JPS62247577A - 発光ダイオ−ド - Google Patents
発光ダイオ−ドInfo
- Publication number
- JPS62247577A JPS62247577A JP61090437A JP9043786A JPS62247577A JP S62247577 A JPS62247577 A JP S62247577A JP 61090437 A JP61090437 A JP 61090437A JP 9043786 A JP9043786 A JP 9043786A JP S62247577 A JPS62247577 A JP S62247577A
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- JP
- Japan
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- emitting diode
- light emitting
- layer
- zinc selenide
- diode according
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は発光ダイオードの構造に関し、特にセレン化亜
鉛半導体を用いた高効率の青色発光ダイオードの構造に
関するものである。
鉛半導体を用いた高効率の青色発光ダイオードの構造に
関するものである。
従来の技術
■−■族化合物半導体であるセレン化亜鉛(ZnSa)
は、青色発光ダイオードの材料として有望である。従来
、このZn5eを用いた発光ダイオードとして第2図に
示すような構造の素子が考案されている〔例えばジャパ
ニーズ ジャーナルオプ アプライド フィジックス(
、rapaneseJournal of App
li6d Physics) 誌、第16巻第1号
(昭和52年)P、77−84〕。
は、青色発光ダイオードの材料として有望である。従来
、このZn5eを用いた発光ダイオードとして第2図に
示すような構造の素子が考案されている〔例えばジャパ
ニーズ ジャーナルオプ アプライド フィジックス(
、rapaneseJournal of App
li6d Physics) 誌、第16巻第1号
(昭和52年)P、77−84〕。
同図で12はN型Zn5e単結晶、13は二酸化硅素(
SiO□)からなる絶縁層、4は金属電極、6はオーム
性電極である。この素子の両電極間に、金属電極4が正
となるような電圧を印加すると、トンネル効果により金
属電極からN型Zn5e単結晶中へ正孔が注入さγし、
これが自由電子と再結合して青色の発光を生じる。
SiO□)からなる絶縁層、4は金属電極、6はオーム
性電極である。この素子の両電極間に、金属電極4が正
となるような電圧を印加すると、トンネル効果により金
属電極からN型Zn5e単結晶中へ正孔が注入さγし、
これが自由電子と再結合して青色の発光を生じる。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら上述のような従来の構成では、絶縁層の素
材がZn5eとは全く異なるため、両者を連続的に形成
することは不可能である。このため両者の界面に不純物
が堆積したり、欠陥が発生することになり、その結果注
入された正孔が有効に再結合せず、発光効率が低下する
という問題点があった。
材がZn5eとは全く異なるため、両者を連続的に形成
することは不可能である。このため両者の界面に不純物
が堆積したり、欠陥が発生することになり、その結果注
入された正孔が有効に再結合せず、発光効率が低下する
という問題点があった。
本発明はかかる点に濫みてなされたもので、高効率のZ
n S e”青色発光ダイオードを提供することを目
的としている。
n S e”青色発光ダイオードを提供することを目
的としている。
問題点を解決するだめの手段
本発明は上記問題点を解決するため、絶縁層をもZn5
a単結晶で構成し、N型Zn5e層と絶縁層を連続的に
形成し得るようにしたものである。
a単結晶で構成し、N型Zn5e層と絶縁層を連続的に
形成し得るようにしたものである。
作用
本発明は上記の手段により、N型Zn5e層と絶縁層の
界面を不純物や欠陥のない良好な状態にし、注入された
正孔を有効に発光に寄与せしめて発光効率を高めるもの
である。
界面を不純物や欠陥のない良好な状態にし、注入された
正孔を有効に発光に寄与せしめて発光効率を高めるもの
である。
実施例
以下、本発明を実施例により詳細に説明する。
第1図は、本発明による発光ダイオードの構造を模式的
に示す断面図である。同図において、1はN型砒化ガリ
ウム(GaムS)単結晶基板、2は前記基板1上にエピ
タキシャル成長させたN型Zn5e層、3はさらにその
上にエピタキシャル成長させた絶縁性Zn5e層、4は
金属電極層、6はオーム性電極である。ここで、基板に
GaAgを用いるのは、格子定数がZn5eとほぼ同一
であり、良好なZn5a単結晶層をエピタキシャル成長
させることができるためである。このエピタキシャル成
長の方法としては、例えば分子線エピタキシー法が好適
である。この場合、結晶母体原料のZn5eと共に適切
な不純物を蒸発させ、その種類を変えることによりN型
Zn5e層2と絶縁性Zn5e層3を順次連続的に成長
させることができる。またMocvn法などの気相成長
法でも不純物原料ガスを切シ換えることによシ、同様の
成長を行うことができる。ここで、N型Zn5e層に添
加する不純物としては、アルミニウム、ガリウム。
に示す断面図である。同図において、1はN型砒化ガリ
ウム(GaムS)単結晶基板、2は前記基板1上にエピ
タキシャル成長させたN型Zn5e層、3はさらにその
上にエピタキシャル成長させた絶縁性Zn5e層、4は
金属電極層、6はオーム性電極である。ここで、基板に
GaAgを用いるのは、格子定数がZn5eとほぼ同一
であり、良好なZn5a単結晶層をエピタキシャル成長
させることができるためである。このエピタキシャル成
長の方法としては、例えば分子線エピタキシー法が好適
である。この場合、結晶母体原料のZn5eと共に適切
な不純物を蒸発させ、その種類を変えることによりN型
Zn5e層2と絶縁性Zn5e層3を順次連続的に成長
させることができる。またMocvn法などの気相成長
法でも不純物原料ガスを切シ換えることによシ、同様の
成長を行うことができる。ここで、N型Zn5e層に添
加する不純物としては、アルミニウム、ガリウム。
インジウム、弗素、塩素の何れかが好適である。
このN型Zn5e層2の電子密度は高効率を得るために
、es x 1o’V crA以上とすることが望まし
い。
、es x 1o’V crA以上とすることが望まし
い。
また絶縁性znse層3は、Zn5aの原料が高純度で
あれば不純物を全く添加しなくても得られるが、窒素、
燐、砒素、リチウム、ナトリウムの何れかを添加すると
より高抵抗化し、好適である。
あれば不純物を全く添加しなくても得られるが、窒素、
燐、砒素、リチウム、ナトリウムの何れかを添加すると
より高抵抗化し、好適である。
上記N型Zn5e層2の厚さは1μm以上とすることが
望ましい。これよりも薄い場合には、結晶性の低下のた
め発光効率が低くなることがある。また絶縁性Zn5e
層3の厚さは50〜500オングストロームの範囲内に
選ぶことが望ましい。この範囲よりも薄い場合には電圧
印加時に絶縁破壊をおこすことがあり、また厚い場合に
はトンネル効果による電流が流れにくくなり、効率が低
下する。
望ましい。これよりも薄い場合には、結晶性の低下のた
め発光効率が低くなることがある。また絶縁性Zn5e
層3の厚さは50〜500オングストロームの範囲内に
選ぶことが望ましい。この範囲よりも薄い場合には電圧
印加時に絶縁破壊をおこすことがあり、また厚い場合に
はトンネル効果による電流が流れにくくなり、効率が低
下する。
なお、金属電極層4の材料としては、正孔の注入効率を
高めるためなるべく仕事関数の大きい金属が望ましく、
特に金が好適である。またその厚さは、発生した光を効
率よく外部に取り出すため、導電性を損わない範囲でな
るべく薄いことが望ましく、100〜5ooオングスト
ロームとするのが好適である。
高めるためなるべく仕事関数の大きい金属が望ましく、
特に金が好適である。またその厚さは、発生した光を効
率よく外部に取り出すため、導電性を損わない範囲でな
るべく薄いことが望ましく、100〜5ooオングスト
ロームとするのが好適である。
以上に述べた発光ダイオードの動作原理は従来例と同様
であるが、本発明の場合にはN型Zn5e層2と絶縁性
Zn5e層3が連続的にエピタキシャル成長されている
ため界面に不純物や欠陥が存在せず、金属電極層4から
注入された正孔が有効に発光に寄与し、高い発光効率が
得られることになるO 発明の効果 以上述べてきたように、本発明によれば、界面における
正孔注入効率の低下を防止し、高い発光効率を有するZ
n5e青色発光ダイオードを実現することができ、実用
的にきわめて有用である。
であるが、本発明の場合にはN型Zn5e層2と絶縁性
Zn5e層3が連続的にエピタキシャル成長されている
ため界面に不純物や欠陥が存在せず、金属電極層4から
注入された正孔が有効に発光に寄与し、高い発光効率が
得られることになるO 発明の効果 以上述べてきたように、本発明によれば、界面における
正孔注入効率の低下を防止し、高い発光効率を有するZ
n5e青色発光ダイオードを実現することができ、実用
的にきわめて有用である。
第1図は本発明の一実施例の発光ダイオードを示す断面
図、第2図は従来の発光ダイオードを示す断面図である
。 1・・・・・・N型GaAs単結晶基板、2・・・・・
・N型Zn5e層、3・・・・・絶縁性Zn5a層、4
・・・・・・金属電極層、5・・・・・オーム性電極層
、12・・・・・・N型Zn5e単結晶、13・・・・
・・5in2絶縁層。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名1〜
情’j GcLAs ?!*rak第1図 2−
、・1J4 3−・1株ヰ七54 十−−−會涜しt掻槽 S−゛χ−4扛Itn 第2図 1゜−1−99□。56細。
図、第2図は従来の発光ダイオードを示す断面図である
。 1・・・・・・N型GaAs単結晶基板、2・・・・・
・N型Zn5e層、3・・・・・絶縁性Zn5a層、4
・・・・・・金属電極層、5・・・・・オーム性電極層
、12・・・・・・N型Zn5e単結晶、13・・・・
・・5in2絶縁層。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名1〜
情’j GcLAs ?!*rak第1図 2−
、・1J4 3−・1株ヰ七54 十−−−會涜しt掻槽 S−゛χ−4扛Itn 第2図 1゜−1−99□。56細。
Claims (8)
- (1)N型砒化ガリウム単結晶基板上に順次エピタキシ
ャル成長させたN型セレン化亜鉛層及び絶縁性セレン化
亜鉛層を備え、前記絶縁性セレン化亜鉛層の表面の少く
とも一部に金属電極層を設けたことを特徴とする発光ダ
イオード。 - (2)絶縁性セレン化亜鉛層に、窒素、燐、砒素リチウ
ム、ナトリウムのうち少くとも一種が不純物として添加
されていることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
の発光ダイオード。 - (3)絶縁性セレン化亜鉛層の厚さを50乃至500オ
ングストロームとしたことを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の発光ダイオード。 - (4)N型セレン化亜鉛層に、アルミニウム、ガリウム
、インジウム、弗素、塩素のうち少くとも一種が不純物
として添加されていることを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の発光ダイオード。 - (5)N型セレン化亜鉛層の室温における電子密度を5
×10^1^6/cm^3以上としたことを特徴とする
特許請求の範囲第1項記載の発光ダイオード。 - (6)N型セレン化亜鉛層の厚さを1ミクロン以上とし
たことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の発光ダ
イオード。 - (7)金属電極層に金を用いたことを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の発光ダイオード。 - (8)金属電極層の厚さを100乃至500オングスト
ロームとしたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載の発光ダイオード。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61090437A JPS62247577A (ja) | 1986-04-18 | 1986-04-18 | 発光ダイオ−ド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61090437A JPS62247577A (ja) | 1986-04-18 | 1986-04-18 | 発光ダイオ−ド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62247577A true JPS62247577A (ja) | 1987-10-28 |
Family
ID=13998583
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61090437A Pending JPS62247577A (ja) | 1986-04-18 | 1986-04-18 | 発光ダイオ−ド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62247577A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6528395B2 (en) | 2000-04-27 | 2003-03-04 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of fabricating compound semiconductor device and apparatus for fabricating compound semiconductor device |
-
1986
- 1986-04-18 JP JP61090437A patent/JPS62247577A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6528395B2 (en) | 2000-04-27 | 2003-03-04 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of fabricating compound semiconductor device and apparatus for fabricating compound semiconductor device |
| US6815316B2 (en) | 2000-04-27 | 2004-11-09 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Apparatus for fabricating compound semiconductor device |
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