JPS6231879Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6231879Y2 JPS6231879Y2 JP1981146469U JP14646981U JPS6231879Y2 JP S6231879 Y2 JPS6231879 Y2 JP S6231879Y2 JP 1981146469 U JP1981146469 U JP 1981146469U JP 14646981 U JP14646981 U JP 14646981U JP S6231879 Y2 JPS6231879 Y2 JP S6231879Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- wavelengths
- baseline
- values
- time
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は吸光度の時間的な変化を測定するのに
適した分光光度計に関する。
適した分光光度計に関する。
従来一波長ダブルビームの分光光度計で生体試
料等の懸濁試料を測定する場合、反応試薬の添加
により濁りの状態が変動するためベースラインが
変動し、スペクトルの変化を観察するのが困難で
あつた。一般にこの濁りによるベースラインの変
化は比較的おそく、吸光度の変化と波長とに対し
て略直線的な傾きの変化として現れる。本考案は
このベースラインの変動を消去し正確なスペクト
ルの時間的変化を測定できるような分光装置を提
供しようとするものである。
料等の懸濁試料を測定する場合、反応試薬の添加
により濁りの状態が変動するためベースラインが
変動し、スペクトルの変化を観察するのが困難で
あつた。一般にこの濁りによるベースラインの変
化は比較的おそく、吸光度の変化と波長とに対し
て略直線的な傾きの変化として現れる。本考案は
このベースラインの変動を消去し正確なスペクト
ルの時間的変化を測定できるような分光装置を提
供しようとするものである。
まず本考案の原理を第１図によつて説明する。
第１図において横軸は波長、縦軸は測定された吸
光度を表わす。この図でλ１，λ２は吸光度の時
間的変化を零に補正する波長とする。これらの波
長λ１，λ２には着目している反応によつては吸
光度が変化しない波長をとる。今基準時間即ち測
定の始めにおける吸収スペクトルをＦ（λ）と
し、Ｆ（λ）の波長λ１，λ２における値を
A1，A2とする。このA1，A2を結ぶ直線をｆ
（λ）とする。次に一定時間後のスペクトルをＧ
（λ）とし、Ｇ（λ）の波長λ１，λ２における
値をB1，B2とし、B1，B2を結ぶ直線をｇ（λ）
とする。
第１図において横軸は波長、縦軸は測定された吸
光度を表わす。この図でλ１，λ２は吸光度の時
間的変化を零に補正する波長とする。これらの波
長λ１，λ２には着目している反応によつては吸
光度が変化しない波長をとる。今基準時間即ち測
定の始めにおける吸収スペクトルをＦ（λ）と
し、Ｆ（λ）の波長λ１，λ２における値を
A1，A2とする。このA1，A2を結ぶ直線をｆ
（λ）とする。次に一定時間後のスペクトルをＧ
（λ）とし、Ｇ（λ）の波長λ１，λ２における
値をB1，B2とし、B1，B2を結ぶ直線をｇ（λ）
とする。
A1，A2を結ぶ線ｆ（λ）およびB1，B2を結ぶ
線ｇ（λ）は何れもベースラインそのものではな
い。ベースライン変動の結果、ｆ（λ）がｇ
（λ）に移動したのである。従つてＧ（λ）のｇ
（λ）の上に乗つている部分をｇ（λ）がｆ
（λ）に一致する位置まで引下げると、Ｆ（λ）
とＧ（λ）とを同じベースライン上で比較してい
ることになり、吸収スペクトルの時間的変化が明
瞭になる。即ち波長λｘにおける基準時刻の吸光
度Axと一定時間後の吸光度を比較するにはAxと
Bxとを比較するのではなく、Bxからを引いた
ものとAxとを比較すべきであつて、Ax−（Bx−
）が波長λｘにおける吸光度の変化である。
は次式によつて求まる。
線ｇ（λ）は何れもベースラインそのものではな
い。ベースライン変動の結果、ｆ（λ）がｇ
（λ）に移動したのである。従つてＧ（λ）のｇ
（λ）の上に乗つている部分をｇ（λ）がｆ
（λ）に一致する位置まで引下げると、Ｆ（λ）
とＧ（λ）とを同じベースライン上で比較してい
ることになり、吸収スペクトルの時間的変化が明
瞭になる。即ち波長λｘにおける基準時刻の吸光
度Axと一定時間後の吸光度を比較するにはAxと
Bxとを比較するのではなく、Bxからを引いた
ものとAxとを比較すべきであつて、Ax−（Bx−
）が波長λｘにおける吸光度の変化である。
は次式によつて求まる。
＝（Ｂ２−Ａ２）（λ１−λｘ）＋（Ｂ１−Ａ１）（λｘ−λ２）／λ１−λ２ …(1)
次に本考案の一実施例を第２図によつて説明す
る。１は光源、２は分光器、３は試料セル、４は
光検出器、５は増幅器、６はＡ／Ｄ変換器、Ｓは
切換スイツチである。７は装置全体を制御する中
央制御装置（CPU）である。最初波長走査する
場合波長λ１及びλ２において、CPU７により
スイツチＳを接点１側に切換え、上記波長での吸
光度A1，A2をサンプリングしてRAMの所定のア
ドレスにメモリさせる。次に試薬添加後波長走査
する場合CPU７によつてスイツチＳを接点２側
に切換え、第１図で説明したスペクトルＧ（λ）
をRAMにメモリさせる。その後RAM内の波長λ
１及びλ２に対するＧ（λ）の値B1，B2及び先
にメモリさせたA1，A2のデータを用いCPU７の
命令により演算回路８において、上記(1)式の演算
と、それに基くＧ（λｘ）−の演算が各波長に
ついて行われ、レコーダ９に出力される。この動
作によつてレコーダ９には、波長λ１及びλ２に
おいて常に吸光度A1＝B1，A2＝B2でベースライ
ンの時間的変化のない吸収スペクトルが記録され
る。
る。１は光源、２は分光器、３は試料セル、４は
光検出器、５は増幅器、６はＡ／Ｄ変換器、Ｓは
切換スイツチである。７は装置全体を制御する中
央制御装置（CPU）である。最初波長走査する
場合波長λ１及びλ２において、CPU７により
スイツチＳを接点１側に切換え、上記波長での吸
光度A1，A2をサンプリングしてRAMの所定のア
ドレスにメモリさせる。次に試薬添加後波長走査
する場合CPU７によつてスイツチＳを接点２側
に切換え、第１図で説明したスペクトルＧ（λ）
をRAMにメモリさせる。その後RAM内の波長λ
１及びλ２に対するＧ（λ）の値B1，B2及び先
にメモリさせたA1，A2のデータを用いCPU７の
命令により演算回路８において、上記(1)式の演算
と、それに基くＧ（λｘ）−の演算が各波長に
ついて行われ、レコーダ９に出力される。この動
作によつてレコーダ９には、波長λ１及びλ２に
おいて常に吸光度A1＝B1，A2＝B2でベースライ
ンの時間的変化のない吸収スペクトルが記録され
る。
ベースラインおよび、ベースラインの時間的変
化を決定するのは面倒であるが、本考案によれば
ベースライン決定の操作を必要とせず以上のよう
にしてλ１からλ２まで波長走査する場合の試料
の濁りによるベースラインの変動が一様と見なせ
る場合、その影響を完全に取除くことができる。
化を決定するのは面倒であるが、本考案によれば
ベースライン決定の操作を必要とせず以上のよう
にしてλ１からλ２まで波長走査する場合の試料
の濁りによるベースラインの変動が一様と見なせ
る場合、その影響を完全に取除くことができる。
なお上の説明ではｆ（λ），ｇ（λ）を直線と
して扱つたが他の既知関数形で表わせる場合、
＝ｇ（λｘ）−ｆ（λｘ）であり、補正された
吸収スペクトルＡ（λｘ）は Ａ（λｘ）＝Ｇ（λｘ）
−｛ｇ（λｘ）−ｆ（λｘ）｝ で算出される。また吸光度の時間変化を零にする
波長は２個に限定されるものではなく、２個以上
採用することができる。
して扱つたが他の既知関数形で表わせる場合、
＝ｇ（λｘ）−ｆ（λｘ）であり、補正された
吸収スペクトルＡ（λｘ）は Ａ（λｘ）＝Ｇ（λｘ）
−｛ｇ（λｘ）−ｆ（λｘ）｝ で算出される。また吸光度の時間変化を零にする
波長は２個に限定されるものではなく、２個以上
採用することができる。
第１図は本考案装置の動作原理を説明するグラ
フ、第２図は本考案の一実施例装置の構成を示す
ブロツク図である。 １……光源、２……分光器、３……試料セル、
４……光検出器、８……演算回路、９……レコー
ダ。
フ、第２図は本考案の一実施例装置の構成を示す
ブロツク図である。 １……光源、２……分光器、３……試料セル、
４……光検出器、８……演算回路、９……レコー
ダ。
Claims (1)
- 測定基準時刻および任意時刻におけるスペクト
ル測定値を記録する手段と、測定基準時刻におけ
る特定複数波長に対する測定値を記憶する手段
と、任意時刻における上記特定波長に対する測定
値を連ねる線と測定基準時刻に対する測定値を連
ねる線との差分を任意時刻における測定値から引
算する演算手段を備え、この演算手段の出力を任
意時刻における測定値として記録するようにした
分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14646981U JPS5851257U (ja) | 1981-09-30 | 1981-09-30 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14646981U JPS5851257U (ja) | 1981-09-30 | 1981-09-30 | 分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5851257U JPS5851257U (ja) | 1983-04-07 |
| JPS6231879Y2 true JPS6231879Y2 (ja) | 1987-08-15 |
Family
ID=29939374
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14646981U Granted JPS5851257U (ja) | 1981-09-30 | 1981-09-30 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5851257U (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5425436A (en) * | 1977-07-27 | 1979-02-26 | Shin Kobe Electric Machinery | Lead storage battery |
-
1981
- 1981-09-30 JP JP14646981U patent/JPS5851257U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5851257U (ja) | 1983-04-07 |
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