JPS62251676A - 多芯ケ−ブル試験用デ−タ作成装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は多芯ケーブル試験用データ作成装置に係り、多
芯ケーブルの導通、絶縁、耐圧試験を行うケーブルテス
ターの構成に好適する多芯ケーブル試験用データ作成装
置に関する。

〔従来の技術〕 現在、絶縁被覆した複数の芯線からなる多芯ケーブルが
通信伝送網に多用されている。

そして、この多芯ケーブルにあっては高い信頼性を確保
する観点から、各芯線の絶縁抵抗や耐圧漏れ電流を所定
の範囲内に極めて小さく抑えることが必要であるので、
予め設定した試験信号を各芯線毎に加えて絶縁抵抗や耐
圧漏れ電流を検出して絶縁特性および耐圧特性を測定し
ていた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかしながら、多芯ケーブルの絶縁特性や耐圧特性は、
芯線に用いる導線や絶縁被覆の種類、多芯ケーブルに接
続されるコネクタ等の接続状態によって大きな影響を受
けるし、多芯ケーブルが長くなれば各芯線の抵抗、イン
ダクタンスおよび芯線間のキャパシタンスもそれら絶縁
特性および耐圧特性に影響を及ぼし易く、従来のように
予め設定した同一試験信号を多芯ケーブルの各芯線に加
えて試験するだけでは各芯線毎の正確な検出結果が得ら
れず、不十分であった。

さらに、多芯ケーブルは２両端における各芯線毎の端子
組を探すことが極めて煩雑であり高い習熟度も要求され
ているので、簡単で能率の良い端子組検出手法が望まれ
ている。

本発明はこのような状況の下になされたもので。

多芯ケーブルの各芯線毎の端子組データの検出が容易で
、各芯線毎の正確な特性データも簡単に得られるととも
に、この特性データに基づいて余裕度を持たせた試験用
データが自動的に得られる多芯ケーブル試験用データ作
成装置の提供を目的とする。

〔問題点を解決するための手段〕

このような問題点を解決するために０本発明はクレーム
対応図である第１図に示すような構成を有している。

すなわち、検査信号出力手段１０１は複数の芯線を有す
る多芯ケーブル（サンプルケーブル）１００に検査信号
を切り換え出力するものである。

端子組検出手段１０２はその多芯ケーブル１００の両端
における各芯線毎の対応する端子組データを検出するも
のである。

記録手段１０３はその端子組検出手段１０２からの各端
子組データを見出し項目として記録するとともにこれら
各端子組データ毎にデータ記録領域を有している。

第１の時間測定手段１０４は、上記検査信号出力時から
各端子組データが出力されるまでの各々の時間を測定し
、記録手段１０３のデータ記録領域へ各端子組データ毎
に対応させてそれら各測定時間を記録するものである。

特性検出手段１０５は記録手段１０３の各端子組データ
に基づいて各端子組毎の特性データを検出し、記録手段
１０３のデータ記録領域へ各端子組データ毎に対応させ
てそれら各特性データを記録するものである。

第２の時間測定手段１０６は、上記検査信号出力時から
前記各端子組の特性データが出力されるまでの各々の時
間を測定し８記録手段１０３のデータ記録領域へ各端子
組データに対応させてそれら測定時間を記録するもので
ある。

余裕値設定手段１１１は各端子組データに対応する検出
時間、特性データ、特性データ検出時間の少なくとも１
種類について余裕値を設定するものである。

試験用データ作成手段１１２は、記録手段１０３からの
各端子組データの検出時間、特性データもしくは特性デ
ータの検出時間に、余裕値設定手段１１１からの余裕値
を加えて試験用データを出力するものである。

そして、試験用データ記録手段１１３は、試験用データ
作成手段１１２からの試験用データを記録するものであ
る。

さらに、−ヒ記特性検出手段１０５は絶縁特性検出手段
１０７もしくは耐圧特性検出手段１０９゜または絶縁特
性検出手段１０７および耐圧特性検出手段１０９で構成
され、上記第２の時間測定手段１０Ｇが各絶縁特性の出
力されるまでの時間測定手段１０８および各耐圧特性の
出力されるまでの時間測定手段１１０から構成されてい
る。

〔作　用〕

このような本発明は、端子組検出手段１０２が多芯ケー
ブル１００の各端子組データを記録手段１０３に見出し
項目として記録し、各端子組データが得られるまでの各
々の時間を第１の時間測定手段１０４が測定して記録手
１１１０３内へ各端子組データ毎に記録し、記録手段１
０３の各端子組データに基づいて特性検出手段１０５が
芯線毎の各特性データを検出して各端子組データ毎に記
録手段１０３に記録し、各特性データが得られるまでの
各々の時間を第２の時間測定手段１０６が測定して同様
に各端子組データ毎に記録手段１０３内に記録する。

さらに、試験用データ作成手段１１２が記録手段１０３
内の各特性データや各時間データに余裕値設定手段１１
１からの余裕度を加えて試験用データを作成して試験用
データ記録手段１１３へ記録する。

〔実　施　例〕

以下本発明の詳細な説明する。

第２図は本発明に係る多芯ケーブル試験用データ作成装
置の一実施例を示すブロック図である。

まず８本発明の詳細な説明する前にその概略を説明する
。

第２図において、複数の芯線を有する多芯ケーブル１の
両端には切換回路３が接続されており。

この切換回路３には導通検出回路５．絶縁特性検出回路
１３．耐圧特性検出回路１７が切り換え接続されている
。

導通検出回路５にはＣＰＵＩ　１および時間測定回路７
が、絶縁特性検出回路Ｉ３にはＣＰＵＩ　Ｉおよび時間
測定回路１５が、耐圧特性検出回路１７にはＣＰＵＩＩ
および時間測定回路１９が接続されており、それら時間
測定回路？、１５．１９は各々ＣＰＵＩ　１に接続され
ている。

導通検出回路５．絶縁特性検出回路１３．耐圧特性検出
回路１７および時間測定回路１５．１９は共にＣＰＵＩ
　１で制御された制御回路９によって制御されるととも
に、ＣＰＵＩＩからデータを入力可能に制御されている
。

ＣＰＵＩ　１には、メモリー２１．出力端子２３゜プリ
ンター　２５ａ、ＣＲＴディスプレイ２５ｂ。

試験用データ作成回路２７が接続され、試験用データ作
成回路２７には余裕度設定回路２９が接続されており、
余裕度設定回路２９およびｃｐｕｔｌにはキー入力回路
３１が接続されている。

次に９本発明に係る多芯ケーブル試験用データ作成装置
の詳細を説明する。

多芯ケーブルｌはサンプル用のものであり９例えば第３
図に示すように、端子］゛ｌと７５１を有する芯線１ａ
＋端子Ｔ２とＴ５２を有する芯線１ｂ、端子Ｔ３．Ｔ５
３およびＴ５４を有する芯線ｌｃ・・・からなっており
、各端子Ｔ１〜Ｔ５４・・・は複数のスイッチ素子３Ａ
〜３Ｇ・・・からなる切換回路３のそれらスイッチ素子
３Ａ〜３Ｇ・・・の可動接点に接続されている。

この切換回路３のスイッチ素子３Ａ〜３Ｇ・・・は１回
路３接点構成のリレー回路で形成されており１例えば１
９２個のスイッチ素子３Ａ〜３Ｇ・・・を有している。

切換回路３における各スイッチ素子３Ａ〜３Ｇの３個の
固定接点は、各々導通検出口１／８５．絶縁特性検出回
路１３．耐圧特性検出回路１７に接続されており、制御
回路９からの制御信号によって多芯ケーブル１の各端子
Ｔ１〜Ｔ５４・・・が導通検出回路５．絶縁特性検出回
路１３．耐圧特性検出回路１７に切り換え接続されるよ
うになっている。

第２図の導通検出回路５は、上述したスイッチ素子３Ａ
〜３Ｇ・・・に対応する１９２個の単位検出回路３３を
有して構成されている。この単位検出回路３３は、第４
図に示すように、５ｖ程度の直流電圧を検査信号として
出力するＴＴＬ直流増幅回路からなる信号発生回路３５
と、この信号発生回路３５に直列接続されコンパレータ
を有する受信回路３７と、信号発生回路３５と受信回路
３７の接続点に接続された入出力兼用端子３９とを有し
て形成されており、信号発生回路３５および受信回路３
７には、これらを０Ｎ１０ＦＦ制御する信号ｓ、、ｓ２
が入力可能になっている。

各単位検出回路３３の入出力兼用端子３９は切換回路３
の各スイッチ回路３Ａ〜３Ｇ・・・の固定接点に接続さ
れており１図中の符号ＤＩ　＋　　Ｄ２は保護用ダイオ
ードである。

この単位検出回路３３は、制御信号ＳＬ、Ｓ２によって
信号発生回路３５がＯＮされ受信回路３７がＯＩパＦさ
れると、信号発生回路３５から入出力兼用端子３９を介
して５ｖの直流電圧が検査信号として出力され、多芯ケ
ーブル１の端子′１゛ｌ〜Ｔ５４・・・のいずれかに印
加可能になっている。

他方、信号発生回路３５がＯＦＦに受信回路３７がＯＮ
されることにより１人出力兼用端子３９からの受信信号
が所定のレベル以上あれば受信回路３７から信号が出力
されるようになっている。

すなわち、単位検出回路３３は検査信号の出力回路とし
て機能する一方、信号の検出回路としても機能する。

そして、導通検出回路５は、制御回路９によって単位検
出回路３３の１個を検査信号出力回路として機催させ、
残りの単位検出回路３３を検査信号検出回路として機能
させるとともに、検出信号の出力回ｖ３や検出回路とし
て機能させる単位検出回路３３を順次切り換え制御され
ている。

一方、ＣＰＵ（中央処理装置）１１は演算装置。

内部制御装置、内部記憶装置等を有し、内部記憶装置内
の所定のプログラムや外部からの手動コマンド入力に従
って順次処理動作するものであり。

検査信号を出力する単位検出回路３３に接続した芯線の
端子と、この検査信号の出力される単位検出回路３３の
接続された端子とを端子組データとして作成するように
構成されている。

例えば、制御回路９によって切換回路３を介して多芯ケ
ーブル１の端子ＴＩに接続された単位検出回路３３を検
査信号出力回路として機能させる一方、残りの端子Ｔ２
〜Ｔ５４に接続された単位検出回路３３を検出回路とし
て機能させ、信号が導通する端子Ｔ５１をＣＰ［Ｊｌｌ
によって検出するとともに端子Ｔ１と端子Ｔ５１とを芯
線１ａの端子組データとして作成する。芯線１ｂ、芯線
ＩＣ・・・についても同様である。

このように、導通検出回路５．制御回路９およびＣＰＵ
１１によって多芯ケーブル１における芯線のいずれの端
子が端子組となるかが検出され。

ＣＰＵＪＩは端子組データをメモリー２１に見出し項目
としてデータ記録領域へに記録するよう構成されている
。

メモリー２１はｃｐｕｉｔによって書込みおよび読出し
制御された電子的な記録媒体であり１例えば一般的なフ
ロッピーデスクや内臓されたＲＡＭ型ＩＣであり、第５
図に示すように、データ記録領域への各端子組データ毎
に所定のデータ記録領域Ｂ、　Ｃ，Ｄ、　Ｅ、　Ｆ、　
Ｇ、　Ｈ，Ｉ、　　、Ｊ・・・を有している。

時間測定回ＩＩ′３７は制御回路９によって制御され。

導通検出回路５内の１つの単位検出回路３３から検査信
１・）が出力された後、各端子組データが得られるまで
の各々の所要時間を測定してＣＰＵＩ　１へ出力するも
のであり、ＣＰＵＩＩはそれら各時間データをメモリー
２１における各端子組データ毎にデータ記録領域Ｂへ記
録する機能を有している。

絶縁特性測定回路１３は、第６図に示すように。

検査信号として５００Ｖ程度の直流電圧を出力する直流
信号発生部４１と、その検査信号の印加に伴って多芯ケ
ーブルｌから得られる直流電流を電圧変換しかつＡ／Ｄ
変換して得られる絶縁抵抗値をＣＰＵＩＩおよび時間測
定回路１５に出力する絶縁特性データ出力部４３と、メ
モリー２１の端子組データに基づいて切換回路３の１つ
のスイッチ素子３Ａ〜３Ｇ・・・における固定接点のＩ
Ｉ囚に直流電圧を印加し、他のスイッチ素子３Ａ〜３Ｇ
・・・の固定接点を共通接続するとともに絶縁特性デー
タ出力部４３へ接続する切換部４５からなっている。

なお、メモリー２１の端子組データはｃｐｕｉｌによっ
て切換部４５へ入力されるのは言うまでもない。

この絶縁特性測定回路１３は、直流信号発生部４１から
多芯ケーブル１の芯線の１本に５００Ｖの直流電圧を印
加して残りの芯線を共通接続し。

この共通接続された芯線に流れる漏れ電流を絶縁特性デ
ータ出力部４３へ加えて絶縁抵抗値を検出し、各芯線１
　ａ、　　１　ｂｔ　　１　ｃ・・・毎に絶縁抵抗値を
ＣＰＵＩ　ｌへ出力するものである。

時間測定回路１５は、直流電圧を出力してから安定した
漏れ電流が得られるまでの各々の時間を測定してｃｐｕ
ｔｔに出力する機能を有し、　　ＣＰｕ１ｔはそれら絶
縁゛抵抗値や測定時間を端子組データ毎にメモリー２１
のデータ記録領域り、Ｅ（第５図参照）に記録する機能
を有している。

耐圧特性測定回路１７は、第７図に示すように。

検査信号として５００Ｖ程度の交流電流を出力する交流
信号発生部４７と、その検査信号の印加によって多芯ケ
ーブルｌから得られる交流電流をＡ／Ｄ変換して得られ
る漏れ電流値をＣＰＵＩ　１および時間測定回路１５へ
出力する耐圧特性データ出力部４９と、ＣＰＵＩＩによ
って入力されたメモリー２１内の端子組データに基づい
て切換回路３の１つのスイッチ素子３Ａ〜３Ｇ・・・の
固定接点の１つに交流電流を印加し、他のスイッチ素子
３Ａ〜３Ｇ・・・の固定接点を共通接続するとともに耐
圧特性データ出力部４３へ出力する切換部５１からなっ
ている。

この耐圧特性測定回路１７は、交流信号発生部４７から
多芯ケーブル１の芯線の１本に５００Ｖの交流電流を流
し、共通接続された残りの芯線に流れる漏れ電流を耐圧
特性データ出力部４９に加えて漏れ電流値を検出し、各
芯線１ａ、ｌｂ、ＩＣ・・・毎に耐圧特性として出力す
るものである。

時間測定回路１９は、各芯線１ａ、ｌｂ、ｌｃ・・・毎
に交流電流を出力してから安定した漏れ電流が得られる
までの各々の時間を測定してＣＰＵ１１に出力する機能
を有し、ｃｐｕｔｔはそれら耐圧特性値や測定時間を端
子組データ毎にメモリー２１のデータ記録領域Ｈ，Ｉ（
第５図参照）に記録する機能を有している。

余裕度設定回路２９は、メモリー２１に記録された端子
組データの検出所要時間、絶縁抵抗値。

絶縁抵抗測定時間、耐圧特性の各々について余裕度を設
定する機能を有し、試験用データ作成回路２７ではメモ
リー２１の各々のデータに余裕度設定回路２９からの余
裕度を加え各々試験用データを作成する機能を有してい
る。この余裕度は実施に検査する多芯ケーブル１の特性
のばらつきを考慮して決定される。

ＣＰＵＩＩはメモリー２１に記録されたデータを試験用
データ作成回路２７へ出力するとともに。

試験用データ作成回路２７で作成された試験用データを
再びメモリー２１のデータ記録領域Ｃ，Ｆ。

Ｇ、　　Ｊ　（第５図参照）に記録するよう構成されて
いる。

なお、余裕度設定回路２９における設定値は。

端子組データの検出所要時間、絶縁抵抗値、絶縁抵抗測
定時間、耐圧特性の１種類以上任意であり。

しかもキー入力回路３１で外部からも設定可能であり、
そのキー入力回路３１はＣＰＵＩ　１を直接制御可能に
もなっている。

さらに、ｃｐｕｔｔは、メモリー２１内のヰ仝出データ
や作成された試験用データを出力端子２３から随時に出
力させたり、プリンター２５ａやＣＲＴデスプレイ２５
ｂに出力可能に個性されている。

なお、上述したＣＰＵＩＩを中心とする構成要素の動作
は、以下のフローチャートに基づく動作説明によって更
に明らかになるであろう。

次に、このように構成された本発明の多芯ケーブル試験
用データ作成装置の動作を、第８図のフローチャートを
用いて説明する。

プログラムがスタートしてＣＰＵＩＩや構成要素が動作
開始する。ステップ２００にてサンプルとなる多芯ケー
ブル１を切換回路３に接続し、ステップ２０１にて導通
検出回路５および時間測定回路７から端子組データおよ
び所要時間を得た後。

ステップ２０２にてそれら端子組データおよび所要時間
を第９図（１）のようにメモリー２１内のデータ記録領
域Ａ、　Ｂに記録する。

ステップ２０３では多芯ケーブル１の未測定個所の有無
を判断し、ＹＥＳの場合にはステップ２０１に戻って同
じ動作を繰り返えす。

全ての端子の検査が終了してステップ２０３がＮｏにな
った場合には、ステップ２０４にてメモリー２１に記録
された端子組データに基づいて多芯ケーブル１の絶縁特
性検査端子を決定し、ステップ２０５にて絶縁特性検出
回路１３および時間測定回路１５から絶縁抵抗値および
検出所要時間を得て、ステップ２０６にてその絶縁抵抗
値および測定所要時間を第９図（２）のようにメモリー
２１のデータ記録領域り、Ｅに記録する。

次に、ステップ２０７では未測定個所の有無を判断し、
ＹＥＳの場合にはステップ２０４に戻って同じ動作を繰
り返す。

ステップ２０７がＮｏになった場合には、ステップ２０
Ｂにてメモリー２１に記録された端子組データに基づい
て多芯ケーブル１の耐圧特性検査端子を決定し、ステッ
プ２０９にて耐圧特性検出回路１３および時間測定回路
１９から漏れ電流値および検出所要時間を得る。ステッ
プ２１０では漏れ電流値および測定所要時間を第９図（
３）のようにメモリー２１のデータ記録領域Ｈ，ｆに記
録する。

そして、ステップ２１１では未測定個所の有無を判断し
、ＹＥＳの場合にはステップ２０８に戻って同じ動作を
繰り返す。

ステ、プ２１１がＮＯの場合にはステップ２１２でメモ
リー２１内の端子組データの得られる所要時間に余裕度
を付加して試験用データを作成し。

ステップ２１３ではメモリー２１内の絶縁抵抗値および
測定所要時間に余裕度を付加して試験用データを作成す
る。

さらに、ステップ２１４では漏れ電流値に余裕度を付加
して試験用データを作成し、ステップ２Ｉ５では、それ
ら試験用データを第９図（４）〜（６）のようにメモリ
ー２１のデータ記録領域Ｃ９Ｆ、Ｇ、Ｊに試験用データ
として記録して終了する。

なお、第９図は便宜上、各試験用データはその作成手順
に合わせて個別に示したが、記録状態は第５図のような
フォーマットで記録される。

ステップ２１１が終了した場合にメモリー２１に記録さ
れた各種データを、ステップ２１６にて例えばプリンタ
２５ａを介して印刷出力可能であり、さらに図示はしな
いが随時に各種データをＣＲＴディスプレイ２５ｂに表
示可能である。

そして１本発明の多芯ケーブル試験用データ作成装置を
用いたケーブルテスターでは１例えば。

上述したサンプル用多芯ケーブルｌと同種類の被試験ケ
ーブルにおいて、メモリー２１のデータ記録領域Ｇにあ
る試験用時間データに従って絶縁検査信号として直流電
圧を印加し、得られた絶縁抵抗値がデータ記録領域Ｆ内
の絶縁抵抗値の範囲内にあるか否かが検査され、またメ
モリー２１内のデータ記録領域１の試験用時間データに
従って交流電流を印加し、得られた値がデータ記録領域
Ｊ内の値を越えていないかが検査される。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明の多芯ケーブル試験用データ
作成装置は、多芯ケーブルの各芯線の導通試験および端
子組データ取得が必要最小限の短時間で行えるし、各芯
線毎の正確名導通試験、高精度の絶縁および耐圧特性デ
ータ検出が短時間で可能であるとともに、それら得られ
た特性データから余裕度を付加した各芯線毎の試験用デ
ータを簡単に得られる利点を有する。

従って１本発明の多芯ケーブル試験用データ作成装置を
ケーブルテスターに用いると、極めて検査能率が高くな
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る多芯ケーブル試験用データ作成装
置の構成を示すクレーム対応図、第２図は本発明の多芯
ケーブル試験用データ作成装置の一実施例を示すブロッ
ク図、第３図は第２図の多芯ケーブルおよび切換回路を
示す図、第４図は第２図の導通検出回路を構成する単位
検出回路を示す回路図、第５図は第２図に示すメモリー
内の記録領域を説明する図、第６図および第７図は第２
図に示す絶縁特性検出回路および耐圧特性検出回路を説
明する図、第８図は本発明の動作手−を示すフローチャ
ート、第９図は第８図の動作に従って変化するメモリー
内の記録状態を説明する図である。 １・・・・・・多芯ケーブル ３・・・・・・切換回路 ５・・・・・・導通検出回路 ７・・・・・・時間測定回路 ９・・・・・・制御回路 １１・・・・・・ＣＰＵ １３・・・・・・絶縁特性検出回路 １５．１９・・・時間測定回路 １７・・・・・・耐圧特性検出回路 ２１・・・・・・メモリー ２７・・・・・・試験用データ作成回路２９・・・・・
・余裕度設定回路 ３３・・・・・・単位検出回路 ４１・・・・・・直流信号発生部 ４３・・・・・・絶縁特性データ出力部４５．５１・・
・切換部 ４７・・・・・・交流信号発生部 ４９・・・・・・耐圧特性データ出力部１００・・・・
・多芯ケーブル １０１・・・・・検査信号出力手段 １０２・・・・・端子組検出手段 １０３・・・・・記録手段 １０４・・・・・第１の時間測定手段 １０５・・・・・特性検出手段 １０６・・・・・第２の時間測定手段 １０７・・・・・絶縁特性検出手段 １０８．１１０・時間測定手段

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）複数の芯線を有する多芯ケーブルに検査信号を切
   り換え出力する検査信号出力手段と、前記多芯ケーブル
   の両端における前記各芯線毎の端子組データを検出する
   端子組検出手段と、この端子組検出手段からの前記各端
   子組データを見出し項目として記録しかつこれら各端子
   組データ毎にデータ記録領域を有する記録手段と、前記
   検査信号出力手段からの検査信号出力時から前記各端子
   組データが前記検査信号出力手段から出力されるまでの
   各々の時間を測定し、前記記録手段の前記データ記録領
   域へ前記各端子組データに対応させてそれら測定時間を
   記録する第１の時間測定手段と、 前記記録手段の各端子組データに基づいて前記各端子組
   毎の特性データを検出し、前記記録手段の前記データ記
   録領域へ前記各端子組データに対応させて前記各特性デ
   ータを記録する特性検出手段と、 前記検査信号出力手段からの検査信号出力時から前記各
   特性データが前記特性検出手段から出力されるまでの各
   々の時間を測定し、前記記録手段の前記データ記録領域
   へ前記各端子組データに対応させてそれら測定時間を記
   録する第２の時間測定手段と、 前記各端子組データの検出時間、前記各特性データ、前
   記各特性データの検出時間の少なくとも１種類について
   余裕値を設定する余裕値設定手段と、 前記記録手段からの各端子組データの検出時間、前記各
   特性データもしくは各特性データの検出時間に、前記余
   裕値設定手段からの余裕値を加えて試験用データを出力
   する試験用データ作成手段と、を具備してなることを特
   徴とする多芯ケーブル試験用データ作成装置。
2. （２）前記特性検出手段が絶縁特性検出手段であり、前
   記第２の時間測定手段が各絶縁特性の出力されるまでの
   時間測定手段である特許請求の範囲第１項記載の多芯ケ
   ーブル試験用データ作成装置。
3. （３）前記特性検出手段が耐圧特性検出手段であり、前
   記第２の時間測定手段が各耐圧特性の出力されるまでの
   時間測定手段である特許請求の範囲第１項記載の多芯ケ
   ーブル試験用データ作成装置。
4. （４）前記特性検出手段が絶縁特性検出手段および耐圧
   特性検出手段からなり、 前記第２の時間測定手段が各絶縁特性の出力されるまで
   の時間測定手段および各耐圧特性の出力されるまでの時
   間測定手段である特許請求の範囲第１項記載の多芯ケー
   ブル試験用データ作成装置。