JPS6233648B2 - - Google Patents
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- JPS6233648B2 JPS6233648B2 JP56157837A JP15783781A JPS6233648B2 JP S6233648 B2 JPS6233648 B2 JP S6233648B2 JP 56157837 A JP56157837 A JP 56157837A JP 15783781 A JP15783781 A JP 15783781A JP S6233648 B2 JPS6233648 B2 JP S6233648B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tracking
- signal
- groove
- track
- guide track
- Prior art date
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- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光学デイスクのような円板状の情報担
体に情報を光学的に記録および/または再生する
光学的情報記録再生装置のためのトラツキングサ
ーボ引込み装置、特に情報担体に形成された溝状
の案内トラツクをもつ情報担体のトラツキングサ
ーボ引込み装置に関する。
体に情報を光学的に記録および/または再生する
光学的情報記録再生装置のためのトラツキングサ
ーボ引込み装置、特に情報担体に形成された溝状
の案内トラツクをもつ情報担体のトラツキングサ
ーボ引込み装置に関する。
光学的情報記録再生装置としては、例えば光感
応性材料を塗布又は蒸着した円板状情報担体を回
転させておき、前記円板状情報担体にレーザ光源
等からの光束を直径1μm以下に絞つた微小スポ
ツト光を照射し、その光出力強度を記録信号で変
調することによつて情報担体上に凹凸による位相
変化、屈析率変化あるいは反射率や透過率の変化
などの光学的特性変化としてリアルタイムでビデ
オ信号やデイジタル信号等の情報の記録が行な
え、かつ前記光学的特性変化を検出することによ
り記録した情報の再生が行なえる装置は提案され
ている。
応性材料を塗布又は蒸着した円板状情報担体を回
転させておき、前記円板状情報担体にレーザ光源
等からの光束を直径1μm以下に絞つた微小スポ
ツト光を照射し、その光出力強度を記録信号で変
調することによつて情報担体上に凹凸による位相
変化、屈析率変化あるいは反射率や透過率の変化
などの光学的特性変化としてリアルタイムでビデ
オ信号やデイジタル信号等の情報の記録が行な
え、かつ前記光学的特性変化を検出することによ
り記録した情報の再生が行なえる装置は提案され
ている。
かかる装置では、記録トラツクの高密度化、離
散的な部分書き込みあるいは消去などの理由によ
り、記録しようとするトラツクを案内する案内ト
ラツクを同心円あるいはスパイラル状に予め設け
ておき、前記案内トラツクに追従するようにトラ
ツキング制御をかけながら定められたトラツクに
情報を記録し、またそのトラツクから情報を再生
する光学的情報記録再生装置が考えられる。
散的な部分書き込みあるいは消去などの理由によ
り、記録しようとするトラツクを案内する案内ト
ラツクを同心円あるいはスパイラル状に予め設け
ておき、前記案内トラツクに追従するようにトラ
ツキング制御をかけながら定められたトラツクに
情報を記録し、またそのトラツクから情報を再生
する光学的情報記録再生装置が考えられる。
情報担体に形成された案内トラツクは例えば凹
凸の溝状構造が適当である。情報はこの案内トラ
ツクの設けられた情報担体に蒸着されたアモルフ
アス金属のごとき記録媒体に記録される。情報
は、記録媒体の蒸発による穴形成または極所的な
黒化という形で蓄積される。
凸の溝状構造が適当である。情報はこの案内トラ
ツクの設けられた情報担体に蒸着されたアモルフ
アス金属のごとき記録媒体に記録される。情報
は、記録媒体の蒸発による穴形成または極所的な
黒化という形で蓄積される。
案内トラツクの識別は、案内トラツクで反射さ
れたレーザ光束の遠視野パターンが案内トラツク
方向の両側に光強度分布の偏りで行なわれる。こ
の偏りは、分割境界が前記案内トラツクの接線方
向と平行になるように配された2つの受光部をも
つ光検出器で光電変換されて、トラツキング制御
手段へ印加される。
れたレーザ光束の遠視野パターンが案内トラツク
方向の両側に光強度分布の偏りで行なわれる。こ
の偏りは、分割境界が前記案内トラツクの接線方
向と平行になるように配された2つの受光部をも
つ光検出器で光電変換されて、トラツキング制御
手段へ印加される。
光学的記録再生装置におけるトラツキング制御
の引き込みおよび解除は、ユーザーが必要とする
トラツクを検索する毎に行なわれる。そのためト
ラツキング制御の引き込みは確実に行なう必要が
ある。ところが光学デイスク上に照射された光ス
ポツトが案内溝トラツクを横断中に、たまたま案
内溝トラツクの真上にないときに(案内溝トラツ
クと案内溝トラツクの間つまり溝間の平坦部
分)、トラツキング制御の引き込みが行なわれる
と案内溝にトラツキングがかからず、トラツキン
グアクチユエータが発振することがある。この発
振はトラツキング制御系、つまりトラツキング方
向の光検出器、駆動回路、トラツキングアクチユ
エータ(トラツキングミラー等)のループ内で起
つている。発振の原因は、次のように考えられ
る。光スポツトが溝間にあるときはトラツキング
誤差信号の出力は大きい。これは光学デイスクか
らの反射光スポツトが大きく片側によつているか
らである。この状態でトラツキング制御の引き込
みを行なうと、反射光スポツトをもう一方の2分
割光検出器の方へ動かす大きな力がトラツキング
ミラーに働く。トラツキングミラーの駆動機構は
磁気回路によつているので、ある程度のヒステリ
シスはさけられない。このヒステリシスと慣性力
のため前記の大きな力が働くと、反射光スポツト
は2分割光検出器の中心分割線からさらに遠くへ
動く。片側の光検出器に大きく片よつて入つた反
射光スポツトは最初に述べたと同様にトラツキン
グミラーを再び大きく元の方向へ動かしてしまう
結果となる。
の引き込みおよび解除は、ユーザーが必要とする
トラツクを検索する毎に行なわれる。そのためト
ラツキング制御の引き込みは確実に行なう必要が
ある。ところが光学デイスク上に照射された光ス
ポツトが案内溝トラツクを横断中に、たまたま案
内溝トラツクの真上にないときに(案内溝トラツ
クと案内溝トラツクの間つまり溝間の平坦部
分)、トラツキング制御の引き込みが行なわれる
と案内溝にトラツキングがかからず、トラツキン
グアクチユエータが発振することがある。この発
振はトラツキング制御系、つまりトラツキング方
向の光検出器、駆動回路、トラツキングアクチユ
エータ(トラツキングミラー等)のループ内で起
つている。発振の原因は、次のように考えられ
る。光スポツトが溝間にあるときはトラツキング
誤差信号の出力は大きい。これは光学デイスクか
らの反射光スポツトが大きく片側によつているか
らである。この状態でトラツキング制御の引き込
みを行なうと、反射光スポツトをもう一方の2分
割光検出器の方へ動かす大きな力がトラツキング
ミラーに働く。トラツキングミラーの駆動機構は
磁気回路によつているので、ある程度のヒステリ
シスはさけられない。このヒステリシスと慣性力
のため前記の大きな力が働くと、反射光スポツト
は2分割光検出器の中心分割線からさらに遠くへ
動く。片側の光検出器に大きく片よつて入つた反
射光スポツトは最初に述べたと同様にトラツキン
グミラーを再び大きく元の方向へ動かしてしまう
結果となる。
本発明の目的は、このようなトラツキング制御
引込み時におけるトラツキングミラーの発振現象
をおさえて安定なトラツキング引込みを提供する
ことにある。そのためには先に述べたように、光
スポツトが案内溝トラツクを横断する際、光スポ
ツトが案内溝のちようど真上に照射された瞬間に
トラツキング制御の引込みを行なう必要がある。
トラツキング制御の引込みは、フオーカス制御の
引込みのように光学的記録再生装置の電源投入時
および光学デイスクかけかえ時のみに行なうので
はなく、トラツク検索毎にその引込み動作が行な
われる。そのために特に安定した引込み動作が要
求されてくる。本発明は、トラツキング制御の引
込みのタイミングを光スポツトが案内溝トラツク
の上を通過するときのみに制限し、安定なトラツ
キング制御引込みを実現しようとするものであ
る。
引込み時におけるトラツキングミラーの発振現象
をおさえて安定なトラツキング引込みを提供する
ことにある。そのためには先に述べたように、光
スポツトが案内溝トラツクを横断する際、光スポ
ツトが案内溝のちようど真上に照射された瞬間に
トラツキング制御の引込みを行なう必要がある。
トラツキング制御の引込みは、フオーカス制御の
引込みのように光学的記録再生装置の電源投入時
および光学デイスクかけかえ時のみに行なうので
はなく、トラツク検索毎にその引込み動作が行な
われる。そのために特に安定した引込み動作が要
求されてくる。本発明は、トラツキング制御の引
込みのタイミングを光スポツトが案内溝トラツク
の上を通過するときのみに制限し、安定なトラツ
キング制御引込みを実現しようとするものであ
る。
以下本発明のトラツキング引込み装置を備えた
光学的記録再生装置の一実施例を図面に基づいて
説明する。第1図は光学的記録再生装置の構成図
である。半導体レーザ等の光源1から放射された
光ビーム2は、光ビームの方向を変えてデイスク
3上のトラツクに光ビームを追従させるためのト
ラツキングミラー4を経て絞りレンズ5によつて
デイスク3上のトラツクに光スポツト6として集
光される。デイスク3上から反射光7は絞りレン
ズ5、トラツキングミラー4を経て、半透明鏡8
によりその光路が分離変更される。この反射光7
は光学ウエツジ9によりフオーカシング方向10
及びトラツキング方向11の光ビームに分離され
る。分離された光ビームは2分割された光検出器
12及び13上にそれぞれ投射される。デイスク
3の面ブレに応じて光検出器12上では光スポツ
トが移動するので、2分割光検出器12から前置
差動増幅器14に入力され、フオーカス誤差信号
15が得られる。この誤差信号は駆動回路16を
経て絞りレンズ5を上下に駆動させるボイスコイ
ル17に加えられ、デイスク3上に光スポツト6
を集光するように制御する。
光学的記録再生装置の一実施例を図面に基づいて
説明する。第1図は光学的記録再生装置の構成図
である。半導体レーザ等の光源1から放射された
光ビーム2は、光ビームの方向を変えてデイスク
3上のトラツクに光ビームを追従させるためのト
ラツキングミラー4を経て絞りレンズ5によつて
デイスク3上のトラツクに光スポツト6として集
光される。デイスク3上から反射光7は絞りレン
ズ5、トラツキングミラー4を経て、半透明鏡8
によりその光路が分離変更される。この反射光7
は光学ウエツジ9によりフオーカシング方向10
及びトラツキング方向11の光ビームに分離され
る。分離された光ビームは2分割された光検出器
12及び13上にそれぞれ投射される。デイスク
3の面ブレに応じて光検出器12上では光スポツ
トが移動するので、2分割光検出器12から前置
差動増幅器14に入力され、フオーカス誤差信号
15が得られる。この誤差信号は駆動回路16を
経て絞りレンズ5を上下に駆動させるボイスコイ
ル17に加えられ、デイスク3上に光スポツト6
を集光するように制御する。
一方、デイスク3はデイスクモータ18によつ
て回転しているが、デイスクモータ18の回転中
心とデイスク3のトラツクの中心がずれている場
合には、デイスク3上の光スポツト6はトラツク
を正確に追従せず、トラツクを横切る。光スポツ
ト6がトラツクを横切つた場合には、光検出器1
3上には後述するように光分の変化が生じる。こ
の変化を検出し、前置差動増幅器19に入力し、
トラツキング差信号20を得ている。この差信号
20はトラツキング駆動回路21に入力され、ト
ラツキングミラー4を駆動している。トラツキン
グミラー4は光スポツト6がデイスク3上のトラ
ツクを正確に追従するように、前記差信号20に
応じてその角度が変化し、トラツキング制御を行
なつている。
て回転しているが、デイスクモータ18の回転中
心とデイスク3のトラツクの中心がずれている場
合には、デイスク3上の光スポツト6はトラツク
を正確に追従せず、トラツクを横切る。光スポツ
ト6がトラツクを横切つた場合には、光検出器1
3上には後述するように光分の変化が生じる。こ
の変化を検出し、前置差動増幅器19に入力し、
トラツキング差信号20を得ている。この差信号
20はトラツキング駆動回路21に入力され、ト
ラツキングミラー4を駆動している。トラツキン
グミラー4は光スポツト6がデイスク3上のトラ
ツクを正確に追従するように、前記差信号20に
応じてその角度が変化し、トラツキング制御を行
なつている。
22は第4図で示されている信号処理回路で、
トラツキング制御の引き込みのタイミング信号を
駆動回路21へ入力している。25はトラツク検
索のためのリニアモータである。26は前置和増
幅器で、トラツキング方向の2分割光検出器13
により検出される信号のトラツキング和信号27
を出力している。また光デイスク3よりの記録再
生信号は光検出器13により検出されて前置高周
波増幅器28に入力され、再生RF信号29を出
力している。
トラツキング制御の引き込みのタイミング信号を
駆動回路21へ入力している。25はトラツク検
索のためのリニアモータである。26は前置和増
幅器で、トラツキング方向の2分割光検出器13
により検出される信号のトラツキング和信号27
を出力している。また光デイスク3よりの記録再
生信号は光検出器13により検出されて前置高周
波増幅器28に入力され、再生RF信号29を出
力している。
次に本発明に使用する光学デイスク3の構造の
一実施例を第2図に基づいて説明する。第2図は
光デイスク3の円板の一部を示す図で、光デイス
ク3の面R側には、幅w、ピツチP、深さδの溝
状案内トラツク30a〜30eが同心円状、ある
いはスパイラル状に堀つてある。31a〜31e
は溝間を示す。光感応性の記録材料は面R側から
塗布されて記録面32を形成している。光スポツ
ト6は面Rで集光されている。記録および再生の
ときは光スポツトが溝状案内トラツク30上に投
射されるようにトラツキング制御がかけられる。
記録時には光源1の光出力を大きくし、デイスク
3上の溝状案内トラツク30上に投射される光ス
ポツトの光エネルギーを大きくして案内トラツク
3上に塗布された記録材料を感光させている。そ
の結果溝状案内トラツク上の記録部分の反射率が
変化する。この反射率の変化を記録時より小さな
光出力の光スポツトを用いて検出すれば記録信号
を再生することが出来る。記録した時の溝状案内
トラツク内の記録材料が感光した様子を33に示
す。この場合は記録材料が黒化し、反射率が大き
くなつた例を示している。前記案内トラツク30
a〜30eの幅w、ピツチP、深さδの具体的な
値としては例えば幅w=0.6μmピツチP=1.6μ
m、深さδ=1000Å(前記レーザ光源3の光波長
の1/8の光路長)程度が選ばれる。
一実施例を第2図に基づいて説明する。第2図は
光デイスク3の円板の一部を示す図で、光デイス
ク3の面R側には、幅w、ピツチP、深さδの溝
状案内トラツク30a〜30eが同心円状、ある
いはスパイラル状に堀つてある。31a〜31e
は溝間を示す。光感応性の記録材料は面R側から
塗布されて記録面32を形成している。光スポツ
ト6は面Rで集光されている。記録および再生の
ときは光スポツトが溝状案内トラツク30上に投
射されるようにトラツキング制御がかけられる。
記録時には光源1の光出力を大きくし、デイスク
3上の溝状案内トラツク30上に投射される光ス
ポツトの光エネルギーを大きくして案内トラツク
3上に塗布された記録材料を感光させている。そ
の結果溝状案内トラツク上の記録部分の反射率が
変化する。この反射率の変化を記録時より小さな
光出力の光スポツトを用いて検出すれば記録信号
を再生することが出来る。記録した時の溝状案内
トラツク内の記録材料が感光した様子を33に示
す。この場合は記録材料が黒化し、反射率が大き
くなつた例を示している。前記案内トラツク30
a〜30eの幅w、ピツチP、深さδの具体的な
値としては例えば幅w=0.6μmピツチP=1.6μ
m、深さδ=1000Å(前記レーザ光源3の光波長
の1/8の光路長)程度が選ばれる。
第3図は第2図で示した光デイスク3上の溝状
案内トラツク30(末記録部)に光スポツト6が
投射された時のトラツキング方向(溝状案内トラ
ツクとは法線方向)における光検出器13の光量
分布変化を表わしている。第3図はデイスク3の
断面方向から見た図である。13aは光デイスク
3の内径方向の光検出器、13bは光デイスク3
の外径方向の光検出器を示している。34は光デ
イスク3からの反射光7が光検出器13上に投射
する光スポツトを表わしている。反射光スポツト
34の円内の濃淡は光スポツト内の光量分布変化
を表わしている。第3図aは溝状案内トラツク3
0がない溝間31の平担部に光スポツト6が投射
している様子を示している。この場合入射した光
ビーム2は一様に反射するため光検出器13上の
反射光スポツト34は一様に分布するので光検出
器13の差信号出力20は零となる。
案内トラツク30(末記録部)に光スポツト6が
投射された時のトラツキング方向(溝状案内トラ
ツクとは法線方向)における光検出器13の光量
分布変化を表わしている。第3図はデイスク3の
断面方向から見た図である。13aは光デイスク
3の内径方向の光検出器、13bは光デイスク3
の外径方向の光検出器を示している。34は光デ
イスク3からの反射光7が光検出器13上に投射
する光スポツトを表わしている。反射光スポツト
34の円内の濃淡は光スポツト内の光量分布変化
を表わしている。第3図aは溝状案内トラツク3
0がない溝間31の平担部に光スポツト6が投射
している様子を示している。この場合入射した光
ビーム2は一様に反射するため光検出器13上の
反射光スポツト34は一様に分布するので光検出
器13の差信号出力20は零となる。
第3図bは光スポツト6が溝状案内トラツク3
0の外径側のエツジ35bにかかつて投射された
様子を示している。溝状案内トラツク30の深さ
がレーザ光波長の1/8の光路長であれば、入射光
ビーム2は回折され反射光7bは溝の外側へ曲げ
られる。そのため外径方向の光検出器13bへ光
量分布がかたよる。前置差動増幅器26の入力は
外径方向光検出器13bを正入力、内径方向光検
出器13aを負入力とすると、第3図bの場合に
は差信号出力20は正となる。
0の外径側のエツジ35bにかかつて投射された
様子を示している。溝状案内トラツク30の深さ
がレーザ光波長の1/8の光路長であれば、入射光
ビーム2は回折され反射光7bは溝の外側へ曲げ
られる。そのため外径方向の光検出器13bへ光
量分布がかたよる。前置差動増幅器26の入力は
外径方向光検出器13bを正入力、内径方向光検
出器13aを負入力とすると、第3図bの場合に
は差信号出力20は正となる。
第3図Cは溝内案内トラツク30の両方向エツ
ジ35a,35bを含み、溝状案内トラツク30
全体に光スポツト6が投射されている様子を示
す。この場合は入射光ビーム2が両エツジ35
a,35bにかかつているため反射光7Cは両方
向とも溝の外側へ回折する。絞りレンズ5の口径
が有限であるので、回折した反射光はケラレる。
そのため光検出器13に投射されるスポツトの光
量全体が減少する。よつて両方向13a,13b
の光検出器の和信号出力27は第3図a,b,d
と比較してその振幅が減少する。なお第3図Cの
場合反射光スポツト6と溝状案内トラツク30の
中心が一致していれば両方向の光検出器13a,
13bに投射される反射光スポツトの光量分布は
一様であるので差信号出力20の振幅は零とな
る。
ジ35a,35bを含み、溝状案内トラツク30
全体に光スポツト6が投射されている様子を示
す。この場合は入射光ビーム2が両エツジ35
a,35bにかかつているため反射光7Cは両方
向とも溝の外側へ回折する。絞りレンズ5の口径
が有限であるので、回折した反射光はケラレる。
そのため光検出器13に投射されるスポツトの光
量全体が減少する。よつて両方向13a,13b
の光検出器の和信号出力27は第3図a,b,d
と比較してその振幅が減少する。なお第3図Cの
場合反射光スポツト6と溝状案内トラツク30の
中心が一致していれば両方向の光検出器13a,
13bに投射される反射光スポツトの光量分布は
一様であるので差信号出力20の振幅は零とな
る。
第3図dは光スポツト6が内径方向のエツジ3
5aにかかつて投射されている様子を示す。この
場合、第3図bとは反対に内径方向に反射光7d
が回折され、内径方向の光検出器13aへ光量分
布がかたよる。従つて差信号出力20は負とな
る。
5aにかかつて投射されている様子を示す。この
場合、第3図bとは反対に内径方向に反射光7d
が回折され、内径方向の光検出器13aへ光量分
布がかたよる。従つて差信号出力20は負とな
る。
第4図は信号処理回路22である本発明のトラ
ツキング制御引込みタイミング発生回路の構成を
示す。第5図は第4図における各部a〜kの信号
波形を示しており、1は各部の波形に対応した光
学デイスク上の案内溝トラツクの半径方向の断面
図を表わしている。前述したようにトラツキング
方向の光検出器13から検出された信号は前置増
幅器19,26,28に入力される。aはトラツ
キング差信号20を示しており、光スポツトが案
内溝トラツク30を横断する毎に出力されてい
る。bはトラツキング和信号27を、Cは再生
RF信号29を示している。第3図で説明したよ
うにトラツキング和信号27は溝全体に光スポツ
トが照射されたときに反射率が下り、bのような
信号波形となる。記録されたトラツク30′を光
スポツトが横切るときはCのように再生RF信号
29が検出される。この場合前述した通り溝底の
反射率が上るため、トラツキング和信号27の反
射率の変化が第5図bの50に示すように小さく
なる。そのためトラツキング和信号27のみでは
記録されたトラツク30′の溝部を検出すること
ができない。そのために末記録トラツクの溝部の
横断検出にはトラツキング和信号27を、記録ト
ラツク30′の横断検出には再生RF信号29を用
いる。再生RF信号29はエンベロープ検波器5
1に入力された後波形整形器52で波形整形さ
れ、この波形整形された信号dと、同じくトラツ
キング和信号bが波形整形器53で波形整形され
た信号eとの論理和が論理和回路56から出力f
される。論理和出力fは確に溝部のタイミングを
表わしているが、パルス幅が広いため、そのパル
スの立ち上りもしくは立下りは正確に溝中心を表
わしていない。このパルス幅の中心が正確に溝の
中心部である。ところで第5図aのトラツキング
差信号20の零交叉点は正確に溝中心のタイミン
グを表わしている。なぜなら2分割光検出器13
が第3図cの様に等光量の反射光を受光したタイ
ミングを示しているからである。そこで第5図a
に示すトラツキング差信号20を絶対値増幅器5
4で増幅gした後波形整形器55で波形整形する
と、零交叉点を示すパルス列信号hが得られる。
ただトラツキング差信号20は第5図aに示すよ
うに溝中心のみでなく、光スポツトが溝間の平担
部を横切るときも、零交叉点を持つ。そこで前述
した溝区間を示す論理和出力fとこの零交叉パル
スとの論理積を論理積回路57でとれば、正確に
溝中心を示すパルス列信号iが出力される。この
パルス列信号iをトラツキング制御引込みのタイ
ミングに用いれば正確に溝中心のタイミングで、
トラツキング制御を開始できる。すなわち、溝中
心パルス列信号iをRSフリツプフロツプ58に
セツト入力することにより、デツキ制御部59か
らのトラツキング制御パルス信号jに応じてトラ
ツキングON指令のパルス信号kを出力すること
ができ、このON指令パルス信号kをトラツキン
グ駆動回路21に入力することにより第5図kで
示したトラツキングONのタイミングでトラツキ
ングミラー4の制御引込みおよび解除を行なうこ
とができる。
ツキング制御引込みタイミング発生回路の構成を
示す。第5図は第4図における各部a〜kの信号
波形を示しており、1は各部の波形に対応した光
学デイスク上の案内溝トラツクの半径方向の断面
図を表わしている。前述したようにトラツキング
方向の光検出器13から検出された信号は前置増
幅器19,26,28に入力される。aはトラツ
キング差信号20を示しており、光スポツトが案
内溝トラツク30を横断する毎に出力されてい
る。bはトラツキング和信号27を、Cは再生
RF信号29を示している。第3図で説明したよ
うにトラツキング和信号27は溝全体に光スポツ
トが照射されたときに反射率が下り、bのような
信号波形となる。記録されたトラツク30′を光
スポツトが横切るときはCのように再生RF信号
29が検出される。この場合前述した通り溝底の
反射率が上るため、トラツキング和信号27の反
射率の変化が第5図bの50に示すように小さく
なる。そのためトラツキング和信号27のみでは
記録されたトラツク30′の溝部を検出すること
ができない。そのために末記録トラツクの溝部の
横断検出にはトラツキング和信号27を、記録ト
ラツク30′の横断検出には再生RF信号29を用
いる。再生RF信号29はエンベロープ検波器5
1に入力された後波形整形器52で波形整形さ
れ、この波形整形された信号dと、同じくトラツ
キング和信号bが波形整形器53で波形整形され
た信号eとの論理和が論理和回路56から出力f
される。論理和出力fは確に溝部のタイミングを
表わしているが、パルス幅が広いため、そのパル
スの立ち上りもしくは立下りは正確に溝中心を表
わしていない。このパルス幅の中心が正確に溝の
中心部である。ところで第5図aのトラツキング
差信号20の零交叉点は正確に溝中心のタイミン
グを表わしている。なぜなら2分割光検出器13
が第3図cの様に等光量の反射光を受光したタイ
ミングを示しているからである。そこで第5図a
に示すトラツキング差信号20を絶対値増幅器5
4で増幅gした後波形整形器55で波形整形する
と、零交叉点を示すパルス列信号hが得られる。
ただトラツキング差信号20は第5図aに示すよ
うに溝中心のみでなく、光スポツトが溝間の平担
部を横切るときも、零交叉点を持つ。そこで前述
した溝区間を示す論理和出力fとこの零交叉パル
スとの論理積を論理積回路57でとれば、正確に
溝中心を示すパルス列信号iが出力される。この
パルス列信号iをトラツキング制御引込みのタイ
ミングに用いれば正確に溝中心のタイミングで、
トラツキング制御を開始できる。すなわち、溝中
心パルス列信号iをRSフリツプフロツプ58に
セツト入力することにより、デツキ制御部59か
らのトラツキング制御パルス信号jに応じてトラ
ツキングON指令のパルス信号kを出力すること
ができ、このON指令パルス信号kをトラツキン
グ駆動回路21に入力することにより第5図kで
示したトラツキングONのタイミングでトラツキ
ングミラー4の制御引込みおよび解除を行なうこ
とができる。
以上説明した様に本発明は、トラツキング差お
よび和信号、再生RF信号を処理し、トラツキン
グ差信号および末記録トラツクの溝部の横断検出
にはトラツキング和信号を、記録トラツクの溝部
の横断検出には再生RF信号を用いて、未記録ト
ラツク、記録トラツクにかかわらず光スポツトが
溝中心を横切るタイミングにトラツキング制御の
引込みを行うことができ、制御引込み範囲を制限
し、安定なトラツキングサーボ引込みを実現する
ことができる。
よび和信号、再生RF信号を処理し、トラツキン
グ差信号および末記録トラツクの溝部の横断検出
にはトラツキング和信号を、記録トラツクの溝部
の横断検出には再生RF信号を用いて、未記録ト
ラツク、記録トラツクにかかわらず光スポツトが
溝中心を横切るタイミングにトラツキング制御の
引込みを行うことができ、制御引込み範囲を制限
し、安定なトラツキングサーボ引込みを実現する
ことができる。
第1図は光学的記録再生装置の構成図、第2図
は光学デイスクの構造を示す図、第3図は反射光
の光量分布変化を示す図、第4図は本発明のトラ
ツキング制御引込みタイミング発生回路の構成を
示す図、第5図は第4図における各部の信号波形
図である。 1…光源、3…光学デイスク、4…トラツキン
グミラー、6…光スポツト、7…反射光、12,
13…2分割光検出器、20…トラツキング差信
号、21…トラツキング駆動回路、22…トラツ
キング制御引込み回路、27…トラツキング和信
号、29…再生RF信号、30,30a〜30e
…溝状案内トラツク、30′…記録トラツク、3
1…溝間、33…記録トラツク、51…エンベロ
ープ検波器、52,53,55…波形整形器、5
4…絶対値増幅器、56…論理和回路、57…論
理積回路、58…RSフリツプフロツプ。
は光学デイスクの構造を示す図、第3図は反射光
の光量分布変化を示す図、第4図は本発明のトラ
ツキング制御引込みタイミング発生回路の構成を
示す図、第5図は第4図における各部の信号波形
図である。 1…光源、3…光学デイスク、4…トラツキン
グミラー、6…光スポツト、7…反射光、12,
13…2分割光検出器、20…トラツキング差信
号、21…トラツキング駆動回路、22…トラツ
キング制御引込み回路、27…トラツキング和信
号、29…再生RF信号、30,30a〜30e
…溝状案内トラツク、30′…記録トラツク、3
1…溝間、33…記録トラツク、51…エンベロ
ープ検波器、52,53,55…波形整形器、5
4…絶対値増幅器、56…論理和回路、57…論
理積回路、58…RSフリツプフロツプ。
Claims (1)
- 1 溝状案内トラツクを有し、レーザ光源により
感光する記録材料を塗布した光学デイスクに記
録、再生する光学的情報記録再生装置において、
レーザ光源を絞つた微小光スポツトが溝状案内ト
ラツクを横切る際に、前記光学デイスクから得ら
れたトラツキング方向に偏移する反射光を2分割
光検出器で受光し、この2分割光検出器の出力の
差および和を演算してトラツキング差信号、トラ
ツキング和信号および前記溝状案内トラツクに記
録された再生RF信号として出力し、前記トラツ
キング和信号と前記再生RF信号をエンベローブ
検波した後波形整形した信号との論理和をとり、
前記トラツキング差信号のレベルが零交叉するタ
イミングを検出した信号と前記論理和出力信号と
の論理積をとり前記光スポツトが溝状案内トラツ
クの真上を通過する瞬間を検出し、このタイミン
グによりトラツキングサーボを開始するようにし
たことを特徴とするトラツキングサーボ引き込み
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56157837A JPS5857640A (ja) | 1981-10-02 | 1981-10-02 | トラツキングサ−ボ引き込み装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56157837A JPS5857640A (ja) | 1981-10-02 | 1981-10-02 | トラツキングサ−ボ引き込み装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5857640A JPS5857640A (ja) | 1983-04-05 |
| JPS6233648B2 true JPS6233648B2 (ja) | 1987-07-22 |
Family
ID=15658417
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56157837A Granted JPS5857640A (ja) | 1981-10-02 | 1981-10-02 | トラツキングサ−ボ引き込み装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5857640A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59182810A (ja) * | 1983-03-31 | 1984-10-17 | Sumitomo Chem Co Ltd | アクリル系樹脂の製造法 |
| JPS60254469A (ja) * | 1984-05-31 | 1985-12-16 | Fuji Photo Film Co Ltd | 回転磁気記録体装置 |
| JPS6224442A (ja) * | 1985-07-25 | 1987-02-02 | Pioneer Electronic Corp | トラツキング引き込み装置 |
| JPS62243986A (ja) * | 1986-04-16 | 1987-10-24 | Sanyo Electric Co Ltd | ポンプ装置 |
| JP2723636B2 (ja) * | 1989-11-20 | 1998-03-09 | 株式会社日立製作所 | トラッキング制御装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6048809B2 (ja) * | 1979-10-16 | 1985-10-29 | パイオニアビデオ株式会社 | 情報読取装置におけるトラッキングサ−ボ引込装置 |
-
1981
- 1981-10-02 JP JP56157837A patent/JPS5857640A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5857640A (ja) | 1983-04-05 |
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