JPS6236530A - 光フアイバケ−ブルの試験方法 - Google Patents
光フアイバケ−ブルの試験方法Info
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- JPS6236530A JPS6236530A JP17706785A JP17706785A JPS6236530A JP S6236530 A JPS6236530 A JP S6236530A JP 17706785 A JP17706785 A JP 17706785A JP 17706785 A JP17706785 A JP 17706785A JP S6236530 A JPS6236530 A JP S6236530A
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- optical fiber
- fiber cable
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- transmission
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、双方向伝送路として使用される光ファイバケ
ーブルに対し、光パルス試験を行なう方法に関するもの
でおる。
ーブルに対し、光パルス試験を行なう方法に関するもの
でおる。
光ファイバケーブル伝送方式には第６図のように伝送方
向毎に一芯ずつ光ファイバケーブル３を使用し、上り・
下りで２芯の光ファイバケーブル６・３を使用する２芯
弐光フアイバケ一ブル伝送方式と、第４図のように一芯
の光フアイバケープ／Ｉ／３を使用し上り方向と下り方
向で異なる波長の元を用い合分波器６で波長の異なる光
を合波或いは分波する一芯弐波長多重伝送方式等がある
（波長多ＴＬＦ−６Ｍ方式の設計９通研実報、３２，１
Ｖｋ１゜１１、Ｐ、２５５１．１９８３□岡野、金円、
北見著）５ただし、符号１，４．８は電気／光変挨部、
２，５．７は光／を戴置換部、λ１ 、λ、は光の波長
である。
向毎に一芯ずつ光ファイバケーブル３を使用し、上り・
下りで２芯の光ファイバケーブル６・３を使用する２芯
弐光フアイバケ一ブル伝送方式と、第４図のように一芯
の光フアイバケープ／Ｉ／３を使用し上り方向と下り方
向で異なる波長の元を用い合分波器６で波長の異なる光
を合波或いは分波する一芯弐波長多重伝送方式等がある
（波長多ＴＬＦ−６Ｍ方式の設計９通研実報、３２，１
Ｖｋ１゜１１、Ｐ、２５５１．１９８３□岡野、金円、
北見著）５ただし、符号１，４．８は電気／光変挨部、
２，５．７は光／を戴置換部、λ１ 、λ、は光の波長
である。
ＷＪｓ図〜第７図は、上記のような光フアイバ伝送方式
に伝送路として使用される光ファイバケーブルに対し、
試験を行なう方法の従来例を示し、符号３は光ファイバ
ケーブル、９は伝送装置、 １０は光パルス試験器、１
１は元スイッチ、１２は光分岐結合器、１３は元コネク
タである。これらの図は、光フアイバクーグルの試験の
一つでおる光パルス試験を行なう方法を説明するもので
おる。
に伝送路として使用される光ファイバケーブルに対し、
試験を行なう方法の従来例を示し、符号３は光ファイバ
ケーブル、９は伝送装置、 １０は光パルス試験器、１
１は元スイッチ、１２は光分岐結合器、１３は元コネク
タである。これらの図は、光フアイバクーグルの試験の
一つでおる光パルス試験を行なう方法を説明するもので
おる。
光パルス試験とは、光ファイバケーブル内に細い光ハＡ
／スな入射し、光ファイバケーブル内において発生する
反射光を観測し、光ファイバケーブルの損失、接続点、
破断点等を調べる試験でおる（元ファイバケーブル 電
気通信協会 第８章光線路測泥、福富著）。光ファイバ
ケーブルな伝送路として使用している場合に光パルス試
験を行うためには、伝送装置１ｉｃ９に接続されている
光ファイバケーブル３を何らかの方法で光パルス試験器
１０に接続しなければならない。第５図は光ファイバケ
ーブル６と伝送装置９０間に光スィッチ１１を挿入する
ことにより光ファイバケーブル３を光パルス試験器１０
に接続して光パルス試験を行なう方法でおる。第６図は
光ファイバケーブル６と伝送装置９０間に光分岐結合器
１２を挿入することにより試験を行なう方法でめる。ま
た、第７図は元コネクタ１３において手作業で接続替え
を行うことにより試験を行なう方法である。
／スな入射し、光ファイバケーブル内において発生する
反射光を観測し、光ファイバケーブルの損失、接続点、
破断点等を調べる試験でおる（元ファイバケーブル 電
気通信協会 第８章光線路測泥、福富著）。光ファイバ
ケーブルな伝送路として使用している場合に光パルス試
験を行うためには、伝送装置１ｉｃ９に接続されている
光ファイバケーブル３を何らかの方法で光パルス試験器
１０に接続しなければならない。第５図は光ファイバケ
ーブル６と伝送装置９０間に光スィッチ１１を挿入する
ことにより光ファイバケーブル３を光パルス試験器１０
に接続して光パルス試験を行なう方法でおる。第６図は
光ファイバケーブル６と伝送装置９０間に光分岐結合器
１２を挿入することにより試験を行なう方法でめる。ま
た、第７図は元コネクタ１３において手作業で接続替え
を行うことにより試験を行なう方法である。
〔発明が解決しようとするＩＬ］題点〕しかしながら、
第５図ｆｙＩＪの方法には光スィッチ１１及び元スイッ
チ１１と光ファイバとの接続用スペースの小形化が難か
しいという欠点、及び元スイッチ１１が高価であるとい
う欠点がおる。また、第６図例の方法には光分岐結合器
１２及び光分岐結合器１２と元ファイバ６との接続部の
小形化が難かしいといつ欠点、及び光分岐結合器１２の
挿入により伝送損失が増加するという欠点がある。さら
に、第７図例の方法には接続替え作業用のスペースが必
要なため光コネクタの実装スペースの小形化に限界かめ
るという欠点、及び手作業を伴うため試験に時間がかか
るという欠点がある。
第５図ｆｙＩＪの方法には光スィッチ１１及び元スイッ
チ１１と光ファイバとの接続用スペースの小形化が難か
しいという欠点、及び元スイッチ１１が高価であるとい
う欠点がおる。また、第６図例の方法には光分岐結合器
１２及び光分岐結合器１２と元ファイバ６との接続部の
小形化が難かしいといつ欠点、及び光分岐結合器１２の
挿入により伝送損失が増加するという欠点がある。さら
に、第７図例の方法には接続替え作業用のスペースが必
要なため光コネクタの実装スペースの小形化に限界かめ
るという欠点、及び手作業を伴うため試験に時間がかか
るという欠点がある。
本発明は、上記の事情に鑑みてなされたもので、その目
的とするところは小形で、伝送特性に影響を与えず、し
かも経済的な試験系を構成できる光ファイバケーブルの
試験方法を提供することにある。
的とするところは小形で、伝送特性に影響を与えず、し
かも経済的な試験系を構成できる光ファイバケーブルの
試験方法を提供することにある。
本発明の試験方法は、伝送装置と′電気／光変換部との
間に８ｆ！１の切換手段（例えば電気スイッチ）を設け
るとともに、伝送装置と光／電気変換部との間に第２の
切換手段（１ＰＩＪえは電気スイッチ）を設け、第１の
切換手段の一方の切換端子を伝送装置の出力端に接続す
るとともに共通端子を電気／光変換部に接続し、しかも
、第２の切換手段の一方の切換端子を伝送装置の入力端
に接続するとともに共通端子を光／電気変換部に接続し
、第１の切換手段の他方の切換端子を電気パルス試峡器
の出力端に、かつ、第２の切換手段の他方の切換端子を
電気パルス試験器の入力端に接続して、各切換手段の共
通端子と他方の切換端子とを接続することにより、元パ
ルス試験を行なうことを％徴としている。
間に８ｆ！１の切換手段（例えば電気スイッチ）を設け
るとともに、伝送装置と光／電気変換部との間に第２の
切換手段（１ＰＩＪえは電気スイッチ）を設け、第１の
切換手段の一方の切換端子を伝送装置の出力端に接続す
るとともに共通端子を電気／光変換部に接続し、しかも
、第２の切換手段の一方の切換端子を伝送装置の入力端
に接続するとともに共通端子を光／電気変換部に接続し
、第１の切換手段の他方の切換端子を電気パルス試峡器
の出力端に、かつ、第２の切換手段の他方の切換端子を
電気パルス試験器の入力端に接続して、各切換手段の共
通端子と他方の切換端子とを接続することにより、元パ
ルス試験を行なうことを％徴としている。
本発明によれば、電気パルス試ｋｌＬ器が電気／光変換
部を使用して光パルスを発生し、かつ、光ファイバケー
ブルの反射光を光／電気変換部を使用して受光する。
部を使用して光パルスを発生し、かつ、光ファイバケー
ブルの反射光を光／電気変換部を使用して受光する。
以下、本発明の一実施νりを第１図および第２図に基づ
いて説明する。
いて説明する。
第１図は本発明の試験方法が適用される光ファイバケー
ブルを双方向伝送路として用いた光ファイバケーブル伝
送系の一例を示すものである。この図において、符号３
は一芯の光ファイバケーブルでおる。この元ファイバケ
ーブル３の両端には、各々送受信装置Ａ−Ｂが接続され
ている。各送受信装置は、光ファイバケーブル３の端部
に接続される光分岐結合器（光回路部品）１６と、この
光分岐結合器１６に接続される電気／光変換部１４なら
びに−ｆｆｉ／Ｅ戴置換部１５と、電気／光変換部１４
に出力端Ｓが接続されかつ光／電気変換部１５に入力端
Ｒが接続される伝送装置ｔ（図示路）とから構成されて
いる。つまり、この伝送系では、送受信袋（ｌＩＡから
送受信袋ＲＢへのパルス列の伝送及び送受信袋［ＩＢか
ら送受信装置Ａへのパルス列の伝送を時分割的に行なう
ことにより一芯の光フアイバケープ／Ｉ／６を用いて半
二重ディジタル伝送が実現されている。
ブルを双方向伝送路として用いた光ファイバケーブル伝
送系の一例を示すものである。この図において、符号３
は一芯の光ファイバケーブルでおる。この元ファイバケ
ーブル３の両端には、各々送受信装置Ａ−Ｂが接続され
ている。各送受信装置は、光ファイバケーブル３の端部
に接続される光分岐結合器（光回路部品）１６と、この
光分岐結合器１６に接続される電気／光変換部１４なら
びに−ｆｆｉ／Ｅ戴置換部１５と、電気／光変換部１４
に出力端Ｓが接続されかつ光／電気変換部１５に入力端
Ｒが接続される伝送装置ｔ（図示路）とから構成されて
いる。つまり、この伝送系では、送受信袋（ｌＩＡから
送受信袋ＲＢへのパルス列の伝送及び送受信袋［ＩＢか
ら送受信装置Ａへのパルス列の伝送を時分割的に行なう
ことにより一芯の光フアイバケープ／Ｉ／６を用いて半
二重ディジタル伝送が実現されている。
次いで、このよりな−芯式光ファイバ伝送方式の伝送系
に用いられている光ファイバケーブル６に対し、光パル
ス試験を行なう方法を説明する。
に用いられている光ファイバケーブル６に対し、光パル
ス試験を行なう方法を説明する。
第２図に示すように前記伝送装置と電気／光変換部１４
との間に、二個の切換端子２０・２１と一個の共通端子
２２を有する電気スイッチ（第１の切換手段）１７を設
け、かつ、伝送装置と光／電気変換部１５との間にニー
の切換端子２３・２４と一１１！の共通端子２５を有す
る電気スイッチ（第２の切換手段）１９を設ける。そし
て、電気スイッチ１７の一方の切換端子２０を伝送装−
の出力−Ｓに接続するとともに共通−子２２を電気／光
変換部１４に接続し、電気スイッチ１９の一方の切換端
子２３を伝送装置の入力端Ｒに接続するとともに共通端
子２５を光／電気変換部１５に接続する。そして、前記
電気スイッチ１７の他方の切換端子２１を電気パルス試
験器１８の出力端に、かつ、電気スイッチ１９の他方の
切換端子２４をｔ気パルス試験器１８の入力端に接続し
、各電気スイッチの共通端子と他方の切換端子とを接続
することにより、前記光プアイバケーブルの光パルス試
験を行なう。
との間に、二個の切換端子２０・２１と一個の共通端子
２２を有する電気スイッチ（第１の切換手段）１７を設
け、かつ、伝送装置と光／電気変換部１５との間にニー
の切換端子２３・２４と一１１！の共通端子２５を有す
る電気スイッチ（第２の切換手段）１９を設ける。そし
て、電気スイッチ１７の一方の切換端子２０を伝送装−
の出力−Ｓに接続するとともに共通−子２２を電気／光
変換部１４に接続し、電気スイッチ１９の一方の切換端
子２３を伝送装置の入力端Ｒに接続するとともに共通端
子２５を光／電気変換部１５に接続する。そして、前記
電気スイッチ１７の他方の切換端子２１を電気パルス試
験器１８の出力端に、かつ、電気スイッチ１９の他方の
切換端子２４をｔ気パルス試験器１８の入力端に接続し
、各電気スイッチの共通端子と他方の切換端子とを接続
することにより、前記光プアイバケーブルの光パルス試
験を行なう。
つまり、電気パルス試験器１８が発生する細い電気パル
スは電気／光変換部１４により元パルスに変換され光フ
アイバケープ／Ｉ／３に入射する。光ファイバケーブル
の破断点において発生する反射−：／ｌ、は、光／電気
変換部１５により電気波形に変換され電気パルス試験器
１８に入る。電気パルス試験器１８のブラウン管上に表
示される反射光の波形から、試験者は光ファイバケーブ
ルの破断点を測定することができる。
スは電気／光変換部１４により元パルスに変換され光フ
アイバケープ／Ｉ／３に入射する。光ファイバケーブル
の破断点において発生する反射−：／ｌ、は、光／電気
変換部１５により電気波形に変換され電気パルス試験器
１８に入る。電気パルス試験器１８のブラウン管上に表
示される反射光の波形から、試験者は光ファイバケーブ
ルの破断点を測定することができる。
なお本発明において、電気／光変換部１４或いは光／１
！気変換部１５に異常が生じた場合に電気パルス試験器
１８の管面に表示される波形は、これらが正常な場合に
表示される反射光の波形と著しく異っており、誤って破
断点における反射光の波形と判断することはない。また
、本発明の適用が可能な一芯弐光ファイバケーブル伝送
方式としては他に、光ビンボン伝送方式（光ピ／ボ／伝
送方式に関する一考祭、昭５９信学総全太、２５７６゜
慎、山中、真野著）、及び電気／光変換部及び光／電気
変換部と一芯の元ファイバクープルを、電気／光変換部
から光／電気変換部への光の漏れ込みが小さなハーフミ
ラ−等の方向性結合器を用い接続することにより双方向
伝送を実現する伝送方式（同−波長一芯双方向伝送シス
テム、昭５６信学総全大、２１９７．木幡、松井、黒沢
著）等がある。
！気変換部１５に異常が生じた場合に電気パルス試験器
１８の管面に表示される波形は、これらが正常な場合に
表示される反射光の波形と著しく異っており、誤って破
断点における反射光の波形と判断することはない。また
、本発明の適用が可能な一芯弐光ファイバケーブル伝送
方式としては他に、光ビンボン伝送方式（光ピ／ボ／伝
送方式に関する一考祭、昭５９信学総全太、２５７６゜
慎、山中、真野著）、及び電気／光変換部及び光／電気
変換部と一芯の元ファイバクープルを、電気／光変換部
から光／電気変換部への光の漏れ込みが小さなハーフミ
ラ−等の方向性結合器を用い接続することにより双方向
伝送を実現する伝送方式（同−波長一芯双方向伝送シス
テム、昭５６信学総全大、２１９７．木幡、松井、黒沢
著）等がある。
以上説明したように、本発明においては、伝送装置と電
気／光変換部ならびに光／電気変換部との閾に小形で経
済的な第１．第２の切換手段（電 −気スイッチ）を
電気的に接続することにより光パルス試験を行なうため
、光ファイバケーブルを伝送装置から取り外すことなく
、試験を迅速に行える利点がおる。また光スィッチ、光
分岐結合器等のように高価で実装スペースの小形化に制
限があり、かつ、伝送特性に影響を及ばず恐れのある光
学部品を伝送路中に挿入する必要がないから、経済的か
つ小形で伝送特性に影響を与えない試験系を構成できる
。従って保守・試験の迅速化、経済化、また収容スペー
スの小形化が要求される加入者系伝送方式に適している
。
気／光変換部ならびに光／電気変換部との閾に小形で経
済的な第１．第２の切換手段（電 −気スイッチ）を
電気的に接続することにより光パルス試験を行なうため
、光ファイバケーブルを伝送装置から取り外すことなく
、試験を迅速に行える利点がおる。また光スィッチ、光
分岐結合器等のように高価で実装スペースの小形化に制
限があり、かつ、伝送特性に影響を及ばず恐れのある光
学部品を伝送路中に挿入する必要がないから、経済的か
つ小形で伝送特性に影響を与えない試験系を構成できる
。従って保守・試験の迅速化、経済化、また収容スペー
スの小形化が要求される加入者系伝送方式に適している
。
第１図は本発明の試験方法が適用される光ファイバケー
ブル伝送系の一例を示す概略図、第２図は、本発明の一
実施例を説明する概略図、第３図、および第４図は元フ
ァイバグープル伝送方式な説明する概略図、第５図〜第
７図は従来の試験方法を説明する概略図でめる。 ３・・・元ファイバクープル、９・・・伝送装置、１４
・・・電気／光変換部、１５・・・光／？Ｉ！気変換部
、１６・・・光分岐結合器（光回路部品）、１７・・・
電気スイッチ（第１の切換手段）、１８・・・電気パル
ス試験器、１９・・・電気スイッチ（第２の切換手段）
、２０゜２３・・・一方の切換端子、２１．２４・・・
他方の切換端子、２２．２５・・・共通端子、Ｓ・・・
（伝送装置の）出力端、Ｒ・・・（伝送装置の）入力端
。
ブル伝送系の一例を示す概略図、第２図は、本発明の一
実施例を説明する概略図、第３図、および第４図は元フ
ァイバグープル伝送方式な説明する概略図、第５図〜第
７図は従来の試験方法を説明する概略図でめる。 ３・・・元ファイバクープル、９・・・伝送装置、１４
・・・電気／光変換部、１５・・・光／？Ｉ！気変換部
、１６・・・光分岐結合器（光回路部品）、１７・・・
電気スイッチ（第１の切換手段）、１８・・・電気パル
ス試験器、１９・・・電気スイッチ（第２の切換手段）
、２０゜２３・・・一方の切換端子、２１．２４・・・
他方の切換端子、２２．２５・・・共通端子、Ｓ・・・
（伝送装置の）出力端、Ｒ・・・（伝送装置の）入力端
。
Claims (1)
- 伝送装置の出力端に電気／光変換部が接続されるととも
に、伝送装置の入力端に光／電気変換部が接続され、こ
れら電気／光変換部および光／電気変換部の両者に光回
路部品を介して接続されて双方向伝送を行なう一芯の光
ファイバケーブルに対し、光パルス試験を行なう方法に
おいて、前記伝送装置と電気／光変換部との間に、二個
の切換端子と一個の共通端子を有する第１の切換手段を
設け、かつ、伝送装置と光／電気変換部との間に二個の
切換端子と一個の共通端子を有する第２の切換手段を設
け、第１の切換手段の一方の切換端子を伝送装置の出力
端に接続するとともに共通端子を電気／光変換部に接続
し、しかも、第２の切換手段の一方の切換端子を伝送装
置の入力端に接続するとともに共通端子を光／電気変換
部に接続し、前記第１の切換手段の他方の切換端子を電
気パルス試験器の出力端に、かつ、第２の切換手段の他
方の切換端子を電気パルス試験器の入力端に接続して、
各切換手段の共通端子と他方の切換端子とを接続するこ
とにより、前記光ファイバケーブルの光パルス試験を行
なうことを特徴とする光ファイバケーブルの試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17706785A JPS6236530A (ja) | 1985-08-12 | 1985-08-12 | 光フアイバケ−ブルの試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17706785A JPS6236530A (ja) | 1985-08-12 | 1985-08-12 | 光フアイバケ−ブルの試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6236530A true JPS6236530A (ja) | 1987-02-17 |
Family
ID=16024539
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17706785A Pending JPS6236530A (ja) | 1985-08-12 | 1985-08-12 | 光フアイバケ−ブルの試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6236530A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012159303A (ja) * | 2011-01-28 | 2012-08-23 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 光ファイバ断心位置特定システム及び光ファイバ断心位置特定方法 |
-
1985
- 1985-08-12 JP JP17706785A patent/JPS6236530A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012159303A (ja) * | 2011-01-28 | 2012-08-23 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 光ファイバ断心位置特定システム及び光ファイバ断心位置特定方法 |
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