JPS6231986B2 - - Google Patents
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- JPS6231986B2 JPS6231986B2 JP16347883A JP16347883A JPS6231986B2 JP S6231986 B2 JPS6231986 B2 JP S6231986B2 JP 16347883 A JP16347883 A JP 16347883A JP 16347883 A JP16347883 A JP 16347883A JP S6231986 B2 JPS6231986 B2 JP S6231986B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 98
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- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 5
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000012716 precipitator Substances 0.000 description 2
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
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- Electrostatic Separation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の利用分野]
本発明は、電気集塵装置の荷電不安定状態を検
出する電気集塵装置の不安定荷電検出装置に関す
るものである。
出する電気集塵装置の不安定荷電検出装置に関す
るものである。
[背景技術]
従来においては、経験的に予め求められた放電
電流が維持されるように定電流方式によりダスト
の荷電が行なわれていた。
電流が維持されるように定電流方式によりダスト
の荷電が行なわれていた。
しかしながらこの定電流制御方式によつてはダ
ストの電気的特性、ダストの種類の変化、排ガス
性状の変化に応じて安定した荷電を行なうことは
困難であり、例えば電気抵抗率の高いダストが集
塵される場合には、しばしば逆電離現象が生じて
集塵率の低下を招いていた。
ストの電気的特性、ダストの種類の変化、排ガス
性状の変化に応じて安定した荷電を行なうことは
困難であり、例えば電気抵抗率の高いダストが集
塵される場合には、しばしば逆電離現象が生じて
集塵率の低下を招いていた。
[発明の目的]
本発明は上記従来の課題に鑑みて為されたもの
であり、その目的は、電気集塵装置でダストに対
して不安定な荷電が行なわれていることを検出で
きる電気集塵装置の不安定荷電検出装置を提供す
ることにある。
であり、その目的は、電気集塵装置でダストに対
して不安定な荷電が行なわれていることを検出で
きる電気集塵装置の不安定荷電検出装置を提供す
ることにある。
[発明の概要]
上記目的を達成するために、本発明に係る電気
集塵装置の不安定荷電検出装置は、円筒状に形成
された集塵検出極と、集塵検出極の中央に設けら
れた放電検出極と、両検出極間に高電圧を印加す
る高電圧発生装置と、集塵検出極の内周面に沿つ
て相対移動されることにより集塵検出極の内周面
に捕集されたダストの厚さを所定値に調整するス
クレーパと、両検出極間を流れる放電電流のパタ
ーンを判別することにより両検出電極間ダストの
荷電不安定状態を検出したときに電気集塵装置で
ダストが不安定な状態で荷電されているとの判定
を行なう演算回路と、を有する、ことを特徴とす
る。
集塵装置の不安定荷電検出装置は、円筒状に形成
された集塵検出極と、集塵検出極の中央に設けら
れた放電検出極と、両検出極間に高電圧を印加す
る高電圧発生装置と、集塵検出極の内周面に沿つ
て相対移動されることにより集塵検出極の内周面
に捕集されたダストの厚さを所定値に調整するス
クレーパと、両検出極間を流れる放電電流のパタ
ーンを判別することにより両検出電極間ダストの
荷電不安定状態を検出したときに電気集塵装置で
ダストが不安定な状態で荷電されているとの判定
を行なう演算回路と、を有する、ことを特徴とす
る。
また電気集塵装置でダストが不安定な状態で荷
電されているときには電気集塵装置の集塵極、放
電極間に印加されている集塵用高電圧すなわちダ
ストの荷電電圧を引下げることによりその安定し
た荷電が可能となるので、電気集塵装置でこの荷
電を行なつている荷電装置に対し、あるいはその
操作者に対して集塵用高電圧の低減を指令する集
塵用高電圧低減指令を発生する様に演算回路を構
成することが好適である。
電されているときには電気集塵装置の集塵極、放
電極間に印加されている集塵用高電圧すなわちダ
ストの荷電電圧を引下げることによりその安定し
た荷電が可能となるので、電気集塵装置でこの荷
電を行なつている荷電装置に対し、あるいはその
操作者に対して集塵用高電圧の低減を指令する集
塵用高電圧低減指令を発生する様に演算回路を構
成することが好適である。
さらにダストの荷電不安定状態を検出したとき
に高電圧発生装置の検出用高電圧を低減制御して
荷電安定電圧を検出し、該荷電安定電圧から電気
集塵装置で安定したダストの荷電が行なわれる安
定荷電電圧目標値を求めるように前記演算回路を
構成すれば、集塵用高電圧の低減操作が容易とな
る。
に高電圧発生装置の検出用高電圧を低減制御して
荷電安定電圧を検出し、該荷電安定電圧から電気
集塵装置で安定したダストの荷電が行なわれる安
定荷電電圧目標値を求めるように前記演算回路を
構成すれば、集塵用高電圧の低減操作が容易とな
る。
そして集塵検出極の内周面に捕集されたダスト
の層の厚さを検出するダスト層厚検出器を設け、
その検出値がダスト厚さ調整制御用のフイードバ
ツク信号として前記演算回路に供給されるように
装置を構成すれば、ダスト層の厚さを常に正確に
一定にできるので、正確で安定した検出動作が可
能となる。
の層の厚さを検出するダスト層厚検出器を設け、
その検出値がダスト厚さ調整制御用のフイードバ
ツク信号として前記演算回路に供給されるように
装置を構成すれば、ダスト層の厚さを常に正確に
一定にできるので、正確で安定した検出動作が可
能となる。
そして、ダスト層厚検出器の検出値及び両検出
極間を流れる放電電流のパターンに基づいて槌打
インターバルを求めることが可能なように演算回
路を構成すれば、これを利用して最適なインター
バルで槌打を行なうことが可能である。なおこの
槌打を手動によりあるいは自動的に行なうことは
任意である。
極間を流れる放電電流のパターンに基づいて槌打
インターバルを求めることが可能なように演算回
路を構成すれば、これを利用して最適なインター
バルで槌打を行なうことが可能である。なおこの
槌打を手動によりあるいは自動的に行なうことは
任意である。
[発明の実施例]
以下図面に基づいて本発明に係る装置の好適な
実施例を説明する。
実施例を説明する。
第1図においてボイラ10で発生しダストを含
むガスはブロア12による煙突14へ電気集塵装
置16を介して導かれている。
むガスはブロア12による煙突14へ電気集塵装
置16を介して導かれている。
本実施例の電気集塵装置16は集塵極、放電極
(図示されていない)を有する電気集塵装置本体
18、電気集塵装置本体18の集塵極、放電極間
に集塵用高電圧を印加する荷電装置20、そして
集塵極に対して槌打を行なう槌打装置22を備え
ている。
(図示されていない)を有する電気集塵装置本体
18、電気集塵装置本体18の集塵極、放電極間
に集塵用高電圧を印加する荷電装置20、そして
集塵極に対して槌打を行なう槌打装置22を備え
ている。
上記荷電装置20は集塵用高電圧低減指令100
により上記集塵用高電圧を安定荷電電圧目標値
102に制御でき、また槌打装置22は槌打指令104
により槌打を行なうことが可能である。
により上記集塵用高電圧を安定荷電電圧目標値
102に制御でき、また槌打装置22は槌打指令104
により槌打を行なうことが可能である。
上記集塵用高電圧低減指令100、安定荷電電圧
目標値102、槌打指令104は次の不安定荷電検出装
置24から出力されている。
目標値102、槌打指令104は次の不安定荷電検出装
置24から出力されている。
第1図において電気集塵装置16の入り口側煙
道26にはバイパス煙道28が形成されており、
上記不安定荷電検出装置24はこのバイパス煙道
28中に設けられている。
道26にはバイパス煙道28が形成されており、
上記不安定荷電検出装置24はこのバイパス煙道
28中に設けられている。
第2図は上記不安定荷電検出装置24の構成を
説明するもので、バイパス煙道28の途中には集
塵検出極30が回転可能に挿入されており、集塵
検出極30にはボイラ10の排ガス200が図の左
側から右側へ通流している。なお、集塵検出極3
0は接地されている。
説明するもので、バイパス煙道28の途中には集
塵検出極30が回転可能に挿入されており、集塵
検出極30にはボイラ10の排ガス200が図の左
側から右側へ通流している。なお、集塵検出極3
0は接地されている。
また集塵検出極30にはベルト歯車32が外嵌
されている。このベルト歯車32には歯車34が
歯合されており、歯車34はその軸36、歯車3
8,40を介してモータ42の駆動軸44に連結
されている。
されている。このベルト歯車32には歯車34が
歯合されており、歯車34はその軸36、歯車3
8,40を介してモータ42の駆動軸44に連結
されている。
また集塵検出極30の内側中央には先鋭化され
て集塵検出極30の内周面へ指向された放電先端
を有する放電検出極46が設けられている。そし
て集塵検出極30の下流側通路には垂直に碍子管
48が接続されており、その内側には放電検出極
46の基部が埋め込まれた碍子50が嵌入されて
いる。さらに放電検出極46の基端には高電圧発
生装置52から検出用高電圧106が印加されてい
る。なお、硝子管48の側面には碍子50の先端
を清掃する高圧空気が供給されている管路54が
接続されている。
て集塵検出極30の内周面へ指向された放電先端
を有する放電検出極46が設けられている。そし
て集塵検出極30の下流側通路には垂直に碍子管
48が接続されており、その内側には放電検出極
46の基部が埋め込まれた碍子50が嵌入されて
いる。さらに放電検出極46の基端には高電圧発
生装置52から検出用高電圧106が印加されてい
る。なお、硝子管48の側面には碍子50の先端
を清掃する高圧空気が供給されている管路54が
接続されている。
そして集塵検出極30の内側にはスクレーパ5
6が設けられている。このスクレーパ56は板状
のもので、スクレーパ移動装置58により集塵検
出極30の径方向に移動制御されている。
6が設けられている。このスクレーパ56は板状
のもので、スクレーパ移動装置58により集塵検
出極30の径方向に移動制御されている。
さらに集塵検出極30に捕集されたダスト層の
厚さはダスト層厚検出器60により検出されてい
る。
厚さはダスト層厚検出器60により検出されてい
る。
ここで前記モータ42、高電圧発生装置52、
スクレーパ移動装置58、そして上記ダスト層厚
検出器60は演算回路62に接続されている。
スクレーパ移動装置58、そして上記ダスト層厚
検出器60は演算回路62に接続されている。
この演算回路62は前記集塵用高電圧低減指令
100、安定荷電電圧目標値102、槌打指令104を発
生でき、モータ42及びスクレーパ移動装置58
に駆動電流を供給してそれらを制御できる。
100、安定荷電電圧目標値102、槌打指令104を発
生でき、モータ42及びスクレーパ移動装置58
に駆動電流を供給してそれらを制御できる。
また前記高電圧発生装置52は集塵検出極3
0、放電検出極46間の放電電流を検出する電流
検出器(図示されていない)を備えており、その
電流検出信号110が演算回路62に供給されて
いる。そして前記ダスト層厚検出器60のダスト
層厚検出値112もこの演算回路62に供給されて
いる。また演算回路62は電圧制御信号114を
高電圧発生装置52に供給してその検出用高電圧
106を低減制御できる。
0、放電検出極46間の放電電流を検出する電流
検出器(図示されていない)を備えており、その
電流検出信号110が演算回路62に供給されて
いる。そして前記ダスト層厚検出器60のダスト
層厚検出値112もこの演算回路62に供給されて
いる。また演算回路62は電圧制御信号114を
高電圧発生装置52に供給してその検出用高電圧
106を低減制御できる。
なお、上記演算回路62はマイクロコンピユー
タ及びその入出力回路等から構成されており、そ
のマイクロコンピユータのROMには各種固定デ
ータ、プログラムが予め格納されている。
タ及びその入出力回路等から構成されており、そ
のマイクロコンピユータのROMには各種固定デ
ータ、プログラムが予め格納されている。
本発明に係る装置は以上の構成から成り、以下
その作用を説明する。
その作用を説明する。
演算回路62からモータ42に一定の駆動電流
が供給されており、このモータ42により集塵検
出極30は常時一定の回転数で回転駆動されてい
る。
が供給されており、このモータ42により集塵検
出極30は常時一定の回転数で回転駆動されてい
る。
また演算回路62の電圧制御信号114により
高電圧発生装置52は基準値の検出用高電圧106
を集塵検出極30、放電検出極46間に印加して
いる。
高電圧発生装置52は基準値の検出用高電圧106
を集塵検出極30、放電検出極46間に印加して
いる。
これにより排ガス200に含まれていたダストは
荷電されて集塵検出極30の内周面に捕集されて
集塵検出極30の内周面上にダスト層が形成され
る。
荷電されて集塵検出極30の内周面に捕集されて
集塵検出極30の内周面上にダスト層が形成され
る。
このダスト層の厚さはダスト層厚検出器60に
より検出されており、そのダスト層厚検出値112
は演算回路62に供給される。演算回路62はこ
のダスト層厚検出値112に応じた駆動電流をスク
レーパ移動装置58に供給し、スクレーパ移動装
置58はスクレーパ56を集塵検出極30の半径
方向へ駆動して集塵検出極30の内側に形成され
たダスト層の厚さを所定値に調整する。
より検出されており、そのダスト層厚検出値112
は演算回路62に供給される。演算回路62はこ
のダスト層厚検出値112に応じた駆動電流をスク
レーパ移動装置58に供給し、スクレーパ移動装
置58はスクレーパ56を集塵検出極30の半径
方向へ駆動して集塵検出極30の内側に形成され
たダスト層の厚さを所定値に調整する。
このようにして設定された検出条件のもとで、
すなわち集塵検出極30の内側に形成されたダス
ト層の厚さが一定で集塵検出極30、放電検出極
46間の検出用高電圧106が一定であるという条
件のもとで、演算回路62は高電圧発生装置52
から供給された電流検出信号110により以下の
ようにして集塵検出極30、放電検出極46間を
流れる放電電流のパターンを監視することにより
集塵検出極30、放電検出極46間に存在するダ
ストの荷電不安定状態を検出している。
すなわち集塵検出極30の内側に形成されたダス
ト層の厚さが一定で集塵検出極30、放電検出極
46間の検出用高電圧106が一定であるという条
件のもとで、演算回路62は高電圧発生装置52
から供給された電流検出信号110により以下の
ようにして集塵検出極30、放電検出極46間を
流れる放電電流のパターンを監視することにより
集塵検出極30、放電検出極46間に存在するダ
ストの荷電不安定状態を検出している。
第3図及び第4図はこの検出動作を説明するフ
ローチヤートであり、第3図のフローチヤートに
おいてはまず積分計算が、次いで微分計算が以下
のようにして行なわれる。
ローチヤートであり、第3図のフローチヤートに
おいてはまず積分計算が、次いで微分計算が以下
のようにして行なわれる。
第5図には集塵検出極30、放電検出極46間
を流れる放電電流iの特性300が例として示され
ており、同図において電流i0は上記検出条件にお
ける基準電流値であり、上記積分計算、微分計算
は時刻t=0からt=Tにかけて繰り返して行な
われている。
を流れる放電電流iの特性300が例として示され
ており、同図において電流i0は上記検出条件にお
ける基準電流値であり、上記積分計算、微分計算
は時刻t=0からt=Tにかけて繰り返して行な
われている。
第3図においてまず積分計算が終了したか否か
が判断される(ステツプ400)。
が判断される(ステツプ400)。
このとき積分計算が終了していないと判定され
たときには時刻t=0でタイマがスタートされる
(ステツプ402)。
たときには時刻t=0でタイマがスタートされる
(ステツプ402)。
次いで放電電流iがサンプリングされて次式の
積分計算が行なわれる(ステツプ404)。
積分計算が行なわれる(ステツプ404)。
P1=∫T 0[i(t)−i0]dt ……(1)
すなわちこの積分計算は時刻t=Tとなつて前
記タイマがタイムアツプするまで行なわれてお
り、このタイマがタイムアツプすると積分計算が
終了したことを示すフラグがセツトされる(ステ
ツプ408)。
記タイマがタイムアツプするまで行なわれてお
り、このタイマがタイムアツプすると積分計算が
終了したことを示すフラグがセツトされる(ステ
ツプ408)。
上記フラグのセツトにより積分計算の終了が確
認されると(ステツプ400)、再び前記タイマがス
タートされ(ステツプ410)、次いで次の微分計算
がそのタイマ時間に亘つて行なわれる(ステツプ
412)。
認されると(ステツプ400)、再び前記タイマがス
タートされ(ステツプ410)、次いで次の微分計算
がそのタイマ時間に亘つて行なわれる(ステツプ
412)。
P=di/dt ……(2)
そして上記タイマがタイムアツプしたことが確
認されると(ステツプ414)、前記ステツプ408で
セツトされたフラグがリセツトされ(ステツプ
416)、再び積分計算が開始される。
認されると(ステツプ414)、前記ステツプ408で
セツトされたフラグがリセツトされ(ステツプ
416)、再び積分計算が開始される。
このように常時積分計算、微分計算が繰り返し
行なわれている。
行なわれている。
第4図においてまず第3図の処理が1回のみ行
なわれたか否かが判断される(ステツプ418)。
なわれたか否かが判断される(ステツプ418)。
そして第3図の処理が2回以上行なわれた場合
にはステツプ412で求められた各微分値のいずれ
かが設定値を越えたか否かが判断される(ステツ
プ420)。
にはステツプ412で求められた各微分値のいずれ
かが設定値を越えたか否かが判断される(ステツ
プ420)。
このときいずれの微分値も設定値を越えていな
いと判定されると、ステツプ404により求められ
た積分値が前回の積分値以上であるか否かが判断
される(ステツプ422)。
いと判定されると、ステツプ404により求められ
た積分値が前回の積分値以上であるか否かが判断
される(ステツプ422)。
このとき否定的な判断が行なわれると放電電流
iが安定しているとの判定が(ステツプ424)、ま
た肯定的な判断が行なわれると放電電流iの値が
低下中であるとの判定(ステツプ426)が行なわ
れる。
iが安定しているとの判定が(ステツプ424)、ま
た肯定的な判断が行なわれると放電電流iの値が
低下中であるとの判定(ステツプ426)が行なわ
れる。
第6図は代表的な放電電流iのパターンの例を
示すもので、ステツプ424の判定が行なわれた場
合には放電電流は同図Aに示されるように変化し
ており、またステツプ426の判定が行なわれたと
きには同図Bに示されるように変化している。
示すもので、ステツプ424の判定が行なわれた場
合には放電電流は同図Aに示されるように変化し
ており、またステツプ426の判定が行なわれたと
きには同図Bに示されるように変化している。
また前記ステツプ420で肯定的な判断が行なわ
れた場合には、前記タイマ期間T中に微分値が設
定値を上まわつた回数が所定回数以上であるか否
かが判断される(ステツプ428)。
れた場合には、前記タイマ期間T中に微分値が設
定値を上まわつた回数が所定回数以上であるか否
かが判断される(ステツプ428)。
このとき否定的な判断が行なわれると、集塵検
出極30、放電検出極46間でスパークが発生し
ているとの判定が行なわれる(ステツプ430)。
出極30、放電検出極46間でスパークが発生し
ているとの判定が行なわれる(ステツプ430)。
この状態では第6図Cに示されるように放電電
流iが変化している。
流iが変化している。
他方上記ステツプ428で肯定的な判断が行なわ
れた場合には、積分値が設定値を越えたか否かが
判断される(ステツプ432)。
れた場合には、積分値が設定値を越えたか否かが
判断される(ステツプ432)。
このステツプ432で否定的な判断が行なわれた
場合には集塵検出極30、放電検出極46間で部
分的に逆電離現象が発生しているとの判定が(ス
テツプ434)、また肯定的な判断が行なわれたとき
には両者間で全面的な逆電離現象が発生している
との判定(ステツプ436)が行なわれる。
場合には集塵検出極30、放電検出極46間で部
分的に逆電離現象が発生しているとの判定が(ス
テツプ434)、また肯定的な判断が行なわれたとき
には両者間で全面的な逆電離現象が発生している
との判定(ステツプ436)が行なわれる。
上記ステツプ434の判定が行なわれたときには
放電電流iは第6図Dに示されるように変化して
おり、またステツプ436の判定が行なわれたとき
には同図Eに示されるように放電電流iが変化し
ている。
放電電流iは第6図Dに示されるように変化して
おり、またステツプ436の判定が行なわれたとき
には同図Eに示されるように放電電流iが変化し
ている。
以上のように演算回路62は集塵検出極30、
放電検出極46間を流れる放電電流iのパターン
を監視しており、これにより集塵検出極30、放
電検出極46間に存在するダストの荷電不安定状
態(第6図D,E)を検出する。
放電検出極46間を流れる放電電流iのパターン
を監視しており、これにより集塵検出極30、放
電検出極46間に存在するダストの荷電不安定状
態(第6図D,E)を検出する。
そして上記ステツプ434、436の判定が行なわれ
ると、荷電不安定であることを表示するフラグが
セツトされて第7図の処理が開始される。
ると、荷電不安定であることを表示するフラグが
セツトされて第7図の処理が開始される。
第7図においてまず荷電不安定を示すフラグが
セツトされているか否かが判断される(ステツプ
438)。
セツトされているか否かが判断される(ステツプ
438)。
最初は該フラグがセツトされているので肯定的
な判断が行なわれ、演算回路62はこの判断によ
り電圧制御信号114で高電圧発生装置52の検
出用高電圧106をわずかに引き下げる(ステツプ
440)。
な判断が行なわれ、演算回路62はこの判断によ
り電圧制御信号114で高電圧発生装置52の検
出用高電圧106をわずかに引き下げる(ステツプ
440)。
さらに再び438の判断が行なわれ、ステツプ440
の処理は前記ステツプ424、426、430の判定が行
なわれるまで継続される。
の処理は前記ステツプ424、426、430の判定が行
なわれるまで継続される。
その後ステツプ424、426、430の判定が行なわ
れてステツプ434、436でセツトされたフラグがリ
セツトされることによりステツプ438で否定的な
判断が行なわれると、そのときの検出用高電圧
106がラツチされる(ステツプ442)。
れてステツプ434、436でセツトされたフラグがリ
セツトされることによりステツプ438で否定的な
判断が行なわれると、そのときの検出用高電圧
106がラツチされる(ステツプ442)。
次にステツプ442でラツチされた検出用高電圧
106の値に基づいて安定荷電電圧目標値102が算出
される(ステツプ444)。
106の値に基づいて安定荷電電圧目標値102が算出
される(ステツプ444)。
上記ステツプ444で求められた安定荷電電圧目
標値102は電気集塵装置16の集塵電極、放電電
極間に荷電装置20から印加される荷電電圧が最
適となる値に相当しており、この荷電電圧では両
電極間のダストは荷電不安定状態とはならず常に
安定して荷電される。
標値102は電気集塵装置16の集塵電極、放電電
極間に荷電装置20から印加される荷電電圧が最
適となる値に相当しており、この荷電電圧では両
電極間のダストは荷電不安定状態とはならず常に
安定して荷電される。
このようにして安定荷電電圧目標値102が求め
られると、集塵用高電圧低減指令100、安定荷電
電圧目標値102が荷電装置20に供給され(ステ
ツプ446)、最後にステツプ442でラツチされた検
出用高電圧106が制御目標値としてセツトされる
(ステツプ448)。これにより集塵検出極30、放
電検出極46間に印加される検出用高電圧106は
再び一定に固定される。
られると、集塵用高電圧低減指令100、安定荷電
電圧目標値102が荷電装置20に供給され(ステ
ツプ446)、最後にステツプ442でラツチされた検
出用高電圧106が制御目標値としてセツトされる
(ステツプ448)。これにより集塵検出極30、放
電検出極46間に印加される検出用高電圧106は
再び一定に固定される。
以上のようにして得られた集塵用高電圧低減指
令100、安定荷電電圧目標値102により荷電装置2
0は電気集塵装置本体18の集塵電極、放電電極
間に最適な値とされた集塵用高電圧を印加し、そ
の結果電気集塵装置本体18においてはダストの
安定した荷電が行なわれて良好な集塵率でダスト
が電気集塵装置本体18の集塵極に捕集される。
令100、安定荷電電圧目標値102により荷電装置2
0は電気集塵装置本体18の集塵電極、放電電極
間に最適な値とされた集塵用高電圧を印加し、そ
の結果電気集塵装置本体18においてはダストの
安定した荷電が行なわれて良好な集塵率でダスト
が電気集塵装置本体18の集塵極に捕集される。
最後に槌打制御について説明する。
前記演算回路62のROM中には検出用高電圧
106の所定間隔ごとに集塵検出極30の内側に形
成されたダスト層の厚さ及び放電電流パターンを
パラメータとされた槌打インターバルが格納され
ている。
106の所定間隔ごとに集塵検出極30の内側に形
成されたダスト層の厚さ及び放電電流パターンを
パラメータとされた槌打インターバルが格納され
ている。
このため第8図において前記ステツプ448で固
定された検出用高電圧106が取り込まれる(ステ
ツプ450)。
定された検出用高電圧106が取り込まれる(ステ
ツプ450)。
次いでダスト層厚検出値112及び前記ステツプ
424、426、430の判定結果が取り込まれる(ステ
ツプ452)。
424、426、430の判定結果が取り込まれる(ステ
ツプ452)。
さらに上記ステツプ450、452で取り込まれたデ
ータに基づいて槌打インターバルが前記ROMか
ら読み出される(ステツプ454)。
ータに基づいて槌打インターバルが前記ROMか
ら読み出される(ステツプ454)。
そしてその槌打インターバルで槌打タイマのタ
イマ時間が設定されるとともにその槌打タイマの
動作がスタートされる(ステツプ456)。
イマ時間が設定されるとともにその槌打タイマの
動作がスタートされる(ステツプ456)。
その後槌打タイマがタイムアツプすると(ステ
ツプ458)、前記槌打指令104が前記槌打装置22
に出力され(ステツプ460)、槌打装置22により
電気集塵装置本体18の集塵極に対して槌打が行
なわれる。
ツプ458)、前記槌打指令104が前記槌打装置22
に出力され(ステツプ460)、槌打装置22により
電気集塵装置本体18の集塵極に対して槌打が行
なわれる。
最後に前記ステツプ434、436の判定が行なわれ
ていないことが確認されると(ステツプ462)、上
記ステツプ456、458、460の処理が繰り返して行
なわれる。
ていないことが確認されると(ステツプ462)、上
記ステツプ456、458、460の処理が繰り返して行
なわれる。
また上記ステツプ462で肯定的な判定が行なわ
れたときには本処理は停止される。
れたときには本処理は停止される。
以上のようにダスト層の厚さと放電電流パター
ンとの関係に基づいて最適なインターバルで槌打
が行なわれる。
ンとの関係に基づいて最適なインターバルで槌打
が行なわれる。
以上説明したように本実施例によれば、ダスト
の電気的特性等の変化により生ずるダストの荷電
不安定状態を検出でき、さらにその検出時に電気
集塵装置のダストに対する荷電電圧を最適な値に
制御できるので、電気集塵装置において常に良好
な集塵率でダストの捕集を行なうことが可能であ
る。
の電気的特性等の変化により生ずるダストの荷電
不安定状態を検出でき、さらにその検出時に電気
集塵装置のダストに対する荷電電圧を最適な値に
制御できるので、電気集塵装置において常に良好
な集塵率でダストの捕集を行なうことが可能であ
る。
またダストの荷電不安定状態の検出が一定の検
出条件のもとで行なわれるので、常に安定して正
確な信頼性の高いダストの荷電不安定状態検出動
作が可能である。
出条件のもとで行なわれるので、常に安定して正
確な信頼性の高いダストの荷電不安定状態検出動
作が可能である。
なお、この実施例において、荷電装置20、槌
打装置22側に設けられた制御装置を不安定荷電
検出装置24側に設けて本装置を指令発生装置と
してのみならず制御装置として利用することも好
適である。
打装置22側に設けられた制御装置を不安定荷電
検出装置24側に設けて本装置を指令発生装置と
してのみならず制御装置として利用することも好
適である。
[発明の効果]
以上説明したように本発明によれば、電気集塵
装置のダストが不安定な状態で荷電されているこ
とが検知されるので、これに従つて電気集塵装置
のダスト荷電電圧を調整してダストの電気的特性
等の変化に拘らず常にダストを安定な状態で荷電
でき、このため良好な集塵率でダストを捕集する
ことが可能となる。
装置のダストが不安定な状態で荷電されているこ
とが検知されるので、これに従つて電気集塵装置
のダスト荷電電圧を調整してダストの電気的特性
等の変化に拘らず常にダストを安定な状態で荷電
でき、このため良好な集塵率でダストを捕集する
ことが可能となる。
第1図は本発明に係る装置が使用された電気集
塵システムの全体構成図、第2図は第1図におけ
る不安定荷電検出装置24の構成説明図、第3
図、第4図は不安定荷電検出装置24の動作を説
明するフローチヤート図、第5図は放電電流の特
性の一例が示された特性説明図、第6図は放電電
流の代表的なパターンの説明図、第7図、第8図
は不安定荷電検出装置24の動作を説明するフロ
ーチヤート図である。 16……電気集塵装置、18……電気集塵装置
本体、20……荷電装置、22……槌打装置、2
8……バイパス煙道、30……集塵検出極、42
……モータ、46……放電検出極、52……高電
圧発生装置、56……スクレーペ、58……スク
レーペ移動装置、60……ダスト層厚検出器、6
2……演算回路。
塵システムの全体構成図、第2図は第1図におけ
る不安定荷電検出装置24の構成説明図、第3
図、第4図は不安定荷電検出装置24の動作を説
明するフローチヤート図、第5図は放電電流の特
性の一例が示された特性説明図、第6図は放電電
流の代表的なパターンの説明図、第7図、第8図
は不安定荷電検出装置24の動作を説明するフロ
ーチヤート図である。 16……電気集塵装置、18……電気集塵装置
本体、20……荷電装置、22……槌打装置、2
8……バイパス煙道、30……集塵検出極、42
……モータ、46……放電検出極、52……高電
圧発生装置、56……スクレーペ、58……スク
レーペ移動装置、60……ダスト層厚検出器、6
2……演算回路。
Claims (1)
- 1 電気集塵装置の入口側に流入すべき排ガスの
一部が通過する円筒状に形成された集塵検出極
と、集塵検出極の中央に設けられた放電検出極
と、両検出極間に高電圧を印加する高電圧発生装
置と、集塵検出極の内周面に沿つて相対移動され
ることにより集塵検出極の内周面に捕集されたダ
ストの厚さを所定値に調整するスクレーパと、両
検出極間を流れる放電電流のパターンを判別する
ことにより両検出電極間ダストの荷電不安定状態
を検出したときに電気集塵装置でダストが不安定
な状態で荷電されているとの判定を行なう演算回
路と、を有することを特徴とする電気集塵装置の
不安定荷電検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16347883A JPS6054750A (ja) | 1983-09-05 | 1983-09-05 | 電気集塵装置の不安定荷電検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16347883A JPS6054750A (ja) | 1983-09-05 | 1983-09-05 | 電気集塵装置の不安定荷電検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6054750A JPS6054750A (ja) | 1985-03-29 |
| JPS6231986B2 true JPS6231986B2 (ja) | 1987-07-11 |
Family
ID=15774634
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16347883A Granted JPS6054750A (ja) | 1983-09-05 | 1983-09-05 | 電気集塵装置の不安定荷電検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6054750A (ja) |
-
1983
- 1983-09-05 JP JP16347883A patent/JPS6054750A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6054750A (ja) | 1985-03-29 |
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