JPS623717Y2 - - Google Patents
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- JPS623717Y2 JPS623717Y2 JP1980107691U JP10769180U JPS623717Y2 JP S623717 Y2 JPS623717 Y2 JP S623717Y2 JP 1980107691 U JP1980107691 U JP 1980107691U JP 10769180 U JP10769180 U JP 10769180U JP S623717 Y2 JPS623717 Y2 JP S623717Y2
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Description
【考案の詳細な説明】
本考案は加熱乾燥式水分計に関し、特に複数の
試料皿を載置するターンテーブルを有する型式の
加熱乾燥式水分計に関する。あらゆる物質の水分
率の基準となる加熱乾燥による水分測定法は被測
定試料を所定時間加熱しサンプル中の水分を蒸発
させサンプルを乾燥させ、水分率を下記式で求め
るものである。
試料皿を載置するターンテーブルを有する型式の
加熱乾燥式水分計に関する。あらゆる物質の水分
率の基準となる加熱乾燥による水分測定法は被測
定試料を所定時間加熱しサンプル中の水分を蒸発
させサンプルを乾燥させ、水分率を下記式で求め
るものである。
水分率=(W1−W0)−(W2−W0)/W1−
W0×100 =W1−W2/W1×100 (〓W1−W0=W1 W2−W0=W2) ここでW1:乾燥前測定重量 W2:乾燥後測定重量 W0=試料皿空重量 W1=乾燥前サンプル重量 W2=乾燥後サンプル重量。
W0×100 =W1−W2/W1×100 (〓W1−W0=W1 W2−W0=W2) ここでW1:乾燥前測定重量 W2:乾燥後測定重量 W0=試料皿空重量 W1=乾燥前サンプル重量 W2=乾燥後サンプル重量。
加熱乾燥による水分測定法は直接的な測定であ
るため、サンプルの種類によつて校正の必要がな
く、測定結果は精度のある信頼性のあるものであ
る。
るため、サンプルの種類によつて校正の必要がな
く、測定結果は精度のある信頼性のあるものであ
る。
しかしながらサンプル試料を加熱乾燥させるた
めの乾燥器設備を必要とし、乾燥に時間がかかる
こと、乾燥前後のサンプルの重量を測定し更に前
記計算により水分率を算出しなければならずめん
どうであるなどの欠点を有するものである。そこ
で天秤と加熱装置を組合せて加熱乾燥式水分計と
したものが開発され、(ケツト赤外線水分計とし
て)市販されている。さらにこの加熱乾燥式水分
計にターンテーブルを設け、ターンテーブル上に
複数の試料皿を載置し、複数の試料皿を同時に乾
燥して、測定時間の短縮を計つた改良型加熱乾燥
式水分計が実公昭36−18200号に提案されてい
る。この改良型加熱乾燥式水分計ではターンテー
ブル上に複数の開口を円周方向に設け、この開口
上にそれぞれ試料皿を配置し、ターンテーブル下
方には重量測定装置を設けて、その測定台を開口
を通して上下させるようにし、又、ターンテーブ
ル上には複数の開口上の試料皿に熱線を照射する
ために赤外線ランプをターンテーブルの軸を中心
に回動するように設けた構成となつている。この
改良型加熱乾燥式水分計では複数の試料皿にサン
プルを所定量だけそれぞれ入れてターンテーブル
上で同時に処理するようになつたもので、複数の
サンプルを一度で多数加熱乾燥することができる
ので、複数のサンプルをバロチ処理するのに適し
たものである。しかしながらこの改良型加熱乾燥
式水分計ではターンテーブル上の全ての試料が乾
燥するまでは次の新しいサンプルと入れ換えるこ
とは不可能であるため、刻々と変化する粉粒体の
水分を測定するには適したものでない。さらにこ
の改良型加熱乾燥式水分計にはターンテーブル上
の試料皿に試料供給する装置と測定後の試料皿の
サンプルを排出する装置が設けられていないた
め、粉粒体の水分の測定を自動化し、粉粒体の湿
度又は乾燥度をサンプル制御するのに使用可能な
加熱乾燥式水分計ではない。
めの乾燥器設備を必要とし、乾燥に時間がかかる
こと、乾燥前後のサンプルの重量を測定し更に前
記計算により水分率を算出しなければならずめん
どうであるなどの欠点を有するものである。そこ
で天秤と加熱装置を組合せて加熱乾燥式水分計と
したものが開発され、(ケツト赤外線水分計とし
て)市販されている。さらにこの加熱乾燥式水分
計にターンテーブルを設け、ターンテーブル上に
複数の試料皿を載置し、複数の試料皿を同時に乾
燥して、測定時間の短縮を計つた改良型加熱乾燥
式水分計が実公昭36−18200号に提案されてい
る。この改良型加熱乾燥式水分計ではターンテー
ブル上に複数の開口を円周方向に設け、この開口
上にそれぞれ試料皿を配置し、ターンテーブル下
方には重量測定装置を設けて、その測定台を開口
を通して上下させるようにし、又、ターンテーブ
ル上には複数の開口上の試料皿に熱線を照射する
ために赤外線ランプをターンテーブルの軸を中心
に回動するように設けた構成となつている。この
改良型加熱乾燥式水分計では複数の試料皿にサン
プルを所定量だけそれぞれ入れてターンテーブル
上で同時に処理するようになつたもので、複数の
サンプルを一度で多数加熱乾燥することができる
ので、複数のサンプルをバロチ処理するのに適し
たものである。しかしながらこの改良型加熱乾燥
式水分計ではターンテーブル上の全ての試料が乾
燥するまでは次の新しいサンプルと入れ換えるこ
とは不可能であるため、刻々と変化する粉粒体の
水分を測定するには適したものでない。さらにこ
の改良型加熱乾燥式水分計にはターンテーブル上
の試料皿に試料供給する装置と測定後の試料皿の
サンプルを排出する装置が設けられていないた
め、粉粒体の水分の測定を自動化し、粉粒体の湿
度又は乾燥度をサンプル制御するのに使用可能な
加熱乾燥式水分計ではない。
本考案は以上の欠点を解消する粉粒体の水分の
測定を自動化するのに適した加熱乾燥式水分計を
提供するものである。
測定を自動化するのに適した加熱乾燥式水分計を
提供するものである。
本考案によれば、底部に座部を有する試料皿
と、この座部を受け入れる複数の切欠きが設けら
れ自体上に試料皿を保持するターンテーブルと、
このターンテーブルを間欠的に回動し試料皿を測
定ステーシヨンから乾燥ステーシヨンへと順次に
送るための回動装置と、測定ステーシヨンに配置
された重量測定装置と、重量測定装置とターンテ
ーブルとを上下方向に互に相対運動させる昇降装
置と、乾燥ステーシヨンに配置された加熱装置
と、測定ステーシヨン上に設けられサンプルを試
料皿に供給する装置と、測定ステーシヨンに設け
られ測定ステーシヨンにある試料皿をターンテー
ブルより分離しサンプル排出ステーシヨンへ送つ
て後再びターンテーブルへ戻すサンプル排出装置
と、回動装置と昇降装置とサンプル供給装置とサ
ンプル排出装置とを制御動作させる制御装置とを
有する加熱乾燥式水分計が提供される。
と、この座部を受け入れる複数の切欠きが設けら
れ自体上に試料皿を保持するターンテーブルと、
このターンテーブルを間欠的に回動し試料皿を測
定ステーシヨンから乾燥ステーシヨンへと順次に
送るための回動装置と、測定ステーシヨンに配置
された重量測定装置と、重量測定装置とターンテ
ーブルとを上下方向に互に相対運動させる昇降装
置と、乾燥ステーシヨンに配置された加熱装置
と、測定ステーシヨン上に設けられサンプルを試
料皿に供給する装置と、測定ステーシヨンに設け
られ測定ステーシヨンにある試料皿をターンテー
ブルより分離しサンプル排出ステーシヨンへ送つ
て後再びターンテーブルへ戻すサンプル排出装置
と、回動装置と昇降装置とサンプル供給装置とサ
ンプル排出装置とを制御動作させる制御装置とを
有する加熱乾燥式水分計が提供される。
本考案を添付図とともに実施例の形で詳細に説
明する。
明する。
第1図は本考案を実施せる加熱乾燥式水分計の
透し図を概略的に図示したものである。
透し図を概略的に図示したものである。
参照番号1は粉粒体のサンプル供給装置を総称
して示すものである。乾燥機貯留部(図示せず)
から粉粒体はサンプルとして取り出させれ、後述
するサンプル供給装置1に送られ、サンプル供給
装置1は粉粒体を水分計の試料皿2へ供給する。
試料皿2はターンテーブル3の切欠4にその座部
をはまめこまれて、ターンテーブル3上に載置さ
れている。図示の装置ではターンテーブル3の切
欠4は90度ごとの角度でターンテーブル3の周辺
部に合計4つ設けられており、よつてターンテー
ブル3上には試料皿2が4個載置可能である。
して示すものである。乾燥機貯留部(図示せず)
から粉粒体はサンプルとして取り出させれ、後述
するサンプル供給装置1に送られ、サンプル供給
装置1は粉粒体を水分計の試料皿2へ供給する。
試料皿2はターンテーブル3の切欠4にその座部
をはまめこまれて、ターンテーブル3上に載置さ
れている。図示の装置ではターンテーブル3の切
欠4は90度ごとの角度でターンテーブル3の周辺
部に合計4つ設けられており、よつてターンテー
ブル3上には試料皿2が4個載置可能である。
ターンテーブル3は後述する回動装置5によつ
て90度ごとの角度で間欠的に回動するようになつ
ているので、供給装置で粉粒体のサンプルを供給
された試料皿2は順次送られ、赤外線ランプ6を
有する加熱装置7の設けられた乾燥ステーシヨン
Bへと導かれる。加熱装置7の赤外線ランプ6は
乾燥ステーシヨンBへ到着した試料皿2中のサン
プルに赤外線を照射し、サンプルを乾燥するよう
になつており、このため試料皿2の直上に照射面
がくるように支持柱8とブラケツト9でターンテ
ーブル3上に保持されている。加熱装置7は図面
中には一個のみ図示されているが、サンプル乾燥
の能力を高めるために複数設けるようにすること
は当然であり乾燥ステーシヨンC,Dにも設けら
れる。本実施例では、第1乾燥ステーシヨンB、
第2乾燥ステーシヨンC、第3乾燥ステーシヨン
Dと試料皿2は間欠的に順次送られてサンプルを
乾燥させる。試料皿2はターンテーブル3の間欠
的回動によつて一巡し、供給装置1の下方の位置
Aに戻される。位置Aは測定ステーシヨンと称さ
れる。測定ステーシヨンAのターンテーブル3の
下側には電子天秤装置10の測定台11が位置づ
けられている。ターンテーブル3は後述する昇降
装置12によつて上下動が可能とされているた
め、ターンテーブル3が下降した際、測定ステー
シヨンAの試料皿2はその座部を測定台11によ
つて受けとめられるので、ターンテーブル3から
浮かされる。よつて試料皿2とサンプルとの合計
重量が測定される。
て90度ごとの角度で間欠的に回動するようになつ
ているので、供給装置で粉粒体のサンプルを供給
された試料皿2は順次送られ、赤外線ランプ6を
有する加熱装置7の設けられた乾燥ステーシヨン
Bへと導かれる。加熱装置7の赤外線ランプ6は
乾燥ステーシヨンBへ到着した試料皿2中のサン
プルに赤外線を照射し、サンプルを乾燥するよう
になつており、このため試料皿2の直上に照射面
がくるように支持柱8とブラケツト9でターンテ
ーブル3上に保持されている。加熱装置7は図面
中には一個のみ図示されているが、サンプル乾燥
の能力を高めるために複数設けるようにすること
は当然であり乾燥ステーシヨンC,Dにも設けら
れる。本実施例では、第1乾燥ステーシヨンB、
第2乾燥ステーシヨンC、第3乾燥ステーシヨン
Dと試料皿2は間欠的に順次送られてサンプルを
乾燥させる。試料皿2はターンテーブル3の間欠
的回動によつて一巡し、供給装置1の下方の位置
Aに戻される。位置Aは測定ステーシヨンと称さ
れる。測定ステーシヨンAのターンテーブル3の
下側には電子天秤装置10の測定台11が位置づ
けられている。ターンテーブル3は後述する昇降
装置12によつて上下動が可能とされているた
め、ターンテーブル3が下降した際、測定ステー
シヨンAの試料皿2はその座部を測定台11によ
つて受けとめられるので、ターンテーブル3から
浮かされる。よつて試料皿2とサンプルとの合計
重量が測定される。
試料皿2中のサンプルは乾装後の重量を測定さ
れた後、後述する排出装置13によつて試料皿2
よりサンプルは排出される。
れた後、後述する排出装置13によつて試料皿2
よりサンプルは排出される。
以上により得られた乾燥前および乾燥後のサン
プルの測定重量により、図示しない記憶演算装置
等により水分率が演算される。
プルの測定重量により、図示しない記憶演算装置
等により水分率が演算される。
以下に本考案に係る加熱乾燥式水分計の個個の
動作を説明し、かつ水分率算出の方法につき詳述
する。
動作を説明し、かつ水分率算出の方法につき詳述
する。
なお参照番号14は、加熱乾燥式水分計内の通
風を行う通風フアン、参照番号15は、上部架台
16に設けられた温度制御用サーミスタであり、
赤外線ランプによるサンプル加熱温度を一定に保
つためのものである。なお供給装置1、回動装置
5、昇降装置12および排出装置13は、参照番
号17で示される制御装置で自動制御されてい
る。
風を行う通風フアン、参照番号15は、上部架台
16に設けられた温度制御用サーミスタであり、
赤外線ランプによるサンプル加熱温度を一定に保
つためのものである。なお供給装置1、回動装置
5、昇降装置12および排出装置13は、参照番
号17で示される制御装置で自動制御されてい
る。
始めにサンプルを乗せない試料皿2(前回の測
定後に排出装置13によつて空にされた試料皿2
についても同じ)は、昇降装置12を動作させタ
ーンテーブル3を降下させることにより電子天秤
式装置10に載置され、これによりサンプル重量
が測定される。この測定値W0が記憶装置(図示
せず)に記憶される。この後再び昇降装置12を
動作させ、ターンテーブル3を上昇させる。次に
供給装置1が動作し、試料皿2上にサンプルが供
給される。再び昇降装置12が動作され、ターン
テーブル3を降下させ、試料皿2とサンプルとの
合計重量W1が測定され、記憶される。演算装置
(図示せず)が動作し、未乾燥サンプル重量W1=
W1−W0が計算され記憶される。次に昇降装置1
2が動作され、ターンテーブル3を上昇させ、試
料皿2をターンテーブル3によつて担持させる。
定後に排出装置13によつて空にされた試料皿2
についても同じ)は、昇降装置12を動作させタ
ーンテーブル3を降下させることにより電子天秤
式装置10に載置され、これによりサンプル重量
が測定される。この測定値W0が記憶装置(図示
せず)に記憶される。この後再び昇降装置12を
動作させ、ターンテーブル3を上昇させる。次に
供給装置1が動作し、試料皿2上にサンプルが供
給される。再び昇降装置12が動作され、ターン
テーブル3を降下させ、試料皿2とサンプルとの
合計重量W1が測定され、記憶される。演算装置
(図示せず)が動作し、未乾燥サンプル重量W1=
W1−W0が計算され記憶される。次に昇降装置1
2が動作され、ターンテーブル3を上昇させ、試
料皿2をターンテーブル3によつて担持させる。
以上の状態で、測定ステーシヨンAにある試料
皿2は乾燥待期状態となる。制御装置17は回動
装置5を動作させ、試料皿2を測定ステーシヨン
Aから第1乾燥ステーシヨンBへと送る。この動
作が順次繰り返され、第4番目の試料皿2が測定
ステーシヨンから送られるとき、第3乾燥ステー
シヨンDで充分加熱乾燥されたサンプルの乗つた
第1番目の試料皿2が測定ステーシヨンAに到着
するので、制御装置17は、昇降装置12をを動
作させ、乾燥サンプルの重量W2を測定する。こ
の乾燥重量W2の測定は、次の通りに行われる。
すなわち測定ステーシヨンAに戻されてきた試料
皿2は、制御装置17が昇降装置12を動作させ
てターンテーブル3を下降させるので、試料皿2
が電子天秤装置10の測定台11に乗るため、試
料皿2を含めた総重量W2が測定される。この総
重量W2と記憶装置に記憶された試料皿2の空重
量の値W0から乾燥サンプル重量W2=W2−W0が
計算される。さらに記憶装置に記憶されていた未
乾燥サンプル重量W1とにより、サンプルの水分
率が測定される。すなわち 水分率=w1−w2/w1×100(%) の演算がなされる。ここで得られた水分率は記憶
装置に記憶され、以後次々と測定される水分率の
値と比較するためのデータとされる。
皿2は乾燥待期状態となる。制御装置17は回動
装置5を動作させ、試料皿2を測定ステーシヨン
Aから第1乾燥ステーシヨンBへと送る。この動
作が順次繰り返され、第4番目の試料皿2が測定
ステーシヨンから送られるとき、第3乾燥ステー
シヨンDで充分加熱乾燥されたサンプルの乗つた
第1番目の試料皿2が測定ステーシヨンAに到着
するので、制御装置17は、昇降装置12をを動
作させ、乾燥サンプルの重量W2を測定する。こ
の乾燥重量W2の測定は、次の通りに行われる。
すなわち測定ステーシヨンAに戻されてきた試料
皿2は、制御装置17が昇降装置12を動作させ
てターンテーブル3を下降させるので、試料皿2
が電子天秤装置10の測定台11に乗るため、試
料皿2を含めた総重量W2が測定される。この総
重量W2と記憶装置に記憶された試料皿2の空重
量の値W0から乾燥サンプル重量W2=W2−W0が
計算される。さらに記憶装置に記憶されていた未
乾燥サンプル重量W1とにより、サンプルの水分
率が測定される。すなわち 水分率=w1−w2/w1×100(%) の演算がなされる。ここで得られた水分率は記憶
装置に記憶され、以後次々と測定される水分率の
値と比較するためのデータとされる。
加熱乾燥式水分計に組み込まれた記憶演算装置
に種々の機能を持たせて以上により得られた測定
データを下に制御装置17を各様に動作させるこ
とができる。例えば、一巡した試料皿2のサンプ
ルの水分率を以上のごとく演算記憶し、続いてサ
ンプルを捨てることなく再度一巡させて水分率を
演算記憶し、前回について行われた同サンプルの
演算記憶で得た水分率と比較し、前回と今回の水
分率の値と今回の水分率の値に差がなくなつたと
きに、この値を以て同サンプルの正確な水分率を
計算するようにすることができる。
に種々の機能を持たせて以上により得られた測定
データを下に制御装置17を各様に動作させるこ
とができる。例えば、一巡した試料皿2のサンプ
ルの水分率を以上のごとく演算記憶し、続いてサ
ンプルを捨てることなく再度一巡させて水分率を
演算記憶し、前回について行われた同サンプルの
演算記憶で得た水分率と比較し、前回と今回の水
分率の値と今回の水分率の値に差がなくなつたと
きに、この値を以て同サンプルの正確な水分率を
計算するようにすることができる。
電子天秤装置での測定が完了後に制御装置17
が昇降装置12を動作せしめ、ターンテーブル3
を昇降させ、ここでサンプルの水分率測定が完了
する。測定終了後制御装置17は排出装置13を
動作させ、水分率測定の完了したサンプルを試料
皿2より排出する。
が昇降装置12を動作せしめ、ターンテーブル3
を昇降させ、ここでサンプルの水分率測定が完了
する。測定終了後制御装置17は排出装置13を
動作させ、水分率測定の完了したサンプルを試料
皿2より排出する。
以上の説明は本実施例の加熱乾燥式水分計の概
要である。以下に供給装置1、回動装置5、昇降
装置12、排出装置13についてそれぞれ図面と
ともに詳細に説明する。
要である。以下に供給装置1、回動装置5、昇降
装置12、排出装置13についてそれぞれ図面と
ともに詳細に説明する。
まず始めに、図面第2図を参照して、サンプル
供給装置1を説明する。
供給装置1を説明する。
サンプル供給装置はターンテーブル3上の試料
皿2のうち、測定ステーシヨンA上にある試料皿
2の直上に開口を有するホツパ21と、下側位置
で試料皿2の上面と下端が密着するサンプルガイ
ドシリンダ22と、サンプルガイドシリンダ22
を垂直方向に移動可能に保持するリンク機構23
と、リンク機構23を動作させるソレノイドプラ
ンンジヤ24とで構される。なお参照番号25は
ホッパー21に供給された粉粒体サンプルを試料
皿2上に一様に分布させるための円錐形案内素子
であり、ホッパ21内部に取付けられている。
皿2のうち、測定ステーシヨンA上にある試料皿
2の直上に開口を有するホツパ21と、下側位置
で試料皿2の上面と下端が密着するサンプルガイ
ドシリンダ22と、サンプルガイドシリンダ22
を垂直方向に移動可能に保持するリンク機構23
と、リンク機構23を動作させるソレノイドプラ
ンンジヤ24とで構される。なお参照番号25は
ホッパー21に供給された粉粒体サンプルを試料
皿2上に一様に分布させるための円錐形案内素子
であり、ホッパ21内部に取付けられている。
サンプル供給装置1の作動は以下の通りであ
る。
る。
測定ステーシヨンAにある試料皿2の空重量が
測定されて試料皿2が上昇したターンテーブル3
上に保持された状態になつた時に、制御装置17
はソレノイドプランジヤ24を動作させる。この
ソレノイドプランジヤ24の動作でリンク機構2
3が作動し、サンプルガイドシリンダ22を降下
させ、サンプルガイドシリンダ22の下端を試料
皿2上面と密着させる。この段階で制御装置17
はサンプリング装置(図示せず)により粉粒体を
サンプリングさせ、サンプルをホッパ21に供給
する。サンプルはホッパ21の開口からサンプル
ガイドシリンダ22を通過して試料皿2上へ分布
される。サンプル供給が終了すると、制御装置1
7はサンプルガイドシリンダ22を高揚すべくソ
レノイドプランンジヤ24を動作させる。サンプ
ルガイドシリンダ22を有するため、粉粒体サン
プルは試料皿2のみに供給され、こぼれたり飛散
することはない。
測定されて試料皿2が上昇したターンテーブル3
上に保持された状態になつた時に、制御装置17
はソレノイドプランジヤ24を動作させる。この
ソレノイドプランジヤ24の動作でリンク機構2
3が作動し、サンプルガイドシリンダ22を降下
させ、サンプルガイドシリンダ22の下端を試料
皿2上面と密着させる。この段階で制御装置17
はサンプリング装置(図示せず)により粉粒体を
サンプリングさせ、サンプルをホッパ21に供給
する。サンプルはホッパ21の開口からサンプル
ガイドシリンダ22を通過して試料皿2上へ分布
される。サンプル供給が終了すると、制御装置1
7はサンプルガイドシリンダ22を高揚すべくソ
レノイドプランンジヤ24を動作させる。サンプ
ルガイドシリンダ22を有するため、粉粒体サン
プルは試料皿2のみに供給され、こぼれたり飛散
することはない。
第3図を参照してターンテーブル3を間欠送り
する回動装置5を説明する。
する回動装置5を説明する。
ターンテーブル3は、後述する昇降装置12の
昇降機構42のロツド上端に固定されたプレート
41にベアリング43を介して回動可能に取付け
られている。すなわちベアリング43によつてタ
ーンテーブルシヤフト31が保持され、このター
ンテーブルシヤフト31にターンテーブル3が固
定されている。ターンテーブルシヤフト31の下
端には被駆動歯車32が固定されている。この被
駆動歯車32には駆動歯車33がかみ合つてお
り、駆動歯車33の回転軸34にはゼネバ歯車機
構の従動車35が固定され、この従動車35には
ゼネバ歯車機構の駆動車36が係合されている。
駆動車36は減速装置37を介して電動モータ3
8により駆動される。ゼネバ歯車機構は間欠回動
装置に良く使用されているものであり、公知のも
のであるので詳述しない。
昇降機構42のロツド上端に固定されたプレート
41にベアリング43を介して回動可能に取付け
られている。すなわちベアリング43によつてタ
ーンテーブルシヤフト31が保持され、このター
ンテーブルシヤフト31にターンテーブル3が固
定されている。ターンテーブルシヤフト31の下
端には被駆動歯車32が固定されている。この被
駆動歯車32には駆動歯車33がかみ合つてお
り、駆動歯車33の回転軸34にはゼネバ歯車機
構の従動車35が固定され、この従動車35には
ゼネバ歯車機構の駆動車36が係合されている。
駆動車36は減速装置37を介して電動モータ3
8により駆動される。ゼネバ歯車機構は間欠回動
装置に良く使用されているものであり、公知のも
のであるので詳述しない。
回動装置5の作動は、電動モータ38の駆動に
より開始される。電動モータ38の回転は減速装
置37により減速されて、ゼネバ歯車機構の駆動
車36に伝達される。ゼネバ歯車機構により駆動
歯車33が被駆動歯車32を間欠駆動するため、
ターンテーブル3は間欠的に回動し、試料皿2を
測定ステーシヨンAから第1乾燥ステーシヨン
B、第2乾燥ステーシヨンC、第3乾燥ステーシ
ヨンDへと送り、そして測定ステーシヨンAへと
移動する。
より開始される。電動モータ38の回転は減速装
置37により減速されて、ゼネバ歯車機構の駆動
車36に伝達される。ゼネバ歯車機構により駆動
歯車33が被駆動歯車32を間欠駆動するため、
ターンテーブル3は間欠的に回動し、試料皿2を
測定ステーシヨンAから第1乾燥ステーシヨン
B、第2乾燥ステーシヨンC、第3乾燥ステーシ
ヨンDへと送り、そして測定ステーシヨンAへと
移動する。
回動装置5をゼネバ歯車機構を使用したもので
説明したが、ゼネバ歯車機構を使用せず、直接電
動モータを制御装置17でオンオフ制御を行なつ
て、ターンテーブル3を間欠回動するようにして
も良い。
説明したが、ゼネバ歯車機構を使用せず、直接電
動モータを制御装置17でオンオフ制御を行なつ
て、ターンテーブル3を間欠回動するようにして
も良い。
第4図を参照して、昇降装置12を説明する。
昇降装置12はターンテーブル3のターンテー
ブルシヤフト31を回動可能に保持するベアリン
グ43と、先端においてベアリング43を保持す
るプレート41と、このプレート41を昇降させ
る昇降機構42と、減速装置44を結合された電
動モータ45とで構成される。
ブルシヤフト31を回動可能に保持するベアリン
グ43と、先端においてベアリング43を保持す
るプレート41と、このプレート41を昇降させ
る昇降機構42と、減速装置44を結合された電
動モータ45とで構成される。
ベアリング43の上端はターンテーブル3の下
面に衝接しており、昇降機構42がプレート41
を上下させると同時にこれに追従してターンテー
ブル3も上下可能である。
面に衝接しており、昇降機構42がプレート41
を上下させると同時にこれに追従してターンテー
ブル3も上下可能である。
昇降機構42は、可熱乾燥式水分計の本体に取
付けられた円筒46とこの円筒内を摺動するロツ
ド47と、このロツド47の下端に水平軸のまわ
りに回転可能に取付けられたカムローラ48、こ
のカムローラ48と共働する減速装置44の出力
軸に取付けられたカム49とで構成されている。
ロツド47の先端はナツト47aによりプレート
41に固定されている。
付けられた円筒46とこの円筒内を摺動するロツ
ド47と、このロツド47の下端に水平軸のまわ
りに回転可能に取付けられたカムローラ48、こ
のカムローラ48と共働する減速装置44の出力
軸に取付けられたカム49とで構成されている。
ロツド47の先端はナツト47aによりプレート
41に固定されている。
上記昇降装置12の作動は電動モータ45の駆
動により減速装置44の出力軸で減速回転された
出力を得て、カム49が回動することで行なわれ
る。カム49が回動すると、これと共働するカム
ローラ48がカム49のカム面に追従するためロ
ツド47が円筒46内を摺動する。このためプレ
ート41が上下し、結果としてターンテーブル3
が上下する。
動により減速装置44の出力軸で減速回転された
出力を得て、カム49が回動することで行なわれ
る。カム49が回動すると、これと共働するカム
ローラ48がカム49のカム面に追従するためロ
ツド47が円筒46内を摺動する。このためプレ
ート41が上下し、結果としてターンテーブル3
が上下する。
昇降装置12はカム機構によつて、上記実施例
では説明されているが、スクリユウジヤツキ等を
利用して構成し、これを制御装置17でオンオフ
制御することも可能である。
では説明されているが、スクリユウジヤツキ等を
利用して構成し、これを制御装置17でオンオフ
制御することも可能である。
第5図から第7図を参照して、排出装置13を
説明する。
説明する。
排出装置13は、把持部材51と把持部材51
を水平方向に往復運動させるスクリユウジヤツキ
装置52と把持部材51によつて把持される試料
皿2を走行させるガイドレール53と、ガイドレ
ール53上に設けられ、ガイドレール53上を走
行してきた試料皿2の上面を清掃する清掃ブラシ
54とで構成される。試料皿2は、第5図に示す
ごとくその上表面がほぼ平らになつているので、
清掃ブラシ54による清掃が確実に行うことがで
きる。なおスクリユウジヤツキ装置52は電動モ
ータ55で駆動される。
を水平方向に往復運動させるスクリユウジヤツキ
装置52と把持部材51によつて把持される試料
皿2を走行させるガイドレール53と、ガイドレ
ール53上に設けられ、ガイドレール53上を走
行してきた試料皿2の上面を清掃する清掃ブラシ
54とで構成される。試料皿2は、第5図に示す
ごとくその上表面がほぼ平らになつているので、
清掃ブラシ54による清掃が確実に行うことがで
きる。なおスクリユウジヤツキ装置52は電動モ
ータ55で駆動される。
スクリユウジヤツキ装置52とガイドレール5
3との間には隔壁56が設けられ、清掃される試
料皿2上のサンプルがスクリユウジヤツキ装置5
2に侵入しないようにしている。さらにスクリユ
ウジヤツキ装置52は走行する試料皿2より上方
に設けて、清掃サンプルがスクリユウジヤツキ装
置52上に落下させないようにすることが好まし
い。参照番号57は隔壁56に設けられた開口5
7であり、この開口57を通して、スクリユウジ
ヤツキ装置52と把持部材51とが結合されてい
る。スクリユウジヤツキ装置52についてはそれ
自身公知のものであるので説明は省略する。
3との間には隔壁56が設けられ、清掃される試
料皿2上のサンプルがスクリユウジヤツキ装置5
2に侵入しないようにしている。さらにスクリユ
ウジヤツキ装置52は走行する試料皿2より上方
に設けて、清掃サンプルがスクリユウジヤツキ装
置52上に落下させないようにすることが好まし
い。参照番号57は隔壁56に設けられた開口5
7であり、この開口57を通して、スクリユウジ
ヤツキ装置52と把持部材51とが結合されてい
る。スクリユウジヤツキ装置52についてはそれ
自身公知のものであるので説明は省略する。
第6図と第7図を参照して把持部材51とガイ
ドレール53をターンテーブル3の測定ステーシ
ヨンAにある試料皿2との関係で詳述する。
ドレール53をターンテーブル3の測定ステーシ
ヨンAにある試料皿2との関係で詳述する。
把持部材51はスクリユウジヤツキ装置52と
結合されるブラケツト58と、ブラケツト58に
固定され水平方向に延在する円弧状プレート59
と同じくブラケツト58に固定された“コ”の字
プレート61と、円弧状プレート59から下方に
垂下する脚部材60と、この脚部材60から水平
方向に突出する第1エツジ部材62と“コ”の字
プレート61上に一体的に設けられ同じく水平方
向に突出する第2エツジ部材63で構成されてい
る。
結合されるブラケツト58と、ブラケツト58に
固定され水平方向に延在する円弧状プレート59
と同じくブラケツト58に固定された“コ”の字
プレート61と、円弧状プレート59から下方に
垂下する脚部材60と、この脚部材60から水平
方向に突出する第1エツジ部材62と“コ”の字
プレート61上に一体的に設けられ同じく水平方
向に突出する第2エツジ部材63で構成されてい
る。
円弧状プレート59はターンテーブル3上の試
料皿2より充分高い位置に設けられている。さら
に円弧状プレート59の内径部分は試料皿2の外
径より曲率半径が充分大きくされている(第7図
参照)。第1エツジ部材62と第2エツジ部材6
3の先端エツジ部分は斜めにカツトされており、
その傾斜は試料皿2の縁部の円錐面部分2aの母
線とほぼ一致している。第1エツジ部材62と第
2エツジ部材63のエツジは互に180度の方向に
向けられ、そのエツジ間間隔は、試料皿2の円錐
面部分2aの2本の母線で形成される間隔よりわ
ずかに大きくされている。このため把持部材51
が測定ステーシヨンAにある時に、ターンテーブ
ル3の回動により送られる試料皿2をエツジ部材
62,63の間を通して通過させることができる
のである。又試料皿2の縁部が上方に頂点を有す
る母線の円錐面部分2aとしてあるため試料皿2
がガイドレール上を走行する際、把持部材51の
エツジ部材62,63によりガイドレール上に押
しつけられる傾向を有し、よつて試料皿2はガイ
ドレールより浮き上ることなく安定して走行す
る。
料皿2より充分高い位置に設けられている。さら
に円弧状プレート59の内径部分は試料皿2の外
径より曲率半径が充分大きくされている(第7図
参照)。第1エツジ部材62と第2エツジ部材6
3の先端エツジ部分は斜めにカツトされており、
その傾斜は試料皿2の縁部の円錐面部分2aの母
線とほぼ一致している。第1エツジ部材62と第
2エツジ部材63のエツジは互に180度の方向に
向けられ、そのエツジ間間隔は、試料皿2の円錐
面部分2aの2本の母線で形成される間隔よりわ
ずかに大きくされている。このため把持部材51
が測定ステーシヨンAにある時に、ターンテーブ
ル3の回動により送られる試料皿2をエツジ部材
62,63の間を通して通過させることができる
のである。又試料皿2の縁部が上方に頂点を有す
る母線の円錐面部分2aとしてあるため試料皿2
がガイドレール上を走行する際、把持部材51の
エツジ部材62,63によりガイドレール上に押
しつけられる傾向を有し、よつて試料皿2はガイ
ドレールより浮き上ることなく安定して走行す
る。
ガイドレール53は上縁がエツジ状にされ、試
料皿2の下面と摩擦が少ない状態で係合されるよ
うになつている。又これにより粉砕試料がレール
上に残らないようになつている。ガイドレール5
3の上縁はターンテーブル3の上面とほぼ同高と
されている。ガイドレール53のレール間隔はタ
ーンテーブル3の切欠4の幅とほぼ一致するもの
であり(第7図参照)、すなわち試料皿2の座部
2bの直径よりわずかに大きな幅となつている。
よつて試料皿2は切欠4からガイドレール53に
スムースに遷移し、かつ座部2bはガイドレール
53の間において案内されるのでガイドレール5
3から外れることはない。さらにガイドレール5
3の間と切欠4とで座部2bが確実にガイドされ
るため、把持部材51のエツジ部材62,63の
間から試料皿2が外れることがなく、よつて把持
部材51によつて試料皿2は確実に移動させられ
る。
料皿2の下面と摩擦が少ない状態で係合されるよ
うになつている。又これにより粉砕試料がレール
上に残らないようになつている。ガイドレール5
3の上縁はターンテーブル3の上面とほぼ同高と
されている。ガイドレール53のレール間隔はタ
ーンテーブル3の切欠4の幅とほぼ一致するもの
であり(第7図参照)、すなわち試料皿2の座部
2bの直径よりわずかに大きな幅となつている。
よつて試料皿2は切欠4からガイドレール53に
スムースに遷移し、かつ座部2bはガイドレール
53の間において案内されるのでガイドレール5
3から外れることはない。さらにガイドレール5
3の間と切欠4とで座部2bが確実にガイドされ
るため、把持部材51のエツジ部材62,63の
間から試料皿2が外れることがなく、よつて把持
部材51によつて試料皿2は確実に移動させられ
る。
排出装置13の作動を以下に説明する。乾燥サ
ンプルの入つた試料皿2が測定ステーシヨンAに
戻されて、前述のごとく乾燥サンプルの測定後
に、排出装置13の電動モータ55が駆動されス
クリユウジヤツキ装置52が作動される。スクリ
ウジヤツキ装置52は把持部材51を第5図の矢
印方向に移動するので、第1エツジ部材62の先
端エツジ部分によつて試料皿2の円錐面部分2a
が押されて、試料皿2は切欠4からガイドレール
53へと移行する。試料皿2は引き続いてガイド
レール53上を走行し、清掃ブラシ54を有する
排出ステーシヨンEに達する試料皿2は表面が略
平らであり、清掃ブラシ54によつてその表面を
清掃されるので、サンプルは払われて排出ステー
シヨン上方にあるサンプル溜(図示せず)に落下
する。清掃ブラシ54を試料皿2が通過して、電
動モータ55は逆転して、把持部材51を逆方向
に移動させるので、こんどは第2エツジ部材63
の先端のエツジ部分で試料皿2の円錐面部分2a
を押して、試料皿2を逆もどりさせ、排出ステー
シヨンEから測定ステーシヨンAと移動させる。
試料皿2がターンテーブル3上の測定ステーシヨ
ンAに達した時に、電動モータ55は駆動を停止
し、排出装置13の作動は完了する。
ンプルの入つた試料皿2が測定ステーシヨンAに
戻されて、前述のごとく乾燥サンプルの測定後
に、排出装置13の電動モータ55が駆動されス
クリユウジヤツキ装置52が作動される。スクリ
ウジヤツキ装置52は把持部材51を第5図の矢
印方向に移動するので、第1エツジ部材62の先
端エツジ部分によつて試料皿2の円錐面部分2a
が押されて、試料皿2は切欠4からガイドレール
53へと移行する。試料皿2は引き続いてガイド
レール53上を走行し、清掃ブラシ54を有する
排出ステーシヨンEに達する試料皿2は表面が略
平らであり、清掃ブラシ54によつてその表面を
清掃されるので、サンプルは払われて排出ステー
シヨン上方にあるサンプル溜(図示せず)に落下
する。清掃ブラシ54を試料皿2が通過して、電
動モータ55は逆転して、把持部材51を逆方向
に移動させるので、こんどは第2エツジ部材63
の先端のエツジ部分で試料皿2の円錐面部分2a
を押して、試料皿2を逆もどりさせ、排出ステー
シヨンEから測定ステーシヨンAと移動させる。
試料皿2がターンテーブル3上の測定ステーシヨ
ンAに達した時に、電動モータ55は駆動を停止
し、排出装置13の作動は完了する。
以上の排出装置13の説明では、排出ステーシ
ヨンEに清掃ブラシ54を設ける構成としたが、
清掃ブラシ54の代りに吸引装置を設けることも
可能である。
ヨンEに清掃ブラシ54を設ける構成としたが、
清掃ブラシ54の代りに吸引装置を設けることも
可能である。
以上本考案を実施例の形で詳述したが本考案は
上記実施例に限定されず実用新案登録請求の範囲
に示めされる範囲以内で様々に変更可能のもので
ある。例えば、記憶演算装置により、平均水分率
の計算もできるし、サーミスタ15から信号によ
り、ターンテーブル3の回転速度を調節するべく
制御装置を作動させることができる。また例えば
加熱装置7は加熱源として赤外線ランプ6を使用
しているが赤外線ヒータその他の熱源も使用可能
である。
上記実施例に限定されず実用新案登録請求の範囲
に示めされる範囲以内で様々に変更可能のもので
ある。例えば、記憶演算装置により、平均水分率
の計算もできるし、サーミスタ15から信号によ
り、ターンテーブル3の回転速度を調節するべく
制御装置を作動させることができる。また例えば
加熱装置7は加熱源として赤外線ランプ6を使用
しているが赤外線ヒータその他の熱源も使用可能
である。
第1図は本考案の一実施例である加熱乾燥式水
分計の内部本体を透し図で示す図。第2図は第1
図の水分計の一部である供給装置を拡大正面図で
図示する図。第3図は第1図の水分計の一部であ
る回動装置を透し図で示す図。第4図は第1図の
水分計の一部である昇降装置を透し図で示す図。
第5図は第1図の水分計の一部である排出装置を
透し図で示す図。第6図は第5図の排出装置の要
部を拡大透し図で図示する図。第7図は第6図を
上面図で示す図。 1……供給装置、2……試料皿、3……ターン
テーブル、4……切欠、5……回動装置、6……
赤外線ランプ、7……加熱装置、10……重量測
定装置、11……測定台、12……昇降装置、1
3……排出装置、14……通風フアン、15……
加熱温度制御用サーミスタ、17……制御装置、
21……ホツパ、22……サンプルガイドシリン
ダ、23……リンク機構、24……ソレノイドプ
ランジヤ、25……円錐形案内素子、31……タ
ーンテーブルシヤフト、32……被駆動歯車、3
3……駆動歯車、34……駆動歯車軸、35……
被動車、36……駆動車、37,44減速装置、
38,45,55……電動モータ、41……プレ
ート、42……昇降機構、43……ベアリング、
46……円筒、47……ロツド、48……カムロ
ーラ、49……カム、51……把持部材、52…
…スクリウジヤツキ装置、53……ガイドレー
ル、54……清掃ブラシ、58……ブラケツト、
59……円弧状プレート、60……脚部材、61
……“コ”の字プレート、62……第1エツジ部
材、63……第2エツジ部材、2a……円錐面部
分、2b……座部。
分計の内部本体を透し図で示す図。第2図は第1
図の水分計の一部である供給装置を拡大正面図で
図示する図。第3図は第1図の水分計の一部であ
る回動装置を透し図で示す図。第4図は第1図の
水分計の一部である昇降装置を透し図で示す図。
第5図は第1図の水分計の一部である排出装置を
透し図で示す図。第6図は第5図の排出装置の要
部を拡大透し図で図示する図。第7図は第6図を
上面図で示す図。 1……供給装置、2……試料皿、3……ターン
テーブル、4……切欠、5……回動装置、6……
赤外線ランプ、7……加熱装置、10……重量測
定装置、11……測定台、12……昇降装置、1
3……排出装置、14……通風フアン、15……
加熱温度制御用サーミスタ、17……制御装置、
21……ホツパ、22……サンプルガイドシリン
ダ、23……リンク機構、24……ソレノイドプ
ランジヤ、25……円錐形案内素子、31……タ
ーンテーブルシヤフト、32……被駆動歯車、3
3……駆動歯車、34……駆動歯車軸、35……
被動車、36……駆動車、37,44減速装置、
38,45,55……電動モータ、41……プレ
ート、42……昇降機構、43……ベアリング、
46……円筒、47……ロツド、48……カムロ
ーラ、49……カム、51……把持部材、52…
…スクリウジヤツキ装置、53……ガイドレー
ル、54……清掃ブラシ、58……ブラケツト、
59……円弧状プレート、60……脚部材、61
……“コ”の字プレート、62……第1エツジ部
材、63……第2エツジ部材、2a……円錐面部
分、2b……座部。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 試料皿を載せたターンテーブルを間欠的に回
転し、前記試料皿を測定ステーシヨンから乾燥
ステーシヨンをへて該測定ステーシヨンへと順
次送るための回動装置と前記測定ステーシヨン
の上方に設けたサンプルを前記試料皿に供給す
る装置と、前記試料皿を前記ターンテーブルと
前記ターンテーブルより外方に位置する試料排
出ステーシヨンとの間で水平に往復させるとと
もに、該試料皿上のサンプルを該排出ステーシ
ヨンに排出させるようにした試料排出装置と、
前記測定ステーシヨンに配置され、該試料皿と
そのうえのサンプルとの合計重量を測定する重
量測定装置と、該重量測定装置と前記ターンテ
ーブルとを相対運動させ、前記試料皿を該ター
ンテーブルから浮上させて前記重量測定装置に
より該試料皿ならびにその上のサンプルの重量
を測定可能とさせる昇降装置と、前記乾燥ステ
ーシヨンに配置された加熱装置と、前記回動装
置と、前記昇降装置と、前記試料供給装置と、
前記サンプル供給装置と、前記試料排出装置と
を所定のタイミングで動作するように制御する
制御装置が設けられている加熱乾燥式水分計に
おいて、 前記ターンテーブルには、周縁から内方に延
びる所定幅の少なくとも一つの切欠を有し、前
記試料皿は、上面がフラツトであり、かつその
底部には、前記切欠の幅より僅に小さい直径の
座部が設けられ、該座部は、前記切欠に摺動可
能にはめ込まれ、よつて該試料皿は、前記ター
ンテーブルから水平方向に離脱可能とされ、前
記排出装置は、前記ターンテーブル上面と同高
の上縁をもち、前記切欠の幅と同じレール間隔
のガイドレールと、前記試料皿を把持する把持
部材とガイドレール上方に設けた清掃装置と、
該把持部材を移動させる装置とを有することを
特徴とする加熱乾燥式水分計。 (2) 実用新案登録請求の範囲の第1項に記載の加
熱乾燥式水分計において、 前記ターンテーブルに3個以上の切欠が設け
られ、複数の乾燥ステーシヨンが提供され該複
数の乾燥ステーシヨンにそれぞれ乾燥装置が設
けられている加熱乾燥式水分計。 (3) 実用新案登録請求の範囲第1項に記載の加熱
乾燥式水分計において、 前記回動装置はゼネバ歯車機構で構成されて
いる加熱乾燥式水分計。 (4) 実用新案登録請求の範囲の第1項に記載の加
熱乾燥式水分計において、前記重量測定装置
は、電子天秤式重量計であることを特徴とする
加熱乾燥式水分計。 (5) 実用新案登録請求の範囲第1項に記載の加熱
乾燥式水分計において、 前記供給装置は前記ターンテーブル上の測定
ステーシヨンにある試料皿の直上に開口を有す
るホツパと、該開口の直下に設けられ試料皿へ
サンプルを誘導するサンプルガイドシリンダと
を有するようになつている加熱乾燥式水分計。 (6) 実用新案登録請求の範囲の第1項に記載の加
熱乾燥式水分計において、 前記ターンテーブルの周面に沿つてそれぞれ
の前記乾燥ステーシヨンの近くには加熱温度を
一定に保つための加熱温度制御用サーミスタが
設けられている加熱乾燥式水分計。 (7) 実用新案登録請求の範囲の第1項に記載の加
熱乾燥式水分計において、 前記試料皿の縁部は上方に頂点を有する母線
の円錐面であり、前記第1エツジ部材と前記第
2エツジ部材の両エツジ部分は該母線と同じ傾
斜のエツジとなつている加熱乾燥式水分計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1980107691U JPS623717Y2 (ja) | 1980-07-31 | 1980-07-31 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1980107691U JPS623717Y2 (ja) | 1980-07-31 | 1980-07-31 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5731646U JPS5731646U (ja) | 1982-02-19 |
| JPS623717Y2 true JPS623717Y2 (ja) | 1987-01-28 |
Family
ID=29468977
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1980107691U Expired JPS623717Y2 (ja) | 1980-07-31 | 1980-07-31 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS623717Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6224011A (ja) * | 1985-07-23 | 1987-02-02 | 株式会社東芝 | 洗濯機等の板材結合装置 |
| JPH11326172A (ja) * | 1998-05-19 | 1999-11-26 | Yanagawa Giken:Kk | 水分計 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54161393A (en) * | 1978-06-12 | 1979-12-20 | Nippon Kokan Kk | Device for automatically measuring water content and ash content of coal |
-
1980
- 1980-07-31 JP JP1980107691U patent/JPS623717Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5731646U (ja) | 1982-02-19 |
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