JPH0556825B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は多芯ケーブル試験用データ作成装置に
係り、多芯ケーブルの導通、絶縁、耐圧試験を行
うケーブルテスターの構成に好適する多芯ケーブ
ル試験用データ作成装置に関する。

〔従来の技術〕

現在、絶縁被覆した複数の芯線からなる多芯ケ
ーブルが通信伝送網に多用されている。

そして、この多芯ケーブルにあつては高い信頼
性を確保する観点から、各芯線の絶縁抵抗や耐圧
漏れ電流を所定の範囲内に極めて小さく抑えるこ
とが必要であるので、予め設定した試験信号を各
芯線毎に加えて絶縁抵抗や耐圧漏れ電流を検出し
て絶縁特性および耐圧特性を測定していた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかしながら、多芯ケーブルの絶縁特性や耐圧
特性は、芯線に用いる導線や絶縁被覆の種類、多
芯ケーブルに接続されるコネクタ等の接続状態に
よつて大きな影響を受けるし、多芯ケーブルが長
くなれば各芯線の抵抗、インダクタンスおよび芯
線の間のキヤパシタンスもそれら絶縁特性および
耐圧特性に影響を及ぼし易く、従来のように予め
設定した同一試験信号を多芯ケーブルの各芯線に
加えて試験するだけでは各芯線毎の正確な検出結
果が得られず、不十分であつた。

さらに、多芯ケーブルは、両端における各芯線
毎の端子組を探すことが極めて煩雑であり高い習
熟度も要求されているので、簡単で能率の良い端
子組検出手法が望まれている。

本発明はこのような状況の下になされたもの
で、多芯ケーブルの各芯線毎の端子組データの検
出が容易で、各芯線毎の正確な特性データも簡単
に得られるとともに、この特性データに基づいて
余裕度を持たせた試験用データが自動的に得られ
る多芯ケーブル試験用データ作成装置の提供を目
的とする。

〔問題点を解決するための手段〕

このような問題点を解決するために、本発明は
クレーム対応図である第１図に示すような構成を
有している。

すなわち、検査信号出力手段１０１は複数の芯
線を有する多芯ケーブル（サンプルケーブル）１
００に検査信号を切り換え出力するものである。

端子組検出手段１０２はその多芯ケーブル１０
０の両端における各芯線毎の対応する端子組デー
タを検出するものである。

記録手段１０３はその端子組検出手段１０２か
らの各端子組データを見出し項目として記録する
とともにこれら各端子組データ毎にデータ記録領
域を有している。

第１の時間測定手段１０４は、上記検査信号出
力時から各端子組データが出力されるまでの各々
の時間を測定し、記録手段１０３のデータ記録領
域へ各端子組データ毎に対応させてそれら各測定
時間を記録するものである。

特性検出手段１０５は記録手段１０３の各端子
組データに基づいて各端子組毎の特性データを検
出し、記録手段１０３のデータ記録領域へ各端子
組データ毎に対応させてそれら各特性データを記
録するものである。

第２の時間測定手段１０６は、上記検査信号出
力時から前記各端子組の特性データが出力される
までの各々の時間を測定し、記録手段１０３のデ
ータ記録領域へ各端子組データに対応させてそれ
ら測定時間を記録するものである。

余裕値設定手段１１１は各端子組データに対応
する検出時間、特性データ、特性データ検出時間
の少なくとも１種類について余裕値を設定するも
のである。

試験用データ作成手段１１２は、記録手段１０
３からの各端子組データの検出時間、特性データ
もしくは特性データの検出時間に、余裕値設定手
段１１１からの余裕値を加えて試験用データを出
力するものである。

そして、試験用データ記録手段１１３は、試験
用データ作成手段１１２からの試験用データを記
録するものである。

さらに、上記特性検出手段１０５は絶縁特性検
出手段１０７もしは耐圧特性検出手段１０９、ま
たは絶縁特性検出手段１０７および耐圧特性検出
手段１０９で構成され、上記第２の時間測定手段
１０６が各絶縁特性の出力されるまでの時間測定
手段１０８および各耐圧特性の出力されるまでの
時間測定手段１１０から構成されている。

〔作用〕

このような本発明は、端子組検出手段１０２が
多芯ケーブル１００の各端子組データを記録手段
１０３に見出し項目として記録し、各端子組デー
タが得られるまでの各々の時間を第１の時間測定
手段１０４が測定して記録手段１０３内へ各端子
組データ毎に記録し、記録手段１０３の各端子組
データに基づいて特性検出手段１０５が芯線毎の
各特性データを検出して各端子組データ毎の記録
手段１０３に記録し、各特性データが得られるま
での各々の時間を第２の時間測定手段１０６が測
定して同様に各端子組データ毎に記録手段１０３
内に記録する。

さらに、試験用データ作成手段１１２が記録手
段１０３内の各特性データや各時間データに余裕
値設定手段１１１からの余裕度を加えて試験用デ
ータを作成して試験用データ記録手段１１３へ記
録する。

〔実施例〕

以下本発明の実施例を説明する。

第２図は本発明に係る多芯ケーブル試験用デー
タ作成装置の一実施例を示すブロツク図である。

まず、本発明の詳細を説明する前にその概略を
説明する。

第２図において、複数の芯線を有する多芯ケー
ブル１の両端には切換回路３が接続されており、
この切換回路３には導通検出回路５、絶縁特性検
出回路１３、耐圧特性検出回路１７が切り換え接
続されている。

導通検出回路５にはCPU１１および時間測定
回路７が、絶縁特性検出回路１３にはCPU１１
および時間測定回路１５が、耐圧特性検出回路１
７にはCPU１１および時間測定回路１９が接続
されており、それら時間測定回路７，１５，１９
は各々CPU１１に接続されている。

導通検出回路５、絶縁特性検出回路１３、耐圧
特性検出回路１７および時間測定回路１５，１９
は共にCPU１１で制御された制御回路９によつ
て制御されるとともに、CPU１１からデータを
入力可能に制御されている。

CPU１１には、メモリー２１、出力端子２３、
プリンター２５ａ、CRTデイスプレイ２５ｂ、
試験用データ作成回路２７が接続され、試験用デ
ータ作成回路２７には余裕度設定回路２９が接続
されており、余裕度設定回路２９およびCPU１
１にはキー入力回路３１が接続されている。

次に、本発明に係る多芯ケーブル試験用データ
作成装置の詳細を説明する。

多芯ケーブル１はサンプル用のものであり、例
えば第３図に示すように、端子Ｔ１とＴ５１を有
する芯線１ａ、端子Ｔ２とＴ５２を有する芯線１
ｂ、端子Ｔ３，Ｔ５３およびＴ５４を有する芯線
１ｃ……からなつており、各端子Ｔ１〜Ｔ５４…
…は複数のスイツチ素子３Ａ〜３Ｇ……からなる
切換回路３のそれらスイツチ素子３Ａ〜３Ｇ……
の可動接点に接続されている。

この切換回路３のスイツチ素子３Ａ〜３Ｇ……
は１回路３接点構成のリレー回路で形成されてお
り、例えば192個のスイツチ素子３Ａ〜３Ｇ……
を有している。切換回路３における各スイツチ素
子３Ａ〜３Ｇの３個の固定接点は、各々導通検出
回路５、絶縁特性検出回路１３、耐圧特性検出回
路１７に接続されており、制御回路９からの制御
信号によつて多芯ケーブル１の各端子Ｔ１〜Ｔ５
４……が導通検出回路５、絶縁特性検出回路１
３、耐圧特性検出回路１７に切り換え接続される
ようになつている。

第２図の導通検出回路５は、上述したスイツチ
素子３Ａ〜３Ｇ……に対応する192個の単位検出
回路３３を有して構成されている。この単位検出
回路３３は、第４図に示すように、5V程度の直
流電圧を検査信号として出力するTTL直流増幅
回路からなる信号発生回路３５と、この信号発生
回路３５に直列接続されコンパレータを有する受
信回路３７と、信号発生回路３５と受信回路３７
の接続点に接続された入出力兼用端子３９とを有
して形成されており、信号発生回路３５および受
信回路３７には、これらをON／OFF制御する信
号S₁，S₂が入力可能になつている。

各単位検出回路３３の入出力兼用端子３９は切
換回路３の各スイツチ回路３Ａ〜３Ｇ……の固定
接点に接続されており、図中の符号D₁，D₂は保
護用ダイオードである。

この単位検出回路３３は、制御信号S₁，S₂によ
つて信号発生回路３５がONされる受信回路３７
がOFFされると、信号発生回路３５から入出力
兼用端子３９を介して5Vの直流電圧が検査信号
として出力され、多芯ケーブル１の端子Ｔ１〜Ｔ
５４……のいずれかに印加可能になつている。

他方、信号発生回路３５がOFFに受信回路３
７がONされることにより、入出力兼用端子３９
からの受信信号が所定のレベル以上であれば受信
回路３７から信号が出力されるようになつてい
る。すなわち、単位検出回路３３は検査信号の出
力回路として機能する一方、信号の検出回路とし
ても機能する。

そして、導通検出回路５は、制御回路９によつ
て単位検出回路３３の１個を検査信号出力回路と
して機能させ、残りの単位検出回路３３を検査信
号検出回路として機能させるとともに、検出信号
の出力回路や検出回路として機能させる単位検出
回路３３を順次切り換え制御されている。

一方、CPU（中央処理装置）１１は演算装置、
内部制御装置、内部記憶装置等を有し、内部記憶
装置内の所定のプログラムや外部からの手動コマ
ンド入力に従つて順次処理動作するものであり、
検査信号を出力する単位検出回路３３に接続した
芯線の端子と、この検査信号の出力される単位検
出回路３３の接続された端子とを端子組データと
して作成するように構成されている。

例えば、制御回路９によつて切換回路３を介し
て多芯ケーブル１の端子Ｔ１に接続された単位検
出回路３３を検査信号出力回路として機能させる
一方、残りの端子Ｔ２〜Ｔ５４に接続された単位
検出回路３３を検出回路として機能させ、信号が
導通する端子Ｔ５１をCPU１１によつて検出す
るとともに端子Ｔ１と端子Ｔ５１とを芯線１ａの
端子組データとして作成する。芯線１ｂ、芯線１
ｃ……についても同様である。

このように、導通検出回路５、制御回路９およ
びCPU１１によつて多芯ケーブル１における芯
線のいずれの端子が端子組となるかが検出され、
CPU１１は端子組データをメモリー２１に見出
し項目としてデータ記録領域Ａに記録するよう構
成されている。

メモリー２１はCPU１１によつて書込みおよ
び読出し制御された電子的な記録媒体であり、例
えば一般的なフロツピーデイスクや内臓された
RAM型ICであり、第５図に示すように、データ
記録領域Ａの各端子組データ毎に所定のデータ記
録領域Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ……
を有している。

時間測定回路７は制御回路９によつて制御さ
れ、導通検出回路５内の１つの単位検出回路３３
から検査信号が出力された後、各端子組データが
得られるまでの各々の所要時間を測定してCPU
１１へ出力するものであり、CPU１１はそれら
各時間データをメモリー２１における各端子組デ
ータ毎にデータ記録領域Ｂへ記録する機能を有し
ている。

絶縁特性測定回路１３は、第６図に示すよう
に、検査信号として500V程度の直流電圧を出力
する直流信号発生部４１と、その検査信号の印加
に伴つて多芯ケーブル１から得られる直流電流を
電圧変換しかつＡ／Ｄ変換して得られる絶縁抵抗
値をCPU１１および時間測定回路１５に出力す
る絶縁特性データ出力部４３と、メモリー２１の
端子組データに基づいて切換回路３の１つのスイ
ツチ素子３ａ〜３Ｇ……における固定接点の１個
に直流電圧を印加し、他のスイツチ素子３Ａ〜３
Ｇ…の固定接点を共通接続するとともに絶縁特性
データ出力部４３へ接続する切換部４５からなつ
ている。

なお、メモリー２１の端子組データはCPU１
１によつて切換部４５へ入力されるのは言うまで
もない。

この絶縁特性測定回路１３は、直流信号発生部
４１から多芯ケーブル１の芯線の１本に500Vの
直流電圧を印加して残りの芯線を共通接続し、こ
の共通接続された芯線に流れる漏れ電流を絶縁特
性データ出力部４３へ加えて絶縁抵抗値を検出
し、各芯線１ａ，１ｂ，１ｃ……毎に絶縁抵抗値
をCPU１１へ出力するものである。

時間測定回路１５は、直流電圧を出力してから
安定した漏れ電流が得られるまでの各々の時間を
測定してCPU１１に出力する機能を有し、CPU
１１はそれら絶縁抵抗値や測定時間を端子組デー
タ毎にメモリー２１のデータ記録領域Ｄ，Ｅ（第
５図参照）に記録する機能を有している。

耐圧特性測定回路１７は、第７図に示すよう
に、検査信号として500V程度の交流電流を出力
する交流信号発生部４７と、その検査信号の印加
によつて多芯ケーブル１から得られる交流電流を
Ａ／Ｄ変換して得られる漏れ電流値をCPU１１
および時間測定回路１５へ出力する耐圧特性デー
タ出力部４９と、CPU１１によつて入力された
メモリー２１内の端子組データに基づいて切換回
路３の１つのスイツチ素子３Ａ〜３Ｇ……の固定
接点の１つに交流電流を印加し、他のスイツチ素
子３Ａ〜３Ｇ……の固定接点を共通接続するとと
もに耐圧特性データ出力部４３へ出力する切換部
５１からなつている。

この耐圧特性測定回路１７は、交流信号発生部
４７から多芯ケーブル１の芯線の１本に500Vの
交流電流を流し、共通接続された残りの芯線に流
れる漏れ電流を耐圧特性データ出力部４９に加え
て漏れ電流値を検出し、各芯線１ａ，１ｂ，１ｃ
……毎に耐圧特性として出力するものである。

時間測定回路１９は、各芯線１ａ，１ｂ，１ｃ
……毎に交流電流を出力してから安定した漏れ電
流が得られるまでの各々の時間を測定してCPU
１１に出力する機能を有し、CPU１１はそれら
耐圧特性値や測定時間を端子組データ毎にメモリ
ー２１のデータ記録領域Ｈ，Ｉ（第５図参照）に
記録する機能を有している。

余裕度測定回路２９は、メモリー２１に記録さ
れた端子組データの検出所要時間、絶縁抵抗値、
絶縁抵抗測定時間、耐圧特性の各々について余裕
度を設定する機能を有し、試験用データ作成回路
２７ではメモリー２１の各々のデータに余裕度設
定回路２９からの余裕度を加え各々試験用データ
を作成する機能を有している。この余裕度は実施
に検査する多芯ケーブル１の特性のばらつきを考
慮して決定される CPU１１はメモリー２１に記録されたデータ
を試験用データ作成回路２７へ出力するととも
に、試験用データ作成回路２７で作成された試験
用データを再びメモリー２１のデータ記録領域
Ｃ，Ｆ，Ｇ，Ｊ（第５図参照）に記録するよう構
成されている。

なお、余裕度設定回路２９における設定値は、
端子組データの検出所要時間、絶縁抵抗値、絶縁
抵抗測定時間、耐圧特性の１種類以上任意であ
り、しかもキー入力回路３１で外部からも設定可
能であり、そのキー入力回路３１はCPU１１を
直接制御可能にもなつている。

さらに、CPU１１は、メモリー２１内の検出
データや作成された試験用データを出力端子２３
から随時に出力させたり、プリンター２５ａや
CRTデスプレイ２５ｂに出力可能に個性されて
いる。

なお、上述したCPU１１を中心とする構成要
素の動作は、以下のフローチヤートに基づく動作
説明によつて更に明らかになるであろう。

次に、このように構成された本発明の多芯ケー
ブル試験用データ作成装置の動作を、第８図のフ
ローチヤートを用いて説明する。

プログラムがスタートしてCPU１１や構成要
素が動作開始する。ステツプ200にてサンプルと
なる多芯ケーブル１を切換回路３に接続し、ステ
ツプ201にて導通検出回路５および時間測定回路
７から端子組データおよび所要時間を得た後、ス
テツプ202にてそれら端子組データおよび所要時
間を第９図１のようにメモリー２１内のデータ記
録領域Ａ，Ｂに記録する。

ステツプ203では多芯ケーブル１の未測定個所
の有無を判断し、YESの場合にはステツプ201に
戻つて同じ動作を繰り返えす。

全ての端子の検査が終了してステツプ203が
NOになつた場合には、ステツプ204にてメモリ
ー２１に記録された端子組データに基づいて多芯
ケーブル１の絶縁特性検査端子を決定し、ステツ
プ205にて絶縁特性検出回路１３および時間測定
回路１５から絶縁抵抗値および検出所要時間を得
て、ステツプ206にてその絶縁抵抗値および測定
所要時間を第９図２のようにメモリー２１のデー
タ記録領域Ｄ，Ｅに記録する。

次に、ステツプ207では未測定個所の有無を判
断し、YESの場合にはステツプ204に戻つて同じ
動作を繰り返す。

ステツプ207がNOになつた場合には、ステツ
プ208にてメモリー21に記録された端子組データ
に基づいて多芯ケーブル１の耐圧特性検査端子を
決定し、ステツプ209にて耐圧特性検出回路１３
および時間測定回路１９から漏れ電流値および検
出所要時間を得る。ステツプ210では漏れ電流値
および測定所要時間を第９図３のようにメモリー
２１のデータ記録領域Ｈ，Ｉに記録する。

そして、ステツプ211では未測定個所の有無を
判断し、YESの場合にはステツプ208に戻つて同
じ動作を繰り返す。

ステツプ211がNOの場合にはステツプ212でメ
モリー２１内の端子組データの得られる所要時間
に余裕度を付加して試験用データを作成し、ステ
ツプ213ではメモリー２１内の絶縁抵抗値および
測定所要時間に余裕度を付加して試験用データを
作成する。

さらに、ステツプ214では漏れ電流値に余裕度
を付加して試験用データを作成し、ステツプ215
では、それら試験用データを第９図４〜６のよう
にメモリー２１のデータ記録領域Ｃ，Ｆ，Ｇ，Ｊ
に試験用データとして記録して終了する。

なお、第９図は便宜上、各試験用データはその
作順手段に合わせて個別に示したが、記録状態は
第５図のようなフオーマツトで記録される。

ステツプ211が終了した場合にメモリー２１に
記録された各種データを、ステツプ216にて例え
ばプリンタ２５ａを介して印刷出力可能であり、
さらに図示はしないが随時に各種データをCRT
デイスプレイ２５ｂに表示可能である。

そして、本発明の多芯ケーブル試験用データ作
成装置を用いたケーブルテスターでは、例えば、
上述したサンプル用多芯ケーブル１と同種類の被
試験ケーブルにおいて、メモリー２１のデータ記
録領域Ｇにある試験用時間データに従つて絶縁検
査信号として直流電圧を印加し、得られた絶縁抵
抗値がデータ記録領域Ｆ内の絶縁抵抗値の範囲内
にあるか否かが検査され、またメモリー２１内の
データ記録領域Ｉの試験用時間データに従つて交
流電流を印加し、得られた値がデータ記録領域Ｊ
内の値を越えていないかが検査される。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明の多芯ケーブル試験
用データ作成装置は、多芯ケーブルの各芯線の導
通試験および端子組データ取得が必要最小限の短
時間で行えるし、各芯線毎の正確名導通試験、高
精度の絶縁および耐圧特性データ検出が短時間で
可能であるとともに、それら得られた特性データ
から余裕度を付加した各芯線毎の試験用データを
簡単に得られる利点を有する。

従つて、本発明の多芯ケーブル試験用データ作
成装置をケーブルテスターに用いると、極めて検
査能率が高くなる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る多芯ケーブル試験用デー
タ作成装置の構成を示すクレーム対応図、第２図
は本発明の多芯ケーブル試験用データ作成装置の
一実施例を示すブロツク図、第３図は第２図の多
芯ケーブルおよび切換回路を示す図、第４図は第
２図の導通検出回路を構成する単位検出回路を示
す回路図、第５図は第２図に示すメモリー内の記
録領域を説明する図、第６図および第７図は第２
図に示す絶縁特性検出回路および耐圧特性検出回
路を説明する図、第８図は本発明の動作手順を示
すフローチヤート、第９図は第８図の動作に従つ
て変化するメモリー内の記録状態を説明する図で
ある。 １……多芯ケーブル、３……切換回路、５……
導通検出回路、７……時間測定回路、９……制御
回路、１１……CPU、１３……絶縁特性検出回
路、１５，１９……時間測定回路、１７……耐圧
特性検出回路、２１……メモリー、２７……試験
用データ作成回路、２９……余裕度設定回路、３
３……単位検出回路、４１……直流信号発生部、
４３……絶縁特性データ出力部、４５，５１……
切換部、４７……交流信号発生部、４９……耐圧
特性データ出力部、１００……多芯ケーブル、１
０１……検査信号出力手段、１０２……端子組検
出手段、１０３……記録手段、１０４……第１の
時間測定手段、１０５……特性検出手段、１０６
……第２の時間測定手段、１０７……絶縁特性検
出手段、１０８，１１０……時間測定手段、１０
９……耐圧特性検出手段、１１１……余裕値設定
手段、１１２……試験用データ作成手段、１１３
……試験用データ記録手段。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 複数の芯線を有する多芯ケーブルに検査信号
   を切り換え出力する検査信号出力手段と、 前記多芯ケーブルの両端における前記各芯線毎
   の端子組データを検出する端子組検出手段と、 この端子組検出手段からの前記各端子組データ
   を見出し項目として記録しかつこれら各端子組デ
   ータ毎にデータ記録領域を有する記録手段と、 前記検査信号出力手段からの検査信号出力時か
   ら前記各端子組データが前記検査信号出力手段か
   ら出力されるまでの各々の時間を測定し、前記記
   録手段の前記データ記録領域へ前記各端子組デー
   タに対応させてそれら測定時間を記録する第１の
   時間測定手段と、 前記記録手段の各端子組データに基づいて前記
   各端子組毎の特性データを検出し、前記記録手段
   の前記データ記録領域へ前記各端子組データに対
   応させて前記各特性データを記録する特性検出手
   段と、 前記検査信号出力手段からの検査信号出力時か
   ら前記各特性データが前記特性検出手段から出力
   されるまでの各々の時間を測定し、前記記録手段
   の前記データ記録領域へ前記各端子組データに対
   応させてそれら測定時間を記録する第２の時間測
   定手段と、 前記各端子組データの検出時間、前記各特性デ
   ータ、前記各特性データの検出時間の少なくとも
   １種類について余裕値を設定する余裕値設定手段
   と、 前記記録手段からの各端子組データの検出時
   間、前記各特性データもしくは各特性データの検
   出時間に、前記余裕値設定手段からの余裕値を加
   えて試験用データを出力する試験用データ作成手
   段と、 を具備してなることを特徴とする多芯ケーブル試
   験用データ作成装置。 ２ 前記特性検出手段が絶縁特性検出手段であ
   り、前記第２の時間測定手段が各絶縁特性の出力
   されるまでの時間測定手段である特許請求の範囲
   第１項記載の多芯ケーブル試験用データ作成装
   置。 ３ 前記特性検出手段が耐圧特性検出手段であ
   り、前記第２の時間測定手段が各耐圧特性の出力
   されるまでの時間測定手段である特許請求の範囲
   第１項記載の多芯ケーブル試験用データ作成装
   置。 ４ 前記特性検出手段が絶縁特性検出手段および
   耐圧特性検出手段からなり、 前記第２の時間測定手段が各絶縁特性の出力さ
   れるまでの時間測定手段および各耐圧特性の出力
   されるまでの時間測定手段である特許請求の範囲
   第１項記載の多芯ケーブル試験用データ作成装
   置。