JPS6232400A - 放射能汚染の除洗方法 - Google Patents
放射能汚染の除洗方法Info
- Publication number
- JPS6232400A JPS6232400A JP17190185A JP17190185A JPS6232400A JP S6232400 A JPS6232400 A JP S6232400A JP 17190185 A JP17190185 A JP 17190185A JP 17190185 A JP17190185 A JP 17190185A JP S6232400 A JPS6232400 A JP S6232400A
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- JP
- Japan
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- contamination
- pigment
- decontamination
- radioactive
- radioactive contamination
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- Solid-Sorbent Or Filter-Aiding Compositions (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
本発明は、放射能汚染の除染方法に関づる。
［発明の技術的背景とその問題点］
原子力発電プラントにおいて、原子炉−次系または廃棄
物処理系などの機器を点検した時に放射性物質の一部が
床や治工具などに（’Ｊ ｕし、放射能汚染が発生ザる
ことがある。このようなｔｌｉ射能汚染に対して、従来
は主としてウェスと水（場合によっては、洗剤Ａ５除染
剤）により、放射性物質を拭き取る除染方法が行なわれ
ていた。また、一部では、水（場合によっては洗剤）で
濡らした後、ブラシでこづ゛ることにより放射性物質を
除去する除染方法が行なわれていた。
物処理系などの機器を点検した時に放射性物質の一部が
床や治工具などに（’Ｊ ｕし、放射能汚染が発生ザる
ことがある。このようなｔｌｉ射能汚染に対して、従来
は主としてウェスと水（場合によっては、洗剤Ａ５除染
剤）により、放射性物質を拭き取る除染方法が行なわれ
ていた。また、一部では、水（場合によっては洗剤）で
濡らした後、ブラシでこづ゛ることにより放射性物質を
除去する除染方法が行なわれていた。
ところで、放射能汚染は、汚染レベルの高低にかかわら
ず直接銀Ｃ児ることはできない。従って、放射能汚染の
有無の確認は、ＧＭ管式サーベイメータ等の測定器を用
いて直接イの有無を確ル２する（以下直接測定という）
方法かまたはスミア法により試料を測定器にて測定しそ
の有無をＩＩｆ認する（以下スミア測定という）方法か
のいずれかの測定法が用いられていた。
ず直接銀Ｃ児ることはできない。従って、放射能汚染の
有無の確認は、ＧＭ管式サーベイメータ等の測定器を用
いて直接イの有無を確ル２する（以下直接測定という）
方法かまたはスミア法により試料を測定器にて測定しそ
の有無をＩＩｆ認する（以下スミア測定という）方法か
のいずれかの測定法が用いられていた。
しかして、原子炉−次系等の機器を点検した時には、作
業エリア床面等について一般にはスミア測定にて汚染有
無を確認することが多いが、この時測定者は、現場のレ
イアウトをスケッチし、その図面上に測定ポイントを記
入し、汚染の有無およびレベル等の測定結果を同じく図
面１−に記入していた。そして、測定後、測定者はその
図面上に記入゛された測定結果と測定ポイン１〜から汚
染のレベルと範囲を判断し、必要ならば、除染作業者に
汚染のレベルと範囲を連絡して、除染作業者による除染
を行なうように指令していた。
業エリア床面等について一般にはスミア測定にて汚染有
無を確認することが多いが、この時測定者は、現場のレ
イアウトをスケッチし、その図面上に測定ポイントを記
入し、汚染の有無およびレベル等の測定結果を同じく図
面１−に記入していた。そして、測定後、測定者はその
図面上に記入゛された測定結果と測定ポイン１〜から汚
染のレベルと範囲を判断し、必要ならば、除染作業者に
汚染のレベルと範囲を連絡して、除染作業者による除染
を行なうように指令していた。
上記したように、従来の除染方法は主とじで水とウェス
による湿式除染であり、除染作業者は、連絡された範囲
の床面等を水で濡したウェスに−Ｃ拭き取るが、ｔＩｌ
射能汚染は眼には見えないため同じ部分を何回拭けば良
いかは作業者の経験上の知識によるところが多く、また
、拭いた後にどの位の放射能汚染が残っているかは、−
々、スミア測定を実施しなければ判らないという不具合
があった。さらに、汚染の範囲も図面、［の連絡による
ことが多く、明確でないという不具合があった。
による湿式除染であり、除染作業者は、連絡された範囲
の床面等を水で濡したウェスに−Ｃ拭き取るが、ｔＩｌ
射能汚染は眼には見えないため同じ部分を何回拭けば良
いかは作業者の経験上の知識によるところが多く、また
、拭いた後にどの位の放射能汚染が残っているかは、−
々、スミア測定を実施しなければ判らないという不具合
があった。さらに、汚染の範囲も図面、［の連絡による
ことが多く、明確でないという不具合があった。
このため、除染作業時に、汚染のある範囲が明確となり
、除染中に除染効果がどの位になっているかが視覚的に
分るような除染方法の開発が望まれていた。
、除染中に除染効果がどの位になっているかが視覚的に
分るような除染方法の開発が望まれていた。
［発明の１］的］
本発明は、−１−記事情に鑑みでなされたもので、（の
目的は、放射能汚染の除染作業時に）り染範囲を視覚的
に明らかに表示し、放射能汚染の残存Ｆｌ’ｊを視覚的
に判断しながら行なえるようにした敢ｑ４能汚染の除染
方法を提供することにある。
目的は、放射能汚染の除染作業時に）り染範囲を視覚的
に明らかに表示し、放射能汚染の残存Ｆｌ’ｊを視覚的
に判断しながら行なえるようにした敢ｑ４能汚染の除染
方法を提供することにある。
［発明のＷ要］
本発明は、上記目的を達成するために、放射能汚染が検
出された範囲に顔料を塗イｒｉ シて汚染範囲に色付番
ノを行なった侵、湿式による除染にて顔１１１と放射性
物質とを除去する作業を行ない、前記顔料が所定の吊に
なるまで前記湿式による顔料の除去を繰り返すことによ
り放！１）１ｔ’ｌ物質を除去するようにした放射能汚
染の除染方法に関り゛るものである。そして、顔料は１
〜１０μｍの範囲の粒径のものが適当である。
出された範囲に顔料を塗イｒｉ シて汚染範囲に色付番
ノを行なった侵、湿式による除染にて顔１１１と放射性
物質とを除去する作業を行ない、前記顔料が所定の吊に
なるまで前記湿式による顔料の除去を繰り返すことによ
り放！１）１ｔ’ｌ物質を除去するようにした放射能汚
染の除染方法に関り゛るものである。そして、顔料は１
〜１０μｍの範囲の粒径のものが適当である。
［発明の実施例］
本発明の一実施例を図面を参照して説明する３゜第１図
は本発明の一実施例による放射能汚染の除染方法を示す
フローチャートである。同図に示すように、本実施例は
スミア測定による汚染検査、顔料の塗布、水とウェスに
よる湿式除染によって１１４成されている。
は本発明の一実施例による放射能汚染の除染方法を示す
フローチャートである。同図に示すように、本実施例は
スミア測定による汚染検査、顔料の塗布、水とウェスに
よる湿式除染によって１１４成されている。
先ず、第１ステツプ１としてスミア測定による汚染検査
を行ない、次の第２ステツプ２では汚染の有無が判定さ
れる。汚染有りの判定により第３ステツプ３では除染の
必要性が判定される。そして、除染が必要であると判定
されると、第４ステツプ４では汚染が検出された範囲に
有機顔料を塗布し着色する。このとぎ、有機顔料の粒径
を１〜１０μｍとすると原子力発電所における放射性ク
ラッドの粒径とほぼ同様どなり、物理的に放射性クラッ
ドと同じような挙動を示す。また、有Ｒ顔料を水にまぜ
て用いれば、有機顔料は不溶性であり、塗布面に固着ぜ
ずウェスによる拭き取りによる除去が容易である。次の
第５スｊツブ５では汚染範囲の着色が完了したかどうか
を判定し、着色が完了していなければ完了するまで繰り
返される。第６ステツプ６では除染範囲に塗布した有機
顔料を水で濡したつＩスにて拭き取る除染が行なわれる
。
を行ない、次の第２ステツプ２では汚染の有無が判定さ
れる。汚染有りの判定により第３ステツプ３では除染の
必要性が判定される。そして、除染が必要であると判定
されると、第４ステツプ４では汚染が検出された範囲に
有機顔料を塗布し着色する。このとぎ、有機顔料の粒径
を１〜１０μｍとすると原子力発電所における放射性ク
ラッドの粒径とほぼ同様どなり、物理的に放射性クラッ
ドと同じような挙動を示す。また、有Ｒ顔料を水にまぜ
て用いれば、有機顔料は不溶性であり、塗布面に固着ぜ
ずウェスによる拭き取りによる除去が容易である。次の
第５スｊツブ５では汚染範囲の着色が完了したかどうか
を判定し、着色が完了していなければ完了するまで繰り
返される。第６ステツプ６では除染範囲に塗布した有機
顔料を水で濡したつＩスにて拭き取る除染が行なわれる
。
第７ステツプ７では顔料の残留の有無が調べられ・もし
顔料が残留していれば顔料が残留しなくなるまで繰り返
して除染が行なわれる。そして、除染面上に付右してい
る１′Ｔ機顔料がなくなれば第８スデツプ８のように除
染作業は終了したことになる。
顔料が残留していれば顔料が残留しなくなるまで繰り返
して除染が行なわれる。そして、除染面上に付右してい
る１′Ｔ機顔料がなくなれば第８スデツプ８のように除
染作業は終了したことになる。
なお、第２ステツプ２で汚染無しと判定されるがまたは
第３スデツプ３で除染の必要性無しと判定されれば第９
スデツプ９のように除染不要となる。
第３スデツプ３で除染の必要性無しと判定されれば第９
スデツプ９のように除染不要となる。
第２図に残存する有機顔料と放射能汚染密度との関係を
示す。Ｘ軸に有機顔料の残？７静Ｒ，ｙ軸に放射能汚染
密度を示づ。水で濡したウェスぐ除染面を拭くと顔料の
一部と放射能汚染の一部が除去され、両省の関係を示す
曲線す上の点Ｐは原点に近づく。これを、有機顔料の残
存料がゼロになるまで繰り返すと放射能汚染密度は検出
限界値となる。このとき、顔料の残存ｆＪ１ピロと放射
能汚染密度が検出限界となる点が一致するような顔料の
塗布量を得ることは、仲々難しいので、一般には、放射
能汚染が検出限界となったときにまだｒＩ料が残存して
いるように、すなわ１う、Ｒａ：＞Ｑどなるように多め
の顔料を汚染範囲に塗布するようにする。
示す。Ｘ軸に有機顔料の残？７静Ｒ，ｙ軸に放射能汚染
密度を示づ。水で濡したウェスぐ除染面を拭くと顔料の
一部と放射能汚染の一部が除去され、両省の関係を示す
曲線す上の点Ｐは原点に近づく。これを、有機顔料の残
存料がゼロになるまで繰り返すと放射能汚染密度は検出
限界値となる。このとき、顔料の残存ｆＪ１ピロと放射
能汚染密度が検出限界となる点が一致するような顔料の
塗布量を得ることは、仲々難しいので、一般には、放射
能汚染が検出限界となったときにまだｒＩ料が残存して
いるように、すなわ１う、Ｒａ：＞Ｑどなるように多め
の顔料を汚染範囲に塗布するようにする。
また、汚染レベルが高い時には、塗布する顔料のＭを多
くすることにより、顔料の残存量がゼロとなっても放射
能汚染が検出限界を越える。すなわち、曲線Ｃにおいて
ＲＣ＜Ｏとイすることを回避できる。
くすることにより、顔料の残存量がゼロとなっても放射
能汚染が検出限界を越える。すなわち、曲線Ｃにおいて
ＲＣ＜Ｏとイすることを回避できる。
なお、汚染範囲に固着性の汚染がある場合、本実施例に
より完全に放射能汚染を除去することはでさないが、通
常は、この汚染は他に拡大しないため放射！！２管理上
の問題は少ない。
より完全に放射能汚染を除去することはでさないが、通
常は、この汚染は他に拡大しないため放射！！２管理上
の問題は少ない。
［発明の効果］
以上説明したように、本発明のｔｌｉ射能汚染の除染方
法によれば、眼に見えない放射能汚染を色によって明示
するとともに、ウェス等による除染時に一々汚染検査を
繰り返すことなく顔料の残存量に着目するだけで検出限
界値まで放射能を除去することができ、除染作業の効率
化とそれに伴なう被曝低減および汚染検査頻度の削減に
よる被曝低減をもたらすという効果を有する。。
法によれば、眼に見えない放射能汚染を色によって明示
するとともに、ウェス等による除染時に一々汚染検査を
繰り返すことなく顔料の残存量に着目するだけで検出限
界値まで放射能を除去することができ、除染作業の効率
化とそれに伴なう被曝低減および汚染検査頻度の削減に
よる被曝低減をもたらすという効果を有する。。
第１図に本発明の一実施例である放射能汚染の除染方法
の−７［１−ヂｔｙ−１〜、第２図は本発明に・しる除
染作業時にＪ３ける顔享４残（ｆ咄と放）１能汚染密度
との関係を説明するための図である３゜１・・・汚染検
査 ４・・・顔料の塗布 ６・・・湿式除染 ８・・・除染終了 ９・・・除染不要 （８７３３）代理人 弁理士 猪 股 社 晃（ばか１
名） 茅 ｌＴｇＪ 茅 ２ 回
の−７［１−ヂｔｙ−１〜、第２図は本発明に・しる除
染作業時にＪ３ける顔享４残（ｆ咄と放）１能汚染密度
との関係を説明するための図である３゜１・・・汚染検
査 ４・・・顔料の塗布 ６・・・湿式除染 ８・・・除染終了 ９・・・除染不要 （８７３３）代理人 弁理士 猪 股 社 晃（ばか１
名） 茅 ｌＴｇＪ 茅 ２ 回
Claims (2)
- （１）放射能汚染が検出された範囲に顔料を塗布して汚
染範囲に色付けを行なった後、湿式による除染にて顔料
と放射性物質とを除去する作業を行ない、前記顔料が所
定の量になるまで前記湿式による顔料の除去を繰り返す
ことにより放射性物質を除去するようにしたことを特徴
とする放射能汚染の除染方法。 - （２）顔料の粒径は１〜１０μｍである特許請求の範囲
第１項記載の放射能汚染の除染方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17190185A JPS6232400A (ja) | 1985-08-06 | 1985-08-06 | 放射能汚染の除洗方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17190185A JPS6232400A (ja) | 1985-08-06 | 1985-08-06 | 放射能汚染の除洗方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6232400A true JPS6232400A (ja) | 1987-02-12 |
Family
ID=15931911
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17190185A Pending JPS6232400A (ja) | 1985-08-06 | 1985-08-06 | 放射能汚染の除洗方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6232400A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0390897A (ja) * | 1989-09-01 | 1991-04-16 | Ngk Insulators Ltd | 放射性廃棄物の除染方法 |
| JP2020027076A (ja) * | 2018-08-16 | 2020-02-20 | 日鉄エンジニアリング株式会社 | 汚染除去実施範囲の可視化方法 |
-
1985
- 1985-08-06 JP JP17190185A patent/JPS6232400A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0390897A (ja) * | 1989-09-01 | 1991-04-16 | Ngk Insulators Ltd | 放射性廃棄物の除染方法 |
| JP2020027076A (ja) * | 2018-08-16 | 2020-02-20 | 日鉄エンジニアリング株式会社 | 汚染除去実施範囲の可視化方法 |
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