JPS6236186B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6236186B2
JPS6236186B2 JP13511481A JP13511481A JPS6236186B2 JP S6236186 B2 JPS6236186 B2 JP S6236186B2 JP 13511481 A JP13511481 A JP 13511481A JP 13511481 A JP13511481 A JP 13511481A JP S6236186 B2 JPS6236186 B2 JP S6236186B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
energy
circuit
detector
signal
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP13511481A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5835482A (ja
Inventor
Tomohiko Kihara
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP13511481A priority Critical patent/JPS5835482A/ja
Publication of JPS5835482A publication Critical patent/JPS5835482A/ja
Publication of JPS6236186B2 publication Critical patent/JPS6236186B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
    • G01T1/164—Scintigraphy
    • G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
    • G01T1/1642—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Nuclear Medicine (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はシンチレーシヨンカメラ装置の改良に
関するものである。
シンチレーシヨンカメラ装置はγ線の入射によ
り発光する板状のシンチレータの背面に光導出用
の透明板状のライトガイドを配し、その背面に複
数個の光電子増倍管(以下PMTと称する)を配
置した検出器を用い、放射性同位元素(以下RI
と称する)を投与した被検者体内より放出されて
シンチレータに入射したγ線によつてその入射位
置が光るとその光をライトガイドにより各PMT
に導き、これら各PMTによつて入射光量に対応
した電気信号に変換し、これら各PMTの出力を
加算してエネルギ弁別用信号として用い、投与し
たRIの該種に基づく所定のエネルギ範囲のもの
のみ有効な情報として表示用又は記憶のための処
理を行なう。この際の表示用又は記憶用の位置信
号X,Yは、以下の如く作製される。各PMTの
XY座標位置に応じた重み付けを与えて各PMTの
出力を加算した後、前記エネルギ弁別用信号にて
割算し、X、Y軸の位置信号X,Yを作り、これ
を例えばCRT(陰極線)表示装置に与えてこの
X、Y軸信号の示す座標位置に前記の如く、エネ
ルギ弁別用信号にて有効な情報と判定された場合
に、輝点を表示させる。γ線はランダムに放出さ
れるので、フイルム上に前記CRT表示装置の表
示輝点を所定数に達するまで蓄積させて輝点の分
布像(これをシンチグラムと云う)を得、その分
布状態から患部の状況を診断する。
このような方式の装置はアンガー型シンチレー
シヨンカメラ装置と呼ばれる。
このようにシンチレーシヨンカメラ装置の検出
器にγ線が入射した場合には、その入射X、Y座
標位置を計算する位置計算系とエネルギ弁別系の
信号により、散乱等による雑音成分に相当するエ
ネルギのものは除去した所望とするエネルギのγ
線によるX、Y信号のみCRTに記録する。とこ
ろが、第1図に示す如く、検出器は丸型の複数個
のPMT1をシンチレータ2の背面に配設するこ
とにより構成され、しかもそのPMT1の出力の
和により、エネルギ弁別信号(ZPHA信号)を作
り出しているのでシンチレータ2の場所により例
えばA点では第2図の実線Aのようなスペクトル
となり、B点では、点線Bのようなスペクトルと
なりγ線入射位置によりエネルギ弁別信号レベル
の大きさと分布が偏ることになる。(但し第2図
においてたて軸はγ線のカウント数、横軸はエネ
ルギ弁別信号ZPHAの電圧である)これはγ線の
入射位置によつて、各PMTの位置との関係から
各PMTの入射光量が大きく変わるためで、これ
らのうち散乱線等によらない核種本来のγ線の検
出出力レベル範囲をWとするとこのWの範囲の検
出出力が必要な検出出力に相当する。このそれぞ
れのスペクトルの所望のエネルギ検出出力レベル
範囲Wは、第2図の斜線A′,B′で示した部分で
ある。ところが、上述のように入射位置により所
望のエネルギのγ線の検出出力レベル範囲が異な
るため、Wの中をより大きく設定しないと目的の
γ線の検出ができなくなり、これにより位置によ
つては不要なエネルギの入射γ線も検出すること
になるから、この入射位置によるエネルギ弁別信
号ZPHAの波高の差は、ガンマ・カメラの均一性
及び分解能に悪い効果をもたらす。そこでこれを
改善すべく第3図に示す如き、エネルギ弁別信号
ZPHAの補正が考えられた。
まず、診断上、所望のエネルギ範囲広く設定さ
れたエネルギ弁別回路31により、その設定され
た広めのエネルギ幅に入るエネルギ弁別信号ZPH
Aが入力されたとき、入射γ線のX、Y座標位置
を求める信号処理回路32の制御を行なうX、Y
信号処理コントロール回路33を作動させ、これ
によつてX、Y信号処理回路32を駆動させて各
PMTの出力信号のX、Y軸別の合成信号より
X、Y位置信号を作る。次にこのX、Y位置信号
をA/D変換器34,35にてデイジタル信号に
変換し、この信号をアドレスとして補正用メモリ
36中の内容を読み出す。この補正用メモリ36
の内容はあらかじめ検出器検出面上の各位置での
エネルギ弁別信号ZPHAのピークを収集したもの
で上記X、Y座標に対応するアドレスにそのピー
クデータを記憶させてある。このようにして、補
正用メモリ36より読み出された内容を補正値と
して用い、これとエネルギ弁別信号ZPHAをA/
D変換して得た信号を補正回路38に与えこの補
正回路38によりエネルギ弁別信号ZPHA補正を
行なう。このようにして即ち前記ピークデータが
ある座標で標準の80%のレベルであつたとすると
100/80というデータを補正用のデータとして格納
しておき、その座標に入射したγ線のエネルギ弁
別信号に対してその信号レベルに補正値を乗じ
て、即ち100/80を乗じて100%に置換えたエネル
ギ弁別信号ZPHAとする。補正回路38にて補正
されたエネルギ弁別信号ZPHAは使用核種のγ線
のエネルギレベル範囲にウインドウ設定されたエ
ネルギ弁別回路39に入力しこのウインドウ即
ち、設定されたエネルギレベル範囲に入る場合に
エネルギ弁別回路39よりゲート出力を発生させ
てゲート回路40に与えX、Y処理回路32によ
り作製したUNB信号(アンブランキング信号)
にゲートをかけ目的とするエネルギ範囲のパルス
によるX、Y位置信号のみ、CRTに表示する。
このとき、問題なのは、エネルギ弁別信号ZPHA
を補正するためには補正後のレベルまで予め知る
ことはできないため、エネルギ弁別回路31のウ
インドウをあらかじめ所望のエネルギ幅より広め
に設定しなければならないが、どの程度広めにし
なければならないかがわからないことである。所
望のエネルギ幅より、広く設定すればするほど
X、Y信号処理回路32のデツドタイムにより、
計数率を損うこととなる。
即ち、X、Y位置信号を求めるためにX、Y信
号処理コントロール回路33の出力によりX、Y
信号処理回路32を作動させて検出器からの出力
を演算するがその演算には所定の時間がかかるか
らその間にγ線が入射してもこれを処理できなく
なり、これがデツドタイムとなる。そのため補正
後のデータが目的のエネルギ範囲に入るもののみ
に対し、X、Y位置計算を行なうことができれば
効率として最も良く、計数率が最良となるが、こ
れは検出器の入射位置により前記目的のエネルギ
範囲に該当するエネルギ弁別信号ZPHAのレベル
が異なるためにその該当のものを落さないように
するためにはある程度のウインドウを広げる必要
があるため無理である。
従つて、このウインドウの幅をどの程度に設定
するかにより、計数率や感度が左右されることに
なる。
本発明は上記事情に鑑みて成されたもので、検
出器の検出面上の各位置毎の補正量のデータのう
ちから最大値と最小値のデータを得、これを検査
対象部位に合わせて必要とするエネルギ幅となる
最大値及び最小値を求めてこれを基準に検出器の
検出出力をエネルギ弁別し、この弁別後の出力に
ついてX、Y信号処理を行なわせることにより、
常に計数率を損なわない最良のγ線選別が可能な
シンチレーシヨンカメラ装置を提供することを目
的とする。
前述の如く、エネルギ弁別信号ZPHA補正を行
なう為には、第3図におけるエネルギ弁別回路3
1は、所望のエネルギ幅より広めに設定しなけれ
ばならないが広すぎると計数率を損ない、また狭
すぎると、正しい補正が行なわれなくなる。本発
明は、この前段のエネルギ弁別回路に設定すべき
エネルギの幅を最適にするものである。
即ち、エネルギ弁別信号を補正する為には、第
3図の補正用メモリ36に補正用データをあらか
じめ記憶する必要がある。従つてまず場所による
エネルギ弁別信号ZPHAを収集しなければならな
い。例えば、検出器検出面上を64×64区画にデジ
タイズし、その各ピクセルごとに、エネルギ弁別
信号ZPHAのピーク値を収集する。この収集が終
了した時点で、この収集データの有効視野に相当
する部分の最大値と最小値を調べる。検出器の有
効視野の他の場所のエネルギ弁別信号ZPHAは必
ず、この最大値(Znax)と最小値(Znio)の間
にあるはずである。従つていま検出したいエネル
ギ範囲が第2図におけるピークの両側にa%(a
%は症例毎に異なる)づつであるとすると第3図
のエネルギ弁別回路31に設定するエネルギの幅
は Znio×(1−a)〜Znax×(1+a) …(1) の範囲に設定するようにするのが、補正を正しく
行ない、しかも計数率を最小限に損なわない最良
の設定である。
本発明は検出器より検出されたエネルギ弁別信
号ZPHAを前記症例に見合うエネルギ範囲の幅内
にあるか否かを判別して必要なエネルギ弁別信号
ZPHAのみ抽出し、これを第3図の回路に与える
ようにすることにより不必要な検出γ線に対する
処理を行なわずに済むようにしたものである。
以下本発明の一実施例について第4図、第5図
を参照しながら説明する。本装置は基本構成とし
ては第3図に示したエネルギ弁別回路31に更に
演算により最適エネルギを求めてその設定を行な
うための最適エネルギ設定演算回路を設け、この
設定値を基準に検出器の出力するエネルギ弁別信
号ZPHAを弁別させるようにしたものである。
即ち、図において41は検出器の検出面に一様
にγ線を入射したときに検出される検出面各位置
の検出信号(エネルギ弁別信号ZPHA)のうち最
大と最小の値を記憶させた最大・最小値記憶部、
42は使用核種や検査対象部位などの所望エネル
ギ情報を得て前記最大・最小値記憶部41に記憶
されているデータをZnio,Znaxとして第1式の
演算を行ない、使用核種と診断部位に合わせたエ
ネルギ弁別信号ZPHAの最大値及び最小値を求め
てデイジタル値で出力する最適エネルギ設定演算
回路であり、マイクロコンピユータ等により構成
されている。43,44はデイジタル値をアナロ
グ値に変換するD/A変換器であり、これらのう
ち一方は前記最適エネルギ設定演算回路42の出
力する最大値を、また他方は最小値をアナログ変
換する。31は前述のエネルギ弁別回路であり、
このエネルギ弁別回路31は前記D/A変換器4
3,44の出力を基準にエネルギ弁別信号ZPHA
を比較し、この二つの基準内に入るエネルギ弁別
信号ZPHAが入力されたとき出力信号を発生させ
て前記X、Y信号処理コントロール回路33を作
動させる構成としてある。
このような構成の本装置は所望エネルギ情報を
与えることにより前記最適エネルギ設定演算回路
42は最大・最小値記憶部41から読み出したデ
ータをもとに第1式を実行し検出すべきエネルギ
レベルのγ線に相当するエネルギ弁別信号ZPHA
の最大値、最小値を求める。
即ちシンチレーシヨンカメラ装置の検出器は
PMTの配置関係により同一レベルのγ線が入射
したとしてもその入射位置によりその検出出力で
あるエネルギ弁別信号ZPHAのレベルが異なり、
また使用核種より放出されるγ線は体内吸収等に
よる減衰を考慮すると診断部位等に応じたエネル
ギ幅を持たせなければならないから前記求めた最
大値及び最小値はそのエネルギ幅と前述の検出器
検出面上の位置毎の検出特性を考慮して所望のエ
ネルギ幅内のレベルのγ線を見落すことのないエ
ネルギ弁別信号ZPHAのレベルの最大・最小値を
求めたことになる。
この範囲に含まれるものの中には検出面上の位
置により前記所望のエネルギ幅内より外れる不用
なγ線のものもあるが、少なくとも所望とするエ
ネルギ幅内に入るγ線はすべて含まれる理想的な
最大・最小値となる。
このようにして求められた最大・最小値はD/
A変換器43,44によりアナログ信号に変換さ
れ、エネルギ弁別回路31に比較用の基準値とし
て入力される。従つてシンチレーシヨンカメラ装
置の検出器検出面上は、RIを投与した被検者体
内からの放出γ線が入射し、検出器よりその検出
出力がエネルギ弁別信号ZPHAとしてエネルギ弁
別回路31に入力されると、このエネルギ弁別回
路31は入力エネルギ弁別信号ZPHAのレベルを
前記基準値と比較し、基準値の範囲内に入る場合
はX、Y信号処理コントロール回路33に信号を
与えてこれを作動させる。
するとX、Y信号処理コントロール回路33は
X、Y信号処理回路32に指令を与え、これによ
りX、Y信号処理回路32は検出器から出力され
るX軸、Y軸別の合成信号をもとにγ線入射X、
Y座標を計算し、その座標を示すX、Y位置信号
を出力する。また同時にCRT表示装置に対する
輝点表示用のアンブランク信号UNBを発生す
る。
以後は前述の通り、前記X、Y位置信号はA/
D変換器34,35によりアナログ変換し、これ
をアドレスとして補正用メモリ36よりその座標
位置の補正データを抽出して補正回路38に与え
る。そしてA/D変換器37にてデイジタル変換
したエネルギ弁別信号ZPHAをこの補正回路38
にてて前記補正データに基づく補正を加え、入射
時におけるそのγ線のエネルギに対応した値に変
換する。この補正後のデータは所望エネルギ範囲
に設定されたエネルギ弁別回路39に与えられ、
ここで補正後の該データがその所望エネルギ範囲
に入るか否かを弁別する。そして入る場合にのみ
ゲート回路40を開くゲート信号をエネルギ弁別
回路39より出力させ、ゲートを開いてX、Y信
号処理回路32の出力するアンブランク信号
UNBを通す。
従つてこのアンブランク信号UNBとXY信号処
理回路32の出力するX、Y位置信号をCRT表
示装置に与えることにより、目的とするエネルギ
範囲のγ線のみその入射位置対応の座標位置に輝
点表示することができる。
このように検出器の検出面位置に応じて異なる
γ線検出出力特性を考慮して目的とするエネルギ
範囲のγ線検出出力のとり得る最大、最小値を予
め得、これをもとに前記検出器より出力されるγ
線検出出力、即ち、エネルギ弁別信号ZPHAを使
用核種と診断部位等により定まるエネルギ範囲の
割合で補正して目的のエネルギ範囲のγ線がとり
得る最大、最小値を求め、この最大、最小値の範
囲内のエネルギ弁別信号ZPHAが入力されたと
き、γ線入射位置の演算を行ない、その後にエネ
ルギ弁別信号をそのγ線入射位置における検出特
性に応じた重み付けで補正してそのγ線本来のエ
ネルギを知り、これが目的とするエネルギ範囲に
あるか否かにより輝点表示の制御を行なうように
したので不必要なエネルギレベルのγ線に対して
位置計算を行なうなどの割合いを最小限にとど
め、しかも必要なエネルギレベルのγ線はほとん
ど落さずに済み従つて計数率とを損なわない最良
の弁別範囲の設定ができる。
ここで前記最適エネルギ設定回路42の構成例
を第5図に示しておく。Znio,Znaxはデジタル
データとして、メモリ即ち記憶部41に記憶され
ている。このデジタルデータはD/A変換器5
1,52によりそれぞれアナログ電圧のZnax,
Znio変換すると共にこの電圧を抵抗ラダー5
3,54により分割する。
この場合抵抗ラダー53,54を構成する抵抗
R1〜R10はあらかじめ所望のウインドウを満
足するように決定しておく。例えばR1〜R10
をすべて同じ抵抗値にしておけばそれぞれ0.8×
Znio、0.6×Znio、0.4×Znio、0.2×Znio、0.8×
Znax、0.6×Znax、0.4×Znax、0.2×Znax、の
電圧が得られる。55,56はそれぞれ前記抵抗
ラダー53,54の各出力のうちの一つを選択す
るアナログスイツチで入力として4種類の電圧が
入力されている。57は、診断部位等に応じたウ
インドウ幅Wを示すウインドウ情報であり、この
アナログスイツチ55,56を切換るのに用いら
れる。従つてウインドウ情報により目的とするウ
インドウ幅で補正を加えたZnax,Znioがアナロ
グスイツチ55,56より得られる。第5図の状
態は、ウインドウ幅Wが±20%の場合である。
従つて、Znioについては抵抗ラダー53によ
りウインドウ幅W分の減衰を受けているため、ア
ナログスイツチ55の出力をそのままZnio×(1
−0.2)=0.8×Znioの電圧とすることができるか
らボルテージフオロアの増幅器58を介して第4
図のエネルギ弁別回路31に入力する構成とすれ
ば所望のエネルギ範囲のγ線のとり得る最小値Z
nioを電圧値として与えることができる。Znaxに
ついては抵抗ラダー54によりウインドウ幅W分
の減衰を与え、これをアナログスイツチ56を介
して抽出後、ボルデージフオロアの増幅器59に
より増幅する。この電圧はZnax×(1−0.2)=0.8
×Znaxである。従つてウインドウ幅分広げるた
めにこれと最大値用のD/A変換器52出力との
差分を差動アンプ60により取り出す。即ち差動
アンプ60の一方の入力抵抗R11と帰還抵抗R
12を同じ値に設定しておく。そして又他方の入
力抵抗R13はR11,R12の半分の抵抗値に
設定しておく。
このようにするとこの差動アンプの出力は 2×Znax−0.8Znax=1.2×Znax =(1+0.2)×Znax となり所望のエネルギ範囲のγ線のとり得る最大
値相当の電圧を得ることができる。これを第4図
のエネルギ弁別回路31に入力する。
以上はZnio×(1−0.2)、Znax×(1+0.2)の
場合について説明した。シンチレーシヨンカメラ
においては所望とするピークエネルギに対するウ
インドウ幅は大体、決まつているので抵抗ラダー
の各抵抗R1〜R10を適当に定めることにより
上記方法を用いてZnio×(1−a)、Znax×(1+
a)の電圧をハードウエアにより設定することが
可能である。
以上詳述したように本発明はアンガー型シンチ
レーシヨンカメラ装置においてγ線検出用の検出
器の検出出力のうち、所望とするエネルギ範囲の
γ線検出出力を抽出して表示するための補正・弁
別装置として前記検出器における検出面各位置の
検出特性に基づき得られた基準γ線入射時の最大
及び最小の検出値を記憶する記憶部と、外部より
与えられる診断目的に合わせた所望とする検出エ
ネルギ範囲の幅の割合を指定するエネルギ情報に
基づき前記最大及び最小の検出値より前記割合相
当分補正してその診断目的において表示に必要な
検出γ線のとり得るエネルギの最大及び最小値を
算出する最適エネルギ設定演算回路と、この算出
された最大及び最小値を基準に検出器検出出力を
比較し、この基準内に入るとき出力を発生する弁
別回路と、この弁別回路出力があつたとき動作
し、前記検出器より出力される検出γ線の位置信
号よりその入射位置座標を求め、X、Y位置信号
を発生するX、Y信号処理回路と、予め収集した
前記検出器検出面の位置別の感度特性に基づき設
定された偏差補正用のデータが記憶され、前記
X、Y位置信号に対応する位置の偏差補正用デー
タを出力する補正用メモリと、前記検出器のγ線
検出出力をこの偏差補正用データで補正し、入射
時のγ線エネルギを求める回路と、この補正後の
エネルギを比較し、前記エネルギ情報により定ま
る所定のウインドウ内の値をとるか否かを弁別す
るエネルギ弁別回路と、この弁別によりウインド
ウ内に入るときは前記X、Y位置信号により定ま
る表示装置の表面上該当位置に点を表示するため
の回路とより構成し、検出器の検出面位置に応じ
て異なるγ線検出出力特性を考慮して目的とする
エネルギ範囲のγ線検出出力のとり得る最大、最
小値を予め得てメモリに記憶させておき、この内
容をもとに前記検出器より出力されるγ線検出出
力、即ち、エネルギ弁別信号ZPHAを使用核種と
診断部位等により定まる必要なエネルギ範囲の割
合で補正して目的のエネルギ範囲のγ線がとり得
る最大、最小値を求め、この最大、最小値の範囲
内のエネルギ弁別信号ZPHAが入力されたとき、
γ線入射位置の演算を行ない、その後にエネルギ
弁別信号をそのγ線入射位置における検出特性に
応じた重み付けで偏差分を補正してそのγ線本来
のエネルギを知り、これが目的とするエネルギ範
囲にあるか否かにより輝点表示の制御を行なうよ
うにしたので不必要なエネルギレベルのγ線に対
して位置計算を行なうなどの割合を最小限にとど
め、しかも必要なエネルギレベルのγ線はほとん
ど落さずに済み、従つて計数率を損なわない最良
の弁別範囲の設定ができるなど優れた特徴を有す
るシンチレーシヨンカメラ装置を提供することが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は検出器のシンチレータを光電子増倍管
の配置関係を示す平面図、第2図はその検出面の
γ線入射位置により異なる検出出力を説明するた
めの図、第3図は所望とするエネルギ範囲のγ線
検出出力を抽出して表示するための従来の補正・
弁別装置を示すブロツク図、第4図は本発明の要
部構成を示すブロツク図、第5図は他の実施例を
示す回路図である。 31,39…エネルギ弁別回路、32…X、Y
信号処理回路、33…X、Y信号処理コントロー
ル回路、34,35,37…A/D変換器、36
…補正用メモリ、38…補正回路、40…ゲート
回路、41…最大、最小値記憶部、42…最適エ
ネルギ設定演算回路、44…D/A変換器。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 アンガー型シンチレーシヨンカメラ装置にお
    いてγ線検出器の検出出力のうち、所望とするエ
    ネルギ範囲のγ線を抽出して表示するための補
    正・弁別装置として前記検出器における検出面各
    位置の検出特性に基づき得られた基準γ線入射時
    の最大及び最小の検出値を記憶する記憶部と、外
    部より与えられる診断目的に合わせた所望とする
    検出エネルギ範囲の幅の割合を指定するエネルギ
    情報に基づき前記最大及び最小の検出値より前記
    割合相当分補正してその診断目的において表示に
    必要な検出γ線のとり得るエネルギの最大及び最
    小値を算出する最適エネルギ設定演算回路と、こ
    の算出された最大及び最小値を基準に検出器検出
    出力を比較し、この基準内に入るとき出力を発生
    する弁別回路と、この弁別回路出力があつたとき
    動作し、前記検出器より出力される検出γ線の位
    置信号よりその入射位置座標を求めX、Y位置信
    号を発生するXY信号処理回路と、予め収集した
    前記検出器検出面の位置別の感度特性に基づき設
    定された偏差補正用のデータが記憶され、前記
    X、Y位置信号に対応する位置の偏差補正用デー
    タを出力する補正用メモリと、前記検出器のγ線
    検出出力をこの偏差補正用データで補正し、補正
    されたγ線エネルギを求める回路と、この補正後
    のエネルギ信号と、前記エネルギ情報により定ま
    る所定のウインドウレベルとを比較し、表示を行
    なうか否かを弁別するエネルギ弁別回路と、この
    弁別によりウインドウ内に入るときは前記XY位
    置信号により定まる表示装置の表示面上該当位置
    に点を表示させるための回路とを備えたことを特
    徴とするシンチレーシヨンカメラ装置。
JP13511481A 1981-08-28 1981-08-28 シンチレ−シヨンカメラ装置 Granted JPS5835482A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13511481A JPS5835482A (ja) 1981-08-28 1981-08-28 シンチレ−シヨンカメラ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13511481A JPS5835482A (ja) 1981-08-28 1981-08-28 シンチレ−シヨンカメラ装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5835482A JPS5835482A (ja) 1983-03-02
JPS6236186B2 true JPS6236186B2 (ja) 1987-08-05

Family

ID=15144154

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13511481A Granted JPS5835482A (ja) 1981-08-28 1981-08-28 シンチレ−シヨンカメラ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5835482A (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6878131B2 (ja) * 2016-05-12 2021-05-26 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 医用画像診断装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5835482A (ja) 1983-03-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7480362B2 (en) Method and apparatus for spectral computed tomography
JP4160275B2 (ja) エネルギー測定方法及び測定装置
US4893015A (en) Dual mode radiographic measurement method and device
US4593198A (en) Pulse pile-up discrimination system
US4095108A (en) Signal processing equipment for radiation imaging apparatus
US6858847B1 (en) Circuit and method for energy discrimination of coincident events in coincidence detecting gamma camera system
JP4414754B2 (ja) エネルギースペクトルの自動調整を含むガンマカメラ
EP0117299B1 (en) Radiation imaging apparatus
JPH0516556B2 (ja)
US5227968A (en) Method for eliminating scattered γ-rays and reconstructing image, and gamma camera apparatus
JPH04274791A (ja) ベースポテンシャルを補正した核検出法およびその装置
JPH0572555B2 (ja)
US5410153A (en) Position calculation in a scintillation camera
US4882680A (en) Process and device for taking into account locating pulses supplied by a gamma camera
US4415982A (en) Scintillation camera
EP0775922B1 (en) Scatter correction for use with a gamma camera
US4468744A (en) Scintillation camera
JP3231219B2 (ja) 液体シンチレーションカウンタ
JP3595375B2 (ja) ポジトロン検出装置
JP2855803B2 (ja) シンチレーションカメラ
JP2508853B2 (ja) シンチレ―ションカメラ
JPH03246481A (ja) ガンマー線散乱成分除去装置
JPS5835482A (ja) シンチレ−シヨンカメラ装置
JP3018439B2 (ja) シンチレーションカメラ
JPH0572554B2 (ja)