JPS62276471A - Apparatus for detecting inferior part - Google Patents

Apparatus for detecting inferior part

Info

Publication number
JPS62276471A
JPS62276471A JP61120408A JP12040886A JPS62276471A JP S62276471 A JPS62276471 A JP S62276471A JP 61120408 A JP61120408 A JP 61120408A JP 12040886 A JP12040886 A JP 12040886A JP S62276471 A JPS62276471 A JP S62276471A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
circuit
interlock
pilot lamp
power terminal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP61120408A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0575273B2 (en
Inventor
Hiroshi Eianji
永安寺 宏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Aida Engineering Ltd
Original Assignee
Aida Engineering Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Aida Engineering Ltd filed Critical Aida Engineering Ltd
Priority to JP61120408A priority Critical patent/JPS62276471A/en
Publication of JPS62276471A publication Critical patent/JPS62276471A/en
Publication of JPH0575273B2 publication Critical patent/JPH0575273B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

PURPOSE:To prevent the destruction of a detector due to an erroneous operation, by successively contacting a check pin with an interlock contact subjected to AND connection and making it possible to confirm the operation of an interlock circuit by a pilot lamp. CONSTITUTION:An R-phase connection terminal 2 is connected to the R-phase of the control circuit of a machine tool and a T-phase connection terminal 3 to the T-phase of an interlock contact to be checked. If the interlock contact is in a continuity state, a current flows to a parallel circuit consisting of a resistor, a pilot lamp 6 and a Zener diode 12 by the AC flowing to a route consisting of the check pin 4, a contact 7a, a contact 5a, a resistor 8, a rectifying circuit 10 and the terminal 3 to allow the pilot lamp 6 to light. At this time, even if a resistor for 100V is selected when a power source is 200V by the setting error of a change-over switch, the lamp 6 is protected by the Zener diode 12.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

3、発明の詳細な説明 3. Detailed description of the invention

【産業上の利用分野] 本発明は、産業機械の制御回路においてどのインタロック接点が作動したかを検出する不良箇所検出装置に関する。 【従来の技術】[Industrial application field] The present invention relates to a defect detection device for detecting which interlock contact is activated in a control circuit of an industrial machine. [Conventional technology]

周知の通りプレス機械等の産業機械は、その制御回路の
母線間にインクロ、り接点が運転回路と直列に配置され
ており、運転中に異常が発生すると異常箇所に対応して
インタロック接点が遮断され、運転回路に対する電源を
遮断して非常停止する様になされている。 運転中にインタロック接点の作動により非常停止した場
合には、運転再開に先立ってどのインタロック接点が遮
断されたかを追求し、異常発生箇所を修復することが要
求される。 この様な目的のための不良箇所検出装置としては一般的
にテスタが使用されており、接点毎の導通状態を調べる
ことにより、インタロック接点の作動箇所を追求してい
た。
As is well known, in industrial machines such as press machines, interlock contacts are placed between the busbars of the control circuit in series with the operating circuit, and if an abnormality occurs during operation, an interlock contact is activated in response to the abnormal location. It is designed to cut off the power to the operating circuit and perform an emergency stop. If an emergency stop occurs due to activation of an interlock contact during operation, it is necessary to determine which interlock contact was cut off and repair the abnormality before restarting operation. A tester is generally used as a defect detection device for such a purpose, and by checking the conduction state of each contact, the operating location of the interlock contact can be determined.

【発明が解決しようとする問題点】[Problems to be solved by the invention]

しかしながら、テスタは抵抗レンジ・電圧レンジ・電流
レンジ等を任意に切り換えて使用することができる汎用
的な検査装置であるので、その取り扱いに際してはこの
レンジ切り換えに細心の注意を払わねばならず、不用意
な操作によってレンジ切り換えを誤ると装置が破壊され
る危険性がある。
However, since the tester is a general-purpose inspection device that can be used by arbitrarily switching between resistance ranges, voltage ranges, current ranges, etc., when handling the tester, extreme care must be taken when switching the ranges. There is a risk that the device will be destroyed if the range is changed incorrectly due to careless operation.

【問題点を解決するための手段】[Means to solve the problem]

本発明はこの(袈な問題点に濫みてなされたものであり
、取り扱いミスが少なく、誰にでも容易に不良箇所を検
出することができる新規な不良箇所検出装置を提供する
ことを目的とする。 要約すれば、本発明の不良検出装置は、被検出装置の制
御母線の一方のラインに接続される第1の電源端子3と
:前記被検出装置の制御母線の他方のラインに接続され
る第2の@、電源端子と:前記第2の電源端子2とオア
論理を構成して接続され、前記被検出装置の前記制御母
線間にその運転回路とともにアンド接続された複数のイ
ンタロック接点の前記一方のライン側に随時接続される
チェックピン4と:前記第2の電源端子2と前記チェッ
クピン4のいずれか一方を選択する手動操作接点7と:
第2の電源端子2又は前記チェックピン4と前記第1の
電源端子3との間に制御Tfl流が流れることにより点
灯する表示灯6と:前記手動操作接点から前記第1の電
源端子に至る回路中に設けられ、上記回路中の抵抗値を
変化させる抵抗調整機構とを有しており:前記チェック
ピン4を前記インタロック接点の何れかに接続させた時
の前記パイロットランプの点灯状態によって当該インタ
ロック接点が作動したか否かをチェックすることができ
る様になされている。
The present invention has been made in view of this serious problem, and aims to provide a novel defect detection device that is less prone to handling errors and allows anyone to easily detect defective locations. In summary, the defect detection device of the present invention comprises: a first power supply terminal 3 connected to one line of the control bus of the device to be detected; and a first power terminal 3 connected to the other line of the control bus of the device to be detected. 2nd@, power supply terminal: a plurality of interlock contacts connected to the second power supply terminal 2 to form an OR logic, and connected together with the operating circuit between the control bus of the detected device; A check pin 4 connected to the one line side at any time: A manual operation contact 7 for selecting either the second power terminal 2 or the check pin 4:
an indicator light 6 that lights up when a control Tfl flow flows between the second power supply terminal 2 or the check pin 4 and the first power supply terminal 3; and: from the manual operation contact to the first power supply terminal. It has a resistance adjustment mechanism that is provided in the circuit and changes the resistance value in the circuit: depending on the lighting state of the pilot lamp when the check pin 4 is connected to any of the interlock contacts. It is possible to check whether or not the interlock contact has operated.

【作用] 即ち、本発明の不良箇所検出装置は、基本的には第2の
電源端子及びチェックピンの並列回路を第1の電源5f
I子とパイロットランプと抵抗値調整回路と直列接続し
ただけの回路であるので、前記抵抗値調整回路を調整し
て回路抵抗を調整するのみで、制御回路の電源電圧の変
化に対応することができる。 又、前記第1の電rA瑞子及び第2の電源端子を被検出
装置の制御母線に各々接続し、前記第2の電a端子及び
チェックピンの内の第2の電源端子を有効にすればパイ
ロットランプが点灯し、パイロットランプ自体のチェッ
クができる。 又、前記第1の電源端子を被検出装置の一方の制御母線
に接続するとともに、前記第2の電源端子及びチェック
ピンの内のチェックピンを有効にし、前記チェックピン
を被検出装置のインタロック接点の前記一方のライン側
に接続すれば、パイロットランプが点灯するか否かによ
って当該インタロック接点が作動したか否かを検出する
ことができる。 【実施例】 以下図面を参照して本発明の1実施例を詳細に説明する
。 第1図は本発明の不良箇所検出装置の外観例を示す平面
図であり、1体1からはR相接続端子2)、T相接続端
子3、チェックピン4が各々リード線により導出されて
いる。 そして、R相接続端子2はプレス装置その他の工作a械
の制御回路のR相うインに、同様にT 、を口接続端子
3は上記工作機械の制御卸回路のT相うインに、チェッ
クピン4は前記制御回路中の導通チェックの対象となる
インタロック接点のT相うイン側と各々接続されるもの
である。 又、筐体1の表面には200V・100vのレンジを切
り換えるための切り換えスイッチ5、チェ、りの対象と
なるインタロック接点の導通状態を点灯表示するパイロ
ットランプ6、パイロノトランプ6自体の点灯状態をテ
ストするテストボタン7が各々適宜配置される。尚、こ
れら部材の筺体1上における配置箇所は本発明にとって
は重要な問題ではない。 次に、第2図は本発明の不良箇所検出装置の具体的な回
路例を示す回路図であり、第2図において2・3・4・
5・6・7は第1図において既に説明した、R相接続端
子2・T相接続端子3・チェックビン4・切り換えスイ
ッチ5・パイロットランプ6・テストボタン7を各々示
している。 又、第2図において8は被検出装置の制御電圧が200
■の時に選択される抵抗、9は被検出装置の制御電圧が
100Vの時に選択される抵抗を各々示しており、抵抗
8と切り喚えスイッチ5の接点5aの直列回路及び抵抗
9と切り換えスイ・ノチ5の接点5bの直列回路は並列
に接続され、切り換えスイッチ5の接点5aをメータす
ることにより200V用の抵抗8が、又、切り換えスイ
ッチ5の接点5bをメータすることにより100v用の
抵抗9が各々有効に選択される様になされている。 又、テストボタン7はB接点7aとA接点7bを有して
おり、B tI点7aはチェックビン4と接続され、A
接点7bはR相接続端子2と接続されている。 更に、第2図において10はダイオードブリッジを使用
した整流回路、11は分流用の抵抗、12は定電圧用の
ツェナーダイオードを各々示しており、パイロットラン
プ6に対して順方向電圧が印加されているか否かによっ
て目的となるインタロック接点の作動状況を調べること
ができる様になされている。 次に上記事項及び第3図を参照して本実施例の動作を説
明する。 尚、第3図は本発明の不良箇所検出装置によりインタロ
ック接点の作動箇所の検出がなされる工作機械の制御回
路中から本発明に直接関連する箇所を抽出して示した回
路図であり、■1〜■、はインタロック接点、PBIは
運転ボタン、PH1は停止ボタン、OLはオーバーロー
ドリレー、21は運転ボタンFBIのメータにより励磁
されるリレーコイル、22はリレーコイル21を自己保
持するA接点を各々示し、リレーコイル21が励磁され
ることにより運転がなされる様になされている。 先ず、第3図に示す工作機械の制御回路は、正常状態に
おいてはインタロック接点11〜!、が全でメークして
いる。従って、運転ボタンFBIが押されることにより
リレーコイル21が励磁され、A接点22によって自己
保持されて、運転が開始される。 そして、停止ボタンP132が押されるか、又は、何れ
かのインタロック接点■1〜■、がブレークすると、リ
レーコイル21がブレークされて運転が停止する。 第1図・第2図に示す本実施例の不良箇所検出装置は、
T相接続端子3が制御回路のT相うインに、R相接続端
子2が制御回路のR相うインに、チェックビン4が各イ
ンタロック接点■、〜I。 の相互接続点の何れかに接続されて使用される。 又、被検出装置の制御回路用電源が、200Vの場合は
切り換えスイッチ5の接点5aがメークされて200V
用の抵抗8が選択され、100Vの場合は切り換えスイ
ッチ5の接点5bがメータされて100V用の抵抗9が
選択される。 本実施例の不良箇所検出装置は、(1)パイロットラン
プ6自体の導通チェノ、(2)各インタロック接点の導
通チェック、の2種類の動作モードを有する。 先ず、(1+のパイロットランプ6自体の導通チェノを
行う場合には、T相接続端子3及びR相接続端子2を第
3図に示す制?ff11回路のT[目う・Cン及びR相
うインに各々接続した後りこ、テストボタン7を押して
接点7bをメークさせる。 従って、R相接続端子2−接点7b−接点5a(又は接
点5b)−抵抗8 (又は抵抗9)−整流回路10−T
相接続端子3の経路に流れる交流によって整流回路10
から抵抗1トパイロノトランプ6・ツェナーダイオード
12の並列回路に電流が流れる。従って、パイロットラ
ンプ6が正常であればパイロットランプ6は点灯し、パ
イロ。 トランプ6が点灯しない時にはバイロフトランプ6の異
常を検出することができる。 次に、(2)の各インタロック接点の導通チェックを行
う場合に関して説明する。 尚、以下の説明は、第3図の制御回路の運転中にインタ
ロフタ接点I4が作動し、インタロック接点I4がブレ
ークしたままになったものと仮定している。 インタロック接点のRiI!lチェックを行う場合には
、チェックビン4を目的となるインタロック接点のT相
うイン側に接触させる。 先ず、インタロック接点I、のT相うイン側にチェック
ビン4を接読すると、正常なインタロック接点11 は
メークしているのでチェックビン4はR相うインと導通
ずる。 従って、チェックビン4−接点7a−接点5a(又は接
点5b)−抵抗日(又は抵抗9)−整流回路10−T相
接続端子3の経路に流れる交流によって整流回路10か
ら抵抗1トパイロフトランプ6・ツェナーダイオード1
2の並列回路に電流が流れ、パイロットランプ6が点灯
する。 インタロック接点
[Function] That is, the defect detection device of the present invention basically connects the parallel circuit of the second power supply terminal and the check pin to the first power supply 5f.
Since the circuit is simply connected in series with the I element, the pilot lamp, and the resistance value adjustment circuit, it is possible to respond to changes in the power supply voltage of the control circuit by simply adjusting the resistance value adjustment circuit and adjusting the circuit resistance. can. Further, if the first power terminal A and the second power terminal are respectively connected to the control bus of the detected device, and the second power terminal A and the second power terminal of the check pins are enabled. The pilot lamp lights up and you can check the pilot lamp itself. Further, the first power terminal is connected to one control bus of the detected device, the second power terminal and the check pin of the check pins are enabled, and the check pin is connected to the interlock of the detected device. By connecting the contact to the one line side, it is possible to detect whether or not the interlock contact has operated based on whether the pilot lamp lights up or not. [Embodiment] An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. FIG. 1 is a plan view showing an example of the external appearance of the defect detection device of the present invention, in which an R-phase connection terminal 2), a T-phase connection terminal 3, and a check pin 4 are each led out from a unit 1 by lead wires. There is. Then, the R-phase connection terminal 2 is connected to the R-in of the control circuit of the press machine and other machine tools, and the connection terminal 3 is connected to the T-in of the control circuit of the machine tool. The pins 4 are connected to the opposite inner sides of the interlock contacts to be checked for continuity in the control circuit. In addition, on the surface of the housing 1, there is a changeover switch 5 for switching between 200V and 100V ranges, a pilot lamp 6 that lights up to indicate the continuity state of the interlock contact that is subject to checking, and a lighting lamp 6 itself. Test buttons 7 for testing the status are arranged as appropriate. Note that the location of these members on the housing 1 is not an important issue for the present invention. Next, FIG. 2 is a circuit diagram showing a specific circuit example of the defect detection device of the present invention.
Reference numerals 5, 6, and 7 indicate the R-phase connection terminal 2, T-phase connection terminal 3, check bin 4, selector switch 5, pilot lamp 6, and test button 7, respectively, which have already been explained in FIG. In addition, in FIG. 2, 8 indicates that the control voltage of the detected device is 200.
A resistor 9 is selected when the control voltage of the detected device is 100V, and a series circuit of the resistor 8 and the contact 5a of the switching switch 5 and a series circuit between the resistor 9 and the switching switch 5 are shown. - The series circuit of the contact 5b of the notch 5 is connected in parallel, and by metering the contact 5a of the changeover switch 5, a resistor 8 for 200V is established, and by metering the contact 5b of the changeover switch 5, a resistor 8 for 100V is established. 9 are each effectively selected. Further, the test button 7 has a B contact 7a and an A contact 7b, the B tI point 7a is connected to the check bin 4, and the A
Contact 7b is connected to R-phase connection terminal 2. Furthermore, in FIG. 2, 10 is a rectifier circuit using a diode bridge, 11 is a shunt resistor, and 12 is a Zener diode for constant voltage, and a forward voltage is applied to the pilot lamp 6. The operating status of the target interlock contact can be checked depending on whether the interlock contact is present or not. Next, the operation of this embodiment will be explained with reference to the above matters and FIG. 3. Incidentally, FIG. 3 is a circuit diagram showing the parts directly related to the present invention extracted from the control circuit of the machine tool in which the operating part of the interlock contact is detected by the defective part detection device of the present invention. ■1 to ■ are interlock contacts, PBI is a run button, PH1 is a stop button, OL is an overload relay, 21 is a relay coil excited by the meter of the run button FBI, and 22 is A that self-holds the relay coil 21. Each contact point is shown, and operation is performed by energizing the relay coil 21. First, in the control circuit of the machine tool shown in FIG. 3, in a normal state, the interlock contacts 11~! , is all made up. Therefore, when the operation button FBI is pressed, the relay coil 21 is excited, self-held by the A contact 22, and operation is started. Then, when the stop button P132 is pressed or any of the interlock contacts (1 to 2) breaks, the relay coil 21 is broken and the operation is stopped. The defect detection device of this embodiment shown in Figs. 1 and 2 is as follows:
The T-phase connection terminal 3 is connected to the T-in of the control circuit, the R-phase connection terminal 2 is connected to the R-in of the control circuit, and the check pin 4 is connected to each interlock contact point (1), ~I. It is used by being connected to any of the interconnection points. In addition, if the power supply for the control circuit of the detected device is 200V, the contact 5a of the changeover switch 5 is made and the voltage is 200V.
In the case of 100V, the contact 5b of the changeover switch 5 is metered and the resistor 9 for 100V is selected. The defect detection device of this embodiment has two operating modes: (1) checking the continuity of the pilot lamp 6 itself, and (2) checking the continuity of each interlock contact. First, when conducting conduction of the (1+ pilot lamp 6 itself), connect the T phase connection terminal 3 and the R phase connection terminal 2 to the After connecting each terminal, press the test button 7 to make contact 7b. Therefore, R phase connection terminal 2 - contact 7b - contact 5a (or contact 5b) - resistor 8 (or resistor 9) - rectifier circuit 10 -T
The rectifier circuit 10 is activated by the alternating current flowing through the path of the phase connection terminal 3.
A current flows through the parallel circuit of the resistor 1, the pilot lamp 6, and the Zener diode 12. Therefore, if the pilot lamp 6 is normal, the pilot lamp 6 lights up and the pyro. When the playing card 6 does not light up, it is possible to detect an abnormality in the biloft lamp 6. Next, the case (2) of checking the continuity of each interlock contact will be explained. The following explanation assumes that the interlofter contact I4 is activated during operation of the control circuit shown in FIG. 3, and that the interlock contact I4 remains broken. Interlock contact RiI! When carrying out a check, the check bottle 4 is brought into contact with the inner side of the target interlock contact. First, when the check pin 4 is read directly to the T-in side of the interlock contacts I and T, the normal interlock contact 11 is closed, so the check pin 4 is electrically connected to the R-in side. Therefore, due to the alternating current flowing in the path of check bin 4 - contact 7a - contact 5a (or contact 5b) - resistor (or resistor 9) - rectifier circuit 10 - T phase connection terminal 3, from rectifier circuit 10 to resistor 1 pilot loft lamp. 6. Zener diode 1
Current flows through the two parallel circuits, and the pilot lamp 6 lights up. interlock contact

【2及び■、のT相うイン側にチェッ
クビン4を接触させた場合にも、チェックビン4はR相
うインと導通するので、上記と同様にしてバイロフトラ
ンプ6は点灯する。 さて、ブレークしているインタロック接点I4のT相う
イン側にチェックビン4を接触させた場合には、チェッ
クビン4はR相うインとは導通しないので、パイロット
ランプ6は点灯せず、その結果インタロック接点■4が
ブレークしていることを発見できる。 又、切り喚えスイッチ5の設定ミスにより被検出装置の
制?fll電源が200vの場合に100V用の抵抗9
を選択しても、ツェナーダイオード12によってパイロ
ットランプ6に対する印加電圧は抑制され、過大電圧で
パイロットランプ6が損傷する危険は避けられる。 尚、上記では1個の筐体1内に第2図に例示した回路を
1個収めた例を示したが、同様の回路を並列に配置し、
複数のチェックビンを同時に使用すれば、一度でインタ
ロック箇所を発見することができる。尚、この場合にお
いてR相接続端子及びT相接続端子器よ共有できること
はいうまでもない。 又、上記ではパイロットランプ6の導通チェックを行う
ためにR相接続端子2及びテストボタン7を設けた例を
示したが、R相接Vt端子2及びテストボタン7を省略
しても、T相接続端子3を被検出装置の制御回路のT相
うインに接続するとともに、チェックビン4を被検出装
置の制御回路のR相うインに接続すれば、パイロットラ
ンプ6の導通チェックを行うことができる。但し、上記
実施例の様にR相接続端子2及びテストボタン7を設け
た場合、操作ミスがより少なくなると思われる。 【効果】 以上説明した様に、本発明の不良箇所検出装置によれば
、単にチェックビンをアンド結線されたインタロック接
点に順次接触させ、パイロットランプが点灯するか否か
という極めて単純な判断を−するのみでインタロック接
点の伶動箇所を確実に検出することができる。 又、上記の様に本発明の不良箇所検出装置は、そのレン
ジ切り換えも被検出回路の電源電圧に対応して抵抗レン
ジを切り換えるのみであるので、レンジ切り換えを誤る
危険が少ない。又、仮にレンジ切り換えを過っても、入
力電圧が低くなった場合はパイロットランプの輝度が低
下するのみであるし、又、入力電圧が高くなった場合に
もツェナー電圧によりパイロットランプが高電圧で破壊
される事態は防止される。 更に、本発明の不良箇所検出W iによれば、パイロッ
トランプ自体の良・不良を面イしに確認することも可能
である。
Even when the check bin 4 is brought into contact with the T-in sides of [2 and 2], the check bin 4 is electrically connected to the R-in side, so the biloft lamp 6 lights up in the same manner as above. Now, when the check pin 4 is brought into contact with the T-in side of the broken interlock contact I4, the check pin 4 is not electrically connected to the R-in side, so the pilot lamp 6 does not light up. As a result, it was discovered that interlock contact #4 had broken. Also, could the detected device be controlled due to a setting error in the switching switch 5? If the fll power supply is 200V, resistor 9 for 100V
Even if this is selected, the voltage applied to the pilot lamp 6 is suppressed by the Zener diode 12, and the danger of damaging the pilot lamp 6 due to excessive voltage is avoided. Incidentally, although the above example shows an example in which one circuit illustrated in FIG. 2 is housed in one housing 1, it is also possible to arrange similar circuits in parallel,
By using multiple check bins at the same time, you can find interlock locations at once. In this case, it goes without saying that the R-phase connection terminal and the T-phase connection terminal can be shared. In addition, although the example in which the R-phase connection terminal 2 and the test button 7 are provided to check the continuity of the pilot lamp 6 is shown above, even if the R-phase Vt terminal 2 and the test button 7 are omitted, the T-phase connection terminal 2 and the test button 7 are omitted. By connecting the connecting terminal 3 to the T-in of the control circuit of the detected device and connecting the check bin 4 to the R-in of the control circuit of the detected device, the pilot lamp 6 can be checked for continuity. can. However, if the R-phase connection terminal 2 and the test button 7 are provided as in the above embodiment, it is thought that operational errors will be reduced. [Effect] As explained above, according to the defect detection device of the present invention, a very simple judgment can be made as to whether or not the pilot lamp lights up by simply bringing the check bin into contact with the AND-connected interlock contacts one after another. - It is possible to reliably detect the location where the interlock contact has moved. Further, as described above, in the defect detection device of the present invention, the range is changed only by changing the resistance range in accordance with the power supply voltage of the circuit to be detected, so there is little risk of erroneous range switching. Furthermore, even if the range is changed over, if the input voltage becomes low, the brightness of the pilot lamp will only decrease, and if the input voltage becomes high, the Zener voltage will cause the pilot lamp to change to a high voltage. This will prevent the situation from being destroyed. Furthermore, according to the defect detection W i of the present invention, it is also possible to confirm whether the pilot lamp itself is good or bad.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の1実施例を示す平面図、第2図は本発
明の1実施例を示す回路図、第3図は本発明の不良箇所
検出装置により検出される装置の制御回路中から本発明
に直接関連する箇所を抽出して示した回路図。
FIG. 1 is a plan view showing one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram showing one embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a control circuit of a device detected by the defect detection device of the present invention. FIG. 2 is a circuit diagram showing extracted portions directly related to the present invention.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)、被検出装置の制御母線の一方のラインに接続さ
れる第1の電源端子と、 前記被検出装置の制御母線の他方のラインに接続される
第2の電源端子と、 前記第2の電源端子とオア論理を構成して接続され、前
記被検出装置の前記制御母線間にその運転回路とともに
アンド接続された複数のインタロック接点の前記一方の
ライン側に随時接続されるチェックピンと、 前記第2の電源端子と前記チェックピンのいずれか一方
を選択する手動操作接点と、 前記第2の電源端子又は前記チェックピンと前記第1の
電源端子との間に制御電流が流れることにより点灯する
表示灯と 前記手動操作接点から前記第1の電源端子に至る回路中
に設けられ、上記回路中の抵抗値を変化させる抵抗調整
機構とを有する不良箇所検出装置。
(1) a first power terminal connected to one line of the control bus of the detected device; a second power terminal connected to the other line of the control bus of the detected device; and the second power terminal connected to the other line of the control bus of the detected device. a check pin connected at any time to the one line side of a plurality of interlock contacts which are connected to form an OR logic with the power terminal of the detected device, and which are AND-connected together with the operating circuit between the control bus of the detected device; a manually operated contact for selecting either the second power terminal or the check pin; and lighting when a control current flows between the second power terminal or the check pin and the first power terminal. A defect detection device comprising an indicator light and a resistance adjustment mechanism provided in a circuit extending from the manual operation contact to the first power supply terminal and changing a resistance value in the circuit.
(2)、特許請求の範囲第1項記載の不良箇所検出装置
において、 前記抵抗調整機構は、前記制御回路の電源電圧に対応し
た複数の抵抗の並列回路と、前記複数の抵抗のいずれか
を選択する切り換えスイッチとを有し、前記切り換えス
イッチの操作パネル上に電源電圧が表示されたことを特
徴とする不良箇所検出装置。
(2) In the defect detection device according to claim 1, the resistance adjustment mechanism includes a parallel circuit of a plurality of resistors corresponding to a power supply voltage of the control circuit, and one of the plurality of resistors. What is claimed is: 1. A defect detection device comprising a changeover switch for selection, wherein a power supply voltage is displayed on an operation panel of the changeover switch.
JP61120408A 1986-05-26 1986-05-26 Apparatus for detecting inferior part Granted JPS62276471A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61120408A JPS62276471A (en) 1986-05-26 1986-05-26 Apparatus for detecting inferior part

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61120408A JPS62276471A (en) 1986-05-26 1986-05-26 Apparatus for detecting inferior part

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62276471A true JPS62276471A (en) 1987-12-01
JPH0575273B2 JPH0575273B2 (en) 1993-10-20

Family

ID=14785479

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61120408A Granted JPS62276471A (en) 1986-05-26 1986-05-26 Apparatus for detecting inferior part

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS62276471A (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0575273B2 (en) 1993-10-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4451822A (en) Device for automatically checking a plurality of electric indicator lights
JP2584464B2 (en) Indoor wiring inspection method
JPS62276471A (en) Apparatus for detecting inferior part
US3345565A (en) Continuity field test bridge circuit with diode-controlled visual indicator means
JPH0915310A (en) Power supply
US4972153A (en) Apparatus for detecting a plurality of energy levels in a conductor
KR101794886B1 (en) Movable apparatus testing main board of powersupply
US4233598A (en) Emergency stop circuit monitoring system
KR830002592B1 (en) Logic circuit monitor
JP2840006B2 (en) Proximity switch inspection device
JPS5834373A (en) Testing device for limit switch
CN109375095A (en) A kind of semaphore monitoring system
JPH09101336A (en) Driver for controller
JPS592567Y2 (en) sensor monitoring device
KR0179185B1 (en) Relay short circuit / open inspection device
JP2000106077A (en) Earth leakage relay
KR200218390Y1 (en) Interlock Timer Diagnosis Device
KR0140932B1 (en) Products with standing voltage inspection apparatus
GB2331588A (en) Electrical test device
JPS592566Y2 (en) Sequence control circuit abnormality detection device
JPS62272162A (en) Detecting device for defective position
JPS632227Y2 (en)
JPS63131076A (en) 3-phase ac wiring inspector
KR200333164Y1 (en) Power Reset Unit for TTB Set
JPS6063474A (en) Incircuit tester