JPS6236505A - パタ−ン位置検出方式 - Google Patents
パタ−ン位置検出方式Info
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- JPS6236505A JPS6236505A JP17629885A JP17629885A JPS6236505A JP S6236505 A JPS6236505 A JP S6236505A JP 17629885 A JP17629885 A JP 17629885A JP 17629885 A JP17629885 A JP 17629885A JP S6236505 A JPS6236505 A JP S6236505A
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- pattern
- signal
- alignment
- mark
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
く技術分野〉
本発明は特に位置合わせ用のパターンの撮影によって得
られるパターン検出信号にノイズ(外乱成分)が含まれ
る場合であっても最もパターンに近い位置情報を検出す
ることができるパターン位置検出方式に関する。
られるパターン検出信号にノイズ(外乱成分)が含まれ
る場合であっても最もパターンに近い位置情報を検出す
ることができるパターン位置検出方式に関する。
〈従来技術〉
従来、パターンの位置を検出する方式として固定2値化
方式が知られる。
方式が知られる。
これは第7図に示される様に対象物1の表面にマーク2
が印刷等により施こされている場合(同図(a)参照)
、カメラの撮影によって得られたマーク2の映像信号を
ある一定の2値化レベルと比較することによって(同図
(b)参照)パターンの有無を判別するものである(同
図(C)参照)。
が印刷等により施こされている場合(同図(a)参照)
、カメラの撮影によって得られたマーク2の映像信号を
ある一定の2値化レベルと比較することによって(同図
(b)参照)パターンの有無を判別するものである(同
図(C)参照)。
しかし、この様な従来の固定2値化方式によれば第8図
に示される様に検出すべきマーク2に比べその幅が遥か
に小さいゴミ3が存在した背景レベルの低下部分4があ
った場合、これらを該検出する虞れがあった。
に示される様に検出すべきマーク2に比べその幅が遥か
に小さいゴミ3が存在した背景レベルの低下部分4があ
った場合、これらを該検出する虞れがあった。
く目的〉
本発明は以上の従来問題点を解消するべくなされたもの
であシ、パターン検出信号にノイズが含まれる場合であ
っても最もパターンに近い位置情報を検出することを目
的とする。
であシ、パターン検出信号にノイズが含まれる場合であ
っても最もパターンに近い位置情報を検出することを目
的とする。
〈実施例〉
以下、本発明に係るパターン位置検出方式の−実施例に
つき図面を用いて詳細に説明を行なう。
つき図面を用いて詳細に説明を行なう。
第1図に本発明に係るパターン位置検出方式の光学系の
構成を示す。4は紫外光光源であり、5゜6は夫々上側
ワーク吸着板、下側ワーク吸着板である。上側ワーク吸
着板5には上側ワーク(ここでは上側液晶パネル板)7
か取り付けられ、下側ワーク吸着板6には下側ワーク(
ここでは下側液晶パネル板)8が取り付けられる。9,
10は上側液晶パネル板7及び下側液晶パネル板8の内
面に夫々形成された酸化インジウム膜の透明な導電膜か
らなる位置合わせ用のマークである。上記紫外光光源4
と下側ワーク吸着板6の間には絞り11が設けられ、光
源側に設置された図示されない対物レンズの影響の除去
や、照明光の干渉性の調整を可能にしている。上記紫外
光光源4より出射された光は下側及び上側液晶パネル板
8,7を通過して後に紫外光の透過特性において優れた
対物レンズ12を通り、鏡筒13内を通過してアルミ表
面ミラー14で反射されてから紫外域検出用■TVカメ
ラ15の撮像面にて結像する。この場合、上側及び下側
液晶パネル板7,8を構成するガラスと位置合わせ用の
マーク9,10を構成する酸化インジウム膜(1,T、
0.膜)とは紫外線の透過特性の差が大きいので可視光
の照射による場合と比較してコントラストの高い像をI
TVカメラ15によって得ることができる。尚、16は
絞りである。
構成を示す。4は紫外光光源であり、5゜6は夫々上側
ワーク吸着板、下側ワーク吸着板である。上側ワーク吸
着板5には上側ワーク(ここでは上側液晶パネル板)7
か取り付けられ、下側ワーク吸着板6には下側ワーク(
ここでは下側液晶パネル板)8が取り付けられる。9,
10は上側液晶パネル板7及び下側液晶パネル板8の内
面に夫々形成された酸化インジウム膜の透明な導電膜か
らなる位置合わせ用のマークである。上記紫外光光源4
と下側ワーク吸着板6の間には絞り11が設けられ、光
源側に設置された図示されない対物レンズの影響の除去
や、照明光の干渉性の調整を可能にしている。上記紫外
光光源4より出射された光は下側及び上側液晶パネル板
8,7を通過して後に紫外光の透過特性において優れた
対物レンズ12を通り、鏡筒13内を通過してアルミ表
面ミラー14で反射されてから紫外域検出用■TVカメ
ラ15の撮像面にて結像する。この場合、上側及び下側
液晶パネル板7,8を構成するガラスと位置合わせ用の
マーク9,10を構成する酸化インジウム膜(1,T、
0.膜)とは紫外線の透過特性の差が大きいので可視光
の照射による場合と比較してコントラストの高い像をI
TVカメラ15によって得ることができる。尚、16は
絞りである。
第2図に下側液晶パネル板8の表面に形成された位置合
わせ用のマーク10を示す。この位置合わせ用のマーク
lOは下側液晶パネル板8の対角位置に2個、上下2枚
で計4個配置されている。
わせ用のマーク10を示す。この位置合わせ用のマーク
lOは下側液晶パネル板8の対角位置に2個、上下2枚
で計4個配置されている。
又、第1図には示されていないが第1図の光学系とは別
に、1組の光学系が存在する。そして夫々の光学系が一
対の上下のマークを同時に観察する。
に、1組の光学系が存在する。そして夫々の光学系が一
対の上下のマークを同時に観察する。
この光学系は紫外領域で良い特性を示す光学部品を使用
しており、ITVカメラエ5には高分解能型カメラを使
用し、倍率10倍の光学系によって視野1回角、走査線
1本あたり1μmの分解能を得ている・さらに歪補正回
路を用いることによ久カメラヘッドによる画像歪を補正
している。
しており、ITVカメラエ5には高分解能型カメラを使
用し、倍率10倍の光学系によって視野1回角、走査線
1本あたり1μmの分解能を得ている・さらに歪補正回
路を用いることによ久カメラヘッドによる画像歪を補正
している。
上記した如くマーク検出装置は2個所に設けらバた一対
の上下のマークを2組の光学系で観察するように構成さ
れておシ、上側及び下側液晶パネル板7.8を通過した
2個所の紫外線光を2つのITVカメラにとりこんでい
る。第3図に工TVカメラにとりこまれた画像情報を基
にして上側及び下側液晶パネル板7,8の位置合わせ制
御を行なう制御系のブロック図を示す。制御系全体とし
てはITVカメラを画像センサとして用い、位置フィー
ドバンクをモータ駆動回路にかけ下側液晶パネル板8を
搭載するXψY−θステージを駆動する(上側液晶パネ
ル板7は固定状態とする)構成となっている。
の上下のマークを2組の光学系で観察するように構成さ
れておシ、上側及び下側液晶パネル板7.8を通過した
2個所の紫外線光を2つのITVカメラにとりこんでい
る。第3図に工TVカメラにとりこまれた画像情報を基
にして上側及び下側液晶パネル板7,8の位置合わせ制
御を行なう制御系のブロック図を示す。制御系全体とし
てはITVカメラを画像センサとして用い、位置フィー
ドバンクをモータ駆動回路にかけ下側液晶パネル板8を
搭載するXψY−θステージを駆動する(上側液晶パネ
ル板7は固定状態とする)構成となっている。
カメラからの位置合わせ用のマークの映像信号はカメラ
ヘッドのコントロールや映像信号のアナログ処理などを
行うカメラコントロールユニットCCuで増幅、補正さ
れ、A/D変換の後バッファメモリに格納される。シス
テムコントローラはこのバックアメモリからデータを取
シ出し、信号処理を行なって位置合わせ用のマークの位
置を検出する。以上の信号処理を2組のカメラについて
行ない、下側液晶パネル板8を搭載するX−Yφθステ
ージ各軸の移動量を計算してその移動量に応じたパルス
をモータ駆動回路に送る。
ヘッドのコントロールや映像信号のアナログ処理などを
行うカメラコントロールユニットCCuで増幅、補正さ
れ、A/D変換の後バッファメモリに格納される。シス
テムコントローラはこのバックアメモリからデータを取
シ出し、信号処理を行なって位置合わせ用のマークの位
置を検出する。以上の信号処理を2組のカメラについて
行ない、下側液晶パネル板8を搭載するX−Yφθステ
ージ各軸の移動量を計算してその移動量に応じたパルス
をモータ駆動回路に送る。
以上の信号処理とは別にカメラコントロール二二ッ)C
CuからモニタTVに画像信号が送られ、常時位置合わ
せ用のマークの表示がなされる。従って操作者はモニタ
TVを見ながら手動操作盤を操作することによって手動
によるアライメントを行うことができる。
CuからモニタTVに画像信号が送られ、常時位置合わ
せ用のマークの表示がなされる。従って操作者はモニタ
TVを見ながら手動操作盤を操作することによって手動
によるアライメントを行うことができる。
次に位置合わせ用のマークの画像情報の中から1本の検
出ライン上で得られた部分的な画像情報を抽出し、これ
を用いて位置合わせ用マークの位置を効率良く検出する
方法につき説明を行なう。
出ライン上で得られた部分的な画像情報を抽出し、これ
を用いて位置合わせ用マークの位置を効率良く検出する
方法につき説明を行なう。
ここで上記検出ライン上の紫外線光の濃淡情報にニジ、
背景レベルの変動・ゴミ・ホコリを含むことによるノイ
ズ等がある場合においても上記位置合わせ用マークの正
しい位置を検出する処理手順について特に説明する。前
述した如く、位置合わせ用マークの形状は第2図に示し
たV字形であり、上側及び下側液晶パネル板7,8に設
けられたV字形マークが正方形を示す時に位置合わせが
完了する。
背景レベルの変動・ゴミ・ホコリを含むことによるノイ
ズ等がある場合においても上記位置合わせ用マークの正
しい位置を検出する処理手順について特に説明する。前
述した如く、位置合わせ用マークの形状は第2図に示し
たV字形であり、上側及び下側液晶パネル板7,8に設
けられたV字形マークが正方形を示す時に位置合わせが
完了する。
第2図の位置合わせ用マークの位置座標M(Mx、My
)は検出ラインの位置Xo と検出ライン上の紫外線光
の濃淡によって決まる信号中の2つの谷部(Ys 、
Y2 (Yl>Y2 ) )よシ以下のように計算
される。
)は検出ラインの位置Xo と検出ライン上の紫外線光
の濃淡によって決まる信号中の2つの谷部(Ys 、
Y2 (Yl>Y2 ) )よシ以下のように計算
される。
I Y2
My=
次に、検出ライン上のデータより、上記Yl 。
Y2の座標を高精度、高信頼性をもって検出する処理の
過程を第4図(a)〜(f)を用いて説明する。
過程を第4図(a)〜(f)を用いて説明する。
第4図(a):
ITVカメラ15でとらえた視野内の画像情報から検出
ライン(第2図のA−に線)上にある信号を抜きとって
画像バッファメモリに取シ込む。
ライン(第2図のA−に線)上にある信号を抜きとって
画像バッファメモリに取シ込む。
第4図(a)の信号波形に示す様に位置合わせ用マーり
と検出ラインの交差部では信号レベルは低くなる。つま
シ、紫外線光の強さが弱くなっている。
と検出ラインの交差部では信号レベルは低くなる。つま
シ、紫外線光の強さが弱くなっている。
又、ノイズ等によって信号レベルが低くなっている部分
もある。(この信号波形から位置合わせ用マークの位置
Mを求めるため信号波形の谷部のY座標を計算によって
求める。) 第4図(b): まず、第4図(a)の信号波形には高周波のランダムな
信号成分を含むので、適当な大きさの空間オレペータに
よシ信号を平滑化する。
もある。(この信号波形から位置合わせ用マークの位置
Mを求めるため信号波形の谷部のY座標を計算によって
求める。) 第4図(b): まず、第4図(a)の信号波形には高周波のランダムな
信号成分を含むので、適当な大きさの空間オレペータに
よシ信号を平滑化する。
第4図(C):
平滑化された信号成分の中で連続的に上昇をし、もしく
は下降している部分を抽出する。(メモリサイズの制約
上、一定幅以上のパターンに限定する。) 第4図(d): 抽出された部分の中で位置合わせ用マーク部の形状に近
いパターンから順にそれぞれ番号付けをする。
は下降している部分を抽出する。(メモリサイズの制約
上、一定幅以上のパターンに限定する。) 第4図(d): 抽出された部分の中で位置合わせ用マーク部の形状に近
いパターンから順にそれぞれ番号付けをする。
第4図(e):
最も位置合わせ用マーク部に近いパターンの位置関係よ
シ谷部を形成する下降、上昇部の開始φ終了点に番号付
けを行なう。
シ谷部を形成する下降、上昇部の開始φ終了点に番号付
けを行なう。
第4図(f):
谷部の左右対称性よシ、谷部の中心位置を求めるO
次に位置合わせ用マークの位置制御量の計算方法を説明
する。
する。
第5図のように可動側(下側)基板上の2個の位置合わ
せ用マークの位置としてAo (Aox 、Aoy)。
せ用マークの位置としてAo (Aox 、Aoy)。
Co(Cox、Coy)、固定側(上側)基板上の2個
の位置合わせ用マークの位置としてBo(Box。
の位置合わせ用マークの位置としてBo(Box。
Boy)、Do(Dox、Doy)とし、両視野におい
てマーク位置検出を完了したとする□ まず、AoCoの中点をG(Gx、Gy)とするとGx
=−(Aox+Cox) Gy= (Aoy+Coy) 固定側、可動側の位置合わせ用マーク間ピッチが異る場
合、その誤差を両側に均等に振シ分けるため、点Gを中
心とし、BoDo =AI Cs となる点をAl (
AIX、Aly)とすると まず可動側基板上の位置合わせ用マークによってつくら
れる直線A、 C,を固定側基板上の位置合わせ用マー
クによってつくられる直線BoDoに平行になるように
回転させる。
てマーク位置検出を完了したとする□ まず、AoCoの中点をG(Gx、Gy)とするとGx
=−(Aox+Cox) Gy= (Aoy+Coy) 固定側、可動側の位置合わせ用マーク間ピッチが異る場
合、その誤差を両側に均等に振シ分けるため、点Gを中
心とし、BoDo =AI Cs となる点をAl (
AIX、Aly)とすると まず可動側基板上の位置合わせ用マークによってつくら
れる直線A、 C,を固定側基板上の位置合わせ用マー
クによってつくられる直線BoDoに平行になるように
回転させる。
求めるべき回転制御量Tc(rad)は、次に4At
を点P (Px、Py) を中心にTc(rad)回
転した点をA2 (A2X a A2y) とする
と、 A2 x”cos Te ・(At x−Px)−8i
n Tc @(At y−Py)+PxA2y= 5i
nTcs(Alx−Px)+Cos Tc(Aty−P
y)+Py−よって求めるべきXY方向の制御量Xc、
Ycは以下のように求まる。
を点P (Px、Py) を中心にTc(rad)回
転した点をA2 (A2X a A2y) とする
と、 A2 x”cos Te ・(At x−Px)−8i
n Tc @(At y−Py)+PxA2y= 5i
nTcs(Alx−Px)+Cos Tc(Aty−P
y)+Py−よって求めるべきXY方向の制御量Xc、
Ycは以下のように求まる。
Xc =B o X−A2 X
Yc=Boy A17 。
アライメント手順として第6図に制御フローチャートを
示す。この処理フローチャートかられかるように、位置
補正を数回繰シ返した後に補正量がある一定値以下に収
束したことを確認してアライメント処理を終了する。
示す。この処理フローチャートかられかるように、位置
補正を数回繰シ返した後に補正量がある一定値以下に収
束したことを確認してアライメント処理を終了する。
位置補正を数回繰り返すのは、検出視野の座標系や回転
ステージの中心、XYステージの軸方向その他が完全に
設計値と一致しないためにアライメント量に応じた大き
さのアライメント誤差を生ずるための対策である。
ステージの中心、XYステージの軸方向その他が完全に
設計値と一致しないためにアライメント量に応じた大き
さのアライメント誤差を生ずるための対策である。
アライメントシステムの信頼性に影響を与える要因とし
て画像入力信号の電気的ノイズ成分、照明条件などの認
識環境の経時特性変化、位置合わせ用マーク近傍に付着
したゴミ、ホコリなどが考えられるが、本発明では上記
の環境要因を考慮し、ゴミ、ホコリが介在してもアライ
メント精度にほとんど影響を与えないマーク位置検出方
式を提供でき、信頼性を向上させることができる。
て画像入力信号の電気的ノイズ成分、照明条件などの認
識環境の経時特性変化、位置合わせ用マーク近傍に付着
したゴミ、ホコリなどが考えられるが、本発明では上記
の環境要因を考慮し、ゴミ、ホコリが介在してもアライ
メント精度にほとんど影響を与えないマーク位置検出方
式を提供でき、信頼性を向上させることができる。
次にマーク検出ライン上の画像信号が幅の小さい先鋭な
形状のノイズ成分や背景レベルのゆるやかな変化を含む
ような一次元画像(たとえば第4図(a)の信号)信号
から既知の位置合わせ用マークのパターンに最も近いパ
ターンを比較的少ない演算量で高速に検出する方法を詳
しく説明する。このパターンの比較検出には映像信号を
入力するカメラと、入力された映像信号から検出ライン
上の1次元の映像情報を量子化し、A/D変換するA/
D変換部と、A/D変換された情報を記憶する画像メモ
リ部と、メモリ部に記憶された情報を処理してパターン
を検出するための検出処理部とが用いられる。
形状のノイズ成分や背景レベルのゆるやかな変化を含む
ような一次元画像(たとえば第4図(a)の信号)信号
から既知の位置合わせ用マークのパターンに最も近いパ
ターンを比較的少ない演算量で高速に検出する方法を詳
しく説明する。このパターンの比較検出には映像信号を
入力するカメラと、入力された映像信号から検出ライン
上の1次元の映像情報を量子化し、A/D変換するA/
D変換部と、A/D変換された情報を記憶する画像メモ
リ部と、メモリ部に記憶された情報を処理してパターン
を検出するための検出処理部とが用いられる。
ここで検出処理部はカメラコントロールユニットであっ
てもよいし、システムコントローラに設けられてもよい
。A/D変換を行う際の量子化精度として、パターン(
谷部)の両側に生じる傾斜部において平均的に1ピクセ
ル当り1以上の変化を有するという条件を満足するよう
に、量子化精度もしくは映像信号ゲインを設定する。
てもよいし、システムコントローラに設けられてもよい
。A/D変換を行う際の量子化精度として、パターン(
谷部)の両側に生じる傾斜部において平均的に1ピクセ
ル当り1以上の変化を有するという条件を満足するよう
に、量子化精度もしくは映像信号ゲインを設定する。
画像メモリ部における検出信号パターン(谷部)の特徴
としては、 +1+ ある一定幅Wpに近い下降部と上昇部を両側
に持つ。
としては、 +1+ ある一定幅Wpに近い下降部と上昇部を両側
に持つ。
(2) ある一定量Dpに近い下降量と上昇量が両側
に見られる。
に見られる。
である。
また、検出信号パターン(谷部)に比べ短周期のランダ
ムノイズが含ま八る場合(第4図(a))では適当な大
きさの空間オペレータ等によシ平滑化処理する。(第4
図(b)) パターン検出処理は3つのステップから構成すれる。す
なわち、傾斜データテーブルの作成、最適パターンの抽
出、パターン部の決定である。傾斜データテーブルとは
、画像メモリ中の入力信号である一次元データ列よシ、
連続して上昇または下降する部分に対して、その開始ア
ドレスAi。
ムノイズが含ま八る場合(第4図(a))では適当な大
きさの空間オペレータ等によシ平滑化処理する。(第4
図(b)) パターン検出処理は3つのステップから構成すれる。す
なわち、傾斜データテーブルの作成、最適パターンの抽
出、パターン部の決定である。傾斜データテーブルとは
、画像メモリ中の入力信号である一次元データ列よシ、
連続して上昇または下降する部分に対して、その開始ア
ドレスAi。
上昇量Uiまたは下降量Di、上昇幅または下降幅Wi
を登録したデータテーブルであり、1次元データYj
とその前のデータ’1’j−xt−順次比較することに
より求まる。但し、上昇幅Wiがある一定幅Wm i
nに満たない場合、微小ノイズ成分とみなし、テーブル
エリアの有効利用と処理データ数の減少による処理時間
の短縮化のために、傾斜テーブルに登録しない処理を行
なう。上記のデータテーブルの処理例を第4図(c)に
示す。最適パターンの抽出の方法としては、特徴量とし
て上昇部については上昇量Ui、上昇幅W1 、下降部
については下降量Di 、下降幅Wi として特徴空間
法を適用する。従って標準パターンと検出したパターン
との距離は、上昇部パターンにおいては下[LJ3パタ
ーンにおいては、 というような計算式をあてはめることができる・また標
準パターンが未知でかつ標準パターンのl−R帯・下降
量が仙のノイズ成分に比べて最も大きい部分を検出信号
とするものとする。また、標準パターンの上昇・下降幅
が他のノイズ成分に比べ最も大きい場合はそれを特徴量
として、最大のものが最も位置合わせ用マークの検出パ
ターン(谷部)に近いと処理できる。第4図(d)に示
されるように上昇部・下降部の各々に標準パターンに近
いものから番号付けを行なう。
を登録したデータテーブルであり、1次元データYj
とその前のデータ’1’j−xt−順次比較することに
より求まる。但し、上昇幅Wiがある一定幅Wm i
nに満たない場合、微小ノイズ成分とみなし、テーブル
エリアの有効利用と処理データ数の減少による処理時間
の短縮化のために、傾斜テーブルに登録しない処理を行
なう。上記のデータテーブルの処理例を第4図(c)に
示す。最適パターンの抽出の方法としては、特徴量とし
て上昇部については上昇量Ui、上昇幅W1 、下降部
については下降量Di 、下降幅Wi として特徴空間
法を適用する。従って標準パターンと検出したパターン
との距離は、上昇部パターンにおいては下[LJ3パタ
ーンにおいては、 というような計算式をあてはめることができる・また標
準パターンが未知でかつ標準パターンのl−R帯・下降
量が仙のノイズ成分に比べて最も大きい部分を検出信号
とするものとする。また、標準パターンの上昇・下降幅
が他のノイズ成分に比べ最も大きい場合はそれを特徴量
として、最大のものが最も位置合わせ用マークの検出パ
ターン(谷部)に近いと処理できる。第4図(d)に示
されるように上昇部・下降部の各々に標準パターンに近
いものから番号付けを行なう。
1次元画像データの中に存在するマーク検出パターン(
谷部)の数がNコ存在する場合、最も検出すべきパター
ンに近いものからN個を検出すべきパターンとして決定
する。
谷部)の数がNコ存在する場合、最も検出すべきパター
ンに近いものからN個を検出すべきパターンとして決定
する。
次に傾斜テーブルとその中の最も標準パターンに近いデ
ータより求める2つのパターン(谷部)のうち左側のパ
ターンの下降部間始点をPl 。
ータより求める2つのパターン(谷部)のうち左側のパ
ターンの下降部間始点をPl 。
P1′、下降部終了点をP2.P2’、右側パターンの
上外部開始点P3 、 P3’ #上外部終了点P、
。
上外部開始点P3 、 P3’ #上外部終了点P、
。
P4’が求まる。(第4図(6)を参照)検出パターン
(谷部)の中心は各々のパターンについて21点から2
4点のアドレスの範囲内でP2とP3のレベルの高い方
のレベルからPoとP4のレベルの低い方のレベルの範
囲内で信号の対称となる軸を求める事によシ検出できる
。以上のようにしてマークの谷部の中心が正確に求めら
れ、この谷部の中心の値を用いてマークの位置を計算す
る。
(谷部)の中心は各々のパターンについて21点から2
4点のアドレスの範囲内でP2とP3のレベルの高い方
のレベルからPoとP4のレベルの低い方のレベルの範
囲内で信号の対称となる軸を求める事によシ検出できる
。以上のようにしてマークの谷部の中心が正確に求めら
れ、この谷部の中心の値を用いてマークの位置を計算す
る。
〈効果〉
以上説明したように、本発明においては、物体の位置に
対応して移動するマークの位置を検出する際においてノ
イズを含むような位置情報画像からでも正確な位置を検
出することができる。
対応して移動するマークの位置を検出する際においてノ
イズを含むような位置情報画像からでも正確な位置を検
出することができる。
第1図は本発明に係るパターン位置検出方式の光学系の
構成説明図、第2図は位置合わせマークの説明図、第3
図は制御ブロック図、第4図(a)〜(f)は信号波形
図、第5図は全体の位置合わせマークの説明図、第6図
は処理手顆のフローチャート、第7図、第8図は従来の
信号処理の説明図を示す。 4:紫外光光線、 5:上側ワーク吸着板、6:下
側ワーク吸着板、 7二上側ワーク、8:下側ワー
ク、 9:位置合わせ用マーク、10:位置合わせ
用マーク、 11:絞り、12:対物レンズ、
13:鏡筒、 14:ミラー、 15:ITv
カメラ、 16:絞シ・ 代理人 弁理士 福 士 愛 彦(他2名).7 /’ ′$1図 $ 4 図 (b) $4 図(C) g14 図 (d) 稠44 図 (eン 第4図(f) 第5図
構成説明図、第2図は位置合わせマークの説明図、第3
図は制御ブロック図、第4図(a)〜(f)は信号波形
図、第5図は全体の位置合わせマークの説明図、第6図
は処理手顆のフローチャート、第7図、第8図は従来の
信号処理の説明図を示す。 4:紫外光光線、 5:上側ワーク吸着板、6:下
側ワーク吸着板、 7二上側ワーク、8:下側ワー
ク、 9:位置合わせ用マーク、10:位置合わせ
用マーク、 11:絞り、12:対物レンズ、
13:鏡筒、 14:ミラー、 15:ITv
カメラ、 16:絞シ・ 代理人 弁理士 福 士 愛 彦(他2名).7 /’ ′$1図 $ 4 図 (b) $4 図(C) g14 図 (d) 稠44 図 (eン 第4図(f) 第5図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、パターン検出信号を量子化して画像メモリに取り込
む工程と、 前記画像メモリに取り込まれたデータの中で上昇・下降
する部分を抽出し、該抽出されたデータに基いて求める
パターンの位置関係に近い座標を得る工程と、 を具備したことを特徴とするパターン位置検出方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17629885A JPS6236505A (ja) | 1985-08-09 | 1985-08-09 | パタ−ン位置検出方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17629885A JPS6236505A (ja) | 1985-08-09 | 1985-08-09 | パタ−ン位置検出方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6236505A true JPS6236505A (ja) | 1987-02-17 |
Family
ID=16011136
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17629885A Pending JPS6236505A (ja) | 1985-08-09 | 1985-08-09 | パタ−ン位置検出方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6236505A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63205154A (ja) * | 1987-02-19 | 1988-08-24 | 岩井機械工業株式会社 | 凍結肉類連続乳化装置に於ける微粉砕肉類乳化装置 |
| JPH0242306A (ja) * | 1988-02-12 | 1990-02-13 | Sumitomo Rubber Ind Ltd | タイヤのサイドウォールの検査装置 |
| JPH0515300A (ja) * | 1991-05-10 | 1993-01-26 | Iwai Kikai Kogyo Kk | 凍結肉類連続微粉砕装置 |
-
1985
- 1985-08-09 JP JP17629885A patent/JPS6236505A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63205154A (ja) * | 1987-02-19 | 1988-08-24 | 岩井機械工業株式会社 | 凍結肉類連続乳化装置に於ける微粉砕肉類乳化装置 |
| JPH0242306A (ja) * | 1988-02-12 | 1990-02-13 | Sumitomo Rubber Ind Ltd | タイヤのサイドウォールの検査装置 |
| JPH0515300A (ja) * | 1991-05-10 | 1993-01-26 | Iwai Kikai Kogyo Kk | 凍結肉類連続微粉砕装置 |
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