JPS622690Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS622690Y2 JPS622690Y2 JP1980043208U JP4320880U JPS622690Y2 JP S622690 Y2 JPS622690 Y2 JP S622690Y2 JP 1980043208 U JP1980043208 U JP 1980043208U JP 4320880 U JP4320880 U JP 4320880U JP S622690 Y2 JPS622690 Y2 JP S622690Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- output
- signal
- peak value
- photoelectric detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は例えば回転体のダイナミツク・バラ
ンシングをとる場合、基準となるマーク位置を確
実に検出するための光学的な指標(フオトマー
ク)読み取り装置に関する。
ンシングをとる場合、基準となるマーク位置を確
実に検出するための光学的な指標(フオトマー
ク)読み取り装置に関する。
回転体の基準位置を電気的に読み取る場合、通
常第1図1に示す構成がとられる。先ず回転体に
指標線など光学的な識別マークを入れ、これを光
電検出器によつて検出する。回転体の駆動モータ
がパルスモータの場合停止位置θに相当するパル
スをモータに与えて、希望の位置に停止させる。
停止位置の精度は1パルスによるモータの回転角
によることは当然であるが、先ず基準位置パルス
が誤動作なく与えられることが必要である。
常第1図1に示す構成がとられる。先ず回転体に
指標線など光学的な識別マークを入れ、これを光
電検出器によつて検出する。回転体の駆動モータ
がパルスモータの場合停止位置θに相当するパル
スをモータに与えて、希望の位置に停止させる。
停止位置の精度は1パルスによるモータの回転角
によることは当然であるが、先ず基準位置パルス
が誤動作なく与えられることが必要である。
回転体の基準位置(0゜)マークを光電検出す
る従来の方式は、マーク判別しきい値が半固定で
あるためマークの鮮明度および反射率並びに地肌
の滑らかさなどいろいろな要素に左右され、同一
のしきい値のまゝで安定したマークの検出は困難
な実情である。この事情をさらに具体的に説明す
ると、第1図の1の如き配置でフオトマークを検
出した場合その電気出力信号は試験体のコントラ
ストの大小によつてそれぞれ第1図2と3で示す
場合が生じ2の信号を3のL2のレベルで検出す
れば同図4に示すようなノイズ信号Nを生じて誤
動作原因となる。又逆に3の信号を2のL1のレ
ベルで検出すれば、ノイズは勿論フオトマークS
の信号もえられない。
る従来の方式は、マーク判別しきい値が半固定で
あるためマークの鮮明度および反射率並びに地肌
の滑らかさなどいろいろな要素に左右され、同一
のしきい値のまゝで安定したマークの検出は困難
な実情である。この事情をさらに具体的に説明す
ると、第1図の1の如き配置でフオトマークを検
出した場合その電気出力信号は試験体のコントラ
ストの大小によつてそれぞれ第1図2と3で示す
場合が生じ2の信号を3のL2のレベルで検出す
れば同図4に示すようなノイズ信号Nを生じて誤
動作原因となる。又逆に3の信号を2のL1のレ
ベルで検出すれば、ノイズは勿論フオトマークS
の信号もえられない。
第2図は公知の従来の光電検出の電子回路の要
部を示すブロツク図で、1は検出器、2は前置増
巾器、3は比較回路で4のしきい値設定用ポテン
シヨメター(可変抵抗)をもつ。4のしきい値設
定ポテンシヨメターは被試験体の地肌状態が変わ
ると誤動作防止のため、その都度最適状態に調整
せねばならないわづらわしさがある。
部を示すブロツク図で、1は検出器、2は前置増
巾器、3は比較回路で4のしきい値設定用ポテン
シヨメター(可変抵抗)をもつ。4のしきい値設
定ポテンシヨメターは被試験体の地肌状態が変わ
ると誤動作防止のため、その都度最適状態に調整
せねばならないわづらわしさがある。
従来この欠点を解決するため、第3図のブロツ
ク図に示すように、信号のピーク値を記憶する回
路5を設け、この記憶回路の出力を一定の割合だ
け減衰させ、次段の比較回路3の判別しきい値と
して与え、検出器のマーク信号をとり出すように
することが提案されている。この場合は第1図の
5のしきい値KAp(K:常数、0<K<1)が
この信号に該当する。第5図は第3図の中のピー
ク値記憶回路の実施例を示したものである。第5
図では検出器1および前置増巾器2は省略、示し
てない。鎖線にかこまれた二組のブロツクで前段
の5がピーク値記憶回路で、後段は比較回路であ
る。ピーク信号はコンデンサCに一時的に保持さ
れより出力し、比較回路3に入り点の入力信
号と比較される。
ク図に示すように、信号のピーク値を記憶する回
路5を設け、この記憶回路の出力を一定の割合だ
け減衰させ、次段の比較回路3の判別しきい値と
して与え、検出器のマーク信号をとり出すように
することが提案されている。この場合は第1図の
5のしきい値KAp(K:常数、0<K<1)が
この信号に該当する。第5図は第3図の中のピー
ク値記憶回路の実施例を示したものである。第5
図では検出器1および前置増巾器2は省略、示し
てない。鎖線にかこまれた二組のブロツクで前段
の5がピーク値記憶回路で、後段は比較回路であ
る。ピーク信号はコンデンサCに一時的に保持さ
れより出力し、比較回路3に入り点の入力信
号と比較される。
しかしながらこれら従来の方式では比較精度が
充分期待できない欠点を有している。この考案は
これらを解決しようとするもので、すなわち地肌
信号Aの平均値を記憶させ、信号Aからその平均
値を引き(A−)信号を必要な信号レベルに
増巾後、第3図の回路に入力するようにしたもの
でこの点がこの考案の大きな特徴である。第4図
はその基本構成を示すブロツク図で6は平均値記
憶回路、7は減算回路、8は増巾器を示してい
る。第1図5に示すようにマーク信号Apは地肌
信号平均値を含むのでの占める割合が増せ
ば、雑音余裕度(ノイズ・マージン)は減少す
る。従つてを差引いた残りの信号は信号対雑音
(S/N)比が改善されたことになる。これを必
要な信号レベルに増巾後第3図の回路に入力する
ようにしたから確実なマーク信号の検出を行うこ
とが可能である。すなわち、本考案は検出器出力
の平均値と刻刻の出力(ピーク値など)を減算す
る方式で、ピーク値を精度良好に取り出すことが
できるのである。
充分期待できない欠点を有している。この考案は
これらを解決しようとするもので、すなわち地肌
信号Aの平均値を記憶させ、信号Aからその平均
値を引き(A−)信号を必要な信号レベルに
増巾後、第3図の回路に入力するようにしたもの
でこの点がこの考案の大きな特徴である。第4図
はその基本構成を示すブロツク図で6は平均値記
憶回路、7は減算回路、8は増巾器を示してい
る。第1図5に示すようにマーク信号Apは地肌
信号平均値を含むのでの占める割合が増せ
ば、雑音余裕度(ノイズ・マージン)は減少す
る。従つてを差引いた残りの信号は信号対雑音
(S/N)比が改善されたことになる。これを必
要な信号レベルに増巾後第3図の回路に入力する
ようにしたから確実なマーク信号の検出を行うこ
とが可能である。すなわち、本考案は検出器出力
の平均値と刻刻の出力(ピーク値など)を減算す
る方式で、ピーク値を精度良好に取り出すことが
できるのである。
物体にかゝれたホトマークの検出にあたつて、
マークの鮮明度および反射率並びに地肌の滑らか
さが色彩などいろいろの要素に左右され、巾広い
条件において安定したマークの検出は困難であつ
たが、本考案はマークと判別するしきい値を試験
体に応じて自動的に変化させることによつてこの
欠点を改良し、従来試験体が変わるたびに行つて
いたしきい値の調整が不要となり、位置決め装置
の取扱いを容易に信頼性あるものに改良できる。
マークの鮮明度および反射率並びに地肌の滑らか
さが色彩などいろいろの要素に左右され、巾広い
条件において安定したマークの検出は困難であつ
たが、本考案はマークと判別するしきい値を試験
体に応じて自動的に変化させることによつてこの
欠点を改良し、従来試験体が変わるたびに行つて
いたしきい値の調整が不要となり、位置決め装置
の取扱いを容易に信頼性あるものに改良できる。
第1図フオトマーク光電検出方式による回転位
置ぎめ装置の構成の説明図、第2図従来の光電検
出の電子回路の要部を示すブロツク図、第3図ピ
ーク信号記憶回路出力を比較器のしきい値とする
場合の構造を示すブロツク図、第4図本考案の構
成を示すブロツク図、第5図第3図の要部の一例
を示す電子回路図。 1……検出器、2……前置増巾器、3……比較
回路、4……しきい値設定器、5……ピーク値記
憶回路、6……平均値記憶回路、7……減算回
路、8……増巾器。
置ぎめ装置の構成の説明図、第2図従来の光電検
出の電子回路の要部を示すブロツク図、第3図ピ
ーク信号記憶回路出力を比較器のしきい値とする
場合の構造を示すブロツク図、第4図本考案の構
成を示すブロツク図、第5図第3図の要部の一例
を示す電子回路図。 1……検出器、2……前置増巾器、3……比較
回路、4……しきい値設定器、5……ピーク値記
憶回路、6……平均値記憶回路、7……減算回
路、8……増巾器。
Claims (1)
- フオトマークを検出する光電検出器と、その出
力を基準信号と比較する比較回路と、前記光電検
出器の出力のピーク値を記憶する回路とを有し、
このピーク値記憶回路の出力によつて比較回路の
基準信号レベルを一定割合の減衰値に自動的に較
正するようにし、基準信号レベル以上の出力のみ
をフオトマーク信号として検出する装置におい
て、光電検出器とピーク値記憶回路との間に光電
検出器出力の平均値を演算記憶する回路と、光電
検出器出力とこの平均値出力との差信号を出力す
る回路とを設け、この差信号を前記ピーク値記憶
回路に入力するようにしたことを特徴とする光学
的指標読取り装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1980043208U JPS622690Y2 (ja) | 1980-03-31 | 1980-03-31 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1980043208U JPS622690Y2 (ja) | 1980-03-31 | 1980-03-31 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56145748U JPS56145748U (ja) | 1981-11-04 |
| JPS622690Y2 true JPS622690Y2 (ja) | 1987-01-22 |
Family
ID=29638535
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1980043208U Expired JPS622690Y2 (ja) | 1980-03-31 | 1980-03-31 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS622690Y2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53126221A (en) * | 1977-04-11 | 1978-11-04 | Hitachi Ltd | Discriminator for printed matter |
-
1980
- 1980-03-31 JP JP1980043208U patent/JPS622690Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56145748U (ja) | 1981-11-04 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS5698634A (en) | Printed matter testing device | |
| KR950028039A (ko) | 시료 검사 장치 및 방법 | |
| KR890015064A (ko) | 초점위치 검출장치 | |
| SE9802719D0 (sv) | Method and system for determining the integrity of a received signal | |
| JPS61145457A (ja) | クロマトグラフ用データ処理方法 | |
| JPS622690Y2 (ja) | ||
| CA1202411A (en) | Signal processing circuit for image sensor | |
| JPS54150089A (en) | Test device for ic lead bend | |
| KR880000924A (ko) | 회전물체 정렬방법 | |
| JP2759963B2 (ja) | リード曲り検出方法 | |
| JPS62124450A (ja) | Nmrスペクトルの自動ベースラインコレクション方法 | |
| Canny | Finding edges and lines in images[M. S. Thesis] | |
| JPH02173737A (ja) | 原稿検出装置 | |
| JPS5997133A (ja) | オリジナルの背景と映像域の双方の光学濃度を測定する装置 | |
| JP2528685Y2 (ja) | 磁気センサ回路 | |
| JPS6236291B2 (ja) | ||
| JPS6129078Y2 (ja) | ||
| SU1654757A1 (ru) | Способ определени шквала и устройство дл его осуществлени | |
| JP2572805B2 (ja) | マーク読取り機のマーク判別回路 | |
| JPS5619173A (en) | Detection system for presence of character or symbol | |
| JP2744522B2 (ja) | エンボス読取装置の調整方法 | |
| JPS61265193A (ja) | 脱水制御装置 | |
| JPS5671180A (en) | Recording paper terminal detection system | |
| JPS62202297A (ja) | 用紙エッジ検出装置 | |
| JP2542628B2 (ja) | マ−ク読取装置 |