JPS62271661A - 後工程制御型製造プラント管理システム - Google Patents
後工程制御型製造プラント管理システムInfo
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- JPS62271661A JPS62271661A JP61114298A JP11429886A JPS62271661A JP S62271661 A JPS62271661 A JP S62271661A JP 61114298 A JP61114298 A JP 61114298A JP 11429886 A JP11429886 A JP 11429886A JP S62271661 A JPS62271661 A JP S62271661A
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- Japan
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- manufacturing
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- manufacturing plant
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- memory device
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- Pending
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 70
- 238000004886 process control Methods 0.000 title claims description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 29
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 12
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 9
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 10
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- FFBHFFJDDLITSX-UHFFFAOYSA-N benzyl N-[2-hydroxy-4-(3-oxomorpholin-4-yl)phenyl]carbamate Chemical compound OC1=C(NC(=O)OCC2=CC=CC=C2)C=CC(=C1)N1CCOCC1=O FFBHFFJDDLITSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000002715 modification method Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000010606 normalization Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/02—Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/30—Computing systems specially adapted for manufacturing
Landscapes
- Multi-Process Working Machines And Systems (AREA)
- General Factory Administration (AREA)
- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、大規模かつ複雑な工程からなる製造プラント
において、高い生産性の達成を支援する製造プラント管
理システムに関するものである。
において、高い生産性の達成を支援する製造プラント管
理システムに関するものである。
製造プラントにおいて高い生産性を確保するための管理
システムは、従来、単なるデータの監視システムか、も
しくは監視したデータから異常の発生を検知し、その原
因箇所の推定を行なう異常診断型のシステムか、あるい
はその結果に応じて前工程の製造条件を変化させ、異常
の発生を取り除くフイードバツク制御システムが知られ
ている。
システムは、従来、単なるデータの監視システムか、も
しくは監視したデータから異常の発生を検知し、その原
因箇所の推定を行なう異常診断型のシステムか、あるい
はその結果に応じて前工程の製造条件を変化させ、異常
の発生を取り除くフイードバツク制御システムが知られ
ている。
これらのシステムでは、プラント中の製造条件、検査結
果の異常現象に対して、その原因を取り除くことによっ
て、プラントの正常化をはかるものである。
果の異常現象に対して、その原因を取り除くことによっ
て、プラントの正常化をはかるものである。
しかしながら、上記管理システムを製造プラントに適用
した場合、プラント全体としての運転の正常化は望める
が、既に発生してしまった規格外品についての処理は何
も望めない。このとき工程の途中において発見された規
格外品は、後工程において、何らかの製造条件を変更す
ることによって修正可能である場合も存在する。通常、
このようなフイードフオワード型の条件変更は、その条
件設定が非常に微妙であることが多く、また製品個々の
程度に応じて最適な修正方法が異なるなどして、その各
工程又は製造プラント全体について熟知している専門家
の知識や技術が必要とされる場合が多い。
した場合、プラント全体としての運転の正常化は望める
が、既に発生してしまった規格外品についての処理は何
も望めない。このとき工程の途中において発見された規
格外品は、後工程において、何らかの製造条件を変更す
ることによって修正可能である場合も存在する。通常、
このようなフイードフオワード型の条件変更は、その条
件設定が非常に微妙であることが多く、また製品個々の
程度に応じて最適な修正方法が異なるなどして、その各
工程又は製造プラント全体について熟知している専門家
の知識や技術が必要とされる場合が多い。
そこで、本発明はこれらの問題点を解決するため、製造
プラントにおいて工程の途中で規格外品が発生しても、
その製品を良品にすべく後工程に対してその製造条件の
偏向指示を、製造プラントにおける専門家と同等の硬度
で与える製造プラント管理システムを得ることを目的と
している。
プラントにおいて工程の途中で規格外品が発生しても、
その製品を良品にすべく後工程に対してその製造条件の
偏向指示を、製造プラントにおける専門家と同等の硬度
で与える製造プラント管理システムを得ることを目的と
している。
本発明の後工程制御型製造プラント管理システムは、製
造プラントの状況を監視し、管理する製造プラント管群
システムにおいて、 ａ）現在工程を流れれている製品についての製造条件、
検査結果を格納するデータメモリ装置と、ｂ）仕掛り中
の製品個々について、その製品のその時点までの製造条
件、検査結果より、後工程における製造条件の変更を決
定し、製造プラントに指示する後工程製造条件決定装置
と、 ｃ）上記の決定に必要な知識を格納する知識メモリ装置
と、 ｄ）各データ、情報、知識の入出力に用いる１種以上の
インタフェースより構成されることを特徴とする。
造プラントの状況を監視し、管理する製造プラント管群
システムにおいて、 ａ）現在工程を流れれている製品についての製造条件、
検査結果を格納するデータメモリ装置と、ｂ）仕掛り中
の製品個々について、その製品のその時点までの製造条
件、検査結果より、後工程における製造条件の変更を決
定し、製造プラントに指示する後工程製造条件決定装置
と、 ｃ）上記の決定に必要な知識を格納する知識メモリ装置
と、 ｄ）各データ、情報、知識の入出力に用いる１種以上の
インタフェースより構成されることを特徴とする。
本発明の上記の構成によれば、製造プラント中を流れる
個々の製品のデータは、入力インタフェースを通して刻
々とデータメモリ装置に蓄えられる。後工程製造条件決
定装置は、知識メモリ装置内に予め収められた知識を用
いて、データメモリ装置内のデータから、個々の製品に
ついて後工程での最適な製造条件を決定し、インタフェ
ースを通じて必要な措置を行なう。
個々の製品のデータは、入力インタフェースを通して刻
々とデータメモリ装置に蓄えられる。後工程製造条件決
定装置は、知識メモリ装置内に予め収められた知識を用
いて、データメモリ装置内のデータから、個々の製品に
ついて後工程での最適な製造条件を決定し、インタフェ
ースを通じて必要な措置を行なう。
以下、本発明について実施例に基づいて詳細に説明する
。
。
第１図が本発明による後工程制御型製造プラント管理シ
ステムのブロツク図である。１の製造プラントとは、プ
ラントにおける各装置、検査器、作業者等すべての要素
を含むものとする。インタフェース２，３は製造プラン
ト１と本発明におけるシステムの各装置を結ぶものであ
るが、製造プラントの規模に応じて、それぞれ複数個存
在することもあり得る。製造プラント１から、インタフ
ェース２を通して集められたデータは、データメモリ装
置４に蓄えられる。後工程製造条件決定装置５は、知識
メモリ装置６に蓄えられた知識に従ってデータメモリ装
置６内のデータから、個々の製品に対する後工程の製造
条件を決定し、その製品が後工程に流れてきたところで
インタフェース３を通して製造プラントの制御を行なう
。
ステムのブロツク図である。１の製造プラントとは、プ
ラントにおける各装置、検査器、作業者等すべての要素
を含むものとする。インタフェース２，３は製造プラン
ト１と本発明におけるシステムの各装置を結ぶものであ
るが、製造プラントの規模に応じて、それぞれ複数個存
在することもあり得る。製造プラント１から、インタフ
ェース２を通して集められたデータは、データメモリ装
置４に蓄えられる。後工程製造条件決定装置５は、知識
メモリ装置６に蓄えられた知識に従ってデータメモリ装
置６内のデータから、個々の製品に対する後工程の製造
条件を決定し、その製品が後工程に流れてきたところで
インタフェース３を通して製造プラントの制御を行なう
。
知識メモリ装置６に収める知識はインタフェース７を通
して、管理対象となる製造プラント１についての詳細な
知識を有する１人以上の専門家８から獲得し、また修正
を行なうことができる。
して、管理対象となる製造プラント１についての詳細な
知識を有する１人以上の専門家８から獲得し、また修正
を行なうことができる。
実際の製造プラントに上記システムを通用させた例を以
下に示す。第２図は製造プラントのある一部分をなす一
連の工程と本発明によるシステムをブロツク図で示した
ものである。一連の工程は、製造工程９〜１２と検査工
程１３から成る。
下に示す。第２図は製造プラントのある一部分をなす一
連の工程と本発明によるシステムをブロツク図で示した
ものである。一連の工程は、製造工程９〜１２と検査工
程１３から成る。
製造工程９に異常が生じた場合、本発明によるシステム
は、検査工程１３による検査値の異常によって製品異常
を検出する。ここで、仮に異常箇所が製造工程９に存在
することを何らかの方法で発見し、その対策を即座にと
ったとしても、製造工程１０を流れている製品には、依
然不良が含まれている。本発明による後工程制御型製造
プラント管理システム１４は、システム内に貯えられた
専門家の知識を活用することにより、これら不良品の程
度に応じて後工程となる製造工程１１の製造条件の変更
や、場合によって臨時修正工程１５や、臨時検査工程１
６の実行を決定し、製造プラントに対してその指示を行
う。
は、検査工程１３による検査値の異常によって製品異常
を検出する。ここで、仮に異常箇所が製造工程９に存在
することを何らかの方法で発見し、その対策を即座にと
ったとしても、製造工程１０を流れている製品には、依
然不良が含まれている。本発明による後工程制御型製造
プラント管理システム１４は、システム内に貯えられた
専門家の知識を活用することにより、これら不良品の程
度に応じて後工程となる製造工程１１の製造条件の変更
や、場合によって臨時修正工程１５や、臨時検査工程１
６の実行を決定し、製造プラントに対してその指示を行
う。
なお本発明において、知識メモリ装置６内に収められる
知識の表現形式は、ルール型、フレーム型あるいは手続
き型等、一つの方式に特定されるものではない。または
、各インタフェースにはＶＤＴ、プリンタ、製造機械制
御装置、各種測定装置等が考えられる。
知識の表現形式は、ルール型、フレーム型あるいは手続
き型等、一つの方式に特定されるものではない。または
、各インタフェースにはＶＤＴ、プリンタ、製造機械制
御装置、各種測定装置等が考えられる。
以上述べたように本発明によるシステムにおいては、製
造プラントの専門家の知識を知識メモリ装置内に収め、
これを用いて製品それぞれにつき後工程での最適な製造
条件を決定するという構造をとったために、不良品もし
くは該工程で不良と成り得る潜在的な不良品が発生した
ときも、それらに対する後工程での適切な処置が可能に
なり、結果として製造プラントにおける低い不良率と高
い生産性の達成が可能となった。また知識メモリ装置内
に製造プラントの専門家の知識を収めることにより、熟
練者以外による製造プラントの管理が可能になり、同時
に製造ラインの変更等製造プラント自体の改良に対して
も柔軟な対応が可能になった。
造プラントの専門家の知識を知識メモリ装置内に収め、
これを用いて製品それぞれにつき後工程での最適な製造
条件を決定するという構造をとったために、不良品もし
くは該工程で不良と成り得る潜在的な不良品が発生した
ときも、それらに対する後工程での適切な処置が可能に
なり、結果として製造プラントにおける低い不良率と高
い生産性の達成が可能となった。また知識メモリ装置内
に製造プラントの専門家の知識を収めることにより、熟
練者以外による製造プラントの管理が可能になり、同時
に製造ラインの変更等製造プラント自体の改良に対して
も柔軟な対応が可能になった。
第１図は本発明による後工程制御型製造プラント管理シ
ステムのブロツク図、第２図は本発明の後工程制御型製
造プラント管理システムを製造プラントに適用させた場
合のブロツク図である。 １・・・製造プラント ２・・・インタフェース ３・・・インタフェース ４・・・データメモリ装置 ５・・・後工程製造条件決定装置 ６・・・知識メモリ装置 ７・・・インタフェース ８・・・専門家 以上
ステムのブロツク図、第２図は本発明の後工程制御型製
造プラント管理システムを製造プラントに適用させた場
合のブロツク図である。 １・・・製造プラント ２・・・インタフェース ３・・・インタフェース ４・・・データメモリ装置 ５・・・後工程製造条件決定装置 ６・・・知識メモリ装置 ７・・・インタフェース ８・・・専門家 以上
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 製造プラントの状況を監視し、管理する製造プラント管
理システムにおいて、 ａ）現在工程を流れている製品についての製造条件、検
査結果を格納するデータメモリ装置と、ｂ）仕掛り中の
製品個々について、その製品のその時点までの製造条件
、検査結果より、後工程における製造条件の変更を決定
し、製造プラントに指示する後工程製造条件決定装置と
、 ｃ）上記の決定に必要な知識を格納する知識メモリ装置
と ｄ）各データ、情報、知識の入出力に用いる１個以上の
インタフェースより構成されることを特徴とする後工程
制御型製造プラント管理システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61114298A JPS62271661A (ja) | 1986-05-19 | 1986-05-19 | 後工程制御型製造プラント管理システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61114298A JPS62271661A (ja) | 1986-05-19 | 1986-05-19 | 後工程制御型製造プラント管理システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62271661A true JPS62271661A (ja) | 1987-11-25 |
Family
ID=14634364
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61114298A Pending JPS62271661A (ja) | 1986-05-19 | 1986-05-19 | 後工程制御型製造プラント管理システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62271661A (ja) |
-
1986
- 1986-05-19 JP JP61114298A patent/JPS62271661A/ja active Pending
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