JPS6226435B2

JPS6226435B2 -

Info

Publication number: JPS6226435B2
Application number: JP9493179A
Authority: JP
Inventors: Fukuo Sekya; Heihachiro Ebihara; Takashi Yamada
Original assignee: Citizen Watch Co Ltd
Current assignee: Citizen Watch Co Ltd
Priority date: 1979-07-27
Filing date: 1979-07-27
Publication date: 1987-06-09
Also published as: JPS5619485A

Description

【発明の詳細な説明】本発明は温度補償機能を備えた電子時計に関す
る。

近来電子時計用の時間基準に水晶発振回路が用
いられて時計の計時精度が向上するにつれて、水
晶発振回路の温度補償が計時精度をさらに向上さ
せる上で欠かせない問題となつている。

本発明の目的は電子時計に適した、新規な温度
補償方式を備えた電子時計と提供することであ
る。

以下図面に基いて詳細な説明を行う。

第１図は本発明による電子時計の実施例ブロツ
ク図である。

第１図において２は水晶発振回路で、該回路か
ら出力される基準信号は分周回路４で分周され１
Hz信号がモーター駆動回路６へ送られる。該駆動
回路６がモーター８を駆動し、該モーター８によ
つて指針式表示装置１０が作動される。

発振回路２は電子的スイツチ１２を有してお
り、該スイツチにより入力容量を切り換え可能と
なつている。第２図は水晶発振回路２の周波数―
温度特性を示した図であるが、スイツチ１２を
ONにすると入力容量が大きくなるため第２図
_１に示す比較的低い周波数で発振し、スイツチ１
２をOFFにすると入力容量が小さくなるため第
２図_２の示す比較的高い周波数で発振する。従
つてスイツチ１２をONにする時間とOFFにする
時間の比を変えることにより_１と_２の間の周
波数を得ることができる。本実施例においてはス
イツチ１２を制御することによつて、水晶発振回
路２の初期周波数調整と温度補償を行つている。

スイツチ１２はスイツチ制御回路１４によつて
ON，OFFを制御される。スイツチ制御回路１４
は単位時間の始め毎にスイツチ１２をON又は
OFFとし、一致検出回路１６の一致信号により
その状態を解除する。一致検出回路１６は線１８
に送られてくるセレクタ２１の出力群と分周回路
４の出力を比較し、一致すると一致信号を出力す
る。従つて線１８上の信号によりスイツチ１２の
ON，OFF時間比が変り、その結果水晶発振回路
２から出力される基準信号の平均周波数が変わる
ことになる。

２２は感温発振器で感温抵抗と容量によつて周
期が決定されるリングオシレータ構成となつてい
る。発振制御回路２０は感温発振器２２の発振、
停止を制御する回路で、間欠的に感温発振器２２
に発振開始命令を出力する。間欠的に発振させる
のは主に感温発振器２２の平均消費電力を低減さ
せるためである。可変分周回路２４は分周比設定
手段２６で設定された数のパルス信号が感温発振
器から送られてくると出力信号を出し、その信号
に応答して発振制御回路２０は感温発振器２２を
停止させる。分周比設定手段２６は感温発振器２
２の発振周波数のバラツキを吸収するために設け
られたもので、該手段２６によつて可変分周回路
２４の分周比を変え、可変分周回路２４の出力信
号の周期―温度特性を一定に合せ込んでいる。２
２は感温発振器であるから可変分周回路２４の出
力信号の周期すらわち感温発振器２２が発振を開
始してから所望の個数のパルス信号を出力する迄
の時間は温度によつて変化する。従つて該時間に
よつて温度を知ることができる。

ROM２８には温度補償のためのデータが記憶
されている。該データは温度変化に応じてスイツ
チ１２をONにする時間とOFFにする時間との比
を変えるためのもので、所望の比を得るために一
致検出回路が必要とするデータとなつている。
ROM２８の出力データはラツチ３０に読み込ま
れる。ROM２８のアドレス信号端には分周回路
４の出力が接続されている。感温発振器２２の発
振開始は分周回路４の出力に応答しているから、
発振開始時には分周回路４の内部状態は一定とな
つている。従つて感温発振器２２が発振を開始し
てから一定の時間後にはROM２８は一定のアド
レスを指定されていることになる。ラツチ３０は
可変分周回路２４の出力信号に応答してROM２
８の出力データを読み込む。前述したように感温
発振器２２の発振開始から可変分周回路２４が出
力を出す迄の時間は温度によつて変化するから、
ラツチ３０は温度によつてROM２８の異なるア
ドレスに記憶されているデータを読み込むことに
なる。従つてROMの各アドレスに各温度に必要
な温度補償データを書き込んでおけば、感温発振
器２２が発振する毎に温度補償データがラツチ３
０に読み込まれる。なおROM２８に送られてい
るφ信号はROMの消費電力を低減化するための
もので、φ信号が存在する間のみすなわちラツチ
３０にROMのデータを読み込む時のみROM２８
を活性状態にしている。ラツチ３０に読み込まれ
た温度補償データはセレクタ２１を介して一致検
出回路１６へ送られる。ROM２８とラツチ３０
によつて第３手段５が構成され、該第３手段５と
感温発振器２２と可変分周回路２４によつて第２
手段３が構成されている。

このようにして温度補償を行つた場合の周波数
―温度特性を示したのが第３図である。第３図の
特性は検出する温度の分解能を上げるほど又一致
検出回路１６に送る温補データの分解能を上げる
ほど縦軸の振巾を小さくすることができる。検出
温度の分解能を上げるためにはROM２８のワー
ド数を増やす必要があり、又温補データの分解能
を上げるためにはワードを構成するビツト数を増
やす必要がある。

第３図における_２のカーブが所望の周波数と
一致する温度を越えると補償は限界となる。すな
わち第３図におけるt₁以下、t₂以上となると_１
と_２の組合せで所望の周波数をつくり出すこと
は出来なくなる。このような時には所望の周波数
との誤差を小さくするためにスイツチ１２を
OFFに固定し、水晶発振回路２の出力周波数を
_２の特性に固定しておくことが望ましい。この
ために設けられたのが補償限界検出回路３２であ
る。

補償限界検出回路３２は感温発振器２２が発振
を開始してから可変分周回路２４が出力信号を出
す迄の時間が一定の範囲を越えたことを分周回路
４の信号によつて検出する。その検出信号はスイ
ツチ制御回路１４に送られ、検出信号に応答して
スイツチ１２をOFFにする。

コード出力手段３４は水晶発振回路２の発振周
波数の初期値調整を行うために設けられたもの
で、コード出力手段３４の信号はデーダ３６で所
望の信号に変換され、セレクタ２１を介して一致
検出回路１６へ送られる。従つてコード出力手段
３４の信号によつて水晶発振回路２の平均発振周
波数を制御することが出来る。コード出力手段３
４とデコーダ３６とによつて第１手段が構成され
ている。

セレクタ２１は分周回路４の周期信号に応答し
て温度補償データと初期値調整データを選択的に
一致検出回路１６に送る。第２，３図に示した
_１と_２の周波数差が２Δ、セレクタ２０に印
加される周期信号のデユーテイーサイクルが50％
とすると、温度補償、初期値周波数調整共にそれ
ぞれΔの調整が可能となる。

第４図Ａ，Ｂは本発明による電子時計の実施例
回路図で、ブロツク３内に集積化可能な回路部分
を示している。なお第１図のブロツクと対応する
ブロツクには同一の番号を付している。

水晶発振回路２から出力された基準信号は波形
整形用のインバータ４０を介して15段の分周器に
入力され、最終段の分周器４２から１Hz信号が得
られる。５段目の分周器４４の出力はFC端子と
して集積回路から取り出され、発振周波数のチエ
ツク及び回路の機能チエツクのための早速り信号
入力端として用いられる。データタイププリツプ
フロツプ（以下DFFと略記する）４６はモータ
ーを駆動する信号の時間巾をつくるために設けら
れてもので、DFF４６の出力は分周器４２の出
力が立下ると同時に立上り、ゲート４８の出力に
応じてリセツトされるため、周期が１秒でパルス
巾が約5.9m sec.の信号となる。DFF５０はモー
ターの駆動タイミングと発振回路のスイツチ１２
の切り換えタイミングが一致しないようにするた
め設けられたもので、DFF４６の出力を512Hz信
号で読み直すことにより位相を遅らせている。
DFF５０の出力はモーター駆動回路ブロツク６
に送られその結果OUT1端子とOUT2端子から交
互に駆動パルスが出力される。

２２は感温発振器でインバータ５２，５４，５
６，５８，６０NANDゲート６２抵抗R₁，R₂、
容量C₁，C₂から成るマルチバイブレータとゲー
ト６６スイツチ６４を含んでいる。マルチバイブ
レータの発振周波数はR₁，R₂，C₁，C₂の時定数
によつて決定される。R₁，R₂は拡散抵抗を用い
C₁，C₂はゲート容量を用いれば両者ともに集積
化可能である。拡散抵抗の温度特性は１℃当り約
0.7％とゲート容量に比べて温度係数が十分大き
いため、マルチバイブレータの周期の温度特性は
ほぼ拡散抵抗の温度特性と等しくなる。NANDゲ
ート３２はマルチバイブレータの発振、停止の制
御用ゲートで、NANDゲー６２に入力されるゲー
ト６６の出力がＨになるとマルチバイブレータは
発振を開始し、Ｌになると発振を停止する。スイ
ツチ６４はマルチバイブレータの発振周波数の調
整用に設けられてもので、ONにすると抵抗R₂が
短絡される。R₁とR₂をほぼ等しい値にしておけ
ばスイツチ６４を短絡することによつて発振周波
数をほぼ２倍にすることが出来る。スイツチ６４
は端子S₉に印加される信号によつて制御される。
なお入力回路６８は第５図に示す回路で構成され
ている。端子Ｃはマルチバイブレータの周波数チ
エツクと可変分周回路２４の動作チエツクのため
の入出力端子である。

発振制御回路２０は感温発振器２２を間欠的に
発振させるための回路で分周回路４から信号をゲ
ート７０で合成し、その合成した信号を７段の分
周期７２で分周して128秒周期の信号を作成す
る。DFF７４は合成信号の立下りでトリガされ
感温発振器の発振開始命令信号を出力する。合成
信号はゲート６６の一方の入力に印加され、その
結果ゲート６６の出力がＨになるため感温発振器
２２が発振を開始する。感温発振器２２が所定の
数のパルス信号を出力すると可変分周回路ブロツ
ク２４のゲート８２から信号φが出力され、その
信号がORゲート７６を介してDFF７４のリセツ
ト端に印加される。その結果DFFの出力がＨ
となりゲート６６の出力がＬとなるため感温発振
器２２は発振を停止する。このようにして感温発
振器２２は128秒毎に発振し、所定の数のパルス
信号を出力すると自動的に停止する。従つて感温
発振器２２が１回でtm sec.間ＩμＡで発振する
とすると、その平均消費電流はＩ―ｔ／128000
（μＡ）となる。実際の実験回路ではこの値が10
μＡ以下になつている。

ゲート７０の出力信号は第６図に示す信号とな
つている。感温発振器２２の発振開始は出力信号
の立下りに同期している。一方モーターの駆動タ
イミングは１Hz信号の立下りに同期しているから
モーターの駆動と感温発振器２２の発振とが同時
に起ることはない。従つて両者が同時に起ること
による悪影響、例えば電池の電圧が低下しすぎる
とか発振にみだれが生じるということはない。又
後述するセレクタ２３は１Hz信号がＨの時は
LATCH３０の出力を選択し、Ｌの時はデコーダ
３６の信号を選択して出力するように構成されて
いる。LATCH３０の出力が変化するのは感温発
振器２２が発振して温度の変化が検出された時で
あるが、感温発振器の発振が１Hz信号のＬの時に
限るためセレクタ２３からLATCH３０の出力
が出力されている時にLATCH３０の出力が音化
することはない。従つて一致検出回路１６の動作
に不都合が生じることはない。

DFF７８、ゲート８０は補償限界検出回路３
２の初期リセツトを行う信号を作成する回路で、
DFF７４の出力が立下つた時これに同期して
細いパルスを出力する。

可変分周回路２４は感温発振器２２の出力信号
をカウンタ８４でカウントする。カウンタ８４の
最終段Ｑ出力がＨの時外部端子S₁〜S₈で設定され
た内容とカウンタ８４の内容が一致すると、排他
的論理和回路群８５及びゲート８６から成る一致
検出回路で一致が検出される。DFF８８は該一
致信号を読み込むとカウンタをリセツトする。カ
ウンタ８４がリセツトされると最終段のＱ出力が
立下るためDFF９０がトリガされDFF９０のＱ
出力が立上る。DFF９２、インバータ９４、ゲ
ート８２はDFF９０のＱ出力の立上りに同期し
た細いパルス信号を作成する回路で、その信号は
ORゲート７６を介してDFF７４のリセツト端に
印加される。このためDFF７４の出力はＨと
なり感温発振器２を停止させる。ゲート８２から
出力されるパルス信号は又ROM２８とLATCH
３０のクロツク端子に印加されている。前記信号
によりROM２８は活性状態となり、LATCH３
０はROM２８のデータを読み込む。

端子S₁〜S₈は第１図の分周比設定手段に相当す
るもので、S₁〜S₈とS₉端子によつて感温発振器２
２が発振を開始してからゲート８２から信号が出
力される迄の時間Ｔを調整する。本実施例回路に
おいて感温発振器２２の抵抗R₁，R₂及び容量
C₁，C₂は集積回路内に形成されている。このよ
うにしたことによりエージンや時計内の湿度によ
る周波数のシフトという問題は除去されている。
ただし集積回路内の抵抗や容量の値は当然バラツ
キが生じるため感温発振器２２の発振周波数は
ICによつて異なることになる。S₁〜S₉端子はこ
のバラツキを吸収するために設けられたもので前
記時間Ｔが所定の温度で一定になるように抵抗の
値及び分周比を設定する。本実施例回路において
可変分周回路２４の分周比は１／256から１／511
迄設定可能となつている。

TE端子はテスト用に設られたもので、電位を
Ｈにするとゲート６６の出力がＨとなるため感温
発振器２２は連続的に発振する。S₀端子はこの状
態で感温発振器２２の周期をチエツクするための
端子で、S₁〜S₉端子を所定の状態に設定しておい
てS₀端子の現れる信号の周期を測定することによ
り、前記時間Ｔを所定の値にするためのS₁〜S₉端
子の条件がわかる。勿論この測定は所定の温度で
行う必要がある。

９６は電池投入検出回路で、電池が投入された
時これに応答して細いパルス信号を出力する。

そのパルス信号は発振制御回路７２の初段、２
段の分周器をリセツトし、３段以降の分周器をセ
ツトし、DFF７４をリセツトし、DFF８８をセ
ツトする。DFF８８がセツトされることにより
カウンタ８４はリセツトされる。このように設定
されることにより発振制御回路２０、感温発振器
２２、可変分周回路２４は感温発振器２２の発振
停止時の定常状態となる。分周器７２は初段、２
段のみリセツトされ、３段目以降がセツトされて
いるから、電源投入検出パルスの発生の後、ゲー
ト７０から３発のパルス信号が出力されると最終
段のＱ出力が立下り感温発振器２２は発振を開始
する。従つて電池投入から約３秒後には温度検出
が行われ、温度補償が行われることになる。

ROM２８のアドルス入力端には分周回路４の
出力が常時印加されている。感温発振器２２の発
振開始は２Hz信号の立上りに同期しているから
ROM２８のアドレス入力端に印加されている2K
Hz〜64Hz迄の分周出力は発振開始時にはすべてＬ
となつている。従つて発振開始後指定されるアド
レスは時間によつて定まる。感温発振器２２が発
振を開始してから可変分周回路２４から信号が出
力される迄の時間Ｔは温度によつて単調に変化す
る。これは感温発振器２２に用いた拡散抵抗の温
度特性のためであるが、このためLATC３０に読
み込み信号が印加された時のRM２８の指定アド
レスは温度によつて定まることになる。ROM２
８の各アドレスには対応する温度で必要とする温
度補償データが収納されている。従つて感温発振
器が発振を終了すると同時にLATCH３０にはそ
の時点の温度で必要とする温度補償データが読み
込まれる。

第７，８図はROM２８の一実施例回路であ
る。ROM２８はアドレス６がビート構成になつ
ているから、補償限界内の温度を64分割し、それ
ぞれの温度範囲で最適な補正データが各アドレス
に記憶されている。

第７図はアドレス選択部で、分周器４から送ら
れてきたIN₁〜IN₆信号からA₁〜A₆₄のアドレス信
号を作成する。直例に接続された13個のＮチヤネ
ルトランジスターの一端は抵抗を介して高電位側
に接続され、他端は低電位側に接続されてい
る。直列に接続された13個のＮチヤネルトランジ
スタのゲートにはIN₁〜IN₆信号及びその反転信号
及びφ信号が印加されている。このような構成の
直列トランジスタが必要なアドレス信号の数（本
例では６４）用意されている。このトランジスタ
アレイはROM構造になつており、不要なトラン
ジスタは製造過程においてソールドレイン間やシ
ヨートされるかもしくはデイプレツシヨンタイプ
とされる。すなわちIN_N信号が印加されるトラン
ジスタと_N信号が印加されるトランジスタとの
うち一方は導体として作用するように製造され
る。このようにして実際には７個のトランジスタ
が直列に接続されている。φ信号はROM２８を
活性状態にする信号で、データを読み出す必要の
あるとき短時間Ｈとなる信号である。φ信号がＨ
となると全直列トランジスタアレイのうち１組だ
け直列トランジスタがすべてONとなり出力信号
Ａ_NがＬとなる。

従つて直列トランジスタ、抵抗を介して電流が
流るのはφ信号がＨになつている短時間の間のみ
である。アドレス信号Ａは第８図の回路部へ送ら
れる。

第８図において各出力ラインOUT１〜OUT６
はそれぞれ抵抗を介してＬに接続され、又各アド
レス信号A₁〜A₆₄に対応して設けられたトランジ
スタを介してＨに接続されている。該トランジス
タは対応するアドレス信号Ａ_NがＬになると導通
し、出力ラインをＨにする。アドレス信号がＬに
なるのはφ信号が号の時であるから、抵抗、トラ
ンジスタを介して電流が流れるのはやはりφ信号
がＨになつている短時間の間のみである。

トランジスタ群はICの製造時に不要なトラン
ジスタVthが電源電圧よりも高くなるように作成
される。すなわち出力データをＬにすべきビツト
のトランジスタはVthを高く設定し、Ｈにすべき
ビツトのトランジスタは通常のVthに設定する。
Vthを高く設定することはMOSトランジスタのゲ
ート酸化膜を厚くする等の通常技術で可能であ
る。

セレクタ２３にはLATCH３０の出力とデコ
ーダ３６の出力が入力され、１Hz信号がＨの時は
前者を、Ｌの時は後者を選択的に出力して一致検
出回路４へ送る。

一致検出回路１６はセレクタ２３から送られ
てきたデータと分周回路４の内容を排他的論理和
回路群９８で比較し、全信号が一致するとNAND
ゲート１００の出力に同期してゲート１０２から
一致信号を出力する。

スイツチ制御回路１４のDFF１０４は、通常
状態において、セレクトゲート１０６を介して印
加される２Hz信号によつてトリガされ、一致検出
信号によつてリセツトされる。DFFの出力は
NANDゲート１０８、インバータ群１１０を介し
て水晶発振回路２のスイツチ１２の制御端子に印
加されている。従つてDFF１０４がトリガされ
出力がＬになるとスイツチ１２はOFFとな
り、リセツトされて出力がＨになるとイツチ１
２はONとなる。２Hz信号が立下つてから一致検
出信号が出力される迄がスイツチOFF、一致検
出信号が出力されてから２Hz信号が立下る迄がス
イツチONであるから、スイツチONの時間とスイ
ツチOFFの時間の比、すなわち第２図における
_１で発振する時間と_２で発振する時間の比は
セレクタ２３から出力されるデータによつて定
まる。セレクタ２３から大きなコードが出力さ
れた場合は一致検出信号が出力される迄の時間が
かゝるため水晶発振器２から出力される基準信号
の平均周波数は_２に近い周波数となり、逆に小
さなコードが出力された場合は_１に近い周波数
となる。従つて第２図のt₀近辺の温度に対応する
ROM２８のアドレスには比較的小さなコードが
書き込まれており、_１，_２近辺の温度に対応
するROM２８のアドレスには比較的大きなコー
ドが書き込まれているモーター駆動による電池電圧の電動中水晶発振
回路２の入力側容量は小さくしておく方が発振が
安定である。又電池電圧の変動とスイツチ１２の
切り換えタイミングが一致するとバイアス変動に
よるミスカウントの恐れも生じる。この対策のた
めに設けられたのがスイツチ制御回路１４中の
DFF１１６、NANDゲート１１８、インバータ
１１２，１１４から成る回路で、該回路の出力あ
るNANDゲート１１８の出力波形図を第９図に示
す。第９図から明らかなようにモーターの駆動中
NANDゲート１１８の出力はＬとなつている。そ
の出力がNANDゲート１０８に印加されているた
め、Ｌである間スイツチ１２はOFFに固定され
る。

３２は補償限界検出回路である。

スイツチ１２がONの時とOFFの時の基準信号
の差を50ppmに設定すると、温度補償のために
スイツチ１２を制御する時間は全体の半分である
から、温度補償量は最大25ppmである。32KHz程
度で発振する標準的な水晶発振器を用いると、温
度係数が０になる温度から、該温度における周波
数から25ppm周波数が低くなる温度迄は約27.2℃
である。温度係数が０になる温度を24℃とすると
補償限界温度は−3.2℃と＋51.2℃となる。感温
発振器２２が発振開始してから可変分周回路２４
から出力が出される迄の時間Ｔを24℃において
36m sec.に調整すると、実測データから、−3.2℃
において前記時間Ｔは28.440m sec.、＋51.2℃に
おいては44.064m sec.となつている。この状態に
おける分周回路４の出力の状態を示したのが第１
０図である。回路ブロツク３２にもどつて、
DFF１２４，１２８は感温発振器３２の発振開
始と同時にゲート８０の出力でリセツトされる。
DFF１２４は現在温度が−3.2℃以上か以下かを
判定するためのもので、−3.2℃の時の時間Ｔが経
過するとゲート１２０，１２２で作成されたクロ
ツク信号によりトリガされＱ出力がＨとなる。
DFF１２８は現在温度が＋51.2℃以上か以下かを
判定するためのもので、＋51.2℃の時の時間Ｔが
が経過するとゲート１２０，１２６で作成された
クロツク信号によりトリガされ出力がＬとな
る。NANDゲート１３０は現在温度が補償限界内
にあるか否かを判定するゲートで、その出力は、
時間Ｔが−3.2℃〜＋51.2℃間の温度に対応する
値のときＬそれ以外の時Ｈとなる。この関係を示
したのが第１１図である。

DFF１３２は感温発振器２２の発振開始して
から時間Ｔの後可変分周回路２４の出力によつて
NANDゲート１３０の出力を読み込む。従つて
FF１３２のＱ出力は温度が−3.2℃〜＋51.2℃間
にある時はＬとなり、それ以外の時はＨとなる。
NANDゲード１３４にはDFF１３２のＱ出力と
１Hz信号が印加されている。これは温度補償のた
めにスイツチ１２を制御するタイミングは１Hzが
Ｈの時のみであるためである。（１Hz信号がＨの
時セレクタ２３からラツチLATCH３０の信号
が出力されている） NANDゲート１３４の出力はNANDゲート１０
８に印加される。従つて温度が補償限界を越える
と、温度補償のタイミング中（１Hz信号がＨの間
中）スイツチ１２はOFFに固定される。

_１〜_７は水晶発振器２の周波数の初期値調
整用の端子である_１〜_５端子には再調整可能
な機械的なスイツチ手段（以下コードトリマと呼
ぶ）に接続され、_６，_７端子は状態を固定さ
れる。_１〜_５は一致検出回路１６に送る信号
の下位５ビツトを受け持ち、_６，_７は上位１
ビツトを受け持つ。_１〜_５からは第１２図に
示すコードが入力され、このコードがデコーダ３
６で第１２図に示すO₁〜O₅の２進コードに変換
される。

第１３図はデコーダ３６の実施例回路図であ
る。

第１２図においてO₁〜O₅信号のコードが小さ
ければ一致検出回路１６から短時間で一致検出信
号が出力され、コードが大きければ比較的長時間
で一致検出信号が出力される。従つてコードを大
きくして行けば時計は進み、コードを小さくして
行けば時計は遅れ方向となる。

回路ブロツク１３８は_６，_７端子によつて
選択される最上位ビツトの信号を作成する回路
で、ゲート１４０，１４２からはそれぞれ第１４
図に示す信号が出力されセレクタ１４４に入力
されている。セレクタ１４４には他に入力とし
てＬ及びＨ電位が入力されている。端子_６，
_７の状態により該４入力のうちの１つが選択され
て出力される。セレクタ１４４から出力された
信号はセレクタ２０を介して一致検出回路１６
へ送られ、分周回路４から出力される２Hz信号と
比較される。セレク１４４の各入力を２Hz信号
の一致するタイミングは第１４図に示されてい
る。すなわちＬ信号が２Hz号と一致するのはに
示す矢印の間のタイミングであり、ゲート１４０
の出力はに示すタイミングであり、ゲート１４
２の出力信号、Ｈ信号はそれぞれ，に示すタ
イミングである。従つて_６，_７で１つの入力
を選択し、コードトリマによつてコードを変えて
いくと、一致検出信号の出力されるタイミングは
第１４図に示す〜のタイミングのうち選択さ
れたタイミングの矢印範囲の内を移動することに
なる。〜に示したタイミングはそれぞれ重な
り部分を有しているため最上位ビツトを固定して
しまつても調整不能の領域が出来てしまう恐れは
ない。

TE端子をＨにするとテストモードに入るが、
この時補償限界検出回路３２中のDFF１３２は
リセツトされる。これはスイツチ１２の制御状態
をSW端子で観測する時に補償限界検出回路３２
の影響を排除するためである。又テストモードに
するとスイツチ制御回路１４のセレクトゲート１
０６はDFF１０４のクロツク信号として１Hz信
号を出力するようになる。これはスイツチ１２制
御信号から温度補償の影響を取り去るためになさ
れたもので、クロツク信号が１Hz信号となつてい
るため温度補償タイミングになつた時すなわち１
Hz信号がＨになつた時DFF１０４はトリガされ
ない。そのため温度補償タイミングの間中スイツ
チ１２はON状態を保つ。

ROM２８の内容を調べるためには、ラツチ
LATCH３０の読み込み信号が現れるφ端子、
SW端子、FC端子、Ｘ_IN端子を用いる。Ｘ_IN端子
に所望の個数のパルス信号を印加するとROMの
所望のアドレスを選択できる。そこでφ端子を強
制的にＨにするとLATCH３０に前記アドレスの
データを読み込むことができる。そこでFC端子
に早送り信号を印加し、SW端子の状態を観測す
ればROM２８に収納されているデータを知るこ
とができる。

以上述べたことから明らかなように、本発明に
よれば水晶時計の温度補償が外付部品なしに実現
でき効果大である。

又スイツチ回路の制御により温度補償と初期周
波数調整の双方を行つているため、従来初期周波
数調整用に用いられていたトリマコンデンサを除
去可能となつている。このためトリマコンデンサ
のエージングによる周波数シフトがなくなり、高
精度の維持が期待できる。

なお本発明の温度補償方式は温度補償データを
ROMに書き込んでいるため、水晶発振器の温度
特性がどのようなものであつても再現性さえあれ
ば補償可能である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による電子時計の実施例ブロツ
ク図、第２図は本実施例で用いる水晶発振器の温
度特性図、第３図は本発明によつて補償された温
度特性図、第４図Ａ，Ｂは本発明による電子時計
の実施例回路図、第５図は入力回路の実施例回路
図、第６図はタイミングチヤート、第７，８図は
ROMの実施例回路図、第９〜１２図及び１４図
は動作説明のためのタイミングチヤート及び説明
図、第１３図はデコーダの実施例回路図である。１２…スイツチ回路、１４…スイツチ制御回
路、２２…感温発振器、２４…カウンタ、２８，
３０…記憶回路、３４，３６…コード出力手段、
１６，２０…一致検出回路、１…第１手段、３…
第２手段、５…第３手段。

Claims

【特許請求の範囲】１時間基準信号を発生する発振器と、基準信号
を分周する分周回路と、時刻表示装置を駆動する
駆動回路と、前記時刻表示装置とを備え、前記発
振器の発振周波数を定める容量値を切換えるスイ
ツチと、該スイツチの制御データを出力する第１
手段、第２手段と、時間的に交互に現われる第１
の時間帯で前記第１手段の出力に応答して前記ス
イツチを制御し、時間的に交互に現われる第２の
時間帯で前記第２手段の出力に応答して前記スイ
ツチを制御するスイツチ制御手段とを備えたこと
を特徴とする電子時計。２第１手段は手動によつてコード変更可能なコ
ード出力手段から成ることを特徴とする特許請求
の範囲第１項記載の電子時計。３第２手段は分周回路の出力に応答して間欠的
に発振する感温発振器と、該感温発振器の出力を
カウントし、所定の数に達すると信号を出力する
カウンタと、該カウンタ出力に応答して前記スイ
ツチの制御データを出力する第３の手段とから成
ることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
電子時計。４第３の手段は記憶回路であつて、前記カウン
タ出力に応答してあらかじめ記憶されている温度
補償データを選択的に出力することを特徴とする
特許請求の範囲第３項記載の電子時計。５スイツチ制御手段は第１の時間帯において第
１手段の出力と分周回路の出力との一致を検出
し、第２の時間帯において第２手段の出力と前記
分周回路の出力との一致を検出する一致検出回路
と、前記分周回路の出力と一致検出回路の出力に
応答してスイツチ回路の制御信号を出力するスイ
ツチ制御回路とから成ることを特徴とする特許請
求の範囲第１項記載の電子時計。