JPS6228077Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は電子管用ソケツト、特に低電圧大電流
が流入出する外部導入線（以下単にピンと称す
る）と外部導入線挿入部（以下単にレセプタクル
と称する）との接続部における電気的接触抵抗値
を極小に抑えた電子管用ソケツトに関するもので
ある。

一般にブラウン管などの電子管において、例え
ばヒータ、フラメントは、従来から他の電極部材
よりも比較的低電圧大電流の動作方式となつてい
るため、第１図ａ，ｂにその要部側面図、要部正
面図で示したように、ステム１に円形状に固設配
置された複数本のピン２のうち、ヒータ、フイラ
メント用のピンも他の電極用ピンと同様に同一寸
法形状で所定のピンサークルで固設して配列され
ている。一方、この電子管に用いるソケツトは、
第２図ａ，ｂおよび第３図ａ，ｂに、工業用およ
び装置、機器用のソケツトの要部側面図、要部正
面図で示したように全ての前記ピン２を同時に挿
入できる一体化構成となつており、そのソケツト
３内に植設されたレセプタクル４の構造も第４図
〜第６図ａ，ｂにその要部側面図、要部上面図で
示したように全て前記ピン２の形状に対応して同
一形状のものが用いられている。

しかしながら、上記構成による電子管用ソケツ
トにおいて、上記ソケツト３に、ヒータ、フイラ
メントに従来の電子管よりもさらに低い電圧でし
かも大電流の動作方式を用いた電子管を組合せて
使用した場合、上記ピン２とソケツト３内のレセ
プタクル４との間の電気的接触抵抗値によつて生
ずる電位降下が電子管の動作に対して極めて大き
な障害となつていた。すなわち、第７図に示した
等価回路を用いて説明すると、まず、ピン２とレ
セプタクル４間の接触抵抗値r₁が存在すると、そ
の回路電流Ｉとの積であるＩ×r₁の電位降下が生
じ、供給電圧E₀からＩ×r₁を減じた真の電位E₁の
電圧のみがヒータ、フイラメントに印加されるこ
とになる。そして、この接触抵抗r₁は常時不安定
要因を有し、絶えず一定値を保つていないため、
当初からr₁の値が存在すれば、時にはr₁が零にな
つたり、あるいは数倍に増加したりして真の印加
電位E₁はそれによつて増減する。また、当切はr₁
が零であつたものが、時には増加したりすると、
真の印加電位E₁は供給電圧E₀になつたり、ある
いは、供給電圧E₀より減少した値となる。そし
て、この接触抵抗の増減分が低電圧大電流方式に
なるほどその影響は大きくなる。例えば、電子管
のヒータ、フイラメントは規定の電圧を印加する
ことによつて加熱され、適正な陰極温度を得るこ
とによつて適正な熱電子放射を得て、かつ維持す
るので真の印加電圧E₁が重要な役目を持つてい
る。したがつて、真の印加電圧E₁よりも低かつ
たり逆に高かつたりした場合には、正常な機能お
よびその信頼性を損ねることになる。また、電子
管の製造過程および試験、検査過程においては、
１個のソケツトで多数個の電子管を対象にしてい
るので、摩耗および汚れによる接触不十分、接触
部の経時変化および偏差、などが生じ易く、電子
管を用いた装置、機器などのソケツトでは、大量
生産による接触抵抗値の偏差、振動衝撃および経
年変化による接触抵抗値の変化が存在している。
そして、この状況において、低電圧大電流方式の
電子管を取扱うときには従来のソケツト３のレセ
プタクル４の表面金属材質、加圧力を改善した程
度のことではこの問題は解放されなかつた。

したがつて、本考案の目的は上記の点に着目し
てなされたものであり、電子管のピンのうちで低
電圧大電流が流入出するピンとそのレセプタクル
との接続部のみを対象として接触抵抗値を極小と
することによつて信頼性を高くし、かつ保守を容
易に行えるようにした電子管用ソケツトを提供す
ることにある。

このような目的を達成するために本考案による
電子管用ソケツトは、低電圧大電流が流入出する
ピンに対応するレセプタクルを他の部分よりも接
触抵抗値を低くしたものである。以下、図面を用
いて本考案による電子管用ソケツトについて詳細
に説明する。

第８図〜第１１図は本考案による電子管用ソケ
ツトの実施例を示す要部上面図であり、第２図
ａ，ｂ〜第３図ａ，ｂと同記号は同一要素となる
のでその説明は省略する。第８図、第９図におい
て、まず、ソケツト本体１３の低電圧大電流が流
入出するに該当するレセプタクル４が植設される
その周辺部分を単独のピン２に対しては同図にＡ
で示したように１個所を、また隣接するピン２に
対しては同図にＢで示したようにまとめて１個所
を、あるいはＡおよびＢを混在させてソケツト本
体１３を貫通するバカ孔部１３ａ，１３ｂを設け
るか、あるいはまた第１０図、第１１図にＡ，Ｂ
で示したようにソケツト３を貫通する切欠孔部１
３ｃ，１３ｄを設けた構造に形成する。一方、こ
のバカ孔部１３ａ，１３ｂおよび切欠孔部１３
ｃ，１３ｄの貫通孔に対しては、その寸法形状に
対応して第１２図〜第１４図に示したように、第
１５図ａ，ｂに示した高接触面積、強いバネ性を
有する低接触抵抗の表面金属からなるレセプタク
ル５を植設してリード線６を事前あるいは事後に
取設した単独または一体化したコネクタ７，８，
９を係合する。レセプタクル５とピン２との接触
構造例を第１６図に示す。すなわち、前記コネク
タ７，８，９に植設したレセプタクル５は、その
一例を前記第１５図に示すように、前述したピン
２を挿入する孔部の先端部を細く形成し、かつ軸
方向に放射状の切込部を備えた構成としている。

このように構成された電子管用ソケツトにおい
ては、電子管にソケツト本体１３を装着させると
き、電子管のステム１に上記第８図〜第１１図に
示したソケツト本体１３を挿入した後に、上記バ
カ孔部１３ａ，１３ｂまたは切欠孔部１３ｃ，１
３ｄの貫通孔に後方から第１２図、第１３図に示
したコネクタ７，８または一体化したコネクタ９
を挿入して装着させる。この場合、コネクタ７〜
９内に植設されたレセプタクル５は前述したよう
にピン２を挿入する孔部の先端部が細く、しかも
軸方向に放射状の切込部を備えた構成としたこと
からその中心軸方向に強いバネ性を有しているた
め、低電圧大電流のヒータ、フイラメントのピン
２の表面に形成された酸化膜を削り取るようにし
て挿入されて十分に圧接され、高接触面積で密着
されて低抵抗接触で上記ピン２に電気的に接続さ
れることになる。したがつて、低電圧大電流の流
入出に対して接触抵抗による電位降下を極小に抑
えることができる。

以上説明したように本考案による電子管用ソケ
ツトによれば、ピンとこのピンを挿入接触させる
レセプタクル間を低接触抵抗形としたことによつ
て、この両者間に障害となつていた電位降下を極
小に抑えることができるため、電子管の信頼性を
向上させることができるとともに、電子管の製造
試験、検査過程において摩耗などによつて交換す
る場合もそのコネクタ部のみで済むという保守性
を容易とすることができる極めて優れた効果が得
られる。

【図面の簡単な説明】

第１図ａ，ｂは電子管ステム部に固設されたピ
ン、そのピンの従来の口金の一例を示す要部側面
図、要部正面図、第２図ａ，ｂは従来の工業用の
電子管用ソケツトの一例を示す要部側面図、要部
正面図、第３図ａ，ｂは従来の装置および機器用
の電子管ソケツトの一例を示す要部側面図、要部
正面図、第４図ａ，ｂ〜第６図ａ，ｂは従来のレ
セプタクルの一例を示す要部側面図、要部上面
図、第７図はピンとレセプタクルとの接続部の電
気的等価回路図、第８図、第９図は本考案による
電子管用ソケツトの一例を示す要部上面図、第１
０図、第１１図は本考案による電子管ソケツトの
他の実施例を示す要部上面図、第１２図〜第１４
図は本考案による電子管ソケツトに挿入するコネ
クタの一例を示す要部斜視図、第１５図は上記コ
ネクタに植設されたレセプタクルの一例を示す要
部側面図、要部上面図、第１６図はレセプタクル
とピンとの接触構造を示す断面図である。 １……ステム、２……ピン、３……ソケツト、
１３ａ，１３ｂ……バカ孔部、１３ｃ，１３ｄ…
…切欠孔部、４……レセプタクル、５……レセプ
タクル、１３……ソケツト本体。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 電子管のステムに円形状に固設して配列された
   複数本のピンに、このピンの配列に対応してレセ
   プタクルを植設したソケツトを挿入接触させるこ
   とによつて電気的に接続させる電子管用ソケツト
   において、該ソケツトはソケツト本体と、このソ
   ケツト本体を貫通するバカ孔部あるいは切欠孔部
   に係合して前記ソケツトを構成する１個もしくは
   複数個のコネクタとを含む構成からなり、かつ前
   記コネクタに植設されたレセプタクルは、前記ピ
   ンを挿入する孔部の先端部を細く形成し、かつ軸
   方向に放射状の切込部を備え前記ソケツト本体に
   植設されたレセプタクルに比べ前記ピンとの接触
   抵抗値が小となる接触構造としたことを特徴とす
   る電子管用ソケツト。