JPS6226779B2 - - Google Patents

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JPS6226779B2
JPS6226779B2 JP1379379A JP1379379A JPS6226779B2 JP S6226779 B2 JPS6226779 B2 JP S6226779B2 JP 1379379 A JP1379379 A JP 1379379A JP 1379379 A JP1379379 A JP 1379379A JP S6226779 B2 JPS6226779 B2 JP S6226779B2
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JP
Japan
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multiplexers
multiplexer
output
elements
scanning
Prior art date
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JP1379379A
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English (en)
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JPS55106142A (en
Inventor
Seiji Oomori
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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Publication of JPS55106142A publication Critical patent/JPS55106142A/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明は超音波診断装置に関し、特に超音波
ビームを電子的に制御して走査する電子走査形の
超音波診断装置に関する。
超音波診断装置は患者の体内の所定断層面内を
超音波ビームで走査し、体内各位置からのエコー
を受信して、そのエコー信号の強度に応じて輝度
変調を行ない、表示面上における反射点に対応す
る位置に輝点として表示することにより断層像を
得るものである。走査方式として典型的には超音
波ビームを平行に走査するリニア形あるいは扇形
に走査するセクタ形があり、従来の装置はいずれ
かの走査方式のみを行なうものとして構成されて
いる。第1図にリニア走査形の装置の概略を示
す。この図で1は#1、#2…、#nk(nおよ
びkは正の整数)の多数の超音波トランスデユー
サ・エレメントを1列に配してなるアレイ・トラ
ンスデユーサである。マルチプレクサ2で一定個
数(例えばk個)のエレメントを順次選択し、受
波の場合には焦点用の遅延回路3を経て各エレメ
ントからのエコー信号を加算回路4で加算する。
送波の場合も同様であり、遅延回路3は送信走査
の焦点用の遅延回路として働く。
第2図はセクタ形走査方式の構成を説明するた
めの図である。この図で1は第1図と同じくアレ
イ・トランスデユーサ、3は焦点用遅延回路であ
る。51〜5kは偏向用遅延回路どあり、#1の
エレメントからのエコー信号はk個の遅延回路5
1〜5kを経るので最も遅れ、#kのエレメント
からのエコー信号は1個の遅延回路5kを経るの
みであるので最もその遅れが少ない。このように
順次遅れ時間を変えることにより、送波時及び受
波時の合成波面が傾いて所定の角度偏向させるこ
とができる。遅延回路51〜5kはそれぞれ可変
遅延形のもので構成されており、遅延時間を1
本、1本の超音波ビーム毎に変えることにより異
なる角度に偏向された超音波ビームが得られセク
タ走査が行なわれる。
更に最近コンパウンド形と称される走査方式が
提案されている。これは第3図に示すように所定
角度偏向した超音波ビームを平行に順次発射して
1フイールドを終わり、次の1フイールドでは異
なる角度に偏向させて平行に走査して行くと云う
もので、いわば従来のセクタ形とリニア形とを組
み合せたものとなつている。
本発明は上記のリニア形、セクタ形及びコンパ
ウンド形のいずれの方式の走査をも1台の装置で
行ない得る、多目的化された電子走査形の超音波
診断装置を提供することを目的とする。
以下、本発明の1実施例について第4図を参照
しながら説明する。第4図において、マルチプレ
クサ21は#1、#k+1、#2k+1、…、
#(n−1)k+1のn個のエレメントの1個を
選択する。またマルチプレクサ22は#2、#k
+2、…、#(n−1)k+2のうちの1個のエ
レメントを選択し、他のマルチプレクサも同様に
n個のエレメントの1個を選択し、マルチプレク
サ2kは#k、#2k、…、#nkのn個のエレメ
ントのうちの1個を選択する。そして、これらの
マルチプレクサ21〜2kはシフトクロツクによ
り選択するエレメントを1個ずつずらすことがで
きるようになつている。すなわち例えばマルチプ
レクサ21ではシフトクロツクを受けると#1の
エレメントを選択していた場合には、次の#k+
1に切換えられる。マルチプレクサ21〜2kの
各出力は更にマルチプレクサ61〜6kにより選
択される。マルチプレクサ61〜6kはそのセレ
クト入力端子に加えられる信号により指示された
1個の入力を選択する。セレクト入力端子にはk
−1ビツトの容量を持つ循環形のカウンタ71〜
7kのそれぞれの出力がEOR(エクスクルーシ
ブ・オア)ゲート8を経て送られてきている。マ
ルチプレクサ61〜6kの各出力は第2図と同様
に焦点用遅延回路3及び偏向用の可変遅延回路5
1〜5kを経て出力される。
この第4図の構成でリニア形の走査を行なう場
合について説明する。この場合には可変遅延回路
51〜5kの遅延時間はゼロとしておく。最初マ
ルチプレクサ21は#1のエレメントを、マルチ
プレクサ22は#2のエレメントを、同様にマル
チプレクサ2kは#kのエレメントをそれぞれ選
択しているものとする。それにカウンタ71には
“0”がロードされ、カウンタ72には“1”が
ロードされ、同様にカウンタ7kには“k−1”
がロードされているものとする。そのためマルチ
プレクサ61はマルチプレクサ21の出力を選択
し、またマルチプレクサ62はマルチプレクサ2
2の出力を、マルチプレクサ6kはマルチプレク
サ2kの出力をそれぞれ選択する。すなわちマル
チプレクサ61の出力は#1のエレメントの出力
となつており、マルチプレクサ62〜6kの出力
は同様にエレメント#2〜#kのそれぞれの出力
となつている。したがつて、この時エレメント
#1〜#kのk個のエレメントにより1本の超音
波ビームが形成される。
つぎにマルチプレクサ21にシフトクロツクを
送り、マルチプレクサ21がエレメント#k+1
を選択するようにする。他のマルチプレクサ22
〜2kは前記と同様の状態に維持しておく。そし
て同時にカウンタ71〜7kにクロツクパルスを
1個だけ送つて、総てのカウンタを“1”だけ進
ませる。そのためカウンタ71の出力は“1”と
なり、カウンタ72の出力は“2”となつて、同
様にカウンタ7kの出力は“0”となる。その結
果マルチプレクサ61は2番目の入力端子を選択
し、マルチプレクサ62は3番目の入力端子を、
マルチプレクサ6kは1番目の入力端子を選択す
る。そのため#2のエレメントの出力がマルチプ
レクサ61より出力され、#3〜#k+1のそれ
ぞれの出力がマルチプレクサ62〜6kのそれぞ
れより出力される。したがつてこの場合、選択さ
れた#2〜#k+1のk個のエレメントより1本
の超音波ビームが形成されることになる。このよ
うにして次々に選択するエレメントを1個ずつず
らして行くことにより平行な超音波ビームが1本
ずつ形成されてリニア形の走査が行なえる。な
お、ここで注意すべきは、マルチプレクサ61の
出力は常に選択されたk個のエレメントのうちで
最も番号の少ないものの出力となつており、また
マルチプレクサ62の出力は最も番号の小さいエ
レメントから数えて2番目のエレメントからの出
力となつており、マルチプレクサ6kの出力は最
も大きな番号のエレメントの出力となつている点
である。このように、選択されたk個のエレメン
トの中での定まつた位置におけるエレメントから
の出力が常に同じマルチプレクサ61〜6kによ
り出力されている。
つぎにセクタ形の走査について説明する。この
場合には例えばマルチプレクサ21〜2kは#1
〜#kのエレメントを選択し、そしてマルチプレ
クサ61〜6kの各々がマルチプレクサ21〜2
kの出力のそれぞれを選択するように、すなわち
結果的にマルチプレクサ61〜6kのそれぞれの
出力が#1〜#kのエレメントのそれぞれの出力
となるようにしておき、マルチプレクサ21〜2
k、上記61〜6kはこの状態で固定させてお
く。なおカウンタ71〜7kは選択されたk個の
エレメントの番号に対応してそれぞれ計数値がロ
ードされ、その状態を保持しているものとする。
このようにマルチプレクサ61〜6kの出力はそ
れぞれ例えば#1〜#kの一定のk個のエレメン
トの出力であるから、第2図の場合と同様に、偏
向用の可変遅延回路51〜5kをそれぞれの偏向
角ごとに変えて偏向角を異ならせてセクタ形の走
査を行なう。なお同一偏向角で反対側に(例えば
右側から左側に)偏向させる場合には遅延回路5
1〜5kの遅延時間はそのままで、総てのEOR
ゲート8に信号を加えることによりカウンタ71
〜7kの出力を反転させる。こうするとマルチプ
レクサ61はk番目の入力、すなわちマルチプレ
クサ2kの出力を選択し、マルチプレクサ6kは
1番目の入力すなわちマルチプレクサ21の出力
を選択することになるので、#1のエレメントが
最小の遅延時間を与えられ、#kのエレメントが
最大の遅延時間を与えられて逆方向に同一角度偏
向することができる。
つぎにコンパウンド形の走査について説明す
る。この場合にはあるフイードにおいて遅延回路
51〜5kの遅延時間を偏向角に対応したものに
制御する。そして前記のリニア形の走査の場合と
同様にマルチプレクサ21,22,…,2kに順
次シフトクロツクを送るとともに、カウンタ71
〜7kにクロツクパルスを送つて総てのカウンタ
を“1”だけ進ませるようにして、所定の角度偏
向させられながら並行に次々に形成される超音波
ビームを得る。こうして1フイールド終了したの
ち、次に偏向用遅延回路51〜5kを制御して他
の遅延時間をセツトし、異なる偏向角として前記
と同様の操作を行なう。このようにフイールドご
とに遅延回路51〜5kを制御し、かつフイール
ド内での操作は前記のリニア形の走査と同様に行
なうことにより、コンパウンド形走査を行なうこ
とができる。ここで前に述べたように、マルチプ
レクサ61〜6kのそれぞれの出力は選択された
k個のエレメント群のうちでは必ず同じ場所に位
置するエレメントからの出力となつている点であ
る。そのため第2図に示したようなセクタ走査形
の遅延回路51〜5kをそのまま用いることによ
り、コンパウンド形走査が行なえるのである。
なお、上記は受波時の構成であるが、送波時の
構成も同様である。
以上、実施例について説明したように、本発明
の超音波診断装置は、n及びkを正の整数とし、
nk個の超音波トランスデユーサ・エレメントよ
りなるアレイ・トランスデユーサと、第1のもの
は第1番目のエレメント、第k+1番目のエレメ
ント、…、第(n−1)k+1番目のエレメント
のn個のうちの1個を選択し、第2のものは第2
番目のエレメント、第k+2番目のエレメント、
…、第(n−1)k+2番目のエレメントのn個
のうちの1個のエレメントを選択し、同様にして
第kのものは第k番目のエレメント、第2k番目
のエレメント、…、第nk番目のエレメントのn
個のうちの1個のエレメントを選択するように接
続されたk個の第1のマルチプレクサ(第4図の
21〜2k)と、このk個のマルチプレクサのう
ちの1個のマルチプレクサをそれぞれ選択する第
1、第2、…、第kのk個の第2のマルチプレク
サ(同61〜6k)と、前記第2のマルチプレク
サを制御する信号を記憶している記憶回路(実施
例では循環形カウンタ71〜7k)と、前記の第
1、第2のマルチプレクサにより選択されたエレ
メントの送・受信信号に所定の遅延時間を与える
遅延回路(第4図では3,3,…,51〜5k)
とを有してなるので、1台の超音波診断装置でリ
ニア、セクタ及びコンパウンドの各形の走査を行
なうことができて多目的な診断を行なえるので、
能率の向上及び経費の節減を図ることが可能であ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のリニア形走査方式の構成の概略
を示すブロツク図、第2図は従来のセクタ形走査
方式の構成の概略を示すブロツク図、第3図はコ
ンパウンド形走査を説明するための概略図、第4
図は本発明の1実施例を示すブロツク図である。 1……アレイ・トランスデユーサ、2,21〜
2k,61〜6k……マルチプレクサ、3……焦
点用遅延回路、4……加算回路、51〜5k……
偏向用遅延回路、71〜7k……カウンタ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 n及びkを正の整数とし、nk個の超音波ト
    ランスデユーサ・エレメントよりなるアレイ・ト
    ランスデユーサと、第1のものは第1番目のエレ
    メント、第k+1番目のエレメント、…、第(n
    −1)k+1番目のエレメントのn個のうちの1
    個を選択し、第2のものは第2番目のエレメン
    ト、第k+2番目のエレメント、…、第(n−
    1)k+2番目のエレメントのn個のうちの1個
    のエレメントを選択し、同様にして第kのものは
    第k番目のエレメント、第2k番目のエレメン
    ト、…、第nk番目のエレメントのn個のうちの
    1個のエレメントを選択するように接続されたk
    個の第1のマルチプレクサと、このk個のマルチ
    プレクサのうちの1個のマルチプレクサをそれぞ
    れ選択する第1、第2、…、第kのk個の第2の
    マルチプレクサと、前記第2のマルチプレクサを
    制御する信号を記憶している記憶回路と、前記の
    第1、第2のマルチプレクサにより選択されたエ
    レメントの送・受信信号に所定の遅延時間を与え
    る遅延回路とを有してなる超音波診断装置。
JP1379379A 1979-02-08 1979-02-08 Ultrasoniccwave diagnosis device Granted JPS55106142A (en)

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JPS55106142A JPS55106142A (en) 1980-08-14
JPS6226779B2 true JPS6226779B2 (ja) 1987-06-10

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS56136534A (en) * 1980-03-28 1981-10-24 Yokogawa Electric Works Ltd Ultrasonic diagnosis apparatus
JPS5884110U (ja) * 1981-11-30 1983-06-07 横河電機株式会社 超音波プロ−ブ変換器
JPS58141140A (ja) * 1982-02-17 1983-08-22 株式会社日立メディコ 超音波送受波器

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