JPH0572555B2 - - Google Patents
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- JPH0572555B2 JPH0572555B2 JP60002634A JP263485A JPH0572555B2 JP H0572555 B2 JPH0572555 B2 JP H0572555B2 JP 60002634 A JP60002634 A JP 60002634A JP 263485 A JP263485 A JP 263485A JP H0572555 B2 JPH0572555 B2 JP H0572555B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
- G01T1/164—Scintigraphy
- G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
- G01T1/1642—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras
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Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、放射線を利用して被検体の医学診断
等を行うシンチレーシヨンカメラに関し、特に放
射線検出器の光電子増倍管の感度変動を常時検出
すると共に自動調整することにより該光電子増倍
管の感度変動を阻止することができるシンチレー
シヨンカメラに関する。
等を行うシンチレーシヨンカメラに関し、特に放
射線検出器の光電子増倍管の感度変動を常時検出
すると共に自動調整することにより該光電子増倍
管の感度変動を阻止することができるシンチレー
シヨンカメラに関する。
従来の技術
シンチレーシヨンカメラは、被検体たとえば人
体に注入されたラジオアイソトープ等の体内の分
布状態を放射線検出器で検出し、その電気信号を
位置計算回路に取込んでＸ、Ｙ方向の座標に変換
し、これにより入射放射線の分布像を陰極線管等
の表示装置に表示するものである。そして、近
年、シンチレーシヨンカメラのイメージ像の均一
性はマイクロコンピユータを用いた補正手段の導
入により非常に向上してきている。しかし、この
種の補正手段は、シンチレーシヨンカメラ本体の
均一性を計測して補正データを作り、この補正デ
ータによつてシンチレーシヨンカメラのイメージ
信号に補正を加えることにより均一性を改善する
ものである為、上記シンチレーシヨンカメラ本体
の均一性が変化すると、上記補正データが適当で
なくなり、やはり均一性は劣化してしまうことに
なる。
体に注入されたラジオアイソトープ等の体内の分
布状態を放射線検出器で検出し、その電気信号を
位置計算回路に取込んでＸ、Ｙ方向の座標に変換
し、これにより入射放射線の分布像を陰極線管等
の表示装置に表示するものである。そして、近
年、シンチレーシヨンカメラのイメージ像の均一
性はマイクロコンピユータを用いた補正手段の導
入により非常に向上してきている。しかし、この
種の補正手段は、シンチレーシヨンカメラ本体の
均一性を計測して補正データを作り、この補正デ
ータによつてシンチレーシヨンカメラのイメージ
信号に補正を加えることにより均一性を改善する
ものである為、上記シンチレーシヨンカメラ本体
の均一性が変化すると、上記補正データが適当で
なくなり、やはり均一性は劣化してしまうことに
なる。
ここで、シンチレーシヨンカメラ本体の均一性
が変化する最も大きな要因は、放射線検出器の光
電子増倍管の感度の経時的な変動である。これに
対処して、従来、上記光電子増倍管の感度の変動
を検出し除去するため、次のようにしていた。す
なわち、第５図に示すように、シンチレータ１と
複数個の光電子増倍管２と、位置計算回路３と、
表示装置４とを有するシンチレーシヨンカメラに
おいて、上記光電子増倍管２の感度の変動量を検
出して調整する回路として、切換スイツチ５と、
信号切換回路６と、平均値回路７と、補正値計算
回路８と、補正値メモリ９と、補正回路１０と、
ランプ１１とからなる回路を設けていた。その調
整動作は、まず、一端に小孔をあけてγ線等の放
射線を細いビーム状に照射するようにした円筒状
の鉛容器１２内にラジオアイソトープ等の放射線
源を入れ、この鉛容器１２を感度を調整したい光
電子増倍管２の直下に設置する。次に、切換スイ
ツチ５によつて信号切換回路６を切り換え、複数
個の光電子増倍管２からの出力信号のうち、調整
したい光電子増倍管２のみの出力信号を平均値回
路７へ入力する。この平均値回路７では、一定個
数（例えば100個）の入射放射線について上記光
電子増倍管２の出力信号の大きさを加算平均し、
該光電子増倍管２の出力信号の統計学的なゆらぎ
を除去する。次に、上記平均値回路７からの加算
平均値は、補正計算回路８へ入力する。この補正
値計算回路８は、まず、上記入力した加算平均値
と、入射放射線のエネルギによつて決まる基準値
との差を求め、この差が調整したい光電子増倍管
２の感度の変動量に相当する。上記補正値計算回
路８は、次に、補正値メモリ９から切換スイツチ
５で切り換えた光電子増倍管２の前回の補正値を
読み出し、上記加算平均値と基準値との差に基い
て感度の変動を除去する方向へ補正値を補正し、
新しい補正値を上記補正値メモリ９に書き込む。
そして、この補正値メモリ９からの新しい補正値
によつて、補正回路１０は、調整したい光電子増
倍管２の印加電圧を制御し、当該光電子増倍管２
の感度の変動を減少させる。以上の平均値回路７
における加算平均動作と、補正値計算回路８にお
ける補正値修正動作は、該補正値計算回路８にお
いて加算平均値と基準値とが一致するまで繰り返
される。そして、上記加算平均値と基準値とが一
致すると、補正値計算回路８はランプ１１を点灯
し、調整したい光電子増倍管２の感度変動の調整
が終了したことを知らせる。このようにして、全
ての光電子増倍管２について放射線源の鉛容器１
２をいちいちその直下に設置して行き、その都度
切換スイツチ５によつて信号切換回路６を当該光
電子増倍管２からの出力信号を取り込むように切
り換え、上記の調整動作を各光電子増倍管２の全
てに実行して調整を終了していた。
が変化する最も大きな要因は、放射線検出器の光
電子増倍管の感度の経時的な変動である。これに
対処して、従来、上記光電子増倍管の感度の変動
を検出し除去するため、次のようにしていた。す
なわち、第５図に示すように、シンチレータ１と
複数個の光電子増倍管２と、位置計算回路３と、
表示装置４とを有するシンチレーシヨンカメラに
おいて、上記光電子増倍管２の感度の変動量を検
出して調整する回路として、切換スイツチ５と、
信号切換回路６と、平均値回路７と、補正値計算
回路８と、補正値メモリ９と、補正回路１０と、
ランプ１１とからなる回路を設けていた。その調
整動作は、まず、一端に小孔をあけてγ線等の放
射線を細いビーム状に照射するようにした円筒状
の鉛容器１２内にラジオアイソトープ等の放射線
源を入れ、この鉛容器１２を感度を調整したい光
電子増倍管２の直下に設置する。次に、切換スイ
ツチ５によつて信号切換回路６を切り換え、複数
個の光電子増倍管２からの出力信号のうち、調整
したい光電子増倍管２のみの出力信号を平均値回
路７へ入力する。この平均値回路７では、一定個
数（例えば100個）の入射放射線について上記光
電子増倍管２の出力信号の大きさを加算平均し、
該光電子増倍管２の出力信号の統計学的なゆらぎ
を除去する。次に、上記平均値回路７からの加算
平均値は、補正計算回路８へ入力する。この補正
値計算回路８は、まず、上記入力した加算平均値
と、入射放射線のエネルギによつて決まる基準値
との差を求め、この差が調整したい光電子増倍管
２の感度の変動量に相当する。上記補正値計算回
路８は、次に、補正値メモリ９から切換スイツチ
５で切り換えた光電子増倍管２の前回の補正値を
読み出し、上記加算平均値と基準値との差に基い
て感度の変動を除去する方向へ補正値を補正し、
新しい補正値を上記補正値メモリ９に書き込む。
そして、この補正値メモリ９からの新しい補正値
によつて、補正回路１０は、調整したい光電子増
倍管２の印加電圧を制御し、当該光電子増倍管２
の感度の変動を減少させる。以上の平均値回路７
における加算平均動作と、補正値計算回路８にお
ける補正値修正動作は、該補正値計算回路８にお
いて加算平均値と基準値とが一致するまで繰り返
される。そして、上記加算平均値と基準値とが一
致すると、補正値計算回路８はランプ１１を点灯
し、調整したい光電子増倍管２の感度変動の調整
が終了したことを知らせる。このようにして、全
ての光電子増倍管２について放射線源の鉛容器１
２をいちいちその直下に設置して行き、その都度
切換スイツチ５によつて信号切換回路６を当該光
電子増倍管２からの出力信号を取り込むように切
り換え、上記の調整動作を各光電子増倍管２の全
てに実行して調整を終了していた。
発明が解決しようとする問題点
しかし、このようなシンチレーシヨンカメラに
おいては、放射線源の鉛容器１２をいちいち複数
個の光電子増倍管２の全てについてその直下に設
置すべく移動しなければならないと共に、その都
度切換スイツチ５を操作して信号切換回路６を切
り換えなければならず、感度調整のための操作が
複雑であつた。これに対して、上記鉛容器１２の
移動や切換スイツチ５の操作を自動化した場合
は、感度調整のための構成が複雑かつ大形化する
ものであつた。また、被検体に対する検査の時以
外に、光電子増倍管２の感度を調整する時間を特
別にとつて調整しなければならず、該光電子増倍
管２の経時的な感度変動を常時検出して除去する
ことはできなかつた。そこで、本発明はこのよう
な問題点を除去することを目的とする。
おいては、放射線源の鉛容器１２をいちいち複数
個の光電子増倍管２の全てについてその直下に設
置すべく移動しなければならないと共に、その都
度切換スイツチ５を操作して信号切換回路６を切
り換えなければならず、感度調整のための操作が
複雑であつた。これに対して、上記鉛容器１２の
移動や切換スイツチ５の操作を自動化した場合
は、感度調整のための構成が複雑かつ大形化する
ものであつた。また、被検体に対する検査の時以
外に、光電子増倍管２の感度を調整する時間を特
別にとつて調整しなければならず、該光電子増倍
管２の経時的な感度変動を常時検出して除去する
ことはできなかつた。そこで、本発明はこのよう
な問題点を除去することを目的とする。
問題点を解決するための手段
上記の問題点を解決する本発明の手段は、入射
放射線により閃光を発するシンチレータと、この
シンチレータに光学的に結合されて光を電気信号
に変換する複数個の光電子増倍管と、これらの光
電子増倍管の出力信号に基いて放射線の入射位置
を演算して位置信号及び表示信号を表示装置へ出
力する位置計算回路とを有し、被検体からの入射
放射線の分布像を得るシンチレーシヨンカメラに
おいて、上記位置計算回路からの位置信号によつ
て放射線がどの光電子増倍管の直下に入射したか
を判定し当該光電子増倍管の出力信号のみを通過
させる光電子増倍管切換回路を設け、この光電子
増倍管切換回路からの出力信号を各光電子増倍管
毎に所定個数の入射放射線に対して加算平均し上
記光電子増倍管の出力信号の大きさを平均化する
平均値回路を設け、この平均値回路からの平均化
された出力信号の大きさと入射放射線のエネルギ
によつて決まる基準値とを比較して各光電子増倍
管の感度の変動量を検出し各光電子増倍管に対す
る補正値を計算する補正値計算回路を設けると共
に、上記補正値に基いて上記各光電子増倍管への
それぞれの印加電圧を制御して各々の光電子増倍
管の感度を自動調整する光電子増倍管補正回路を
設けたことを特徴とするシンチレーシヨンカメラ
によつてなされる。
放射線により閃光を発するシンチレータと、この
シンチレータに光学的に結合されて光を電気信号
に変換する複数個の光電子増倍管と、これらの光
電子増倍管の出力信号に基いて放射線の入射位置
を演算して位置信号及び表示信号を表示装置へ出
力する位置計算回路とを有し、被検体からの入射
放射線の分布像を得るシンチレーシヨンカメラに
おいて、上記位置計算回路からの位置信号によつ
て放射線がどの光電子増倍管の直下に入射したか
を判定し当該光電子増倍管の出力信号のみを通過
させる光電子増倍管切換回路を設け、この光電子
増倍管切換回路からの出力信号を各光電子増倍管
毎に所定個数の入射放射線に対して加算平均し上
記光電子増倍管の出力信号の大きさを平均化する
平均値回路を設け、この平均値回路からの平均化
された出力信号の大きさと入射放射線のエネルギ
によつて決まる基準値とを比較して各光電子増倍
管の感度の変動量を検出し各光電子増倍管に対す
る補正値を計算する補正値計算回路を設けると共
に、上記補正値に基いて上記各光電子増倍管への
それぞれの印加電圧を制御して各々の光電子増倍
管の感度を自動調整する光電子増倍管補正回路を
設けたことを特徴とするシンチレーシヨンカメラ
によつてなされる。
実施例
以下、本発明の実施例を添付図面に基いて詳細
に説明する。
に説明する。
第１図は本発明によるシンチレーシヨンカメラ
を示すブロツク図である。このシンチレーシヨン
カメラは、シンチレータ１と、複数個の光電子増
倍管２と、位置計算回路３と、表示装置４、光電
子増倍管切換回路１５と、平均値回路１６と、補
正値計算回路１７と、光電子増倍管補正回路１８
とを有して成る。
を示すブロツク図である。このシンチレーシヨン
カメラは、シンチレータ１と、複数個の光電子増
倍管２と、位置計算回路３と、表示装置４、光電
子増倍管切換回路１５と、平均値回路１６と、補
正値計算回路１７と、光電子増倍管補正回路１８
とを有して成る。
上記シンチレータ１は、被検体等の放射線源１
９から放出されたγ線等の放射線が入射するとそ
の入射点で閃光を発することにより、入射放射線
を検出するものである。上記シンチレータ１の背
面には、その全面にわたつて複数個の光電子増倍
管２が配列されている。この光電子増倍管２は、
上記シンチレータ１の閃光を検出してその入射光
量に比例する大きさの電気信号に変換して出力す
るものである。上記光電子増倍管２からの出力信
号は、位置計算回路３へ入力する。この位置計算
回路３は、上記各光電子増倍管２からの出力信号
の大きさの差から放射線の入射位置を計算し、
Ｘ、Ｙ方向の座標に変換して位置信号ｘ，ｙを出
力すると共に、表示信号Ｕを出力するものであ
る。上記位置計算回路３からの位置信号ｘ，ｙ及
び表示信号Ｕは、表示装置４へ入力する。この表
示装置４は、位置信号ｘ，ｙに対応する位置に表
示信号Ｕにより輝点を表示し、この輝点群によつ
て被検体からの入射放射線の分布像が表示され
る。
９から放出されたγ線等の放射線が入射するとそ
の入射点で閃光を発することにより、入射放射線
を検出するものである。上記シンチレータ１の背
面には、その全面にわたつて複数個の光電子増倍
管２が配列されている。この光電子増倍管２は、
上記シンチレータ１の閃光を検出してその入射光
量に比例する大きさの電気信号に変換して出力す
るものである。上記光電子増倍管２からの出力信
号は、位置計算回路３へ入力する。この位置計算
回路３は、上記各光電子増倍管２からの出力信号
の大きさの差から放射線の入射位置を計算し、
Ｘ、Ｙ方向の座標に変換して位置信号ｘ，ｙを出
力すると共に、表示信号Ｕを出力するものであ
る。上記位置計算回路３からの位置信号ｘ，ｙ及
び表示信号Ｕは、表示装置４へ入力する。この表
示装置４は、位置信号ｘ，ｙに対応する位置に表
示信号Ｕにより輝点を表示し、この輝点群によつ
て被検体からの入射放射線の分布像が表示され
る。
上記位置計算回路３からの位置信号ｘ，ｙは、
光電子増倍管切換回路１５へも入力する。この光
電子増倍管切換回路１５は、上記位置信号ｘ，ｙ
によつて放射線がどの光電子増倍管２の直下に入
射したかを判定し当該光電子増倍管２の出力信号
のみを通過させるもので、視野区分回路１５ａ
と、計数判定回路１５ｂと、信号切換回路１５ｃ
とからなる。上記視野区分回路１５ａは、入射放
射線に対するカメラ視野を各光電子増倍管２毎に
区分して区分信号S1を出力するもので、第２図に
示すように、破線の円形で示した各光電子増倍管
２，２…の受光領域Ａ、Ａ…を一個ずつ内部に囲
むように、実線の六角形で示した電気的な窓Ｗ，
Ｗ…が上記位置信号ｘ，ｙに対して形成されてお
り、放射線がどの光電子増倍管２の直下に入射し
たかを区別するようになつている。なお、上記電
気的な窓Ｗは六角形に限られず、例えば円形や四
角形であつてもよい。また、第３図に示すよう
に、各光電子増倍管２，２…に受光領域Ａ、Ａ…
に対してそれよりも半径の小さい電気的な窓
W′として、各光電子増倍管２の受光領域Ａの中
央部分のみをカメラ視野とするように区分しても
よい。上記視野区分回路１５ａからの区分信号S1
は、計数率判定回路１５ｂへ入力する。この計数
率判定回路１５ｂは、上記各光電子増倍管２に対
応する視野区分での入射放射線の計数率を計測す
ると共に特定の光電子増倍管２に対する切換信号
S2を送出するもので、上記区分信号S1を入力する
と共に位置計算回路３からの表示信号Ｕを入力し
て、一つの放射線が入射してきた時にその入射し
た視野区分の計数率を予め設定した基準値と比較
し、この基準値を越えている場合にのみその視野
区分に属する光電子増倍管２に対する切換信号S2
を送出するようになつている。上記計数率判定回
路１５ｂからの切換信号S2は、信号切換回路１５
ｃへ入力する。この信号切換回路１５ｃは、複数
個の光電子増倍管２，２…の各々の出力信号を取
り込みそのうちの一つだけを通過させるもので、
上記切換信号S2の入力によつて内部の接点が切り
換わる例えばマルチプレクサであり、切換信号S2
に対応する光電子増倍管２の出力信号S3だけが送
出される。
光電子増倍管切換回路１５へも入力する。この光
電子増倍管切換回路１５は、上記位置信号ｘ，ｙ
によつて放射線がどの光電子増倍管２の直下に入
射したかを判定し当該光電子増倍管２の出力信号
のみを通過させるもので、視野区分回路１５ａ
と、計数判定回路１５ｂと、信号切換回路１５ｃ
とからなる。上記視野区分回路１５ａは、入射放
射線に対するカメラ視野を各光電子増倍管２毎に
区分して区分信号S1を出力するもので、第２図に
示すように、破線の円形で示した各光電子増倍管
２，２…の受光領域Ａ、Ａ…を一個ずつ内部に囲
むように、実線の六角形で示した電気的な窓Ｗ，
Ｗ…が上記位置信号ｘ，ｙに対して形成されてお
り、放射線がどの光電子増倍管２の直下に入射し
たかを区別するようになつている。なお、上記電
気的な窓Ｗは六角形に限られず、例えば円形や四
角形であつてもよい。また、第３図に示すよう
に、各光電子増倍管２，２…に受光領域Ａ、Ａ…
に対してそれよりも半径の小さい電気的な窓
W′として、各光電子増倍管２の受光領域Ａの中
央部分のみをカメラ視野とするように区分しても
よい。上記視野区分回路１５ａからの区分信号S1
は、計数率判定回路１５ｂへ入力する。この計数
率判定回路１５ｂは、上記各光電子増倍管２に対
応する視野区分での入射放射線の計数率を計測す
ると共に特定の光電子増倍管２に対する切換信号
S2を送出するもので、上記区分信号S1を入力する
と共に位置計算回路３からの表示信号Ｕを入力し
て、一つの放射線が入射してきた時にその入射し
た視野区分の計数率を予め設定した基準値と比較
し、この基準値を越えている場合にのみその視野
区分に属する光電子増倍管２に対する切換信号S2
を送出するようになつている。上記計数率判定回
路１５ｂからの切換信号S2は、信号切換回路１５
ｃへ入力する。この信号切換回路１５ｃは、複数
個の光電子増倍管２，２…の各々の出力信号を取
り込みそのうちの一つだけを通過させるもので、
上記切換信号S2の入力によつて内部の接点が切り
換わる例えばマルチプレクサであり、切換信号S2
に対応する光電子増倍管２の出力信号S3だけが送
出される。
上記光電子増倍管切換回路１５の信号切換回路
１５ｃからの出力信号S3は、平均値回路１６へ入
力する。この平均値回路１６は、上記出力信号S3
を各光電子増倍管２毎に所定個数の入射放射線に
対して加算平均し、統計学的なゆらぎを除去して
上記光電子増倍管２の出力信号S3の大きさを平均
化するもので、第４図に示すように、Ａ／Ｄ変換
器２０と、加算器２１と、加算値メモリ２２と、
除算器２３と、カウンタ２４と、計数値メモリ２
５と、制御回路２６とからなる。上記Ａ／Ｄ変換
器２０は、信号切換回路１５ｃからの光電子増倍
管２の出力信号S3を入力して、デジタル量に変換
するものである。加算器２１は、上記デジタル信
号を入力すると共に、加算値メモリ２２からその
時点までの加算途中のデータを読み出し、上記
Ａ／Ｄ変換器２０からのデジタル信号に加算して
その結果を上記加算値メモリ２２へ戻す。ここ
で、この加算値メモリ２２は、複数個の光電子増
倍管２と同数のメモリで構成され、各光電子増倍
管２毎のデジタル信号を記憶するようになつてい
る。上記Ａ／Ｄ変換器２０からデジタル信号が加
算器２１へ入力すると同時に、カウンタ２４へも
入力し、その計数値が一つ増加する。計数値メモ
リ２５は、上記加算値メモリ２２と同様に複数個
の光電子増倍管２と同数のメモリで構成され、各
光電子増倍管２毎のデジタル信号の計数値を記憶
するものである。除算器２３は、加算値メモリ２
２の特定の光電子増倍管２に対するデジタル信号
の全加算値を所定個数の入射放射線数で除算して
加算平均し、その光電子増倍管２の加算平均値S4
を出力するものである。制御回路２６は、特定の
光電子増倍管２について上記加算平均が終了した
際に、その光電子増倍管２の補正値の補正値読出
し信号S5を出力すると共に、当該光電子増倍管２
に対する加算値メモリ２２内の加算値と計数値メ
モリ２５内の計数値をリセツトするものである。
このような回路構成において、放射線がある光電
子増倍管２の直下に入射すると、加算値メモリ２
２からその光電子増倍管２のその時点までの加算
値が読み出される。すると、加算器２１は上記加
算値を取り込んで、Ａ／Ｄ変換器２０でデジタル
化された当該光電子増倍管２の信号に加算し、そ
の結果を加算値メモリ２２へ戻す。また、計数値
メモリ２５から、上記光電子増倍管２のその時点
までの計数値がカウンタ２４に読み出され、その
計数値を一つ増して計数値メモリ２５に戻され
る。このようにして、放射線をシンチレータ１の
全面に照射させて上記の動作を繰り返していく
と、いずれかの光電子増倍管２の計数値が所定個
数（例えば1000個）の入射放射線数に達し、カウ
ンタ２４は計数終了信号S6を除算器２３と制御回
路２６へ出力する。そして、除算器２３は、加算
値メモリ２２の上記光電子増倍管２に対するデジ
タル信号の全加算値を所定個数で除算して、その
光電子増倍管２の加算平均値S4が出力される。な
お、上記平均値回路１６が第５図に示す従来例の
平均回路７と異なる点は、複数個の光電子増倍管
２からの出力信号S3に対して並行して加算平均動
作ができるようにした点である。
１５ｃからの出力信号S3は、平均値回路１６へ入
力する。この平均値回路１６は、上記出力信号S3
を各光電子増倍管２毎に所定個数の入射放射線に
対して加算平均し、統計学的なゆらぎを除去して
上記光電子増倍管２の出力信号S3の大きさを平均
化するもので、第４図に示すように、Ａ／Ｄ変換
器２０と、加算器２１と、加算値メモリ２２と、
除算器２３と、カウンタ２４と、計数値メモリ２
５と、制御回路２６とからなる。上記Ａ／Ｄ変換
器２０は、信号切換回路１５ｃからの光電子増倍
管２の出力信号S3を入力して、デジタル量に変換
するものである。加算器２１は、上記デジタル信
号を入力すると共に、加算値メモリ２２からその
時点までの加算途中のデータを読み出し、上記
Ａ／Ｄ変換器２０からのデジタル信号に加算して
その結果を上記加算値メモリ２２へ戻す。ここ
で、この加算値メモリ２２は、複数個の光電子増
倍管２と同数のメモリで構成され、各光電子増倍
管２毎のデジタル信号を記憶するようになつてい
る。上記Ａ／Ｄ変換器２０からデジタル信号が加
算器２１へ入力すると同時に、カウンタ２４へも
入力し、その計数値が一つ増加する。計数値メモ
リ２５は、上記加算値メモリ２２と同様に複数個
の光電子増倍管２と同数のメモリで構成され、各
光電子増倍管２毎のデジタル信号の計数値を記憶
するものである。除算器２３は、加算値メモリ２
２の特定の光電子増倍管２に対するデジタル信号
の全加算値を所定個数の入射放射線数で除算して
加算平均し、その光電子増倍管２の加算平均値S4
を出力するものである。制御回路２６は、特定の
光電子増倍管２について上記加算平均が終了した
際に、その光電子増倍管２の補正値の補正値読出
し信号S5を出力すると共に、当該光電子増倍管２
に対する加算値メモリ２２内の加算値と計数値メ
モリ２５内の計数値をリセツトするものである。
このような回路構成において、放射線がある光電
子増倍管２の直下に入射すると、加算値メモリ２
２からその光電子増倍管２のその時点までの加算
値が読み出される。すると、加算器２１は上記加
算値を取り込んで、Ａ／Ｄ変換器２０でデジタル
化された当該光電子増倍管２の信号に加算し、そ
の結果を加算値メモリ２２へ戻す。また、計数値
メモリ２５から、上記光電子増倍管２のその時点
までの計数値がカウンタ２４に読み出され、その
計数値を一つ増して計数値メモリ２５に戻され
る。このようにして、放射線をシンチレータ１の
全面に照射させて上記の動作を繰り返していく
と、いずれかの光電子増倍管２の計数値が所定個
数（例えば1000個）の入射放射線数に達し、カウ
ンタ２４は計数終了信号S6を除算器２３と制御回
路２６へ出力する。そして、除算器２３は、加算
値メモリ２２の上記光電子増倍管２に対するデジ
タル信号の全加算値を所定個数で除算して、その
光電子増倍管２の加算平均値S4が出力される。な
お、上記平均値回路１６が第５図に示す従来例の
平均回路７と異なる点は、複数個の光電子増倍管
２からの出力信号S3に対して並行して加算平均動
作ができるようにした点である。
上記平均値回路１６からの加算平均値S4は、補
正値計算回路１７へ入力する。この補正値計算回
路１７は、各光電子増倍管２に対する補正値を計
算するもので、まず、上記加算平均値S4と入射放
射線のエネルギによつて決まる基準値とを比較し
てその差を求め、これによつて各光電子増倍管２
の感度の変動量を検出する。次に、後述の光電子
増倍管補正回路１８の補正値メモリ１８ａから当
該光電子増倍管２の前回の補正値を読み出し、上
記変動量を除去する方向へ修正して新しい補正値
S6を出力するようになつている。
正値計算回路１７へ入力する。この補正値計算回
路１７は、各光電子増倍管２に対する補正値を計
算するもので、まず、上記加算平均値S4と入射放
射線のエネルギによつて決まる基準値とを比較し
てその差を求め、これによつて各光電子増倍管２
の感度の変動量を検出する。次に、後述の光電子
増倍管補正回路１８の補正値メモリ１８ａから当
該光電子増倍管２の前回の補正値を読み出し、上
記変動量を除去する方向へ修正して新しい補正値
S6を出力するようになつている。
上記補正値計算回路１７からの補正値S6は、光
電子増倍管補正回路１８へ入力する。この光電子
増倍管補正回路１８は、上記補正値S6に基いて各
光電子増倍管２へのそれぞれの印加電圧を制御し
て各々の光電子増倍管２の感度を自動調整するも
ので、補正値メモリ１８ａと、補正回路１８ｂと
からなる。上記補正値メモリ１８ａは、各光電子
増倍管２毎の補正値S6を記憶すると共に、補正回
路１８ｂにそれらの補正値S6を出力するものであ
る。補正回路１８ｂは、複数個の光電子増倍管２
と同数のＤ／Ａ変換器を有しており、上記補正値
メモリ１８ａから出力される補正値S6によつて各
光電子増倍管２への印加電圧を制御するものであ
る。
電子増倍管補正回路１８へ入力する。この光電子
増倍管補正回路１８は、上記補正値S6に基いて各
光電子増倍管２へのそれぞれの印加電圧を制御し
て各々の光電子増倍管２の感度を自動調整するも
ので、補正値メモリ１８ａと、補正回路１８ｂと
からなる。上記補正値メモリ１８ａは、各光電子
増倍管２毎の補正値S6を記憶すると共に、補正回
路１８ｂにそれらの補正値S6を出力するものであ
る。補正回路１８ｂは、複数個の光電子増倍管２
と同数のＤ／Ａ変換器を有しており、上記補正値
メモリ１８ａから出力される補正値S6によつて各
光電子増倍管２への印加電圧を制御するものであ
る。
次に、このように構成されたシンチレーシヨン
カメラの動作について、第１図を参照して説明す
る。まず、被検体等の放射線源１９から放出され
たγ線等の放射線がシンチレータ１へ入射する
と、該シンチレータ１の当該部位が閃光を発し、
この閃光を光電子増倍管２が検出してその入射光
量に比例する大きさの電気信号に変換する。次
に、この光電子増倍管２からの出力信号は位置計
算回路３へ入力し、位置計算回路３は位置信号
ｘ，ｙと表示信号Ｕを出力する。次に、位置信号
ｘ，ｙは視野区分回路１５ａへ入力し、この視野
区分回路１５ａは上記位置信号ｘ，ｙに対する電
気的な窓Ｗ，Ｗ…（第２図参照）により、放射線
がどの光電子増倍管２の直下に入射したかを区分
して、視野区分の区分信号S1を出力する。この区
分信号S1は計数率判定回路１５ｂへ入力し、計数
率判定回路１５ｂは、それと同時に位置計算回路
３からの表示信号Ｕを入力して、その光電子増倍
管２の視野区分の計数率を予め設定した基準値と
比較し、その基準値を越えている場合にその視野
区分に属する光電子増倍管２に対する切換信号S2
を出力する。この切換信号S2は、信号切換回路１
５ｃと平均値回路１６へ入力する。まず、信号切
換回路１５ｃは、上記切換信号S2により、放射線
がその直下に入射した光電子増倍管２の出力信号
S3だけを平均値回路１６へ送出する。次に、平均
値回路１６は、その光電子増倍管２について出力
信号S3の加算平均動作を実行する。この平均値回
路１６は、放射線が入射する毎にその入射した位
置の光電子増倍管２に対してこの動作を繰り返
し、いずれかの光電子増倍管２において入射放射
線が所定個数（例えば1000個）に達すると加算平
均動作を終了する。そして、その光電子増倍管２
についての加算平均値S4を補正値計算回路１７へ
出力すると共に、その光電子増倍管２に対する補
正値読出し信号S5を補正値メモリ１８ａに出力す
る。補正値計算回路１７は、上記補正値読出し信
号S5によつて補正値メモリ１８ａから当該光電子
増倍管２の前回の補正値を読み出し、この補正値
を修正して新しい補正値S6を出力する。この新し
い補正値S6は補正値メモリ１８ａに記憶されると
共に、上記補正値メモリ１８ａから補正回路１８
ｂへ出力され、この補正値S6によつて対応する光
電子増倍管２の印加電圧を制御し、その光電子増
倍管２の感度の変動を減少させる。以上の平均値
回路１６における加算平均動作と、補正値計算回
路１７における補正値修正動作は、該補正値計算
回路１７において加算平均値と基準値とが一致す
るまで繰り返される。そして、上記両者が一致す
ると、当該光電子増倍管２の感度変動の調整が終
了する。このようにして各光電子増倍管２に対応
する視野区分への入射放射線数が基準値を越える
と自動的に順次調整が行われ、全ての光電子増倍
管２について感度変動の調整が終了する。
カメラの動作について、第１図を参照して説明す
る。まず、被検体等の放射線源１９から放出され
たγ線等の放射線がシンチレータ１へ入射する
と、該シンチレータ１の当該部位が閃光を発し、
この閃光を光電子増倍管２が検出してその入射光
量に比例する大きさの電気信号に変換する。次
に、この光電子増倍管２からの出力信号は位置計
算回路３へ入力し、位置計算回路３は位置信号
ｘ，ｙと表示信号Ｕを出力する。次に、位置信号
ｘ，ｙは視野区分回路１５ａへ入力し、この視野
区分回路１５ａは上記位置信号ｘ，ｙに対する電
気的な窓Ｗ，Ｗ…（第２図参照）により、放射線
がどの光電子増倍管２の直下に入射したかを区分
して、視野区分の区分信号S1を出力する。この区
分信号S1は計数率判定回路１５ｂへ入力し、計数
率判定回路１５ｂは、それと同時に位置計算回路
３からの表示信号Ｕを入力して、その光電子増倍
管２の視野区分の計数率を予め設定した基準値と
比較し、その基準値を越えている場合にその視野
区分に属する光電子増倍管２に対する切換信号S2
を出力する。この切換信号S2は、信号切換回路１
５ｃと平均値回路１６へ入力する。まず、信号切
換回路１５ｃは、上記切換信号S2により、放射線
がその直下に入射した光電子増倍管２の出力信号
S3だけを平均値回路１６へ送出する。次に、平均
値回路１６は、その光電子増倍管２について出力
信号S3の加算平均動作を実行する。この平均値回
路１６は、放射線が入射する毎にその入射した位
置の光電子増倍管２に対してこの動作を繰り返
し、いずれかの光電子増倍管２において入射放射
線が所定個数（例えば1000個）に達すると加算平
均動作を終了する。そして、その光電子増倍管２
についての加算平均値S4を補正値計算回路１７へ
出力すると共に、その光電子増倍管２に対する補
正値読出し信号S5を補正値メモリ１８ａに出力す
る。補正値計算回路１７は、上記補正値読出し信
号S5によつて補正値メモリ１８ａから当該光電子
増倍管２の前回の補正値を読み出し、この補正値
を修正して新しい補正値S6を出力する。この新し
い補正値S6は補正値メモリ１８ａに記憶されると
共に、上記補正値メモリ１８ａから補正回路１８
ｂへ出力され、この補正値S6によつて対応する光
電子増倍管２の印加電圧を制御し、その光電子増
倍管２の感度の変動を減少させる。以上の平均値
回路１６における加算平均動作と、補正値計算回
路１７における補正値修正動作は、該補正値計算
回路１７において加算平均値と基準値とが一致す
るまで繰り返される。そして、上記両者が一致す
ると、当該光電子増倍管２の感度変動の調整が終
了する。このようにして各光電子増倍管２に対応
する視野区分への入射放射線数が基準値を越える
と自動的に順次調整が行われ、全ての光電子増倍
管２について感度変動の調整が終了する。
発明の効果
本発明は以上説明したように、光電子増倍管切
換回路１５を設けると共に、平均値回路１６及び
補正値計算回路１７並びに光電子増倍管補正回路
１８を設けたので、位置計算回路３からの位置信
号ｘ，ｙによつて放射線がどの光電子増倍管２の
直下に入射したかを判定し、各光電子増倍管２に
ついてその感度変動を自動調整することができ
る。従つて、従来のように感度調整のための専用
の放射線源をいちいち移動することを要さないと
共にその都度切換スイツチを操作することなく、
感度調整のための特別の操作を省くことができ
る。また、上記光電子増倍管切換回路１５によつ
て、放射線がシンチレータ１の一部にのみ入射し
ている場合は、その放射線が入射している部分の
光電子増倍管２のみの感度調整が行われると共に
他の光電子増倍管２については待機状態とされ、
放射線がシンチレータ１の全面に入射している場
合は、全ての光電子増倍管２について感度調整が
順次自動的に行われる。このことから、シンチレ
ータ１の一部にしか入射しない通常の臨床時の被
検者体内から放出される放射線を利用して、各光
電子増倍管２の感度調整を行うことができる。従
つて、従来のように感度調整のための時間を特別
にとることを要さず、シンチレーシヨンカメラの
使用時に常時感度変動を検出して自動調整するこ
とができ、光電子増倍管２の経時的な感度変動を
阻止することができる。この結果、シンチレーシ
ヨンカメラのイメージ像は、常に安定した均一性
を得ることができる。
換回路１５を設けると共に、平均値回路１６及び
補正値計算回路１７並びに光電子増倍管補正回路
１８を設けたので、位置計算回路３からの位置信
号ｘ，ｙによつて放射線がどの光電子増倍管２の
直下に入射したかを判定し、各光電子増倍管２に
ついてその感度変動を自動調整することができ
る。従つて、従来のように感度調整のための専用
の放射線源をいちいち移動することを要さないと
共にその都度切換スイツチを操作することなく、
感度調整のための特別の操作を省くことができ
る。また、上記光電子増倍管切換回路１５によつ
て、放射線がシンチレータ１の一部にのみ入射し
ている場合は、その放射線が入射している部分の
光電子増倍管２のみの感度調整が行われると共に
他の光電子増倍管２については待機状態とされ、
放射線がシンチレータ１の全面に入射している場
合は、全ての光電子増倍管２について感度調整が
順次自動的に行われる。このことから、シンチレ
ータ１の一部にしか入射しない通常の臨床時の被
検者体内から放出される放射線を利用して、各光
電子増倍管２の感度調整を行うことができる。従
つて、従来のように感度調整のための時間を特別
にとることを要さず、シンチレーシヨンカメラの
使用時に常時感度変動を検出して自動調整するこ
とができ、光電子増倍管２の経時的な感度変動を
阻止することができる。この結果、シンチレーシ
ヨンカメラのイメージ像は、常に安定した均一性
を得ることができる。
第１図は本発明のシンチレーシヨンカメラを示
すブロツク図、第２図は視野区分回路の電気的な
窓を示す説明図、第３図はその変形例を示す説明
図、第４図は平均値回路の内部構成を示すブロツ
ク図、第５図は従来のシンチレーシヨンカメラを
示すブロツク図である。 １…シンチレータ、２…光電子増倍管、３…位
置計算回路、４…表示装置、１５…光電子増倍管
切換回路、１５ａ…視野区分回路、１５ｂ…計数
率判定回路、１５ｃ…信号切換回路、１６…平均
値回路、１７…補正値計算回路、１８…光電子増
倍管補正回路、１８ａ…補正値メモリ、１８ｂ…
補正回路。
すブロツク図、第２図は視野区分回路の電気的な
窓を示す説明図、第３図はその変形例を示す説明
図、第４図は平均値回路の内部構成を示すブロツ
ク図、第５図は従来のシンチレーシヨンカメラを
示すブロツク図である。 １…シンチレータ、２…光電子増倍管、３…位
置計算回路、４…表示装置、１５…光電子増倍管
切換回路、１５ａ…視野区分回路、１５ｂ…計数
率判定回路、１５ｃ…信号切換回路、１６…平均
値回路、１７…補正値計算回路、１８…光電子増
倍管補正回路、１８ａ…補正値メモリ、１８ｂ…
補正回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 入射放射線により閃光を発するシンチレータ
と、このシンチレータに光学的に結合されて光を
電気信号に変換する複数個の光電子増倍管と、こ
れらの光電子増倍管の出力信号に基いて放射線の
入射位置を演算して位置信号及び表示信号を表示
装置へ出力する位置計算回路とを有し、被検体か
らの入射放射線の分布像を得るシンチレーシヨン
カメラにおいて、上記位置計算回路からの位置信
号によつて放射線がどの光電子増倍管の直下に入
射したかを判定し当該光電子増倍管の出力信号の
みを通過させる光電子増倍管切換回路を設け、こ
の光電子増倍管切換回路からの出力信号を各光電
子増倍管毎に所定個数の入射放射線に対して加算
平均し上記光電子増倍管の出力信号の大きさを平
均化する平均値回路を設け、この平均値回路から
の平均化された出力信号の大きさと入射放射線の
エネルギによつて決まる基準値とを比較して各光
電子増倍管の感度の変動量を検出し各光電子増倍
管に対する補正値を計算する補正値計算回路を設
けると共に、上記補正値に基いて上記各光電子増
倍管へのそれぞれの印加電圧を制御して各々の光
電子増倍管の感度を自動調整する光電子増倍管補
正回路を設けたことを特徴とするシンチレーシヨ
ンカメラ。 ２ 上記光電子増倍管切換回路は、上記位置計算
回路からの位置信号に対して個々の光電子増倍管
毎の領域に区切る電気的な窓を有し入射放射線に
対するカメラ視野を各光電子増倍管毎に区分して
区分信号を出力する視野区分回路と、この視野区
分回路の各視野区分に入射する放射線の計数率を
所定の基準値と比較してこの基準値より大きい視
野区分に属する光電子増倍管に対する切換信号を
送出する計数率判定回路と、上記切換信号によつ
て複数個の光電子増倍管からの出力信号のうち一
つだけを通過させる信号切換回路とから成ること
を特徴とする特許請求の範囲第１項記載のシンチ
レーシヨンカメラ。 ３ 上記光電子増倍管補正回路は、上記補正値計
算回路からの各光電子増倍管に対する補正値を記
憶する補正値メモリと、各光電子増倍管に対して
それぞれＤ／Ａ変換器を有すると共に上記補正値
メモリからの補正値によつて各光電子増倍管への
印加電圧を制御する補正回路とから成ることを特
徴とする特許請求の範囲第１項記載のシンチレー
シヨンカメラ。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60002634A JPS61162782A (ja) | 1985-01-12 | 1985-01-12 | シンチレ−シヨンカメラ |
| US07/188,173 US4882495A (en) | 1985-01-12 | 1988-04-26 | Scintillation camera |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60002634A JPS61162782A (ja) | 1985-01-12 | 1985-01-12 | シンチレ−シヨンカメラ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61162782A JPS61162782A (ja) | 1986-07-23 |
| JPH0572555B2 true JPH0572555B2 (ja) | 1993-10-12 |
Family
ID=11534815
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60002634A Granted JPS61162782A (ja) | 1985-01-12 | 1985-01-12 | シンチレ−シヨンカメラ |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4882495A (ja) |
| JP (1) | JPS61162782A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8994711B2 (en) | 1999-04-27 | 2015-03-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electronic device and electronic apparatus |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH065280B2 (ja) * | 1985-04-17 | 1994-01-19 | 株式会社東芝 | シンチレ−シヨンカメラ |
| EP0280731B1 (en) * | 1986-08-28 | 1992-07-22 | Shimadzu Corporation | Amplification degree stabilizer for photomultiplier tubes |
| JP3092127B2 (ja) * | 1989-09-08 | 2000-09-25 | 株式会社日立メディコ | Ｘ線ｃｔ装置 |
| US5323007A (en) * | 1992-02-07 | 1994-06-21 | Univ. Of Chicago Development Corp. Argonne National Laboratories | Method of recovering tomographic signal elements in a projection profile or image by solving linear equations |
| US5237173A (en) * | 1992-04-01 | 1993-08-17 | Independent Scintillation Imaging Systems, Inc. | Gain calibration in a scintillation camera |
| US5321261A (en) * | 1992-09-10 | 1994-06-14 | Packard Instrument Company, Inc. | Normalization technique for photon-counting luminometer |
| US5576547A (en) * | 1993-07-27 | 1996-11-19 | Park Medical Systems Inc. | Position calculation and energy correction in the digital scintillation camera |
| US5410153A (en) * | 1993-07-27 | 1995-04-25 | Park Medical Systems, Inc. | Position calculation in a scintillation camera |
| JP3323323B2 (ja) * | 1994-04-25 | 2002-09-09 | 浜松ホトニクス株式会社 | シンチレーションカメラ |
| US5550377A (en) * | 1994-09-20 | 1996-08-27 | Picker International, Inc. | Technique for balancing anger cameras using an externally irradiated crystal and single tube data |
| EP1104890A3 (en) * | 1994-10-04 | 2002-10-30 | Adac Laboratories | Gamma camera system |
| ES2152757B1 (es) * | 1996-07-31 | 2001-08-16 | Univ Valencia Politecnica | Sistema de medida de actividad absoluta de radionucleidos por metodo de coincidencias en centelleador liquido con un cabezal de k fotomultiplicadores de igual eficiencia promedio en cada canal mediante permutacion electronica de los canales. |
| FR2755815B1 (fr) * | 1996-11-08 | 1998-12-18 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif et procede de determination de la position presumee d'un evenement par rapport a un ensemble de photodetecteurs, et application aux gamma-cameras |
| CA2212196A1 (en) | 1997-08-01 | 1999-02-01 | Is2 Research Inc. | Medical diagnostic apparatus and method |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1313099A (en) * | 1969-06-27 | 1973-04-11 | Picker Corp | Apparatus for recording patterns of electromagnetic radiation |
| NL8103058A (nl) * | 1981-06-24 | 1983-01-17 | Philips Nv | Werkwijze voor het calibreren van een gammakamera en gammakamera met een calibratieinrichting. |
| US4566074A (en) * | 1981-10-08 | 1986-01-21 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Scintillation camera |
| JPS60380A (ja) * | 1983-06-16 | 1985-01-05 | Mitsubishi Electric Corp | 移動目標検出回路 |
-
1985
- 1985-01-12 JP JP60002634A patent/JPS61162782A/ja active Granted
-
1988
- 1988-04-26 US US07/188,173 patent/US4882495A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8994711B2 (en) | 1999-04-27 | 2015-03-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electronic device and electronic apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4882495A (en) | 1989-11-21 |
| JPS61162782A (ja) | 1986-07-23 |
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|---|---|---|
| JPH0572555B2 (ja) | ||
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