JPS6237868A - 白熱電球の自動選別装置 - Google Patents
白熱電球の自動選別装置Info
- Publication number
- JPS6237868A JPS6237868A JP60167394A JP16739485A JPS6237868A JP S6237868 A JPS6237868 A JP S6237868A JP 60167394 A JP60167394 A JP 60167394A JP 16739485 A JP16739485 A JP 16739485A JP S6237868 A JPS6237868 A JP S6237868A
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- light
- incandescent
- bulb
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- incandescent light
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は白熱電球の自動選別装置に係り、特に、白熱電
球の封入ガスの状態を検出して、その良否を識別する白
熱電球の自動選別装置の改良に関する。
球の封入ガスの状態を検出して、その良否を識別する白
熱電球の自動選別装置の改良に関する。
一般に、白熱電球の製造工程では不良品が製造される場
合がある。
合がある。
例えば、白熱電球の排気ガスが不良であったり、封入さ
れるアルゴン等の不活性ガスを主成分とするガスの純度
が低かったり、スローリークが生じたりすると、白熱電
球が短寿命になったり、光束が低下したり、光束の緒持
特性が悪化したりする。
れるアルゴン等の不活性ガスを主成分とするガスの純度
が低かったり、スローリークが生じたりすると、白熱電
球が短寿命になったり、光束が低下したり、光束の緒持
特性が悪化したりする。
そこで、従来より電球製造工場では、白熱電球内のガス
状態を検出して上述の好ましくない白熱電球を製造工程
で除去していた。すなわち、製造される全ての白熱電球
について高電圧の高周波・電圧を印加し、白熱電球内で
高周波放電を発生させ、。
状態を検出して上述の好ましくない白熱電球を製造工程
で除去していた。すなわち、製造される全ての白熱電球
について高電圧の高周波・電圧を印加し、白熱電球内で
高周波放電を発生させ、。
その色を作業者が肉眼で判断して排除し、上述の好まし
くない不良の白熱電球が市場へ出荷されることを防止し
ていた。
くない不良の白熱電球が市場へ出荷されることを防止し
ていた。
第４図は作業者が行なっていた従来の選別の一例を示し
ており、高周波電圧発生装＠１の高周波電圧が導線２を
介して放電端子３に印加される。
ており、高周波電圧発生装＠１の高周波電圧が導線２を
介して放電端子３に印加される。
すると、この放電端子３と、白熱電球４内の図示しない
フィラメント等の金属部との間に高周波放電を発生させ
る。そのときに放射される光の色とその放電状態を作業
者の肉眼６で目視して、白熱電球４内のガス状態を判断
し、良否の判定を行なっていた。
フィラメント等の金属部との間に高周波放電を発生させ
る。そのときに放射される光の色とその放電状態を作業
者の肉眼６で目視して、白熱電球４内のガス状態を判断
し、良否の判定を行なっていた。
しかしながら、このような従来例では、近年作業者の１
質が急騰したことと、白熱電球の製造速度が急激に＾速
になり、作業者の肉眼の判定では製造速度に追随できな
くなったこと等により、かかる検査の自動化が試みられ
ている。
質が急騰したことと、白熱電球の製造速度が急激に＾速
になり、作業者の肉眼の判定では製造速度に追随できな
くなったこと等により、かかる検査の自動化が試みられ
ている。
その−例の自動選別装置を第５図に示す。
これは高周波電圧発生装置７の高周波電圧を印加された
放電端子８と白熱電球９内のフィラメント等の金属部゛
との間に発生した放電時に、この発光をセンサ装置１０
により判別するものである。このセンサ装置１０はフィ
ルタ１１と光電管１２ならびにメータリングリレー１３
により構成され、上記放電時の光スペクトルのうち、例
えばフィルタ１１により透過された３’６０ｎｍ 〜４
２０ｎｍの光を光電管１２により光電流に変換し、この
光電流を所定負荷に流すことにより発生した電圧をメー
タリングリレー１３に供給する。このメータリングリレ
ー１３にセットされた電圧範囲にある白熱電球９は良品
として次工程１４へ送られ、上記電圧範囲外の不良であ
る白熱電球９は不良品として不良品部１５へ送られるよ
うになっている。
放電端子８と白熱電球９内のフィラメント等の金属部゛
との間に発生した放電時に、この発光をセンサ装置１０
により判別するものである。このセンサ装置１０はフィ
ルタ１１と光電管１２ならびにメータリングリレー１３
により構成され、上記放電時の光スペクトルのうち、例
えばフィルタ１１により透過された３’６０ｎｍ 〜４
２０ｎｍの光を光電管１２により光電流に変換し、この
光電流を所定負荷に流すことにより発生した電圧をメー
タリングリレー１３に供給する。このメータリングリレ
ー１３にセットされた電圧範囲にある白熱電球９は良品
として次工程１４へ送られ、上記電圧範囲外の不良であ
る白熱電球９は不良品として不良品部１５へ送られるよ
うになっている。
しかしながら、このような従来例では、放電の発生状況
が相違するために所定の、例えば３６０ｒｕｎ〜４２０
ｎｍのフィルタでの良否検出が困難になるという問題が
あった。
が相違するために所定の、例えば３６０ｒｕｎ〜４２０
ｎｍのフィルタでの良否検出が困難になるという問題が
あった。
−３一
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、白熱電球内
の放電の発生状況が相違した場合であっても、白熱電球
を確実に選別することができる等選別能を向上させた白
熱電球の自動選別装置を提′供することを目的とする。
の放電の発生状況が相違した場合であっても、白熱電球
を確実に選別することができる等選別能を向上させた白
熱電球の自動選別装置を提′供することを目的とする。
〔発明の概要〕 □本発明は白熱
電球の放電時の光スペクトルが、良品の場合と不良品の
場合とでは所定波長域、例えばアルゴンガスと窒素ガス
の混合ガスを主成分として封入したガス入り白熱電球の
場合、５６゛０ｎＩ１１の周辺部において、顕著なレベ
ル差をイすることと、この所定波長域の光とその他の波
長域の光との強度比はレベル変動があっても殆ど影響を
受けずに、はぼ一定であり、より選別“能力が向上する
ことに着目してなされ゛たものであり、上記の強度比に
より白熱電球゛の良否を選別することに特徴゛がある。
電球の放電時の光スペクトルが、良品の場合と不良品の
場合とでは所定波長域、例えばアルゴンガスと窒素ガス
の混合ガスを主成分として封入したガス入り白熱電球の
場合、５６゛０ｎＩ１１の周辺部において、顕著なレベ
ル差をイすることと、この所定波長域の光とその他の波
長域の光との強度比はレベル変動があっても殆ど影響を
受けずに、はぼ一定であり、より選別“能力が向上する
ことに着目してなされ゛たものであり、上記の強度比に
より白熱電球゛の良否を選別することに特徴゛がある。
。
以下本発明の実施例について第１−ないし第３図を参照
して説明する。 ′ 第１図は本発明の一実施例の全体構成を示しており、白
熱電球２０に放電を発生させる放電発生装置Ａと、識別
装＠８とを有する。
して説明する。 ′ 第１図は本発明の一実施例の全体構成を示しており、白
熱電球２０に放電を発生させる放電発生装置Ａと、識別
装＠８とを有する。
放電発生装置Ａは高電圧を発生させる高電圧発生装置２
１の出力端子２２に導線２３を介して放電端子２４を電
気的に接続している。高電圧発生装置１ｆ２１は図示し
ないマシンベッド上に立設されたコラム２５の上部に載
置され、このコラム２５の゛上部より側方に伸びる絶縁
物よりなるアーム２６に放電端子２４を吊設している。
１の出力端子２２に導線２３を介して放電端子２４を電
気的に接続している。高電圧発生装置１ｆ２１は図示し
ないマシンベッド上に立設されたコラム２５の上部に載
置され、このコラム２５の゛上部より側方に伸びる絶縁
物よりなるアーム２６に放電端子２４を吊設している。
一方、白熱電球２０は上記した図示しないマシンベッド
に別個に設けられたホルダ２７により保持され、放電端
子２４゛の下方に位置する所定の検査ポジションに搬送
される。この検出ポジションに白熱電球２０が位置決め
されると、その口金２８が接地板２９に電気的に接触さ
れて接地される。
に別個に設けられたホルダ２７により保持され、放電端
子２４゛の下方に位置する所定の検査ポジションに搬送
される。この検出ポジションに白熱電球２０が位置決め
されると、その口金２８が接地板２９に電気的に接触さ
れて接地される。
また、白熱電球２０はガラスバルブ３０内に、例えば容
積比で９０％のアルゴンガスと、１０％の窒素ガスとの
混合体を８２５００ｐａ（ａｔ ２０℃）の圧力で封入
しており、このガラスバルブ３０内の金属部と放電端子
２４との間で放電が発生する。
積比で９０％のアルゴンガスと、１０％の窒素ガスとの
混合体を８２５００ｐａ（ａｔ ２０℃）の圧力で封入
しており、このガラスバルブ３０内の金属部と放電端子
２４との間で放電が発生する。
この放電時に放射される光スペクトルは、白熱電球２０
の検査ポジションの側方に配置された第１光センサ３１
および第２光センサ３２により受光される。これら第１
、第２光センサ３１，３２の受光方向は相互に異なるが
、図中破線で示すようにガラスバルブ３０内の所要の同
一箇所より受光するように設定されており、図示しない
マシンテーブル等にそれぞれ固定されている。これら第
１、第２光センサ３１．３２は第２図で示す放電時に放
射される光スペクトルのうち、所定の波長域の光を検出
するように光学フィルタを有し、例えば第１光センサ３
１は５６０ｎｍの周辺の波長域の光αを検出し、第２光
センサ３２は６７０ｎｍの周辺の波長域の光βを検出す
るための光学フィルタを装着している。
の検査ポジションの側方に配置された第１光センサ３１
および第２光センサ３２により受光される。これら第１
、第２光センサ３１，３２の受光方向は相互に異なるが
、図中破線で示すようにガラスバルブ３０内の所要の同
一箇所より受光するように設定されており、図示しない
マシンテーブル等にそれぞれ固定されている。これら第
１、第２光センサ３１．３２は第２図で示す放電時に放
射される光スペクトルのうち、所定の波長域の光を検出
するように光学フィルタを有し、例えば第１光センサ３
１は５６０ｎｍの周辺の波長域の光αを検出し、第２光
センサ３２は６７０ｎｍの周辺の波長域の光βを検出す
るための光学フィルタを装着している。
放電時に放射される光スペクトルのうち、波長が５６０
ｎｍ周辺の光αは第２図の分光分布図に示すように、良
品と、不純ガスの多く混ざった、あるいはリークの大き
い、不良の程麿が重度の重下良品との間では顕著なレベ
ル差を呈している。すなわち、光αは白熱電球２０が良
品である場合には、その光出力が比較的大きいが、不良
の程瓜が進むに従って漸次減少させて行き、上記重下良
品に至っては最小の出力を示す。したがって、この先α
のみを検出することにより白熱電球２０の良否を選別す
ることもできるが、白熱電球２０が所定の検査ポジショ
ンより偏位した場合にはレベル変動を１６き、正確な選
別を行なうことができない。
ｎｍ周辺の光αは第２図の分光分布図に示すように、良
品と、不純ガスの多く混ざった、あるいはリークの大き
い、不良の程麿が重度の重下良品との間では顕著なレベ
ル差を呈している。すなわち、光αは白熱電球２０が良
品である場合には、その光出力が比較的大きいが、不良
の程瓜が進むに従って漸次減少させて行き、上記重下良
品に至っては最小の出力を示す。したがって、この先α
のみを検出することにより白熱電球２０の良否を選別す
ることもできるが、白熱電球２０が所定の検査ポジショ
ンより偏位した場合にはレベル変動を１６き、正確な選
別を行なうことができない。
一方、波長が６７０ｎｍ周辺のβ光の光出力は白熱電球
２０の良品、不良品、重下良品に拘らずにほぼ一定であ
り、良品の場合に示すα波の光出力とほぼ同様のレベル
に達する。
２０の良品、不良品、重下良品に拘らずにほぼ一定であ
り、良品の場合に示すα波の光出力とほぼ同様のレベル
に達する。
したがって、αとβとの光強度比α／βの値が白熱電球
２０の品質を識別する際のパラメータとなり、しかも、
このα／βは白熱電球２０が所定の検査ポジションより
偏位してαとβとの両光にレベル変動が生じた場合には
、その変動は両光α。
２０の品質を識別する際のパラメータとなり、しかも、
このα／βは白熱電球２０が所定の検査ポジションより
偏位してαとβとの両光にレベル変動が生じた場合には
、その変動は両光α。
βに対しほぼ等しく作用するので、α／βはほぼ一定で
ある。
ある。
そこで、第１、第２光センサ３１，３２をインタフェー
ス３３を介して識別装置としてのコンピュータ３４に接
続し、コンピュータ３４にてα光とβ光との強度比α／
βを演算させると共に、その強度比α／βにより白熱電
球２０の良否の識別を行なわせている。コンピュータ３
４は周知のコンピュータよりなり、白熱電球２０の良否
の識別結果等をＣＲ７表示装置３５の画面上に表示し、
不良品に判定した場合は図示しない排除装置に排除信号
を与えて不良品を検査ラインより排除させると共に、そ
のデータを記憶部に格納する。
ス３３を介して識別装置としてのコンピュータ３４に接
続し、コンピュータ３４にてα光とβ光との強度比α／
βを演算させると共に、その強度比α／βにより白熱電
球２０の良否の識別を行なわせている。コンピュータ３
４は周知のコンピュータよりなり、白熱電球２０の良否
の識別結果等をＣＲ７表示装置３５の画面上に表示し、
不良品に判定した場合は図示しない排除装置に排除信号
を与えて不良品を検査ラインより排除させると共に、そ
のデータを記憶部に格納する。
本実施例による白熱電球２０の良否選別結果を第３図の
度数分布図に示す。第３図は重下良品が１５０個、経年
良品が１４０個、良品が４５０個の白熱電球２０につい
てα／βにより選別した結果を示しており、良品の殆ど
はα／β値の大きい区域に分布し、経年良品、重下良品
になるに従ってα／β値の小さい区域に分布することを
示している。すなわち、α／β値より白熱電球２０の良
否を高精痕かつ安定に選別することができることを示し
ている。
度数分布図に示す。第３図は重下良品が１５０個、経年
良品が１４０個、良品が４５０個の白熱電球２０につい
てα／βにより選別した結果を示しており、良品の殆ど
はα／β値の大きい区域に分布し、経年良品、重下良品
になるに従ってα／β値の小さい区域に分布することを
示している。すなわち、α／β値より白熱電球２０の良
否を高精痕かつ安定に選別することができることを示し
ている。
また、本実施例は放電時の光スペクトルのうち、所定波
長域のα光とその他の波長域のβ光との強度比α／βを
求めるので、仮に、白熱電球２０が所定の検出ポジショ
ンＪ：り偏位して放電の発生状況が相違し、両波長域の
光α、βにレベル変動が生じた場合でも、両光α、βの
強度比α／βはほぼ一定であるために、良否の選別能の
向上が図られる。例えば、第５図で示す従来例ではその
問題点等のために良否選別能力が約７０％程度であった
のに対し、本実施例では約９６％以上の良否選別能力を
有する。
長域のα光とその他の波長域のβ光との強度比α／βを
求めるので、仮に、白熱電球２０が所定の検出ポジショ
ンＪ：り偏位して放電の発生状況が相違し、両波長域の
光α、βにレベル変動が生じた場合でも、両光α、βの
強度比α／βはほぼ一定であるために、良否の選別能の
向上が図られる。例えば、第５図で示す従来例ではその
問題点等のために良否選別能力が約７０％程度であった
のに対し、本実施例では約９６％以上の良否選別能力を
有する。
なお、上述実施例では第１、第２光センサ３１゜３２に
よりα光、β光をそれぞれ個別に検出しているが、本発
明はこれに限定されるものではなく、例えば単一の光セ
ンサによりα光およびβ光の両スペクトルを同時に検出
させてもよい。
よりα光、β光をそれぞれ個別に検出しているが、本発
明はこれに限定されるものではなく、例えば単一の光セ
ンサによりα光およびβ光の両スペクトルを同時に検出
させてもよい。
また、光βを６７０ｎｍ周辺の光に設定しているが、本
発明はこれに限定されるものではなく、光αとの強度を
比較するに際し、都合のよい波長域の光でればよい。
発明はこれに限定されるものではなく、光αとの強度を
比較するに際し、都合のよい波長域の光でればよい。
さらに、識別装置としてコンピュータ３４を使用してい
るが、α／β値の演算機能とα／β値により白熱電球の
良否を識別する機能とを持っていればコンピュータでな
くともよいのは勿論である。
るが、α／β値の演算機能とα／β値により白熱電球の
良否を識別する機能とを持っていればコンピュータでな
くともよいのは勿論である。
以上説明したように本発明は、白熱電球に高電圧を印加
して放電を発生させる放電発生装置と、上記放電時に放
射される光スペクトルのうち、上記白熱電球のガス状態
に応じて出力を変動させる所定波長域の光と、出力の変
動の少ないその他の波長域の光との少なくとも２波長域
の光の強度を比較してこの強度比により上記白熱電球を
良品と不良品とに識別する識別装置とを有する。
して放電を発生させる放電発生装置と、上記放電時に放
射される光スペクトルのうち、上記白熱電球のガス状態
に応じて出力を変動させる所定波長域の光と、出力の変
動の少ないその他の波長域の光との少なくとも２波長域
の光の強度を比較してこの強度比により上記白熱電球を
良品と不良品とに識別する識別装置とを有する。
したがって、本発明によれば、白熱電球の良否選別のパ
ラメータとなる所定波長域の光とその他の波長域の光と
の少なくとも２波長域の光の強度比により、白熱電球を
良品と不良品とに選別するので、放電の発生状況が相違
して上記２波長域の出力レベルが共に変動した場合であ
っても、両光の強度比はほぼ一定であるために、その選
別を行なうことができる。すなわち、放電の発生状況が
相違しても正確かつ確実に良否の選別を行なうことがで
きるので、その選別能の著しい向上を図ることができる
。
ラメータとなる所定波長域の光とその他の波長域の光と
の少なくとも２波長域の光の強度比により、白熱電球を
良品と不良品とに選別するので、放電の発生状況が相違
して上記２波長域の出力レベルが共に変動した場合であ
っても、両光の強度比はほぼ一定であるために、その選
別を行なうことができる。すなわち、放電の発生状況が
相違しても正確かつ確実に良否の選別を行なうことがで
きるので、その選別能の著しい向上を図ることができる
。
第１図は本発明に係る白熱電球の自動選別装置の一実施
例の全体構成を示す構成図、第２図は放電時に放射され
る光スペクトルを白熱電球の品質別に示寸分光分布図、
第３図は第１図で示す実施例による選別結果を示す度数
分布図、第４図は従来例の模式図、第５図は他の従来例
のブロック線図である。 ２０・・・白熱電球、２１・・・高周波雷几発生装置、
２４・・・放電端子、３０・・・ガラスバルブ、３１・
・・第１光センサ、３２・・・第２光ンサ、３４・・・
コンピュータ。 ＝ １２− −羽便 奪刊栄 ゲ羽や剣輝 剣編
受節 蔓４ 図 茶 ５ 図 手続補正書（自利 昭和６１年 ９月３ 日 許庁長官 黒 １）明 雄 殿 事件の表示 昭和６０年特許願第１６７３９４号 発明の名称 白熱電球の自動選別装置 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人
例の全体構成を示す構成図、第２図は放電時に放射され
る光スペクトルを白熱電球の品質別に示寸分光分布図、
第３図は第１図で示す実施例による選別結果を示す度数
分布図、第４図は従来例の模式図、第５図は他の従来例
のブロック線図である。 ２０・・・白熱電球、２１・・・高周波雷几発生装置、
２４・・・放電端子、３０・・・ガラスバルブ、３１・
・・第１光センサ、３２・・・第２光ンサ、３４・・・
コンピュータ。 ＝ １２− −羽便 奪刊栄 ゲ羽や剣輝 剣編
受節 蔓４ 図 茶 ５ 図 手続補正書（自利 昭和６１年 ９月３ 日 許庁長官 黒 １）明 雄 殿 事件の表示 昭和６０年特許願第１６７３９４号 発明の名称 白熱電球の自動選別装置 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、白熱電球に高電圧を印加して放電を発生させる放電
発生装置と、上記放電時に放射される光スペクトルのう
ち、上記白熱電球のガス状態に応じて出力を変動させる
所定波長域の光と、出力の変動しないその他の波長域の
光との少なくとも２波長域の光の強度比により上記白熱
電球を良品と不良品とに識別する識別装置とを有するこ
とを特徴とする白熱電球の自動選別装置。 ２、白熱電球はアルゴンガスと窒素ガスの混合ガスを主
成分として封入したガス入り白熱電球であり、所定波長
域の光が５６０ｎｍの周辺の波長域の光である特許請求
の範囲第１項に記載の白熱電球の自動選別装置。 ３、その他の波長域の光が６７０ｎｍの周辺の波長域の
光である特許請求の範囲第２項に記載の白熱電球の自動
グロー選別装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60167394A JPS6237868A (ja) | 1985-07-31 | 1985-07-31 | 白熱電球の自動選別装置 |
| GB8618588A GB2180063B (en) | 1985-07-31 | 1986-07-30 | Lamp quality judgement method and apparatus therefor |
| NL8601954A NL8601954A (nl) | 1985-07-31 | 1986-07-30 | Apparaat en werkwijze voor het beoordelen van de kwaliteit van een elektrische lamp. |
| US06/891,132 US4759630A (en) | 1985-07-31 | 1986-07-31 | Lamp quality judgement apparatus and judgement method therefor |
| KR1019860006381A KR900005117B1 (ko) | 1985-07-31 | 1986-07-31 | 램프의 불량품 선별장치 및 그 선별방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60167394A JPS6237868A (ja) | 1985-07-31 | 1985-07-31 | 白熱電球の自動選別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6237868A true JPS6237868A (ja) | 1987-02-18 |
| JPH0475626B2 JPH0475626B2 (ja) | 1992-12-01 |
Family
ID=15848884
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60167394A Granted JPS6237868A (ja) | 1985-07-31 | 1985-07-31 | 白熱電球の自動選別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6237868A (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56117465U (ja) * | 1980-02-08 | 1981-09-08 | ||
| JPS56167236A (en) * | 1980-05-27 | 1981-12-22 | Toshiba Corp | Method of testing exhaust condition of fluorescent lamp |
| JPS573345A (en) * | 1980-06-05 | 1982-01-08 | Toshiba Corp | Testing of exhaustion in mercury vapor discharge lamp |
| JPS5713664A (en) * | 1980-06-30 | 1982-01-23 | Tokyo Shibaura Electric Co | Method of automatically sorging glow of incandescent bubl |
-
1985
- 1985-07-31 JP JP60167394A patent/JPS6237868A/ja active Granted
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56117465U (ja) * | 1980-02-08 | 1981-09-08 | ||
| JPS56167236A (en) * | 1980-05-27 | 1981-12-22 | Toshiba Corp | Method of testing exhaust condition of fluorescent lamp |
| JPS573345A (en) * | 1980-06-05 | 1982-01-08 | Toshiba Corp | Testing of exhaustion in mercury vapor discharge lamp |
| JPS5713664A (en) * | 1980-06-30 | 1982-01-23 | Tokyo Shibaura Electric Co | Method of automatically sorging glow of incandescent bubl |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0475626B2 (ja) | 1992-12-01 |
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