JPS62259430A - SiC被膜を有する構造材 - Google Patents
SiC被膜を有する構造材Info
- Publication number
- JPS62259430A JPS62259430A JP10265486A JP10265486A JPS62259430A JP S62259430 A JPS62259430 A JP S62259430A JP 10265486 A JP10265486 A JP 10265486A JP 10265486 A JP10265486 A JP 10265486A JP S62259430 A JPS62259430 A JP S62259430A
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- sic
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明はSiC被膜を有する構造材に係り、特クル特性
、耐熱衝撃性、加工性に優れ、かつ機械的強度にも優れ
たSiC被膜を有する構造材に関する。
、耐熱衝撃性、加工性に優れ、かつ機械的強度にも優れ
たSiC被膜を有する構造材に関する。
[従来の技術]
半導体製造装置を構成する部材1例えば、エピタキシャ
ル装置の反応管、ウェハサセプター、拡散炉の反応管(
チューブ)、ウェハポート、キャリヤ等には、多数回の
熱サイクルに対する耐久性や耐熱衝撃性、耐食性、遮断
性等が要求される。
ル装置の反応管、ウェハサセプター、拡散炉の反応管(
チューブ)、ウェハポート、キャリヤ等には、多数回の
熱サイクルに対する耐久性や耐熱衝撃性、耐食性、遮断
性等が要求される。
例えば、これらのうち、拡散炉チューブに要求される特
性としては、 ■ 耐熱性:1300℃までは安定していること■ 耐
食性ニド−ピング剤、洗浄ガスに酎えること ・■ #酸化性:1300°Cの空気酸化に耐えること ■ 拡散係数の小さいこと、外部の雰囲気に汚染されな
いこと (φ 耐熱衝撃性、突発的な事故による急冷にも耐キス
ごと (Φ 超高純度化が可能であること ■ 大型形状品が作製できること 等が挙げられる。
性としては、 ■ 耐熱性:1300℃までは安定していること■ 耐
食性ニド−ピング剤、洗浄ガスに酎えること ・■ #酸化性:1300°Cの空気酸化に耐えること ■ 拡散係数の小さいこと、外部の雰囲気に汚染されな
いこと (φ 耐熱衝撃性、突発的な事故による急冷にも耐キス
ごと (Φ 超高純度化が可能であること ■ 大型形状品が作製できること 等が挙げられる。
ところで、従来、ウェハサセプターとしては、等方性カ
ーボンよりなる基材にCVD法によりSiCを被覆した
ものが一般的である。
ーボンよりなる基材にCVD法によりSiCを被覆した
ものが一般的である。
即ち、カーボンは多孔質であるため吸蔵ガスを持つので
、このガスがエピタキシャル処理中に放出されないよう
にSiC膜で被覆したものである。通常はこの被覆は膜
厚100gm程度である。その他、カーボンの気孔をガ
ラス状カーボンで充し不透過性にしたもの、カーボンの
表層を熱分解黒鉛で被覆したものなども提案されている
が、実用には到っていない。
、このガスがエピタキシャル処理中に放出されないよう
にSiC膜で被覆したものである。通常はこの被覆は膜
厚100gm程度である。その他、カーボンの気孔をガ
ラス状カーボンで充し不透過性にしたもの、カーボンの
表層を熱分解黒鉛で被覆したものなども提案されている
が、実用には到っていない。
また、拡散炉、チューブには、石英管が用いられている
が、近年、ウェハの大口径化、拡散能率の向上を目的と
したチャージ量、処理重量の増加に伴い、石英ガラスで
は、熱変形により長時間の使用に耐えられないことから
、現在においては前述の要求特性を満足するものとして
Si含有SiCチューブが主流となりつつある。
が、近年、ウェハの大口径化、拡散能率の向上を目的と
したチャージ量、処理重量の増加に伴い、石英ガラスで
は、熱変形により長時間の使用に耐えられないことから
、現在においては前述の要求特性を満足するものとして
Si含有SiCチューブが主流となりつつある。
しかして、Si含有SiCチューブの特性を高める目的
でCVD法により200〜300pm程度のSiC膜を
設けることもなされている。
でCVD法により200〜300pm程度のSiC膜を
設けることもなされている。
同様に、ウェハをチューブ内で垂直に保持するウェハポ
ート、このポートを出し入れするキャリヤにも、従来石
英ガラスが用いられてきたが、これらもまたSi金含有
iC製に変わりつつある。
ート、このポートを出し入れするキャリヤにも、従来石
英ガラスが用いられてきたが、これらもまたSi金含有
iC製に変わりつつある。
[発明が解決しようとする問題点]
しかしながら、これらの半導体製造装置等に用いられて
いる、CVD法によるSiC被膜を形成した構造材にお
いては、未だ十分に満足し得る特性が得られておらず、
より優れた耐熱サイクル特性、耐熱衝撃性、機械的強度
、加工性等を備えた高特性の構造部材が要望されている
。
いる、CVD法によるSiC被膜を形成した構造材にお
いては、未だ十分に満足し得る特性が得られておらず、
より優れた耐熱サイクル特性、耐熱衝撃性、機械的強度
、加工性等を備えた高特性の構造部材が要望されている
。
[問題点を解決するための手段及び作用]本発明は、半
導体製造装置用構成部材としても好適な、耐熱サイクル
特性、耐熱衝撃性、加工性、機械的強度等の特性が改良
されたSiC被膜を有する構造材を提供するものであっ
て。
導体製造装置用構成部材としても好適な、耐熱サイクル
特性、耐熱衝撃性、加工性、機械的強度等の特性が改良
されたSiC被膜を有する構造材を提供するものであっ
て。
基材表面に気相法によりSiC被膜が形成されてなる構
造材において、該SiC被膜は厚さ10用m以下の層を
積層した被膜構成であることを特徴とするSiC被膜を
有する構造材、 を要旨とするものである。
造材において、該SiC被膜は厚さ10用m以下の層を
積層した被膜構成であることを特徴とするSiC被膜を
有する構造材、 を要旨とするものである。
即ち、本発明者らは、CVDSiC被膜を形成した構造
材において、その耐熱サイクル特性、耐熱衝撃性、加工
性、機械的強度を向上させるべく鋭意検討を重ねた結果
、従来におけるSiC被膜は通常デンドライト晶の単一
結晶群よりなるのに対し、形成されたSiC被膜の結晶
組織は、これらの被膜特性と畜接に関係し、結晶組織を
変えることにより特性の向上を図ることが可能なことを
見出し、本発明を完成させた。
材において、その耐熱サイクル特性、耐熱衝撃性、加工
性、機械的強度を向上させるべく鋭意検討を重ねた結果
、従来におけるSiC被膜は通常デンドライト晶の単一
結晶群よりなるのに対し、形成されたSiC被膜の結晶
組織は、これらの被膜特性と畜接に関係し、結晶組織を
変えることにより特性の向上を図ることが可能なことを
見出し、本発明を完成させた。
以下、本発明につき、図面を参照して詳細に説明する。
本発明の構成材は、基材表面に気相法によりSiC被l
りを形成したものであって、このSiC被膜は第1図に
示す如く、厚さ10用m以下の層を積層した被膜構成と
なっている。(なお 筑1図は本発明の構造材の基材(
本例においては黒鉛)1とSiC″PiN、膜2どの界
面の顕微鏡写真(X100倍)の模式図である。) 本発明において、このSiC被膜を構成するSiC結晶
は、特に被膜厚さ方向に延びる柱状晶であることが好ま
しく、とりわけ、配向性に富み大きな柱状晶からなるこ
とが好ましい。
りを形成したものであって、このSiC被膜は第1図に
示す如く、厚さ10用m以下の層を積層した被膜構成と
なっている。(なお 筑1図は本発明の構造材の基材(
本例においては黒鉛)1とSiC″PiN、膜2どの界
面の顕微鏡写真(X100倍)の模式図である。) 本発明において、このSiC被膜を構成するSiC結晶
は、特に被膜厚さ方向に延びる柱状晶であることが好ま
しく、とりわけ、配向性に富み大きな柱状晶からなるこ
とが好ましい。
このように本発明において、SiC被膜は、薄層を積層
して構成された極めて微細な輪状組織であるため、微細
化結晶粒と同様に歪吸収能が高く、このため耐熱サイク
ル特性及び耐熱衝撃性が向上される。しかして、柱状晶
であっても機械的強度は著しく高く、またきめ細かい加
工にも十分適用可能で加工性も良好である。
して構成された極めて微細な輪状組織であるため、微細
化結晶粒と同様に歪吸収能が高く、このため耐熱サイク
ル特性及び耐熱衝撃性が向上される。しかして、柱状晶
であっても機械的強度は著しく高く、またきめ細かい加
工にも十分適用可能で加工性も良好である。
なお、本発明において、SiC被膜を形成する基材とし
ては、SiC,Si3N+、黒鉛、ムライト、W、又は
Moの焼結体が挙げられる。また、形成するSiC被膜
の厚さは特に制限はなく、使用目的に応じて適宜決定さ
れるが、歪吸収能が高いため厚膜にすることが可能であ
る。
ては、SiC,Si3N+、黒鉛、ムライト、W、又は
Moの焼結体が挙げられる。また、形成するSiC被膜
の厚さは特に制限はなく、使用目的に応じて適宜決定さ
れるが、歪吸収能が高いため厚膜にすることが可能であ
る。
このような本発明に係るSiC被覆膜はCVD等の気相
法により形成されるが、例えばCVD法により、被膜形
成工程において、CVD反応界面における固相の析出条
件を周期的に変化させて、層状に区切られた固相を形成
することにより容易に製造することができる。
法により形成されるが、例えばCVD法により、被膜形
成工程において、CVD反応界面における固相の析出条
件を周期的に変化させて、層状に区切られた固相を形成
することにより容易に製造することができる。
[実施例]
以下に実施例及び比較例を挙げて本発明をより具体的に
説明するが、本発明はその要旨を超えない限り、以下の
実施例に限定されるものではない。
説明するが、本発明はその要旨を超えない限り、以下の
実施例に限定されるものではない。
実施例1
黒鉛基材の表面に、CVD法により厚さlpmの薄層を
積層した被膜構成のSiC被膜を約0.5mm厚さに形
成した。
積層した被膜構成のSiC被膜を約0.5mm厚さに形
成した。
得られた部材の耐熱衝撃性、耐熱サイクル特性及び曲げ
強度を試験し、その結果を第1表に記した。
強度を試験し、その結果を第1表に記した。
なお、各特性試験方法は以下に示す通りである。
酎」L恒」L推
400″Cに加熱保持した部材を水中に投入し、部材の
表面及び断面を観察し、被膜の割れ状況を調査した。
表面及び断面を観察し、被膜の割れ状況を調査した。
ハサイクル牛
赤外線加熱炉にて常温から1200℃まで10分間で昇
温し、15分間保保持室温に戻すサイクルを30回繰返
し、部材の表面及び断面を観察し、被膜の割れ状況を調
査した。
温し、15分間保保持室温に戻すサイクルを30回繰返
し、部材の表面及び断面を観察し、被膜の割れ状況を調
査した。
11豆遣
黒鉛基材を機械的研削により除去し、被膜だけを取り出
す、そして、最終蒸着表面側を研摩し、その面が引張側
となるように曲げ試験機にセットし、4点曲げ強度を測
定した。
す、そして、最終蒸着表面側を研摩し、その面が引張側
となるように曲げ試験機にセットし、4点曲げ強度を測
定した。
比較例1
黒鉛基材の表面に、CVD法により、デンドライト品の
厚さ0.5mmのSiC被膜を形成したものについて、
実施例1と同様にして諸特性を測定した。結果を第1表
に示す。
厚さ0.5mmのSiC被膜を形成したものについて、
実施例1と同様にして諸特性を測定した。結果を第1表
に示す。
第1表
第1表より、本発明の構造材は極めて耐熱衝撃性、耐熱
サイクル特性及び機械的強度に優れることが明らかであ
る。
サイクル特性及び機械的強度に優れることが明らかであ
る。
[発明の効果]
以上詳述した通り、本発明のSiC被膜を有する構造材
は、基材表面に、気相法により、厚さ1107p以下の
層を積層した構成のSiC被膜が形成されたものであっ
て、気相法SiCの優れた特性、即ち、 ■ 耐熱性に優れる ■ 耐食性に優れる ■ 硬く、耐摩耗性に優れる ■ 熱膨張率が小さく、熱伝導性に優れ、熱衝撃抵抗が
高い (0高温まで機械的強度が維持できる ■ 軽い 等の特性を具備する上に、耐熱サイクル特性、耐熱衝撃
性、加工性及び機械的強度が著しく向上されたものであ
る。
は、基材表面に、気相法により、厚さ1107p以下の
層を積層した構成のSiC被膜が形成されたものであっ
て、気相法SiCの優れた特性、即ち、 ■ 耐熱性に優れる ■ 耐食性に優れる ■ 硬く、耐摩耗性に優れる ■ 熱膨張率が小さく、熱伝導性に優れ、熱衝撃抵抗が
高い (0高温まで機械的強度が維持できる ■ 軽い 等の特性を具備する上に、耐熱サイクル特性、耐熱衝撃
性、加工性及び機械的強度が著しく向上されたものであ
る。
従って、このような本発明の構造材は、半導体製造装置
を構成する部材、例えば、エピタキシャル装置の反応管
、ウェハサセプター、拡散炉の反応管(チューブ)、ウ
ェハポート、キャリヤ等の構造材をはじめ、高温軸受、
シャフト、タービンブレードなど各種の高特性を要求さ
れる高温構造材として極めて有用である。
を構成する部材、例えば、エピタキシャル装置の反応管
、ウェハサセプター、拡散炉の反応管(チューブ)、ウ
ェハポート、キャリヤ等の構造材をはじめ、高温軸受、
シャフト、タービンブレードなど各種の高特性を要求さ
れる高温構造材として極めて有用である。
第1図は本発明の構造材のSiC被膜界面の顕微鏡写真
の模式図である。 l・・・基材。 2・・・SiC被膜。
の模式図である。 l・・・基材。 2・・・SiC被膜。
Claims (3)
- (1)基材表面に気相法によりSiC被膜が形成されて
なる構造材において、該SiC被膜は厚さ10μm以下
の層を積層した被膜構成であることを特徴とするSiC
被膜を有する構造材。 - (2)基材はSiC、Si_3N_4、黒鉛、ムライト
、W又はMoであることを特徴とする特許請求の範囲第
1項に記載のSiC被膜を有する構造材。 - (3)SiC被膜は、被膜厚さ方向に延びる柱状晶より
なることを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2項
に記載のSiC被膜を有する構造材。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10265486A JPS62259430A (ja) | 1986-05-02 | 1986-05-02 | SiC被膜を有する構造材 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10265486A JPS62259430A (ja) | 1986-05-02 | 1986-05-02 | SiC被膜を有する構造材 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62259430A true JPS62259430A (ja) | 1987-11-11 |
Family
ID=14333225
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10265486A Pending JPS62259430A (ja) | 1986-05-02 | 1986-05-02 | SiC被膜を有する構造材 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62259430A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63134585A (ja) * | 1986-11-25 | 1988-06-07 | 日本タングステン株式会社 | SiC被覆部材 |
| JP2000109989A (ja) * | 1998-10-05 | 2000-04-18 | Tokai Carbon Co Ltd | プラズマ処理装置の内壁保護部材 |
-
1986
- 1986-05-02 JP JP10265486A patent/JPS62259430A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63134585A (ja) * | 1986-11-25 | 1988-06-07 | 日本タングステン株式会社 | SiC被覆部材 |
| JP2000109989A (ja) * | 1998-10-05 | 2000-04-18 | Tokai Carbon Co Ltd | プラズマ処理装置の内壁保護部材 |
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