JPS62277566A - パルス測定用デ−タ変換器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ３、発明の詳細な説明 「産業上の利用分野」 この発明は例えば磁気ディスク或いはコンパクトディス
ク等のようにパルスを再生する装置の評価を行なう場合
に用いることができるパルス測定用データ変換器（１関
する。

「発明の背景」 例えばパーソナルコンピュータの外部記憶手段として用
いられている磁気ディスク、或いはコンパクトディスク
と呼ばれるディジタル・オーディオ機器等のよう（＝各
種のディジタル再生装置が実用されている。

これらのディジタル再生装置の評価を行なうには記録し
たディジタル信号が正しく再生されるか否かを判定しな
ければならない。

「従来技術」 従来はディジタル再生装置から再生されたパルス信号を
オンログラフに映出し、その映出されたパルス波形の寸
法を計測してパルス幅が正常か否か、或いはパルス相互
の間隔が正しいか等を測定している。

「発明が解決しようとする問題点」 オンログラフに映出したパルス波形から解ることはその
映出したパルスのパルス幅とパルス相互間の時間間隔程
度である。

つまりパルス幅が変動する最大値、最小貞、パルス幅の
時間の経過（１伴なう変動の様子、パルス幅が規則性を
持って変動している場合その変動の周期（周波数）等は
知ることはできない。

またコンパクトディスクのように再生されるパルスのパ
ルス幅が複数存在し、然もそのパルス幅が異なるパルス
がランダムに発生するような場合（−はそのパルスをオ
シログラフ（＝静止して表示することはできない。この
ためこのような場合（＝はパルス幅の変動の有無を測定
することはできない。

更にパルス幅が変動する中でどの変動パルス幅のパルス
が最も多く存在するかを測定したり、或いは変動パルス
幅の発生頻度、分布状況等を測定することもできない欠
点がある。

この発明の第１の目的は被測定パルスをそのパルスのパ
ルス幅の変動信号に変換し、オンログラフによって変動
の様子を表示することができるパルス測定用信号変換器
を提供するものである。

この発明の第２の目的はパルス幅が異なる複数種類のパ
ルスが出力されるような場合でもそのパルスをオシログ
ラフによって各パルス幅毎にパルス幅の変動の有無を測
定することができる信号に変換することができるパルス
測定用信号変換器を提供するものである。

「問題点を解決するための手段」 この発明では入力されるパルスのパルス幅を電圧に変換
する時間−電圧変換手段と、この時間−電圧変換手段か
ら出力される電圧をＡＤ変換するＡＤ変換器と、このＡ
Ｄ変換器のＡＤ変換動作をへカパルスの後縁に同期して
行なわせる制御手段と、に上ってパルス測定用信号変換
器を構成したものである。

この発明の構成によれば入力されにパルスのパルス幅が
電圧信号に変換され、その変換された電圧信号がへカパ
ルスの後縁に同期してＡＤ変換される。

このＡＤ変換されたディジタル信号を必要（１応じてＤ
Ａ変換し、このＤＡ変換した信号をオシログラフ（−与
えて電圧波形を描かせることにより入力されたパルスの
パルス幅の変動を電圧波形として表示することができる
。

ま７ｊＡＤ変換したディジタル信号をメモリのようなデ
ータ集録装置に攻込み、データ集録装置に取込んだデー
タから各パルス幅′に相光するデータを取出して集計す
ることによりパルス幅の変動分布状況等を測定すること
ができる。

「実施例」 第１因にこの発明の一実施例を示す。図中１は入力端子
を示す。入力端子１に入力された被測定パルスＰａ（第
２図Ａ）は時間−電圧変換手段２（−与えられ、そのパ
ルス幅（＝対応した電圧信号■５に変換される。時間−
電圧信号変換手段２から出力された電圧信号ｖ５はＡＤ
変換器３（１与えられＡＤ変換される。このＡＤ変換器
３のＡＤ変換動作は制御手段５（−よって制御される。

制御手段５は時間−電圧変換手段２に入力されるへカバ
ルスＰａの後縁を検出し、その後縁（−同期してＡＤ変
換器３に制御パルスＰｂ　（第２［ＤＢ　）を与え、こ
の制御パルスＰｂによってＡＤ変換動作が行なわれる。

またこの制御パルスＰｂの後縁に同期してリセットパル
スＰ。（第２図Ｃ）を発生させ、このリセットパルスＰ
。によって時間−電圧発生器２暑リセツトする。

時間−電圧変換器としては例えば第、３図に示すヨ５を
二人カハルスＰａによってクロックパルスｐｄ　（第２
図Ｄ）を打抜くゲート２Ａと、このゲートで打抜かれた
クロックパルスＰｅ（第２図Ｅ）が与えられてクロック
パルスＰｅのＨ論理期間だけオンに制机されるスイッチ
素子２Ｂと、このスイッチ素子２Ｂｆ二定電流を与える
定電流回路２Ｃと、スイッチ素子２Ｂがオンになる毎に
定量ずつ充電が行われるコンデンサ２Ｄと、コンデンサ
２Ｄの両端に接続されコンデンサ２Ｄに充電された電荷
を放出するリセット用スイッチ素子２Ｅとによって構成
することができる。この回路は簡単な階段波発生回路で
ある。この階段波発生回路によってパルスＰ、のパルス
幅Ｔ、を電圧信号ｖ５（第２図Ｆ）ｉ二変換することが
できる。

このようにしてへカパルスＰａは時間−電圧変換手段２
で電圧信号Ｖ、に変換され、その電圧信号■。

を入カハルスＰａの後縁（−同期したパルスＰｂによっ
てＡＤ変換を行なう。

ＡＤ変換器３のＡＤ変換出力は出力端子４から出力され
、オンログラフ或いはフーリエ変換機能を持つ周波数解
析装置等に与えられる。

一つの応用例としてオンログラフにＡＤ変換出力を与え
た場合について説明する。オンログラフに入力したＡＤ
変換出力は例えばオシログラフに内蔵したＤＡ変換器に
よってアナログ信号に変換し、そのアナログ信号をオン
ログラフのＹ軸信号系（−与える。入力パルスＰａのパ
ルス幅が一種類のパルス幅でその一つの種類のパルス幅
が再生系の不具合によって変動しているものとした場合
オシログラフの管面には入力パルスＰａのパルス幅の変
動に対応する電圧波形が例えば第４図に示すように描か
れる。

この電圧波形はパルス幅Ｔ、が時間の経過（１伴なって
変動する様子を表わしている。この表示された波形の周
期Ｔ’ｒｎを測定することによってパルス幅の変動周期
及び周波数を知ることができる。

またこの波形の振幅彫を測定することによりパルス幅変
動の最大値及び最小値を求めることができる。

ここで入力パルスＰ、の極性を反転させ、負極性のパル
スとして入力したとすると、今度はパルスとパルスの間
の時間間隔に対応した時間が電圧（−変換され、これが
ＡＤ変換されるからこのＡＤ変換された信号をＤＡ変換
してオシログラフに表示したとするとパルス相互の時間
間隔の変動を表示することができる。

ところで例えばコンパクトディスクのようにＴ”　２３
１．３１３５　ｎｓを単位として３Ｔ〜１１Ｔの９種類
のパルス幅を持ち、これら９種類のパルス幅のは号が不
規則に発生するパルス信号を入力した場合にはオンログ
ラフの管面には第５図に示すようＣ二９本の輝線Ｌ　Ｎ
、〜ＬＮ９が描かれる。つまりこの９本の輝線Ｌ　Ｎ、
〜ＬＮ９は微視的（１見ると第６図に示スように番１個
のパルス（−よって表示されるドラ）　Ｄ、　、　Ｄ２
．　Ｄ３　　・・・・・・の集合によって線として描か
れるものであって、ドツト相互の間は高速で移動するか
ら各線Ｌ　Ｎ１〜ＬＮ、の相互の間には輝線は殆んど表
示されることはない。

このよう（ニして表示された９本の輝線Ｌ　Ｎ１〜ＬＮ
９は各パルス幅のパルス幅変動を表示している。

つまり各輝線Ｌ　Ｎ、〜Ｌ　Ｎ９の幅（垂直方向の幅）
が太いか細いかによってパルス幅が変動しているか否か
を知ることができる。

ところで９本の線Ｌ　Ｎ、〜Ｌ　Ｎ、を全て描かした場
合、各１本の線の幅が太いか細いかによってパルス幅が
変動しているか否かを知ることはできるが、その変動の
規則性の再熱及び規則性が有った場合にその周期を表示
させることまでは測定することはできない。

このため第７図又は第８図（−示すような構成が考えら
れる。第７図に示す構成は出力端子４に出力されるＡＤ
変換（言号をバッファメモリ６に取込み、このバッファ
メモリ６に取込んだ信号をマイクロコンピュータ７によ
って統計処理し、例えばパルス幅が３Ｔのパルスのデー
タだけを読出し、そのデータを出力端子８を通じＤＡ変
換してオシログラフに与えることにより３Ｔのパルス幅
を持つパルスのパルス幅の変動を第４図に示すような状
態で表示させることができる。

バッファメモリ６を設けた場合（−はこの他にもメモリ
６に取込んだデータを統計処理することによってパルス
幅変動の分布状況、或いはパルス幅変動の履歴等乞測定
することができる。

第８図の例では時間計測手段９と時間設定器１０を設け
、この時間計測手段９において入力パルスのパルス幅を
計測し、その計測値が時間設定器１０に設定した時間の
範囲内にあるときだけ、例えばＡＤ変換器３にＡＤ変換
動作を行なわせるように構成した場合を示す。

このように時間計測手段９を設け、入力パルスが設定器
１０で設定した時間の範囲に人る場合にだけＡＤ変換動
作を行なってデータを取込むように構成することにより
被験体がコンパクトディスクのように多踵類のパルス幅
のパルスを発生する場合でも一種類のパルス幅のパルス
だけをデータとして取込むことができる。よってこの場
合にはバッファメモリ６を用いなくても単一パルス幅の
データだけを出力端子４に取出すことができ、成る特定
したパルス幅のパルスに関して分解能よくそのパルス幅
変動を測定することができる。

「発明の作用効果」 上述したよう（−この発明（−よれば入力パルスのパル
ス幅を電圧に変換し、その電圧を入力パルスの後縁に同
期してＡＤ変換するだけの簡単な構造によってパルス信
号列のパルス幅の変動をオシログラフのような簡便な測
定装置で測定できる信号（−変換することができる。

特（ニパルス幅が変動する嘩子をオンログラフに電圧波
形として表示することができるから、その電圧波形の周
期Ｔｍを測定すること（−よって例えば再生機の回転ム
ラ等を知ることができ、不具合の場所を特定することが
できる。

また電圧波形の振幅痴を測定することによってパルス幅
変動の最大値及び最小値を知ることができる。よってこ
の最大値及び最小値の直が許容範囲にあるか否かに上っ
て再生機の良否を判定できる。よって再生機の良否を定
量的（２決めることができ、信頼性の高い検査を行なう
ことができる。

またこの発明によれば汎用のオシログラフを用いてパル
ス信号に関する各種の測定及び検査な行なうことができ
るから高価な測定器を用意しなくて済むため、経済的な
負担を軽減できる効果も得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例を説明するためのブロック
図、第２図はこの発明の詳細な説明するための波形図、
第３図はこの発明（２用いる時間−電圧変換手段の一例
を説明するための接続図、第４図及び第５図はこの発明
（−よるパルス測定用データ変換装置によって得られた
信号をオンログラフに表示した例を説明するための正面
図、第６図は第５図に示した表示の描画の様子を説明す
るための図、第７図及び第８図はこの発明の１也の実施
例を説明するブロック図である。 ■＝入力端子、２：時間−電圧変換手段５３：ＡＤ変換
器、４：出力端子、５：制御手段。 特許出願人　　　株式会社　アトパンテスト代　　理　
　人　　　草　　　野　　　　　卓オ　１　図 体　２　図 オ　３　図 寸　４　図 オ　５図 オフ図　　　　　　。 オ　８　図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）Ａ、入力パルスのパルス幅を電圧に変換して出力
   する時間−電圧変換手段と、 Ｂ、この時間−電圧変換手段から出力される電圧をＡＤ
   変換するＡＤ変換器と、 Ｃ、このＡＤ変換器のＡＤ変換動作を上記入力パルスの
   後縁に同期して行なわせる制御手段と、 から成るパルス測定用データ変換器。