JPS62267679A - 順序回路の故障診断方式 - Google Patents
順序回路の故障診断方式Info
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- JPS62267679A JPS62267679A JP61110766A JP11076686A JPS62267679A JP S62267679 A JPS62267679 A JP S62267679A JP 61110766 A JP61110766 A JP 61110766A JP 11076686 A JP11076686 A JP 11076686A JP S62267679 A JPS62267679 A JP S62267679A
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- JP
- Japan
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- circuit
- signal line
- fault
- time
- divided
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は論理LSIの故障診断に係わり、特に同期式順
序回路に好適な故障診断方式に関する。
序回路に好適な故障診断方式に関する。
論理LSIの開発段階では、製造時に生じる故障の診断
、すなわち故障箇所の検出が重要な課題の1つになって
いる。論理LSIでは、テスト信号を印加する端子と応
答信号を観測する端子は固定的に定まっており、これら
の端子の入出力信号線をもとにして、論理LSI内部の
故障箇所の診断が行われる。
、すなわち故障箇所の検出が重要な課題の1つになって
いる。論理LSIでは、テスト信号を印加する端子と応
答信号を観測する端子は固定的に定まっており、これら
の端子の入出力信号線をもとにして、論理LSI内部の
故障箇所の診断が行われる。
しかし、論理LSIの高集積化に伴い、ゲート数と入出
力端子数の比が増大するため、LSI内部の故障箇所の
同定が困難になってきている。
力端子数の比が増大するため、LSI内部の故障箇所の
同定が困難になってきている。
これに対処する方法として、LSI内部の任意の信号線
の、任意の時刻における論理値を観測することのできる
ストロボSEM (Scanning ]:1ectr
onMi croscope )を利用する方法が知ら
れている。
の、任意の時刻における論理値を観測することのできる
ストロボSEM (Scanning ]:1ectr
onMi croscope )を利用する方法が知ら
れている。
例えば、岡本他FEBテスタ用故障辞書によるVLSI
の故障診断」(日本学術振興会、第132委員会、第8
5回研究会資料、 p9.69−73 。
の故障診断」(日本学術振興会、第132委員会、第8
5回研究会資料、 p9.69−73 。
1985年)では、LSI内部の信号線の論理値を観測
し、この観測値が正常値と異なる場合には。
し、この観測値が正常値と異なる場合には。
故障辞書を用いて故障信号線を同定する方法を述べてい
る。
る。
故障辞書とは、テスト入力およびそのときの観測信号線
の取る論理値を与えると、故障候補となる信号線が検索
できる1種の表である。従って、故障候補となる信号線
の本数が、全信号線の本数より小さくなる場合には、故
障辞書による診断法は、故障範囲の絞り込み法として有
効である。
の取る論理値を与えると、故障候補となる信号線が検索
できる1種の表である。従って、故障候補となる信号線
の本数が、全信号線の本数より小さくなる場合には、故
障辞書による診断法は、故障範囲の絞り込み法として有
効である。
上記従来技術は、故障辞書を用店て検出される故障候補
信号線の本数が、全偏号線の本数とほとんど同じである
場合についての対策が配慮されておらず、このような場
合がしばしば生じる順序回路へ適用できないという問題
があった。
信号線の本数が、全偏号線の本数とほとんど同じである
場合についての対策が配慮されておらず、このような場
合がしばしば生じる順序回路へ適用できないという問題
があった。
例えば、1g2図に示した1人力1出力の順序回路は、
時系列的な系列として与えられる3ビツトごとの入力信
号が111のときのみ1を出力する回路である(玉本著
「論理回路の故障診断」日刊工業新聞社より引用)。今
、この回路にテスト入力として時系列的に1. 1.
1を加えたとき、出力信号値として、0. 0. 0が
得られたとする。
時系列的な系列として与えられる3ビツトごとの入力信
号が111のときのみ1を出力する回路である(玉本著
「論理回路の故障診断」日刊工業新聞社より引用)。今
、この回路にテスト入力として時系列的に1. 1.
1を加えたとき、出力信号値として、0. 0. 0が
得られたとする。
出力信号の正常(直は、0.Q、1であるので、この回
路には故障が存在することが分かる。故障辞書を用いて
、テスト入力1,1.1のときの出力値0,0.0から
故障候補箇所を検索すると、信号線216以外のすべて
の信号線が故障候補箇所となる。従って、故障辞書によ
る診断方式では、故障範囲を絞り込むことができない。
路には故障が存在することが分かる。故障辞書を用いて
、テスト入力1,1.1のときの出力値0,0.0から
故障候補箇所を検索すると、信号線216以外のすべて
の信号線が故障候補箇所となる。従って、故障辞書によ
る診断方式では、故障範囲を絞り込むことができない。
本発明の目的は、順序回路(特に同期式順序回路)に関
して、故障範囲を絞り込む診断方式を提供することにあ
る。
して、故障範囲を絞り込む診断方式を提供することにあ
る。
上記目的は、順序回路を故障発生時刻の腹黒から分割し
、分割単位に故障の有無を調べることにより、達成され
る。本発明の処理手順のフローチャートを第1因に示し
、同図に従って処理内容を説明する。
、分割単位に故障の有無を調べることにより、達成され
る。本発明の処理手順のフローチャートを第1因に示し
、同図に従って処理内容を説明する。
〔処理11〕故障発生時刻の観点からの回路分割同期式
順序回路は、通常第3図のようにモデル化される。この
ように、順序回路には記憶素子の内容はクロック信号に
よって呼び出され、組み合わせ回路に印加される。組み
合わせ回路の出力の一部は記憶素子への入力となる。従
って、順序回路には、記憶素子を介してループができる
ことKなる。このループの存在により、故障の影響がい
つまでも残るため、順序回路の故障診断は組み合わせ回
路に比べて困難になる。このループを分割するため、こ
こでは、クロック信号を発生する時刻ごとに、順序回路
を分割する方式を提案する。
順序回路は、通常第3図のようにモデル化される。この
ように、順序回路には記憶素子の内容はクロック信号に
よって呼び出され、組み合わせ回路に印加される。組み
合わせ回路の出力の一部は記憶素子への入力となる。従
って、順序回路には、記憶素子を介してループができる
ことKなる。このループの存在により、故障の影響がい
つまでも残るため、順序回路の故障診断は組み合わせ回
路に比べて困難になる。このループを分割するため、こ
こでは、クロック信号を発生する時刻ごとに、順序回路
を分割する方式を提案する。
説明を簡単にするため、現在の時刻をt、、1時点前の
時刻を1、−+と表わし、時刻t、において出力信号線
が故障値(正常1直と異なる論理値)を取ったとする。
時刻を1、−+と表わし、時刻t、において出力信号線
が故障値(正常1直と異なる論理値)を取ったとする。
このとき、出力信号線から回路図を逆にたどり、記憶素
子および入力信号線に至るまでの回路を時刻t、におけ
る分割回路とする。
子および入力信号線に至るまでの回路を時刻t、におけ
る分割回路とする。
なお、このようにして到達した記憶素子の集合をM(t
、)と表わす。M (t 、)の出力信号が正常値であ
れば、故障箇所は出力信号に到るまでの経路に、換言す
れば、時刻t1における分割回路中〈存在することが分
かる。一方、M(t、)の出力信号が正しくなければ、
その原因は時刻t@−1においてM (t 、)の入力
店号値が正しくなかったためと推論できる。従って、こ
の場合には、故障箇所はM(t、)の入力信号線に到る
までの回路に存在する。
、)と表わす。M (t 、)の出力信号が正常値であ
れば、故障箇所は出力信号に到るまでの経路に、換言す
れば、時刻t1における分割回路中〈存在することが分
かる。一方、M(t、)の出力信号が正しくなければ、
その原因は時刻t@−1においてM (t 、)の入力
店号値が正しくなかったためと推論できる。従って、こ
の場合には、故障箇所はM(t、)の入力信号線に到る
までの回路に存在する。
この回路をさらに次のように分ける。記憶素子M(ta
)の入力信号線から、回路図を逆にたどり、記憶素子お
よび入力信号線に到達するまでの回路を時刻t、−1の
分割回路とする。なお、このようにして到達した記憶素
子の集合をM(ta−+)と表わす。
)の入力信号線から、回路図を逆にたどり、記憶素子お
よび入力信号線に到達するまでの回路を時刻t、−1の
分割回路とする。なお、このようにして到達した記憶素
子の集合をM(ta−+)と表わす。
上述の手順を繰り返すことにより、論理回路図を逆にた
どり、到達する記憶素子を境にして、t@ g tm
−1+・・・+tlにおける分割回路を得ることができ
る。
どり、到達する記憶素子を境にして、t@ g tm
−1+・・・+tlにおける分割回路を得ることができ
る。
〔処理12〕観測信号線の設定
各時刻t l(i=1. 2.・・・+n)における分
割回路の観測信号線は次のように決める。
割回路の観測信号線は次のように決める。
時刻t、 二回路の出力信号線
M(t、)の出力信号線
時刻1m−1: M(jlの入力信号線M(t−−1)
の出力信号線 時刻tl :M(is)の入力信号線M(tt)の出
力信号線 上記において、各時刻における最初の信号線は、その時
刻における分割回路の出力信号線に相当し、次の信号線
はその時刻における分割回路の入力信号線を表わす。
の出力信号線 時刻tl :M(is)の入力信号線M(tt)の出
力信号線 上記において、各時刻における最初の信号線は、その時
刻における分割回路の出力信号線に相当し、次の信号線
はその時刻における分割回路の入力信号線を表わす。
〔処理13〕観測値と正常値の比較
上記観測信号線における観測値と正常値とを比較し、ど
の観測値が正常値と異なるかチェックする。なお、正常
値と異なる論理値を故障値と呼ぶことにする。
の観測値が正常値と異なるかチェックする。なお、正常
値と異なる論理値を故障値と呼ぶことにする。
〔処理14〕故障分割回路の探索
上記観測値と正常値の比較から、故障の存在する分割回
路を見つけるために、次の手順を取る。
路を見つけるために、次の手順を取る。
(1)M(t、)の出力信号線が故障値を取る時刻1、
を見つける。
を見つける。
(21時刻1+−1におけるM(tt−t)の入力信号
線が正常値を取れば、時刻1.−1から時刻1゜になる
ときに、記憶素子が格納値を正しく出力していないこと
が分かる。M(tt−t)の入力信号線が故障値を取る
場合は次の手順に進む。
線が正常値を取れば、時刻1.−1から時刻1゜になる
ときに、記憶素子が格納値を正しく出力していないこと
が分かる。M(tt−t)の入力信号線が故障値を取る
場合は次の手順に進む。
(3) M (t j−1)の出力信号線が正常で、
M(tj)の入力信号線が故障値を取る時刻1.を見つ
ける。故障は時刻1.における分割回路に存在する。
M(tj)の入力信号線が故障値を取る時刻1.を見つ
ける。故障は時刻1.における分割回路に存在する。
〔処理15〕故障候補信号線の同定
時刻t、における分割回路において、M(tt)の入力
信号線が故障値を取る場合に、各信号線が取るべき値を
、論理を逆に展開することによって求める。この値と正
常値とを比較し、異なる値を取る信号線を故障候補信号
線と同定する。
信号線が故障値を取る場合に、各信号線が取るべき値を
、論理を逆に展開することによって求める。この値と正
常値とを比較し、異なる値を取る信号線を故障候補信号
線と同定する。
前述の〔処理11〕〜〔処理15〕により、同期式順序
回路における故障候補信号線を同定できる。〔処理11
〕では、クロック信号を発生する時刻t、に着目して回
路を分割し、〔処理12〕では分割回路における観測信
号、腺を設定する。〔処理13〕では、設定した観測信
号線の観測値と正常値とを比較し、〔処理14〕では、
この比較に基づいて、故障範囲を絞り込む。〔処理15
〕では、絞り込んだ分割回路における故障候補信号線を
、論理回路図を逆にたどることにより同定する。
回路における故障候補信号線を同定できる。〔処理11
〕では、クロック信号を発生する時刻t、に着目して回
路を分割し、〔処理12〕では分割回路における観測信
号、腺を設定する。〔処理13〕では、設定した観測信
号線の観測値と正常値とを比較し、〔処理14〕では、
この比較に基づいて、故障範囲を絞り込む。〔処理15
〕では、絞り込んだ分割回路における故障候補信号線を
、論理回路図を逆にたどることにより同定する。
このようにして、同期式順序回路の故障診断を行うこと
ができる。
ができる。
以下、本発明の実施例を第4図のシステム構成にもとづ
き説明する。
き説明する。
まず、第2図に示した論理図を例に取り、第4図の動作
を説明する。回路分割装置401では、ファイル402
から読み込んだ回路構成データを基に1回路をクロック
発生時刻毎に分割する。ファイル402に格納されてい
る回路データは、第2図の論理回路図20であり、以下
説明を簡単にするために、論理回路図20の記号を用い
て具体的に説明する。装置401では、まず時刻t3に
おける分割回路を求めるために、出力信号線215から
論理回路図を逆にたどり、入力信号線および記憶素子に
到達したときに、論理図を逆にたどる操作を終了する。
を説明する。回路分割装置401では、ファイル402
から読み込んだ回路構成データを基に1回路をクロック
発生時刻毎に分割する。ファイル402に格納されてい
る回路データは、第2図の論理回路図20であり、以下
説明を簡単にするために、論理回路図20の記号を用い
て具体的に説明する。装置401では、まず時刻t3に
おける分割回路を求めるために、出力信号線215から
論理回路図を逆にたどり、入力信号線および記憶素子に
到達したときに、論理図を逆にたどる操作を終了する。
この結果、信号線204,201゜205.202を得
る。信号線201は入力信号線であり、信号線202は
記憶素子227の出力信号線なので、論理図を逆にたど
る操作は終了する。従って、時刻t3における分割回路
として、論理素子216、信号線204,201,20
5゜202が得られ、このデータはファイル403に格
納される。
る。信号線201は入力信号線であり、信号線202は
記憶素子227の出力信号線なので、論理図を逆にたど
る操作は終了する。従って、時刻t3における分割回路
として、論理素子216、信号線204,201,20
5゜202が得られ、このデータはファイル403に格
納される。
時刻t2における分割回路は、記憶素子227の入力信
号線217から、論理回路図を逆にたどることにより、
信号線217,216,210゜204.201,21
1,206,207,203が得られる。この場合は、
記憶素子226に到達したために、回路図を逆にたどる
操作を終了した。
号線217から、論理回路図を逆にたどることにより、
信号線217,216,210゜204.201,21
1,206,207,203が得られる。この場合は、
記憶素子226に到達したために、回路図を逆にたどる
操作を終了した。
同様にして、時刻t1における分割回路は、記憶素子2
22の入力信号線218を始めとして、信号線212,
201,213,208,202゜214.209,2
03を得る。この場合は、記憶素子226,227に至
ったために操作を終了した。こnらの記憶素子の入力信
号1218.217については、各々時刻t、、t3に
おいて既に分割回路として取り扱われており、未だ取り
扱っていない記憶素子の入力信号線は存在しないので。
22の入力信号線218を始めとして、信号線212,
201,213,208,202゜214.209,2
03を得る。この場合は、記憶素子226,227に至
ったために操作を終了した。こnらの記憶素子の入力信
号1218.217については、各々時刻t、、t3に
おいて既に分割回路として取り扱われており、未だ取り
扱っていない記憶素子の入力信号線は存在しないので。
回路分割操作は終了するっ
結局、時刻t1+ t2+ ttにおける分割回路
は第5図に示したようになる。この分割結果に基づいて
、設定装置404では、各時刻における分割回路の観測
信号線を次のようにして選定する。
は第5図に示したようになる。この分割結果に基づいて
、設定装置404では、各時刻における分割回路の観測
信号線を次のようにして選定する。
すなわち、回路図を逆にたどるときの先頭信号線(回路
の出力信号線あるいは記憶素子の入力信号線)と、最後
の信号線(記憶素子の出力信号M)を観測信号線とする
。従って、各時刻における分割回路の観測信号線は、装
置404により、次のようになる。
の出力信号線あるいは記憶素子の入力信号線)と、最後
の信号線(記憶素子の出力信号M)を観測信号線とする
。従って、各時刻における分割回路の観測信号線は、装
置404により、次のようになる。
上記観測信号線の情報は、装置404から、ストロボS
EM装置407に送られる。装置407では、テスト入
力発生装置405で作られたテスト入力を被検査LSI
406に印加した結果のうち、上記観測信号線の論理値
を観測する。この観測値は比較装置408に送られる。
EM装置407に送られる。装置407では、テスト入
力発生装置405で作られたテスト入力を被検査LSI
406に印加した結果のうち、上記観測信号線の論理値
を観測する。この観測値は比較装置408に送られる。
装置408は、該観測値と、ファイル409に格納され
ている正常値とを比較する。
ている正常値とを比較する。
第2図に示した論理回路図20では、信号線211が論
理値Oに固定した故障を起こしていると仮定する。この
とき、テスト入力として1,1゜1を時系列的に与えた
場合、出力信号の正常値は0.0.1であるが、観測値
は0.0.0となる。
理値Oに固定した故障を起こしていると仮定する。この
とき、テスト入力として1,1゜1を時系列的に与えた
場合、出力信号の正常値は0.0.1であるが、観測値
は0.0.0となる。
なお、論理回路図に故障がない場合と、上述の故障があ
る場合について、各信号線の取る論理値を第6図に示す
。
る場合について、各信号線の取る論理値を第6図に示す
。
装j1410による故障分割回路の探索は、次の手順で
行われる。
行われる。
(1) 記憶素子の出力信号線が故障値を取る時刻と
して、時刻t2を見つける。このとき、記憶素子223
の出力信号!217は故障値として、論理値0を取る。
して、時刻t2を見つける。このとき、記憶素子223
の出力信号!217は故障値として、論理値0を取る。
他の時刻では第1表から分かるように、記憶素子の出力
信号線は正常値を取る。
信号線は正常値を取る。
(2時刻t2における記憶素子2270入力信号線21
7はやはり故障値を取るので、記憶素子227に故障が
ないことが分かる。
7はやはり故障値を取るので、記憶素子227に故障が
ないことが分かる。
(3) 時刻t2の分割回路において、記憶素子22
7の入力信号線217は故障値を取り、記憶素子226
.227の出力信号線202.203は正常値を取る。
7の入力信号線217は故障値を取り、記憶素子226
.227の出力信号線202.203は正常値を取る。
従って、時刻t2における分割回路のうちに、故障箇所
があると推定できる。
があると推定できる。
装置410により、故障範囲が時刻t2における分割回
路に絞られたので、同定装置411では次のように、逆
論理展開を行って、故障候補信号線を同定する。ここで
、逆論理展開は、回路図の論理素子を逆論理素子(L素
子とE素子)に変換することにより行われる。L素子は
、「入力信号線のうち少なくとも1つは論理値・・・を
取る」ことを表わし、E素子は「入力信号線のどれもを
論理値・・・を取る」ことを表わす。L素子61.E素
子62の記号を第8図に示す。論理素子から逆論理素子
への変換は、第7図に示した変換表を周込て行うことが
できる。同聚において、Lo(Lz)は入力信号線のう
ち少なくとも1つは論理値0(1)を取ることを表わし
、go(gt )は入力信号線のどれもが論理値0(1
)を取ることを表わす。このように、論理素子の出力信
号の論理値が定まれば、逆論理素子て一意的に変換でき
る。
路に絞られたので、同定装置411では次のように、逆
論理展開を行って、故障候補信号線を同定する。ここで
、逆論理展開は、回路図の論理素子を逆論理素子(L素
子とE素子)に変換することにより行われる。L素子は
、「入力信号線のうち少なくとも1つは論理値・・・を
取る」ことを表わし、E素子は「入力信号線のどれもを
論理値・・・を取る」ことを表わす。L素子61.E素
子62の記号を第8図に示す。論理素子から逆論理素子
への変換は、第7図に示した変換表を周込て行うことが
できる。同聚において、Lo(Lz)は入力信号線のう
ち少なくとも1つは論理値0(1)を取ることを表わし
、go(gt )は入力信号線のどれもが論理値0(1
)を取ることを表わす。このように、論理素子の出力信
号の論理値が定まれば、逆論理素子て一意的に変換でき
る。
逆論理展開によって得られた各信号線の論理値と、各信
号線における正常値とが異なる箇所が故障候補信号線と
なる。今、取上げている例では、逆論理展開を行って得
られる図は第9図のようになる。同図における論理値と
第6図(a)に示した論理値が異なるのは信号線211
,207,206゜203.201であり、これらを故
障候補信号線として選ぶ。この中に、故障を仮定した信
号線211が含まれているので、この診断は正しいこと
が分かる。
号線における正常値とが異なる箇所が故障候補信号線と
なる。今、取上げている例では、逆論理展開を行って得
られる図は第9図のようになる。同図における論理値と
第6図(a)に示した論理値が異なるのは信号線211
,207,206゜203.201であり、これらを故
障候補信号線として選ぶ。この中に、故障を仮定した信
号線211が含まれているので、この診断は正しいこと
が分かる。
本発明によれば、同期式順序回路をクロックパルス発生
時刻に着目して分割し、分割回路単位に故障の有無を調
べ、故障の存在する分割回路について逆論理展開を行う
ことにより、故障候補信号線を同定できる。この結果、
故障辞書を用いた場合に同定される故障候補信号線の本
数を減らすことができ1診断時間を短縮することができ
る。
時刻に着目して分割し、分割回路単位に故障の有無を調
べ、故障の存在する分割回路について逆論理展開を行う
ことにより、故障候補信号線を同定できる。この結果、
故障辞書を用いた場合に同定される故障候補信号線の本
数を減らすことができ1診断時間を短縮することができ
る。
第1図は本発明の処理手順を示すフローチャート、第2
図は順序回路の1例、第3図は順序回路のモデルを示す
図、第4図は本発明の一実施例、第5図は分割回路を示
した図、第6図は第2図の回路に故障がある場合とない
場合に各信号線の取る論理値を示した図、第7図は論理
素子から逆論理素子への変換を示した図、第8図は逆論
理素子を示す図、第9図は分割回路の逆論理展開を説明
′fJt 図 茅 2 図 慕 3 図 ¥:J 5 図 2θ ¥J 6 図 ネ、故葎逼 罵 7 図
図は順序回路の1例、第3図は順序回路のモデルを示す
図、第4図は本発明の一実施例、第5図は分割回路を示
した図、第6図は第2図の回路に故障がある場合とない
場合に各信号線の取る論理値を示した図、第7図は論理
素子から逆論理素子への変換を示した図、第8図は逆論
理素子を示す図、第9図は分割回路の逆論理展開を説明
′fJt 図 茅 2 図 慕 3 図 ¥:J 5 図 2θ ¥J 6 図 ネ、故葎逼 罵 7 図
Claims (1)
- 1、同期式順序回路を分割する手段と、該分割回路にお
ける観測点を設定する手段と、該観測点の論理値と正常
値とを比較する手段と、該比較結果から故障の存在する
分割回路を見つける手段と、該分割回路の故障候補信号
線を同定する手段とから成る故障診断システムにおいて
、同期式順序回路をクロックパルス発生時刻毎に分割し
、該分割回路単位毎に記憶素子の入出力信号線の論理値
を観測して故障の有無を判定し、故障の存在する分割回
路について逆論理展開を行い故障候補信号線を同定する
ことを特徴とする順序回路の故障診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61110766A JPS62267679A (ja) | 1986-05-16 | 1986-05-16 | 順序回路の故障診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61110766A JPS62267679A (ja) | 1986-05-16 | 1986-05-16 | 順序回路の故障診断方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62267679A true JPS62267679A (ja) | 1987-11-20 |
Family
ID=14544033
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61110766A Pending JPS62267679A (ja) | 1986-05-16 | 1986-05-16 | 順序回路の故障診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62267679A (ja) |
-
1986
- 1986-05-16 JP JP61110766A patent/JPS62267679A/ja active Pending
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