JPH0575273B2 - - Google Patents

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JPH0575273B2
JPH0575273B2 JP61120408A JP12040886A JPH0575273B2 JP H0575273 B2 JPH0575273 B2 JP H0575273B2 JP 61120408 A JP61120408 A JP 61120408A JP 12040886 A JP12040886 A JP 12040886A JP H0575273 B2 JPH0575273 B2 JP H0575273B2
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JP
Japan
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circuit
contact
terminal
power supply
check pin
Prior art date
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JP61120408A
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Japanese (ja)
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JPS62276471A (en
Inventor
Hiroshi Eianji
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Aida Engineering Ltd
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Aida Engineering Ltd
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention] 【産業上の利用分野】[Industrial application field]

本発明は、産業機械の制御回路においてどのイ
ンタロツク接点が作動したかを検出する不良箇所
検出装置に関する。
The present invention relates to a fault detection device for detecting which interlock contact is activated in a control circuit of an industrial machine.

【従来の技術】[Conventional technology]

周知の通りプレス機械等の産業機械は、その制
御回路の母線間にインタロツク接点が運転回路と
直列に配置されており、運転中に異常が発生する
異常箇所に対応してインタロツク接点が遮断さ
れ、運転回路に対する電源を遮断して非常停止す
る様になされている。 運転中にインタロツク接点の作動により非常停
止した場合には、運転再開に先立つてどのインタ
ロツク接点が遮断されたかを追求し、異常発生箇
所を修復することが要求される。 この様な目的のための不良箇所検出装置として
は一般的にテスタが使用されており、接点毎の導
通状態を調べることにより、インタロツク接点の
作動箇所を追求していた。
As is well known, in industrial machines such as press machines, interlock contacts are placed between the busbars of the control circuit in series with the operating circuit, and the interlock contacts are cut off in response to abnormal locations where an abnormality occurs during operation. It is designed to cut off the power to the operating circuit and perform an emergency stop. If an emergency stop occurs due to the operation of an interlock contact during operation, it is necessary to determine which interlock contact was cut off and repair the abnormality before restarting operation. A tester is generally used as a defect detection device for such a purpose, and by checking the conduction state of each contact, the operating location of the interlock contact can be determined.

【発明が解決しようとする問題点】[Problems to be solved by the invention]

しかしながら、テスタは抵抗レンジ・電圧レン
ジ・電流レンジ等を任意に切り換えて使用するこ
とができる汎用的な検査装置であるので、その取
り扱いに際してはこのレンジ切り換えに細心の注
意を払わねばならず、不用意な操作によつてレン
ジ切り換えを誤ると装置が破壊される危険性があ
る。
However, since the tester is a general-purpose inspection device that can be used by arbitrarily switching between resistance ranges, voltage ranges, current ranges, etc., when handling the tester, extreme care must be taken when switching the ranges. If you make a mistake in changing the range due to careless operation, there is a risk that the device will be destroyed.

【問題点を解決するための手段】[Means to solve the problem]

本発明はこの様な問題点に鑑みてなされたもの
であり、取り扱いミスが少なく、誰にでも容易に
不良箇所を検出することができる新規な不良箇所
検出装置を提供することを目的とする。 要約すれば、本発明の不良検出装置は、被検出
装置の制御母線の一方のラインに接続される第1
の電源端子3と:前記被検出装置の制御母線の他
方のラインに接続される第2の電源端子2と:前
記第2の電源端子2とオア論理を構成して接続さ
れ、前記被検出装置の前記制御母線間にその運転
回路とともにアンド接続された複数のインタロツ
ク接点の前記一方のライン側に随時接続されるチ
エツクピン4と:前記第2の電源端子2と前記チ
エツクピン4のいずれか一方を選択する手動操作
接点7と:第2の電源端子2又は前記チエツクピ
ン4と前記第1の電源端子3との間に制御電流が
流れることにより点灯する表示灯6と:前記手動
操作接点から前記第1の電源端子に至る回路中に
設けられ、上記回路中の抵抗値を変化させる抵抗
調整機構とを有しており:前記チエツクピン4を
前記インタロツク接点を何れかに接続させた時の
前記パイロツトランプの点灯状態によつて当該イ
ンタロツク接点が作動したか否かをチエツクする
ことができる様になされている。
The present invention has been made in view of these problems, and it is an object of the present invention to provide a novel defect detection device that is less prone to handling errors and allows anyone to easily detect defective locations. In summary, the defect detection device of the present invention has a first defect detection device connected to one line of the control bus of the device to be detected.
A second power supply terminal 2 is connected to the other line of the control bus of the detected device; and a second power terminal 2 is connected to the second power terminal 2 to form an OR logic, and the second power terminal 2 is connected to the other line of the control bus of the detected device a check pin 4 which is connected at any time to the one line side of a plurality of interlock contacts which are AND-connected together with the operating circuit between the control bus bars of the control bus; and: select either the second power terminal 2 or the check pin 4. a manual operation contact 7 that is connected to the second power supply terminal 2 or the check pin 4 and the first power supply terminal 3, and an indicator light 6 that lights up when a control current flows between the manual operation contact and the first A resistance adjusting mechanism is provided in the circuit leading to the power supply terminal of the circuit and changes the resistance value in the circuit.When the check pin 4 is connected to either of the interlock contacts, the pilot lamp Depending on the lighting state, it is possible to check whether the interlock contact has operated or not.

【作用】[Effect]

即ち、本発明の不良箇所検出装置は、基本的に
は第2の電源端子及びチエツクピンの並列回路を
第1の電源端子とパイロツトランプと抵抗値調整
回路と直列接続しただけの回路であるので、前記
抵抗値調整回路を調整して回路抵抗を調節するの
みで、制御回路の電源電圧の変化に対応すること
ができる。 又、前記第1の電源端子及び第2の電源端子を
被検出装置の制御母線に各々接続し、前記第2の
電源端子及びチエツクピンの内の第2の電源端子
を有効にすればパイロツトランプが点灯し、パイ
ロツトランプ自体のチエツクができる。 又、前記第1ので電源端子を被検出装置の一方
の制御母線に接続するとともに、前記第2の電源
端子及びチエツクピンの内のチエツクピンを有効
にし、前記チエツクピンを被検出装置のインタロ
ツク接点の前記一方のライン側に接続すれば、パ
イロツトランプが点灯するか否かによつて当該イ
ンタロツク接点が作動したか否かを検出すること
ができる。
That is, the defect detection device of the present invention is basically a circuit in which a parallel circuit of a second power supply terminal and a check pin is connected in series with a first power supply terminal, a pilot lamp, and a resistance value adjustment circuit. It is possible to respond to changes in the power supply voltage of the control circuit simply by adjusting the resistance value adjustment circuit to adjust the circuit resistance. Further, by connecting the first power terminal and the second power terminal to the control bus of the detected device, and activating the second power terminal and the second power terminal of the check pin, the pilot lamp is activated. It lights up and you can check the pilot lamp itself. Further, the first power supply terminal is connected to one of the control buses of the detected device, the second power supply terminal and the check pin of the check pins are enabled, and the check pin is connected to the one of the interlock contacts of the detected device. If the interlock contact is connected to the line side, it can be detected whether the interlock contact is activated or not based on whether the pilot lamp lights up or not.

【実施例】【Example】

以下図面を参照して本発明の1実施例を詳細に
説明する。 第1図は本発明の不良箇所検出装置の外観例を
示す平面図であり、筐体1からはR相接続端子
2、T相接続端子3、チエツクピン4が各々リー
ド線により導出されている。 そして、R相接続端子2はプレス装置その他の
工作機械の制御回路のR相ラインに、同様にT相
接続端子3は上記工作機械の制御回路のT相ライ
ンに、チエツクピン4は前記制御回路中の導通チ
エツクの対象となるインタロツク接点のT相ライ
ン側と各々接続されるものである。 又、筐体1の表面には200V・100Vのレンジを
切り換えるための切り換えスイツチ5、チエツク
の対象となるインタロツク接点の導通状態を点灯
表示するパイロツトランプ6、パイロツトランプ
6自体の点灯状態をテストするテストボタン7が
各々適宜位置される。尚、これら部材の筐体1上
における配置箇所は本発明にとつては重要な問題
ではない。 次に、第2図は本発明の不良箇所検出装置の具
体的な回路例を示す回路図であり、第2図におい
て、2,3,4,5,6,7は第1図において既
に説明した、R相接続端子2・T相接続端子・チ
エツクピン4・切り換えスイツチ5・パイロツト
ランプ6・テストボタン7を各々示している。 又、第2図において8は被検出装置の制御電圧
が200Vの時に選択される抵抗、9は被検出装置
の制御電圧が100Vの時に選択される抵抗を各々
示しており、抵抗8と切り換えスイツチ5の接点
5aの直列回路及び抵抗9と切り換えスイツチ5
の接点5bの直列回路は並列に接続され、切り換
えスイツチ5の接点5aをメークすることにより
200V用の抵抗8が、又、切り換えスイツチ5の
接点5bをメークすることにより100V用の抵抗
9が各々有効に選択される様になされている。 又、テストボタン7はB接点7aとA接点7b
を有しており、B接点7aはチエツクピン4と接
続され、A接点7bはR相接続端子2と接続され
ている。 更に、第2図において10はダイオードブリツ
ジを使用した整流回路、11は分流用の抵抗、1
2は定電圧用のツエナーダイオードを各々示して
おり、パイロツトランプ6に対して順方向電圧が
印加されているか否かによつて目的となるインタ
ロツク接点の作動状況を調べることができる様に
なされている。 次に上記事項及び第3図を参照して本実施例の
動作を説明する。 尚、第3図は本発明の不良箇所検出装置により
インタロツク接点の作動箇所の検出がなされる工
作機械の制御回路中から本発明に直接関連する箇
所を抽出して示した回路図であり、I1〜I6はイン
タロツク接点、PB1は運転ボタン、PB2は停止
ボタン、OLはオーバーロードリレー、21は運
転ボタンPB1のメークにより励磁されるリレー
コイル、22はリレーコイル21を自己保持する
A接点を各々示し、リレーコイル21が励磁され
ることにより運転がなされる様になされている。 先ず、第3図に示す工作機械の制御回路は、正
常状態においてはインタロツク接点I1〜I6が全て
メークしている。従つて、運転ボタンPB1が押
されることによりリレーコイル21が励磁され、
A接点22によつて自己保持されて、運転が開始
される。 そして、停止ボタンPB2が押されるか、又は、
何れかのインタロツク接点I1〜I6がブレークする
と、リレーコイル21がブレークされて運転が停
止する。 第1図・第2図に示す実施例の不良箇所検出装
置は、T相接続端子3が制御回路のT相ライン
に、R相接続端子2が制御回路のR相ラインに、
チエツクピン4が各インタロツク接点I1〜I6の相
互接続点の何れかに接続されて使用される。 又、被検出装置の制御回路用電源が、200Vの
場合は切り換えスイツチ5の接点5aがメークさ
れて200V用の抵抗8が選択され、100Vの場合は
切り換えスイツチ5の接点5bがメークされて
100V用の抵抗9が選択される。 本実施例の不良箇所検出装置は、(1)パイロツト
ランプ6自体の導通チエク、(2)各インタロツク接
点の導通チエツク、の2種類の動作モードを有す
る。 先ず、(1)のパイロツトランプ6自体の導通チエ
クを行う場合には、T相接続端子3及びR相接続
端子2を第3図に示す制御回路のT相ライン及び
R相ラインに各々接続した後に、テストボタン7
を押して接点7bをメークさせる。 従つて、R相接続端子2−接点7b−接点5a
(又は接点5b)−抵抗8(又は抵抗9)−整流回
路10−T相接続端子3の経路に流れる交流によ
つて整流回路10から光11・パイロツトランプ
6・ツエナーダイオード12の並列回路に電流が
流れる。従つて、パイロツトランプ6が正常であ
ればパイロツトランプ6は点灯し、パイロツトラ
ンプ6が点灯しない時にはパイロツトランプ6の
異常を検出することができる。 次に、(2)の各インタロツク接点の導通チエツク
を行う場合に関して説明する。 尚、以下の説明は、第3図の制御回路の運転中
にインタロツク接点I4が作動し、インタロツク接
点I4がブレークしたままになつたものと仮定して
いる。 インタロツク接点の導通チエツクを行う場合に
は、チエツクピン4を目的となるインタロツク接
点のT相ライン側に接触させる。 先ず、インタロツク接点I1のT相ライン側にチ
エツクピン4を接続すると、正常なインタロツク
接点I1はメークしているのでチエツクピン4はR
相ラインと導通する。 従つて、チエツクピン4−接点7a−接点5a
(又は接点5b)−抵抗8(又は抵抗9)−整流回
路10−T相接続端子3の経路に流れる交流によ
つて整流回路10から抵抗11・パイロツトラン
プ6・ツエナーダイオード12の並列回路に電流
が流れ、パイロツトランプ6が点灯する。 インタロツク接点I2及びI3のT相ライン側にチ
エツクピン4を接触させた場合にも、チエツクピ
ン4はR相ラインと導通するので、上記と同様に
してパイロツトランプ6は点灯する。 さて、ブレークしているインタロツク接点I4
T相ライン側にチエツクピン4を接触させた場合
には、チエツクピン4はR相ラインとは導通しな
いので、パイロツトランプ6は点灯せず、その結
果インタロツク接点I4がブレークしていることを
発見できる。 又、切り換えスイツチ5の設定ミスにより被検
出装置の制御電源が200Vの場合に100V用の抵抗
9を選択しても、ツエナーダイオード12によつ
てパイロツトランプ6に対する印加電圧は抑制さ
れ、過大電圧でパイロツトランプ6が損傷する危
険は避けられる。 尚、上記では1個の筐体1内に第2図に例示し
た回路を1個収めた例を示したが、同様の回路を
並列に配置し、複数のチエツクピンを同時に使用
すれば、一度でインタロツク箇所を発見すること
ができる。尚、この場合においてR相接続端子及
びT相接続端子は共有できることはいうまでもな
い。 又、上記ではパイロツトランプ6の導通チエツ
クを行うためにR相接続端子2及びテストボタン
7を設けた例を示したが、R相接続端子2及びポ
ストボタン7を省略しても、T相接続端子3を被
検出装置の制御回路のT相ラインに接続するとと
もに、チエツクピン4を被検出装置の制御回路の
R相ラインに接続すれば、パイロツトランプ6の
導通チエツクを行うことができる。但し、上記実
施例の様にR相接続端子2及びテストボタン7を
設けた場合、操作ミスがより少なくなると思われ
る。
Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a plan view showing an example of the external appearance of the defect detection device of the present invention, in which an R-phase connection terminal 2, a T-phase connection terminal 3, and a check pin 4 are each led out from a housing 1 by lead wires. The R-phase connection terminal 2 is connected to the R-phase line of the control circuit of the press machine and other machine tools, the T-phase connection terminal 3 is connected to the T-phase line of the control circuit of the machine tool, and the check pin 4 is connected to the control circuit of the machine tool. These are connected to the T-phase line side of the interlock contacts that are subject to the continuity check. Further, on the surface of the housing 1, there is a changeover switch 5 for switching between 200V and 100V ranges, a pilot lamp 6 that lights up to indicate the continuity state of the interlock contact to be checked, and a test lamp 6 that tests the lighting state of the pilot lamp 6 itself. Test buttons 7 are positioned appropriately. Note that the location of these members on the housing 1 is not an important issue for the present invention. Next, FIG. 2 is a circuit diagram showing a specific circuit example of the defect detection device of the present invention. In FIG. 2, 2, 3, 4, 5, 6, and 7 are already explained in FIG. The R-phase connection terminal 2, T-phase connection terminal, check pin 4, selector switch 5, pilot lamp 6, and test button 7 are shown, respectively. Further, in Fig. 2, 8 indicates a resistor selected when the control voltage of the detected device is 200V, and 9 indicates a resistor selected when the control voltage of the detected device is 100V. 5, the series circuit of the contact 5a, the resistor 9 and the changeover switch 5
The series circuit of contact 5b is connected in parallel, and by making contact 5a of changeover switch 5,
The resistor 8 for 200V and the resistor 9 for 100V can be effectively selected by making the contact 5b of the changeover switch 5. Also, the test button 7 has a B contact 7a and an A contact 7b.
The B contact 7a is connected to the check pin 4, and the A contact 7b is connected to the R phase connection terminal 2. Furthermore, in FIG. 2, 10 is a rectifier circuit using a diode bridge, 11 is a shunt resistor, and 1 is a rectifier circuit using a diode bridge.
2 shows Zener diodes for constant voltage, and it is possible to check the operation status of the target interlock contact depending on whether a forward voltage is applied to the pilot lamp 6. There is. Next, the operation of this embodiment will be explained with reference to the above matters and FIG. 3. Incidentally, FIG. 3 is a circuit diagram showing the parts directly related to the present invention extracted from the control circuit of a machine tool in which the operating part of the interlock contact is detected by the defective part detection device of the present invention. 1 to I6 are interlock contacts, PB1 is a run button, PB2 is a stop button, OL is an overload relay, 21 is a relay coil that is excited by the make of the run button PB1, and 22 is an A contact that self-holds the relay coil 21. The relay coils 21 are shown to be operated by energizing the relay coils 21. First, in the control circuit of the machine tool shown in FIG. 3, all interlock contacts I1 to I6 are made in a normal state. Therefore, when the operation button PB1 is pressed, the relay coil 21 is energized,
It is self-held by the A contact 22 and operation is started. Then, the stop button PB2 is pressed, or
When any of the interlock contacts I1 to I6 is broken, the relay coil 21 is broken and the operation is stopped. In the defect detection device of the embodiment shown in FIGS. 1 and 2, the T-phase connection terminal 3 is connected to the T-phase line of the control circuit, and the R-phase connection terminal 2 is connected to the R-phase line of the control circuit.
A check pin 4 is used connected to any one of the interconnection points of each interlock contact I1 to I6 . Also, when the power supply for the control circuit of the detected device is 200V, the contact 5a of the changeover switch 5 is made and the resistor 8 for 200V is selected, and when the power supply is 100V, the contact 5b of the changeover switch 5 is made.
Resistor 9 for 100V is selected. The defect detection device of this embodiment has two operating modes: (1) checking the continuity of the pilot lamp 6 itself, and (2) checking the continuity of each interlock contact. First, when performing a continuity check of the pilot lamp 6 itself in (1), connect the T-phase connection terminal 3 and the R-phase connection terminal 2 to the T-phase line and R-phase line of the control circuit shown in FIG. 3, respectively. After that, test button 7
Press to make contact 7b. Therefore, R phase connection terminal 2 - contact 7b - contact 5a
(or contact 5b) - Resistor 8 (or Resistor 9) - Rectifier circuit 10 - Current flows from the rectifier circuit 10 to the parallel circuit of light 11, pilot lamp 6, and Zener diode 12 by the alternating current flowing in the path of flows. Therefore, if the pilot lamp 6 is normal, the pilot lamp 6 lights up, and if the pilot lamp 6 does not light up, it is possible to detect an abnormality in the pilot lamp 6. Next, the case (2) of checking the continuity of each interlock contact will be explained. The following description assumes that interlock contact I4 was activated during operation of the control circuit of FIG. 3, and that interlock contact I4 remained broken. When checking the continuity of an interlock contact, the check pin 4 is brought into contact with the T-phase line side of the interlock contact. First, when check pin 4 is connected to the T-phase line side of interlock contact I1 , since the normal interlock contact I1 is closed, check pin 4 is connected to R.
Conducts with the phase line. Therefore, check pin 4-contact 7a-contact 5a
(or contact 5b) - Resistor 8 (or Resistor 9) - Rectifier circuit 10 - Current flows from the rectifier circuit 10 to the parallel circuit of resistor 11, pilot lamp 6, and Zener diode 12 due to the alternating current flowing in the path of is played and the pilot lamp 6 lights up. When the check pin 4 is brought into contact with the T-phase line side of the interlock contacts I2 and I3 , the check pin 4 is electrically connected to the R-phase line, so the pilot lamp 6 lights up in the same manner as described above. Now, when the check pin 4 is brought into contact with the T-phase line side of the broken interlock contact I 4 , the check pin 4 is not electrically connected to the R-phase line, so the pilot lamp 6 does not light up, and as a result, the interlock contact You can find that I 4 is breaking. Furthermore, even if the control power supply of the detected device is 200V due to an error in the setting of the changeover switch 5, even if the resistor 9 for 100V is selected, the voltage applied to the pilot lamp 6 will be suppressed by the Zener diode 12, and excessive voltage will not occur. The risk of damage to the pilot lamp 6 is avoided. Although the example above shows one circuit as shown in Fig. 2 housed in one housing 1, if similar circuits are placed in parallel and multiple check pins are used at the same time, the circuit can be checked at once. Interlock points can be found. In this case, it goes without saying that the R-phase connection terminal and the T-phase connection terminal can be shared. Furthermore, although the above example shows an example in which the R-phase connection terminal 2 and the test button 7 are provided to check the continuity of the pilot lamp 6, even if the R-phase connection terminal 2 and the post button 7 are omitted, the T-phase connection The continuity of the pilot lamp 6 can be checked by connecting the terminal 3 to the T-phase line of the control circuit of the device to be detected and the check pin 4 to the R-phase line of the control circuit of the device to be detected. However, if the R-phase connection terminal 2 and the test button 7 are provided as in the above embodiment, it is thought that operational errors will be reduced.

【効果】【effect】

以上説明した様に、本発明の不良箇所検出装置
によれば、単にチエツクピンをアンド結線された
インタロツク接点に順次接触させ、パイロツトラ
ンプが点灯するか否かという極めて単純な判断を
するのみでインタロツク接点の作動箇所を確実に
検出することができる。 又、上記の様に本発明の不良箇所検出装置は、
そのレンジ切り換えも被検出回路の電源電圧に対
応して抵抗レンジを切り換えるのみであるので、
レンジ切り換えを誤る危険が少ない。又、仮にレ
ンジ切り換えを過つても、入力電圧が低くなつた
場合はパイロツトランプの輝度が低下するのみで
あるし、又、入力電圧が高くなつた場合にもツエ
ナー電圧によりパイロツトランプが高電圧で破壊
される事態は防止される。 更に、本発明の不良箇所検出装置によれば、パ
イロツトランプ自体の良・不良を簡単に確認する
ことも可能である。
As explained above, according to the defect detection device of the present invention, the interlock contacts can be detected by simply bringing the check pin into contact with AND-connected interlock contacts one after another and making a very simple judgment as to whether or not the pilot lamp lights up. The operating location can be reliably detected. Further, as described above, the defective location detection device of the present invention has the following features:
The range switching is simply a matter of switching the resistance range according to the power supply voltage of the detected circuit.
There is less risk of switching the range incorrectly. Furthermore, even if the range is switched over, if the input voltage becomes low, the brightness of the pilot lamp will only decrease, and if the input voltage becomes high, the pilot lamp will not be activated by the high voltage due to the zener voltage. Destruction will be prevented. Furthermore, according to the defect detection device of the present invention, it is also possible to easily confirm whether the pilot lamp itself is good or bad.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の1実施例を示す平面図、第2
図は本発明の1実施例を示す回路図、第3図は本
発明の不良箇所検出装置により検出される装置の
制御回路中から本発明に直接関連する箇所を抽出
して示した回路図。 1……筐体、2……端子、3……端子、4……
チエツクピン、5……切り換えスイツチ、6……
パイロツトランプ、7……テストボタン、8,9
……抵抗。
Fig. 1 is a plan view showing one embodiment of the present invention, Fig. 2 is a plan view showing one embodiment of the present invention;
The figure is a circuit diagram showing one embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a circuit diagram showing locations directly related to the present invention extracted from the control circuit of the device detected by the defective location detection device of the present invention. 1... Housing, 2... Terminal, 3... Terminal, 4...
Check pin, 5... Changeover switch, 6...
Pilot lamp, 7...Test button, 8, 9
……resistance.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 被検出装置の制御母線の一方のラインに接続
される第1の電源端子と、 前記被検出装置の制御母線の他方のラインに接
続される第2の電源端子と、 前記第2の電源端子とオア論理を構成して接続
され、前記被検出装置の前記制御母線間にその運
転回路とともにアンド接続された複数のインタロ
ツク接点の前記一方のライン側に随時接続される
チエツクピンと、 前記第2の電源端子と前記チエツクピンのいず
れか一方を選択する手動操作接点と、 前記第2の電源端子又は前記チエツクピンと前
記第1の電源端子との間に制御電流が流れること
により点灯する表示灯と 前記手動操作接点から前記第1の電源端子に至
る回路中に設けられ、上記回路中の抵抗値を変化
させる抵抗調整機構とを有する不良箇所検出装
置。 2 特許請求の範囲第1項記載の不良箇所検出装
置において、 前記抵抗調整機構は、前記制御回路の電源電圧
に対応した複数の抵抗の並列回路と、前記複数の
抵抗のいずれかを選択する切り換えスイツチとを
有し、前記切り換えスイツチの操作パネル上に電
源電圧が表示されたことを特徴とする不良箇所検
出装置。
[Scope of Claims] 1. A first power terminal connected to one line of a control bus of the detected device; a second power terminal connected to the other line of the control bus of the detected device; a check pin which is connected to the second power supply terminal forming an OR logic, and which is connected at any time to the one line side of a plurality of interlock contacts which are AND-connected between the control bus of the detected device together with its driving circuit; and a manual operation contact for selecting either the second power terminal or the check pin, and lighting by a control current flowing between the second power terminal or the check pin and the first power terminal. and a resistance adjustment mechanism that is provided in a circuit extending from the manual operation contact to the first power supply terminal and changes a resistance value in the circuit. 2. In the defect detection device according to claim 1, the resistance adjustment mechanism includes a parallel circuit of a plurality of resistors corresponding to the power supply voltage of the control circuit, and a switch for selecting one of the plurality of resistors. What is claimed is: 1. A defect detection device comprising: a switch, and a power supply voltage is displayed on an operation panel of the changeover switch.
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