JPS6224176A - マ−ク検出装置 - Google Patents
マ−ク検出装置Info
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- JPS6224176A JPS6224176A JP60164297A JP16429785A JPS6224176A JP S6224176 A JPS6224176 A JP S6224176A JP 60164297 A JP60164297 A JP 60164297A JP 16429785 A JP16429785 A JP 16429785A JP S6224176 A JPS6224176 A JP S6224176A
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- Pending
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- 230000003321 amplification Effects 0.000 abstract 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 abstract 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 10
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 10
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、被検出対象物、たとえばアキシャルリード
型半導体素子の樹脂モールド本体部に施された極性を示
すマークの有無を検出するためのマーク検出1affに
関するものである。
型半導体素子の樹脂モールド本体部に施された極性を示
すマークの有無を検出するためのマーク検出1affに
関するものである。
[従来の技術]
アキシャルリード型半導体素子、たとえばダイオード素
子では、そのアノード側とカソード側を区別するために
ダイオード素子の樹脂モールド本体部のいずれかの端部
に極性表示用マークをマーキング機械等により施してい
る。この極性表示用マークがダイオード素子の内部極性
を正しく表示するように印刷されているか否かを一般に
マーキング工程後に検査している。
子では、そのアノード側とカソード側を区別するために
ダイオード素子の樹脂モールド本体部のいずれかの端部
に極性表示用マークをマーキング機械等により施してい
る。この極性表示用マークがダイオード素子の内部極性
を正しく表示するように印刷されているか否かを一般に
マーキング工程後に検査している。
すなわら、第3図に示すように多数のダイオード素子(
1)が前工程で電気的特性が検査され、アノード側、あ
るいはカソード側が一方向に揃えられ、樹脂モールド本
体部の所定の位置に極性表示用マークが施された後、移
送装置(2)により移送されて来る。この移送されて来
たダイオード素子(1)のマーク位rIi(1a)に対
向して第3図(b)に示すように、光ファイバ(3)の
一端がその直上の近接位置に配置され、分枝部を有する
一方の他端から図示を省略した光源からの光を入射し、
分校部の他方の他端から樹脂モールド本体部からの反射
光を受けるように構成されている。
1)が前工程で電気的特性が検査され、アノード側、あ
るいはカソード側が一方向に揃えられ、樹脂モールド本
体部の所定の位置に極性表示用マークが施された後、移
送装置(2)により移送されて来る。この移送されて来
たダイオード素子(1)のマーク位rIi(1a)に対
向して第3図(b)に示すように、光ファイバ(3)の
一端がその直上の近接位置に配置され、分枝部を有する
一方の他端から図示を省略した光源からの光を入射し、
分校部の他方の他端から樹脂モールド本体部からの反射
光を受けるように構成されている。
上記の光ファイバ(3)は、細径の多数の芯線から成り
、芯線の約半数を入射光用、残りの半数を反射光用とし
ている。
、芯線の約半数を入射光用、残りの半数を反射光用とし
ている。
また、反射光を受ける光ファイバ(3)は、図示を省略
したフォトセンサに接続され、このフォトセンサは、検
出器に接続されている。
したフォトセンサに接続され、このフォトセンサは、検
出器に接続されている。
そこで、光ファイバ(3)の直下に移送されて来たダイ
オード素子(1)の極性表示用マークが印刷されている
位置に光ファイバ(3)を介して光源から光を送り、そ
の反射光を受けてフォトセンサ、検出器により、あらか
じめ設定して置いた光のレベル、ずなわら、所定位置に
極性表示用マークがある場合の反射光の受光レベルと比
較し、たとえば第3図(a )に示すように、ダイオー
ド素子(1)の(イ)、(ロ)、(ハ)、(ニ)および
(ホ)のうちで、何等かの原因で(ハ)に示すように他
と逆方向のものが混入している場合に、極性表示用マー
クがないために反射光の受光レベルが異なり、これによ
り検出器から異方向であることを示す検出信号を取り出
し、この検出信号に基づいて次工程において、かかる異
方向のダイオード素子(1)を除去するようにしている
。
オード素子(1)の極性表示用マークが印刷されている
位置に光ファイバ(3)を介して光源から光を送り、そ
の反射光を受けてフォトセンサ、検出器により、あらか
じめ設定して置いた光のレベル、ずなわら、所定位置に
極性表示用マークがある場合の反射光の受光レベルと比
較し、たとえば第3図(a )に示すように、ダイオー
ド素子(1)の(イ)、(ロ)、(ハ)、(ニ)および
(ホ)のうちで、何等かの原因で(ハ)に示すように他
と逆方向のものが混入している場合に、極性表示用マー
クがないために反射光の受光レベルが異なり、これによ
り検出器から異方向であることを示す検出信号を取り出
し、この検出信号に基づいて次工程において、かかる異
方向のダイオード素子(1)を除去するようにしている
。
[発明が解決しようとする問題点]
従来のマーク検出装置は、以上のように構成されている
ので、次のような問題点がある。
ので、次のような問題点がある。
■ ダイオード素子等の被検出対象物のマークの有無を
検出すべき所定の位置に正確に光の照射を行うこと、お
よび被検出対象物からの反射光を確実に受光するために
、光ファイバ(3)の先端部を被検出対象物の直近の位
置、すなわち、被検出対象物の表面から1〜3姻離れた
位置に設定しなければならず、かかる場合に樹脂モール
ド本体部から突出しているリード線が輿っ直ぐの場合は
よいが、種々の工程を経る内にリード線の曲がりが生じ
た場合、樹脂モールド本体部と光ファイバ(3)とが衝
突したり、あるいは逆に、距離が離れすぎたりして被検
出対象物の表面からの反射光を充分受光できなくなる等
の問題点がある。
検出すべき所定の位置に正確に光の照射を行うこと、お
よび被検出対象物からの反射光を確実に受光するために
、光ファイバ(3)の先端部を被検出対象物の直近の位
置、すなわち、被検出対象物の表面から1〜3姻離れた
位置に設定しなければならず、かかる場合に樹脂モール
ド本体部から突出しているリード線が輿っ直ぐの場合は
よいが、種々の工程を経る内にリード線の曲がりが生じ
た場合、樹脂モールド本体部と光ファイバ(3)とが衝
突したり、あるいは逆に、距離が離れすぎたりして被検
出対象物の表面からの反射光を充分受光できなくなる等
の問題点がある。
■ 極性表示用マークのインキの色によって反射光の光
量が異なり、検出精度を上げるためには検査ロット単位
毎に受光レベルの調整を必要とし、そのため工数がかか
り、非能率的であるという問題点がある。
量が異なり、検出精度を上げるためには検査ロット単位
毎に受光レベルの調整を必要とし、そのため工数がかか
り、非能率的であるという問題点がある。
■ 反射光の光mが非常に少ない色の場合、受光レベル
の感度を高く設定Jる必要があり、この場合にはノイズ
による誤動作が発生しやすいという問題点がある。
の感度を高く設定Jる必要があり、この場合にはノイズ
による誤動作が発生しやすいという問題点がある。
[発明の目的]
この発明は、以上のような問題点を解決するためになさ
れたもので、被検出対象物のリード線の曲がりや、イン
キの色による反射光Rの差等に影響されることなく、精
度良く、確実に極性表示用マーク等の所定位置でのマー
クの有無を検出し得るマーク検出装置を提供することを
「1的とするものである。
れたもので、被検出対象物のリード線の曲がりや、イン
キの色による反射光Rの差等に影響されることなく、精
度良く、確実に極性表示用マーク等の所定位置でのマー
クの有無を検出し得るマーク検出装置を提供することを
「1的とするものである。
[問題点を解決するための手段]
この発明にかかるマーク検出装置は、被検出対象物の表
面に施されたマークの色彩の濃淡による反射光の光量に
影響されることのないように、マークの施された部分と
、マークの施されない部分とにそれぞれ光を当てる2つ
の光源と、これらの光源によるそれぞれの部分からの反
射光を受光するための2つのフォトセンサと、このフォ
トセン1すの出力から所定位置でのマークの有無を検出
づる手段を設けたものである。
面に施されたマークの色彩の濃淡による反射光の光量に
影響されることのないように、マークの施された部分と
、マークの施されない部分とにそれぞれ光を当てる2つ
の光源と、これらの光源によるそれぞれの部分からの反
射光を受光するための2つのフォトセンサと、このフォ
トセン1すの出力から所定位置でのマークの有無を検出
づる手段を設けたものである。
[作 用]
この発明においては、2つの光源からそれぞれ被検出対
象物の所定の位置に入射光を当て、そ゛の反射光を2つ
のフォトセンサでそれぞれ受光し、このフォトセンサの
出力差を電気信号に変換して所定位置でのマークの有無
を検出する。
象物の所定の位置に入射光を当て、そ゛の反射光を2つ
のフォトセンサでそれぞれ受光し、このフォトセンサの
出力差を電気信号に変換して所定位置でのマークの有無
を検出する。
[実施例]
第1図はこの発明の一実施例によるマーク検出装置の構
成図である。
成図である。
図において、(4)、(5)は被検出対象物、たとえば
ダイオード素子(1)の樹脂モールド本体部の所定の位
置に光を照射するための第1光源および第2光源、<6
)、(7)、(8)は対物レンズ、(9)は第1光源(
4)からの反射光を受光する第1フォトセンサ、(10
)は第2光源(5)からの反射光を受光する第27オト
セン勺である。
ダイオード素子(1)の樹脂モールド本体部の所定の位
置に光を照射するための第1光源および第2光源、<6
)、(7)、(8)は対物レンズ、(9)は第1光源(
4)からの反射光を受光する第1フォトセンサ、(10
)は第2光源(5)からの反射光を受光する第27オト
セン勺である。
(11)は指標用光源であって、光ファイバ(12)を
介してダイオード素子(1)のリードn (1b)。
介してダイオード素子(1)のリードn (1b)。
(1b)の所定位置をスポット状に照射し、当該両スポ
ット間にダイオード素子(1)の樹脂モールド本体部に
入るように検出装置全体の位置決めするためのものであ
る。
ット間にダイオード素子(1)の樹脂モールド本体部に
入るように検出装置全体の位置決めするためのものであ
る。
第2図は第1フォトセンサ(9)、第2フォトセンサ(
10)で受光した反射光に基づき、受光徂の差を検出し
てマークの有無を判定するための回路例を示ずブロック
図である。
10)で受光した反射光に基づき、受光徂の差を検出し
てマークの有無を判定するための回路例を示ずブロック
図である。
図において、(13)は抵抗R+ 、R2、R3。
R4、可変抵抗R5、オペアンプO−P等から成るマー
ク検出手段であり、第1フォトセンサ(9)、第2フォ
トセンサ(10)で受光した反射光を電流に変換してオ
ペアンプO−Pに入力し、電圧の差として端子(14)
より出力信号を取り出す。
ク検出手段であり、第1フォトセンサ(9)、第2フォ
トセンサ(10)で受光した反射光を電流に変換してオ
ペアンプO−Pに入力し、電圧の差として端子(14)
より出力信号を取り出す。
次に上記構成の動作について説明する。
まず、指標用光源(11)を基準に位置決めされた検出
装置からダイオード素子(1)に対して、第1光源(4
)からの光は、対物レンズ(6)を介してそのダイオー
ド素子(1)のマークの無い一方の端部を照射し、端部
表面からの反射光は、樹脂モールド本体部の直上に配置
された対物レンズ(8)を介して第1フォトセンサ(9
)に導かれる。、 一方、第2光1!<5)からの光は、対物レンズ(7)
を介してそのダイオード素子(1)のマークのある、す
なわち極性表示用マーク(1a)のある他方の端部を照
射し、その端部表面からの反射光は、同じく樹脂モール
ド本体部の直上に配置された対物レンズ(8)を介して
第2フォトセンサ(10)に導かれる。この場合、極性
表示用マーク(1a)の無い部分からの反射光の光mと
極性表示用マーク(1a)のある部分からの反射光の光
量とを比較した場合、両者に光量の差があり、たとえば
黒色に近い地色に対して、白色の極性表示用マーク(’
Ia)が施されている場合には、白色の極性表示用マー
ク(1a)からの反射光の光量の方が地色からの反射光
の光量より多くなる。
装置からダイオード素子(1)に対して、第1光源(4
)からの光は、対物レンズ(6)を介してそのダイオー
ド素子(1)のマークの無い一方の端部を照射し、端部
表面からの反射光は、樹脂モールド本体部の直上に配置
された対物レンズ(8)を介して第1フォトセンサ(9
)に導かれる。、 一方、第2光1!<5)からの光は、対物レンズ(7)
を介してそのダイオード素子(1)のマークのある、す
なわち極性表示用マーク(1a)のある他方の端部を照
射し、その端部表面からの反射光は、同じく樹脂モール
ド本体部の直上に配置された対物レンズ(8)を介して
第2フォトセンサ(10)に導かれる。この場合、極性
表示用マーク(1a)の無い部分からの反射光の光mと
極性表示用マーク(1a)のある部分からの反射光の光
量とを比較した場合、両者に光量の差があり、たとえば
黒色に近い地色に対して、白色の極性表示用マーク(’
Ia)が施されている場合には、白色の極性表示用マー
ク(1a)からの反射光の光量の方が地色からの反射光
の光量より多くなる。
したがって、第1フオトセンナ(9)および第2フォト
センサ(10)で受光した入射光の差を電流に変換して
オペアンプO−Pに入力し、オペアンプO−Pで増幅し
て電圧の差として取り出し、この出力信号によりあらか
じめ定められた方向と異なる方向のダイオード素子(1
)を図示を省略した除去装置により移送装置外へ排除す
る。
センサ(10)で受光した入射光の差を電流に変換して
オペアンプO−Pに入力し、オペアンプO−Pで増幅し
て電圧の差として取り出し、この出力信号によりあらか
じめ定められた方向と異なる方向のダイオード素子(1
)を図示を省略した除去装置により移送装置外へ排除す
る。
なお、第2図における基準電圧子■cc、 −Vccは
、可変抵抗R5によりあらかじめ所定値に調整して置く
。
、可変抵抗R5によりあらかじめ所定値に調整して置く
。
また、上記の実施例では、被検出対象物としてアキシャ
ルリード型のダイオード素子について説明したが、勿論
、これに限定されるものではなく、広く所定位置におけ
るマークの有無検出装置とし。
ルリード型のダイオード素子について説明したが、勿論
、これに限定されるものではなく、広く所定位置におけ
るマークの有無検出装置とし。
で利用することができる。
[発明の効果]
以上のように、この発明によれば、2つの光源と2つの
フォトセンサとを揃え、被検出対象物の換してマークの
有無を検出し得るようにしたので、従来のようにマーク
の色彩によって各0ツト毎に検出感度を調整する等の必
要がなく、また、従来の光ファイバのように被検出対象
物の直近に光検出器の構成部品を配置する必要がないの
で、リード線の曲がりによる影響を受けるおそれもない
等の効果がある。
フォトセンサとを揃え、被検出対象物の換してマークの
有無を検出し得るようにしたので、従来のようにマーク
の色彩によって各0ツト毎に検出感度を調整する等の必
要がなく、また、従来の光ファイバのように被検出対象
物の直近に光検出器の構成部品を配置する必要がないの
で、リード線の曲がりによる影響を受けるおそれもない
等の効果がある。
第1図はこの発明の一実施例によるマーク検出装置の構
成図、第2図は上記マーク検出装置のマ−クの有無判定
のための信号取出し手段の一例を示すブロック回路図、
第3図は従来のマーク検出装置を説明するための部分構
成図であって、同図(a)はその斜視図、同図(b)は
その検出部を示す正面図である。 図において、(1)はダイオード素子(4)。 (5)は第1光源および第2光源、(6)、(7)、(
8)は対物レンズ、(9)は第1フォトセンサ、(10
)は2フォトセンサ、(13)はマーク検出手段である
。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。 出 願 人
成図、第2図は上記マーク検出装置のマ−クの有無判定
のための信号取出し手段の一例を示すブロック回路図、
第3図は従来のマーク検出装置を説明するための部分構
成図であって、同図(a)はその斜視図、同図(b)は
その検出部を示す正面図である。 図において、(1)はダイオード素子(4)。 (5)は第1光源および第2光源、(6)、(7)、(
8)は対物レンズ、(9)は第1フォトセンサ、(10
)は2フォトセンサ、(13)はマーク検出手段である
。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。 出 願 人
Claims (1)
- 極性表示用マーク等方向識別のためのマークが施された
被検出対象物上の当該マークの無い表面部分を対物レン
ズを介して照射する第1光源と、前記被検出対象物上の
当該マークのある表面部分を対物レンズを介して照射す
る第2光源と、これら第1光源および第2光源による前
記被検出対象物からの反射光を、当該被検出対象物の直
上に設けた他の対物レンズを介して受光する第1フォト
センサおよび第2フォトセンサと、これら第1フォトセ
ンサおよび第2フォトセンサにより受光された反射光を
比較し、両者の光間の差を求める手段と、この手段によ
る光量の差を電気信号に変換して出力し、被検出対象物
上の所定位置におけるマークの有無を判定する手段とを
有することを特徴とするマーク検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60164297A JPS6224176A (ja) | 1985-07-25 | 1985-07-25 | マ−ク検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60164297A JPS6224176A (ja) | 1985-07-25 | 1985-07-25 | マ−ク検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6224176A true JPS6224176A (ja) | 1987-02-02 |
Family
ID=15790436
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60164297A Pending JPS6224176A (ja) | 1985-07-25 | 1985-07-25 | マ−ク検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6224176A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50147386A (ja) * | 1974-05-15 | 1975-11-26 | ||
| JPS5883350A (ja) * | 1981-11-09 | 1983-05-19 | Nippon Shiyuuhenki Kk | 反射マ−ク検出回路 |
-
1985
- 1985-07-25 JP JP60164297A patent/JPS6224176A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50147386A (ja) * | 1974-05-15 | 1975-11-26 | ||
| JPS5883350A (ja) * | 1981-11-09 | 1983-05-19 | Nippon Shiyuuhenki Kk | 反射マ−ク検出回路 |
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