JPS62298086A - 集積電子メモリ回路および電子メモリアクセスシステム - Google Patents
集積電子メモリ回路および電子メモリアクセスシステムInfo
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- JPS62298086A JPS62298086A JP62110403A JP11040387A JPS62298086A JP S62298086 A JPS62298086 A JP S62298086A JP 62110403 A JP62110403 A JP 62110403A JP 11040387 A JP11040387 A JP 11040387A JP S62298086 A JPS62298086 A JP S62298086A
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
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- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
- G11C7/225—Clock input buffers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
-
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- G—PHYSICS
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- G11C7/1015—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
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-
- G—PHYSICS
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- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
Landscapes
- Dram (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Storage Device Security (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
発明の背景
1、発明の分野
この発明は電子メモリ回路に関するものでありかつ特に
メモリ配列に入力データ信号を与えるための手段を含む
集積電子メモリ回路および集積電子メモリ回路からのデ
ータを検索するための電子メモリアクセスシステムに関
するものである。
メモリ配列に入力データ信号を与えるための手段を含む
集積電子メモリ回路および集積電子メモリ回路からのデ
ータを検索するための電子メモリアクセスシステムに関
するものである。
2、関連技術の説明
メモリ場所の配列で2進データを記憶するための電子メ
モリ配列を含む電子メモリ回路はこの技術分野で公知で
ある。典型的には、メモリ配列はメモリ配列がアドレス
されたメモリ場所で配列にストアされた2進データに対
応する出力データ信号を発生することを引き起こすアド
レス信号を受取る。しばしば、ラッチまたはレジスタは
メモリ配列へのアドレス信号の供給をタイミング動作す
るために電子メモリ配列に結合される。同様に、ラッチ
またはレジスタはしばしばメモリ配列から出力データ信
号を受取るためにかつ回路出力信号として、外部環境へ
のそれらの供給をタイミング動作するためにメモリ配列
に結合される。
モリ配列を含む電子メモリ回路はこの技術分野で公知で
ある。典型的には、メモリ配列はメモリ配列がアドレス
されたメモリ場所で配列にストアされた2進データに対
応する出力データ信号を発生することを引き起こすアド
レス信号を受取る。しばしば、ラッチまたはレジスタは
メモリ配列へのアドレス信号の供給をタイミング動作す
るために電子メモリ配列に結合される。同様に、ラッチ
またはレジスタはしばしばメモリ配列から出力データ信
号を受取るためにかつ回路出力信号として、外部環境へ
のそれらの供給をタイミング動作するためにメモリ配列
に結合される。
過去には、シーケンシャルな電子論理システムはしばし
ばシステムにおけるハードウェア関連の故障を検出しか
つビンポイントするための診断回路を含んでいた。大ま
かに言うと、典型的な初期の診断回路はシステムへのデ
ータ入力を初期化するための手段およびシステムにより
与えられるデータをサンプリングするための手段を含ん
でいた。
ばシステムにおけるハードウェア関連の故障を検出しか
つビンポイントするための診断回路を含んでいた。大ま
かに言うと、典型的な初期の診断回路はシステムへのデ
ータ入力を初期化するための手段およびシステムにより
与えられるデータをサンプリングするための手段を含ん
でいた。
たとえば、1つの先行システムでは、診断のためにシス
テムを初期化するためにシーケンシャルなシステムへ入
力するべき制御データを受取る診断レジスタが設けられ
た。診断レジスタはシーケンシャルなシステムの普通の
フィードバック経路を破壊しかつ制御信号がシステムに
与えられて得てかつ結果として生じる出力信号がサンプ
リングされ得る論理経路を確立した。この初期の型式の
診断レジスタは1984年10月9日にミラー(Mil
ler)等に与えられた米国特許番号第4゜476.5
60号に記載されている。
テムを初期化するためにシーケンシャルなシステムへ入
力するべき制御データを受取る診断レジスタが設けられ
た。診断レジスタはシーケンシャルなシステムの普通の
フィードバック経路を破壊しかつ制御信号がシステムに
与えられて得てかつ結果として生じる出力信号がサンプ
リングされ得る論理経路を確立した。この初期の型式の
診断レジスタは1984年10月9日にミラー(Mil
ler)等に与えられた米国特許番号第4゜476.5
60号に記載されている。
先行技術の電子メモリシステムはしばしばストアされた
2進データがメモリから検索され得るスピードを増加す
るためにパイプライン動作技術を用いていた。パイプラ
イン技術はしばしば適切なタイミング信号を供給すると
電子メモリシステムにより連続するタスクの同時動作を
含んだ。たとえば、メモリ回路が1組の現在の2進アド
レス信号に応答してメモリ配列にストアされた2進デー
タを検索している間、入力ラッチまたはレジスタはメモ
リ回路への供給のために1組の将来のアドレス信号を受
取り得て、かつ出力ラッチまたはレジスタは1組の先の
アドレス信号に対応するシステム出力信号を与え得た。
2進データがメモリから検索され得るスピードを増加す
るためにパイプライン動作技術を用いていた。パイプラ
イン技術はしばしば適切なタイミング信号を供給すると
電子メモリシステムにより連続するタスクの同時動作を
含んだ。たとえば、メモリ回路が1組の現在の2進アド
レス信号に応答してメモリ配列にストアされた2進デー
タを検索している間、入力ラッチまたはレジスタはメモ
リ回路への供給のために1組の将来のアドレス信号を受
取り得て、かつ出力ラッチまたはレジスタは1組の先の
アドレス信号に対応するシステム出力信号を与え得た。
これら初期の電子メモリ回路および電子メモリシステム
は一般に容認できる一方、それらの使用に関し欠点があ
る。たとえば、電子メモリ回路がメモリ配列にデータを
書込みかつ配列からデータを読出し得る速度が増加する
ために、しばしば電子メモリ回路に入力データ信号を与
えることにおいて困難が存在した。特に、しばしばメモ
リ配列が配列へ入力データを書込むことを可能にする、
書込み可能化信号として公知の一般型式の非常に短い制
御信号を与える問題が存在した。
は一般に容認できる一方、それらの使用に関し欠点があ
る。たとえば、電子メモリ回路がメモリ配列にデータを
書込みかつ配列からデータを読出し得る速度が増加する
ために、しばしば電子メモリ回路に入力データ信号を与
えることにおいて困難が存在した。特に、しばしばメモ
リ配列が配列へ入力データを書込むことを可能にする、
書込み可能化信号として公知の一般型式の非常に短い制
御信号を与える問題が存在した。
1つの実pHとなる公知の型式の書込み可能化信号は2
つの状態、LOWまたはHIGHのいずれかを取り得る
。たとえば、メモリ配列にLOW書込み可能化信号を与
える間、入力データ配列に書込まれ得るが、出力データ
はそれから読出されiI′Sない。逆に、HIGH@込
み可能化信号を与える間、出力データはメモリから読出
される得るが、入力データはそれへ書込まれ得ない。
つの状態、LOWまたはHIGHのいずれかを取り得る
。たとえば、メモリ配列にLOW書込み可能化信号を与
える間、入力データ配列に書込まれ得るが、出力データ
はそれから読出されiI′Sない。逆に、HIGH@込
み可能化信号を与える間、出力データはメモリから読出
される得るが、入力データはそれへ書込まれ得ない。
速度を増すメモリ配列の出現はそのような配列へ入力デ
ータを書込むために必要とされる時間の減少へと導き、
かつその結果、実例となる型式の上記の可能化信号に関
して、それと対応して短いLOW書込み可能化信号は高
速度で配列へ入力データを書込むことを必要とされる。
ータを書込むために必要とされる時間の減少へと導き、
かつその結果、実例となる型式の上記の可能化信号に関
して、それと対応して短いLOW書込み可能化信号は高
速度で配列へ入力データを書込むことを必要とされる。
LOW書込み可能化信号の時間期間が配列へデータを書
込むのに必要とされるよりも長いとき、配列からのデー
タの読出しは先に説明されたように、出力データが典型
的にLOW書込み可能化信号を与える間配列から読出さ
れ得ないので、不必要に低速にされても構わない。さら
に、いくつかのメモリ配列では、配列へ入力データを書
込むのに必要とされる時間はわずか数ナノ秒でよい。し
かしながら、不運にも時間期間わずか数ナノ秒であるL
OW@込み可能化信号の供給はそのような配列のユーザ
にとって困難な仕事となり得る。
込むのに必要とされるよりも長いとき、配列からのデー
タの読出しは先に説明されたように、出力データが典型
的にLOW書込み可能化信号を与える間配列から読出さ
れ得ないので、不必要に低速にされても構わない。さら
に、いくつかのメモリ配列では、配列へ入力データを書
込むのに必要とされる時間はわずか数ナノ秒でよい。し
かしながら、不運にも時間期間わずか数ナノ秒であるL
OW@込み可能化信号の供給はそのような配列のユーザ
にとって困難な仕事となり得る。
さらに、先に検討された一般型式の電子メモリ回路はデ
ィスクリートな構成要素を用いる回路の実現に関して非
能率を彼る。一般に、そのような回路はディスクリート
な入力ラッチまたはレジスタ、メモリ配列およびディス
クリートな出力ラッチまたはレジスタを用いて実現され
た。(ドーの集積回路へのこれらの構成要素の統合を損
なう要因は成る適用においてはラッチが所望されかつ別
なものにおいてはレジスタが所望されるという事実であ
った。たとえば、ECL2!板のシステムにおいては、
ECLシステムにおいてはラッチが普通レジスタの伝播
遅延に約2分の1を経験するので、ラッチはしばしば、
アドレス信号を与えるためのかつ出力データ信号を受取
るための好ましい手段であった。それにもかかわらず、
ECLシステムにおいてすら、置数された信号はしばし
ば所望された。
ィスクリートな構成要素を用いる回路の実現に関して非
能率を彼る。一般に、そのような回路はディスクリート
な入力ラッチまたはレジスタ、メモリ配列およびディス
クリートな出力ラッチまたはレジスタを用いて実現され
た。(ドーの集積回路へのこれらの構成要素の統合を損
なう要因は成る適用においてはラッチが所望されかつ別
なものにおいてはレジスタが所望されるという事実であ
った。たとえば、ECL2!板のシステムにおいては、
ECLシステムにおいてはラッチが普通レジスタの伝播
遅延に約2分の1を経験するので、ラッチはしばしば、
アドレス信号を与えるためのかつ出力データ信号を受取
るための好ましい手段であった。それにもかかわらず、
ECLシステムにおいてすら、置数された信号はしばし
ば所望された。
しかしながら、不運にもラッチおよびレジスタはしばし
ば容易には交換不能である。たとえば、ラッチ出力は典
型的にはラッチが可能化されるときラッチ入力の後に続
き、すなわち、ラッチは透明であるように見える。しか
しながら、レジスタ出力信号は通常はクロックパルスの
端縁でのみ状態を変化する。このように、通常ユーザは
出力信号が入力信号の後に続くことが所望されたときラ
ッチ回路を用い、かつユーザは出力信号がクロックパル
スの端縁でのみ状態を変えることを所望されたときレジ
スタ回路を用いたであろう。
ば容易には交換不能である。たとえば、ラッチ出力は典
型的にはラッチが可能化されるときラッチ入力の後に続
き、すなわち、ラッチは透明であるように見える。しか
しながら、レジスタ出力信号は通常はクロックパルスの
端縁でのみ状態を変化する。このように、通常ユーザは
出力信号が入力信号の後に続くことが所望されたときラ
ッチ回路を用い、かつユーザは出力信号がクロックパル
スの端縁でのみ状態を変えることを所望されたときレジ
スタ回路を用いたであろう。
このように、入力データ信号が比較的短時間のうちにメ
モリ配列へ容易に書込まれ得てかつ代わりとしてラッチ
のようにまたはレジスタのように作動し得る要素を含む
集積電子メモリ回路に対する必要が存在する。この発明
はこれらの必要に適う。
モリ配列へ容易に書込まれ得てかつ代わりとしてラッチ
のようにまたはレジスタのように作動し得る要素を含む
集積電子メモリ回路に対する必要が存在する。この発明
はこれらの必要に適う。
発明の要約
この発明は新規な集積電子メモリ回路を含む。
この回路はメモリ場所の配列に2進データをストアする
ためのメモリ配列を含む。データ信号提供回路はそれぞ
れのメモリ場所で2進データとして配列により記憶する
ようにメモリ配列に入力データ信号を与える。さらに、
書込み信号ジェネレータは書込み信号を発生し、配列が
データ信号提供回路から入力データ信号を受入れかつそ
れぞれの入力データ信号に対応してメモリ配列で2進デ
ータをストアするようにする。
ためのメモリ配列を含む。データ信号提供回路はそれぞ
れのメモリ場所で2進データとして配列により記憶する
ようにメモリ配列に入力データ信号を与える。さらに、
書込み信号ジェネレータは書込み信号を発生し、配列が
データ信号提供回路から入力データ信号を受入れかつそ
れぞれの入力データ信号に対応してメモリ配列で2進デ
ータをストアするようにする。
この発明の他の面は新規な電子メモリアクセスシステム
を含む。このシステムは第1および第2のタイミング信
号を与えるタイミング信号制御回路を含む。このシステ
ムはまた集積回路を含む。
を含む。このシステムは第1および第2のタイミング信
号を与えるタイミング信号制御回路を含む。このシステ
ムはまた集積回路を含む。
集積回路は、メモリ場所の配列で2進データをストアす
るためのかつ対応するそれぞれのメモリ場所でストアさ
れた2進データに対応してそれぞれの出力データ信号を
与えるためのメモリ配列と、メモリ回路から出力データ
信号を受取るためのかつ第1のタイミング信号に応答し
てシステム出力信号を与えるための出力ラッチ回路とを
含む。このシステムはまたアドレス情報を受取るための
かつメモリ場所、すなわちタイミング信号制御回路によ
り与えられるタイミング信号にまた応答する入力ラッチ
に後でアドレス情報を与えるめの入力ラッチ回路をを利
に含んでも構わない。第2のタイミング信号に応答する
シーケンサ回路が含まれかつメモリ回路にメモリ配列で
アドレスされるようにメモリ場所のシーケンスに対応す
るそれぞれのアドレス信号のシーケンスを与える。
るためのかつ対応するそれぞれのメモリ場所でストアさ
れた2進データに対応してそれぞれの出力データ信号を
与えるためのメモリ配列と、メモリ回路から出力データ
信号を受取るためのかつ第1のタイミング信号に応答し
てシステム出力信号を与えるための出力ラッチ回路とを
含む。このシステムはまたアドレス情報を受取るための
かつメモリ場所、すなわちタイミング信号制御回路によ
り与えられるタイミング信号にまた応答する入力ラッチ
に後でアドレス情報を与えるめの入力ラッチ回路をを利
に含んでも構わない。第2のタイミング信号に応答する
シーケンサ回路が含まれかつメモリ回路にメモリ配列で
アドレスされるようにメモリ場所のシーケンスに対応す
るそれぞれのアドレス信号のシーケンスを与える。
このように、この発明の集積電子メモリ回路は、内部で
書込み可能化信号を発生しメモリ配列が配列に入力デー
タを書込むことを引き起こす書込み信号ジェネレータ回
路を含む。書込み信号ジェネレータ回路の提供は高速度
メモリにとっては困難な仕事となり得る外部書込み可能
化信号の発生という仕事を引き受けることからユーザを
実質的に解放する。
書込み可能化信号を発生しメモリ配列が配列に入力デー
タを書込むことを引き起こす書込み信号ジェネレータ回
路を含む。書込み信号ジェネレータ回路の提供は高速度
メモリにとっては困難な仕事となり得る外部書込み可能
化信号の発生という仕事を引き受けることからユーザを
実質的に解放する。
この発明の電子メモリシステムはどちらかのラッチがあ
たかもそれがレジスタであるかのように機能するように
され得る多目的システムである。
たかもそれがレジスタであるかのように機能するように
され得る多目的システムである。
さらに、2つのラッチは単一のレジスタとして働くよう
に組合わされ得る。このように、このシステムはラッチ
ベースのシステムとレジスタベースのシステム双方に適
用可能である。さらに、このシステムは単一レベルおよ
び二重レベル双方のパイプライン動作技術を使用し得る
。
に組合わされ得る。このように、このシステムはラッチ
ベースのシステムとレジスタベースのシステム双方に適
用可能である。さらに、このシステムは単一レベルおよ
び二重レベル双方のパイプライン動作技術を使用し得る
。
この発明のこれらおよび他の特徴および利点は添付の図
面に例示されるようにそこの例示の実施例の下記の説明
から一層明らかとなるであろう。
面に例示されるようにそこの例示の実施例の下記の説明
から一層明らかとなるであろう。
この発明の目的および利点は添付の図面とともに次の詳
細な説明から当業者には明らかとなるであろう。
細な説明から当業者には明らかとなるであろう。
好ましい実施例の詳細な説明
この発明は新規な集積電子メモリ回路および新規な電子
メモリシステムを含む。次の説明は発明を実施するため
に発明者により目下熟考されている最良のモードを例示
するために与えられる。この説明はいずれの当業者もこ
の発明を作りかつ使用するのを可能にし、かつ特定の適
用およびそれらの必要という状況で提供される。好まし
い実施例に対する種々の修正は当業者には容易に明らか
となり、かつここに規定される一般的な原理はこの発明
の精神および範囲から逸脱することなしに別な実施例お
よび適用に応用されても構わない。
メモリシステムを含む。次の説明は発明を実施するため
に発明者により目下熟考されている最良のモードを例示
するために与えられる。この説明はいずれの当業者もこ
の発明を作りかつ使用するのを可能にし、かつ特定の適
用およびそれらの必要という状況で提供される。好まし
い実施例に対する種々の修正は当業者には容易に明らか
となり、かつここに規定される一般的な原理はこの発明
の精神および範囲から逸脱することなしに別な実施例お
よび適用に応用されても構わない。
このように、この発明は示された実施例に制限されるこ
とを意図されていないが、ここに開示された原理および
特徴と一致する最も広い範囲に従っているべきである。
とを意図されていないが、ここに開示された原理および
特徴と一致する最も広い範囲に従っているべきである。
集積電子メモリ回路
第1図を参照すると、この発明の第1の集積電子メモリ
回路20を含む第1の実施例の例示の概略図が示されて
いる。第1の電子メモリ回路20はランダムアクセスメ
モリ配列22を含む。配列22は文字Aにより集合的に
示される10個のアドレス端子、文字Qにより集合的に
示される4個の出力端子、文字りにより集合的に示され
る4個の入力端子および文字WEにより示される1個の
端子を含む。第1のラッチ回路24はA 1 o−sと
示されるアドレス入力ラインによりランダムアクセスメ
モリ配列22のそれぞれのアドレス端子、Aと結合され
る。マルチプレクサ回路2BはQO−Jと表示されたそ
れぞれのラインによりランダムアクセスメモリ配列22
のデータ出力端子、Qに結合される。マルチプレクサ回
路26は順にM O−3と表示されたそれぞれのライン
により第2のラッチ回路28に結合される。第2のラッ
チ28はC0−5と示されたそれぞれのラインにより出
カバソファ回路30に結合される。出力バッファ回路3
0はDQo−3と表示されたノードに4個のそれぞれの
出力ラインを提供する。各それぞれの出力ラインは診断
レジスタ32に提供されるそれぞれの入力ライン10−
aに結合される。診断レジスタ32は2組のそれぞれの
分岐ラインにそれぞれの入力データ(へ号を与える。第
1の分岐ラインD 10−3はそこに1組の入力データ
信号を与えるためにマルチプレクサ回路26と結合され
、かつ第2の分岐ラインD20−aはランダムアクセス
メモリ配列22のそれぞれのD入力端子に結合される。
回路20を含む第1の実施例の例示の概略図が示されて
いる。第1の電子メモリ回路20はランダムアクセスメ
モリ配列22を含む。配列22は文字Aにより集合的に
示される10個のアドレス端子、文字Qにより集合的に
示される4個の出力端子、文字りにより集合的に示され
る4個の入力端子および文字WEにより示される1個の
端子を含む。第1のラッチ回路24はA 1 o−sと
示されるアドレス入力ラインによりランダムアクセスメ
モリ配列22のそれぞれのアドレス端子、Aと結合され
る。マルチプレクサ回路2BはQO−Jと表示されたそ
れぞれのラインによりランダムアクセスメモリ配列22
のデータ出力端子、Qに結合される。マルチプレクサ回
路26は順にM O−3と表示されたそれぞれのライン
により第2のラッチ回路28に結合される。第2のラッ
チ28はC0−5と示されたそれぞれのラインにより出
カバソファ回路30に結合される。出力バッファ回路3
0はDQo−3と表示されたノードに4個のそれぞれの
出力ラインを提供する。各それぞれの出力ラインは診断
レジスタ32に提供されるそれぞれの入力ライン10−
aに結合される。診断レジスタ32は2組のそれぞれの
分岐ラインにそれぞれの入力データ(へ号を与える。第
1の分岐ラインD 10−3はそこに1組の入力データ
信号を与えるためにマルチプレクサ回路26と結合され
、かつ第2の分岐ラインD20−aはランダムアクセス
メモリ配列22のそれぞれのD入力端子に結合される。
書込み信号ジェネレータ回路34はライン36により配
列22のWE端子に結合される。NANDゲート38の
出力端子は書込み信号ジェネレータ回路34と結合され
る。
列22のWE端子に結合される。NANDゲート38の
出力端子は書込み信号ジェネレータ回路34と結合され
る。
第1の集積電子メモリ回路20は回路20のピン端子と
システムの種々のエレメントの間に伸びる入力ラインを
さらに含む。これらのラインは第1図に描かれており、
かつ種々のエレメントの機能を制御する際のその動作は
第1の回路20の動作の機能的な説明ととも後で説明さ
れるであろう。
システムの種々のエレメントの間に伸びる入力ラインを
さらに含む。これらのラインは第1図に描かれており、
かつ種々のエレメントの機能を制御する際のその動作は
第1の回路20の動作の機能的な説明ととも後で説明さ
れるであろう。
目下好ましい実施例において、ランダムアクセスメモリ
配列20は1024個の4ビツトバイトの2進データを
ストアするために適合されるIK×4配列である。しか
しながら、たとえば、4に×4のような異なるメモリ密
度を有するメモリ配列が組み入れられ得て、かつ集積電
子メモリ回路の他の要素はこの発明の精神および範囲か
ら逸脱することなしにそのようなメモリ配列へのおよび
そこからの信号を処理するために相応して修正され得る
ということが認められるであろう。
配列20は1024個の4ビツトバイトの2進データを
ストアするために適合されるIK×4配列である。しか
しながら、たとえば、4に×4のような異なるメモリ密
度を有するメモリ配列が組み入れられ得て、かつ集積電
子メモリ回路の他の要素はこの発明の精神および範囲か
ら逸脱することなしにそのようなメモリ配列へのおよび
そこからの信号を処理するために相応して修正され得る
ということが認められるであろう。
第1のラッチ24はA2o−9と表示されたラインでア
ドレス信号を受取る。信号LlがHIGHであるとき、
第1のラッチは透明であり、かつ第1のアドレス信号は
ランダムアクセスメモリ配列22のA端子に与えるため
に第1のラッチ24を介してラインA 10−9へと通
過するであろう。LIがLOWのとき第1のラッチ24
はラインA20−9でのアドレス信号のいずれの変化も
無視し、かつランダムアクセスメモリ配列22のアドレ
ス端子、Aはそのような変化により影響を受けないまま
である。このように、LlがLOWであるとき、先にラ
ッチされたアドレスフィールドはアドレス端子、Aで存
続し、かつLlがHIGHであるとき、第1のラッチ2
4はアドレス端子、AにラインA 10−9で新しい1
0ビツトアドレスフイールドを提供する。ランダムアク
セスメモリ配列22は配列22で1024個のメモリ場
所のうち1つを選択するために当業者には公知の態様で
アドレスフィールドをデコードする。
ドレス信号を受取る。信号LlがHIGHであるとき、
第1のラッチは透明であり、かつ第1のアドレス信号は
ランダムアクセスメモリ配列22のA端子に与えるため
に第1のラッチ24を介してラインA 10−9へと通
過するであろう。LIがLOWのとき第1のラッチ24
はラインA20−9でのアドレス信号のいずれの変化も
無視し、かつランダムアクセスメモリ配列22のアドレ
ス端子、Aはそのような変化により影響を受けないまま
である。このように、LlがLOWであるとき、先にラ
ッチされたアドレスフィールドはアドレス端子、Aで存
続し、かつLlがHIGHであるとき、第1のラッチ2
4はアドレス端子、AにラインA 10−9で新しい1
0ビツトアドレスフイールドを提供する。ランダムアク
セスメモリ配列22は配列22で1024個のメモリ場
所のうち1つを選択するために当業者には公知の態様で
アドレスフィールドをデコードする。
マルチプレクサ回路26はM o d e信号、Mの状
態に依存してラインQo−aでのデータ出力信号かまた
は第1の分岐ラインDIO−sでのデータ入力信号のい
ずれかを選択する。MがLOWであるとき、ラインQo
−aでの出力データ信号が選択され、かつMがHIGH
であるとき、第1の分岐ラインDIO−sでのデータ入
力信号が選択される。
態に依存してラインQo−aでのデータ出力信号かまた
は第1の分岐ラインDIO−sでのデータ入力信号のい
ずれかを選択する。MがLOWであるとき、ラインQo
−aでの出力データ信号が選択され、かつMがHIGH
であるとき、第1の分岐ラインDIO−sでのデータ入
力信号が選択される。
第2のラッチ28の動作は実質的にはLO倍信号状態に
より制御される。信号LOがHIGHであるとき、第2
のラッチ28は透明となりがつラインco−3を介して
出力バッファ回路30ヘマルチプレクサラインMO−a
でのデータ信号を伝送する。信号LOがLOWであると
き、第2のラッチ28は実質的に一定であるラインCO
−aでの先にラッチされた信号を保持し、ラインMoっ
での信号のいずれの変化をも無視する。
より制御される。信号LOがHIGHであるとき、第2
のラッチ28は透明となりがつラインco−3を介して
出力バッファ回路30ヘマルチプレクサラインMO−a
でのデータ信号を伝送する。信号LOがLOWであると
き、第2のラッチ28は実質的に一定であるラインCO
−aでの先にラッチされた信号を保持し、ラインMoっ
での信号のいずれの変化をも無視する。
診断レジスタ32の動作は実質的にデータクロック、D
Kにより制御される。診断レジスタ32はラインSDで
直列の様式でデータ入力信号ビットを受取り得るかまた
はライン10−sで並列の様式でデー・少入力ビットを
受取り得る。
Kにより制御される。診断レジスタ32はラインSDで
直列の様式でデータ入力信号ビットを受取り得るかまた
はライン10−sで並列の様式でデー・少入力ビットを
受取り得る。
ノードDQo−aは双方向性があるということが認めら
れるであろう。出力バッファ3oが可能化されると、出
力信号は゛ラインco−3を介して与えられ得る。その
代わりに、出力バッファ3oが不能化されると、データ
入力信号ビットはラインl0−aを介して並列の様式で
診断レジスタ32に与えられ得る。LO倍信号受取るた
めにかつ同期出力可能化信号、Gsを受取るために結合
される出力可能化ラッチ40は出力バッファ回路30に
、下により十分に説明されるように、出力バッフ7回路
30が可能化されるかまたは不能化されるかどうかを決
定するライン42での制御信号を与える。
れるであろう。出力バッファ3oが可能化されると、出
力信号は゛ラインco−3を介して与えられ得る。その
代わりに、出力バッファ3oが不能化されると、データ
入力信号ビットはラインl0−aを介して並列の様式で
診断レジスタ32に与えられ得る。LO倍信号受取るた
めにかつ同期出力可能化信号、Gsを受取るために結合
される出力可能化ラッチ40は出力バッファ回路30に
、下により十分に説明されるように、出力バッフ7回路
30が可能化されるかまたは不能化されるかどうかを決
定するライン42での制御信号を与える。
ラインSDから直列の様式で診断レジスタ32をロード
するために、MはLOWでなければならず、その場合、
診断レジスタ32はデータクロック信号、DKの立上が
り端縁で直列にデータをシフトする。信号DKの第1の
前縁でSDで入ってくるデータビットは信号DKのさら
に3つの前縁の後でSQで診断レジスタ32から現われ
るであろう。
するために、MはLOWでなければならず、その場合、
診断レジスタ32はデータクロック信号、DKの立上が
り端縁で直列にデータをシフトする。信号DKの第1の
前縁でSDで入ってくるデータビットは信号DKのさら
に3つの前縁の後でSQで診断レジスタ32から現われ
るであろう。
その代わりに、データ入力信号ビットは第2のラッチ2
8からライン10−aで並列の様式で診断レジスタ32
にロードされ得る。この動作は信号MがHIGHである
こと、SD大入力LOWであること、および信号σ、が
前のサイクルで自゛効なLOストローブから生じること
を必要とする。これらの条件が存在するときは、信号D
Kの立上がり端縁は第2のラッチ28の内容が診断レジ
スタ32にロードされることを引き起こす。
8からライン10−aで並列の様式で診断レジスタ32
にロードされ得る。この動作は信号MがHIGHである
こと、SD大入力LOWであること、および信号σ、が
前のサイクルで自゛効なLOストローブから生じること
を必要とする。これらの条件が存在するときは、信号D
Kの立上がり端縁は第2のラッチ28の内容が診断レジ
スタ32にロードされることを引き起こす。
さらに別の代替案では、データ入力信号ビットはライン
10−sでノードDQo−aから並列の様式で診断レジ
スタ32ヘロードされ得る。ノードDQo−aからの診
断レジスタ320ロード動作を達成するために信号Mは
HIGHでなければならず、SDはLOWでなければな
らず、かつ前のサイクルで有効なLOストローブから生
じる信号G、はHIGHでなければならず、これらの条
件が存在するとき、データ入力信号ビットは信号DKの
立上がり端縁での診断レジスタ32ヘライン10−aで
並列の様式でロードされるであろう。
10−sでノードDQo−aから並列の様式で診断レジ
スタ32ヘロードされ得る。ノードDQo−aからの診
断レジスタ320ロード動作を達成するために信号Mは
HIGHでなければならず、SDはLOWでなければな
らず、かつ前のサイクルで有効なLOストローブから生
じる信号G、はHIGHでなければならず、これらの条
件が存在するとき、データ入力信号ビットは信号DKの
立上がり端縁での診断レジスタ32ヘライン10−aで
並列の様式でロードされるであろう。
第1の分岐ラインDIO−,を介してマルチプレクサ回
路26へ並列にその内容をロードし得ることに加えて、
診断レジスタ32はその代わりとして第2の分岐ライン
D2o−3を介してランダムアクセスメモリ配列22に
その内容をロードし得る。
路26へ並列にその内容をロードし得ることに加えて、
診断レジスタ32はその代わりとして第2の分岐ライン
D2o−3を介してランダムアクセスメモリ配列22に
その内容をロードし得る。
第2の分岐ラインD 20−sを介して診断レジスタ3
2からランダムアクセスメモリ配列22へのデータ入力
信号のロード動作を達成するために、信号MおよびSD
の双方がHIGHでなければならない。これらの条件が
存在するとき、診断レンジスタ32はDKの立上がり端
縁でランダムアクセスメモリ配列22にその内容をロー
ドする。診断レジスタ32からのデータビットが書込ま
れる配列22でのメモリ場所はメモリ配列22の端子、
Aにアドレスするために提供される10ビツトアドレス
フイールドにより決定される。
2からランダムアクセスメモリ配列22へのデータ入力
信号のロード動作を達成するために、信号MおよびSD
の双方がHIGHでなければならない。これらの条件が
存在するとき、診断レンジスタ32はDKの立上がり端
縁でランダムアクセスメモリ配列22にその内容をロー
ドする。診断レジスタ32からのデータビットが書込ま
れる配列22でのメモリ場所はメモリ配列22の端子、
Aにアドレスするために提供される10ビツトアドレス
フイールドにより決定される。
第3図の論理図を参照すると、破線内に書込み信号ジェ
ネレータ34の詳細が示されている。書込み信号ジェネ
レータ34は第1のゲート90および第2のゲート92
を含み、各々はそれぞれデータクロック信号、DKを受
取るために結合される。第1のゲート90は遅延ライン
94に結合される出力端子を含み、かつ遅延ライン94
はラインXによりORゲート96の第1の入力端子に結
合される出力端子を含む。第2のゲート92はラインY
によりORゲート96の第2の入力端子に結合される出
力端子を含む。NANDゲート38はラインZによりO
Rゲート96の第3の入力端子に結合される。
ネレータ34の詳細が示されている。書込み信号ジェネ
レータ34は第1のゲート90および第2のゲート92
を含み、各々はそれぞれデータクロック信号、DKを受
取るために結合される。第1のゲート90は遅延ライン
94に結合される出力端子を含み、かつ遅延ライン94
はラインXによりORゲート96の第1の入力端子に結
合される出力端子を含む。第2のゲート92はラインY
によりORゲート96の第2の入力端子に結合される出
力端子を含む。NANDゲート38はラインZによりO
Rゲート96の第3の入力端子に結合される。
遅延ライン94は連続するゲート(示されていない)を
含む公知の装置であり、その各々は第1のゲート90に
類似している。遅延ライン94を含むゲートの数および
型式は第1のゲート90の出力端子で与えられる信号が
ORゲートの第1の入力端子でのラインXでのそれらの
出現の前に所望の時間の間遅延されるであろうように当
業者には公知である態様で選択される。
含む公知の装置であり、その各々は第1のゲート90に
類似している。遅延ライン94を含むゲートの数および
型式は第1のゲート90の出力端子で与えられる信号が
ORゲートの第1の入力端子でのラインXでのそれらの
出現の前に所望の時間の間遅延されるであろうように当
業者には公知である態様で選択される。
メモリ配列22は書込み可能化信号WEがLOWである
とき、診断レジスタ32により第2の分岐ラインD2o
、で与えられる入力データを書込むために可能化される
。このように、第3図の論理図から、ラインX、Yおよ
びZでの信号はすべて書込み可能化信号W1が入力デー
タがメモリ配列22に書込まれるようにLOWの状態で
あるためにLOWでなければならないということが認め
られるであろう。
とき、診断レジスタ32により第2の分岐ラインD2o
、で与えられる入力データを書込むために可能化される
。このように、第3図の論理図から、ラインX、Yおよ
びZでの信号はすべて書込み可能化信号W1が入力デー
タがメモリ配列22に書込まれるようにLOWの状態で
あるためにLOWでなければならないということが認め
られるであろう。
書込み信号ジェネレータ34の動作は第4図のタイミン
グ動作図を参照することにより、より一層理解されるで
あろう。時間間隔ttは遅延ライン94により導入され
る時間遅延の長さを表わす。
グ動作図を参照することにより、より一層理解されるで
あろう。時間間隔ttは遅延ライン94により導入され
る時間遅延の長さを表わす。
信号DKがLOWであるその時間の間、WE倍信号第2
のゲート92がインバータとして動作しかつラインYで
HIGH信号を与えるのでHIG)Iである。しかしな
がらDK信号がHIGH状態へ遷移するとき、WE倍信
号LOW状態へ遷移しかつ1clに等しい時間の間LO
W状態に留まり、そうするとそれはラインXでのHIG
H信号の到来によりHIC;H状態へ遷移する。ライン
XでのHIGH信号の到来は、もちろん、遅延ライン9
4の動作のせいでt〆に等しい時間の間遅延される。
のゲート92がインバータとして動作しかつラインYで
HIGH信号を与えるのでHIG)Iである。しかしな
がらDK信号がHIGH状態へ遷移するとき、WE倍信
号LOW状態へ遷移しかつ1clに等しい時間の間LO
W状態に留まり、そうするとそれはラインXでのHIG
H信号の到来によりHIC;H状態へ遷移する。ライン
XでのHIGH信号の到来は、もちろん、遅延ライン9
4の動作のせいでt〆に等しい時間の間遅延される。
LOW状態のWE倍信号ラインZでの信号がまたLOW
状態にあるときのみ起こるということ、および第5図に
例示された全時間間隔の間、ラインZでの信号は実際に
LOW状態であるということが推測されるということが
認められるであろう。
状態にあるときのみ起こるということ、および第5図に
例示された全時間間隔の間、ラインZでの信号は実際に
LOW状態であるということが推測されるということが
認められるであろう。
このように、NANDゲート38へのMおよびSD信号
入力はまたWE倍信号状態の制御の一因となっている。
入力はまたWE倍信号状態の制御の一因となっている。
したがって、MおよびSD倍信号入力データ信号が信号
DKの状態とは無関係に、診断レジスタ32によりメモ
リ配列22に第2の分岐ラインD20−sで与えられる
べきであるときのみWE倍信号LOW状態にあるように
与えられ得る。
DKの状態とは無関係に、診断レジスタ32によりメモ
リ配列22に第2の分岐ラインD20−sで与えられる
べきであるときのみWE倍信号LOW状態にあるように
与えられ得る。
このように、新規な書込み信号ジェネレータ34は規定
された時間を特徴とするLOW状態書込み可能化信号W
Eを有利に与える。目下の好ましい実施例の規定された
時間は、遅延ライン94により導入される時間の遅延と
実質的に等しい時間期間を有する。さらに、LOW状態
の書込み可能化信号WEは適当なMおよびSD倍信号、
たとえば診断レジスタ32からの入力データがメモリ配
列22に書込まれる準備かできているときのように、N
ANDゲート38に与えられるときのみ与えられるであ
ろう。
された時間を特徴とするLOW状態書込み可能化信号W
Eを有利に与える。目下の好ましい実施例の規定された
時間は、遅延ライン94により導入される時間の遅延と
実質的に等しい時間期間を有する。さらに、LOW状態
の書込み可能化信号WEは適当なMおよびSD倍信号、
たとえば診断レジスタ32からの入力データがメモリ配
列22に書込まれる準備かできているときのように、N
ANDゲート38に与えられるときのみ与えられるであ
ろう。
それゆえ、ユーザは適当なりK信号およびMおよびSD
倍信号与えることだけが必要となる。書込み信号ジェネ
レータ34は内部でLOW状態の薄1信号を発生する。
倍信号与えることだけが必要となる。書込み信号ジェネ
レータ34は内部でLOW状態の薄1信号を発生する。
遅延ライン94により導入される時間遅延の長さはLO
W状態のWで信号の時間がメモリ配列22へ入力データ
を書込むのに・必要な時間と実質的に等しいように有利
に選択され得る。このように、メモリ配列22の高速度
動作の間のデータの読出しおよびラインQ o−aでの
出力データ信号としてのその提供は配列22へのデータ
の書込みのために遮断により過度には遅延されず、かつ
ユーザはそのような高速度動作を可能にする比較的短い
LOW状態のWE倍信号発生するという比較的困難な仕
事を自分で引き受ける必要はない。
W状態のWで信号の時間がメモリ配列22へ入力データ
を書込むのに・必要な時間と実質的に等しいように有利
に選択され得る。このように、メモリ配列22の高速度
動作の間のデータの読出しおよびラインQ o−aでの
出力データ信号としてのその提供は配列22へのデータ
の書込みのために遮断により過度には遅延されず、かつ
ユーザはそのような高速度動作を可能にする比較的短い
LOW状態のWE倍信号発生するという比較的困難な仕
事を自分で引き受ける必要はない。
下の真理値表第1表および第■表は第1の集積電子メモ
リ回路20の動作を要約している。第1表はLO倍信号
より制御される回路動作を例示し、かつ第n表はDK倍
信号より制御される動作を例示している。
リ回路20の動作を要約している。第1表はLO倍信号
より制御される回路動作を例示し、かつ第n表はDK倍
信号より制御される動作を例示している。
次の表象は真理値表に属するものであり、H−HIGH
,L−LOW、X−無視せよ、PP−正パルス、LHT
−ローからノ1イへの遷移である。
,L−LOW、X−無視せよ、PP−正パルス、LHT
−ローからノ1イへの遷移である。
(以下余白)
第1表
LOM Gs DQo−3動作
PP L L 可能化 メモリ配列から第2の
PP L H不能化 ラッチをロードせよPP
HL 可能化 診断レジスタから第2PP HH
不能化 のラッチをロードせよ第■表 DKMSD璽 動作 LHTHHX メモリ配列に書込めLHTLXX
診断レジスタを右ヘシフトせよ (SD−3o→5l−32→S3 →5Q) LHTHLL 第2のラッチから診断レジスタをロ
ードせよ LHT HL HDQo−3から診断レジスタを
ロードせよ 第2図の例示の図面を参照すると、この発明の第2の集
積電子メモリ回路44を例示する第2の実施例の概略図
が示されている。第2の回路44の構成要素の多くが実
質的には第1の回路20のそれと同一であるということ
が認められるであろう。したがって、実質的に第1の回
路20のそれらと同一である第2の回路44の要素は第
1の回路20の対応する要素のそれと同一であるダッシ
ュを付した参照番号により示される。第2の回路44の
説明は第1の回路20とは実質的に異なる詳細に制限さ
れる。
PP L H不能化 ラッチをロードせよPP
HL 可能化 診断レジスタから第2PP HH
不能化 のラッチをロードせよ第■表 DKMSD璽 動作 LHTHHX メモリ配列に書込めLHTLXX
診断レジスタを右ヘシフトせよ (SD−3o→5l−32→S3 →5Q) LHTHLL 第2のラッチから診断レジスタをロ
ードせよ LHT HL HDQo−3から診断レジスタを
ロードせよ 第2図の例示の図面を参照すると、この発明の第2の集
積電子メモリ回路44を例示する第2の実施例の概略図
が示されている。第2の回路44の構成要素の多くが実
質的には第1の回路20のそれと同一であるということ
が認められるであろう。したがって、実質的に第1の回
路20のそれらと同一である第2の回路44の要素は第
1の回路20の対応する要素のそれと同一であるダッシ
ュを付した参照番号により示される。第2の回路44の
説明は第1の回路20とは実質的に異なる詳細に制限さ
れる。
特に、第2の回路44は診断レジスタ32゛からの制御
入力信号を受取るために第3の分岐ラインD30aによ
り結合される初期化記憶レジスタ46を含む。初期化記
憶レジスタ46はラインIRO3によりマルチプレクサ
回路48に結合される。初期化記憶レジスタ46は、診
断レジスタ32−と同様に、4つのデータビットを保持
し得る。
入力信号を受取るために第3の分岐ラインD30aによ
り結合される初期化記憶レジスタ46を含む。初期化記
憶レジスタ46はラインIRO3によりマルチプレクサ
回路48に結合される。初期化記憶レジスタ46は、診
断レジスタ32−と同様に、4つのデータビットを保持
し得る。
しかしながら、もちろん、初期化記憶レジスタ46また
は診断レジスタ32′の双方の大きさは特定の適用の必
要に従って変えられ得る。データは診断レジスタ32−
から初期化記憶レジスタ46へ第3の分岐ラインD 3
0−sで並列の様式で伝送され得て、かつデータは初期
化記憶レジスタ46からマルチプレクサ48ヘラインI
RO,で並列の様式で伝送され得る。
は診断レジスタ32′の双方の大きさは特定の適用の必
要に従って変えられ得る。データは診断レジスタ32−
から初期化記憶レジスタ46へ第3の分岐ラインD 3
0−sで並列の様式で伝送され得て、かつデータは初期
化記憶レジスタ46からマルチプレクサ48ヘラインI
RO,で並列の様式で伝送され得る。
特に、信号MおよびSDの双方がHIGHでありかつ信
号1丁がLOWであるとき、診断レジスタ32゛の内容
物はクロック信号DKのLOWからHIGHへの端縁で
第3の分岐ラインD30−aで提供されるであろう。そ
の代わりに、信号MおよびIsの双方がLOWであると
き、切期化記憶レジスタ46の内容物はラインIRo、
で提供されかつラインMO−aヘマルチプレクサ48を
介して通過させられかつLO倍信号HIGHパルスが発
生すると第2のラッチ28−ヘロードされるであろう。
号1丁がLOWであるとき、診断レジスタ32゛の内容
物はクロック信号DKのLOWからHIGHへの端縁で
第3の分岐ラインD30−aで提供されるであろう。そ
の代わりに、信号MおよびIsの双方がLOWであると
き、切期化記憶レジスタ46の内容物はラインIRo、
で提供されかつラインMO−aヘマルチプレクサ48を
介して通過させられかつLO倍信号HIGHパルスが発
生すると第2のラッチ28−ヘロードされるであろう。
第3の入力信号、Is倍信号N1およびSD入カに加え
てNANDゲート38′へ与えられるが、他の点で、そ
の動作はNANDゲート38に対し先に説明されたもの
に類似している。
てNANDゲート38′へ与えられるが、他の点で、そ
の動作はNANDゲート38に対し先に説明されたもの
に類似している。
第2の実施例44はまた出力バッファ回路30゛に結合
される出力端子を有するOR論理ゲート50を含む。O
R論理ゲート5oは出力可能化ラッチ40″を介し同期
可能化信号で芽を受成りかつその別な入力端子で非同期
可能化信号でを受取る。
される出力端子を有するOR論理ゲート50を含む。O
R論理ゲート5oは出力可能化ラッチ40″を介し同期
可能化信号で芽を受成りかつその別な入力端子で非同期
可能化信号でを受取る。
初期化記憶レジスタ46および非同期可能化信号Gの付
加は回路44のピン端子とシステムの種々の要素との間
に延びる種々のラインにいくつかの修正を必要とする。
加は回路44のピン端子とシステムの種々の要素との間
に延びる種々のラインにいくつかの修正を必要とする。
これらの修正は第2図の図面および先の説明から明らか
でありかっここでさらに説明されることは必要ではない
。
でありかっここでさらに説明されることは必要ではない
。
下の真理値表の第■表および第■表は第2の集積電子メ
モリ回路44の動作を要約している。第■表はLO倍信
号より制御される回路動作を例示しかつ第■表はDK倍
信号より制御される回路動作を例示している。
モリ回路44の動作を要約している。第■表はLO倍信
号より制御される回路動作を例示しかつ第■表はDK倍
信号より制御される回路動作を例示している。
第■表および第■表で用いられる表象は先の表のものと
同じである。
同じである。
第■表
LO% T¥L″L DQO3動作
PPLLLL 可能化 初期化レジスPPXLLI
+ 不能化 夕がら第2のラッチをロー ドせよ PPLIILL 可能化 メモリ配列がPPXHL
H不能化 ら第2のラッ チをロードせ よ PPLXHL 可能化 診断レジスタPPXXHH
不能化 から第2のラ ッチをロード せよ X II X X X 不能化 出
力は不能化される 第■表 DKMSDG、 動作 LHTHHXI百−Hのとき診断レ ジスタから配列へ書込 め l5−Lのとき診断レ ジスタから初期化レジ スタへ書込め LHTLXX 診断レジスタをシフトせよ (SD−4SO→5t−82→S3 −5Q) LHTHLL 第2のラッチから診断レジスタをロ
ードせよ (て−し、出力は可能 化される) LHT HL HDQo−sから診断レジスタを
ロードせよ(G −X) この実施例20.44の集積電子メモリ回路はデータ入
力信号が配列22.22−または第2のラッチ28.2
8′に与えられ得てかつ配列22.22′または第2の
ラッチ2g、2g−により与えられる結果として生じる
出力信号が診断目的のためにサンプリングされ得るよう
に、ランダムアクセスメモリ配列22.22−からのデ
ータの流れの正常な単一の経路を破壊するために用いら
れ得る診断レジスタ32.32″を有利に提供する。
+ 不能化 夕がら第2のラッチをロー ドせよ PPLIILL 可能化 メモリ配列がPPXHL
H不能化 ら第2のラッ チをロードせ よ PPLXHL 可能化 診断レジスタPPXXHH
不能化 から第2のラ ッチをロード せよ X II X X X 不能化 出
力は不能化される 第■表 DKMSDG、 動作 LHTHHXI百−Hのとき診断レ ジスタから配列へ書込 め l5−Lのとき診断レ ジスタから初期化レジ スタへ書込め LHTLXX 診断レジスタをシフトせよ (SD−4SO→5t−82→S3 −5Q) LHTHLL 第2のラッチから診断レジスタをロ
ードせよ (て−し、出力は可能 化される) LHT HL HDQo−sから診断レジスタを
ロードせよ(G −X) この実施例20.44の集積電子メモリ回路はデータ入
力信号が配列22.22−または第2のラッチ28.2
8′に与えられ得てかつ配列22.22′または第2の
ラッチ2g、2g−により与えられる結果として生じる
出力信号が診断目的のためにサンプリングされ得るよう
に、ランダムアクセスメモリ配列22.22−からのデ
ータの流れの正常な単一の経路を破壊するために用いら
れ得る診断レジスタ32.32″を有利に提供する。
新規な書込み信号ジェネレータ34.34゛は先に説明
されたように、診断レジスタ32から配列へデータを書
込むのに必要とされる時間に実質的に等しい規定された
時間を有するLOW状態のWE倍信号内部で発生し得る
。もちろん、書込み信号ジェネレータ34.34゛はH
IGH状態のWE倍信号提供の間にデータを書込む代替
のメモリ配列(示されていない)を用いた使用のための
非常に短いHIGH状態のWE倍信号与えるために修正
され得る。
されたように、診断レジスタ32から配列へデータを書
込むのに必要とされる時間に実質的に等しい規定された
時間を有するLOW状態のWE倍信号内部で発生し得る
。もちろん、書込み信号ジェネレータ34.34゛はH
IGH状態のWE倍信号提供の間にデータを書込む代替
のメモリ配列(示されていない)を用いた使用のための
非常に短いHIGH状態のWE倍信号与えるために修正
され得る。
さらに、第2の回路44はたとえば、回路での予期され
ない故障という事象に際しアクセスされ得る4つのデー
タビットをストアし得る初期化記憶レジスタ46を含む
。初期化記憶レジスタ46にストアされるデータビット
は、たとえば、回路44に結合されかつランダムアクセ
スメモリ配列22−にストアされるデータを用いるコン
ピュータ(示されていない)に別なメモリ回路(示され
ていない)ヘジャンブするよう指示するために用いられ
得る。
ない故障という事象に際しアクセスされ得る4つのデー
タビットをストアし得る初期化記憶レジスタ46を含む
。初期化記憶レジスタ46にストアされるデータビット
は、たとえば、回路44に結合されかつランダムアクセ
スメモリ配列22−にストアされるデータを用いるコン
ピュータ(示されていない)に別なメモリ回路(示され
ていない)ヘジャンブするよう指示するために用いられ
得る。
電子メモリシステム
第5図の例示のブロック図を参照すると、この発明の目
下の好ましい電子メモリアクセスシステム52が示され
ている。システム52はECL論理技術を用いて構成さ
れておりかつ破線54内に囲まれている集積電子メモリ
回路を含む。集積電子メモリ回路はライン58でメモリ
配列60に10ピントのアドレス信号を与えるための第
1のラッチ56を含む。たとえば、メモリ配列60は先
に説明されたようなランダムアクセスメモリかまたはリ
ードオンリメモリであり得る。この回路はまたライン6
4でメモリ配列60から4ビツトの出力データ信号を受
取るための第2のラッチ62を含む。
下の好ましい電子メモリアクセスシステム52が示され
ている。システム52はECL論理技術を用いて構成さ
れておりかつ破線54内に囲まれている集積電子メモリ
回路を含む。集積電子メモリ回路はライン58でメモリ
配列60に10ピントのアドレス信号を与えるための第
1のラッチ56を含む。たとえば、メモリ配列60は先
に説明されたようなランダムアクセスメモリかまたはリ
ードオンリメモリであり得る。この回路はまたライン6
4でメモリ配列60から4ビツトの出力データ信号を受
取るための第2のラッチ62を含む。
ECLシーケンサ66はライン68で第1のラッチ56
に結合されかつ演算論理装置(ALU)70はライン7
2で第2のラッチ62に結合される。ECLプログラム
可能事象ジェネレータ74はライン76でシーケンサ6
6およびALU70にクロックパルス信号、CPを与え
、かつそれはライン78で第1のラッチ56にLl信号
をかつライン80で第2のラッチ62にLO倍信号与え
る。
に結合されかつ演算論理装置(ALU)70はライン7
2で第2のラッチ62に結合される。ECLプログラム
可能事象ジェネレータ74はライン76でシーケンサ6
6およびALU70にクロックパルス信号、CPを与え
、かつそれはライン78で第1のラッチ56にLl信号
をかつライン80で第2のラッチ62にLO倍信号与え
る。
現r〔の好ましい実施例において、システム52はEC
L論理を用いて実現される。しかしながら、TTL論理
のような他の論理群を用いた実現も可能である。
L論理を用いて実現される。しかしながら、TTL論理
のような他の論理群を用いた実現も可能である。
動作において、ECLプログラム可能事象ジェネレータ
74はクロックパルス信号CP1およびLlおよびLO
倍信号与える。第6図、第7図および第8図はELプロ
グラム可能事象ジェネレータフ4およびその動作の詳細
を例示している。プログラム可能事象ジェネレータ74
は一般に数字98により示される上部セクションおよび
一般に数字100により示される実質的には類似の下部
セクションを含む。これらのセクション98および10
0は破線102に関して実質的には対称である。上部お
よび下部セクション98および100はそれぞれ共通の
クロック制御回路104および8つの出力ブロック10
6(そのうちわずか1つのみが例示されている)を共有
する。それぞれ上部および下部のセクション98および
100は下により一層十分に説明されるように、1(、
と表示される1つのラインのような8つの別個の出力ラ
イン(そのうち1つのみが示されている)で8個の出力
信号波形だけ与えるために協力する。
74はクロックパルス信号CP1およびLlおよびLO
倍信号与える。第6図、第7図および第8図はELプロ
グラム可能事象ジェネレータフ4およびその動作の詳細
を例示している。プログラム可能事象ジェネレータ74
は一般に数字98により示される上部セクションおよび
一般に数字100により示される実質的には類似の下部
セクションを含む。これらのセクション98および10
0は破線102に関して実質的には対称である。上部お
よび下部セクション98および100はそれぞれ共通の
クロック制御回路104および8つの出力ブロック10
6(そのうちわずか1つのみが例示されている)を共有
する。それぞれ上部および下部のセクション98および
100は下により一層十分に説明されるように、1(、
と表示される1つのラインのような8つの別個の出力ラ
イン(そのうち1つのみが示されている)で8個の出力
信号波形だけ与えるために協力する。
プログラム可能事象ジェネレータ74の次の機能的な説
明はその動作の短い概観で始まる。マツピングPROM
I 08および110はそれぞれの状態マシンPROM
I 12および114でメモリ場所をポイントする2進
ポインタワードをストアする。上部マツピングPROM
108は4個の5ビツトポインタワードをストアし得て
、かつ下部マツピングFROMI 10は8個の5ビツ
トポインタワードをストアし得る。各それぞれの状態マ
シンPROMI 12および114は32個の14とッ
トワードをストアし得る。14ビツトのうち8ビツトは
タイミング波形出力として用いられ、5ビツトはそれぞ
れの状態マシンFROMで次のアドレス場所を選択する
ために用いられ、かつ1ビツトはストップ信号ビットと
して用いられる。
明はその動作の短い概観で始まる。マツピングPROM
I 08および110はそれぞれの状態マシンPROM
I 12および114でメモリ場所をポイントする2進
ポインタワードをストアする。上部マツピングPROM
108は4個の5ビツトポインタワードをストアし得て
、かつ下部マツピングFROMI 10は8個の5ビツ
トポインタワードをストアし得る。各それぞれの状態マ
シンPROMI 12および114は32個の14とッ
トワードをストアし得る。14ビツトのうち8ビツトは
タイミング波形出力として用いられ、5ビツトはそれぞ
れの状態マシンFROMで次のアドレス場所を選択する
ために用いられ、かつ1ビツトはストップ信号ビットと
して用いられる。
各それぞれの出力ブロック106はそれぞれの状態マシ
ンPROMI 12または114により与えられる波形
信号、それぞれのカウンタ回路136または136″に
より与えられる低い方の分解能波形信号、それぞれの調
整論理回路140または140゛により与えられる高い
方の分解能波形信号、またはこれらの信号の成る組合わ
せのいずれかを選択するためにプログラムされる。出力
信号波形は選択された信号から引出されかつラインto
のような出力ラインで与えられる。
ンPROMI 12または114により与えられる波形
信号、それぞれのカウンタ回路136または136″に
より与えられる低い方の分解能波形信号、それぞれの調
整論理回路140または140゛により与えられる高い
方の分解能波形信号、またはこれらの信号の成る組合わ
せのいずれかを選択するためにプログラムされる。出力
信号波形は選択された信号から引出されかつラインto
のような出力ラインで与えられる。
特に、2進信号は上部マツピングFROMIO8で4つ
の可能な2進ポインタワードのうち1つを選択するため
にラインPoおよびP、で上部ラッチ116に与えられ
る。同様に、2進信号は下部マツピングFROMI 1
0で8つの可能な2進ポインタワードのうち1つを選択
するために下部ラッチ118にラインp2、p、および
P4で与えられる。ラインTRIG、でトリガ論理回路
120へ適切な信号が与えられると、アドレスビットP
oおよびP、は上部ラッチ116にラッチされ、かつ上
部マツピングFROMI O8で2進ポインタワードを
アドレスするために用いられる。
の可能な2進ポインタワードのうち1つを選択するため
にラインPoおよびP、で上部ラッチ116に与えられ
る。同様に、2進信号は下部マツピングFROMI 1
0で8つの可能な2進ポインタワードのうち1つを選択
するために下部ラッチ118にラインp2、p、および
P4で与えられる。ラインTRIG、でトリガ論理回路
120へ適切な信号が与えられると、アドレスビットP
oおよびP、は上部ラッチ116にラッチされ、かつ上
部マツピングFROMI O8で2進ポインタワードを
アドレスするために用いられる。
同様に、ライン”rRI 02でトリガ論理回路120
へ適切な信号が与えられると、アドレスビットP2、P
3およびP、は下部ラッチ回路118にラッチされかつ
下部マツピングFROMI 10で2進ポインタワード
をアドレスするために用いられる。マツピングPROM
I O8および110はそれぞれのマルチプレクサ12
6および126′にそれぞれのアドレスされた5ビツト
2進ポインタワードを提供する。
へ適切な信号が与えられると、アドレスビットP2、P
3およびP、は下部ラッチ回路118にラッチされかつ
下部マツピングFROMI 10で2進ポインタワード
をアドレスするために用いられる。マツピングPROM
I O8および110はそれぞれのマルチプレクサ12
6および126′にそれぞれのアドレスされた5ビツト
2進ポインタワードを提供する。
一般に上部セクション98を参照すると、制御論理回路
122はライン121によりトリガ論理回路120に結
合されている。それは制御ライン127によりマルチプ
レクサ126に結合されている。それはライン123お
よび134によりクロック制御回路に結合されている。
122はライン121によりトリガ論理回路120に結
合されている。それは制御ライン127によりマルチプ
レクサ126に結合されている。それはライン123お
よび134によりクロック制御回路に結合されている。
動作において、トリガ論理回路120は制御論理回路1
22に信号を与え、それがマツピングPROMI 26
により与えられる5ビツト2進ポインタワードを選択す
るようにかつ状態マシンFROM112に5ビットアド
レス信号としてワードを与えるようにマルチプレクサ1
26に指令を出すことを引き起こす。
22に信号を与え、それがマツピングPROMI 26
により与えられる5ビツト2進ポインタワードを選択す
るようにかつ状態マシンFROM112に5ビットアド
レス信号としてワードを与えるようにマルチプレクサ1
26に指令を出すことを引き起こす。
クロック回路104は当業者には公知である態様で下に
説明されているタイミング信号を発生し得る位相ロック
ループ発娠器(示されていない)を含む。クロック制御
回路104はライン133でトリガ論理回路120に対
してかつライン123で制御論理回路122に対してタ
イミング信号を与え、そのため制御論理回路122はラ
インP。およびPlで信号入力に応答してポインタワー
ドを発生するのに十分な時間を何するまで先に説明され
たようにマルチプレクサ126を可能化することを遅延
することが引き起こされる。
説明されているタイミング信号を発生し得る位相ロック
ループ発娠器(示されていない)を含む。クロック制御
回路104はライン133でトリガ論理回路120に対
してかつライン123で制御論理回路122に対してタ
イミング信号を与え、そのため制御論理回路122はラ
インP。およびPlで信号入力に応答してポインタワー
ドを発生するのに十分な時間を何するまで先に説明され
たようにマルチプレクサ126を可能化することを遅延
することが引き起こされる。
状態マシンFROM112はマルチプレクサ126から
アドレス信号を受取りかつレジスタ128への14ビッ
ト出力信号のシーケンスの提供を始める。一度シーケン
スが始まると、レジスタは状態マシンFROMI 12
より提供される各14ビツト2進ワードに対しマルチプ
レクサ126に5個のアドレスビットをフィードバック
する。制御論理回路122はそのシーケンスで次のアド
レスとして状態マシンFROM112にこの5ビツトア
ドレスワードを提供するようマルチプレクサ126に指
令する。そのシーケンスは状態マシンFROMI 12
がゲート回路130にライン129で論理レベル「1」
を特徴とするストップビットを提供するまで続く。下に
より十分に説明されるように、ライン131での信号は
普通は論理レベル「1」にある。ストップビットを受取
ると、ゲート回路130はライン132で制御論理回路
122に制御論理回路122が状態マシンFROM11
2にアドレス信号を与えるのをやめるようマルチプレク
サ126に指令することを引き起こす信号を与える。こ
のように、シーケンスは終結される。
アドレス信号を受取りかつレジスタ128への14ビッ
ト出力信号のシーケンスの提供を始める。一度シーケン
スが始まると、レジスタは状態マシンFROMI 12
より提供される各14ビツト2進ワードに対しマルチプ
レクサ126に5個のアドレスビットをフィードバック
する。制御論理回路122はそのシーケンスで次のアド
レスとして状態マシンFROM112にこの5ビツトア
ドレスワードを提供するようマルチプレクサ126に指
令する。そのシーケンスは状態マシンFROMI 12
がゲート回路130にライン129で論理レベル「1」
を特徴とするストップビットを提供するまで続く。下に
より十分に説明されるように、ライン131での信号は
普通は論理レベル「1」にある。ストップビットを受取
ると、ゲート回路130はライン132で制御論理回路
122に制御論理回路122が状態マシンFROM11
2にアドレス信号を与えるのをやめるようマルチプレク
サ126に指令することを引き起こす信号を与える。こ
のように、シーケンスは終結される。
その代わりとして、シーケンスはT RI G + と
表示されたラインでの適当な信号の提供により終結され
得る。トリガ論理回路120は次いでライン121で制
御論理回路122が状態マシンPROM112にアドレ
ス信号を伝送することをやめるようにマルチプレクサ1
26に指令することを引き起こす信号を与える。このよ
うに、シーケンスはストップビットの提供なしに終結さ
れ得る。
表示されたラインでの適当な信号の提供により終結され
得る。トリガ論理回路120は次いでライン121で制
御論理回路122が状態マシンPROM112にアドレ
ス信号を伝送することをやめるようにマルチプレクサ1
26に指令することを引き起こす信号を与える。このよ
うに、シーケンスはストップビットの提供なしに終結さ
れ得る。
レジスタ128は、先に説明されたように、所与のシー
ケンスで各段階に対し8つのレジスタ信号を与える。レ
ジスタ信号のうちの1つはカウンタ回路136に与えら
れる。さらに、各それぞれのレジスタ信号はそれぞれの
ゲート回路138(そのうち1つのみが示されている)
に与えられる。
ケンスで各段階に対し8つのレジスタ信号を与える。レ
ジスタ信号のうちの1つはカウンタ回路136に与えら
れる。さらに、各それぞれのレジスタ信号はそれぞれの
ゲート回路138(そのうち1つのみが示されている)
に与えられる。
状態マシンFROMI 12はおよそ8ナノ秒の最小限
のサイクル時間を有する。このように、レジスタ128
により直接与えられるレジスタ信号はおよそ8ナノ秒の
パルス幅を特徴とする。カウンタ回路136はライン1
44で8ナノ秒の所望の数倍であるパルス幅を有するカ
ウンタ信号を与えるようプログラムされ得るプログラム
可能回路である。最終的に、調整論理凹路140は8個
のそれぞれのライン142で1ナノ秒と8ナノ秒の間の
パルス幅を宵するように1ナノ秒間隔で調整可能である
パルス幅を特徴とするそれぞれの信号を与えるようプロ
グラムされ得る。このように、カウンタ回路136はレ
ジスタ128により与えられる信号よりもより低い分解
能を特徴とする信号を与え得て、−力調整論理回路14
0はより高い分解能を特徴とする信号を与え得る。
のサイクル時間を有する。このように、レジスタ128
により直接与えられるレジスタ信号はおよそ8ナノ秒の
パルス幅を特徴とする。カウンタ回路136はライン1
44で8ナノ秒の所望の数倍であるパルス幅を有するカ
ウンタ信号を与えるようプログラムされ得るプログラム
可能回路である。最終的に、調整論理凹路140は8個
のそれぞれのライン142で1ナノ秒と8ナノ秒の間の
パルス幅を宵するように1ナノ秒間隔で調整可能である
パルス幅を特徴とするそれぞれの信号を与えるようプロ
グラムされ得る。このように、カウンタ回路136はレ
ジスタ128により与えられる信号よりもより低い分解
能を特徴とする信号を与え得て、−力調整論理回路14
0はより高い分解能を特徴とする信号を与え得る。
特に、カウンタ136は当業者には公知の態様で、たと
えば、適当なヒユーズを飛ばすことによりプログラムさ
れ得る。カウンタ136は先に説明されたように、単一
ラインでレジスタ信号を受取りかつライン144で対応
するカウンタ信号を与える。普通、カウンタ136はラ
イン144で論理レベル「1」信号を与える。ライン1
44はそれぞれのゲート回路138の各々のそれぞれの
入力端子に結合される。したがって、普通各それぞれの
ゲート回路138はそのそれぞれのライン145で、レ
ジスタ128によりそれぞれのゲート回路138に与え
られるそれぞれのレジスタ信号のそれと同じである論理
レベルを特徴とする信号を与えるということが認められ
る。
えば、適当なヒユーズを飛ばすことによりプログラムさ
れ得る。カウンタ136は先に説明されたように、単一
ラインでレジスタ信号を受取りかつライン144で対応
するカウンタ信号を与える。普通、カウンタ136はラ
イン144で論理レベル「1」信号を与える。ライン1
44はそれぞれのゲート回路138の各々のそれぞれの
入力端子に結合される。したがって、普通各それぞれの
ゲート回路138はそのそれぞれのライン145で、レ
ジスタ128によりそれぞれのゲート回路138に与え
られるそれぞれのレジスタ信号のそれと同じである論理
レベルを特徴とする信号を与えるということが認められ
る。
しかしながら、カウンタ回路136はたとえば、論理レ
ベル「1」信号を与える前に8ナノ秒の倍数である所望
の時間をカウントするためにかつそれによりそれぞれの
ライン145での論理レベル「1」信号の供給を遅延す
るためにプログラムされ得る。もちろん、カウンタ回路
136は当業者には公知の代替の態様で、たとえば、ラ
イン144での信号が普通は論理レベル「0」であるよ
うにプログラムされ得るということ、かつそれぞれのラ
イン145での論理レベル「1」信号は8ナノ秒の倍数
である時間の間継続するようにされ得るということが認
められるであろう。
ベル「1」信号を与える前に8ナノ秒の倍数である所望
の時間をカウントするためにかつそれによりそれぞれの
ライン145での論理レベル「1」信号の供給を遅延す
るためにプログラムされ得る。もちろん、カウンタ回路
136は当業者には公知の代替の態様で、たとえば、ラ
イン144での信号が普通は論理レベル「0」であるよ
うにプログラムされ得るということ、かつそれぞれのラ
イン145での論理レベル「1」信号は8ナノ秒の倍数
である時間の間継続するようにされ得るということが認
められるであろう。
調整論理回路140はライン146でクロック制御回路
104から制御信号を受取り、かつそれはそれぞれのラ
イン145でそれぞれのゲート回路138により与えら
れるそれぞれの信号を受取る。
104から制御信号を受取り、かつそれはそれぞれのラ
イン145でそれぞれのゲート回路138により与えら
れるそれぞれの信号を受取る。
第7図を参照すると、調整論理回路140を含む8つの
そのようなセクションのうちの1つを表わす論理セクシ
ョン148の例示の図面が示されている。論理セクショ
ン148は8個の入力ライン、すなわち4個のそれぞれ
のゲート152ないし158の各々から2個ずつを受取
るために、かつ論理ゲート160に出力信号を与えるた
めに示されるように接続されるプログラム可能マルチプ
レクサ150を含む。それぞれのゲート152ないし1
58の各々は一般に番号162により示されるカウンタ
(また交換テールリングカウンタとして公知である)の
連続する出力端子に結合される。たとえば、カウンタ1
62はクロック制御回路104内の位相ロックループ発
振器(示されていない)の構成要素含んでも構わない。
そのようなセクションのうちの1つを表わす論理セクシ
ョン148の例示の図面が示されている。論理セクショ
ン148は8個の入力ライン、すなわち4個のそれぞれ
のゲート152ないし158の各々から2個ずつを受取
るために、かつ論理ゲート160に出力信号を与えるた
めに示されるように接続されるプログラム可能マルチプ
レクサ150を含む。それぞれのゲート152ないし1
58の各々は一般に番号162により示されるカウンタ
(また交換テールリングカウンタとして公知である)の
連続する出力端子に結合される。たとえば、カウンタ1
62はクロック制御回路104内の位相ロックループ発
振器(示されていない)の構成要素含んでも構わない。
特に、ゲート158はゲート164の後で例示のジョン
ソン(Johnson )カウンタ162の端部の近く
に結合されかつ補数の出力りおよびDを供給する。ゲー
ト156はゲート164と166との間でカウンタ16
2に結合されかつ補数の出力Cおよびでを供給する。ゲ
ート154はゲート166と168との間で結合されか
つ補数の出力Bおよび百を供給する。ゲート152はゲ
ート168と170との間で例示のジョンソンカウンタ
162の開始部の近くに結合されかつ補数の出力Aおよ
びAを供給する。
ソン(Johnson )カウンタ162の端部の近く
に結合されかつ補数の出力りおよびDを供給する。ゲー
ト156はゲート164と166との間でカウンタ16
2に結合されかつ補数の出力Cおよびでを供給する。ゲ
ート154はゲート166と168との間で結合されか
つ補数の出力Bおよび百を供給する。ゲート152はゲ
ート168と170との間で例示のジョンソンカウンタ
162の開始部の近くに結合されかつ補数の出力Aおよ
びAを供給する。
第8図の例示のタイミング図から、各対の隣接するゲー
ト152および154.154および156、並びに1
56および158の間のジョンソンカウンタ162によ
り導入される遅延はおよそ1ナノ秒であるということが
認められるであろう。
ト152および154.154および156、並びに1
56および158の間のジョンソンカウンタ162によ
り導入される遅延はおよそ1ナノ秒であるということが
認められるであろう。
さらに、たとえば、ゲート152は補数のAおよびX信
号を同時に与えるということ、かつそれゆえにそれは同
時に信号の正方向の端縁および負方向の端縁を与えると
いうことが認められるであろう。
号を同時に与えるということ、かつそれゆえにそれは同
時に信号の正方向の端縁および負方向の端縁を与えると
いうことが認められるであろう。
マルチプレクサ150は当業者には公知の態様で、適当
なヒユーズを飛ばすことによりプログラム可能であり、
そのためたとえば、論理ゲート160に与えられる信号
が第8図の例示のタイミング図に示される8ナノ秒の時
間内の実質的にいずれの1ナノ秒間隔ででも正方向の端
縁または負方向の端縁を有し得て、かつ8ナノ秒の時間
内に1ナノ秒と8ナノ秒の間で変化するパルス幅を有し
得る。第7図の図面を参照すると、ゲート回路138か
らのそれぞれの対応する信号はそれぞれのライン142
で調整論理回路出力信号を与えるためにそれぞれのライ
ン145で論理ゲート160の入力端子に与えられると
いうことがわかるであろう。
なヒユーズを飛ばすことによりプログラム可能であり、
そのためたとえば、論理ゲート160に与えられる信号
が第8図の例示のタイミング図に示される8ナノ秒の時
間内の実質的にいずれの1ナノ秒間隔ででも正方向の端
縁または負方向の端縁を有し得て、かつ8ナノ秒の時間
内に1ナノ秒と8ナノ秒の間で変化するパルス幅を有し
得る。第7図の図面を参照すると、ゲート回路138か
らのそれぞれの対応する信号はそれぞれのライン142
で調整論理回路出力信号を与えるためにそれぞれのライ
ン145で論理ゲート160の入力端子に与えられると
いうことがわかるであろう。
再び第6図を参照すると、そのそれぞれの出力ライン1
45で各それぞれのゲート回路138により与えられる
信号および対応するそれぞれのライン142で調整論理
回路140により与えられる信号の双方は対応する出力
ブロック106内でマルチプレクサ172に与えられる
。マルチプレクサ172は当業者には公知の態様で適当
なヒユーズを飛ばすことにより、プログラム可能であり
、そのためたとえば、対応するゲート回路138から受
取られる信号または調整論理回路140から受取られる
信号のいずれかを選択する。マルチプレクサ172はR
Sラッチ174の「SJ端子に選択された信号を与える
。ラッチ174は順に、ライン1.1で対応する出力信
号波形を与える。出力信号波形は部分的にはRSラッチ
174のrSJ端子に与えられる信号から引出される。
45で各それぞれのゲート回路138により与えられる
信号および対応するそれぞれのライン142で調整論理
回路140により与えられる信号の双方は対応する出力
ブロック106内でマルチプレクサ172に与えられる
。マルチプレクサ172は当業者には公知の態様で適当
なヒユーズを飛ばすことにより、プログラム可能であり
、そのためたとえば、対応するゲート回路138から受
取られる信号または調整論理回路140から受取られる
信号のいずれかを選択する。マルチプレクサ172はR
Sラッチ174の「SJ端子に選択された信号を与える
。ラッチ174は順に、ライン1.1で対応する出力信
号波形を与える。出力信号波形は部分的にはRSラッチ
174のrSJ端子に与えられる信号から引出される。
第6図の図面から、それぞれ上部および下部セクション
98および100を含む構成要素は実質的には同一であ
るということが明白となるであろう。それゆえ、下部セ
クション100での構成要素は」二部セクション98で
対応する実質的に同一の構成要素を示す番号と同一であ
るダッシュを付した参照番号と同一である。さらに、上
部セクション98に関する先の議論は下部セクションに
も同様に適用され、かつそれゆえに、ここでは明らかに
されないであろう。
98および100を含む構成要素は実質的には同一であ
るということが明白となるであろう。それゆえ、下部セ
クション100での構成要素は」二部セクション98で
対応する実質的に同一の構成要素を示す番号と同一であ
るダッシュを付した参照番号と同一である。さらに、上
部セクション98に関する先の議論は下部セクションに
も同様に適用され、かつそれゆえに、ここでは明らかに
されないであろう。
下部セクション100を広く参照すると、第2の出力マ
ルチプレクサ回路176はそれぞれゲート回路138゛
および調整論理回路140″により提供されるそれぞれ
ライン145″および142−で信号を受取る。第2の
出力マルチプレクサ176はまたそれぞれのライン14
5゛での信号またはそれぞれのライン142″での信号
のいずれかを選択するように選択的にプログラム可能で
ある。第2の出力マルチプレクサ176はライン1B、
で対応する出力信号波形を与えるRSラッチ174のR
入力端子に選択された信号を与える。
ルチプレクサ回路176はそれぞれゲート回路138゛
および調整論理回路140″により提供されるそれぞれ
ライン145″および142−で信号を受取る。第2の
出力マルチプレクサ176はまたそれぞれのライン14
5゛での信号またはそれぞれのライン142″での信号
のいずれかを選択するように選択的にプログラム可能で
ある。第2の出力マルチプレクサ176はライン1B、
で対応する出力信号波形を与えるRSラッチ174のR
入力端子に選択された信号を与える。
出力信号は部分的にはRSラッチ174のrRJ端子に
与えられた信号から引出される。
与えられた信号から引出される。
上部セクション98の各要素は下部セクション100で
の対応する要素のものと実質的に同一である遅延を特徴
とする。たとえば、上部状態マシンFROMI 12を
介する遅延は下部状態マシンFROMI 14を介する
遅延と実質的には同一である。さらに、上部セクション
98内で種々の構成要素を接続するラインの長さは下部
セクション100で対応する構成要素を接続する対応す
るラインの長さと実質的に同一でなければならない。
の対応する要素のものと実質的に同一である遅延を特徴
とする。たとえば、上部状態マシンFROMI 12を
介する遅延は下部状態マシンFROMI 14を介する
遅延と実質的には同一である。さらに、上部セクション
98内で種々の構成要素を接続するラインの長さは下部
セクション100で対応する構成要素を接続する対応す
るラインの長さと実質的に同一でなければならない。
上部および下部セクション98および100を実質的に
同一にする理由は、それぞれのトリガ論理回路120お
よび120゛により同時にトリガされる信号が重大な信
号スキニー・エラーを実質的に回避するように実質的に
同一時間でそれぞれのライン145.145″および1
42.142′に到達するということを確実にするため
である。
同一にする理由は、それぞれのトリガ論理回路120お
よび120゛により同時にトリガされる信号が重大な信
号スキニー・エラーを実質的に回避するように実質的に
同一時間でそれぞれのライン145.145″および1
42.142′に到達するということを確実にするため
である。
動作において、第1の出力マルチプレクサ回路172は
レジスタ128により直接与えられる波形信号、カウン
タ136により与えられる信号または調整論理回路14
0により与えられる信号のいずれかを選択する。同様に
、第2の出力マルチプレクサ回路176はレジスタ12
g−、カウンタ136′または調整論理回路140″に
より与えられる3つの類似の信号のうちの1つを選択す
る。RSラッチ174によりライン1(、に与えられる
出力信号波形は第1の出力マルチプレクサ172および
第2の出力マルチプレクサ176により選択されるそれ
ぞれの信号から引出される。このように、プログラム可
能事象ジェネレータ74の構成要素を適切にプログラム
することにより多種の出力信号波形はプログラム可能事
象ジェネレータ74の8つの出力ラインの各々(そのう
ち1つのみが示されている)で与えられ得る。
レジスタ128により直接与えられる波形信号、カウン
タ136により与えられる信号または調整論理回路14
0により与えられる信号のいずれかを選択する。同様に
、第2の出力マルチプレクサ回路176はレジスタ12
g−、カウンタ136′または調整論理回路140″に
より与えられる3つの類似の信号のうちの1つを選択す
る。RSラッチ174によりライン1(、に与えられる
出力信号波形は第1の出力マルチプレクサ172および
第2の出力マルチプレクサ176により選択されるそれ
ぞれの信号から引出される。このように、プログラム可
能事象ジェネレータ74の構成要素を適切にプログラム
することにより多種の出力信号波形はプログラム可能事
象ジェネレータ74の8つの出力ラインの各々(そのう
ち1つのみが示されている)で与えられ得る。
たとえば、第9図および第10図のタイミング図を参照
すると、クロックパルス信号CPは、たとえば、8ナノ
秒の時間を有するレジスタ信号からおよび1ナノ秒と8
ナノ秒の間の時間を自°する調整論理回路信号からCP
倍信号引出すことによりプログラム可能事象ジェネレー
タ74の8個の出力ラインのうちの1つで発生され得た
ということが認められるであろう。さらに、それぞれL
OおよびLl信号(第10図のみ)は、たとえば、8ナ
ノ秒の倍数である時間を有するカウンタ信号からおよび
調整論理回路信号からそれぞれLOおよびLl信号を引
出すことによりそれぞれの8個の出力ラインのうち他の
もので発生され得る。
すると、クロックパルス信号CPは、たとえば、8ナノ
秒の時間を有するレジスタ信号からおよび1ナノ秒と8
ナノ秒の間の時間を自°する調整論理回路信号からCP
倍信号引出すことによりプログラム可能事象ジェネレー
タ74の8個の出力ラインのうちの1つで発生され得た
ということが認められるであろう。さらに、それぞれL
OおよびLl信号(第10図のみ)は、たとえば、8ナ
ノ秒の倍数である時間を有するカウンタ信号からおよび
調整論理回路信号からそれぞれLOおよびLl信号を引
出すことによりそれぞれの8個の出力ラインのうち他の
もので発生され得る。
第11図の例示の図面を参照すると、ECLシーケンサ
66のブロック図が提供されている。シーケンサ66は
マルチプレクサ回路178、アドレスレジスタ180お
よび増分器回路182を含む。マルチプレクサ回路17
8はフィードバックライン184でのフィードバック信
号または入力ライン186での入力信号のいずれかを選
択する。
66のブロック図が提供されている。シーケンサ66は
マルチプレクサ回路178、アドレスレジスタ180お
よび増分器回路182を含む。マルチプレクサ回路17
8はフィードバックライン184でのフィードバック信
号または入力ライン186での入力信号のいずれかを選
択する。
選択された信号はライン188でアドレスレジスタ18
0に与えられる。アドレスレジスタ180は順に、ライ
ン190で増分器182に選択された信号を与える。ラ
イン68での信号はプログラム可能事象ジェネレータ7
4により増分器182に与えられたCP倍信号応答して
提供される。増分器182はアドレスレジスタ180に
より与えられる信号を増分しかつライン68で増分され
た信号を与える。ライン68での信号はアドレス信号で
ある。
0に与えられる。アドレスレジスタ180は順に、ライ
ン190で増分器182に選択された信号を与える。ラ
イン68での信号はプログラム可能事象ジェネレータ7
4により増分器182に与えられたCP倍信号応答して
提供される。増分器182はアドレスレジスタ180に
より与えられる信号を増分しかつライン68で増分され
た信号を与える。ライン68での信号はアドレス信号で
ある。
それゆえ、シーケンサ66はフィードバックライン18
4の選択を介して先のアドレスを単に増分することによ
るかまたはライン186で与えられた代替信号を選択す
ることによるかいずれかでライン66でアドレス信号の
シーケンスを提供し得る。好ましい実施例では、メモリ
配列60では各10ビツトアドレス場所をアドレスする
ために10個のライン68が存在することが認められる
であろう。
4の選択を介して先のアドレスを単に増分することによ
るかまたはライン186で与えられた代替信号を選択す
ることによるかいずれかでライン66でアドレス信号の
シーケンスを提供し得る。好ましい実施例では、メモリ
配列60では各10ビツトアドレス場所をアドレスする
ために10個のライン68が存在することが認められる
であろう。
ライン78で適当なLI倍信号受取ると、第1のラッチ
56はライン58でメモリ配列60にアドレス信号を与
える。第1のラッチ56により与えられるアドレス信号
はライン68でシーケンサ66により与えられるアドレ
ス信号に対応する。
56はライン58でメモリ配列60にアドレス信号を与
える。第1のラッチ56により与えられるアドレス信号
はライン68でシーケンサ66により与えられるアドレ
ス信号に対応する。
メモリ配列60はライン58でのアドレス信号によりア
ドレスされる配列場所でストアされた2進データに対応
する出力データ信号をライン64で与える。ライン80
で適当なLO倍信号受取ると、第2のラッチ62はライ
ン72でALU70にシステム出力信号を与える。
ドレスされる配列場所でストアされた2進データに対応
する出力データ信号をライン64で与える。ライン80
で適当なLO倍信号受取ると、第2のラッチ62はライ
ン72でALU70にシステム出力信号を与える。
第9図および第10図のタイミング図はプログラム可能
り1象ジエネレータ74からのタイミング信号の適当な
選択により、破線54内の集積電子メモリ回路のそれぞ
れ第1および第2のラッチ56および62はあたかもそ
れらがレジスタであるように自°利に動作するようにさ
れ得る。このように、ECL論理を用いて構成されるシ
ステム52はECLレジスタペースのシステムと互換性
があるようにまたは一層従来通りのECLラッチベース
のシステムと互換性があるように形成され得る。
り1象ジエネレータ74からのタイミング信号の適当な
選択により、破線54内の集積電子メモリ回路のそれぞ
れ第1および第2のラッチ56および62はあたかもそ
れらがレジスタであるように自°利に動作するようにさ
れ得る。このように、ECL論理を用いて構成されるシ
ステム52はECLレジスタペースのシステムと互換性
があるようにまたは一層従来通りのECLラッチベース
のシステムと互換性があるように形成され得る。
第9図のタイミング図を参照すると、ジェネレータ74
によりライン78で与えられるLI倍信号恒久的にHI
GHであり、第1のラッチ56をシーケンサ66により
ライン68で与えられる信号に対し本質的に透明である
ようにする電子メモリシステム52の性能が例示されて
いる。プログラム可能事象ジェネレータ74はおよそ3
0ナノ秒のサイクル時間を有するクロックパルス信号C
Pを与える。第9図の図面はそれぞれTOSTlおよび
T2として図面に示されている3つの連続するクロック
サイクルの間のシステム52の信号を描いている。各サ
イクルの2分の1の期間、クロックパルス信号は正であ
りかつ他の半分の期間クロックパルスは負である。LO
倍信号各サイクルの間一度起こりかつクロック信号CP
の前縁と実質的に同期される正の前縁をqする短いパル
スを含む。各LOパルスはわずかおよそ2ナノ秒である
。
によりライン78で与えられるLI倍信号恒久的にHI
GHであり、第1のラッチ56をシーケンサ66により
ライン68で与えられる信号に対し本質的に透明である
ようにする電子メモリシステム52の性能が例示されて
いる。プログラム可能事象ジェネレータ74はおよそ3
0ナノ秒のサイクル時間を有するクロックパルス信号C
Pを与える。第9図の図面はそれぞれTOSTlおよび
T2として図面に示されている3つの連続するクロック
サイクルの間のシステム52の信号を描いている。各サ
イクルの2分の1の期間、クロックパルス信号は正であ
りかつ他の半分の期間クロックパルスは負である。LO
倍信号各サイクルの間一度起こりかつクロック信号CP
の前縁と実質的に同期される正の前縁をqする短いパル
スを含む。各LOパルスはわずかおよそ2ナノ秒である
。
クロックサイクルTOを参照すると、シーケンサ66は
クロック信号CPの正の前縁の提供後およそ12ナノ秒
アドレス信号を与える。目下好ましい実施例ではシーケ
ンサ66はおよそ18ナノ秒の準備時間およびおよそ1
2ナノ秒のクロックから出力への遅延を有するというこ
とが認められるであろう。ライン68でのシーケンサア
ドレス信号(それは実質的に遅延なしに透明な第1のラ
ッチを介して通過する)の供給のおよそ10ナノ秒後に
、メモリ配列60はシーケンサ66により与えられるア
ドレス信号によりアドレスされるメモリ場所に対応する
出力データ信号をライン64で与える。
クロック信号CPの正の前縁の提供後およそ12ナノ秒
アドレス信号を与える。目下好ましい実施例ではシーケ
ンサ66はおよそ18ナノ秒の準備時間およびおよそ1
2ナノ秒のクロックから出力への遅延を有するというこ
とが認められるであろう。ライン68でのシーケンサア
ドレス信号(それは実質的に遅延なしに透明な第1のラ
ッチを介して通過する)の供給のおよそ10ナノ秒後に
、メモリ配列60はシーケンサ66により与えられるア
ドレス信号によりアドレスされるメモリ場所に対応する
出力データ信号をライン64で与える。
およそ8ナノ秒後、クロック信号パルスCPの正の端縁
でのクロックサイクルT1の開始に際し、別なLO信号
パルスが与えられる。LO信号パルスは第2のラッチ6
2をトリガし、そしてそれはおよそ5ナノ秒のクロック
から出力への遅延の後、ライン72でALU70にメモ
リ配列60により与えられる出力信号を与える。クロッ
クサイクルT1.の間クロック信号CPはライン68で
メモリ配列60に他の連続するアドレス信号を与えるた
めにシーケンサ66をトリガするということが認められ
るであろう。クロックサイクルT1の間のクロック信号
CPの正の前縁の供給のおよそ12ナノ秒後に、シーケ
ンサ66はメモリ配列60に次の連続するアドレス信号
を与え、かつそのおよそ10ナノ秒後に、配列60は第
2のラッチ62に対応する出力信号を与える。
でのクロックサイクルT1の開始に際し、別なLO信号
パルスが与えられる。LO信号パルスは第2のラッチ6
2をトリガし、そしてそれはおよそ5ナノ秒のクロック
から出力への遅延の後、ライン72でALU70にメモ
リ配列60により与えられる出力信号を与える。クロッ
クサイクルT1.の間クロック信号CPはライン68で
メモリ配列60に他の連続するアドレス信号を与えるた
めにシーケンサ66をトリガするということが認められ
るであろう。クロックサイクルT1の間のクロック信号
CPの正の前縁の供給のおよそ12ナノ秒後に、シーケ
ンサ66はメモリ配列60に次の連続するアドレス信号
を与え、かつそのおよそ10ナノ秒後に、配列60は第
2のラッチ62に対応する出力信号を与える。
クロックサイクルT2の間、クロック信号CPの次の正
の前縁および対応する次のLO信号パルスが供給される
と、第2のラッチ62はトリガされ、かつおよそ5ナノ
秒の伝播遅延の後ライン72でALU70に次の組のシ
ステム出力信号を与える。
の前縁および対応する次のLO信号パルスが供給される
と、第2のラッチ62はトリガされ、かつおよそ5ナノ
秒の伝播遅延の後ライン72でALU70に次の組のシ
ステム出力信号を与える。
このように、システム52は、第9図に例示される態様
で制御されると、1組のデータビットがメモリ配列60
での場所から倹素されている一方で先の組のデータビッ
トに対応するシステム出力信号は実行のためにALU7
0に与えられるという点で単一レベルパイプラインを表
わしているということが認められるであろう。たとえば
、第9図のクロックサイクルT1を参照すると、サイク
ルTOの間与えられるアドレス信号に対応する2進デー
タは配列20から取り出されている一方でサイクルT1
の間与えられるアドレス信号に対応するシステム出力信
号は第2のラッチ62に与えられている。この態様のパ
イプライン動作はメモリ関連の機能を加速する。
で制御されると、1組のデータビットがメモリ配列60
での場所から倹素されている一方で先の組のデータビッ
トに対応するシステム出力信号は実行のためにALU7
0に与えられるという点で単一レベルパイプラインを表
わしているということが認められるであろう。たとえば
、第9図のクロックサイクルT1を参照すると、サイク
ルTOの間与えられるアドレス信号に対応する2進デー
タは配列20から取り出されている一方でサイクルT1
の間与えられるアドレス信号に対応するシステム出力信
号は第2のラッチ62に与えられている。この態様のパ
イプライン動作はメモリ関連の機能を加速する。
非常に短いLO信号パルスの供給に伴い、第2のラッチ
62の動作はレジスタのそれと実質的に同一であるよう
にされるということが理解されるであろう。それゆえ、
破線54内の集積電子メモリ回路は、使用される実際の
構成要素はラッチ、すなわち第2のラッチ62であるけ
れども、メモリ配列60から出力信号を受取るためにレ
ジスタを含む回路の動作を実質的に模倣している。
62の動作はレジスタのそれと実質的に同一であるよう
にされるということが理解されるであろう。それゆえ、
破線54内の集積電子メモリ回路は、使用される実際の
構成要素はラッチ、すなわち第2のラッチ62であるけ
れども、メモリ配列60から出力信号を受取るためにレ
ジスタを含む回路の動作を実質的に模倣している。
第10図のタイミング図を参照すると、システム52が
二mレベルのパイプラインとして機能する電子メモリシ
ステム52の性能が例示されている。次の議論から認め
られるように、サイクル時間は二重レベルパイプライン
動作の実現に伴っておよそ23ナノ秒まで減少される。
二mレベルのパイプラインとして機能する電子メモリシ
ステム52の性能が例示されている。次の議論から認め
られるように、サイクル時間は二重レベルパイプライン
動作の実現に伴っておよそ23ナノ秒まで減少される。
クロック信号CP、Ll信号パルスおよびLO信号パル
スの正の前縁は各クロックサイクルの間実質的に同時に
起こる。各クロックサイクルはおよそ23ナノ秒であり
、かつクロック信号は各サイクルの2分の1の間圧であ
りかつ他の半分の問責である。LOおよびLl信号はパ
ルスのそれぞれの列を含み、各パルスはおよそ2ナノ秒
を持続して数え、列あたりの1パルスはクロック信号C
Pの各サイクルの間起こる。
スの正の前縁は各クロックサイクルの間実質的に同時に
起こる。各クロックサイクルはおよそ23ナノ秒であり
、かつクロック信号は各サイクルの2分の1の間圧であ
りかつ他の半分の問責である。LOおよびLl信号はパ
ルスのそれぞれの列を含み、各パルスはおよそ2ナノ秒
を持続して数え、列あたりの1パルスはクロック信号C
Pの各サイクルの間起こる。
クロックサイクルTOの間、クロック信号はライン68
で第1のアドレス信号を与えるためにシーケンサ66を
トリガする。12ナノ秒の準備時間の後で、シーケンサ
66は実際に第1のアドレス信号を与える。
で第1のアドレス信号を与えるためにシーケンサ66を
トリガする。12ナノ秒の準備時間の後で、シーケンサ
66は実際に第1のアドレス信号を与える。
サイクルT1の間のクロック信号CPの正の前縁の発生
に際し、シーケンサ66は普通の準備時間遅延の後、第
2のアドレス(8号を与えるためにトリガされる。さら
に、LO倍信号第1のラッチ56をトリガし、そしてそ
れはおよそ2ナノ秒の伝播遅延の後で、ライン58でメ
モリ配列60に第1のアドレス信号を与える。およそ8
ナノ秒の付加的な遅延の後で、メモリ配列60は第1の
アドレス信号によりアドレスされるメモリ場所でストア
される2進データに対応する第1の出力信号を与える。
に際し、シーケンサ66は普通の準備時間遅延の後、第
2のアドレス(8号を与えるためにトリガされる。さら
に、LO倍信号第1のラッチ56をトリガし、そしてそ
れはおよそ2ナノ秒の伝播遅延の後で、ライン58でメ
モリ配列60に第1のアドレス信号を与える。およそ8
ナノ秒の付加的な遅延の後で、メモリ配列60は第1の
アドレス信号によりアドレスされるメモリ場所でストア
される2進データに対応する第1の出力信号を与える。
クロックサイクルT2の間、クロック信号は準備時間遅
延の後、第3のアドレス信号を発生するためにシーケン
サ66をトリガする。Ll信号は伝播遅延の後で、メモ
リ配列60に第2のアドレス信号を与えるために第1の
ラッチ56をトリガし、そしてそれはおよそ8ナノ秒の
遅延の後で、対応する第2の出力信号を与える。一方、
LO倍信号およそ5ナノ秒の伝播遅延の後で、ライン7
2で第1のアドレス信号に対応する第1のシステム出力
信号を与えるために第2のラッチ62をトリガする。
延の後、第3のアドレス信号を発生するためにシーケン
サ66をトリガする。Ll信号は伝播遅延の後で、メモ
リ配列60に第2のアドレス信号を与えるために第1の
ラッチ56をトリガし、そしてそれはおよそ8ナノ秒の
遅延の後で、対応する第2の出力信号を与える。一方、
LO倍信号およそ5ナノ秒の伝播遅延の後で、ライン7
2で第1のアドレス信号に対応する第1のシステム出力
信号を与えるために第2のラッチ62をトリガする。
サイクルT3を参照すると、システム52は二重レベル
パイプラインとして機能するということが認められるで
あろう。サイクルT3の間、クロック信号CPは第4の
アドレス信号を発生するためにシーケンサ66をトリガ
し、LO倍信号メモリ配列60に第3のアドレス信号を
与えるために第1のラッチ56をトリガし、かつLl信
号はALU70に第2のシステム出力信号を与えるため
に第2のラッチ62をトリガする。このように、二重レ
ベルパイプラインの実現はメモリ配列60にストアされ
る2進情報がアクセスされ得る速度をさらに増加する。
パイプラインとして機能するということが認められるで
あろう。サイクルT3の間、クロック信号CPは第4の
アドレス信号を発生するためにシーケンサ66をトリガ
し、LO倍信号メモリ配列60に第3のアドレス信号を
与えるために第1のラッチ56をトリガし、かつLl信
号はALU70に第2のシステム出力信号を与えるため
に第2のラッチ62をトリガする。このように、二重レ
ベルパイプラインの実現はメモリ配列60にストアされ
る2進情報がアクセスされ得る速度をさらに増加する。
非常に短いLOおよびLl信号の提供はそれぞれ第1お
よび第2のラッチ56および62の動作がレジスタのそ
れと実質的に同一であることを引き起こす。このように
、それぞれラッチ56および62はレジスタのように有
利に動作し得る。
よび第2のラッチ56および62の動作がレジスタのそ
れと実質的に同一であることを引き起こす。このように
、それぞれラッチ56および62はレジスタのように有
利に動作し得る。
第12図のタイミング図はそれぞれラッチ56および6
2が通常のラッチのように動作する電子メモリシステム
52の動作を例示している。一層十分に下に説明される
ように、それぞれ第1および第2のラッチ56および6
2は第9図および第10図に例示される動作とは幾分違
ったように動作するように構成され、かつECLプログ
ラム可能事象ジェネレータ74により与えられる信号は
同様に異なっている。
2が通常のラッチのように動作する電子メモリシステム
52の動作を例示している。一層十分に下に説明される
ように、それぞれ第1および第2のラッチ56および6
2は第9図および第10図に例示される動作とは幾分違
ったように動作するように構成され、かつECLプログ
ラム可能事象ジェネレータ74により与えられる信号は
同様に異なっている。
第1のラッチ56が可能化される時間の間、第2のラッ
チ62は不能化され、かつ第2のラッチ62が可能化さ
れる時間の間、第1のラッチ56は不能化される。クロ
ック信号CPはそれぞれのライン78および80でそれ
ぞれ第1および第2のラッチ56および62にかつライ
ン76でシーケンサ66に与えられる。さらに、第1の
ラッチ56は信号CPの立上がり端縁が供給されると状
態を変えるように構成されており、かつ第2のラッチ6
2はfd号CPの立下がり端縁が供給されると状態を変
えるように構成されている。
チ62は不能化され、かつ第2のラッチ62が可能化さ
れる時間の間、第1のラッチ56は不能化される。クロ
ック信号CPはそれぞれのライン78および80でそれ
ぞれ第1および第2のラッチ56および62にかつライ
ン76でシーケンサ66に与えられる。さらに、第1の
ラッチ56は信号CPの立上がり端縁が供給されると状
態を変えるように構成されており、かつ第2のラッチ6
2はfd号CPの立下がり端縁が供給されると状態を変
えるように構成されている。
信号CPは各タイミングサイクルの間、等しい時間持続
の正および負の部分を含む方形波である。
の正および負の部分を含む方形波である。
システム52は、第12図に例示されるように機能する
ように形成されるとき、メモリ配列60にストアされる
2進データへの高速度アクセスを達成するためにパイプ
ライン動作を用いて信号CPに応答する。
ように形成されるとき、メモリ配列60にストアされる
2進データへの高速度アクセスを達成するためにパイプ
ライン動作を用いて信号CPに応答する。
特に、タイミングサイクルTAの間、シーケンサ66は
忠別のために場所Aと示されるアドレス場所に対応する
アドレス信号をライン68で与える。サイクルTAの間
の信号CPの第1の立上がり端縁が供給されると、第1
のラッチ56は状態を変化しかつメモリ配列60にメモ
リ場所Aに対応するアドレス信号をライン68で与える
。続いて、第12図のタイミング図に例示されるように
、メモリ配列60はメモリ場所Aでストアされる2進デ
ータに対応する、文字DAにより表わされるデータ信号
をライン64で与える。サイクルTAの開信号CPの立
下がり端縁が供給されると、第2のラッチ62は状態を
変化しかつライン72で出力信号としてデータ信号DA
を与える。
忠別のために場所Aと示されるアドレス場所に対応する
アドレス信号をライン68で与える。サイクルTAの間
の信号CPの第1の立上がり端縁が供給されると、第1
のラッチ56は状態を変化しかつメモリ配列60にメモ
リ場所Aに対応するアドレス信号をライン68で与える
。続いて、第12図のタイミング図に例示されるように
、メモリ配列60はメモリ場所Aでストアされる2進デ
ータに対応する、文字DAにより表わされるデータ信号
をライン64で与える。サイクルTAの開信号CPの立
下がり端縁が供給されると、第2のラッチ62は状態を
変化しかつライン72で出力信号としてデータ信号DA
を与える。
第12図から、この基本シーケンスはサイクルTBST
C,TDおよびTEの間与えられるアドレス信号の組合
わせのために反復するいうことが認められるであろう。
C,TDおよびTEの間与えられるアドレス信号の組合
わせのために反復するいうことが認められるであろう。
さらに、図からシステム52は第1のラッチ56により
ライン68で受取られるアドレス信号に応答して第2の
ラッチ62によりライン72で出力信号の供給を加速す
るためにパイプライン動作技術を用いているということ
が認められるであろう。このように、第12図に示され
るように、システム52は通常のラッチとしてラッチ5
6および62を実現し得る。
ライン68で受取られるアドレス信号に応答して第2の
ラッチ62によりライン72で出力信号の供給を加速す
るためにパイプライン動作技術を用いているということ
が認められるであろう。このように、第12図に示され
るように、システム52は通常のラッチとしてラッチ5
6および62を実現し得る。
それゆえ、この発明の集積電子メモリ回路20.44は
入力データがメモリ配列22.22′に与えられること
を引き起こす書込み可能化信号WEを内部で発生する書
込み信号ジェネレータ回路34.34゛を有”利に与え
、このように、ユーザはこのしばしば困難な仕事を実行
することから実質的に解放される。さらに、この発明の
電子メモリアクセスシステム52はメモリ配列60およ
びそれがレジスタであるかのように動作するようにされ
得る少なくとも1つのラッチ62を含む集Milli子
メモリ回路54を含み、このように、ラッチベースのシ
ステムまたはレジスタベースのシステムに適しておりか
つパイプライン動作技術の使用に適している。
入力データがメモリ配列22.22′に与えられること
を引き起こす書込み可能化信号WEを内部で発生する書
込み信号ジェネレータ回路34.34゛を有”利に与え
、このように、ユーザはこのしばしば困難な仕事を実行
することから実質的に解放される。さらに、この発明の
電子メモリアクセスシステム52はメモリ配列60およ
びそれがレジスタであるかのように動作するようにされ
得る少なくとも1つのラッチ62を含む集Milli子
メモリ回路54を含み、このように、ラッチベースのシ
ステムまたはレジスタベースのシステムに適しておりか
つパイプライン動作技術の使用に適している。
先に説明された実施例はこの発明の原理を表わし得る多
くの可能な特定の実施例の単なる例示であるということ
が理解されるであろう。無数のかつ種々の別な取り合わ
せがこの発明の精神および範囲から逸脱することなくこ
れらの原理に従って容易に工夫され得る。たとえば、メ
モリアクセスシステムはTTL論理を用いてこの発明に
従って構成され得るであろうし、そしてそれはTTLレ
ジスタペースまたはラッチベースのシステムと互損性が
あるようにし得るであろう。このように、先の説明は前
掲のct許請求の範囲により規定されるこの発明を制限
することは意図されていない。
くの可能な特定の実施例の単なる例示であるということ
が理解されるであろう。無数のかつ種々の別な取り合わ
せがこの発明の精神および範囲から逸脱することなくこ
れらの原理に従って容易に工夫され得る。たとえば、メ
モリアクセスシステムはTTL論理を用いてこの発明に
従って構成され得るであろうし、そしてそれはTTLレ
ジスタペースまたはラッチベースのシステムと互損性が
あるようにし得るであろう。このように、先の説明は前
掲のct許請求の範囲により規定されるこの発明を制限
することは意図されていない。
第1図はこの発明の電子メモリ回路の第1の実施例の概
略図である。 第2図はこの発明の電子メモリ回路の第2の実施例の概
略図である。 第3図は第1図の実施例の書込み信号ジェネレータの論
理図である。 第4図は第3図の書込み信号ジェネレータのためのタイ
ミング図である。 第5図はこの発明の電子メモリアクセスシステムの実施
例のブロック図である。 第6図は第5図の実施例のプログラム可能な事象ジェネ
レータのブロック図である。 第7図は第6図のプログラム可能事象ジェネレータの調
整論理回路の論理セクションの概略図である。 第8図は第7図の論理セクションのタイミング図である
。 第9図は第5図の実施例のための第1のタイミング図で
ある。 第10図は第5図の実施例のための第2のタイミング図
である。 第11図は第5図の実施例のシーケンサのブロック図で
ある。 第12図は第5図の実施例のための第3のタイミング図
である。 図において、20は集積電子メモリ回路、22はランダ
ムアクセスメモリ配列、24はラッチ回路、26はマル
チプレクサ回路、28はラッチ回路、30は出力バッフ
ァ回路、32は診断レジスタ、34は書込み信号ジェネ
レータ回路、36はライン、38はNANDゲート、4
0は出力可能化ラッチ、44は集積電子メモリ回路、4
6は切期化記憶レジスタ、48はマルチプレクサ回路、
50はOR論理ゲート、52は電子メモリアクセスシス
テム、56はラッチ、58はライン、60はメモリ配列
、62はラッチ、64はライン、66はECLシーケン
サ、68はライン、70は演算論理装置(ALU)、7
2はライン、74はECLプログラム可能事象ジェネレ
ータ、76.78および80はライン、98は上部セク
ション、100は下部セクション、104はクロック制
御回路、106は出力ブロック、10gおよび110は
マツピングFROM、112および114は状態マシン
FROM、116は上部ラッチ、118は下部ラッチ、
120はトリガ論理回路、121はライン、122は制
御論理回路、123はライン、126はマルチプレクサ
、127は制御ライン、128はレジスタ、129はラ
イン、130はゲート回路、132.133および13
4はライン、136はカウンタ回路、138はゲート回
路、140は調整論理回路、142.144.145お
よび146はライン、148は論理セクション、150
はプログラム可能マルチプレクサ、152.154.1
56および158はゲート、160は論理ゲート、16
2は交換テールリングカウンタ、164.166.16
8および170はゲート、172は出力マルチプレクサ
回路、174はRSラッチ、176は出力マルチプレク
サ回路、178はマルチプレクサ回路、180はアドレ
スレジスタ、182は増分器回路、184はフィードバ
ックライン、186は入力ライン、188および190
はラインである。 特許出願人 アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・
インコーホレーテッド
略図である。 第2図はこの発明の電子メモリ回路の第2の実施例の概
略図である。 第3図は第1図の実施例の書込み信号ジェネレータの論
理図である。 第4図は第3図の書込み信号ジェネレータのためのタイ
ミング図である。 第5図はこの発明の電子メモリアクセスシステムの実施
例のブロック図である。 第6図は第5図の実施例のプログラム可能な事象ジェネ
レータのブロック図である。 第7図は第6図のプログラム可能事象ジェネレータの調
整論理回路の論理セクションの概略図である。 第8図は第7図の論理セクションのタイミング図である
。 第9図は第5図の実施例のための第1のタイミング図で
ある。 第10図は第5図の実施例のための第2のタイミング図
である。 第11図は第5図の実施例のシーケンサのブロック図で
ある。 第12図は第5図の実施例のための第3のタイミング図
である。 図において、20は集積電子メモリ回路、22はランダ
ムアクセスメモリ配列、24はラッチ回路、26はマル
チプレクサ回路、28はラッチ回路、30は出力バッフ
ァ回路、32は診断レジスタ、34は書込み信号ジェネ
レータ回路、36はライン、38はNANDゲート、4
0は出力可能化ラッチ、44は集積電子メモリ回路、4
6は切期化記憶レジスタ、48はマルチプレクサ回路、
50はOR論理ゲート、52は電子メモリアクセスシス
テム、56はラッチ、58はライン、60はメモリ配列
、62はラッチ、64はライン、66はECLシーケン
サ、68はライン、70は演算論理装置(ALU)、7
2はライン、74はECLプログラム可能事象ジェネレ
ータ、76.78および80はライン、98は上部セク
ション、100は下部セクション、104はクロック制
御回路、106は出力ブロック、10gおよび110は
マツピングFROM、112および114は状態マシン
FROM、116は上部ラッチ、118は下部ラッチ、
120はトリガ論理回路、121はライン、122は制
御論理回路、123はライン、126はマルチプレクサ
、127は制御ライン、128はレジスタ、129はラ
イン、130はゲート回路、132.133および13
4はライン、136はカウンタ回路、138はゲート回
路、140は調整論理回路、142.144.145お
よび146はライン、148は論理セクション、150
はプログラム可能マルチプレクサ、152.154.1
56および158はゲート、160は論理ゲート、16
2は交換テールリングカウンタ、164.166.16
8および170はゲート、172は出力マルチプレクサ
回路、174はRSラッチ、176は出力マルチプレク
サ回路、178はマルチプレクサ回路、180はアドレ
スレジスタ、182は増分器回路、184はフィードバ
ックライン、186は入力ライン、188および190
はラインである。 特許出願人 アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・
インコーホレーテッド
Claims (32)
- (1)クロック信号に応答する単一のチップでの集積電
子メモリ回路であって、 メモリ場所の配列で2進データをストアするためのメモ
リ手段と、 それぞれのメモリ場所で2進データとして前記メモリ手
段により記憶するために、前記メモリ手段に入力データ
信号を与えるための第1のデータ信号供給手段と、さら
に 前記メモリ手段が前記配列で記憶するために手段を提供
する前記第1のデータ信号から入力データ信号を受取る
ことを引き起こす書込み信号を発生するための書込み信
号ジェネレータ手段とを含む、集積電子メモリ回路。 - (2)前記書込み信号ジェネレータ手段が規定された時
間の間それぞれの書込み信号を与える、特許請求の範囲
第1項に記載の集積回路。 - (3)規定された時間が時間期間において前記メモリ手
段に入力データを書込むのに必要とされる時間と実質的
に等しい、特許請求の範囲第2項に記載の集積回路。 - (4)規定された時間が手段を提供する前記第1のデー
タ信号が前記メモリ手段に入力データ信号を与える間よ
りも長くない期間である、特許請求の範囲第3項に記載
の集積回路。 - (5)前記書込み信号ジェネレータがクロック信号を遅
延するために遅延ライン手段を含む、特許請求の範囲第
3項に記載の集積回路。 - (6)前記遅延ライン手段が規定された時間に実質的に
等しいクロック信号に時間遅延を与える、特許請求の範
囲第5項に記載の集積回路。 - (7)供給されたアドレス信号に対応するそれぞれのメ
モリ場所がアドレスされるように前記メモリ手段にアド
レス信号を与えるための第1のラッチ手段をさらに含み
、かつ 前記メモリ手段により受入れられる入力データ信号がア
ドレスされたメモリ場所で前記配列にストアされる、特
許請求の範囲第1項に記載の集積回路。 - (8)前記メモリ手段により与えられる出力データ信号
を受取り、かつ回路出力信号を与えるための第2のラッ
チ手段をさらに含む、特許請求の範囲第1項に記載の集
積回路。 - (9)クロック信号に応答する単一のチップでの集積電
子メモリ回路であって、メモリ場所の配列で2進データ
をストアするためのメモリ手段と、 供給されたアドレス信号に対応するそれぞれのメモリ場
所がアドレスされるように前記メモリ手段にアドレス信
号を与えるための第1のラッチ手段と、 前記メモリ手段により与えられる出力データ信号、すな
わちそれぞれのアドレスされたメモリ場所でストアされ
る2進データに対応するそれぞれの出力データ信号を受
取り、かつ回路出力信号を与えるための第2のラッチ手
段と、 それぞれのメモリ場所で2進データとして前記メモリ手
段により記憶するために、前記メモリ手段に入力データ
信号を与えるための第1のデータ信号供給手段と、さら
に 前記メモリ手段が前記第1のデータ信号提供手段から入
力データ信号を受入れることを引き起こしかつアドレス
されたメモリ場所でそれぞれの入力データ信号に対応し
て2進データをストアすることを引き起こす書込み信号
を発生するための書込み信号ジェネレータ手段とを含む
、集積電子メモリ回路。 - (10)前記メモリ手段に結合されるときは、前記第2
のラッチ手段が前記メモリ手段から出力データ信号を受
取り得て、かつ前記第1のデータ信号提供手段に結合さ
れるときは、前記第2のラッチ手段が前記第1の信号提
供手段から入力データ信号を受取り得るように、前記メ
モリ手段かまたは前記第1のデータ信号提供手段のいず
れかに前記第2のラッチ手段を代替的に結合するための
マルチプレクサ手段をさらに含む、特許請求の範囲第9
項に記載の集積回路。 - (11)前記第2のラッチ手段が前記第1のデータ信号
提供手段へ回路出力信号を供給するために前記第1のデ
ータ信号提供手段に結合される、特許請求の範囲第9項
に記載の集積回路。 - (12)メモリ場所の配列に2進データをストアするた
めのメモリ手段と、 供給されたアドレス信号に対応するそれぞれのメモリ場
所がアドレスされるように前記メモリ手段にアドレス信
号を与えるための第1のラッチ手段と、 それぞれのメモリ場所で2進データとして前記メモリ手
段により記憶するために、前記メモリ場所に入力データ
信号を与えるための第1のデータ信号提供手段と、 前記メモリ手段からの出力データ信号かまたは前記第1
のデータ信号提供手段からの入力データ信号のいずれか
を代替的に受取るための、かつそれぞれの受取られた信
号に対応するそれぞれのマルチプレクサ信号を与えるた
めのマルチプレクサ手段と、 前記マルチプレクサ手段に結合されマルチプレクサ信号
を受取りかつ対応する回路出力信号を与えるための第2
のラッチ手段と、さらに 前記メモリ手段が前記第1のデータ信号提供手段から入
力データ信号を受取ることを引き起こしかつアドレスさ
れたメモリ場所でそれぞれの入力データ信号に対応して
2進信号をストアすることを引き起こす書込み信号を発
生するための書込み信号ジェネレータ手段とを含み、前
記書込み信号ジェネレータ手段は規定された時間の間そ
れぞれの書込み信号を与え、さらに 規定された時間が時間期間において前記メモリ手段に入
力データを書込むのに必要とされる時間に実質的に等し
い、単一チップでの集積電子メモリ回路。 - (13)前記第1のデータ信号提供手段から入力データ
信号を受取るためのかつ記憶データ信号を与えるための
記憶手段をさらに含む、特許請求の範囲第12項に記載
の集積回路。 - (14)前記メモリ手段に結合されるときは、前記第2
のラッチ手段が前記メモリ手段からの出力データ信号を
受取り得て、かつ前記第1のデータ信号提供手段に結合
されるときは、前記第2のラッチ手段が前記第1のデー
タ信号提供手段から入力データ信号を受取り得て、かつ
前記記憶手段に結合されるときは、前記第2のラッチ手
段が前記記憶手段から記憶データ信号を受取り得るよう
に、前記メモリ手段かまたは前記第1のデータ信号提供
手段、または前記記憶手段のいずれかに前記第2のラッ
チ手段を代替的に結合するためのマルチプレクサ手段を
さらに含む、特許請求の範囲第13項に記載の集積回路
。 - (15)メモリ場所の配列に2進データをストアするた
めのメモリ手段と、 供給されたアドレス信号に対応するそれぞれのメモリ場
所がアドレスされるように前記メモリ手段にアドレス信
号を与えるための第1のラッチ手段と、 それぞれのメモリ場所で2進データとして前記メモリ手
段により記憶するために前記メモリ手段に入力データ信
号を与えるための第1の手段と、前記第1のデータ信号
提供手段から入力データ信号を受取るためのかつ記憶デ
ータ信号を与えるための記憶手段と、 回路出力信号を与えるための第2のラッチ手段と、 前記メモリ手段に結合されるときは、前記第2のラッチ
手段が前記メモリ手段から出力データ信号を受取り得て
、かつ前記第1のデータ信号提供手段に結合されるとき
は、前記第2のラッチ手段が手段を提供する前記第1の
データ信号から入力データ信号を受取り得て、かつ前記
記憶手段に結合されるときは、前記第2のラッチ手段が
前記記憶手段から記憶データ信号を受取り得るように、
前記メモリ手段かまたは前記第1のデータ信号提供手段
、または前記記憶手段のいずれかに前記第2のラッチ手
段を代替的に結合するためのマルチプレクサ手段と、か
つ 前記メモリ手段が前記第1のデータ信号提供手段から入
力データ信号を受入れることを引き起こしかつアドレス
されたメモリ場所でそれぞれの入力データ信号に対応し
て2進データをストアすることを引き起こす書込み信号
を発生するための書込み信号ジェネレータ手段とを含み
、前記書込み信号ジェネレータ手段が規定された時間の
間それぞれの書込み信号を与え、さらに 規定された時間は時間期間において前記メモリ手段に入
力データを書込むのに必要とされる時間と実質的に等し
く、さらに 規定された時間は前記第1のデータ提供手段が前記メモ
リ手段に入力データ信号を与える間よりも実質的に長く
ない時間である、単一チップでの集積電子メモリ回路。 - (16)第1のタイミング信号および第2のタイミング
信号を与えるためのタイミング手段と、(i)メモリ場
所の配列で2進データをストアするためのかつ対応する
それぞれのメモリ場所にストアされた2進データに対応
するそれぞれの出力データ信号を与えるためのメモリ手
段と、(ii)前記メモリ手段から出力データ信号を受
取るためのかつ第1のタイミング信号に応答してシステ
ム出力信号を与えるための出力ラッチ手段とを含む集積
回路と、さらに 前記メモリ手段に前記メモリ手段でメモリ場所のシーケ
ンスに対応するそれぞれのアドレス信号のシーケンスを
与えるための第2のタイミング信号に応答するシーケン
サ手段とを含む、電子メモリアクセスシステム。 - (17)第1のタイミング信号の各それぞれのパルスが
時間期間において第2のタイミング信号のサイクル時間
よりも実質的に短い、特許請求の範囲第16項に記載の
システム。 - (18)データ出力信号が第1のタイミング信号のそれ
ぞれのパルスの提供の間実質的に変化しない、特許請求
の範囲第16項に記載のシステム。 - (19)第1のタイミング信号の各それぞれのパルスが
実質的に2ナノ秒よりも少ない、特許請求の範囲第16
項に記載のシステム。 - (20)第1のタイミング信号の端縁が第2のタイミン
グ信号の各サイクルの間少なくとも一度起こる、特許請
求の範囲第16項に記載のシステム。 - (21)第1および第2のタイミング信号の各サイクル
のそれぞれの端縁が実質的にちょうど同時に起こる、特
許請求の範囲第16項に記載のシステム。 - (22)第1、第2および第3のタイミング信号を与え
るためのタイミング手段と、 (i)メモリ場所の配列に2進データをストアするため
のかつ対応するそれぞれのメモリ場所にストアされた2
進データに対応するそれぞれの出力データ信号を与える
ためのメモリ手段と、(ii)前記メモリ手段から出力
データ信号を受取るためのかつ第1のタイミング信号に
応答してシステム出力信号を与えるための出力ラッチ手
段と、さらに (iii)メモリ場所のシーケンスに対応するそれぞれ
の第1のアドレス信号のシーケンスを受取るためのかつ
第3のタイミング信号に応答する前記メモリ手段にそれ
ぞれの第2のアドレス信号を与えるための入力ラッチ手
段とを含む集積回路と、さらに 前記入力ラッチ手段にそれぞれの第1のアドレス信号の
シーケンスを与えるために前記第2のタイミング信号に
応答するシーケンサ手段とを含む、電子アクセスメモリ
システム。 - (23)第1および第3のタイミング信号の各それぞれ
のパルスが時間の持続において第2のタイミング信号の
サイクル時間よりも実質的に短い、特許請求の範囲第2
2項に記載のシステム。 - (24)それぞれ第1および第3のタイミング信号のそ
れぞれのパルス幅が前記それぞれ出力および入力ラッチ
手段のためのそれぞれの最小限のトリガ時間に実質的に
等しい、特許請求の範囲第22項に記載のシステム。 - (25)データ出力信号が第1のタイミング信号のそれ
ぞれのパルスを与える間実質的に変化せず、さらに 前記シーケンサ手段により与えられるそれぞれのアドレ
ス信号が第3のタイミング信号のそれぞれのパルスを与
える間実質的に変化しない、特許請求の範囲第22項に
記載のシステム。 - (26)第1および第3のタイミング信号の各それぞれ
のパルスが実質的に2ナノ秒よりも少ない期間である、
特許請求の範囲第22項に記載のシステム。 - (27)それぞれ第1および第3のタイミング信号の端
縁が第2のタイミング信号の各サイクルの間少なくとも
一度は起こる、特許請求の範囲第22項記載のシステム
。 - (28)第1、第2および第3のタイミング信号の各サ
イクルのそれぞれの端縁が実質的にちょうど同時に起こ
る。特許請求の範囲第22項に記載のシステム。 - (29)前記第1のメモリ手段がランダムアクセスメモ
リを含む、特許請求の範囲第14項または第22項に記
載のシステム。 - (30)第1、第2および第3のタイミング信号を与え
るためのタイミング手段と、 (i)メモリ場所の配列に2進データをストアするため
のかつ対応するそれぞれのメモリ場所にストアされた2
進データに対応するそれぞれの出力データ信号を与える
ためのメモリ手段と、(ii)前記メモリ手段から出力
データ信号を受取るためのかつ第1のタイミング信号に
応答してシステム出力信号を与えるための出力ラッチ手
段と、さらに (iii)メモリ場所のシーケンスに対応するそれぞれ
の第1のアドレス信号のシーケンスを受取るためのかつ
第3のタイミング信号に応答する前記メモリ手段にそれ
ぞれの第2のアドレス信号を与えるための入力ラッチ手
段とを含む集積回路と、さらに 前記入力ラッチ手段にそれぞれの第1のアドレス信号の
シーケンスを与えるための前記第2のタイミング信号に
応答するシーケンサ手段とを含み、第1のアドレス信号
は第1のタイミング信号を与える間実質的に変化せず、
かつ 第1および第3のタイミング信号のそれぞれのパルス幅
が前記それぞれ出力および入力ラッチ手段のための最小
限のトリガ時間に実質的に等しい、電子メモリアクセス
システム。 - (31)実質的に第1の信号のただ1つの端縁および第
3の信号の1つの端縁が第2の信号の各サイクルの間起
こる、特許請求の範囲第30項に記載のシステム。 - (32)前記出力ラッチ手段および前記入力ラッチ手段
がそれぞれ第1および第3のタイミング信号の両側の端
縁でそれらのそれぞれの信号を与える、特許請求の範囲
第30項に記載のシステム。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US860727 | 1986-05-07 | ||
| US06/860,727 US4825416A (en) | 1986-05-07 | 1986-05-07 | Integrated electronic memory circuit with internal timing and operable in both latch-based and register-based systems |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62298086A true JPS62298086A (ja) | 1987-12-25 |
Family
ID=25333888
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62110403A Pending JPS62298086A (ja) | 1986-05-07 | 1987-05-06 | 集積電子メモリ回路および電子メモリアクセスシステム |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4825416A (ja) |
| EP (1) | EP0245055A3 (ja) |
| JP (1) | JPS62298086A (ja) |
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| US5276856A (en) * | 1989-09-28 | 1994-01-04 | Pixel Semiconductor, Inc. | Memory controller flexible timing control system and method |
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| IL96808A (en) | 1990-04-18 | 1996-03-31 | Rambus Inc | Introductory / Origin Circuit Agreed Using High-Performance Brokerage |
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| US5589782A (en) * | 1995-06-02 | 1996-12-31 | Advanced Micro Devices, Inc. | Macrocell and clock signal allocation circuit for a programmable logic device (PLD) enabling PLD resources to provide multiple functions |
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| US6122203A (en) * | 1998-06-29 | 2000-09-19 | Cypress Semiconductor Corp. | Method, architecture and circuit for writing to and reading from a memory during a single cycle |
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