JPS62256565A - 画像情報の検出処理方法 - Google Patents

画像情報の検出処理方法

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JPS62256565A
JPS62256565A JP61099875A JP9987586A JPS62256565A JP S62256565 A JPS62256565 A JP S62256565A JP 61099875 A JP61099875 A JP 61099875A JP 9987586 A JP9987586 A JP 9987586A JP S62256565 A JPS62256565 A JP S62256565A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の技術分野) この発明は、ネガフィルム等の原画フィルムの画像情報
を比較的画素密度の粗いイメージセンサ等によって検出
処理するようにした画像情報の検出処理方法に関する。
(発明の技術的背既とその問題点) 写真焼付装置では焼付露光量もしくは補正量を決定する
ために原画フィルム(たとえばネガフィルム)の濃度を
計測しなければならないが、従来は焼付光学系の光路近
辺に配設されたフォトダイオード等の光センサによって
、ネガフィルムの平均濃度をLATD(Large A
rea Trang−厘1ttance Densit
y)測光するようにしている。
このLATDによる画像検出はネガフィルムを平均的に
測光するものであり、ネガフィルムの画像濃度を正確に
かつ画面全体にわたって測定するものではないため、焼
付露光もしくは補正が確実ではないという欠点があった
。これを解決した装置として1本出願人は特開昭80−
154244号、特開昭GO−151631号、特開昭
80−220325号等を提案しているが、これに用い
るイメージセンサの画素密度を高いものとすると、イメ
ージセンサ及びその周辺回路等のコストが非常に高く、
さらに露光り等の演算処理時間が長くなってしまう問題
がある。したがって、露光闇等の演算のためには、イメ
ージセンサの画素密度は比較的に粗であることが望まし
いのである。
さらに、写真焼付装置では、印画紙へ原画フィルムのコ
マ画像を適正に焼付けるために、原画フィルムのコマを
光学フレームに正確に位置決めする必要がある。このた
め、従来は原画フィルムの側端部にノツチを設け、これ
を光センサ等で検出して位置決めするようにしているが
、ノツチを設ける時にコマとの対応を正確にとる必要が
あり、多大な労力を要するといった欠点がある。また、
原画フィルムに対して常に一定距離の定量送りを行なっ
て位置決めする方法もあるが、位置ずれが累積されて精
度が悪いといった欠点がある。さらに、フォトダイオー
ド竿の光センサを原画フィルムのコマの形状に合せて配
設しておき、各光センサの検出状y5や順番等によって
位置決めする方法も提案されているが、構造やrIA御
アルゴリズムが複雑になる欠点がある。ざらに又、分解
能を上げるためにスリットマスクを装着しているが、感
度が低下してしまう欠点があった。
これを解決した装置として、本出願人は特開昭80−1
911740号、特願昭80−185793号等を提案
しているが、通常これに用いるイメージセンサの画素密
度は、極めて高い分解能が要求される0画像コマ間のエ
ツジを精度良く検出しなければ、正確に搬送制御できな
いからである。
(発明の目的) この発明は上述のような事情からなされたものであり、
この発明の目的は、比較的低分解藺のイメージセンサで
ネガフィルム等の原画フィルムの画像情報を検出すると
共に、原画フィルムの画像情報を分解能を高めて処理で
きる画像情報の検出処理方法を提供することにある。
(発明の概要) この発明は、原画フィルムとセンサとが相対的に移動し
、原画フィルムの画像を前記センサで測光する方法に関
するもので、前記センサの画素ピッチよりも相対的に小
さいピッチで検出した画素列の出力を処理することによ
って前記画素ピッチを補間し、高分解能の画像情報を検
出するようにしたものである。
(発明の実施例) 先ず、この発明の萌提となる原画フィルムとしてのネガ
フィルムの測光方法について説明する。なお、ネガフィ
ルムのイメージセンサによる検出は、たとえば特開昭6
0−198740号公報。
特開昭130−151833号公報等に示されるような
、本出願人が提案した方法による。
この発明では第1図に示すように、焼付部のネガフィル
ム2の近傍に、たとえばCCDで成る面走査式の2次元
イメージセンサ11を内蔵した画像情報検出装鐙10を
配設し、ネガフィルム2の画面全体の画像情報を多数の
整列画素に分割して検出する。すなわち、駆動回路(図
示せず)からイメージセンサIIに所定の駆動信号を与
えることにより、2次元イメージセンサ11は焼付部に
置かれているネガフィルム2の透過光をレンズ系12を
介して受光するので、2次元イメージセンサ11はたと
えば第2図(A)に示すようにネガフィルム2の全体を
整列された多数の小さな画素21に分割して、走査線S
Lに従って順番にネガフィルム2の画面全体を走査する
ことができる。そして1画面全体の走査に従ってイメー
ジセンナ11の出力レジスタ部から画像信号を順次出力
し、この画像信号をサンプルホールド回路でサンプルホ
ールドして、そのホールド値をAn変換器でディジタル
信号に変換する。 A[+変換器からのディジタル信号
は書込制御回路の制御によって、メモリに第2図(B)
に示すような画素21に対応する配列で、かつネガフィ
ルム2の真数ディジタル値(又はテーブル変換等による
濃度値)で格納されることになる。
ここにおいて、イメージセンサ11の検出では、分解能
の高いセンサの場合には画像コマ間のエツジ検出の能力
は高くなるが、画素数が多いために露光量等の演算処理
は複雑となる。
ところで、イメージセンナ、たとえばラインセンサによ
る寸法測定の基本は、第3図に示すようにレンズ21を
介してラインセンサ20上に結像した被測定物(直径D
)22の影像を、同図AのスライスレベルSLで同図B
の如く2値化することによって、明または暗の光電素子
、すなわち画素の数N(たとえば1024〜2048個
)を求め、画素ピッチPi(たとえば14〜28終)を
一定値としてNXPjを求め、更にレンズ21の倍率a
を乗じて被測定物22の寸法りが求められることによっ
ている。このため、この測定法には次のような特徴があ
る。
(1)0定時間が短かい(0,5〜100 ミリ秒)。
(2)可動部分がないので、半永久的な耐久性がある。
(3)非接触測定としての応用範囲が広い。
(4)イメージセンサの感度波長域ならば、照明光に制
限がない。
(5)被測定物の位置の許容範囲が広い。
これらの点から、この方式は近代工業の要求するオンラ
イン測定に応えられると考えられるが、撮像と光電変換
という過程があるので、各種の測定誤差を生ずる原因を
含んでいる。また、根本的な問題として、測定精度、I
I4定範囲が画素数N9画素ピッチPiで制約されると
いう欠点があった。 LSI製作の技術進歩により画素
の微細化が進み、数ルビッチのものも開発されているが
、露光補正等の演算処理をする場合には、ネガフィルム
の画像コマ上で数腸鳳単位の分解能で数100点単位に
画素分割するのが、一般的に絵柄の特徴を抽出するため
の特性上望ましく、コスト的にも有利で、又高速で画像
処理する上でも便利である。
この発明ではセンサ、たとえばイメージセンサの画素ピ
ッチを補間して読取るようにしており1画素ピッチPi
に対して約10倍の寸法測定分解能(十分の一■単位)
を達成し、実用に供せもれるネガフィルムの画像コマ間
のエツジ検出を完成した。つまり、イメージセンサを利
用して影像の寸法を測定する場合、常識的にはW#U素
ピッチよりも測定精度を上げることは不可能とされてい
た。これは1画像読取りがディジタルである。という観
念の結果である。この発明における画素出力のピッチ補
間は、画素出力を連続したアナログ的信号として扱い、
出力の微小変化を検出する方式であり、ディジタルとア
ナログの組合せ、いわばノギスの副尺同様な造味を有し
ている。この原理は、第4図の実線RLで示す階段状の
サンプルホールドされたイメージセンサの出力波形を得
た時に、通常はスライスレベルSLによりN1個、13
個の明の画素数、82個の暗の画素数と読取るところを
破線BLのような波形を作ることにより1画素よりも細
分化されたΔNを検出することができる。ΔにはM1番
目の画素出力と、 (N+÷1)番目の画素出力を検出
してA/D変換し、スライスレベルSLとの交点を比例
演算によって求めることも可能である。しかし、これで
は回路が複雑化し、演算に時間を必要とし、微小な変化
を正確に検出しにくい欠点もある。これに対し、この発
明方法は、簡易な構成でリアルタイムにΔNを検出、つ
まり画素出力を第4図の破線BLで示すように微小ピッ
チで検出し、補間された変数分布により統計的手法によ
って画像コマ間のエツジを検出している。ネガフィルム
を画素ピッチより相対的に小さいピッチで検出した画素
列の出力を処理し、W I + 12などで示す補間さ
れた信号を元にした2値化上号の長さを検出すること′
によって達成される。第4図において、信号の長さ豐1
は次式で求められる。
帽 −N1 ・T ◆ ΔN ・τ 本 丁(N+  
÷  ΔN)・・・・・・・・・(1) これをクロックtで測定し T −kt             ・・・・・・・
・・(2)とすれば(1)式より W、  −kt(N、  +ΔN)         
・・・・・・・・・(3)となる・ここで、kをlOと
すればΔNは0.1画素の長さまで計数され、補間され
た測定値が得られる。
次に、その手法を詳細に説明する。
この発明では第5図に示すように、フォトダイオードア
レイやラインセンサ又は2次元イメージセンサの単数も
しくは複数の代表面素列Pに対して、メモリの記憶画素
列データ領域Mを複a(たとえば雲1〜$lOの10画
素相当分)としてメモリl上で画素データを形成してい
る。たとえば、受光画素PIに対応するメモリの記憶画
素データ恥は第6図に示すようにIII〜MIIOであ
り、受光画素P2に対応するメモリの記憶画素データx
2はMU ”’M210である。他の受光画素について
も同様に、雲1〜11Gの記憶画素データで形成されて
いる。
この記憶後、第7図に示すように、メモリに記憶された
画素列データ、つまりネガフィルム2の画素ピッチを補
間して検出された画像情報を処理することにより光量特
性PCを求め、ネガフィルム2のコマ間の未撮影領域(
スヌケ)Rと画像コマのニー2ジを検出するようにして
も良い、この場合、光量特性PCの最大値PMは、ネガ
のベース光量値に轟とこれよりも所定率(たとえば80
%)のスレッショルド値Cvの間に入っていることが必
要である。これは、ネガフィルムの画像コマのエツジは
画像コマと未撮影領域の境界にあり、一般的には一定の
スレッショルド値Cvよりも光量が大きくなるからであ
る。また、光量特性PCの最大値PMの位置から光量が
負の傾きとなる距離、つまり最大値PMより光量が減少
する距離文が所定圧Ia(たとえば1m■)以上ある必
要がある。これは、コマエツジはコマ間のスヌケRを過
ぎてから存在するものであり、ノイズ成分を除去する必
要があるからである。その範囲はある許容幅を有してい
ても良い、さらに、最大値Pにより距離文での光39N
Pが画像コマのエツジに相当するものであり、最大値P
Mに対して一定比率の範囲内となっていることが必要で
ある。これは、最大値PMよりも必らず光量が小さくな
っており、その傾きもある程度の大きさが必要であるこ
とを、a味している。最大値PMに対して光量MPの差
が余りない場合には1画像なのか未撮影領域であるかの
区別がつかないからである。この場合には、定量送りと
する。ここでは上述した3つの条件が全て揃ったとき、
エツジの検出とする。なお、この例では光量の真数値を
8ビツト(0〜255)で得ている。
ところで、上述したエツジ検出は、たとえば第8図(A
)、(B)及び第9図(A)〜(C)に示す如く行なわ
れる。すなわち、第8図では同図(B)に示すような微
小ピッチ送りのネガフィルム2の移動状態に対して検出
されたイメージセンサの画素列40の時系列変化量(光
量変化量)は同図(A)のようになり、これから変化量
がゼロとなる位置を画像コマ間の未撮影領域として検出
できる。また、第9図では、隣接する2つの画素列のセ
ンサ出力が同図(A)及び(B)であり、その差(B)
−(A)を示す同図(C)の変化量がゼロとなる位置を
画像コマ間の未撮影領域、及び変化方向反転時を画像コ
マのエツジとして検出することができる。
第10図は任意のネガフィルム1本(コマNo1〜24
)に対して、上述のアルゴリズムによるエツジ検出値と
実測値の検出誤差に関するデータの一例を示している。
この例では、第7図の最大光量値PMからの光量特性P
Cの値が651低下した光、INFの位置における距f
a文の検出値り丁(1位層層)と、最大光量値PMから
画像コマエツジ移動量の実際の位置における距離又の実
測値R(単位層層)との検出誤差(DT−R)を示して
いる。
この例から明らかなように、誤差はほぼ±0.2〜0.
3mmの範囲に入っており、通常コマの位置決定停止精
度は±0.51程度が要求されているので、十分実用に
なるものである。
ところで、コマ画像の搬送を自動的に制御する場合、ネ
ガフィルム2のコマサイズは計測もしくはデータ入力に
よって分っているので1画像情報の検出領域及び上記画
素列40をコマサイズによって第11図の如くνJ#!
えて使用する。イメージセンサ11の全画素がj列(1
〜40)及び1列(1〜30)で成っている場合、たと
えば135Fサイズでは領域F2を使用し、!!θサイ
ズでは領域F1を使用する。そして、イメージセンサ1
1の画素Slj の測定数値をTS、 jとし、 j列
のjn番目のサンプリング点の真av1を求める。 1
35Fサイズの場合、その平均値Tは画素数が23−7
−18であるから。
となる、微小ピッチでネガフィルム2を検出する場合、
各隣接するサンプリング点の135Fサイズの真数値T
H9nsrは、 ・・・・・・・・・(5) で求められ、同様に110サイズの場合、その平均値T
は画素数が19−11・8であるから、となる、微小ピ
ッチでネガフィルム2を検出する場合、各隣接するサン
プリング点の1108サイズの真数値丁H5uoは。
・・・・・・・−(7) で求められる。こうして求められた測定値をサンプリン
グして度数分布を求めると、第7図で示すような真数値
曲線PCが得られる。
画像コマのエツジの検出はネガフィルムの搬送制御に利
用することができ、次にその一例を詳細に説明する。な
お、特開昭80−198740号の方法も利用できる。
第12図は画像コマの検出停止方法の一例を示すフロー
チャートであり、先ず焼付けるべきネガフィルム2のサ
イズに応じた大きさのネガキャリアを焼付部の所定位置
に装填しくステップSt) 、ネガキャリアの開口部の
サイズをイメージセンサ11で、たとえば特開昭80−
1511128号の如くして計測する(ステップS2)
、なお、このサイズ計測は目視によって入力しても良い
、このサイズ計測情報に従ってネガフィルム2の搬送量
を設定したり、前述した画素列40の選択抽出を自動的
に行ない、更には焼付露光量やその′   修正量を制
御したりする。
次に、焼付けるべきネガフィルム2を、ネガフィルム先
端部の空機リコマがネガキャリアの開口部とほぼ対応す
る位置に装填しくステップS3)、ネガフィルム2の先
端部がネガドライブ1”t −Q じ貼信七h ス シ
  ノくルプ苓−々ル散−hl−てネガフィルム2をコ
マ間隔りの半分の弱S1だけ高速定量搬送しくステップ
S4)、その後に低速の微小ピッチ送りを行ない(ステ
ップS5)、その間イメージセンサ11によって画像情
報の検出を行ない、前述の如くして画像コマのエツジを
検出する。第13図はこの様子を示すものであり、ネガ
フィルム2はネガキャリア32の焼付部にN方向に搬送
され1画像情報検出装置10の画素列40でコマ間の未
撮影領域RBを検出している。そして、イメージセンサ
11の画素列40はネガキャリア32の開口部の中央部
に来るようになっている・ かかる画像コマのエツジの検出がなされるまでネガフィ
ルム2の搬送を微小ピッチでj1続しくステップ55)
1画像コマ2Aと未撮影領域11Bのエツジが検出され
た場合には、上記サイズ計測(ステップ92)で求めら
れたサイズ情報から当該コマを焼付部に位置決めするま
での距離S2だけ高速定量搬送しくステップS8.S7
.S8) 、その後に停止する(ステップS9)、この
場合、高速定量搬送S!の後、ネガキャリア32のほぼ
中央部に位置している画像コマ2A、2B間の未撮影領
域補正するパラメータ(変数)であり、第13図の状態
で画像コマ2Aの送り1n−9I+E+S2を搬送すれ
ば、結局焼付部に正確に位置決めされた状態でネガフィ
ルム2の画像コマは停止することになる。
このようなネガフィルム2の搬送φ停止すの後、当該停
止コマが焼付に適するか否かを判断しくステップ510
)、焼付に適さない場合にはステップS12にスキップ
し、焼付に適する場合には当該停止コマの焼付を決定さ
れた露光間及び補正量で行ない(ステップ5ll)、当
該コマの焼付終了後に次の画像コマを焼付部に搬送して
焼付けるため、ネガフィルム2がまだ有るか否かを判断
して、上記ステップS2で求められたサイズ情報に従っ
てネガフィルム2をコマ間隔の1/2弱だけ高速に搬送
する(ステップS12゜S4)、以下、上述した搬送及
び停止を鰻返すことにより、順次各画像コマの焼付を自
動的に行なうことができる。そして、ステップSI2で
ネガフィルム2が無くなった時、ネガドライブローラの
空転を自動停止して終了する。ここでは、ネガキャリア
に位こするネガフィルムの中央部で画像情報を検出する
ようにしているが。
中央部付近又は周辺部付近での検出を妨げるものではな
い。
なお、上述ではメモリに記憶する画素列データ領域を各
受光画素列に対して10列”としているが、任意の数と
することができる。また。
第11図の検出領域のij列も任意に変更可能である。
さらに、上述では真数値の光量で説明しているが、濃度
値で処理することもできる。
(発明の効果) 以とのようにこの発明方法によれば、比較的低い分解能
のセンサを用いても高い分解部を達成できると共に、露
光制御のセンサとしても利用することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明を写真焼付装置に適用した場合の一例
を示す構成図、第2図(A)及び(B)は原画フィルム
の画素分割と記憶データとの対応関係の例を説すIする
図、第3図及び第4図はこの発明の詳細な説明するため
の図、第5図及び第6図はこの発明による画素列の検出
データとメモリへの記憶の関係を説明するための図、第
7図はネガフィルムとメモリ上の検出データとの関係例
を示す図、第8図(A)  、 (B)及び第9図(A
)〜(G)はそれぞれエツジ検出の様子を示す図、第1
0図は実際の測定結果を示す図、第11図は画素列の使
用範囲を説明するための図、第12図は画像コマの検出
停止の動作例を示すフローチャート、第13図はネガキ
ャリア部の状態を示す図である。 2・・・ネガフィルム、3・・・フィルタ、4・・・光
源、 5.11・・・レンズ系、6・・・ブラックシャ
ッタ、7・・・写真印画紙、8・・・光センサ、10・
・・画像情報検出装置、30・・・フィルム搬送装置。 確4 第f図 t (A)             (β)茶2図 代表aU膏!TIP 某5目 81  $2  *!I  414  @5  116
  @7 811   参Q   $jl)蔓8 回 I 蔓9図 第ff図 第13  回 第12回 手続補正書    6.補 特許庁長官 黒 1)明 雄 殴 1、事件の表示 昭和61年特許願第99875号 2、発明の名称 画像情報の検出処理方法 3補正をする者 事件との関係  特許出願人 (520)富士写真フィルム株式会社 4代理人 東京都新宿区西新宿−丁目14番15号5補正の対象 正の内容 (1)明細書、第4頁第1+行目に「極めて」とあるを
削除する。 (2)同、第21頁第18行目にr5.IIJとあるを
rs、+2Jと補正する。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)原画フィルムとセンサとが相対的に移動し、前記
    原画フィルムの画像を前記センサで測光する方法におい
    て、前記センサの画素ピッチよりも相対的に小さいピッ
    チで検出した画素列の出力を処理することによって前記
    画素ピッチを補間し、高分解能の画像情報を検出するよ
    うにしたことを特徴とする画像情報の検出処理方法。
  2. (2)前記センサがイメージセンサである特許請求の範
    囲第1項に記載の画像情報の検出処理方法。
  3. (3)前記センサが露光量決定もしくは補正用のセンサ
    を兼用している特許請求の範囲第1項に記載の画像情報
    の検出処理方法。
JP61099875A 1986-04-28 1986-04-30 画像情報の検出処理装置 Expired - Fee Related JP2744613B2 (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS554194A (en) * 1978-06-21 1980-01-12 Xerox Corp Method of interpolating video data
JPS60196740A (ja) * 1984-03-21 1985-10-05 Fuji Photo Film Co Ltd 画像コマの検出停止方法

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