JPS62276413A - 質量流量計 - Google Patents
質量流量計Info
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- JPS62276413A JPS62276413A JP12045086A JP12045086A JPS62276413A JP S62276413 A JPS62276413 A JP S62276413A JP 12045086 A JP12045086 A JP 12045086A JP 12045086 A JP12045086 A JP 12045086A JP S62276413 A JPS62276413 A JP S62276413A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
(産業上の利用分野)
本発明は、カルマン渦を利用して測定流体の質量流量を
測定する質量流量計に関するものである。
測定する質量流量計に関するものである。
(従来の技術)
流体中に物体を置くと、物体の雨後側面から交互にかつ
規則的に渦が発生し、下流に渦列となって流れることが
古くから知られている。この渦列はカルマン渦列といわ
れ、単位時間当りの渦の生成数(生成周波数)が流体の
流速に比例している。
規則的に渦が発生し、下流に渦列となって流れることが
古くから知られている。この渦列はカルマン渦列といわ
れ、単位時間当りの渦の生成数(生成周波数)が流体の
流速に比例している。
そこで、測定流体を導く管路内に渦発生体を配置し、渦
発生体によって流速に比例した渦を発生させ、渦の生成
による揚力変化を圧電素子、ストレンゲージ、容量やイ
ンダクタンス等のセンサで検出し、検出信号の周波数の
みを取り出して流体の流速や流量を測定する渦流量計が
実用化されている。ところで、一般に知りたい流量は化
学変化を行わせるプロセスではもちろんのこと、取引に
おいても質量流量であることが多い。また測定流体が気
体やスチームの場合には温度や圧力でその密度が大きく
変わり、液体の場合でも温度によりその密度がかなり変
化してしまう。このため渦流量計と並設して温度や圧力
を測定するか、密度計にて密度を測定し、質量流量を測
定している。しかし密度計と渦流量計とを用いると繁雑
高価であり、温度や圧力計と渦流量計との組合せでは、
繁雑高価であるばかりでなく、流体の温度の測定が難し
いことから精度や応答性も悪い。
発生体によって流速に比例した渦を発生させ、渦の生成
による揚力変化を圧電素子、ストレンゲージ、容量やイ
ンダクタンス等のセンサで検出し、検出信号の周波数の
みを取り出して流体の流速や流量を測定する渦流量計が
実用化されている。ところで、一般に知りたい流量は化
学変化を行わせるプロセスではもちろんのこと、取引に
おいても質量流量であることが多い。また測定流体が気
体やスチームの場合には温度や圧力でその密度が大きく
変わり、液体の場合でも温度によりその密度がかなり変
化してしまう。このため渦流量計と並設して温度や圧力
を測定するか、密度計にて密度を測定し、質量流量を測
定している。しかし密度計と渦流量計とを用いると繁雑
高価であり、温度や圧力計と渦流量計との組合せでは、
繁雑高価であるばかりでなく、流体の温度の測定が難し
いことから精度や応答性も悪い。
ところで、第3図に示す如く、管路1に渦発生体2が配
置され、測定流体が管路1に流された場合に、渦発生体
2に作用する平均抗力F2.変動揚力F、や圧力損失Δ
Pは一般に次式で示される関係にある。
置され、測定流体が管路1に流された場合に、渦発生体
2に作用する平均抗力F2.変動揚力F、や圧力損失Δ
Pは一般に次式で示される関係にある。
Fし 0く二±C5ΣP
(2)但し C2: 抗力係数 C1; 変動揚力係数 Cp: 圧力損失係数 ρ : 密度 V ; 流速 (1)、(2)についてはたとえば「流れ学 第5章渦
P、79. P、872+クツタジユコフスキーの定理
谷一部茗 合波書店」で述べられている。又(3)は
渦発生体からの境界層の剥離(カルマン渦の発生)によ
る損失から導かれるものである。
(2)但し C2: 抗力係数 C1; 変動揚力係数 Cp: 圧力損失係数 ρ : 密度 V ; 流速 (1)、(2)についてはたとえば「流れ学 第5章渦
P、79. P、872+クツタジユコフスキーの定理
谷一部茗 合波書店」で述べられている。又(3)は
渦発生体からの境界層の剥離(カルマン渦の発生)によ
る損失から導かれるものである。
さて、平均抗力F。、変動揚力FL+圧力損失ΔPは、
抗力係数Co、変動揚力係数CL+圧力損失係数cpが
定数であれば、ρ■2に比例するので、渦周波と 渦発生体2の直径、K= で定数)で(1) 、 (
2) 。
抗力係数Co、変動揚力係数CL+圧力損失係数cpが
定数であれば、ρ■2に比例するので、渦周波と 渦発生体2の直径、K= で定数)で(1) 、 (
2) 。
沈
(3)式を割算すれば、ρ■が得られる。抗力係数Cc
、。
、。
変動揚力係数Cい圧力損失係数Cpの個については、午
たとえば、抗力係数Cつにつ゛いては第N図(航空宇宙
工学便覧P、 205 日本航空宇宙学会用 丸善株
式会社 発行)に示されるように、各種形状の渦発生
体について求められている。
工学便覧P、 205 日本航空宇宙学会用 丸善株
式会社 発行)に示されるように、各種形状の渦発生
体について求められている。
又、ρv2検出器と■検出器とを割算することによりρ
v2/v−ρVなる質量流量を求めることについても、
流量計測ハンドブックP、 344 用田裕部用著
日刊工業新聞社発行に述べられているように、従来から
一般的に行われている技術である。
v2/v−ρVなる質量流量を求めることについても、
流量計測ハンドブックP、 344 用田裕部用著
日刊工業新聞社発行に述べられているように、従来から
一般的に行われている技術である。
渦流量計において、この稲の公知例としては、西独特許
Dε3032578C2r測定流体を動的に密度に非
依存に決定する方法と装置(内容は渦流量計による質量
流量の測定)」があり、変動揚力を渦発生体に取付けた
ストレインゲージの歪みとして検出したり、バネにより
i発生体に発生するトルクを検出したり、渦発生体の前
面にピトー管を設置し抗力を検出し、渦周波数と割算す
ることによりMm流量を求めるものがある。
Dε3032578C2r測定流体を動的に密度に非
依存に決定する方法と装置(内容は渦流量計による質量
流量の測定)」があり、変動揚力を渦発生体に取付けた
ストレインゲージの歪みとして検出したり、バネにより
i発生体に発生するトルクを検出したり、渦発生体の前
面にピトー管を設置し抗力を検出し、渦周波数と割算す
ることによりMm流量を求めるものがある。
また、国内においては、実開昭54−174359号[
カルマン渦を利用した測定装置」においても、渦発生体
の上下流側にダイアフラムによる容量検出部を設け、容
量変化の直流分より抗力Fclを、交流会から渦周波数
を検出し割算することにより質量流量を求めるものがあ
る。
カルマン渦を利用した測定装置」においても、渦発生体
の上下流側にダイアフラムによる容量検出部を設け、容
量変化の直流分より抗力Fclを、交流会から渦周波数
を検出し割算することにより質量流量を求めるものがあ
る。
また、特開昭57−61916号「カルマン渦を利用し
た測定装置」に変動揚力を検出し、渦周数で割算する例
が示されている。
た測定装置」に変動揚力を検出し、渦周数で割算する例
が示されている。
以下、特開昭57−61916号について説明する。
第5図はこの特開昭57−61916号の構議説明図で
ある。図において、1aは測定流体が流れる管路、2a
は管路1aに垂直に挿入された柱状の渦発生体で、その
両端は管路1aに固定されている。渦発生体2aの本体
21aはステンレス等からなり、測定流体にカルマン渦
列を生ゼしぬかつ揚力変化を安定強化するような例えば
台形等の断面形状を有している。
ある。図において、1aは測定流体が流れる管路、2a
は管路1aに垂直に挿入された柱状の渦発生体で、その
両端は管路1aに固定されている。渦発生体2aの本体
21aはステンレス等からなり、測定流体にカルマン渦
列を生ゼしぬかつ揚力変化を安定強化するような例えば
台形等の断面形状を有している。
渦発生体2aの頂部22aはステンレス等からなり、凹
部23aを有し本体21aとは溶接等により一体に形成
されている。41aは圧電素子からなる素子本体で、渦
発生体2aの凹部23aにガラス等の絶縁材3aによっ
てMMされ、渦発生体と一体に形成されている。また素
子本体41aは円板状をなし、その中心が渦発生体2a
の中立軸と一致するように配置されている。さらに素子
本体41aには、第6図に示すようにその表と裏にそれ
ぞれ左右に分割して対称的に電極42a、 43a、
44a、 45a が設けられ、電極42aと43a
で挾まれた部分で第1の圧電センサ46aを形成し、電
極44aと45aで挾まれた部分で第2の圧電センサ4
7aを形成する。そして第1゜第2の圧電センサ46a
、 47aに生ずる電荷が差動的になるように、電極4
2aと45aおよび電t443aと44aが各々結線さ
れ、かつ電極42aと44aからそれぞれリード線48
a、 49aが絶縁材3aを貫通して外部に取り出され
ているm 8aは検出信号処理回路で、圧電センサ46
a、 47aで検出した交流電荷qを交流電圧eに変換
する。9aは比較器で、交流電圧eを一定レベルのパル
ス信号Pに変換するためのものである。loaはF/V
コンバータで、比較器出力のパルス信号Pをその周波数
に比例した直流電圧E1に変換する。llaは整流平滑
回路で、交流電圧eを整流平滑し、その振幅に比例した
直流電圧E2に変換する。12aは演算回路で、F/V
コンバータloaと整流平滑回路11aの出力E、、E
、に所望の演算を施し、その出力に流体の密度または質
量流量に関連した信号、を取出すためのものである。
部23aを有し本体21aとは溶接等により一体に形成
されている。41aは圧電素子からなる素子本体で、渦
発生体2aの凹部23aにガラス等の絶縁材3aによっ
てMMされ、渦発生体と一体に形成されている。また素
子本体41aは円板状をなし、その中心が渦発生体2a
の中立軸と一致するように配置されている。さらに素子
本体41aには、第6図に示すようにその表と裏にそれ
ぞれ左右に分割して対称的に電極42a、 43a、
44a、 45a が設けられ、電極42aと43a
で挾まれた部分で第1の圧電センサ46aを形成し、電
極44aと45aで挾まれた部分で第2の圧電センサ4
7aを形成する。そして第1゜第2の圧電センサ46a
、 47aに生ずる電荷が差動的になるように、電極4
2aと45aおよび電t443aと44aが各々結線さ
れ、かつ電極42aと44aからそれぞれリード線48
a、 49aが絶縁材3aを貫通して外部に取り出され
ているm 8aは検出信号処理回路で、圧電センサ46
a、 47aで検出した交流電荷qを交流電圧eに変換
する。9aは比較器で、交流電圧eを一定レベルのパル
ス信号Pに変換するためのものである。loaはF/V
コンバータで、比較器出力のパルス信号Pをその周波数
に比例した直流電圧E1に変換する。llaは整流平滑
回路で、交流電圧eを整流平滑し、その振幅に比例した
直流電圧E2に変換する。12aは演算回路で、F/V
コンバータloaと整流平滑回路11aの出力E、、E
、に所望の演算を施し、その出力に流体の密度または質
量流量に関連した信号、を取出すためのものである。
このように構成した第5図従来例において、管路1a内
に測定流体が流れると、渦発生体2aはカルマン渦を発
生させるとともに、渦の生成に基づく揚力変化を受ける
。渦発生体2aは揚力変化を受けるとその内部に図示の
如く中立軸を挾んで逆方向の応力変化が発生する。この
渦発生体2aに生ずる応力変化は絶縁材3aで渦発生体
2aに一体に取付られた素子本体41aに伝達される。
に測定流体が流れると、渦発生体2aはカルマン渦を発
生させるとともに、渦の生成に基づく揚力変化を受ける
。渦発生体2aは揚力変化を受けるとその内部に図示の
如く中立軸を挾んで逆方向の応力変化が発生する。この
渦発生体2aに生ずる応力変化は絶縁材3aで渦発生体
2aに一体に取付られた素子本体41aに伝達される。
したがって第1゜第2の圧電センサ46a、 47aに
はそれぞれ揚力変化に対応して互いに逆位相の電荷量の
変化が生ずる。
はそれぞれ揚力変化に対応して互いに逆位相の電荷量の
変化が生ずる。
そして圧電センサ46a、 47aに生ずる電荷量は差
動的に取り出され、リードVA48a、49a間には交
番電荷qが生ずる。交番電荷qは検出信号処理回TI!
18aで交流電圧eに変換される。交流電圧eの周波数
を比較器9aおよびF/VコンバータIOaを介して取
り出せば、(4)式の如く一般の渦流量計と同様渦周波
数fすなわち流速Vに比例した電圧E、が得られる。
動的に取り出され、リードVA48a、49a間には交
番電荷qが生ずる。交番電荷qは検出信号処理回TI!
18aで交流電圧eに変換される。交流電圧eの周波数
を比較器9aおよびF/VコンバータIOaを介して取
り出せば、(4)式の如く一般の渦流量計と同様渦周波
数fすなわち流速Vに比例した電圧E、が得られる。
El −KIV (4)た
だし、K1は比例定数 一方交流電圧eの振幅を整流平滑回路11aを介して取
り出せば、整流平滑回路11aの出力E2は流体の密度
をρとすると次式で与えられる。
だし、K1は比例定数 一方交流電圧eの振幅を整流平滑回路11aを介して取
り出せば、整流平滑回路11aの出力E2は流体の密度
をρとすると次式で与えられる。
K2− K2pV’ (5)た
だし、K2は比例定数 その出力Eoは、 となる。管路1aの断面積をSとすれば、M量流量Qm
は、 Qm= ρVs (7)で
与えられるので、Eoは、 Eo・−!sL−α夙 となり、質量流量に比例した信号となる。
だし、K2は比例定数 その出力Eoは、 となる。管路1aの断面積をSとすれば、M量流量Qm
は、 Qm= ρVs (7)で
与えられるので、Eoは、 Eo・−!sL−α夙 となり、質量流量に比例した信号となる。
また演算回路12aで、Elを2乗した獲E2を割るよ
うにすれば、出力Eoは、 となり、流体の密度に比例した信号を得ることができる
。
うにすれば、出力Eoは、 となり、流体の密度に比例した信号を得ることができる
。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、今、カルマン渦による変動揚力F5.抗
力FD及び渦周波数出力(体積流量)FVはF−に、V
(2)但し FL: 変動揚力 FD; 抗力 Fv; 渦周波数出力(体積流量) CL; 変動揚ツノ係数 C,; 抗力係数 ρ ; 密度 ■ ; 流速 d、; 渦発生体の流れに対向する直径D ; 管内直
径 に1; 定数 したがって、 (6)式におけるに3は となる。
力FD及び渦周波数出力(体積流量)FVはF−に、V
(2)但し FL: 変動揚力 FD; 抗力 Fv; 渦周波数出力(体積流量) CL; 変動揚ツノ係数 C,; 抗力係数 ρ ; 密度 ■ ; 流速 d、; 渦発生体の流れに対向する直径D ; 管内直
径 に1; 定数 したがって、 (6)式におけるに3は となる。
ここにおいて、変動揚力FLを検出する第1.第2の圧
電センサ46a、 47aは、絶縁材3aで渦発生体2
aに、測定流体に近く一体に取付けられている。
電センサ46a、 47aは、絶縁材3aで渦発生体2
aに、測定流体に近く一体に取付けられている。
したがって、測定流体の温度に直接影響を受ける。
このため、装置のず温度特性に問題を生じ、また、高温
の測定流体は測定することができない。また、腐食性測
定流体の影響を受けやすく、耐腐食性において問題があ
る。
の測定流体は測定することができない。また、腐食性測
定流体の影響を受けやすく、耐腐食性において問題があ
る。
本発明は、この問題点を解決するものである。
本発明の目的は、温度特性が良好で、高温の測定流体ま
で測定でき、耐腐食性の良好な質量流量計を提供するに
ある。
で測定でき、耐腐食性の良好な質量流量計を提供するに
ある。
(問題点を解決するための手段)
この目的を達成するために、本願は、測定流体の流れる
管路と、該管路に直角に挿入されカルマン渦によるトル
クを受ける受力体と、該受力体と前記管路との間に設け
られたトルクチューブと、該トルクチューブに設けられ
前記トルクを検出するトルク検出器とを具備してなる質
量流量計を構成したものである。
管路と、該管路に直角に挿入されカルマン渦によるトル
クを受ける受力体と、該受力体と前記管路との間に設け
られたトルクチューブと、該トルクチューブに設けられ
前記トルクを検出するトルク検出器とを具備してなる質
量流量計を構成したものである。
(作用)
以上の構成において、測定流体が流れると、カルマン渦
が発生する。このカルマン渦により、受力体にトルクが
作用する。このトルクはトルクチューブを介してトルク
検出器において、電気信号として検出される。この電気
信号を演算処理すれば、質量流量が測定できる。
が発生する。このカルマン渦により、受力体にトルクが
作用する。このトルクはトルクチューブを介してトルク
検出器において、電気信号として検出される。この電気
信号を演算処理すれば、質量流量が測定できる。
以下、実施例について説明する。
(実施例)
第1図(A) (B)は、本発明の一実施例の構成説明
図で、(ト)は正面図、(B)は平面図である。
図で、(ト)は正面図、(B)は平面図である。
図において、1は測定流体の流れる管路、2はIQQ1
0直角に挿入されカルマン渦によるトルクを受ける受力
体である。3は受力体2と管路lとの間に設けられたト
ルクチューブである。4はトルクチューブ3に、受力体
2をはさんで対向して配置されたストレインゲージであ
る。5はトルクチューブ3に取付けられた測温体である
。
0直角に挿入されカルマン渦によるトルクを受ける受力
体である。3は受力体2と管路lとの間に設けられたト
ルクチューブである。4はトルクチューブ3に、受力体
2をはさんで対向して配置されたストレインゲージであ
る。5はトルクチューブ3に取付けられた測温体である
。
第2図は第1図の電気回路6(第1図に図示せず)のブ
ロック図である。
ロック図である。
6Iはひずみ検出回路で、ストレインゲージ4で検出し
たひずみを検出する回路である。62は第1増幅回路で
、ひずみ検出回路61からの信号を増幅する。63は整
流検波回路で、第1増幅回路62からの信号を整流検波
する。64はフィルタ回路で、ひずみ検出回路61の出
力に含まれる低周波あるいは高周波のノイズを除去する
。65は第2増幅回路で、フィルタ回路64からの出力
を増幅する。66はシュミットトリガ−回路で、第2増
幅回路65からの交流電圧を一定レベルのパルス信号に
変換する。67はF/Vコンバータで、シュミットトリ
ガ−回路66からのパルス信号をその周波数に比例した
直流電圧に変換する。68は割算回路で、整流検波回路
63とF/Vコンバータ67の出力に所望の演算を施し
、その出力に流体の密度又は質量流量に関連した信号を
取り出す。71は温度変換回路で、測温体5の検出信号
を電気信号に変換する回路である。72は温度補正回路
で、温度変換回路7Iからの信号によって、割算回路6
8からの信号を温度補正し、出力信号ε0として出力す
る。
たひずみを検出する回路である。62は第1増幅回路で
、ひずみ検出回路61からの信号を増幅する。63は整
流検波回路で、第1増幅回路62からの信号を整流検波
する。64はフィルタ回路で、ひずみ検出回路61の出
力に含まれる低周波あるいは高周波のノイズを除去する
。65は第2増幅回路で、フィルタ回路64からの出力
を増幅する。66はシュミットトリガ−回路で、第2増
幅回路65からの交流電圧を一定レベルのパルス信号に
変換する。67はF/Vコンバータで、シュミットトリ
ガ−回路66からのパルス信号をその周波数に比例した
直流電圧に変換する。68は割算回路で、整流検波回路
63とF/Vコンバータ67の出力に所望の演算を施し
、その出力に流体の密度又は質量流量に関連した信号を
取り出す。71は温度変換回路で、測温体5の検出信号
を電気信号に変換する回路である。72は温度補正回路
で、温度変換回路7Iからの信号によって、割算回路6
8からの信号を温度補正し、出力信号ε0として出力す
る。
以上の構成において、トルクチューブ3に生ずる応力τ
は、 τ;トルクチューブに生ずる剪断カ フ ; tt
// ) ル りzt;
tt のねじり断面係数ρ;流体の密度 V:流体の流速 L;受力体2に作用する揚力 D;トルクチューブの外径 d; 〃 の内径 トルクチューブ3上のストレインゲージ4で検出される
ひずみ出力は、(1)〜(3)式を用し)で、R;スト
レインゲージの抵抗 に曾ニゲーシフアクタ− σ1 ;トルクチューブに生ずる主応力(寓τmax) E; 〃 〃のヤング率 質量流量ρVを第2図に示す回路演算処理によりρv2
÷Vにて求めるとすれば、出力Eo(wρV)は、 K□;流体温度Tのときのにファクターfv+渦周波数 したがって、出力EOは、(5)式により求めることが
できる。
は、 τ;トルクチューブに生ずる剪断カ フ ; tt
// ) ル りzt;
tt のねじり断面係数ρ;流体の密度 V:流体の流速 L;受力体2に作用する揚力 D;トルクチューブの外径 d; 〃 の内径 トルクチューブ3上のストレインゲージ4で検出される
ひずみ出力は、(1)〜(3)式を用し)で、R;スト
レインゲージの抵抗 に曾ニゲーシフアクタ− σ1 ;トルクチューブに生ずる主応力(寓τmax) E; 〃 〃のヤング率 質量流量ρVを第2図に示す回路演算処理によりρv2
÷Vにて求めるとすれば、出力Eo(wρV)は、 K□;流体温度Tのときのにファクターfv+渦周波数 したがって、出力EOは、(5)式により求めることが
できる。
次に(5)式において、
流体温度をt、流量係数をKMゲージファクターに9の
温度係数をα、トルクチューブ3のヤング率Eの温度係
数をβ、トルクチューブ3、管路1の線膨張係数をγと
すれば、出力Eoは、となり、出力EOの温度誤差ΔE
oは、温度係数(a−β−6r)をもつことになる。
温度係数をα、トルクチューブ3のヤング率Eの温度係
数をβ、トルクチューブ3、管路1の線膨張係数をγと
すれば、出力Eoは、となり、出力EOの温度誤差ΔE
oは、温度係数(a−β−6r)をもつことになる。
そこで、測温体5により、検出部の温度を測定し、第2
図に示す如く、回路演算処理により温度補正を行えば、
更に精度の良好な装置を得ることができる。
図に示す如く、回路演算処理により温度補正を行えば、
更に精度の良好な装置を得ることができる。
而して、トルクチューブ3により測定流体より距離を離
してトルクが測定できるので、測定流体のン島度の影響
を比較前嚢けず、温度特性が良好で、高温の測定流体ま
で測定でき、測定流体が腐食性の高い流体であっても、
その影響を受けないものが得られる。
してトルクが測定できるので、測定流体のン島度の影響
を比較前嚢けず、温度特性が良好で、高温の測定流体ま
で測定でき、測定流体が腐食性の高い流体であっても、
その影響を受けないものが得られる。
この結果、7昌度特性が良好で、高温の測定流体まで測
定でき、耐腐食性の良好な質量流量計が得られる。
定でき、耐腐食性の良好な質量流量計が得られる。
なお、前述の実施例においては、トルク検出器としてス
トレインゲージ4を用いたものについて説明したが、こ
れに限ることはなく、たとえば、圧電素子でもよく、要
するにトルクを測定できるものであればよい。
トレインゲージ4を用いたものについて説明したが、こ
れに限ることはなく、たとえば、圧電素子でもよく、要
するにトルクを測定できるものであればよい。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明は、測定流体の流れる管路
と、該管路に直角に挿入されカルマン渦によるトルクを
受ける受力体と、該受力体と前記管路との間に設けられ
たトルクチューブと、該トルクチューブに設けられ前記
トルクを検出するトルク検出器とを具備してなる質量流
量計を構成したので、トルクチューブを利用して、測定
流体より距離が離れた位置でトルクが容易に測定できる
ので、測定流体の温度の影響を比較前嚢けず、温度特性
が良好で、高温の測定流体まで測定でき、測定流体が腐
食性の高い流体であっても、その影響を受けないものが
得られる。
と、該管路に直角に挿入されカルマン渦によるトルクを
受ける受力体と、該受力体と前記管路との間に設けられ
たトルクチューブと、該トルクチューブに設けられ前記
トルクを検出するトルク検出器とを具備してなる質量流
量計を構成したので、トルクチューブを利用して、測定
流体より距離が離れた位置でトルクが容易に測定できる
ので、測定流体の温度の影響を比較前嚢けず、温度特性
が良好で、高温の測定流体まで測定でき、測定流体が腐
食性の高い流体であっても、その影響を受けないものが
得られる。
したがって、本考案によれば、温度特性が良好で、高温
の測定流体まで測定でき、耐腐食性の良好な質量流量計
を実現することができる。
の測定流体まで測定でき、耐腐食性の良好な質量流量計
を実現することができる。
第1図(A) (B)は、本発明の一実施例の構成説明
図で、(4)は正面図、(B)は平面図、第2図は第1
図の電気回路のブロック図、第3図は管路に渦発生体が
配置された場合の揚力等の説明図、第4図は抗力係数の
説明図、第5図は従来より一般に使用されている従来例
の構成説明図、第6図は第5図の部品説明図である。 l・・・管路、2・・・受力体、3・・・トルクチュー
ブ、4・・・ストレインゲージ、5・・・測温体、6・
・・電気回路、61・・・歪検出回路、62・・・@
11Qi1幅器、63・・・整流検波回路、64・・・
フィルタ回路、65・・・第2増幅回路、66・・・シ
ュミット回路、67・・・F/Vコンバータ、68・・
・割算回路、71・・・湿度変換回路、72・・信昌度
補償回路。
図で、(4)は正面図、(B)は平面図、第2図は第1
図の電気回路のブロック図、第3図は管路に渦発生体が
配置された場合の揚力等の説明図、第4図は抗力係数の
説明図、第5図は従来より一般に使用されている従来例
の構成説明図、第6図は第5図の部品説明図である。 l・・・管路、2・・・受力体、3・・・トルクチュー
ブ、4・・・ストレインゲージ、5・・・測温体、6・
・・電気回路、61・・・歪検出回路、62・・・@
11Qi1幅器、63・・・整流検波回路、64・・・
フィルタ回路、65・・・第2増幅回路、66・・・シ
ュミット回路、67・・・F/Vコンバータ、68・・
・割算回路、71・・・湿度変換回路、72・・信昌度
補償回路。
Claims (1)
- 測定流体の流れる管路と、該管路に直角に挿入されカル
マン渦によるトルクを受ける受力体と、該受力体と前記
管路との間に設けられたトルクチューブと、該トルクチ
ューブに設けられ前記トルクを検出するトルク検出器と
を具備してなる質量流量計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12045086A JPH0612281B2 (ja) | 1986-05-26 | 1986-05-26 | 質量流量計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12045086A JPH0612281B2 (ja) | 1986-05-26 | 1986-05-26 | 質量流量計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62276413A true JPS62276413A (ja) | 1987-12-01 |
| JPH0612281B2 JPH0612281B2 (ja) | 1994-02-16 |
Family
ID=14786491
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12045086A Expired - Lifetime JPH0612281B2 (ja) | 1986-05-26 | 1986-05-26 | 質量流量計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0612281B2 (ja) |
-
1986
- 1986-05-26 JP JP12045086A patent/JPH0612281B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0612281B2 (ja) | 1994-02-16 |
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