JPS6231396B2 - - Google Patents
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- JPS6231396B2 JPS6231396B2 JP2700879A JP2700879A JPS6231396B2 JP S6231396 B2 JPS6231396 B2 JP S6231396B2 JP 2700879 A JP2700879 A JP 2700879A JP 2700879 A JP2700879 A JP 2700879A JP S6231396 B2 JPS6231396 B2 JP S6231396B2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 17
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 4
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 3
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 2
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、多数の測定箇所のデータ信号から
所望の箇所のデータ信号を選択してアナログ記録
計等に出力するようなアナログ出力装置の零点お
よびスパン点調整方法に関するものである。
所望の箇所のデータ信号を選択してアナログ記録
計等に出力するようなアナログ出力装置の零点お
よびスパン点調整方法に関するものである。
例えば、配線コストを低減するために多数の測
定箇所のデータ信号を2線伝送ラインにより一箇
所に集め、所望の箇所のデータを選択して記録計
等へ出力するアナログ出力装置としての記録箇所
選択装置が実用化されている。しかしながら、こ
のような装置の場合、データが2線伝送ラインよ
りのデジタル信号データのため、アナログ出力部
の零点およびスパン点調整が困難である問題点が
あつた。
定箇所のデータ信号を2線伝送ラインにより一箇
所に集め、所望の箇所のデータを選択して記録計
等へ出力するアナログ出力装置としての記録箇所
選択装置が実用化されている。しかしながら、こ
のような装置の場合、データが2線伝送ラインよ
りのデジタル信号データのため、アナログ出力部
の零点およびスパン点調整が困難である問題点が
あつた。
この発明の目的は、以上のような問題点を解消
させるためになされたもので、装置自体に切換ス
イツチを設け、この切換スイツチを切換えること
により零点およびスパン点信号を発生させるよう
にしたアナログ出力装置の零点およびスパン点調
整方法を提供することである。
させるためになされたもので、装置自体に切換ス
イツチを設け、この切換スイツチを切換えること
により零点およびスパン点信号を発生させるよう
にしたアナログ出力装置の零点およびスパン点調
整方法を提供することである。
以下、図面に従つてこの発明を詳細に説明す
る。第1図は、2線伝送ラインにてデータの授受
を行う装置の一実施例を示すブロツク図である。
1は中央に位置する主局、21,22……2mは
それぞれn個の測定箇所をもつ多箇所走査器、3
は多箇所のアナログ記録計4が接続されるアナロ
グ出力装置としての記録箇所選択装置、lは、こ
れら主局1、多箇所走査器21,22…2m、記
録箇所選択装置3を結ぶ2線伝送ラインである。
各多箇所走査器21,22……2mはそれぞれn
箇所の測定データを走査して取り込みA/D変換
して待機し、主局1から各多箇所走査器21,2
2……2mへのポーリング信号に応答し、多箇所
走査器番号、箇所番号、原始データを伝送ライン
lに直列のパルス列信号として送出する。主局1
は、これらデータを受信し、このデータに対応し
た箇所の番号、スケーリング処理のされた処理デ
ータ等を再び直列のパルス列信号として伝送ライ
ンlに送出する。これら一連の動作は常時くり返
され、全測定箇所のデータは常時一定期間毎に更
新されるようになつている。そして記録箇所選択
装置3は、伝送ラインlに流れているデータを受
信し選択して出力する。
る。第1図は、2線伝送ラインにてデータの授受
を行う装置の一実施例を示すブロツク図である。
1は中央に位置する主局、21,22……2mは
それぞれn個の測定箇所をもつ多箇所走査器、3
は多箇所のアナログ記録計4が接続されるアナロ
グ出力装置としての記録箇所選択装置、lは、こ
れら主局1、多箇所走査器21,22…2m、記
録箇所選択装置3を結ぶ2線伝送ラインである。
各多箇所走査器21,22……2mはそれぞれn
箇所の測定データを走査して取り込みA/D変換
して待機し、主局1から各多箇所走査器21,2
2……2mへのポーリング信号に応答し、多箇所
走査器番号、箇所番号、原始データを伝送ライン
lに直列のパルス列信号として送出する。主局1
は、これらデータを受信し、このデータに対応し
た箇所の番号、スケーリング処理のされた処理デ
ータ等を再び直列のパルス列信号として伝送ライ
ンlに送出する。これら一連の動作は常時くり返
され、全測定箇所のデータは常時一定期間毎に更
新されるようになつている。そして記録箇所選択
装置3は、伝送ラインlに流れているデータを受
信し選択して出力する。
第2図は、この発明に係るアナログ出力装置と
しての記録箇所選択装置の一実施例を示す斜視図
である。この記録箇所選択装置は、略直方体状の
箱体5よりなり、その前面部5aには四周がパネ
ル埋込用の縁取5bがされている。前面部5aの
上部には出力箇所およびこの出力箇所に対応する
測定箇所の表示を行う表示器6、この表示器6の
表示を参照して出力箇所と測定箇所との対応を設
定する設定スイツチ7、そして前面部5aの下部
には上下開閉自在の扉8が設けられ、この扉8の
前面部のポケツト部には出力箇所と測定箇所との
対応関係が記載されたメモカード9等が収納さ
れ、また、この扉8が収納される凹部には出力の
零点およびスパン点の調整を行うための切換スイ
ツチ10、出力箇所数分の調整用のトリマ11
(この例では12個のスパン調整用のトリマと1個
の零点調整用のトリマ)が設けられている。
しての記録箇所選択装置の一実施例を示す斜視図
である。この記録箇所選択装置は、略直方体状の
箱体5よりなり、その前面部5aには四周がパネ
ル埋込用の縁取5bがされている。前面部5aの
上部には出力箇所およびこの出力箇所に対応する
測定箇所の表示を行う表示器6、この表示器6の
表示を参照して出力箇所と測定箇所との対応を設
定する設定スイツチ7、そして前面部5aの下部
には上下開閉自在の扉8が設けられ、この扉8の
前面部のポケツト部には出力箇所と測定箇所との
対応関係が記載されたメモカード9等が収納さ
れ、また、この扉8が収納される凹部には出力の
零点およびスパン点の調整を行うための切換スイ
ツチ10、出力箇所数分の調整用のトリマ11
(この例では12個のスパン調整用のトリマと1個
の零点調整用のトリマ)が設けられている。
つまり、設定スイツチ7の左端のスイツチを押
すことによりその上部の表示器6に出力箇所が表
示され、中央のスイツチを押すことにより多箇所
走査器の番号およびその多箇所走査器内の箇所番
号が表示器6に表示されるので、この表示を参照
して出力箇所およびこれに対応する測定箇所を選
択し、どの出力箇所からどの測定箇所の測定デー
タ信号を出力させるかを設定する。この設定は全
く任意に行うことができ、表示器6に所望の設定
内容を表示させた後、設定スイツチの右端のスイ
ツチを押すことにより1回の設定が完了し、出力
箇所数分の設定をくり返す。又下部の切換スイツ
チ10を上方に位置させると12箇所分のスパン点
信号が発生し、箱体背部の出力端子より記録計等
の指示を見ながら、トリマ11により必要箇所数
分のスパン点調整を行い、又、この切換スイツチ
10を下方に位置させることにより零点調整用ト
リマ11aにより零点の調整を行う。そして、こ
の切換スイツチ10を中央のRUNに位置させれ
ば運転状態となり、この記録箇所選択装置3は、
装置の背部に接続された伝送ラインlを流れてい
る全測定箇所数分のデータ信号の中から、設定ス
イツチ7により設定された設定内容に従つて、所
望の測定箇所のデータをアナログ量として出力端
子より連続的に出力し、アナログ記録計等にて指
示記録する。
すことによりその上部の表示器6に出力箇所が表
示され、中央のスイツチを押すことにより多箇所
走査器の番号およびその多箇所走査器内の箇所番
号が表示器6に表示されるので、この表示を参照
して出力箇所およびこれに対応する測定箇所を選
択し、どの出力箇所からどの測定箇所の測定デー
タ信号を出力させるかを設定する。この設定は全
く任意に行うことができ、表示器6に所望の設定
内容を表示させた後、設定スイツチの右端のスイ
ツチを押すことにより1回の設定が完了し、出力
箇所数分の設定をくり返す。又下部の切換スイツ
チ10を上方に位置させると12箇所分のスパン点
信号が発生し、箱体背部の出力端子より記録計等
の指示を見ながら、トリマ11により必要箇所数
分のスパン点調整を行い、又、この切換スイツチ
10を下方に位置させることにより零点調整用ト
リマ11aにより零点の調整を行う。そして、こ
の切換スイツチ10を中央のRUNに位置させれ
ば運転状態となり、この記録箇所選択装置3は、
装置の背部に接続された伝送ラインlを流れてい
る全測定箇所数分のデータ信号の中から、設定ス
イツチ7により設定された設定内容に従つて、所
望の測定箇所のデータをアナログ量として出力端
子より連続的に出力し、アナログ記録計等にて指
示記録する。
第3図は、この発明に係るアナログ出力装置と
しての記録箇所選択装置の一実施例を示す構成図
である。図において、12は伝送ラインlに流れ
ている直列パルス信号を受信して復調し並列デジ
タル信号等に変換する受信回路、13はマイクロ
コンピユータ等よりなる中央処理装置、14は、
中央処理装置13の演算処理動作を制御するプロ
グラム等が記憶される読み出し専用メモリ
(ROM)、一時記憶用のランダムアクセス・メモ
リ(RAM)、および不揮発性メモリ14aよりな
る記憶器、15は、デジタル信号をアナログ信号
に変換するD―A変換器、16はD―A変換器の
出力をサンプルホールドして出力する複数個の出
力端子17をもつサンプルホールド回路、6は表
示器、7は設定スイツチ、10は零点信号発生用
接点Z、動作用接点R、スパン点信号発生用接点
Sを共通接点Cにより切り換える切換スイツチ、
18は、回路基板等に設けられ、サンプルホール
ド回路16に接続される記録計等の機器の目盛仕
様に応じて中央処理装置13がデータをスケーリ
ング変換するための定数を定める目盛用スイツチ
である。
しての記録箇所選択装置の一実施例を示す構成図
である。図において、12は伝送ラインlに流れ
ている直列パルス信号を受信して復調し並列デジ
タル信号等に変換する受信回路、13はマイクロ
コンピユータ等よりなる中央処理装置、14は、
中央処理装置13の演算処理動作を制御するプロ
グラム等が記憶される読み出し専用メモリ
(ROM)、一時記憶用のランダムアクセス・メモ
リ(RAM)、および不揮発性メモリ14aよりな
る記憶器、15は、デジタル信号をアナログ信号
に変換するD―A変換器、16はD―A変換器の
出力をサンプルホールドして出力する複数個の出
力端子17をもつサンプルホールド回路、6は表
示器、7は設定スイツチ、10は零点信号発生用
接点Z、動作用接点R、スパン点信号発生用接点
Sを共通接点Cにより切り換える切換スイツチ、
18は、回路基板等に設けられ、サンプルホール
ド回路16に接続される記録計等の機器の目盛仕
様に応じて中央処理装置13がデータをスケーリ
ング変換するための定数を定める目盛用スイツチ
である。
第3図により動作の説明をする。運転前に次の
ような準備をする。
ような準備をする。
(1) 装置の出荷時等に、あらかじめ目盛用スイツ
チ18の定数を外部に接続される記録計等の目
盛仕様に応じて定める。例えば、0〜1200℃で
あれば、L=0℃およびH=1200℃を設定し、
データ値をDとすれば、中央処理装置13によ
り(D−L/H−L)×100の計算式で0〜100
%にスケーリング変換し、あらゆる目盛仕様に
対応するようになつている。
チ18の定数を外部に接続される記録計等の目
盛仕様に応じて定める。例えば、0〜1200℃で
あれば、L=0℃およびH=1200℃を設定し、
データ値をDとすれば、中央処理装置13によ
り(D−L/H−L)×100の計算式で0〜100
%にスケーリング変換し、あらゆる目盛仕様に
対応するようになつている。
(2) 切換スイツチ10を零点信号発生用接点Zに
切換えると中央処理装置13はD―A変換器1
5にデジタル量の零点信号を発生し、スパン点
信号発生用接点Sに切換えると中央処理装置1
3はD―A変換器15にスパン点信号を発生
し、それぞれ第2図の装置前面扉8内に位置
し、サンプルホールド回路16に設けられた出
力箇所数分のスパン点調整用トリマ11、およ
び零点調整用トリマ11aにより調整を行うこ
とができる。そして接点Rに切換えれば通常の
動作状態とすることができる。
切換えると中央処理装置13はD―A変換器1
5にデジタル量の零点信号を発生し、スパン点
信号発生用接点Sに切換えると中央処理装置1
3はD―A変換器15にスパン点信号を発生
し、それぞれ第2図の装置前面扉8内に位置
し、サンプルホールド回路16に設けられた出
力箇所数分のスパン点調整用トリマ11、およ
び零点調整用トリマ11aにより調整を行うこ
とができる。そして接点Rに切換えれば通常の
動作状態とすることができる。
(3) 表示器6を参照して設定スイツチ7により設
定された出力箇所と測定箇所との対応関係は、
記憶器14の不揮発性メモリ14aに記憶され
設定時および電源投入時RAMに転送し、この
RAMの内容に従つて通常データ処理を行うよ
うにし、電源が切れた場合に対応している。
定された出力箇所と測定箇所との対応関係は、
記憶器14の不揮発性メモリ14aに記憶され
設定時および電源投入時RAMに転送し、この
RAMの内容に従つて通常データ処理を行うよ
うにし、電源が切れた場合に対応している。
つまり、以上のような準備が終了した後、アナ
ログ出力装置としての記録箇所選択装置を運転状
態とする。
ログ出力装置としての記録箇所選択装置を運転状
態とする。
2線伝送ラインlに流れている多数箇所のデー
タ信号は常時装置に供給され、受信回路12にて
常時受信され、中央処理装置13により、設定ス
イツチ7でRAMにあらかじめ設定・記憶された
測定箇所番号と一致しているかどうか判別し、一
致している番号のデータのみを選択し、目盛用ス
イツチにより定められた定数により前述のスケー
リング変換等の演算処理を行う。この中央処理装
置13により演算処理されたデータはD―A変換
器15にてアナログ信号に変換され、サンプルホ
ールド回路16の所定の出力端子17より出力さ
れる。これら一連の動作は常時、くり返され、出
力端子17の出力信号は、多箇所のアナログ記録
計等に入力され、常時、記録・監視するために利
用される。
タ信号は常時装置に供給され、受信回路12にて
常時受信され、中央処理装置13により、設定ス
イツチ7でRAMにあらかじめ設定・記憶された
測定箇所番号と一致しているかどうか判別し、一
致している番号のデータのみを選択し、目盛用ス
イツチにより定められた定数により前述のスケー
リング変換等の演算処理を行う。この中央処理装
置13により演算処理されたデータはD―A変換
器15にてアナログ信号に変換され、サンプルホ
ールド回路16の所定の出力端子17より出力さ
れる。これら一連の動作は常時、くり返され、出
力端子17の出力信号は、多箇所のアナログ記録
計等に入力され、常時、記録・監視するために利
用される。
以上詳述したように、この発明は、多数の測定
箇所のデータ信号が直列のパルス列信号として流
れている2線伝送ラインに接続し、この2線伝送
ラインに流れているデータ信号から所望の箇所の
データ信号を選択してD―A変換の後、サンプル
ホールド回路より出力するアナログ出力装置にお
いて、切換スイツチを切換えることにより零点信
号およびスパン点信号をD―A変換器に供給し、
出力信号の零点およびスパン点の調整を行うよう
にしたものである。
箇所のデータ信号が直列のパルス列信号として流
れている2線伝送ラインに接続し、この2線伝送
ラインに流れているデータ信号から所望の箇所の
データ信号を選択してD―A変換の後、サンプル
ホールド回路より出力するアナログ出力装置にお
いて、切換スイツチを切換えることにより零点信
号およびスパン点信号をD―A変換器に供給し、
出力信号の零点およびスパン点の調整を行うよう
にしたものである。
従つて、装置に設けられた切換スイツチにより
零点信号およびスパン点信号を発生させて、出力
回路の零点およびスパン点の調整を行うことがで
きるので、入力信号が2線伝送ライン上の直列パ
ルス信号で調整用信号が容易に入力しにくいにも
かかわらず、極めて容易に調整が可能となる。
又、装置内部にて基準点信号が発生できるように
しているので外部の標準発生器等を特別に用意す
る必要がなく、現場にても極めて容易に調整を行
うことができる。又、基準信号はアナログ量では
なくデジタル量なので経年、経時変化等によるド
リフト誤差は全く生ずることがなく正確な調整が
可能である。
零点信号およびスパン点信号を発生させて、出力
回路の零点およびスパン点の調整を行うことがで
きるので、入力信号が2線伝送ライン上の直列パ
ルス信号で調整用信号が容易に入力しにくいにも
かかわらず、極めて容易に調整が可能となる。
又、装置内部にて基準点信号が発生できるように
しているので外部の標準発生器等を特別に用意す
る必要がなく、現場にても極めて容易に調整を行
うことができる。又、基準信号はアナログ量では
なくデジタル量なので経年、経時変化等によるド
リフト誤差は全く生ずることがなく正確な調整が
可能である。
第1図は、この発明に係る伝送ラインにてデー
タの授受を行う装置の一実施例を示すブロツク
図、第2図はこの発明に係るアナログ出力装置と
しての記録箇所選択装置の一実施例を示す斜視
図、第3図は同構成ブロツク図である。 3…アナログ出力装置としての記録箇所選択装
置、5…箱体、6…表示器、7…設定スイツチ、
8…扉、10…切換スイツチ、11,11a…ト
リマ、12…受信回路、13…中央処理装置、1
4…記憶器、14a…不揮発性メモリ、15…D
―A変換器、16…サンプルホールド回路、17
…出力端子、18…目盛用スイツチ。
タの授受を行う装置の一実施例を示すブロツク
図、第2図はこの発明に係るアナログ出力装置と
しての記録箇所選択装置の一実施例を示す斜視
図、第3図は同構成ブロツク図である。 3…アナログ出力装置としての記録箇所選択装
置、5…箱体、6…表示器、7…設定スイツチ、
8…扉、10…切換スイツチ、11,11a…ト
リマ、12…受信回路、13…中央処理装置、1
4…記憶器、14a…不揮発性メモリ、15…D
―A変換器、16…サンプルホールド回路、17
…出力端子、18…目盛用スイツチ。
Claims (1)
- 1 多数の測定箇所のデータ信号が直列のパルス
列信号として流れている2線伝送ラインに接続さ
れ、この2線伝送ラインに流れているデータ信号
から所望の箇所のデータ信号を選択してD―A変
換の後サンプルホールド回路より出力するアナロ
グ出力装置において、切換スイツチを切換えるこ
とにより零点信号およびスパン点信号をD―A変
換器に供給し、出力信号の零点およびスパン点の
調整を行うことができるようにしたことを特徴と
するアナログ出力装置の零点およびスパン点調整
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2700879A JPS55119797A (en) | 1979-03-07 | 1979-03-07 | Adjusting of zero point and span point in analog output device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2700879A JPS55119797A (en) | 1979-03-07 | 1979-03-07 | Adjusting of zero point and span point in analog output device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55119797A JPS55119797A (en) | 1980-09-13 |
| JPS6231396B2 true JPS6231396B2 (ja) | 1987-07-08 |
Family
ID=12209077
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2700879A Granted JPS55119797A (en) | 1979-03-07 | 1979-03-07 | Adjusting of zero point and span point in analog output device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS55119797A (ja) |
-
1979
- 1979-03-07 JP JP2700879A patent/JPS55119797A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55119797A (en) | 1980-09-13 |
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