JPS6230563B2 - - Google Patents
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- JPS6230563B2 JPS6230563B2 JP9258381A JP9258381A JPS6230563B2 JP S6230563 B2 JPS6230563 B2 JP S6230563B2 JP 9258381 A JP9258381 A JP 9258381A JP 9258381 A JP9258381 A JP 9258381A JP S6230563 B2 JPS6230563 B2 JP S6230563B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 22
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- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 5
- 238000013459 approach Methods 0.000 claims description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 7
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/002—Constructional details of contacts for gauges actuating one or more contacts
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は接触プローブ、特にプローブが被測定
点に接触したときにきわめて高感度で接触電気信
号を検出することのできる改良された接触プロー
ブに関するものである。
点に接触したときにきわめて高感度で接触電気信
号を検出することのできる改良された接触プロー
ブに関するものである。
座標測定機あるいは工作機械の位置め装置など
においては、2次元あるいは3次元に自由に移動
可能なプローブを所望の被測定点に接触させ、こ
のときに生じる接触電気信号により被測定点の位
置が測定される。通常の場合、プローブの移動量
はリニアスケールその他の測長機により所望の軸
方向(X,YあるいはZ軸)に対するプローブの
移動量として測定される。従つて、この種の測定
機にあつては、被測定点の位置を高精度で検出す
ることができるが、プローブは被測定点との接触
時に瞬時に接触電気信号を検出する必要があり、
かつプローブは小型で消費電力の少ないしかも低
価格であることが要求される。
においては、2次元あるいは3次元に自由に移動
可能なプローブを所望の被測定点に接触させ、こ
のときに生じる接触電気信号により被測定点の位
置が測定される。通常の場合、プローブの移動量
はリニアスケールその他の測長機により所望の軸
方向(X,YあるいはZ軸)に対するプローブの
移動量として測定される。従つて、この種の測定
機にあつては、被測定点の位置を高精度で検出す
ることができるが、プローブは被測定点との接触
時に瞬時に接触電気信号を検出する必要があり、
かつプローブは小型で消費電力の少ないしかも低
価格であることが要求される。
従来の一般的な接触プローブはプローブ自体を
一方の電極とし、被測定物を他の電極とし、両者
間に電源及び導通検出回路を設け、プローブが被
測定物に接触したときにプローブと被測定物との
間に生じる電気的導通を検出して接触電気信号を
得ていた。この従来装置によれば、きわめて構造
が簡単であり、製造が容易で低価格のプローブを
得ることができるが、プローブと被測定点との間
に電気的導通不良が生じた場合には、検出作用が
行なわれなくなるという欠点を有していた。即
ち、被測定点に異物が付着していたり、錆などの
表面被膜が発生していたりあるいは表面粗さが粗
い場合には接触低抗は著しく増大し、十分な導通
信号を得ることができなかつた。このような場
合、導通信号自体が発生しないか、もしくは微弱
な不整信号しか得ることができず、測定不能ある
いは大きな測定誤差を生じる原因となつていた。
更に、従来の導通信号検出接触プローブにおいて
は、被測定物がプラスチツクあるいはベークライ
トなどのような非導電材料の場合には検出するこ
とができないという欠点があつた。
一方の電極とし、被測定物を他の電極とし、両者
間に電源及び導通検出回路を設け、プローブが被
測定物に接触したときにプローブと被測定物との
間に生じる電気的導通を検出して接触電気信号を
得ていた。この従来装置によれば、きわめて構造
が簡単であり、製造が容易で低価格のプローブを
得ることができるが、プローブと被測定点との間
に電気的導通不良が生じた場合には、検出作用が
行なわれなくなるという欠点を有していた。即
ち、被測定点に異物が付着していたり、錆などの
表面被膜が発生していたりあるいは表面粗さが粗
い場合には接触低抗は著しく増大し、十分な導通
信号を得ることができなかつた。このような場
合、導通信号自体が発生しないか、もしくは微弱
な不整信号しか得ることができず、測定不能ある
いは大きな測定誤差を生じる原因となつていた。
更に、従来の導通信号検出接触プローブにおいて
は、被測定物がプラスチツクあるいはベークライ
トなどのような非導電材料の場合には検出するこ
とができないという欠点があつた。
本発明は上記従来の課題に鑑みなされたもので
あり、その目的は簡単な構造で接触子と被測定物
とのあらゆる方向に対する接触を高感度で検出す
ることができる接触プローブを提供することにあ
る。
あり、その目的は簡単な構造で接触子と被測定物
とのあらゆる方向に対する接触を高感度で検出す
ることができる接触プローブを提供することにあ
る。
上記目的を達成するために、本発明はプローブ
ケースと、プローブケースに円周状に固定された
導電性リングと、導電性リングの外周面上の斜め
上の位置に接離可能に跨座する3個の導電性球体
を配設した非導通性基台と、非導通性基台と一体
化され導電性リングの中心を貫通する一端が被測
定物に接触する接触子と、接触子の他端を押圧付
勢して前記3個の導電性球体が導電性リングに当
接した静止支点位置に接触子を位置決めする支持
部とを備え、接触子先端が被測定物に接触し前記
3個の導電性球体の少なくとも1個が導電性リン
グから離れることによるその導電性球体と導電性
リングとの非導通状態を電気信号として検出する
ことを特徴とする。
ケースと、プローブケースに円周状に固定された
導電性リングと、導電性リングの外周面上の斜め
上の位置に接離可能に跨座する3個の導電性球体
を配設した非導通性基台と、非導通性基台と一体
化され導電性リングの中心を貫通する一端が被測
定物に接触する接触子と、接触子の他端を押圧付
勢して前記3個の導電性球体が導電性リングに当
接した静止支点位置に接触子を位置決めする支持
部とを備え、接触子先端が被測定物に接触し前記
3個の導電性球体の少なくとも1個が導電性リン
グから離れることによるその導電性球体と導電性
リングとの非導通状態を電気信号として検出する
ことを特徴とする。
以下図面に基づいて本発明の好適な実施例を説
明する。
明する。
第1図には3次元測定機に好適な本発明に係る
接触プローブの第1実施例が示されており、図示
していないが周知の3次元測定機の移動部には図
示しないプローブケースを介して接触子10の一
端が支持部12にて支持されている。
接触プローブの第1実施例が示されており、図示
していないが周知の3次元測定機の移動部には図
示しないプローブケースを介して接触子10の一
端が支持部12にて支持されている。
上記支持部12はプローブケースに片持された
板ばね14にて上下方向へ揺動可能に保持される
支持板16と該支持板16を常時下方向に向けて
押圧付勢する付勢ばね18とを含み、前記接触子
10の他端は付勢ばね18により常時下方向へ押
圧付勢された状態でその静止支点位置が定められ
ている。
板ばね14にて上下方向へ揺動可能に保持される
支持板16と該支持板16を常時下方向に向けて
押圧付勢する付勢ばね18とを含み、前記接触子
10の他端は付勢ばね18により常時下方向へ押
圧付勢された状態でその静止支点位置が定められ
ている。
前述したように、前記接触子10はその他端が
支持板16によつて所定の静止支点位置に位置決
めされるが、この位置を接触子10の非接触状態
において常に正しく保持すると共に、接触子10
が被測定物と接触した時に電気的な検出信号を高
精度で検出するために、以下の如き跨座機構が設
けられている。
支持板16によつて所定の静止支点位置に位置決
めされるが、この位置を接触子10の非接触状態
において常に正しく保持すると共に、接触子10
が被測定物と接触した時に電気的な検出信号を高
精度で検出するために、以下の如き跨座機構が設
けられている。
すなわち、プローブケースには円形の断面形状
を有する導電性リング20が接触子10の軸方向
を中心として円周状に固定されており、本実施例
において導電性リング20は2分割された第1リ
ング片22及び第2リング片24から構成されて
いる。一方、接触子10のほぼ中央部には略正三
角形状をなす非導電性基台26が固定され、非導
電性基台26の各三角形頂部には前記導電性リン
グ20の外周面上の斜め上の位置に跨座する3個
の導電性球体28が固定されている。従つて、接
触子10が被測定物に接触していない接触待機状
態においては接触子10はその3個の導電性球体
28が導電性リング20に跨座して所定の特定さ
れた1個の静止位置を保ち、プローブの測定基準
点が確保される。そして、接触子10は被測定物
と接触した時にはその跨座状態から容易に接触子
10が移動して退避することができ、また、いず
れかの導電性球体28と導電性リング20との開
離によつて電気的な検出信号を得ることが可能と
なる。本実施例において上記導電性球体28は、
第1リング片22に接離する第1球体28a及び
第2球体28bと、第2リング片24に接離する
第3球体28cと、から成り、各球体28a,2
8b,28cは導電性リング20の外周面上の斜
め上約45度の位置で接離するように取り付けられ
ている。
を有する導電性リング20が接触子10の軸方向
を中心として円周状に固定されており、本実施例
において導電性リング20は2分割された第1リ
ング片22及び第2リング片24から構成されて
いる。一方、接触子10のほぼ中央部には略正三
角形状をなす非導電性基台26が固定され、非導
電性基台26の各三角形頂部には前記導電性リン
グ20の外周面上の斜め上の位置に跨座する3個
の導電性球体28が固定されている。従つて、接
触子10が被測定物に接触していない接触待機状
態においては接触子10はその3個の導電性球体
28が導電性リング20に跨座して所定の特定さ
れた1個の静止位置を保ち、プローブの測定基準
点が確保される。そして、接触子10は被測定物
と接触した時にはその跨座状態から容易に接触子
10が移動して退避することができ、また、いず
れかの導電性球体28と導電性リング20との開
離によつて電気的な検出信号を得ることが可能と
なる。本実施例において上記導電性球体28は、
第1リング片22に接離する第1球体28a及び
第2球体28bと、第2リング片24に接離する
第3球体28cと、から成り、各球体28a,2
8b,28cは導電性リング20の外周面上の斜
め上約45度の位置で接離するように取り付けられ
ている。
また、前述した各球体28a,28b,28c
の導電性リング20に対する接離作用を電気信号
として検出するために、前記第2球体28bと第
3球28cとは導線30にて電気的に接続され、
第1球体28a及び第2リング片24にそれぞれ
接触信号検出端子32,34が固定され、各端子
32,34には図示していない接触検出回路が接
続されている。
の導電性リング20に対する接離作用を電気信号
として検出するために、前記第2球体28bと第
3球28cとは導線30にて電気的に接続され、
第1球体28a及び第2リング片24にそれぞれ
接触信号検出端子32,34が固定され、各端子
32,34には図示していない接触検出回路が接
続されている。
本発明の第1実施例は以上の構成から成り、以
下にその作用を説明する。
下にその作用を説明する。
第2図には接触プローブを図示していないプロ
ーブ移動装置によりX(−)軸方向へ移動させ、
接触子10の先端を被測定物に接触させた場合の
各部の動作状態が示されている。図において、接
触子10の先端が被測定物に接触することにより
接触子10はX(+)軸方向に移動し、第1球体
28a及び第2球体28bは第1リング片22の
外周面上をわずかに摺動するとともに、第3球体
28cは図において二点鎖線で示されるように第
2リング片24と第3球体28cとの接線方向に
対して約90度の方向へ離れる。従つて、第2リン
グ片24と第3球体28cとの非導通状態が接触
検出回路にて検出され、このときの座標値を読み
取ることにより座標測定が行われる。
ーブ移動装置によりX(−)軸方向へ移動させ、
接触子10の先端を被測定物に接触させた場合の
各部の動作状態が示されている。図において、接
触子10の先端が被測定物に接触することにより
接触子10はX(+)軸方向に移動し、第1球体
28a及び第2球体28bは第1リング片22の
外周面上をわずかに摺動するとともに、第3球体
28cは図において二点鎖線で示されるように第
2リング片24と第3球体28cとの接線方向に
対して約90度の方向へ離れる。従つて、第2リン
グ片24と第3球体28cとの非導通状態が接触
検出回路にて検出され、このときの座標値を読み
取ることにより座標測定が行われる。
次に、本発明における前述した導電性リングに
対する導電性球体の開離作用及びその効果につい
て、本発明と果なる他の構成例と比較して説明す
る。
対する導電性球体の開離作用及びその効果につい
て、本発明と果なる他の構成例と比較して説明す
る。
第3図及び第4図には仮に導電性リング20上
における導電性球体28の接離位置がそれぞれ導
電性リング20の上端及び内周面上の斜め上約45
度の位置となるように構成した本発明と異なる場
合における各部の動作が示されている。各図から
明らかなように球体28cはリング片24との接
線方向に対してそれぞれ約45度及び0度の方向へ
開離するので、リング片24に対する球体28c
の充分な開離距離が得られない欠点がある。これ
に対し本発明においては、球体28cがリング片
24の外周面上の斜め上約45度の位置で開離する
ように構成されており、球体28cはリング片2
4との接線方向に対して約90度の方向へ離反する
ので、リング片24に対する球体28cの充分な
開離距離を得ることができる。従つて、本発明に
おいては接触子10の被測定物への接触に対して
感度の高い接触プローブを得ることができる。
における導電性球体28の接離位置がそれぞれ導
電性リング20の上端及び内周面上の斜め上約45
度の位置となるように構成した本発明と異なる場
合における各部の動作が示されている。各図から
明らかなように球体28cはリング片24との接
線方向に対してそれぞれ約45度及び0度の方向へ
開離するので、リング片24に対する球体28c
の充分な開離距離が得られない欠点がある。これ
に対し本発明においては、球体28cがリング片
24の外周面上の斜め上約45度の位置で開離する
ように構成されており、球体28cはリング片2
4との接線方向に対して約90度の方向へ離反する
ので、リング片24に対する球体28cの充分な
開離距離を得ることができる。従つて、本発明に
おいては接触子10の被測定物への接触に対して
感度の高い接触プローブを得ることができる。
上述した第1実施例においては接触プローブを
X(−)軸方向へ移動させて被測定物に接触させ
た場合について説明したが、X(+)軸、Y
(+)軸、Y(−)軸、Z(−)軸へ移動させる
場合についても同様の作用により、各球体28の
少なくとも1個が導電性リング20から離れ、導
電性リング20と導電性球体28との非導通状態
を電気信号として検出することができる。従つ
て、接触子10の移動方向に拘らず高い感度で被
測定物の測長を行うことができる。
X(−)軸方向へ移動させて被測定物に接触させ
た場合について説明したが、X(+)軸、Y
(+)軸、Y(−)軸、Z(−)軸へ移動させる
場合についても同様の作用により、各球体28の
少なくとも1個が導電性リング20から離れ、導
電性リング20と導電性球体28との非導通状態
を電気信号として検出することができる。従つ
て、接触子10の移動方向に拘らず高い感度で被
測定物の測長を行うことができる。
次に、第5図には本発明に係る接触プローブの
好適な第2実施例が示されており、機械的な跨座
機構については第1実施例と同様であるが、接触
子10の接触時における電気的な検出信号を取り
出す構造が第1実施例とは異なり、前述した第1
実施例と同一部材には同一符号を付して説明を省
略する。図において導電性リング36は3分割さ
れた第1リング片38、第2リング片40及び第
3リング片42から成り、各リング片38,4
0,42の外周面上の斜め上約45度の位置には、
それぞれ第1球体28a、第2球体28b及び第
3球体28cが跨座して、所定の特定された1個
の静止位置を保ちプローブの測定基準点が確保さ
れている。そして、第1リング片38と第2球体
28b及び第1球体28aと第3リング片42と
はそれぞれ導線44,46にて電気的に接続さ
れ、第2リング片40と第3球体28cにそれぞ
れ接触信号検出端子48,50が固定されてお
り、各端子48,50に接触検出回路52が接続
されている。
好適な第2実施例が示されており、機械的な跨座
機構については第1実施例と同様であるが、接触
子10の接触時における電気的な検出信号を取り
出す構造が第1実施例とは異なり、前述した第1
実施例と同一部材には同一符号を付して説明を省
略する。図において導電性リング36は3分割さ
れた第1リング片38、第2リング片40及び第
3リング片42から成り、各リング片38,4
0,42の外周面上の斜め上約45度の位置には、
それぞれ第1球体28a、第2球体28b及び第
3球体28cが跨座して、所定の特定された1個
の静止位置を保ちプローブの測定基準点が確保さ
れている。そして、第1リング片38と第2球体
28b及び第1球体28aと第3リング片42と
はそれぞれ導線44,46にて電気的に接続さ
れ、第2リング片40と第3球体28cにそれぞ
れ接触信号検出端子48,50が固定されてお
り、各端子48,50に接触検出回路52が接続
されている。
本発明の第2実施例は以上の構成から成り、前
述した第1実施例と同様接触子10の先端が被測
定物に接触し、各球体28a,28b,28cの
少なくとも1個が導電性リング36から離れ、導
電性リング36と導電性球体28との非導通状態
を接触検出回路52にて検出することにより、接
触子10の移動方向に拘らず高い感度で被測定物
の測長を行うことができる。
述した第1実施例と同様接触子10の先端が被測
定物に接触し、各球体28a,28b,28cの
少なくとも1個が導電性リング36から離れ、導
電性リング36と導電性球体28との非導通状態
を接触検出回路52にて検出することにより、接
触子10の移動方向に拘らず高い感度で被測定物
の測長を行うことができる。
更に、第6図には本発明に係る接触プローブの
好適な第3実施例、すなわち第2実施例と同様に
電気的な接触信号取出機構の他の構成が示されて
おり、図において前述した第2実施例と同一部材
には同一符号を付して説明を省略する。
好適な第3実施例、すなわち第2実施例と同様に
電気的な接触信号取出機構の他の構成が示されて
おり、図において前述した第2実施例と同一部材
には同一符号を付して説明を省略する。
各リング片38,40,42及び各球体28
a,28b,28cにはそれぞれ接触信号検出端
子54,56,58及び60,62,64が固定
されており、各端子54,56,58及び60,
62,64の間に図に示されるような接触検出回
路66,68,70がそれぞれ接続されている。
a,28b,28cにはそれぞれ接触信号検出端
子54,56,58及び60,62,64が固定
されており、各端子54,56,58及び60,
62,64の間に図に示されるような接触検出回
路66,68,70がそれぞれ接続されている。
従つて、本実施例においても前述した第2実施
例と同様の作用により接触子10の移動方向に拘
らず高い感度で被測定物の測長を行うことができ
る。
例と同様の作用により接触子10の移動方向に拘
らず高い感度で被測定物の測長を行うことができ
る。
更に、第7図には本発明に係る接触プローブの
好適な第4実施例、すなわち電気的な接触信号取
出機構の他の構成が示されており、図において前
述した第1実施例と同一部材には同一符号を付し
て説明を省略する。
好適な第4実施例、すなわち電気的な接触信号取
出機構の他の構成が示されており、図において前
述した第1実施例と同一部材には同一符号を付し
て説明を省略する。
図において円形の断面形状を有する導電性リン
グ72は環状のリングとして一体成形されてお
り、該導電性リング72の外周面上の斜め上約45
度の位置に各球体28a,28b,28cが接離
するように構成されている。また、導電性リング
72と各球体28a,28b,28cにはそれぞ
れ接触信号検出端子74,76,78,80が固
定されており、接触信号検出端子74と各接触信
号検出端子76,78,80との間にそれぞれ接
触検出回路82,84,86が接続されている。
グ72は環状のリングとして一体成形されてお
り、該導電性リング72の外周面上の斜め上約45
度の位置に各球体28a,28b,28cが接離
するように構成されている。また、導電性リング
72と各球体28a,28b,28cにはそれぞ
れ接触信号検出端子74,76,78,80が固
定されており、接触信号検出端子74と各接触信
号検出端子76,78,80との間にそれぞれ接
触検出回路82,84,86が接続されている。
そして、本実施例においても前述した各実施例
と同様の作用により接触子10の移動方向に拘ら
ず高い感度で被測定物の測長を行うことができ
る。
と同様の作用により接触子10の移動方向に拘ら
ず高い感度で被測定物の測長を行うことができ
る。
なお、前述した第1実施例においては第2球体
28bと第3球体28cとを導線30にて接続
し、第1球体28a及び第2リング片24にそれ
ぞれ接触信号検出端子32,34を固定した場合
について説明したが、第1球体28aと第3球体
28cとを導線で接続し、第2球体28b及び第
2リング片24にそれぞれ接触信号検出端子3
2,34を固定しても同様の作用が行われること
は明らかである。
28bと第3球体28cとを導線30にて接続
し、第1球体28a及び第2リング片24にそれ
ぞれ接触信号検出端子32,34を固定した場合
について説明したが、第1球体28aと第3球体
28cとを導線で接続し、第2球体28b及び第
2リング片24にそれぞれ接触信号検出端子3
2,34を固定しても同様の作用が行われること
は明らかである。
以上説明したように本発明によれば、3個の導
電性球体を導電性リングの外周面上の斜め上に跨
座して所定の特定された1個の静止位置を保ち、
接触子先端が被測定物に接触することにより前記
3個の導電性球体の少なくとも1個が導電性リン
グから離れるように構成したことにより、簡単な
構造で接触子と被測定物とのあらゆる方向に対す
る接触を高感度で検出することができる接触プロ
ーブを提供することができる。
電性球体を導電性リングの外周面上の斜め上に跨
座して所定の特定された1個の静止位置を保ち、
接触子先端が被測定物に接触することにより前記
3個の導電性球体の少なくとも1個が導電性リン
グから離れるように構成したことにより、簡単な
構造で接触子と被測定物とのあらゆる方向に対す
る接触を高感度で検出することができる接触プロ
ーブを提供することができる。
第1図は本発明に係る接触プローブの好適な第
1実施例を示す外観図、第2図は第1図で示され
る接触プローブの作動状態を示す断面図、第3図
及び第4図は第2図で示される接触プローブの作
用を説明するための参考図、第5図〜第7図は本
発明に係る接触プローブの好適な第2〜第4実施
例を示す説明図である。 10……接触子、12……支持部、20,3
6,72……導電性リング、22……第1リング
片、24……第2リング片、26……非導電性基
台、28……導電性球体、28a……第1球体、
28b……第2球体、28c……第3球体、3
0,44,46……導線、32,34,48,5
0,54,56,58,60,62,64……接
触信号検出端子、38……第1リング片、40…
…第2リング片、42……第3リング片、52,
66,68,70……接触検出回路。
1実施例を示す外観図、第2図は第1図で示され
る接触プローブの作動状態を示す断面図、第3図
及び第4図は第2図で示される接触プローブの作
用を説明するための参考図、第5図〜第7図は本
発明に係る接触プローブの好適な第2〜第4実施
例を示す説明図である。 10……接触子、12……支持部、20,3
6,72……導電性リング、22……第1リング
片、24……第2リング片、26……非導電性基
台、28……導電性球体、28a……第1球体、
28b……第2球体、28c……第3球体、3
0,44,46……導線、32,34,48,5
0,54,56,58,60,62,64……接
触信号検出端子、38……第1リング片、40…
…第2リング片、42……第3リング片、52,
66,68,70……接触検出回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 プローブケースと、 プローブケースに円周状に固定された導電性リ
ングと、 導電性リングの外周面上の斜め上の位置に接離
可能に跨座する3個の導電性球体を配設した非導
通性基台と、非導通性基台と一体化され導電性リ
ングの中心を貫通する一端が被測定物に接触する
接触子と、 接触子の他端を押圧付勢して前記3個の導電性
球体が導電性リングに当接した静止支点位置に接
触子を位置決めする支持部とを備え、 接触子先端が被測定物に接触し前記3個の導電
性球体の少なくとも1個が導電性リングから離れ
ることによるその導電性球体と導電性リングとの
非導通状態を電気信号として検出することを特徴
とする接触プローブ。 2 特許請求の範囲1記載の接触プローブにおい
て、導電性リングは2分割された第1及び第2リ
ング片から成り、前記3個の導電性球体は第1リ
ング片に接離可能に跨座する第1及び第2球体と
第2リング片に接離可能に跨座する第3球体から
成り、第1及び第2球体のいずれか一方の球体と
第3球体とを電気的に接続し、第1及び第2球体
のいずれか他方の球体及び第2リング片に接触信
号検出端子を設けたことを特徴とする接触プロー
ブ。 3 特許請求の範囲1記載の接触プローブにおい
て、導電性リングは3分割されたリング片から成
り、前記3個の導電性球体は前記各リング片にそ
れぞれ接離可能に跨座する球体から成り、各リン
グ片及び各球体にそれぞれ接触信号検出端子を設
けたことを特徴とする接触プローブ。 4 特許請求の範囲1記載の接触プローブにおい
て、導電性リングは3分割された第1リング片、
第2リング片及び第3リング片から成り、前記3
個の導電性球体は前記各リング片に接離可能に跨
座する第1球体、第2球体及び第3球体から成
り、第1リング片と第2球体と及び第1球体と第
3リング片とを導線で電気的に接続し、第2リン
グ片及び第3球体に接触信号検出端子を設けたこ
とを特徴とする接触プローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9258381A JPS57207802A (en) | 1981-06-16 | 1981-06-16 | Contact probe |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9258381A JPS57207802A (en) | 1981-06-16 | 1981-06-16 | Contact probe |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57207802A JPS57207802A (en) | 1982-12-20 |
| JPS6230563B2 true JPS6230563B2 (ja) | 1987-07-03 |
Family
ID=14058450
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9258381A Granted JPS57207802A (en) | 1981-06-16 | 1981-06-16 | Contact probe |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57207802A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4523063A (en) * | 1983-12-05 | 1985-06-11 | Gte Valeron Corporation | Touch probe having nonconductive contact carriers |
| DE4325744C1 (de) * | 1993-07-31 | 1994-12-15 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Mehrkoordinaten-Tastkopf |
| FR2778738B1 (fr) * | 1998-05-14 | 2000-07-21 | Rech Etude Materiel Ind Remi | Dispositif de controle de positionnement et de centrage d'une piece |
| CN114111501B (zh) * | 2021-12-06 | 2023-11-10 | 二重(镇江)重型装备有限责任公司 | 一种超大直径基础环板u型槽形位尺寸检测工具 |
-
1981
- 1981-06-16 JP JP9258381A patent/JPS57207802A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57207802A (en) | 1982-12-20 |
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