては、被覆の弱い部分が必らず生ずることから
めつき不要部分への液のし1.み出しを完全に防ぐこと
ができないだめ、第1図の四角杉の周辺にめっき液が漏
入する。通電後、漏液部には弱電流が流わる。このため
、漏液部分での弱電流による銀の陰極析出という現象が
発生ずるのである。
このめっき不要部分への弱電1流による銀の陰極析出問
題は、これまでは、置換析出の抑制が十分に行いえなか
ったためその影に隠れて顕在化しなかった問題であり、
前記チオウレイレン基を含む環状化合物という向1−せ
る置換抑制効果を有する置換抑制剤の使用によって始め
て明確に認識されるようになったのである。この漏液部
分での銀の陰極析出は、前記1N換析出と同様釦のロス
となるだけでなく、めっき不要部に銀が析着するため製
品不良につながる場合がある。精度の高い部分めっきを
行いそしてめっきの信頼性の向−Lの為に、この問題は
ぜひとも解決されねばならない。
置換抑制剤をめっき液中C添加する場合ト−はこのめっ
き不要部分への弱電流による釦陰極析出の問題は回避さ
れるか、こんどは前述したような素材をめっき液に浸漬
した直後の短時間の@換析出が起る。
斯様に、チオウレイレン基を環内L aむ環状化合物を
置換抑制剤として使用する銀めつき方法は非常に優れた
ものであるが、高速部分銀めっきにおいては、 t 置換抑制剤をめっき液に添加する方式では素材浸漬
直後の短時間の首挟析出 2、 置換抑制剤を前処理液として使用する方式ではめ
つぎ不要部分へσ)弱[流による銀の陰極析出ざらに−
は前処理液浸漬後の素材をめっき液に浸漬した場合の経
時的な銀の置換析出抑制効果の低下 という2つの問題に直面する。
問題点を解決するための手段 本発明者等はこれら問題を解決すべく鋭意検創した結果
、チオウレイレン基を環内に′−含む環状化合物を銀I
g置換析出抑制剤じて前処理液及びめっき液の両方に使
用し、素材全当該前処理液に浸漬後当該めっき液でめっ
き全行うことにより、前記1及び2の問題が解決されう
ろことを見出した。
該環状化合物を含む前処理液に浸漬後、通常のめっき液
(即ち該環状化合物を含まない)でめっきを行なった場
合に、漏液部分に弱電流による陰極析出が起るのは、め
っき液中に該化合物が含まれていないことから、漏液部
に少しでも鎖が析出するとその部分の陰極析出抑制効果
が消失することに起因することが判明し、めっき液にも
該化合物を添加しまたものを用い′〔めつきを行・)こ
とにより、めっき不要部分への弱電流トニよる銀の陰極
析出を防止することに成功したものである。めっき液中
に汐加したチオウレイレン基を環内に含む環状化合物は
、その本来の置換抑制の機能に加えて、陰極析出抑制効
果■・も有するのである。ざらには、めっき液中にも置
換析出抑制剤が存在することから、前処理液浸漬後の素
材?めっき液に浸漬した場合に生じる置換抑制効果の経
時的な低下を防止できる様になった。他方、前処理液に
浸漬(、て累Hに吸着した置換析出抑制剤は、めっき液
と素Iイとの接触のトを間からその1w換析出抑制機R
1コを有効に発揮゛することから、前述したような弄−
44をめっき液に浸漬【また7M後の知時間の置換析出
4防11−できる。
このようGこ、本発明は、前処理液或い目めっき液いず
れか単独での置換相聞抑制剤の使用かr)由来する問題
を両者で併用すること&Jよって解決1゜かものである
。M換析出抑制剤はいずれか一方で使用するというのが
従来からの定着し7た考ネであり、こうした既製の概?
0:を否定することにJ、って本発明が成立したのであ
る。
斯くして、本発明4;t 、銅、銅合金、銅め°つき基
本イ等銀よりヤな金属から成る基材表面に銀を−めっき
する方法であって、 で表わされろチオウレイレン基を環内に酋む環状化合物
を九イfする前処理液に基材を浸漬し、次いで肋、化合
物を5冶オる銀め・つき液(・−おい′イー銀軍恒。
めっきを行うことも・特徴と′4る銀め′−)声方法I
i−私j供する。
前処〃11液とめつt−液τ使nl“4る■−記化合物
は必ずしも同一である必娶はない。
発明の詳細な説明 本発明し−用いられる で表わされるチA吟iイレン基捲環内1含む環状化合物
(以1当該化合物という)の)もでも環が5員環舊′た
は6員環であり、−ft、で環の仙の構成原子がCまた
!4Nである化合物がネ′Iに銀の損゛換析出を防止す
る効果が優!]て↓3す、代表的なものノニして2−イ
ミダゾリジンチメン、2−(iバzt−t”ツル酸、1
−フゴニA= −2−テトラゾリン−5−チオンまt−
はこオ1.らの誘導体が挙げられる。当該化合物の銀の
置換析出を肪止す不効里はさゎめτ高<、シかも悪旋牙
有さず、CuイAンの存在化1おいても効果を消失1.
1:、 <ぃ。舊た、ツリーのシアン化物濃度が十分低
い高速釦めっき液中トニ添加しても沈殿を生じない。こ
れらの化合物(4、通常のフリーのシアン化物濃度が十
分低い高速釦めつき液中にごく少量の存在で十分な効果
を発揮する。更に、当該環状化合物は、チオン基の両側
も二N原子が付いていること、さらに環状となってし・
ることで、高速めつきを・行う場・合の高温、高流速、
高電流密度という厳しい条件下でも分解されにくく、安
定化されている。チオウレイレン基を有していても環状
でない化合物や、環状であってもチオン基の両側共にN
原子が伺いていない化合物では、高速めつきが行われる
条件下ではり)解し易い。
R,S  1(。
るチオウレイレン基を含む環状化合物で、I7かも環が
5員環または6員環であり、そして、環の他の構成原子
がCまたはNである化合物が特シー安定である。
本発明が特に対象とする被めっき拐は銅、銅合金、銅め
っき基拐等銀より卑な金属表面を有する、各揮箪1部品
材刺゛である6従来金めっきが多用されてきたTff子
部品Gごついてコスト削減[il的で銀めっきへの転換
が進められ(おり、その代表fA口」半導体用リ−ドツ
ト・−ムである。
本発明a=従λば、素1(at、−、涜液脱11d1電
解脱脂、ト洗い、水沈、、必要r応じ鋼溶に゛よるスト
ライクめっきを含む予備如、理後、前研、理液による前
炉1理(プリディップ)を9目る。
本発明で使用する前処用1f&は、当該原状化合物が溶
Ml、得る水性あるいはアルニト−ル性の溶液であれば
よいが、シアンアルカリ性である銀め1)き液への液の
持ち込み谷−考慮4ると、通%cKOH1たはNi0)
IO1〜209/i  程度のフル力り牲の溶液を用い
ることが猜ましい。i′1= 、めっき液の璽導垣とし
、て使用されるリン酸のカリ9ム坦、トカ酊等ざらには
、当業者に周知の界面活性剤などの添加を拒むものでは
ない。この前処理液中の当該環状化合物の自有蓋はn、
oi〜21) 77/l  で十分な効果が得られるが
、通常1:t o、 111/l以上が望ましい。
前炉、理は、基H谷・上記前処理液に6・−・50秒と
いった適宜の時間浸漬りるだし1でよい。基材表面に上
記化合物が吸着jる。
前処理什の霜々4’ 6.j、 、、その後、銀め1〕
さ王稈伍−V行さオ)るが、この前に処理J−銀めつき
σ)間に水洗工程を・入れ℃もj、いが、水洗を省略し
て前処理後伯ちド銀めつき68施しても全く問題はない
。
部分めっきの場(S、、基材はめつき必要部分以11の
めつき不要部分は\スギレグされる。マスキングはめ−
)き必要部分P目安のあいた例えばシリ;ノンゴム板を
使用しで行われる。めっき時間のみ、このシリコンゴム
板を別に設:・多られたづコープを膨が反させることト
ニよってシリコンゴム板i−M拐i=密着さ刊る。ナフ
ープの膨張はエアーブ1.ス等で加圧ず゛ることによつ
で行われる。
本発明で使用する品速銀めつぎ液は、銀塩と[。
てシアン化銀アルカリt−a有jる。シアン化銀γA・
カリとじて(ま、シアン化銀ナトリウムも用い得るが、
一般←ニジ゛γン化銀カリウムが最良である。
銀濃度としては、I Q Og/l 以下でト1つフリ
ー。
17′)シアン化物の濃度は10jl/i以−トが好狐
〜しい。
また、液のpIi級Ii性と電気伝導性を付Pi、−d
るIめ、リシ酊、ビロリン酸、クゴン酸のアルカリ金属
地を6イj゛4る。また、ホゆ酊などのpii級衝塩も
−さらKfu :Aてもよい。
本発明の高速eIZめ′つき番Jt通當0装釘を・JF
!い、)n1常の高速めつ紅11・うと台−ハ条件で実
施され得る。。
個えは、銀塩σ〕濃度は鎚2して50へ一8097t。
簡ff、Aは40〜・80°り〕、↑Jt流蜜)9”は
20〜200A/ drn” 、液のp II [;i
 7. S ” ?−Oti+間で実施さ第1る。こσ
)ような条件で適当な流剥どく!高速めつき谷行うと、
得ら11る欽めつき皮膜1.i密清牲がよく、均一、平
滑で、硬度も低く、箱、子部品用σ]銀めつ3−とじで
は最適のものである。もし、光沢の高いめっき皮膜を得
たい場合は、セレン化合物を流加4゛ればよい。まスー
、使用者σ)目的に応じでアンチ七ン化合物、EりTA
、その他の界面活性剤など当業者に公知の成分な旅加し
、めっきの皮膜の作個やめつき条件1改めることを拒む
ものではない。
銀め−)5液−・の」二組化合物の添加L1は一般トニ
めつき液に対し0.019/l 11上、好H−シ、〈
は0.01〜D、5fl/lが好適である。素$4’ 
cJ−ii既に前処理により該4F合物が吸着している
ので、従来のよう1めっき液単独に該化合物を添加し1
・−場合より添加扇げ少くてすむ。
来極例ぺq−月21例 リードフ1/−ム用打抜き集材4・通常0)め1〕きプ
ロセス←−従い、浸漬脱脂、市解脱脂人び耐N渣を経た
後嗣ストライクめっきによって銅を06μmのJlざす
でめっき[1,た。水洗後、次の組成4及び条件で前処
理を行った; 前処31j液 前処理条件 ・前処理液液m30’C 9浸漬詩間          10秒次いで、次のめ
つき液とめつき条件の下で高速部分銀めっきを行った: めっき液 めっき条件 めっき不要部分への弱電流レ−よる銀の陰極析出の抑制
状況4・陰線IE (電流電位)曲線の測宇と目視によ
るめっき状態の観察で計価し、併せてめっき必要部分の
銀析出状a苔・も観察した。IE凹曲線測庁は、液組成
や添加剤G、Tよる液の1!l気化学的特性の違いを把
握するため一般に使用されているものであり、ここでは
糎換抑制剤による銀の弱電流部での隘極析出抑制効果を
みるために、アノ−ニードとしてめっきの除用いる白金
線を使用し2て銀/fM化釦標準電極基唱で負−二電位
を増加してい−)た場合の各電位での電流値が測定され
た。ヤンプルとし′Cは、次の3種のものを用意した:
キ溌明サシプル  6         有     
  有2    12   非常に薄く銀析出 非常に
薄く銀析出3    #  3  銀析出なし    
銀析出〆1陰極IE曲線!xt ff1I線1.2及び
6の順に一定市位での電流値が小さくなる。即ち弱電流
が流れをこくくなることを示している。これ!1、この
順で弱電流での銭の陰極析出抑制効果が強くなることを
意味する。
実施例2 2−チオバルビツール酸ど1−7′□Lニル−2−テト
ラゾリン−5−チオンについても実施例1と同様KI 
L T−試験したが、同様の評価結束であ−)た。
発明の効果 不発明番ま、置換抑制剤の性能の向りに伴い顕在化りま
た、菌液部での弱電流、にJ:る銀の陰極析出した間珈
な、従来からの浸漬直後の宋材上へ、f71鋏σ)置換
析出という問題と併せて同時的に解決することに成功し
5たものであり、これにより高価な銀の11人1回避し
、精度の高い高速部分銀めっきを・可能ならしめたもの
であり、重子工業界に貢献するところ大である。
【図面の簡単な説明】
第1図をま、本発明の用逮の一つとしてリ ドフレーム
の部分めっき必要部分を例示する。 ff12図は、実施例及び谷考例と関連しての陰極IE
曲線である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)銅、銅合金、銅めつき基材等銀より卑な金属から成
    る基材表面に銀をめつきする方法であつて、▲数式、化
    学式、表等があります▼(R_1、R_2は水素または
    アルキル基またはアリル基) で表わされるチオウレイレン基を環内に含む環状化合物
    を含有する前処理液に基材を浸漬し、次いで該化合物を
    含有する銀めつき液において銀電気めつきを行うことを
    特徴とする銀めつき方法。 2)チオウレイレン基を環内に含む環状化合物は、環が
    5員環または6員環であり、環の他の構成原子がCまた
    はNである特許請求の範囲第1項記載の銀めつき方法。 3)チオウレイレン基を環内に含む環状化合物は、2−
    イミダゾリジンチオン、2−チオバルビツール酸、1−
    フェニル−2−テトラゾリン−5−チオンまたはこれら
    の誘導体である特許請求の範囲第2項記載の銀めつき方
    法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104195613A (zh) * 2014-09-01 2014-12-10 张庆广 一种镀银的铜线及其用于加工碳纤维发热电缆电极的方法

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JPS59232288A (ja) * 1983-06-14 1984-12-27 Nippon Mining Co Ltd 高速銀めつき液

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