JPS62276427A - 形状検出装置 - Google Patents

形状検出装置

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JPS62276427A
JPS62276427A JP11902986A JP11902986A JPS62276427A JP S62276427 A JPS62276427 A JP S62276427A JP 11902986 A JP11902986 A JP 11902986A JP 11902986 A JP11902986 A JP 11902986A JP S62276427 A JPS62276427 A JP S62276427A
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Japan
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measured
external force
signal
period
displacement
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JP11902986A
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Katsuya Ueki
勝也 植木
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は薄鋼板の如き帯状体の幅方向における張力分
布を知ることによりその形状(平坦度)を検出する形状
検出装置に関する。
〔従来の技術〕 一般に帯状体の冷間圧延に際し、その板厚精度と共に重
要なことは形状(平坦度ともいう)である。しかしなが
ら冷間圧延では圧延中高い張力をかけて圧延するので、
被圧延材即ち帯状体の弾性伸びの為にこの帯状体に例え
ば中伸び又は耳波等の平坦度不良が発生してもその変位
(凹凸)が減少または消失して検出できないのが普通で
ある。
従って、上記の如く高い張力を付加した状態では帯状体
の平坦度不良部を直接検出することはできないが、この
帯状体の幅方向の張力分布を知ることにより間接的に形
状を検出できることは特公昭53−17071号に示さ
れるようによく知られている。
すなわち、平坦度の良くない部分は張力が弱くなるから
、張力分布から形状を知ることができるのである。
第4図は、この種従来の形状検出装置の一例を示すブロ
ック図である。
1は被測定体即ち帯状体で、2は帯状体1に張力を印加
するための例えばデフレクタ−ロールの如き支持ロール
である。3は駆動信号発生器の1例としての矩形波発信
器、3aは増幅器である。
4は検出ヘッドで、帯状体1の幅方向に沿いかつ適宜の
係止手段により帯状体1の表面に適宜間隔をもって離隔
して設けられる。この検出ヘッド4は外力印加装置4a
と変位検出器4bで構成される。外力印加装置4aは、
帯状体1の幅方向に沿い断面コ字状の磁極Aに励磁コイ
ルBを設けた電磁石からなり、変位検出器4bは帯状体
1の幅方向に沿った基本部Cに複数個の変位測定用電極
りを帯状体1の表面に臨ませて設け、かつ外力印加装置
4aと一体的に設けられる。
なお、変位検出器4bは外力印加装置4aと別体に設け
てもよく、また外力印加装置は上記の如く電磁石に限る
ものではなく、例えば圧縮空気の如き非接触で力の印加
が可能なものであればよく、本願の目的を逸脱しない範
囲において任意の手段を採用することができるものであ
る。4Cは例えば静電容量−電圧変換器の如き変位変換
器である。
9は信号処理回路で、極性切替器5.積分回路6゜サン
プルホールド回路7および前記各装置5,6゜7に連設
せしめたタイミング発生回路8で構成され、タイミング
発生回路8は前記各装置5,6゜7および矩形波発信器
3にそれぞれ連設されている。信号処理回路9は表示装
置用制御装置10を介して、例えばCRTモニターの如
き表示装置11に連設される。また、信号処理回路9は
ロールクラウン制御回路12を介しロールクラウン調整
装置13へ連設することもできる。
次に動作について説明する。まず矩形波発信器3で周期
Tcの矩形波を駆動信号として発生せしめる。次いでこ
の駆動信号を増幅器3aにおいて、増幅し、この増幅信
号を外力印加装置4aを介して帯状体1の表面に外力と
して印加し、帯状体1に変位P (x−t)を発生させ
る。帯状体1の表面に発生した変位P (x−t)は、
変位検出器4bに設けた変位検出用電極りでこの変位を
静電容量として検出され、信号変換器即ち静電容量−電
圧変換器である変位変換器4Cで電圧信号に変換させら
れる。帯状体1の幅方向に沿って設けた複数個の変位検
出用電極りは、その対応する帯状体1の各部の変位をそ
れぞれ同様に検出し、これら検出値は電圧信号に変換さ
れたのち信号処理回路9に入力される。前記変位検出信
号は極性切替器5で極性切替されたのち、積分回路6に
入力され、この積分回路6で矩形波周期毎に積分される
。これにより、張力信号以外の雑音が除去され、被測定
体各部の張力にかかわる部分のみが算出されて、その積
分値はサンプルホールド回路7に入力され、サンプルホ
ールドされる。タイミング発生回路8は矩形波発信器3
からの参照信号に基いて、極性切替器5の極性切替タイ
ミング、積分回路6のリセットタイミング、およびサン
プルホールド回路7のサンプルホールドタイミング等の
各タイミングを制御する。サンプルホールド回路7の出
力は、表示装置用制御回路10を介して例えばCRTモ
ニターの如き表示装置11に表示され、オペレーターの
監視に供せられると共に、形状調整のためのデータとし
て用いられる。
また、被測定体即ち帯状体1の自動形状制御を行なう場
合は、サンプルホールド回路7の出力を表示系とは別に
自動制御系即ちロールクラウン制御回路12を介して、
ロールクラウン調整装置13に人力せしめることによっ
て目的を達することができる。
なお、上記説明において駆動信号として矩形波信号を用
いた場合について述べたが、とくに矩形波信号に限るも
のでな(、例えばM系列信号、ランダム信号あるいは正
弦波信号等の信号波形を用いることもでき、かつこれら
の信号波形を採用する場合は、信・号処理回路9におけ
る極性切替器5に代えて、乗算回路を設ければよい。
さらに、数式を用いて説明すると、第4図において X  :幅方向座標 r<L>:単位幅当りの駆動外力 P(x−t):xにおける変位 d(t):帯状体の不規則振動 T(x):xにおける単位幅当りの張力L  :ロール
間スパーン に、  :力の釣合いにおける係数 とし、帯状体幅(以下単に板幅という)ΔXの部分につ
いて力の釣合いを考慮すると、近似的に変位P (x−
t)は で表わされる。また、(1)式を変位検出信号と仮定し
てサンプルホールド回路7の出力C(χ・nTc)はで
表わされる。
Tc :矩形波の周期 n :矩形波のサイクル数 さらに単位幅当りの外力「(t)は振幅aの矩形波であ
って、 Tc と表わすことができる。
従って、aを電気量と仮定して、サンプルホールド回路
7からの出力値C(x−nTc)は上記(11,(21
および(3)式から となる。ここで(4)式の第2項は外乱の影響であるが
、矩形波用31JI T cが大きくなれば、帯状体1
の不規則振動d (t)の定常性より十分小さくなると
考えてよいから、上記(4)式は の如く表わされ、さらにこの(5)式から幅方向座標X
における単位幅当りの張力T (x)はとして表わすこ
とができ、張力が測定される。
次に上記(4)式の内容を実現している。第4図の回路
における各信号処理部の信号波形について第5図により
説明する。
第5図のfa)は矩形波信号発生器により発生される矩
形波信号を示し、上記nを正の整数とし、・・・。
m−2,・・・9m+1はnがとる各位である。
第5図の(b)は外力印加装置4aによる周期TcのO
N、OFFなる印加外力により帯状体1が変位する時の
変位信号の交流波形を示す。
第5図の(C)は、帯状体のもつ不規則振動による0点
の外乱信号成分であり、この振動による雑音信号が前述
の第5図の(b)の変位信号に重畳したものが第5図の
(d)の波形の信号であり、変位変換器4Cの出力を示
す0点の信号波形であり、これが図の+dlの入力信号
の極性を切換えると極性切替器6の出力である第5図の
(e)の波形の信号(■点信号)が得られる。これを積
分回路6により、nTcから(n+1)Tcの期間、積
分すると、その出力としての第5図の(f)の波形の信
号(◎点信号)が得られる。(n+1)Tcの時点でサ
ンプルホールド回路7により第5図の(f)の信号をサ
ンプルホールドするとサンプルホールド回路7の出力で
ある第5図の(g)の信号(◎点信号)が得られる。
上記(4)式並びに第5図の信号処理波形から明らかな
ように、形状検出装置の出力(沿は矩形波周期Tc毎に
得られる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来の形状検出装置は以上のように構成されているので
、出力応答が被測定体に外力を周期的に印加するための
矩形波周期Tcにより決定され、矩形波周期Tcを短か
くすることにより応答性を速くしなければならないが、
矩形波周期Tcを長くとることによる被測定体の不規則
振動による雑音を除去できる効果から、周期Tcの下限
も限定され、より応答性を速くすることが出来ない問題
点があり、さらに、上記(4)式の第1項と第2項の比
率はS/N比(信号対雑音比)として表わすことができ
、このSハ比の大小が検出精度に左右する主要な要素の
1つとなっており、又、一般的に被測定体の不規則振動
d(t)は、被測定体に印加された張力の大きさによっ
て、その振幅及び周波数が規定されると考えられる。従
って、被測定体に付加される張力値によって、信号処理
回路の出力のS/N比は変化することになり、被測定体
に印加される張力値によって、S/N比が左右され、不
規則振動による外乱量が変わっても、それに応じた検出
精度を確保することができない問題点があり、さらに、
出力信号は上記(5)式で表わされるように、被測定体
の張力分布T (x)に反比例し、印加外力による振幅
aに比例するため、被測定体のもつ平坦度が同じであっ
ても被測定体に印加される張力及び外力により、出力が
変化するので帯状体の平坦度を管理しようとする目的の
場合において、きわめて不都合となり、被測定体の平坦
度を管理しようとする目的に対しては、同一の平坦度で
も異った出力となるなどの問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消する為になされた
もので、周期波の周期毎で1周期より短かい期間毎に被
測定体の不規則振動による雑音を除去した出力が得られ
るので高応答性にでき、被測定体の不規則振動による雑
音レベルを測定し、それに比べ十分高い被測定体の変位
信号を確保できるように印加外力を制御することにより
、精度を高くすることができるとともに形状検出用の出
力を被測定体の伸び率に変換し、張力や印加外力が変化
しても、被測定体の平坦度が同一なら同じ伸び率を得る
ことのできる形状検出装置を得ることを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明に係る形状検出装置は、外力印加手段による被
測定体に対する周期的な外力印加に伴なう被測定体の幅
方向に沿ったN箇所の変位を変位検出手段により検出し
てN箇の変位検出信号を発生し、被測定体に外力を印加
する第1の期間毎および被測定体に外力を印加しない第
2の期間毎に第1の積分処理手段により各変位検出信号
の絶対値の各第1積分量を出し、第2の積分処理手段に
より第1および第2の期間の少なくとも一方の期間毎に
各変位検出信号内の雑音成分の各第2積分量を出し、印
加外力演算手段により第1および第2積分量から演算し
て出したS/N比に基づき所望のS/N比を得るための
印加外力を演算し、駆動信号発生手段によりこの演算結
果に応じた駆動信号を発生して外力印加手段を駆動し、
差分手段により各相対応する第1および第2積分量同士
の差をとって得たN箇の差分信号と予め設定された演算
式とに基づき被測定体の変位検出箇所における被測定体
の平坦度を表わす伸び率を形状信号の値として伸び率演
算手段により演算し、タイミング発生手段により駆動信
号の参照信号に基づき第1および第2の積分処理手段お
よび差分手段の動作上におけるタイミングを制御するよ
うにしたものである。
〔作用〕
この発明による形状検出装置は、第1の積分処理手段に
より出した第1積分量には周期的な外力印加により発生
した変位信号成分による積分量と被測定体の不規則振動
による雑音成分の積分量とが含まれており、第2の積分
処理手段により雑音成分の第2積分量を出し、印加外力
演算手段により出した第1および第2の積分量の比を近
似的に真のS/N比に等しいものとして出したS/N比
に基づき所望のS/N比を得る外力を演算し、この演算
結果に応じた外力を駆動信号発生手段を介して外力印加
手段により被測定体に印加せしめ、所望のS/N比で得
た各相対応する第1および第2積分量同士の差から得ら
れるN箇の差信号を差分手段により1周期当り2回毎出
し、伸び率演算手段によりこれらN箇の差信号と予め設
定された演算式とに基づき被測定体の変位検出箇所にお
ける被測定体の平坦度を示す伸び率を所定期間毎に演算
して出力する。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第1図において、第3図と同符号のものは従来例と同一
であり、21は変位変換器4Cの変位検出信号を入力し
て帯状体1の不規則振動による雑音成分(外乱信号)の
みを通過させるバイパスフィルタである。22は積分回
路6と同構成であり、バイパスフィルタ21の後段の積
分回路、23はサンプルホールド回路7と同構成であり
、積分回路22の後段のサンプルホールド回路、24は
サンプルホールド回路7,23に保持された積分回路6
,22の両積分結果の差分を演算する差分器である。ま
た、25はサンプルホールド回路7と同構成で、差分器
24によりとられた差分値をホールドするサンプルホー
ルド回路、26はタイミング発生回路であり、後述の矩
形波発生器28からの参照信号に基づき極性切替器5.
積分回路6゜22、サンプルホールド回路7,23.2
5および差分器24の各動作上におけるタイミングをと
るためのタイミング信号を発生する。さらに、27は、
両サンプルホールド回路7.23の百出力を入力してS
/N比を演算し、外乱信号の量に応じて必要とされる印
加外力を演算するための印加外力演算器、28は駆動信
号発生器の1例としての矩形波発生器であり、印加外力
演算器27の演算結果に応じて矩形波信号例えばそのレ
ベルを変化させて増幅器3aに発生する。29は、伸び
率演算において、サンプルホールド回路25から差分値
を人力して変位の平均値を演算する変位平均値演算器、
30は変位平均値演算器29から入力した変位の平均値
から予め設定された演算式に従って伸び率を演算する伸
び率演算器である。31は符号5〜7及び21〜27で
示される構成要素からなる信号処理回路、32は符号2
9.30で示される構成要素から構成される伸び率信号
処理回路である。符号4C95〜7,21〜25の2重
括弧の各部分は各複数筒(例えば各N箇)から構成され
、例えばヘッド4内にある変位検出用電極Dや変位検出
器4bの各数分(例えば各N箇)あるとするとそれらに
対応して連設されている。
第2図は第1図に示した装置の各部信号波形を示す図で
あり、縦軸に電圧値をとっており、第2図の(a)〜(
elは第5図の(a)〜(e)と同じである。
第3図は横軸に帯状体1の幅をとり、縦軸に帯状体1の
単位当りの張力T (x)をとった場合の伸び率β(x
)との関係を示した線図である。
次に、この実施例の動作について説明する。第nは正の
整数で、m−2,・・・、m+l、・・・の値をとる)
の期間、振幅aの矩形波として、帯状体1に加えられる
。この外力f(t)により、帯状体1は変位し、上記(
11式の第1項で示す変位量が生じる。
一方、帯状体1には、第2図の(C1の如き外乱信号の
もとになる不規則振動が生じており、当然印加外力f 
(t)による帯状体1の変位量にこの不規則振動d(1
)が重畳されることになり、この雑音成分は上記(1)
式の第2項として表現されている。
上記(11式で示される帯状体1の変位量P (x−t
)を変位検出器4bを介して変位変換器4Cで電気信号
に変換した第2図の(dlに示す変位検出信号はの時点
でサンプルホールド回路7にてサンプル水(n+1)T
cの期間にかけて、帯状体1が変位すがタイミング発生
回路26からのタイミング信号により動作させられて、
第1図の変位変換器4Cの出力側の0点における変位検
出信号の極性を反る。
極性切替器5により反転した変位検出信号の波形は、極
性切替器5の出力側である0点において第2図の(e)
で示される。又、積分回路6により、積分される値は第
2図のff)で示される。(n+1)Tc0時点で積分
回路6の出力はサンプルホールド回路7によりサンプル
ホールドされる。
以上の動作をくり返すと、積分回路6の出力側である0
点の信号は、第2図の(f)に示すように、Tc/2.
毎に、上記(1)式の変位量P(x・t)の積分値が得
られ、サンプルホールド回路7には、Tc/2毎に、S
t、S2.S3・・・の変位量P (x−t)の積分値
がサンプルホールドされる。
他方、帯状体1の不規則振動による0点の外乱信号成分
は第2図の(C)で示されるように矩形波周期T。より
十分高い周波数であり、且つnTcからTc nTc +□における不規則振動による外乱信号おける
不規則振動による外乱信号の量が、はゾ近似的に等しい
場合について説明する。
第2図の(C)に示す帯状体1の不規則振動による外乱
信号成分は、矩形波周期Tcより、十分高い周波数帯域
のみを通過させるバイパスフィルタ21に入力されて抽
出される。バイパスフィルタ21の出力は積分回路22
により積分され、第2図の(C1の不規則振動による外
乱信号のみが積分される。
+1)Tc迄の期間にわたって行われ、積分回路22の
出力側である0点の信号は第2図の(glのようになる
そして、積分された不規則振動による外乱信号は(n+
 1)Tc0時点でサンプルホールド回路23によりサ
ンプルホールドされ、第2図の(g)に示す如く、NO
,N2.N4の不規則振動による外乱信号の積分値が例
えば(m−2) Tc、  (m−1) Tc。
mTc+ (m +1 ) Tcの時点のタイミングで
得ることができる。
すでに得られた変位量の積分値であるサンプルホールド
値SL、S2.S3・・・と不規則振動による外乱信号
の積分値であるサンプルホールド値NO,N2.N4・
・・との各差分が差分器24で積分値S5に対しては、
(m−1)Tc+□からmTcの期間の不規則振動によ
る外乱信号の積分変位量の積分値S6に対しては、同じ
期間の不規則振動による外乱信号の積分値N6との差分
が差分器24により求められる。第2図の(f)、 (
叱(hlは以上の差分演算の波形を示して、差分器24
で求められた差分信号は、Tc/2毎にサンプルホール
ド回路25によりサンプルホールドされ、サンプルホー
ルド回路25の出力側である[F]点の信号波形は第2
図の(h)のC1,C2,C3・・・として示される。
なお、タイミング発生回路26は矩形波発信器28から
の参照信号に基づいて、極性切替器5の極性切替タイミ
ング、積分回路6.22のリセットタイミングおよびサ
ンプルホールド回路7,23゜25のサンプルホールド
タイミング等の各タイミングを制御する。
上記(5)式で表わされる出力は第1図の[F]点に−
Tcサイクル毎に得られることは上述した通りである。
すなわち上記(5)式は、下記(7)式として表現され
る。
る係数 今、帯状体1の形状不良度(平坦度)を表わすのに、伸
び率β(x)を考える。この伸び率β(x)は、形状不
良部の伸び量を形状不良の平均部位の帯状体1の長さに
対する比率として表わしたものと定義される。形状不良
部の張力分布T (x)と平均張力下との間には下記(
8)式の関係が成立し、第3図はそれを図示したもので
ある。Eを帯状体1の弾性係数として、 T(x)−〒±β(x)・E ・・・・・・・・・・・
・・・・ (8)これよりβ(x)を求めると下記(9
)式となる。
±β(x) = (〒−T(x))・−・・・・・・ 
(9)−a 上記(7)式よりT(x) =□ 2・Kz・C(x HTc) であり、同様に平均張力下は下記Cl01式で得られる
2・Kz・C(x ・−Tc) ここで、では、平均張力下に対応する帯状体1の変位量
に相当し、帯状体1の幅方向に適宜間隔をもって配置さ
れた複数筒(N箇)の変位測定用電極り及びN箇の変位
検出器4bによって検出されるN箇の変位信号から得ら
れるN箇のサンプルホールド回路25の出力の平均値を
変位平均値演算器29が演算することにより求めること
ができる。
T (x)及び下を上記(9)式に代入して下記00式
を求める。
以上の式から明らかなように帯状体1の伸び率β(x)
は上記α0式により求めることができる。
従って、変位平均値演算器29によって求められた変位
平均値てを入力した伸び率演算器30は上記α9式の演
算を実行することにより、伸び率β(x)の出力を得る
ことができる。なお、L、a。
Eは伸び率演算器に予め設定された値であり、変位測定
用電極りの内でXの位置にある電極により検出され、サ
ンプルホールド回路25変位平均値演算器29を介して
そのまま与えられる差分信号C(x)及び平均差分信号
τを用いて上記09式を演算することが可能となる。伸
び率演算器3oにより演算された伸び率β(x)は表示
装置用制御回路10を介して表示装置11に表示され、
オペレーターの監視に供せられると共に、形状調整のた
めのデータとして用いられる。また、帯状体1の自動制
御を行う場合は、伸び率β(χ)は、ロールクラウン制
御回路12を介してロールクラウン調整装置13に入力
せしめられて目的が達成される。
また、もう一方、第11図■点における変位検出信号は
上記(1)式を参照すると外力f(t)を太き(するこ
とにより、第1項は大きくなり、S/N比も大きくとれ
る。したがって、帯状体1の不規則振動d(t)が大き
ければ第2図の(C)の外乱信号も大きくなって第2図
の(aの積分値も太き(なるので、外力r(t)を大き
くして第2図の(b)のレベルを大きくし、第2図の(
f)の積分値を大きくして必要なS/N比を確保するこ
とができる。
不規則振動による外乱信号の積分値をホールドした値は
サンプルホールド回路23から出力されており、この積
分値と変位量の積分値出力であるサンプルホールド回路
7の出力との比はS/N比を近似しており、この2つの
信号を両サンプルホールド回路7.23から入力した印
加外力演算器27はここで、再入力信号の比を演算して
現在のS/N比を出して必要なSハ比を確保するに必要
な外力f(t)を算出し、矩形波発生器28に指示する
矩形波発生器28はこの指示を受けて矩形波信号例えば
そのレベルを変化させ、増幅器3aおよび外力印加装置
4aを介して帯状体1に所要の外力f(t)を加える。
なお、外力印加装置4aについての演算は具体的には変
位量から現在の外力を近似的に演算でき、演算したS/
N比と予め設定された所望のS/N比をも用いて関数計
算により演算可能であり、あるいは周知の補間公式等を
用いても簡単に演算可能である。
帯状体1の不規則振動は、比較的長い期間において、定
常性を有し、又、帯状体1にかかっている張力T(xχ
も急激に変動するものではないことから、外力f(t)
の演算周期は、矩形波周期Tc毎の必要はな(、Tcよ
り長いM−Tcごとに外力印加装置4aは外力f(t)
の演算をすればよい。
ここで、Mは帯状体1の不規則振動及び張力の状態に応
じて設定されればよい。
なお、上記実施例では外力f (t)がOの期間につい
てのみ、帯状体1の不規則振動による外乱信号を積分し
たが、外力f (t)によりaの振幅を出力して帯状体
1を変位させている期間についても同様にして不規則振
動による外乱信号を積分し、同一期間における、変位量
と不規則振動の積分値の差分を求めてもよい。
また、印加外力演算器27、駆動信号発生器28゜増幅
器3aおよび外力印加装置4aの電磁石を複数筒(例え
ばN箇)設けてもよいことは勿論である。
〔発明の効果〕
以上のように、この発明によれば被測定体の変位を外力
を印加する第1の期間と印加しない第2の期間毎に極性
を切替えて、積分して保持することにより変位量を得、
又、第1及び第2の期間の少なくとも一方の期間毎に被
測定体の不規則振動による外乱信号を通過させ、積分し
て保持することにより雑音量を得、当該変位量と雑音量
の差分を演算せしめることで、第1及び第2の期間毎に
被測定体の不規則振動雑音を除去した被測定体の変位信
号が得られ、さらに、当該変位量と雑音量からS/N比
を演算することにより、常に、期待されるS/N比を確
保すべき、外力f (t)を指示して外力f (t)の
調整をし、当該変位量と雑音量との差分である差分値の
平均値と差分値と設定値を用いて伸び率の演算を行うよ
うに構成したので、被測定体の形状を第1の期間と第2
の期間毎に周期的に得ることができ応答速度の速い形状
検出ができ、また外力の調整により高精度の形状検出が
でき、さらに被測定体の伸び率を得て、被測定体の形状
を物理的な形状不良度として定量的に把握できるものが
得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による形状検出装置を示す
ブロック図、第2図は第1図の装置の各部の信号処理の
信号波形図、第3図は張力分布と伸び率の関係を示す張
力分布図、第4図は従来の形状検出装置を示すブロック
図、第5図は従来装置の信号処理の信号波形図である。 図において、1は帯状体、4aは外力印加装置、4bは
変位検出器、4Cは変位変換器、5は極性切替器、6.
22は積分回路、?、23.25はサンプルホールド回
路、21はバイパスフィルタ、24は差分器、26はタ
イミング発生回路、27は印加外力演算器、28は駆動
信号発生器、29は変位平均値演算器、30は伸び率演
算器。 尚、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 特許出願人  三菱電機株式会社 第2図 第5図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)1周期が第1の期間と第2の期間とから成る駆動
    信号を入力し、被測定体面の幅方向と交叉する方向に張
    力を印加された被測定体に前記幅方向に沿って前記第1
    の期間毎に外力を印加する外力印加手段と、前記外力印
    加に伴なう前記被測定体の幅方向に沿ったN箇所の変位
    を検出してN箇の変位検出信号を発生する変位検出手段
    とを有し、前記変位検出信号に基づき被測定体の形状を
    示す形状信号を出力する形状検出装置において、前記第
    1の期間毎および前記被測定体に前記外力を印加しない
    前記第2の期間毎に前記各変位検出信号の絶対値の各第
    1積分量を出す第1の積分処理手段と、前記第1および
    第2の期間の少なくとも一方の期間毎に前記各変位検出
    信号に各々含まれる前記被測定体の不規則振動による各
    雑音成分の各第2積分量を出す第2の積分処理手段と、
    前記第1および第2積分量からS/N比を演算し、この
    S/N比に基づき所望のS/N比を得るために前記外力
    印加手段が発生すべき外力を演算する印加外力演算手段
    と、この印加外力演算手段の演算結果に応じた前記駆動
    信号を発生する駆動信号発生手段と、前記各相対応する
    第1および第2積分量同士の差をとってN箇の差分信号
    を得る差分手段と、所定期間毎に前記N箇の差分信号と
    予め設定された演算式とに基づき前記被測定体の変位検
    出箇所における前記被測定体の平坦度を表わす伸び率を
    前記形状信号の値として演算する伸び率演算手段と、前
    記駆動信号の参照信号に基づき前記第1および第2の積
    分処理手段および前記差分手段の動作上におけるタイミ
    ングを制御するタイミング発生手段とを備えたことを特
    徴とする形状検出装置。
  2. (2)前記N箇の差分信号をC(x_1)、C(x_2
    )、・・・、C(x_N)とし、前記被測定体の幅方向
    の位置座標をxとし、前記x座標のxの位置における前
    記N箇の差分信号の内で対応する差分信号をC(x)と
    し、前記被測定体に前記張力を印加しているスパーンに
    対応する値をLとし、前記被測定体に印加される単位幅
    当りの外力に対応する前記被測定体の振幅に対応する値
    をaとし、力の釣合いに対する係数に対応する値をKと
    し、前記被測定体の弾性係数に対応する値をEとし、前
    記伸び率をβ(x)とすると、前記演算式は、 β(x)=(L・a)/(2・K・E)(1/@C@−
    1/[C(x)])但し、@C@=1/N〔C(x_1
    )+C(x_2)+・・・・・・+C(x_N)で与え
    られることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の形
    状検出装置。
JP11902986A 1986-05-26 1986-05-26 形状検出装置 Pending JPS62276427A (ja)

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