JPS622530Y2 - - Google Patents
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- JPS622530Y2 JPS622530Y2 JP14809378U JP14809378U JPS622530Y2 JP S622530 Y2 JPS622530 Y2 JP S622530Y2 JP 14809378 U JP14809378 U JP 14809378U JP 14809378 U JP14809378 U JP 14809378U JP S622530 Y2 JPS622530 Y2 JP S622530Y2
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- JP
- Japan
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- memory
- reflected wave
- value
- signal
- pseudo signal
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- 239000000463 material Substances 0.000 claims 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は、ブラウン管等の表示器を有するパ
ルス反射式超音波探傷装置に関するものである。
ルス反射式超音波探傷装置に関するものである。
第１図は従来の超音波探傷装置による被検査材
の溶接部の斜面探傷を説明するための構成図であ
る。この図において、１は送信部、２は探触子、
３は被検査材、４は溶接部、５は増幅器、６はブ
ラウン管（以下CRTという。）である。
の溶接部の斜面探傷を説明するための構成図であ
る。この図において、１は送信部、２は探触子、
３は被検査材、４は溶接部、５は増幅器、６はブ
ラウン管（以下CRTという。）である。
送信部１により発生された電気パルスにより探
触子２は超音波パルスを発生し、探触子２と被検
査材３の間に塗布された接触媒体（図示せず）を
介して被検査材３に投入され、点線で示したよう
に伝播し、探傷しようとする溶接部４に欠陥Ｆが
あると、超音波パルスの一部が反射されて再び探
触子２に至り、探触子２で電気パルスに変換され
て、増幅器５によりCRT６で観測できる大きさ
の電圧まで増幅されてCRT６に表示されること
は超音波探傷法および超音波探傷装置の動作とし
て周知の事柄である。
触子２は超音波パルスを発生し、探触子２と被検
査材３の間に塗布された接触媒体（図示せず）を
介して被検査材３に投入され、点線で示したよう
に伝播し、探傷しようとする溶接部４に欠陥Ｆが
あると、超音波パルスの一部が反射されて再び探
触子２に至り、探触子２で電気パルスに変換され
て、増幅器５によりCRT６で観測できる大きさ
の電圧まで増幅されてCRT６に表示されること
は超音波探傷法および超音波探傷装置の動作とし
て周知の事柄である。
第２図は第１図により説明したCRT６に表示
された波形例で、Ｔは前記探触子２から発生され
た超音波パルスを示し、F1は反射パルスで前記
欠陥Ｆで反射した超音波パルスを示している。さ
て、一般に斜角探傷に限らず、第２図に示すよう
なCRTの波形を観測することによつて得られる
最も重要な情報は、反射波の最大値ｙとこの反射
波の位置、すなわち、探触子２と被検査材３の境
界を示すＰ点の時刻と、前記反射波の出た時刻と
の時間ｘであり、これら２情報により反射源が有
害な欠陥であるかどうかの判断をする場合が殆ん
どであるといつても過言ではない。探傷作業者は
前記２つの情報を正確かつ迅速につかむことが探
触に要する時間、従つて経費を軽減する意味で非
常に重要である。このため探傷作業者は探触子２
を例えば矢印Ａのように被検査材３の上を走査さ
せると同時に、走査中は常時CRT６に表示され
る波形を凝視する必要があり、このため目が疲れ
るのみならず探触子２の走査とCRTの波形監視
の両方に注意をはらう必要があり、探傷作業者に
相当熟練を要求されるとともに探傷に要する時間
短縮に大きな障害となるなどの欠点があつた。
された波形例で、Ｔは前記探触子２から発生され
た超音波パルスを示し、F1は反射パルスで前記
欠陥Ｆで反射した超音波パルスを示している。さ
て、一般に斜角探傷に限らず、第２図に示すよう
なCRTの波形を観測することによつて得られる
最も重要な情報は、反射波の最大値ｙとこの反射
波の位置、すなわち、探触子２と被検査材３の境
界を示すＰ点の時刻と、前記反射波の出た時刻と
の時間ｘであり、これら２情報により反射源が有
害な欠陥であるかどうかの判断をする場合が殆ん
どであるといつても過言ではない。探傷作業者は
前記２つの情報を正確かつ迅速につかむことが探
触に要する時間、従つて経費を軽減する意味で非
常に重要である。このため探傷作業者は探触子２
を例えば矢印Ａのように被検査材３の上を走査さ
せると同時に、走査中は常時CRT６に表示され
る波形を凝視する必要があり、このため目が疲れ
るのみならず探触子２の走査とCRTの波形監視
の両方に注意をはらう必要があり、探傷作業者に
相当熟練を要求されるとともに探傷に要する時間
短縮に大きな障害となるなどの欠点があつた。
この考案はこのような従来の問題点を改善する
ためになされたもので、最大反射波の高さを記憶
する第１の記憶器と、最大波の位置を記憶する第
２の記憶器と、第１および第２の記憶器の記憶内
容により励振される擬似信号発生器、および第１
の記憶器の出力値と擬似信号値とを比較する比較
手段を従来の超音波探傷装置に付加することによ
つて上記超音波探傷装置のブラウン管の画面に擬
似信号を表示せしめ探傷作業者は探触子を走査す
ることにだけ専念できるようにしたものである。
ためになされたもので、最大反射波の高さを記憶
する第１の記憶器と、最大波の位置を記憶する第
２の記憶器と、第１および第２の記憶器の記憶内
容により励振される擬似信号発生器、および第１
の記憶器の出力値と擬似信号値とを比較する比較
手段を従来の超音波探傷装置に付加することによ
つて上記超音波探傷装置のブラウン管の画面に擬
似信号を表示せしめ探傷作業者は探触子を走査す
ることにだけ専念できるようにしたものである。
以下図面によつてこの考案の一実施例を詳述す
る。
る。
第３図はこの考案の一実施例を示すブロツク構
成図、第４図ａ，ｂは第３図に示したブラウン管
の波形を示す図である。
成図、第４図ａ，ｂは第３図に示したブラウン管
の波形を示す図である。
図において１は送信部、２は探触子、３は被検
査材、４は溶接部、５は増幅器、６はブラウン
管、７は所定時間内で増幅器５によつて増幅され
た反射波を出力するためのゲート部、８は上記ゲ
ート部により出力された反射波（アナログ信号）
をデイジタル信号に変換するアナログ・デイジタ
ル変換器（以下単にＡ／Ｄ変換という）９は上記
Ａ／Ｄ変換器８によつてデイジタル変換された反
射波を導入するマイクロプロセツサで演算機能、
比較機能等を有する。１０は反射波の高さ情報ｙ
およびその高さ情報ｙの位置情報ｘが記憶された
メモリでマイクロプロセツサの制御信号によつて
読出され、又は所定の情報書込みを行なう。１１
は上記メモリ１０から読出された情報ｘ，ｙを記
憶する記憶器で、最大反射波の位置情報ｘを記憶
するｘ記憶器１２と最大反射波の高さ情報ｙを記
憶するｙ記憶器１２とから構成されている。又こ
の記憶器１１の出力（記憶内容）は上記マイクロ
プロセツサ９に入力するとともに文字、記号、波
形等をアナログ的およびデイジタル的に発生する
擬似信号発生器１４に入力する。なおｙ記憶器１
３の出力は差動増幅器１５を介して擬似信号発生
器１４へ入力するようになつている。又上記記憶
器１１はマイクロプロセツサ１１の制御信号によ
つてその記憶内容を消去できるようになつてい
る。１６は上記擬似信号発生器１４の擬似信号値
（最大反射波の高さｙに相当する信号値）をホー
ルドする電圧ホールド回路でその出力は差動増幅
器１５に導入される。なお上記差動増幅器１５は
上記ｙ記憶器１３の出力をアナログ変換し、その
出力値（電圧）V1を上記擬似信号値（電圧）V2
と比較し、その比較結果に応じた差信号V1−V2
を上記擬似信号発生器１４に導入させるようにな
つている。従つて上記擬似信号発生器１４、差動
増幅器１５および電圧ホールド回路１６は帰還形
の閉ループを構成している。
査材、４は溶接部、５は増幅器、６はブラウン
管、７は所定時間内で増幅器５によつて増幅され
た反射波を出力するためのゲート部、８は上記ゲ
ート部により出力された反射波（アナログ信号）
をデイジタル信号に変換するアナログ・デイジタ
ル変換器（以下単にＡ／Ｄ変換という）９は上記
Ａ／Ｄ変換器８によつてデイジタル変換された反
射波を導入するマイクロプロセツサで演算機能、
比較機能等を有する。１０は反射波の高さ情報ｙ
およびその高さ情報ｙの位置情報ｘが記憶された
メモリでマイクロプロセツサの制御信号によつて
読出され、又は所定の情報書込みを行なう。１１
は上記メモリ１０から読出された情報ｘ，ｙを記
憶する記憶器で、最大反射波の位置情報ｘを記憶
するｘ記憶器１２と最大反射波の高さ情報ｙを記
憶するｙ記憶器１２とから構成されている。又こ
の記憶器１１の出力（記憶内容）は上記マイクロ
プロセツサ９に入力するとともに文字、記号、波
形等をアナログ的およびデイジタル的に発生する
擬似信号発生器１４に入力する。なおｙ記憶器１
３の出力は差動増幅器１５を介して擬似信号発生
器１４へ入力するようになつている。又上記記憶
器１１はマイクロプロセツサ１１の制御信号によ
つてその記憶内容を消去できるようになつてい
る。１６は上記擬似信号発生器１４の擬似信号値
（最大反射波の高さｙに相当する信号値）をホー
ルドする電圧ホールド回路でその出力は差動増幅
器１５に導入される。なお上記差動増幅器１５は
上記ｙ記憶器１３の出力をアナログ変換し、その
出力値（電圧）V1を上記擬似信号値（電圧）V2
と比較し、その比較結果に応じた差信号V1−V2
を上記擬似信号発生器１４に導入させるようにな
つている。従つて上記擬似信号発生器１４、差動
増幅器１５および電圧ホールド回路１６は帰還形
の閉ループを構成している。
次にこの考案の動作を説明する。
いま送信部１からの送信信号が探触子２に与え
られたとすると探触子２は超音波信号を発生し、
この超音波信号は探触子２と被検査材３との間に
塗付された水、グリセリン等の接触媒体（図示せ
ず）を介して被検査材３に投入され点線で示した
ように伝播する。そして探傷しようとする溶接部
４に欠陥Ｆがあると超音波信号の一部が反射され
て再び探触子２に至り、上記探触子２で電気信号
に変換された後増幅器５によつて所定のレベルま
で増幅される。上記増幅器５の出力はCRT６に
与えられる一方ゲート部７によつて第２図に示し
た反射波F1だけが選出されＡ／Ｄ変換器８に入
力してデイジタル信号に変換される。上記デイジ
タル信号に変換された反射波はマイクロプロセツ
サ９で予じめ定めてある基準値と比較され、上記
反射波の方が基準値より大きいときには上記デイ
ジタル信号に相当する反射波の最大値ｙがメモリ
１０から読出され、ｙ記憶器１３に記憶される。
又上記マイクロプロセツサ９は上記最大値ｙの反
射波が発生した時刻と予じめ設定した時刻との相
対時間を測定し、その相対時間に対応した反射位
置ｘをメモリ１０から読出し、ｘ記憶器１２に記
憶させる。
られたとすると探触子２は超音波信号を発生し、
この超音波信号は探触子２と被検査材３との間に
塗付された水、グリセリン等の接触媒体（図示せ
ず）を介して被検査材３に投入され点線で示した
ように伝播する。そして探傷しようとする溶接部
４に欠陥Ｆがあると超音波信号の一部が反射され
て再び探触子２に至り、上記探触子２で電気信号
に変換された後増幅器５によつて所定のレベルま
で増幅される。上記増幅器５の出力はCRT６に
与えられる一方ゲート部７によつて第２図に示し
た反射波F1だけが選出されＡ／Ｄ変換器８に入
力してデイジタル信号に変換される。上記デイジ
タル信号に変換された反射波はマイクロプロセツ
サ９で予じめ定めてある基準値と比較され、上記
反射波の方が基準値より大きいときには上記デイ
ジタル信号に相当する反射波の最大値ｙがメモリ
１０から読出され、ｙ記憶器１３に記憶される。
又上記マイクロプロセツサ９は上記最大値ｙの反
射波が発生した時刻と予じめ設定した時刻との相
対時間を測定し、その相対時間に対応した反射位
置ｘをメモリ１０から読出し、ｘ記憶器１２に記
憶させる。
上記ｘ記憶器１２の出力は擬似信号発生器１４
に入力される一方ｙ記憶記１３の出力は差動増幅
器１５に入力される。上記差動増幅器１５は上記
ｙ記憶記１３の出力値（電圧値）V1と擬似信号
発生器１４の出力を電圧ホールド回路１６でホー
ルドした電圧値V2（ｙ記憶記１３の出力値に対
応する電圧値）とを比較し、その結果に応じて差
信号V1−V2を発する。この差信号V1−V2は擬似
信号発生器１４に導入して、発生される擬似信号
の電圧値V2を可変させる。詳しく述べると差信
号V1−V2＞０の場合は上記擬似信号の電圧値V2
が大きくなるように可変せしめ、差信号V1−V2
＜０の場合は擬似信号の電圧値V2が小さくなる
ように可変させて上記差信号が零になるように、
すなわち両者の値が等しくなるように電圧値V2
が調整される。
に入力される一方ｙ記憶記１３の出力は差動増幅
器１５に入力される。上記差動増幅器１５は上記
ｙ記憶記１３の出力値（電圧値）V1と擬似信号
発生器１４の出力を電圧ホールド回路１６でホー
ルドした電圧値V2（ｙ記憶記１３の出力値に対
応する電圧値）とを比較し、その結果に応じて差
信号V1−V2を発する。この差信号V1−V2は擬似
信号発生器１４に導入して、発生される擬似信号
の電圧値V2を可変させる。詳しく述べると差信
号V1−V2＞０の場合は上記擬似信号の電圧値V2
が大きくなるように可変せしめ、差信号V1−V2
＜０の場合は擬似信号の電圧値V2が小さくなる
ように可変させて上記差信号が零になるように、
すなわち両者の値が等しくなるように電圧値V2
が調整される。
従つてｙ記憶記１３と擬似信号発生器１４との
出力値（電圧値）は常に等しくなるようになつて
いる。
出力値（電圧値）は常に等しくなるようになつて
いる。
又上記擬似信号発生器１４は上記記憶器１１の
記憶内容に相当するｘ信号、ｙ信号を発生する。
このｘ，ｙ信号はCRT６に入力し、第４図ａ，
ｂに示したように表示される。すなわち上記
CRT１６の画面上には反射波の最大値ｙとその
反射波の発生位置ｘがアナログ的かつデイジタル
的に表示される。従つて擬似信号発生器１４は反
射波の最大値とその発生時刻に対応したアナログ
信号とデイジタル信号を発生する。
記憶内容に相当するｘ信号、ｙ信号を発生する。
このｘ，ｙ信号はCRT６に入力し、第４図ａ，
ｂに示したように表示される。すなわち上記
CRT１６の画面上には反射波の最大値ｙとその
反射波の発生位置ｘがアナログ的かつデイジタル
的に表示される。従つて擬似信号発生器１４は反
射波の最大値とその発生時刻に対応したアナログ
信号とデイジタル信号を発生する。
さらに上記記憶器１１は常に反射波の最大値ｙ
とその反射波の位置情報ｘを記憶するものであ
り、マイクロプロセツサ９は上記記憶器１１の内
容とｎ番目（ｎ＝２，３，４……）に発生された
反射波の値を比較し、ｎ番目の反射波の値が大き
くなるときには上記記憶器１１の内容を消去し、
ｎ番目の反射波の値に対応した情報ｘ，ｙをメモ
リ１０から読出して記憶器１１に記憶させるよう
になつている。従つてCRT６の画面上には常に
最大の反射波が表示されることになる。
とその反射波の位置情報ｘを記憶するものであ
り、マイクロプロセツサ９は上記記憶器１１の内
容とｎ番目（ｎ＝２，３，４……）に発生された
反射波の値を比較し、ｎ番目の反射波の値が大き
くなるときには上記記憶器１１の内容を消去し、
ｎ番目の反射波の値に対応した情報ｘ，ｙをメモ
リ１０から読出して記憶器１１に記憶させるよう
になつている。従つてCRT６の画面上には常に
最大の反射波が表示されることになる。
この考案は以上のようになつているからパルス
反射式超音波探傷装置を用いて被検査材を探傷す
るときの最も重要な２つの情報ｘ，ｙすなわち探
触子の走査中に得られる反射波の高さの最大値と
この最大値が得られたときの反射位置を常時凝視
しなくても測定できるようにしたので探傷作業者
は探触子を走査させることに専念できる。又この
考案は差動増幅器と擬似信号発生器は帰還型の閉
ループを構成しているので周波数特性、温度特性
等の影響によつて誘起される擬似信号発生器の出
力の増減を補償することができる。
反射式超音波探傷装置を用いて被検査材を探傷す
るときの最も重要な２つの情報ｘ，ｙすなわち探
触子の走査中に得られる反射波の高さの最大値と
この最大値が得られたときの反射位置を常時凝視
しなくても測定できるようにしたので探傷作業者
は探触子を走査させることに専念できる。又この
考案は差動増幅器と擬似信号発生器は帰還型の閉
ループを構成しているので周波数特性、温度特性
等の影響によつて誘起される擬似信号発生器の出
力の増減を補償することができる。
なお上記実施例では反射波の最大値と擬似信号
値をアナログ比較する差動増幅器を比較手段とし
て示したがこれをデイジタル比較する比較手段に
置きかえてもよい。
値をアナログ比較する差動増幅器を比較手段とし
て示したがこれをデイジタル比較する比較手段に
置きかえてもよい。
又上記実施例においてはCRTを表示器として
用いた場合を示したが、これをプラズマ表示器、
EL表示器等に置きかえられることは言うまでも
ない。
用いた場合を示したが、これをプラズマ表示器、
EL表示器等に置きかえられることは言うまでも
ない。
第１図は従来の超音波探傷装置を示すブロツク
図、第２図は第１図によるブラウン管の表示波形
例を示す図、第３図はこの考案の一実施例を示す
ブロツク構成図、第４図は第３図に示したブラウ
ン管の表示波形図である。 図において１は送信部、２は探触子、３は被検
査材、４は溶接部、６はブラウン管、７はゲート
部、９はマイクロプロセツサ、１１は記憶器、１
２はｘ記憶器、１３はｙ記憶記、１４は擬似信号
発生器、１５は差動増幅器、１６は電圧ホールド
回路である。なお図中同一あるいは相当部分には
同一符号を付して示してある。
図、第２図は第１図によるブラウン管の表示波形
例を示す図、第３図はこの考案の一実施例を示す
ブロツク構成図、第４図は第３図に示したブラウ
ン管の表示波形図である。 図において１は送信部、２は探触子、３は被検
査材、４は溶接部、６はブラウン管、７はゲート
部、９はマイクロプロセツサ、１１は記憶器、１
２はｘ記憶器、１３はｙ記憶記、１４は擬似信号
発生器、１５は差動増幅器、１６は電圧ホールド
回路である。なお図中同一あるいは相当部分には
同一符号を付して示してある。
Claims (1)
- 送信信号を発生する送信部と、上記送信部から
生ずる送信信号を超音波信号に変換して被検査材
に超音波を入射させるとともに、上記被検査材か
らの反射波を電気信号に変換する探触子と、所定
時間内に上記探触子で検出した上記反射波の最大
値を記憶する第１の記憶器と、上記最大値の反射
波が発生した時刻と予じめ設定された時刻との相
対時間を記憶する第２の記憶器と、上記第１およ
び第２の記憶器の記憶内容に基づいて上記反射波
の最大値とその発生時刻に対応した信号を発生す
る擬似信号発生器と、上記擬似信号発生器からの
擬似信号を入力して反射波の最大値とその発生位
置を表示する表示器と、上記第１の記憶器の出力
値と上記擬似信号値とを比較する比較手段とを備
え、上記比較手段による比較結果に基づき、上記
擬似信号発生器から発生される擬似信号の電圧値
を可変させて上記第１の記憶器の出力値と上記擬
似信号値とが等しくなるように調整することを特
微とする超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14809378U JPS622530Y2 (ja) | 1978-10-27 | 1978-10-27 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14809378U JPS622530Y2 (ja) | 1978-10-27 | 1978-10-27 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5564762U JPS5564762U (ja) | 1980-05-02 |
| JPS622530Y2 true JPS622530Y2 (ja) | 1987-01-21 |
Family
ID=29130163
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14809378U Expired JPS622530Y2 (ja) | 1978-10-27 | 1978-10-27 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS622530Y2 (ja) |
-
1978
- 1978-10-27 JP JP14809378U patent/JPS622530Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5564762U (ja) | 1980-05-02 |
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