JPS62253227A - デイジタル・アナログ変換器の試験方法ならびに試験装置 - Google Patents
デイジタル・アナログ変換器の試験方法ならびに試験装置Info
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- JPS62253227A JPS62253227A JP758087A JP758087A JPS62253227A JP S62253227 A JPS62253227 A JP S62253227A JP 758087 A JP758087 A JP 758087A JP 758087 A JP758087 A JP 758087A JP S62253227 A JPS62253227 A JP S62253227A
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- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 24
- 230000009466 transformation Effects 0.000 claims abstract description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 38
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 9
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
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- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、ディジタル・アナログ変換器の試験方法なら
びに試験装置に係り、特にディジタル・アナログ変換器
の直流信号および交流信号の変換特性の試験方法ならび
に試験装置に関するものである。
びに試験装置に係り、特にディジタル・アナログ変換器
の直流信号および交流信号の変換特性の試験方法ならび
に試験装置に関するものである。
音声帯域の交流信号を取り扱うディジタル・アナログ変
換器において、ディジタル信号入力端子に、あるディジ
タル正弦波信号を印加した場合の゛アナログ信号出力端
子に出力されるアナログ信号の特性、つまり被測定ディ
ジタル・アナログ変換器の信号対歪率特性、あるいは高
調波歪等交流信号の変換特性を測定する際、従来は、第
３図に示すごとく、被測定ディジタル・アナログ変換器
１のディジタル信号入力端子ＤＩＮ に、ランダム・
アクセス・メモリー（ＲＡＭ）等の記憶素子７ に記憶
されているディジタル・データに従って、プログラム可
能なディジタル正弦波発生器６を接続し、その出力であ
るディジタル正弦波を印加した際のアナログ信号出力端
子ＡＯＵ’！’よりの出力をサンプル・ホールド回路８
でディジタル信号入力端子ＤＩＮ より入力したディ
ジタル正弦波の数周期分を取り込み、取り込み終了後に
それらアナログ・データ列をアナログ・データ／ディジ
タル・データ変換装置９に入力し、アナログ・データ列
に相当するディジタル・データ列をディジタル信号処理
装置４へ転送し、ディジタル信号処理技術によりフーリ
エ変換し、時間軸より周波数軸への変換を行ない、出力
信号に現われている各周波数における信号の強度を求め
、例えば信号対歪特性においては、入力ディジタル正弦
波の基本周波数成分の出力強度をＡとし、他の全ての周
波数成分の出力強度の合計をＢとすると、信号対歪率Ｓ
／Ｄは Ｓ／Ｄ ＝ ２０Ｘ ｌｏｇ （Ａ／Ｂ）の
計算により特性値を得ていた。
換器において、ディジタル信号入力端子に、あるディジ
タル正弦波信号を印加した場合の゛アナログ信号出力端
子に出力されるアナログ信号の特性、つまり被測定ディ
ジタル・アナログ変換器の信号対歪率特性、あるいは高
調波歪等交流信号の変換特性を測定する際、従来は、第
３図に示すごとく、被測定ディジタル・アナログ変換器
１のディジタル信号入力端子ＤＩＮ に、ランダム・
アクセス・メモリー（ＲＡＭ）等の記憶素子７ に記憶
されているディジタル・データに従って、プログラム可
能なディジタル正弦波発生器６を接続し、その出力であ
るディジタル正弦波を印加した際のアナログ信号出力端
子ＡＯＵ’！’よりの出力をサンプル・ホールド回路８
でディジタル信号入力端子ＤＩＮ より入力したディ
ジタル正弦波の数周期分を取り込み、取り込み終了後に
それらアナログ・データ列をアナログ・データ／ディジ
タル・データ変換装置９に入力し、アナログ・データ列
に相当するディジタル・データ列をディジタル信号処理
装置４へ転送し、ディジタル信号処理技術によりフーリ
エ変換し、時間軸より周波数軸への変換を行ない、出力
信号に現われている各周波数における信号の強度を求め
、例えば信号対歪特性においては、入力ディジタル正弦
波の基本周波数成分の出力強度をＡとし、他の全ての周
波数成分の出力強度の合計をＢとすると、信号対歪率Ｓ
／Ｄは Ｓ／Ｄ ＝ ２０Ｘ ｌｏｇ （Ａ／Ｂ）の
計算により特性値を得ていた。
以上述べてきた従来のディジタル・アナログ変換器の交
流信号の変換特性の試験方法ならひに試験装置では、先
づ第１に、ディジタル正弦波を発生させるために、記憶
装置や高価なそして発振周波数および出力レベルのプロ
グラム可能なディジタル正弦波発生器が必要である。第
２に、被測定ディジタル・アナログ変換器のアナログ信
号出力端子からの交流信号を取り込むために、サンプル
・ホールド回路等が必要である。第３に被測定ディジタ
ル・アナログ変換器のアナログ信号出力端子へ接続しで
ある配線等に交流信号を通すために、外部からの雑音等
がのらないように非常に注意をはられなければならない
。ｍ４に、入力ディジタル正弦波の入力レベルに対する
特性、あるいは、入力ディジタル正弦波の周波数に対す
る特性を試験する場合は、入力ディジタル正弦波の入力
レベル、あるいは周波数を変化させる毎に測定を行なわ
なくてはならず、また、１回の８１１］定にも入力ディ
ジタル正弦波の数周期分を取り込まなくてはならず、試
験にかかる時間が非常に長くなる等の欠点がある。
流信号の変換特性の試験方法ならひに試験装置では、先
づ第１に、ディジタル正弦波を発生させるために、記憶
装置や高価なそして発振周波数および出力レベルのプロ
グラム可能なディジタル正弦波発生器が必要である。第
２に、被測定ディジタル・アナログ変換器のアナログ信
号出力端子からの交流信号を取り込むために、サンプル
・ホールド回路等が必要である。第３に被測定ディジタ
ル・アナログ変換器のアナログ信号出力端子へ接続しで
ある配線等に交流信号を通すために、外部からの雑音等
がのらないように非常に注意をはられなければならない
。ｍ４に、入力ディジタル正弦波の入力レベルに対する
特性、あるいは、入力ディジタル正弦波の周波数に対す
る特性を試験する場合は、入力ディジタル正弦波の入力
レベル、あるいは周波数を変化させる毎に測定を行なわ
なくてはならず、また、１回の８１１］定にも入力ディ
ジタル正弦波の数周期分を取り込まなくてはならず、試
験にかかる時間が非常に長くなる等の欠点がある。
〔問題点を解決するだめの手段〕
本発明のディジタル・アナログ変換器の試験方法は、被
測定ディジタル・アナログ変換器のディジタル信号入力
端子に接続したディジタル・パターン発生器の出力ディ
ジタル・パターンを変化させる毎の、被測定ディジタル
・アナログ変換器のアナログ信号出力端子より出力され
るアナログ出カイ直を、この値に相当するディジタル・
データに変換し、変換したディジタル・データをディジ
タル信号処理装置に入力し、フーリエ変換を行なうこと
を特徴としている。
測定ディジタル・アナログ変換器のディジタル信号入力
端子に接続したディジタル・パターン発生器の出力ディ
ジタル・パターンを変化させる毎の、被測定ディジタル
・アナログ変換器のアナログ信号出力端子より出力され
るアナログ出カイ直を、この値に相当するディジタル・
データに変換し、変換したディジタル・データをディジ
タル信号処理装置に入力し、フーリエ変換を行なうこと
を特徴としている。
また本発明のディジタル・アナログ変換器の試験装置は
、ディジタル・パターン発生器と直流レベル読み取り装
置とディジタル信号処理装置とを有している。
、ディジタル・パターン発生器と直流レベル読み取り装
置とディジタル信号処理装置とを有している。
更に本発明のディジタル・アナログ変換器の他の試験装
置は、ディジタル・パターン発生器と電流／電圧変換装
置と直流レベル読み取り装置とディジタル信号処理装置
とを有している。
置は、ディジタル・パターン発生器と電流／電圧変換装
置と直流レベル読み取り装置とディジタル信号処理装置
とを有している。
以下に１本発明について図面を参照してより畦細に説明
する。
する。
第１図に本発明の第１０芙施例のブロック図を示す。尚
従来例として示した第３図と同一の箇所には同一の番号
が付しである。被測定デバイスである電圧出力形ディジ
タル・アナログ変換器１における交流信号の変換特性を
試験する際、被測定ディジタル・ナナログ変換器１のデ
ィジタル信号入力端子ＤＩＮ に接続されたディジタル
・パターン発生器２の出力ディジタル・パターンを調整
し。
従来例として示した第３図と同一の箇所には同一の番号
が付しである。被測定デバイスである電圧出力形ディジ
タル・アナログ変換器１における交流信号の変換特性を
試験する際、被測定ディジタル・ナナログ変換器１のデ
ィジタル信号入力端子ＤＩＮ に接続されたディジタル
・パターン発生器２の出力ディジタル・パターンを調整
し。
先づディジタル・パターンとして０００・・・００を発
生し、ディジタル信号入力端子ＤＩＮに印加する。
生し、ディジタル信号入力端子ＤＩＮに印加する。
この際のアナログ信号出力端子ＡＯＵＴ’の出力電圧Ａ
ｏを直流レベル読み取り装置３で読み取り、この出力電
圧ＡＯに相当するディジタル・データＤ。
ｏを直流レベル読み取り装置３で読み取り、この出力電
圧ＡＯに相当するディジタル・データＤ。
をディジタル信号処理装置４に転送する。次に、ディジ
タル・パターン発生器２の出力ディジタル・パターンを
０００・・・０１とし、ディジタル信号入力端子ＤＩＨ
に印加する。この際のアナログ信号出力端子Ａｏｕｔの
出力電圧Ａｌを直流レベル読み取り装置３で読み取り、
この出力電圧Ａ１に相当するディジタル・データＤＩを
ディジタル信号処理装ｆ！４に転送する。次に％ディジ
タル・パターン発生器２の出力ディジタル・パターンを
０００・・・１０とし、ディジタル信号入力端子ＤＩＮ
に印加する。この際のアナログ信号出力端子ＡｏｔｒＴ
の出力電圧Ａ２を＠流しベル読み取り装置！Ｌ３で読み
取り。
タル・パターン発生器２の出力ディジタル・パターンを
０００・・・０１とし、ディジタル信号入力端子ＤＩＨ
に印加する。この際のアナログ信号出力端子Ａｏｕｔの
出力電圧Ａｌを直流レベル読み取り装置３で読み取り、
この出力電圧Ａ１に相当するディジタル・データＤＩを
ディジタル信号処理装ｆ！４に転送する。次に％ディジ
タル・パターン発生器２の出力ディジタル・パターンを
０００・・・１０とし、ディジタル信号入力端子ＤＩＮ
に印加する。この際のアナログ信号出力端子ＡｏｔｒＴ
の出力電圧Ａ２を＠流しベル読み取り装置！Ｌ３で読み
取り。
この出力電圧Ａ２に相当するディジタル・データＤ２を
ディジタル信号処理装ｆＪＩｔ４に転送する。以下順次
出力電圧Ａ３ 、 Ａ４ 、・・・ＡＩ と求めて行き
、ディジタル・データＤ３．Ｄ４・・・ＤＩをディジタ
ル信号処理装置４に転送して行き、ディジタル・パター
ン発生器２の出力ディジタ／ｌ／−パターンつまりディ
ジタル信号式カバターンを１１１・・・０１とし、 た
時のアナログ信号出力電圧ＡＩ、−２．ディジタルデー
タＤｎ−２、ディジタル信号式カバターン１１１・・・
１０とした時のアナログ信号出力電圧Ａｎ−１゜ディジ
タル・データＤｎ−１、最後にディジタル信号式カバタ
ーン１１１・・・１１とした時のアナログ信号出力電圧
Ａｎ１ディジタル・データＤｎ まで求めて行く。ただ
しここでｎは被測定ディジタル・アナログ変換器１の分
解能をｍビットとした時ｎ−２−１である。この様にし
て求めていったディジタル・データＤ Ｏ＋ ｎ１＋
Ｄ２ ＋ ・・’ Ｄａ−２ｒＤｎ ｌ ＋Ｄ１１をデ
ィジタル信号処理装置４において、理想的なある周波数
及びレベルのディジタル正弦波にあてはめフーリエ変換
を行ない時間軸のデータを周波数軸のデータに変換し従
来の被測定ディジタル・アナログ変換器１にディジタル
正弦波発生器で発生したディジタル正弦波を印加しその
際の出力データをフーリエ変換したものと同様な周波数
軸のデータが得られ信号対歪率特性や周波数特性。
ディジタル信号処理装ｆＪＩｔ４に転送する。以下順次
出力電圧Ａ３ 、 Ａ４ 、・・・ＡＩ と求めて行き
、ディジタル・データＤ３．Ｄ４・・・ＤＩをディジタ
ル信号処理装置４に転送して行き、ディジタル・パター
ン発生器２の出力ディジタ／ｌ／−パターンつまりディ
ジタル信号式カバターンを１１１・・・０１とし、 た
時のアナログ信号出力電圧ＡＩ、−２．ディジタルデー
タＤｎ−２、ディジタル信号式カバターン１１１・・・
１０とした時のアナログ信号出力電圧Ａｎ−１゜ディジ
タル・データＤｎ−１、最後にディジタル信号式カバタ
ーン１１１・・・１１とした時のアナログ信号出力電圧
Ａｎ１ディジタル・データＤｎ まで求めて行く。ただ
しここでｎは被測定ディジタル・アナログ変換器１の分
解能をｍビットとした時ｎ−２−１である。この様にし
て求めていったディジタル・データＤ Ｏ＋ ｎ１＋
Ｄ２ ＋ ・・’ Ｄａ−２ｒＤｎ ｌ ＋Ｄ１１をデ
ィジタル信号処理装置４において、理想的なある周波数
及びレベルのディジタル正弦波にあてはめフーリエ変換
を行ない時間軸のデータを周波数軸のデータに変換し従
来の被測定ディジタル・アナログ変換器１にディジタル
正弦波発生器で発生したディジタル正弦波を印加しその
際の出力データをフーリエ変換したものと同様な周波数
軸のデータが得られ信号対歪率特性や周波数特性。
入力レベル特性等交流信号に対する特性が得られる。又
同時ＶＣ入力ディジタルパターンの０００・・・００か
ら１１１・・・１１まで全ての変換データを得ているた
め、直線性Ｗ１４差、微分厘腺性誤差、ゼロスケール誤
差、フルスケール誤差等の直流信号に対する特性をも取
得できる。
同時ＶＣ入力ディジタルパターンの０００・・・００か
ら１１１・・・１１まで全ての変換データを得ているた
め、直線性Ｗ１４差、微分厘腺性誤差、ゼロスケール誤
差、フルスケール誤差等の直流信号に対する特性をも取
得できる。
第２図に本発明の第２の実施例のブロック図を示す。尚
従来例の第３図および第１の実施例として示した第１図
と同一の箇所には同一の符号が付しである。本実施例は
被測定ディジタル◆アナログ変換器が電流出力形のもの
の場合を示している。
従来例の第３図および第１の実施例として示した第１図
と同一の箇所には同一の符号が付しである。本実施例は
被測定ディジタル◆アナログ変換器が電流出力形のもの
の場合を示している。
このため被測定ディジタル・アナログ変換器１のアナロ
グ信号出力端子ＡＯＵＴと直流レベル読み取り装置３の
間に電流／電圧変換装［５が挿入されている。動作は第
１図に示した第１の実施例と同様で、被測定ディジタル
・アナログ変換器１のディジタル信号入力端子１）ｒＮ
に接続されたディジタル・パターン発生器２の出力
ディジタルパターンを先づ０００・・・００としディジ
タル信号人力として印加する。この際のアナログ信号出
力端子Ａｏｕ’ｒの出力電流ｌｏを電流／電圧変換装置
５に加え。
グ信号出力端子ＡＯＵＴと直流レベル読み取り装置３の
間に電流／電圧変換装［５が挿入されている。動作は第
１図に示した第１の実施例と同様で、被測定ディジタル
・アナログ変換器１のディジタル信号入力端子１）ｒＮ
に接続されたディジタル・パターン発生器２の出力
ディジタルパターンを先づ０００・・・００としディジ
タル信号人力として印加する。この際のアナログ信号出
力端子Ａｏｕ’ｒの出力電流ｌｏを電流／電圧変換装置
５に加え。
この出力である出力電圧Ａ（１を直流レベル読み取り装
置ＩＬ３で読み取り、この出力電圧ＡＯに相当するディ
ジタル・データＤ、を求めディジタル信号処理装［４に
転送する。次に、ディジタル・パターン発生器２の出力
ディジタル・パターンを０００・・・０１とし、ディジ
タル信号入力端子ＤＩＮ に印加する。この際の、ア
ナログ信号出力端子ＡＯＵＴの出力電流↓１を電流／電
圧変換装置３で読み取り、この出力電圧Ａ１に相当する
ディジタル・データＤ１ を求めディジタル信号処理装
置４に転送する。以下順次出力電流’２＋’３＋・・・
ｌＩ と求めて行き、出力電圧Ａ２ 、 Ａ３ 、・・
・Ａ１に変換し、それら出力電圧に相当するディジタル
・データＤ２゜Ｄ３＋・・・Ｄｌを転送して行き、最後
にディジタル信号入カバターン１１１・・・１１とした
時のアナログ信号出力電流ｉｎｓ 出力電圧Ａｎ およ
びディジタル・データＤ７までを求めて行き、ディジタ
ル信号処理装［４でフーリエ変換を行なう。
置ＩＬ３で読み取り、この出力電圧ＡＯに相当するディ
ジタル・データＤ、を求めディジタル信号処理装［４に
転送する。次に、ディジタル・パターン発生器２の出力
ディジタル・パターンを０００・・・０１とし、ディジ
タル信号入力端子ＤＩＮ に印加する。この際の、ア
ナログ信号出力端子ＡＯＵＴの出力電流↓１を電流／電
圧変換装置３で読み取り、この出力電圧Ａ１に相当する
ディジタル・データＤ１ を求めディジタル信号処理装
置４に転送する。以下順次出力電流’２＋’３＋・・・
ｌＩ と求めて行き、出力電圧Ａ２ 、 Ａ３ 、・・
・Ａ１に変換し、それら出力電圧に相当するディジタル
・データＤ２゜Ｄ３＋・・・Ｄｌを転送して行き、最後
にディジタル信号入カバターン１１１・・・１１とした
時のアナログ信号出力電流ｉｎｓ 出力電圧Ａｎ およ
びディジタル・データＤ７までを求めて行き、ディジタ
ル信号処理装［４でフーリエ変換を行なう。
以上実施例を用いて説明してきたように１本発明は、記
憶装置、高価なそして発振周波数および出力レベルのプ
ログラム可能なディジタル正弦波発生器や、アナログ信
号出力端子からの交流信号を取りふむためのサンプル・
ホールド回路、アナログ・データ／ディジタル・データ
変換装置等を用いる必要がなく、ディジタル・パターン
発生器と被測定ディジタル・アナログ変換器のアナログ
信号出力端子より出力される直流出力値に相当するディ
ジタル・データを得る直流レベル読み取り装置と、得ら
れたディジタル・データを取り込み演算するディジタル
信号処理装置とを用いることにより被測定ディジタル・
アナログ変換器の交流信号の変換特性を被測定ディジタ
ル・アナログ変換器の追従できる周波数範囲において、
直流信号の変換特性を測定するだけで試験することがで
き、非常に安価なシステムで精度良く測定できると言う
効果がある。
憶装置、高価なそして発振周波数および出力レベルのプ
ログラム可能なディジタル正弦波発生器や、アナログ信
号出力端子からの交流信号を取りふむためのサンプル・
ホールド回路、アナログ・データ／ディジタル・データ
変換装置等を用いる必要がなく、ディジタル・パターン
発生器と被測定ディジタル・アナログ変換器のアナログ
信号出力端子より出力される直流出力値に相当するディ
ジタル・データを得る直流レベル読み取り装置と、得ら
れたディジタル・データを取り込み演算するディジタル
信号処理装置とを用いることにより被測定ディジタル・
アナログ変換器の交流信号の変換特性を被測定ディジタ
ル・アナログ変換器の追従できる周波数範囲において、
直流信号の変換特性を測定するだけで試験することがで
き、非常に安価なシステムで精度良く測定できると言う
効果がある。
また、直流における測定だけを行なうため、ア ｌナロ
グ信号出力端子へ接続しである配線等にも雑音がのらな
いように、との非常に注意深い配慮がいらなくなると言
う効果がある。
グ信号出力端子へ接続しである配線等にも雑音がのらな
いように、との非常に注意深い配慮がいらなくなると言
う効果がある。
更に、一度の一連の測定で被測定ディジタル・アナログ
変換器の＠線性誤差、微分直線性誤差。
変換器の＠線性誤差、微分直線性誤差。
セロスケール誤差、フルスケール誤差および、総合誤差
等の直流信号に対する変換特性をも測定できると１゛う
効果がある。
等の直流信号に対する変換特性をも測定できると１゛う
効果がある。
、また、従来の試験方法ならびに試験装置では、ディジ
タル信号入力端子におけるディジタル正弦波の人力レベ
ルに対する特性、あるいはディジタル正弦波の周波数に
対する特性を試験する場合は、入力するディジタル正弦
波のレベルあるいは周波数を変化させる毎に測定を行な
わなければならなかったが、本発明の試験方法ならＯ・
に試験装置によれば、一度の測定ですみ、後は全て演算
処理により求めることができるために試験にかかる時間
が非常に少なくてすむと言う効果がある。
タル信号入力端子におけるディジタル正弦波の人力レベ
ルに対する特性、あるいはディジタル正弦波の周波数に
対する特性を試験する場合は、入力するディジタル正弦
波のレベルあるいは周波数を変化させる毎に測定を行な
わなければならなかったが、本発明の試験方法ならＯ・
に試験装置によれば、一度の測定ですみ、後は全て演算
処理により求めることができるために試験にかかる時間
が非常に少なくてすむと言う効果がある。
第１図は本発明の第１の実施例を示すブｏ、７り図、第
２図は本発明の第２の実施例を示すブロック図、第３図
は従来のディジタル・アナログ変換器の交流信号の変換
特性の試験方法ならひに試験装置を示すブロック図であ
る。 １・・・・・・被？１１１Ｊ定ディジタル・アナログ変
換器、２・・・・・・ディジタル・パターン発生器、３
・旧・・ｍ、’ ＃ｔ、レベル読み取り装置、４・・・
・・・ディジタル信号処理装置、５・・・・・・電流／
電圧変換装置、６・・・・・・ディジタル正弦波発生装
置、７・・・・・・記憶素子、８・・・・・・サンフル
・ボールド回路、９・・・・・・アナログ・データ／デ
ィジタル・データ変換装置。 代理人 弁理士 内 原 音 信 １ 口 早２ 図
２図は本発明の第２の実施例を示すブロック図、第３図
は従来のディジタル・アナログ変換器の交流信号の変換
特性の試験方法ならひに試験装置を示すブロック図であ
る。 １・・・・・・被？１１１Ｊ定ディジタル・アナログ変
換器、２・・・・・・ディジタル・パターン発生器、３
・旧・・ｍ、’ ＃ｔ、レベル読み取り装置、４・・・
・・・ディジタル信号処理装置、５・・・・・・電流／
電圧変換装置、６・・・・・・ディジタル正弦波発生装
置、７・・・・・・記憶素子、８・・・・・・サンフル
・ボールド回路、９・・・・・・アナログ・データ／デ
ィジタル・データ変換装置。 代理人 弁理士 内 原 音 信 １ 口 早２ 図
Claims (5)
- （１）被測定ディジタル・アナログ変換器のディジタル
信号入力端子にディジタル・パターン発生器を接続し、
該ディジタル・パターン発生器の出力ディジタル・パタ
ーンを変化させる毎の、該被測定ディジタル・アナログ
変換器のアナログ信号出力端子より出力されるアナログ
出力値を該出力値に相当するディジタル・データに変換
した該ディジタル・データをディジタル信号処理装置に
入力し、フーリエ変換を行なうことを特徴とするディジ
タル・アナログ変換器の試験方法。 - （２）被測定ディジタル・アナログ変換器にディジタル
パターンを供給するディジタル・パターン発生器と、前
記被測定ディジタル・アナログ変換器のアナログ出力の
直流レベルを読み取りディジタルデータに変換する直流
レベル読み取り装置と、前記ディジタルデータをフーリ
エ変換するディジタル信号処理装置とを有するディジタ
ル・アナログ変換器の試験装置。 - （３）前記ディジタル・パターン発生器のディジタル信
号出力端子が前記被測定ディジタル・アナログ変換器の
ディジタル信号入力端子と前記ディジタル信号処理装置
の第１の入力端子に接続され、該被測定ディジタル・ア
ナログ変換器のアナログ信号出力端子が前記直流レベル
読み取り装置の入力端子に接続され、前記直流レベル読
み取り装置の出力端子が前記ディジタル信号処理装置の
第２の入力端子に接続されたことを特徴とする特許請求
の範囲第（２）項記載のディジタル・アナログ変換器の
試験装置。 - （４）被測定ディジタル・アナログ変換器にディジタル
パターンを供給するディジタル・パターン発生器と、前
記被測定ディジタル・アナログ変換器の出力電流を電圧
出力に変換する電流／電圧変換装置と、前記電圧出力の
直流レベルを読み取りディジタルデータに変換する直流
レベル読み取り装置と、前記ディジタルデータをフーリ
エ変換するディジタル信号処理装置とを有するディジタ
ル・アナログ変換器の試験装置。 - （５）前記ディジタル・パターン発生器のディジタル信
号出力端子が前記被測定ディジタル・アナログ変換器の
ディジタル信号入力端子と前記ディジタル信号処理装置
の第１の入力端子に接続され、前記被測定ディジタル・
アナログ変換器のアナログ信号出力端子が前記電流／電
圧変換装置の入力端子に接続され、前記電流／電圧変換
装置の出力端子が直流レベル読み取り装置の入力端子に
接続され、前記直流レベル読み取り装置の出力端子が前
記ディジタル信号処理装置の第２の入力端子に接続され
たことを特徴とする特許請求の範囲第（４）項記載のデ
ィジタル・アナログ変換器の試験装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61-10413 | 1986-01-20 | ||
| JP1041386 | 1986-01-20 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62253227A true JPS62253227A (ja) | 1987-11-05 |
Family
ID=11749460
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP758087A Pending JPS62253227A (ja) | 1986-01-20 | 1987-01-16 | デイジタル・アナログ変換器の試験方法ならびに試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62253227A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0212075A (ja) * | 1988-03-31 | 1990-01-17 | Hewlett Packard Co <Hp> | インサーキット試験装置および方法 |
| JPH02159121A (ja) * | 1988-12-12 | 1990-06-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Ｄ／ａコンバータ用電圧測定器 |
-
1987
- 1987-01-16 JP JP758087A patent/JPS62253227A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0212075A (ja) * | 1988-03-31 | 1990-01-17 | Hewlett Packard Co <Hp> | インサーキット試験装置および方法 |
| JPH02159121A (ja) * | 1988-12-12 | 1990-06-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Ｄ／ａコンバータ用電圧測定器 |
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