JPS6236570A - 波形検索方式 - Google Patents
波形検索方式Info
- Publication number
- JPS6236570A JPS6236570A JP60176407A JP17640785A JPS6236570A JP S6236570 A JPS6236570 A JP S6236570A JP 60176407 A JP60176407 A JP 60176407A JP 17640785 A JP17640785 A JP 17640785A JP S6236570 A JPS6236570 A JP S6236570A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- waveform
- circuit
- waveform memory
- fault
- memory
- Prior art date
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- Pending
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- Locating Faults (AREA)
- Information Retrieval, Db Structures And Fs Structures Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔擾既要〕
波形メモリに記憶された波形の、基準値以上のレベルが
所定時間以上連続した部分をコンピュータにて検索する
場合、この検索を、大小判定回路。
所定時間以上連続した部分をコンピュータにて検索する
場合、この検索を、大小判定回路。
連続時間検出回路、ラッチ回路によるハードウェア構成
にて検索することで、検索を高速に出来るようにしたも
のである。
にて検索することで、検索を高速に出来るようにしたも
のである。
本発明は、波形メモリ上のサージ波形を解析して事故点
を標定するサージ受信形故障点標定システムの故障点標
定装置の場合等における、コンピュータで、波形メモリ
に記憶された波形の、基準値以上のレベルが所定時間以
上連続した部分を検索する波形検索方式の改良に関する
。
を標定するサージ受信形故障点標定システムの故障点標
定装置の場合等における、コンピュータで、波形メモリ
に記憶された波形の、基準値以上のレベルが所定時間以
上連続した部分を検索する波形検索方式の改良に関する
。
サージ受信形故障点標定システムについて以下説明する
。
。
第4図はサージ受信形故障点標定システムのブロック図
、第5図は第4図の故障点標定装置のブロック図、第6
図は1例の波形メモリ上の雷サージの波形を示す図であ
る。
、第5図は第4図の故障点標定装置のブロック図、第6
図は1例の波形メモリ上の雷サージの波形を示す図であ
る。
図中1.2は故障点標定装置、3.4は故障検出リレー
、5は送電線、6,7は遮断器、8は通信線、9はマイ
クロプロセッサ、10はA/D変換器、11は波形メモ
リ、12は故障信号受信回路、I3はROM、14は基
準パルス発生回路を示す。
、5は送電線、6,7は遮断器、8は通信線、9はマイ
クロプロセッサ、10はA/D変換器、11は波形メモ
リ、12は故障信号受信回路、I3はROM、14は基
準パルス発生回路を示す。
第4図において、送電線5のイ点が雷等により地絡する
と、故障検出リレー3,4を通り地絡点イに向かう電流
が流れ、故障検出リレー3,4が動作すると共に地絡点
イにてサージが発生し、このサージは地絡点イより左右
に送電線5上を伝播し、故障点標定装置1.2に達する
。
と、故障検出リレー3,4を通り地絡点イに向かう電流
が流れ、故障検出リレー3,4が動作すると共に地絡点
イにてサージが発生し、このサージは地絡点イより左右
に送電線5上を伝播し、故障点標定装置1.2に達する
。
このサージの伝播速度は定まっており又送電線5の長さ
は判っているので、故障点標定装置1゜2に持っている
第5図に示す同期した各々の基準パルス発生回路14の
基準パルス発生時間とサージ到着迄の時間差を求め、こ
の値を通信線8を介して連絡することで時間差の差を求
め事故点(地絡点イ)の標定を行っている。
は判っているので、故障点標定装置1゜2に持っている
第5図に示す同期した各々の基準パルス発生回路14の
基準パルス発生時間とサージ到着迄の時間差を求め、こ
の値を通信線8を介して連絡することで時間差の差を求
め事故点(地絡点イ)の標定を行っている。
この故障点標定装置1,2は、第5図に示す如き構成で
あり、A/D変換器10は送電線5に接続されており、
送電線にのって(る雑音をへ/D変換して波形メモリ1
1に記憶している。
あり、A/D変換器10は送電線5に接続されており、
送電線にのって(る雑音をへ/D変換して波形メモリ1
1に記憶している。
地絡が起こりサージが発生し、第4図の故障検出リレー
3又は4より故障信号が故障信号受信回路12に入力す
ると、波形メモリ11への記憶動作は停止される。
3又は4より故障信号が故障信号受信回路12に入力す
ると、波形メモリ11への記憶動作は停止される。
この場合の波形メモリ11に記憶された波形は例えば第
6図に示す如くなる。
6図に示す如くなる。
ここでマイクロプロセッサ9は、ROMI 3に記憶さ
れているプログラムにより、波形メモリ11上の事故点
を検索する。
れているプログラムにより、波形メモリ11上の事故点
を検索する。
1例として、マイクロプロセッサ9は8ビツトマイクロ
コンピユータで、A/D変換器10はアナログ波形を8
ビツトのディジタル値に変換するものとし、クロック周
期は1μsで波形メモリ11は320にバイト(320
msのメモリ)メモリであるとすると、波形メモリに記
憶された波形の、基準値以上のレベルが所定時間以上連
続した部分を、コンピュータにて検索する場合高速に出
来ることが望ましい。
コンピユータで、A/D変換器10はアナログ波形を8
ビツトのディジタル値に変換するものとし、クロック周
期は1μsで波形メモリ11は320にバイト(320
msのメモリ)メモリであるとすると、波形メモリに記
憶された波形の、基準値以上のレベルが所定時間以上連
続した部分を、コンピュータにて検索する場合高速に出
来ることが望ましい。
〔従来の技術と発明が解決しようとする問題点〕従来波
形メモリに記憶された波形の、基準値以上のレベルが所
定時間以上連続した部分を、コンピュータにて検索する
場合は、ソフトウェアにて行なっていたので最大でIO
秒程度かかるという問題点がある。
形メモリに記憶された波形の、基準値以上のレベルが所
定時間以上連続した部分を、コンピュータにて検索する
場合は、ソフトウェアにて行なっていたので最大でIO
秒程度かかるという問題点がある。
上記問題点は、第1図において、波形メモリ20より読
み出された波形のデータ21と基準データ22とを大小
判定回路16にて比較判定し、該基準データ22より大
きい場合の出力23を連続時間検出回路17に入力し、
この出力23の連続時間値が所定の時間以上になった時
の該連続時間検出回路17の出力により、該波形メモリ
20の読み出しアドレス24をラッチ回路18にラッチ
しておき、このアドレスをプロセッサ19にて読むよう
にした本発明の波形検索方式により解決される。
み出された波形のデータ21と基準データ22とを大小
判定回路16にて比較判定し、該基準データ22より大
きい場合の出力23を連続時間検出回路17に入力し、
この出力23の連続時間値が所定の時間以上になった時
の該連続時間検出回路17の出力により、該波形メモリ
20の読み出しアドレス24をラッチ回路18にラッチ
しておき、このアドレスをプロセッサ19にて読むよう
にした本発明の波形検索方式により解決される。
本発明によれば、波形メモリ20に記憶された波形の、
基準値以上のレベルが所定時間以上連続した部分の検索
を行うのを、基準値以上のレベルの判定は大小判定回路
16にて行い、基準値以上の場合の出力の連続時間値の
検出は連続時間検出回路17で行い、所定の時間以上の
時出力する出力にて、その時の波形メモリ20のアドレ
ス24をラッチ回路18にてラッチし、このラッチされ
たアドレスをプロセッサ19にて読む、ハードウェア構
成にて行うので、320ms e c程度の高速で検索
出来る。
基準値以上のレベルが所定時間以上連続した部分の検索
を行うのを、基準値以上のレベルの判定は大小判定回路
16にて行い、基準値以上の場合の出力の連続時間値の
検出は連続時間検出回路17で行い、所定の時間以上の
時出力する出力にて、その時の波形メモリ20のアドレ
ス24をラッチ回路18にてラッチし、このラッチされ
たアドレスをプロセッサ19にて読む、ハードウェア構
成にて行うので、320ms e c程度の高速で検索
出来る。
〔実施例〕
第2図は本発明の実施例のブロック図、第3図は第2図
の各部の波形のタイムチャートでΦ2はクロック、A−
Eは第1図のa ”−e点に対応している。
の各部の波形のタイムチャートでΦ2はクロック、A−
Eは第1図のa ”−e点に対応している。
図中25.26は比較器、27.28はカウンタ、29
はフリップフロップ、30はラッチ回路、32はノット
回路、33はアンド回路、34はナンド回路を示す。
はフリップフロップ、30はラッチ回路、32はノット
回路、33はアンド回路、34はナンド回路を示す。
以下フルスケール(F S)が20p3連続した部分を
DMA (直接メモリアクセス)にて検索する場合を例
にとり説明する。
DMA (直接メモリアクセス)にて検索する場合を例
にとり説明する。
第2図のクロックΦ2の周期は第3図中2に示す如く1
μsであり又波形メモリからアドレスAO〜A18に従
って読み出され比較器25.26に入力するデータD7
〜DOは、オール1の時がフルスケールである。
μsであり又波形メモリからアドレスAO〜A18に従
って読み出され比較器25.26に入力するデータD7
〜DOは、オール1の時がフルスケールである。
従ってマイクロプロセッサよりの比較器25゜26に入
力する基準データRD7〜RDOを全て1としておき、
又カウンタ27,28にはマイクロプロセッサより20
をプリセントしておく。
力する基準データRD7〜RDOを全て1としておき、
又カウンタ27,28にはマイクロプロセッサより20
をプリセントしておく。
又アンド回路33には、DMAによるデータの読み出し
時ルベルを出力するDMARをくわえ、DMAによるデ
ータの読み出し時以外では動作しないようにしておく。
時ルベルを出力するDMARをくわえ、DMAによるデ
ータの読み出し時以外では動作しないようにしておく。
このようにしておけば、フルスケールの波形を読み出し
た時は、比較器25の出力はルベルとなりアンド回路3
3を経た出力は第3図Aに示す如くなり、カウンタ27
.28を起動する。
た時は、比較器25の出力はルベルとなりアンド回路3
3を経た出力は第3図Aに示す如くなり、カウンタ27
.28を起動する。
カウンタ27,28は、アンド回路33の出力がルベル
の時にカウントアンプし、この出力が20μS連続する
と、カウンタ27,28はカウントオーバし、カウンタ
28より第3図Bに示す如きパルスを発し、フリップフ
ロップ29に入力する。
の時にカウントアンプし、この出力が20μS連続する
と、カウンタ27,28はカウントオーバし、カウンタ
28より第3図Bに示す如きパルスを発し、フリップフ
ロップ29に入力する。
これによりフリップフロップ29の出力Qは第3図Cに
示す如(ルベルとなり、ラッチ回路30に出力する。
示す如(ルベルとなり、ラッチ回路30に出力する。
この時のフリップフロップ29のQの出力によりナンド
回路34を介してクロックΦ2の入力を禁止しこの状態
を保持している。
回路34を介してクロックΦ2の入力を禁止しこの状態
を保持している。
ラッチ回路30は、このルベルの信号により、この時の
波形メモリの読み出しアドレスAO〜Δ18をラッチす
るので、これをマイクロプロセッサにて読めば、所望の
部分のアドレスを検索出来る。
波形メモリの読み出しアドレスAO〜Δ18をラッチす
るので、これをマイクロプロセッサにて読めば、所望の
部分のアドレスを検索出来る。
文例として、 1/2FS以上のレベルが5 pm以
上連続する部分のアドレスを検索する場合は、基準デー
タRD7〜RDOのRD7以外をルベルとし、カウンタ
27,28に5をプリセットすれば、以上と同様にして
所望のアドレスを検索出来る。
上連続する部分のアドレスを検索する場合は、基準デー
タRD7〜RDOのRD7以外をルベルとし、カウンタ
27,28に5をプリセットすれば、以上と同様にして
所望のアドレスを検索出来る。
このように、専用のハードウェアにて検索するようにす
れば、ソフトウェアにて検索するよりは蟲かに高速に検
索することが出来る。
れば、ソフトウェアにて検索するよりは蟲かに高速に検
索することが出来る。
以上詳細に説明せる如く本発明によれば、波形メモリに
記憶された波形の、基準値以上のレベルが所定時間以上
連続した部分をコンピュータにて検索する場合、ハード
ウェアにて行うので、高速に行うことが出来る効果があ
る。
記憶された波形の、基準値以上のレベルが所定時間以上
連続した部分をコンピュータにて検索する場合、ハード
ウェアにて行うので、高速に行うことが出来る効果があ
る。
第1図は本発明の原理ブロック図、
第2図は本発明の実施例のブロック図、第3図は第2図
の各部の波形のタイムチャート、第4図はサージ受信形
故障点標定システムのブロック図、 第5図は第4図の故障点標定装置のブロック図、第6図
は1例の波形メモリ上の雷サージの波形を示す図である
。 図において、 1.2は故障点標定装置、 3.4は故障検出リレー、 5は送電線、 6.7は遮断器、 8は通信線、 9はマイクロプロセッサ、 10はA/D変換器、 11.20は波形メモリ、 工2は故障信号受信回路、 13はROM、 14は基準パルス発生回路、 16は大小判定回路、 17は連続時間検出回路、 18.30はラッチ回路、 19はプロセッサ、 21はデータ、 22ば基準データ、 23は出力、 24はアドレス、 25.26は比較器、 27.28はカウンタ、 29はフリップフロップ、 32はノット回路、 33はアンド回路、 苅俗引月ρ斤萄rブロソ20 廉 1 (2) 発 2 (イ) へ、 凸 へ 0 灰 艶 (
の各部の波形のタイムチャート、第4図はサージ受信形
故障点標定システムのブロック図、 第5図は第4図の故障点標定装置のブロック図、第6図
は1例の波形メモリ上の雷サージの波形を示す図である
。 図において、 1.2は故障点標定装置、 3.4は故障検出リレー、 5は送電線、 6.7は遮断器、 8は通信線、 9はマイクロプロセッサ、 10はA/D変換器、 11.20は波形メモリ、 工2は故障信号受信回路、 13はROM、 14は基準パルス発生回路、 16は大小判定回路、 17は連続時間検出回路、 18.30はラッチ回路、 19はプロセッサ、 21はデータ、 22ば基準データ、 23は出力、 24はアドレス、 25.26は比較器、 27.28はカウンタ、 29はフリップフロップ、 32はノット回路、 33はアンド回路、 苅俗引月ρ斤萄rブロソ20 廉 1 (2) 発 2 (イ) へ、 凸 へ 0 灰 艶 (
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 波形メモリ(20)に記憶された波形の、基準値以上の
レベルが所定時間以上連続した部分をコンピュータにて
検索するに際し、 該波形メモリ(20)より読み出された波形のデータ(
21)と基準データ(22)とを大小判定回路(16)
にて比較判定し、 該基準データ(22)より大きい場合の出力(23)を
連続時間検出回路(17)に入力し、この出力(23)
の連続時間値が所定の時間以上になった時の該連続時間
検出回路(17)の出力により、 該波形メモリ(20)の読み出しアドレス(24)をラ
ッチ回路(18)にラッチしておき、このアドレスをプ
ロセッサ(19)にて読むようにしたことを特徴とする
波形検索方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60176407A JPS6236570A (ja) | 1985-08-10 | 1985-08-10 | 波形検索方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60176407A JPS6236570A (ja) | 1985-08-10 | 1985-08-10 | 波形検索方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6236570A true JPS6236570A (ja) | 1987-02-17 |
Family
ID=16013133
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60176407A Pending JPS6236570A (ja) | 1985-08-10 | 1985-08-10 | 波形検索方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6236570A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010054223A (ja) * | 2008-08-26 | 2010-03-11 | Yokogawa Electric Corp | 波形測定装置 |
-
1985
- 1985-08-10 JP JP60176407A patent/JPS6236570A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010054223A (ja) * | 2008-08-26 | 2010-03-11 | Yokogawa Electric Corp | 波形測定装置 |
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