JPS6232346Y2 - - Google Patents

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JPS6232346Y2
JPS6232346Y2 JP1980154697U JP15469780U JPS6232346Y2 JP S6232346 Y2 JPS6232346 Y2 JP S6232346Y2 JP 1980154697 U JP1980154697 U JP 1980154697U JP 15469780 U JP15469780 U JP 15469780U JP S6232346 Y2 JPS6232346 Y2 JP S6232346Y2
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bimorph
plate
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  • Adjustment Of The Magnetic Head Position Track Following On Tapes (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案はVTR等の如き記録再生装置における
ヘツド支持装置に関し、特に、記録媒体とヘツド
との相対的な移動によつて前記記録媒体に所定の
記録トラツクを形成し或いはこの記録トラツクに
記録されている情報を再生するようにした記録再
生装置におけるヘツドの移動装置に関するもので
ある。
回転ヘツド方式のヘリカルスキヤン型VTR
(ビデオテープレコーダ)においては通常、巻付
けられたテープのヘツドドラムに対する傾斜角、
テープ走行速度及び回転ヘツドの回転速度等に応
じて傾斜した記録トラツクが磁気テープ上に形成
される。そのため、磁気テープを記録時の速度と
異なつた速度で走行させて再生しようとする場
合、例えば、スチル、スローモーシヨン、倍速、
リバース等の各モードにおける再生の場合には、
ヘツドの走査軌跡が上述した記録トラツクとは異
なつた傾斜となり、ヘツドは所定の記録トラツク
から外れて走査することになる。このように磁気
ヘツドが所定の記録トラツクを外れて走査する
と、ガードバンドノイズやクロストークが発生す
るので好ましくない。そこでこの種のVTRにお
いては、各種のモードにおいても磁気ヘツドが記
録トラツク上を正しく走査するようにするために
トラツキング補正手段が必要となる。このような
トラツキング補正手段として、電気−機械変換素
子、例えばバイモルフ板を用いた磁気ヘツド支持
装置がある。
第1図はこのようなバイモルフ板の原理的な構
造を示している。第1図に示すように、バイモル
フ板1は、両面に電極2,3がシルク印刷焼付け
等によつて被着されたピエゾ・セラミツク素子4
と、これと同様に両面に電極5,6が被着された
ピエゾ・セラミツク素子7とをそれぞれ具備して
いる。そしてこれらのピエゾ・セラミツク素子
4,7は、各々の分極方向が第1図において矢印
で示すように互いに逆方向になるようにシム8が
これらの間に接着によつて接合され、電極3,5
がシム8にそれぞれ接触している。なおこのシム
8はバイモルフ板1の補強を目的とするもので、
リン青銅、チタン合金、カーボンフアイバー等か
ら成つている。
このようなバイモルフ板1に第2図に示すよう
に電圧を印加すると、ピエゾ・セラミツク素子4
に対しては、電極2から電極3の方向(分極方向
とは逆の方向)の電界がかけられるので、圧電気
効果により、セラミツク素子4は第2図において
矢印で示すように伸びる方向に変形する。また他
方のセラミツク素子7に対しては、電極5から電
極6の方向(分極方向)の電界がかけられるの
で、このセラミツク素子7は縮む方向に変形す
る。この結果、バイモルフ板1は第2図に示すよ
うに撓み、その偏倚量すなわちバイモルフ板1の
自由端の変位量はセラミツク素子4,7にかけら
れる電界の大きさに応じて増減する。なお電界の
方向を逆とすれば、変位の方向も逆となる。
そして第2図〜第4図に示すように、このバイ
モルフ板1の一端を回転ヘツドドラム9の回転ド
ラム9aのヘツド取付部16に片持ち支持すると
共に、その自由端に磁気ヘツド10を取付けれ
ば、この磁気ヘツド10は回転ヘツドドラム9の
外表面に沿つてこのドラム9の高さ方向に移動
(偏倚)可能に支持されることになる。なお第4
図において9bは固定ドラムである。従つて、バ
イモルフ板1に印加される電圧を適当に調整して
磁気ヘツド10の変位量を制御すれば、上述のト
ラツキング補正が可能となる。
即ち、磁気テープ11は第3図に示すように一
対のテープガイド12,13によつて回転ヘツド
ドラム9の外周面に約340゜に亘つてヘリカルに
巻付けられている。そしてこの磁気テープ11は
図外の駆動手段によつてV1の速度で走行してい
る。一方、磁気ヘツド10は上述の如くバイモル
フ板1を介して回転ヘツドドラム9の回転ドラム
9aに取付けられ、第4図に示すようにこの回転
ドラム9aに形成されたスリツト14を介して回
転ドラム9aの外周面から僅かに突出しており、
回転速度V2で走行しながら前記磁気テープ11
と接触している。従つて、この装置で記録を行う
と第5図に示すように、多数の互いに平行な記録
トラツクT1が磁気テープ11の長さ方向に対し
て所定角度だけ傾斜してこの磁気テープ11上に
形成される。なお記録時と同じ速度V1で磁気テ
ープ11を走行させる通常再生時には、磁気ヘツ
ド10は前記記録トラツクT1上を正しく走査す
ることになり、磁気ヘツド10が記録トラツク
T1から外れることはない。
しかしV1よりも遅い速度で磁気テープ11を
走行させながら再生を行なう場合、例えばスロー
モーシヨン(V=V/2,V/3等)やスチルモー
シヨ ン(V=0)のモードにおいては、第5図におい
て点線で示すように磁気ヘツド10の走査軌跡
T2の傾斜角が記録トラツクT1の傾斜角よりも大
きくなる。これによつて記録トラツクT1と磁気
ヘツド10の走査軌跡とが一致しなくなり、ガー
ドバンドノイズやクロストークが生ずることにな
る。そこで磁気ヘツド10を支持しているバイモ
ルフ板1に適当な電圧を印加してこのバイモルフ
板1を変形させることによつて、磁気ヘツド10
を第2図に示すように変位させれば、所定の記録
トラツクT1を外れないように走査させることが
できる。
また磁気テープ11の走行速度がV1よりも速
い場合についても、バイモルフ板1の変形によつ
てトラツキング補正がなされる。すなわち、例え
ば3倍速再生モード時(V=3V1)においては、
第3図において鎖線で示すように磁気ヘツド10
の走査軌跡T3の傾斜角が記録トラツクT1の傾斜
角よりも小さくなる。そこでこの場合にもバイモ
ルフ板1を適当に変形させ、記録トラツクT1
一致させることができる。
しかしながら、磁気テープ11を通常再生時と
は逆の方向に走行させて再生を行なうようにした
いわゆるリバース再生モード時(例えばV=−
2V1)には、第5図において二点鎖線で示すよう
に磁気ヘツド10の走査軌跡T4の傾斜角が記録
トラツクT1の傾斜角よりも非常に大きくなる。
このため、このリバース再生モード時に磁気ヘツ
ド10の走査軌跡を記録トラツクT1と一致させ
るためには可成り大巾な移動を行なわせる必要が
ある。またリバース速度或いは倍速が大きくなれ
ばなるほど、磁気ヘツド10を大巾に移動させる
必要があるが、この大巾な移動を行なうために
は、バイモルフ板1の有効長すなわちバイモルフ
板1の自由端から片持ち部分までの突出長l1(第
2図及び第3図参照)を充分に長くとるか、或い
はバイモルフ板1に過大な電圧を印加してこのバ
イモルフ板1を大きく撓ませるようにする以外に
方法はなかつた。しかし前記長さl1を長くする
と、固有共振周波数がこれに伴ない必然的に
低下してしまい、応答速度が遅くなる結果、フラ
イバツク動作時間内ではトラツクピツチ間の飛び
越しを十分には行うことができない。このため、
前記突出長l1は固有共振周波数との関係で大
きな制約を受け、あまり長くとることができない
のが実状である。またバイモルフ板1を大きく撓
ませるようにすると、ピエゾ・セラミツク素子
4,7がひび割れを生じたり、場合によつては破
損してしはうおそれがある。
本考案は上述の如き実状に鑑みて考案されたも
のであつて、固有共振周波数を低下させるこ
となしにヘツドの振れ(変位距離)を大きくとる
ことができるように構成した記録再生装置におけ
るヘツド支持装置を提供しようとするものであ
る。
以下、本考案をヘリカルスキヤン型VTRにお
けるヘツド支持装置に適用した実施例に付き第6
図〜第10図を参照して説明する。なお第6図〜
第10図において、第1図及び第2図と共通する
部分には共通の符号を付してその説明を省略す
る。
先ず第6図は本考案の第1の実施例を示すもの
であつて、本実施例のヘツド支持装置は既述の如
きバイモルフ板1及び磁気ヘツド10と、このバ
イモルフ板1の一端部を片持ち支持する一対のモ
ノモルフ板18,19とから構成されている。こ
のモノモルフ板18は両面に電極20,21がシ
ルク印刷焼付け等によつて被着されたピエゾ・セ
ラミツク素子22と、電極21に接着剤等により
接合されたシム23とから成り、一方、これと同
様にモノモルフ板19は両面に電極24,25が
シルク印刷焼付け等によつて被着されたピエゾ・
セラミツク素子26と、電極24に接着剤等によ
に接合されたシム27とから成つている。そして
これら一対のモノモルフ板18,19は互いに所
定間隔を隔ててほぼ平行に配されると共に、それ
らの一端部が既述の回転ドラム9aの取付部16
によつて片持ち支持されている。なおモノモルフ
板18,19のシム23,27は互いに対向配置
されている。
またモノモルフ板18,19の自由端の間には
バイモルフ板1の一端部が差し込まれた状態で接
着剤により剛性的に接着固定され、換言すれば、
このバイモルフ板1の一端部はモノモルフ板1
8,19の自由端によつて挟持された状態で片持
ち支持されている。即ち、バイモルフ板1の電極
2及び6の固定端側の部分がモノモルフ板18,
19のシム23,27の自由端側の部分に接着固
定されている。そしてバイモルフ板1の自由端に
は、磁気ヘツド10が接着固定されている。なお
第6図及び第7図から明らかなように、バイモル
フ板1の片持ち支持されている側の端面29とヘ
ツド取付部16の壁面16aとの間には空間部3
0が設けられている。
また第6図において矢印で示すように、バイモ
ルフ板1のピエゾ・セラミツク素子4,7の分極
方向は互いに逆方向になつており、一方、モノモ
ルフ板18,19のピエゾ・セラミツク素子2
2,26の分極方向も互いに逆方向になつてい
る。そしてバイモルフ板1のピエゾ・セラミツク
素子4及びモノモルフ板18のピエゾ・セラミツ
ク素子22の分極方向は互いに逆方向であり、バ
イモルフ板1のピエゾ・セラミツク素子7及びモ
ノモルフ板19のピエゾ・セラミツク素子26の
分極方向も互いに逆方向になつている。
また図示を省略したが、バイモルフ板1及びモ
ノモルフ板18,19が互いに同一方向に偏倚
(変形)するように、既述の各ピエゾ・セラミツ
ク素子4,7,22,26にはそれぞれ所定方向
の電界がかけられるように構成されている。即
ち、第7図に示すように磁気ヘツド10を下方に
変位(移動)させる場合には、バイモルフ板1及
びモノモルフ板18のピエゾ・セラミツク素子4
及び22には電極2及び20から電極3及び21
にそれぞれ向かう電界がかけられ、この結果、こ
れらのピエゾ・セラミツク素子4,22が第7図
において矢印で示すように伸びる方向に変形す
る。一方、これと同時にバイモルフ板1及びモノ
モルフ板19のピエゾ・セラミツク素子7及び2
6には電極5及び24から電極6及び25にそれ
ぞれ向かう電界がかけられ、この結果、これらの
ピエゾ・セラミツク素子7,26は第7図におい
て矢印で示すように縮む方向に変形するようにな
つている。従つて、バイモルフ板1の自由端ひい
ては磁気ヘツド10の変位距離は、モノモルフ板
18,19の自由端からのバイモルフ板1の突出
部分(第6図においてlで示す部分)の変形によ
る変位距離のみならず、取付部16の壁面16a
からのモノモルフ板18,19の突出部分(第6
図においてLで示す部分)の変形によつて生じる
増加分を加え合わせたものとなる。
即ちこの際、モノモルフ板18,19の自由端
は第7図において距離αだけ下方に変位する。ま
た既述の如くこの装置には空間部30が設けられ
ているため、バイモルフ板1及びモノモルフ板1
8,19が互いにオーバーラツプしている部分す
なわち接着部分(片持ち支持部分)においてバイ
モルフ板1は水平面に対して或る角度をもつた状
態で一対のモノモルフ板18,19により支持さ
れる。従つて、モノモルフ板18,19の自由端
の変位距離α(第7図参照)と上述の如くバイモ
ルフ板1が角度付けをされることによるバイモル
フ板1の自由端の変位距離とを加算した距離分
が、バイモルフ板1自体の変形による変位距離に
加え合わされることになる。
なお上述の如き変形時におけるバイモルフ板1
の曲率半径r1及びモノモルフ板18,19の曲率
半径r2は、ヘツド支持体としての剛性及び磁気ヘ
ツド10の振れ感度を考慮してr1<r2となるよう
に構成されている。またモノモルフ板18,19
はバイモルフ板1よりも可成り高剛性となるよう
に構成されている。
一方、磁気ヘツド10を上方に移動する場合に
は、既述の場合とは反対の向きの電界をピエゾ・
セラミツク素子4,7,22,26に加えればよ
い。また磁気ヘツド10の振れの大きさはこれら
のピエゾ・セラミツク素子4,7,22,26に
加えられる電界の大きさを調整することにより制
御されるようになつている。
このように構成したヘツド支持装置によれば、
バイモルフ板1を電気−機械変換素子の一種であ
るモノモルフ板18,19によつてその一端部を
支持すると共にその自由端に磁気ヘツド10を支
持固定し、バイモルフ板1及びモノモルフ板1
8,19を互いに同一方向に偏倚(変形)させる
ようにしたので、磁気ヘツド10の振れを従来の
場合に比べて大きくとることができる。即ち、第
2図に示す如き従来のヘツド支持装置の場合には
バイモルフ板1の固定部分L1は磁気ヘツド10
の変位距離に寄与しないが、本実施例のヘツド支
持装置ではモノモルフ板18,19がバイモルフ
板1と同一方向に偏倚されると共に、これらの接
着部分(オーバーラツプ部分)においてバイモル
フ板1が一対のモノモルフ板18,19により水
平面に対して或る角度分だけ傾斜されることにな
るため、これらのモノモルフ板18,19の突出
長Lの部分の変形が既述の如く磁気ヘツド10の
振れの大きさに寄与することになるからである。
このことを具体的な数値を挙げて説明すると、バ
イモルフ板1の突出長lを16〜18mm程度としかつ
モノモルフ板18,19の突出長Lを9〜11mmと
すれば、磁気ヘツド10の変位距離を第2図に示
す如き従来のヘツド支持装置の場合に比べて約
1.6倍程度にすることが可能である。このためバ
イモルフ板1の突出長lを従来のような長さにし
ても、過大な電圧を印加することなく例えば720
μ程度(従来では460μ程度)の変位距離をとる
ことができるので、リバース1倍速〜3倍速モー
ドを行なうことが充分に可能となる。
また従来の場合と比べて比較的小さな電圧を印
加するだけでバイモルフ板1の自由端ひいては磁
気ヘツド10を充分に変位させることが可能とな
るから、磁気ヘツドの振れ感度を大巾に向上させ
ることができる。
一方、このような利点を有するにも拘わらず、
モノモルフ板18,19はバイモルフ板1よりも
可成り高剛性を有するように構成してあるため、
バイモルフ板1及びモノモルフ板18,19から
成るヘツド支持手段の実質的な固有共振周波数
はバイモルフ板1の突出長lによつてのみ一義
的に定まり、このが低下してしまうおそれが
なく、従つて磁気ヘツド10の応答速度は変化す
ることがない。なおバイモルフ板1の突出長l及
びモノモルフ板18,19の突出長Lを適当に選
ぶことによつて、磁気ヘツド10の変位距離(振
れ)を更に大きくしかつ固有共振周波数を更
に高くすることも可能である。
またバイモルフ板1が取付部16によつて支持
されている従来のヘツド支持装置に比較して、本
実施例のヘツド支持装置ではバイモルフ板1がモ
ノモルフ板18,19によつて柔軟に支持されて
いるので、バイモルフ板1が変形する際の第7図
におけるA点への応力集中が緩和される。またバ
イモルフ板4の曲率半r1及びモノモルフ板18,
19の曲率半径r2がr1<r2となるように構成され
ているので、第7図におけるB点での応力も小さ
い。この結果、前記A点及びB点における応力が
緩和されるのでバイモルフ板1及びピエゾ・セラ
ミツク素子4,7,22,26の耐クラツク性が
向上し、ひび割れや破損等を効果的に防止でき
る。またバイモルフ板1とモノモルフ板18,1
9とは互いに同一の材質から構成されているため
温度変化によつてバイモルフ板1のみが熱膨張或
いは熱収縮により撓んで磁気ヘツド10が偏倚し
てしまうおそれが全くなく、電界をかけない限り
通常は常に一定の位置に保持されている。従つ
て、温度変化によるヘツド支持装置の特性変化は
全くない。
次に、第8図を参照して本考案の第2の実施例
を説明すると、本実施例においては、モノモルフ
板18,19に代えて一対のバイモルフ板32,
33が用いられている。なおこれらの一対のバイ
モルフ板32,33は既述のバイモルフ板1を短
く切断したものであつてよい。
このように構成した場合でも、各バイモルフ板
1,32,33に適当な電界をかけることによつ
てこれらを同一方向に偏倚させ(撓ませ)れば、
既述の第1の実施例の場合と全く同様の効果を得
ることができる。
次に、第9図を参照して本考案の第3の実施例
を説明すると、本実施例においては、第6図に示
したような構成の装置が2組用いられ、これら2
組の装置が互いに平行に配設されている。そして
一対のバイモルフ板1の自由端は断面コ字状を成
すヘツド支持部材35によつて互いに連結されて
いる。即ち、このヘツド支持部材35の両腕部3
5a,35bは多少の弾性を有しており、これら
の両腕部35a,35bがバイモルフ板1の自由
端にそれぞれ接着されている。そしてヘツド支持
部材35に磁気ヘツド10が接着固定され、これ
により、磁気ヘツド10はバイモルフ板1の自由
端に実質的に取付けられている。
このように構成したヘツド支持装置によれば、
バイモルフ板1及びモノモルフ板18,19の変
形時には、第10図に示すように、ヘツド支持部
材35の両腕部35a,35bの弾性により磁気
ヘツド10は第9図に示す位置から平行移動され
ることになる。このため、磁気テープの記録面に
対して磁気ヘツド10を平行に移動させることが
でき、前記記録面に対する磁気ヘツド10の突き
当て角を好ましい状態に保持できる。この結果、
既述の実施例の場合と同様に磁気ヘツド10の振
れを大きくとることができる上に、磁気テープと
磁気ヘツド10との接触面におけるスペーシング
ロスがなくなるため、倍速やリバース再生モード
時のノイズを低減化することができ、再生特性の
向上を図ることができる。
なお第8図に示すような装置を2組用いて、第
9図の場合と同様に構成してもよく、このように
構成しても上述の如き作用効果を得ることができ
る。
以上の如く本考案は、それぞれ片持ち支持され
た第1の一対の電気−機械変換素子(例えば、モ
ノモルフ板18,19、バイモルフ板32,3
3)と、前記第1の一対の電気−機械変換素子の
自由端によつてその一端部が挟持された第2の電
気−機械変換素子(例えば、バイモルフ板1)
と、前記第2の電気−機械変換素子の自由端に取
付けられたヘツド(例えば、磁気ヘツド10)と
それぞれ具備し、前記第1及び第2の電気−機械
変換素子に所定方向の電界をかけてこれらを互い
に同一方向に偏倚させることによつて、前記ヘツ
ドを移動させるようにしたものである。故に本考
案のヘツド支持装置によれば、第2の電気−機械
変換素子の自由端の変位距離は、この第2の電気
−機械変換素子の偏倚(変形)と第1の一対の電
気−機械変換素子の偏倚との相乗効果によつて、
従来のものより長く(例えば1.6倍)とることが
でき、この結果、ヘツドの振れを大きくとること
ができる。従つて、例えば1倍速〜3倍速のリバ
ース再生動作やその他の高倍速再生動作が可能と
なる。
また第2の電気−機械変換素子に比べて第2の
電気−機械変換素子を可成り高剛性に構成すれ
ば、装置の固有共振周波数を低下させること
なく、従つて応答速度が変化することなくヘツド
の振れを大きくとることが可能となり、倍速再生
時におけるノイズレス化が可能となる。しかも、
上述の第1及び第2の素子の変形時に作用する応
力は、これらの素子の各々の支点に分散されるた
め、耐クラツク性が改善される利点もある。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第5図はバイモルフ板によつて磁気ヘ
ツドを支持するようにした従来のヘツド支持装置
を説明するためのものであつて、第1図はバイモ
ルフ板の構造を示す側面図、第2図はこのバイモ
ルフ板を用いたヘツド支持装置の要部側面図、第
3図はこの装置の回転ヘツドドラムの要部平面
図、第4図はこの回転ヘツドドラムの正面図、第
5図は記録トラツクを示す磁気テープの平面図で
ある。第6図〜第10図は本考案をヘリカルスキ
ヤン型VTRにおけるヘツド支持装置に適用した
実施例を示すものである。第6図及び第7図は本
考案の第1の実施例を示すものであつて、第6図
はヘツド支持装置の側面図、第7図はヘツド支持
装置の動作時における状態を示す側面図、第8図
は本考案の第2の実施例を示すヘツド支持装置の
側面図、第9図及び第10図は本考案の第3の実
施例を示すものであつて、第9図はヘツド支持装
置の側面図、第10図はヘツド支持装置の動作時
における状態を示す側面図である。 なお図面に用いられている符号において、1…
…第2の電気−機械変換素子としてのバイモルフ
板、10……磁気ヘツド、16……取付部、1
8,19……第1の電気−機械変換素子としての
モノモルフ板、32,33……第1の電気−機械
変換素子としてのバイモルフ板、である。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 記録媒体とヘツドとの相対的な移動によつて前
    記記録媒体に所定の記録トラツクを形成し或いは
    この記録トラツクに記録されている情報を再生す
    るようにした記録再生装置において、それぞれ片
    持ち支持された第1の一対の電気−機械変換素子
    と、前記第1の一対の電気−機械変換素子の自由
    端によつて一端部が挟持された第2の電気−機械
    変換素子と、前記第2の電気−機械変換素子の自
    由端に取付けられたヘツドとをそれぞれ具備し、
    前記第1及び第2の電気−機械変換素子に所定方
    向の電界をかけてこれらを互いに同一方向に偏倚
    させることによつて前記ヘツドを移動させるよう
    にしたことを特徴とする記録再生装置におけるヘ
    ツド支持装置。
JP1980154697U 1980-10-29 1980-10-29 Expired JPS6232346Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1980154697U JPS6232346Y2 (ja) 1980-10-29 1980-10-29

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JPS5779937U JPS5779937U (ja) 1982-05-17
JPS6232346Y2 true JPS6232346Y2 (ja) 1987-08-19

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JP4625553B2 (ja) * 1999-05-31 2011-02-02 貞夫 秋下 2重構造体の振動・音波遮断構造

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