JPS6239399Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は表面電位検出装置に関し、さらに詳し
くは、電荷保持体に導電性の検出部材を接触せし
め、この検出部材に流れる電流により表面電位を
検出するタイプの表面電位検出装置に関するもの
である。

誘電体の表面電位を測定する方法あるいは装置
として、従来から象限型、振動容量型、回転セク
ター型、静電誘導型等のものが提案あるいは提供
されている。

一方、電子写真複写機の分野においては、電子
写真感光体の帯電、露光後の表面電位が複写画像
に大きな影響を与えることから、例えば米国特許
第3887845号同第4000944号等に示される如く、感
光体の表面電位を測定することにより帯電量を制
御する技術が知られている。

上記米国特許第3887845号に示されるものは、
導電性の検出素子を感光体表面に接触せしめ、感
光体の移動に伴つて検出素子に流れる電流により
表面電位に対応した信号を得るもので、検出信号
が大きく、測定回路も比較的簡単であり、検出素
子と感光体表面との距離変動に伴う検出誤差を生
じないという利点を有しているが、反面、感光体
表面から検出素子に流れる電流が表面電位だけで
なく周囲温湿度によつても変化し、それによる検
出誤差を生じるという欠点あるいは、検出素子に
異常放電による電流が流れ、これによつて検出誤
差を生じるという欠点があつた。

この周囲温湿度の変化による検出誤差に関して
は、本考案の出願人からすでに特願昭53−68165
号としてその解決手段が出願されているが、その
中で、上記異常放電による検出誤差に関しては、
検出素子の直前で電位を下げる露光を行い、検出
素子と感光体ベース間にバイアス電圧を印加する
等の対策を行なつている。

また、上記米国特許第3887845号あるいは特開
昭53−95636号等に示される接触型の表面電位検
出装置においてはこのような異常放電による検出
誤差は全く問題にされていないが、このことは、
検出すべき表面電位Ｖ_Sと検出素子への印加電圧
Ｖ_Bとの電位差Ｖ_Gが、異常放電を生じない電位で
あるという前提の上に考えられていることに起因
する。

しかしながら、感光体の使用条件や周囲環境等
によつては異常放電は無視できない問題であり、
また、上記本件出願人の示した対策によつても感
光体の初期表面電位や感光体の光感度等に対し、
環境条件によつては検出許容巾をこえることが起
こり得、十分な対策とは言えなかつた。

本考案はこのような点に着目してなされたもの
で、検出素子に対する異常放電を防止することに
より検出許容巾の上限を考慮することなく表面電
位の検出を実行できる表面電位検出装置を提供す
ることを目的とするものである。

以下、本考案の実施例を図面に従つて説明す
る。まず、異常放電現象につき第１図ａ，ｂを用
いて説明する。誘電体１は例えば矢印Ａ方向に駆
動されており、その進行方向に沿つて電位検出部
１ａが設けられ、帯電されている。この検出部１
ａ中において誘電体１表面に転接するように設け
られた検出素子２は導電性ゴム等の導電材で形成
され、軸２ａに接するブラシ３を介して検出回路
４に接続されている。

このような構成において検出素子２には接触部
分から誘電体１表面上の検出部１ａの帯電電位に
対応した電流が流れ、検出回路４によつて電位が
検出されるものであるが、時として接触部分だけ
でなく、検出素子２の両側部に対し、その近傍の
電荷が放電されることがあり、これが異常放電と
呼ばれ、検出値には異常放電による誤差が生じ
る。

本考案者等は異常放電による検出誤差が、上述
した如く検出素子２の両側部に対し、その近傍の
電荷の放電により生じることを見出し、検出部１
ａの巾d₁を検出素子２の巾d₀より小さくすること
により上記異常放電を防止するようになした。以
下、その具体的な構成につき説明する。

第２図は電子写真感光体１０の表面電位を検出
する場合を示したもので、感光体１０はドラム状
に形成され、ドラムの回転に伴い、遂次帯電用チ
ヤージヤ１１によりその表面が帯電される。感光
体ドラム１０の一側部は電位検出部１０ａとして
設定され、帯電後、適宜露光手段によりＢ，Ｃで
示す位置で露光を行い、初期帯電電位V₀に対
し、Ｂ，Ｃ位置の露光後の電位をV₁までおと
す。このV₁は感光体１０表面の電荷が検出素子
２に移動可能な最低電位Vthと同程度か、それ以
下となるように露光量を設定する。このＢ，Ｃ部
に対する露光後、露光されなかつた部分を検出部
として用い、この検出部１０ａの巾をd₁とし、検
出素子２の巾d₀との関係を d₀＞d₁ となるように設定する。このときの表面電位の状
態を第３図に示す。

このように検出部の巾d₁と検出素子の巾d₀との
関係を定めることにより上述した異常放電による
検出誤差は生じず、きわめて良好な電位検出を行
うことができた。

第４図に検出部１０ａの巾を規制する別実施例
を示す。

これは、帯電用チヤージヤ１１の下面にシール
ド板２０を設け、このシールド板２０に巾d₁のス
リツト２０ａを設け、スリツト巾d₁部分のみが帯
電されるようにしたもので、検出素子の巾d₀との
関係はd₀＞d₁である。

なお、上記実施例においては感光体ドラム１０
に対する初期帯電電位V₀を測定する場合を示し
たが、これは画像露光後の表面電位Viを測定す
るようになしても良い。

また、感光体ドラム１０上の電位検出部１０ａ
はドラムの端部に設けると感光体の膜厚ムラや取
扱時の汚れ等が生じやすく電位測定に際して誤差
が生じやすいため、少し中央寄りに設けることが
好ましい。

さらに、上記実施例においては検出素子２とし
て誘電体表面に転接するローラ型のものを示した
が、これは金属等の接片を接触させるものでも良
く、また、検出素子２を通つて流れる電流により
表面電位を検出する回路等はその制御あるいは測
定の目的に応じて適宜決定すれば良く、特に本考
案実施例においては具体例は示さない。

また、上記第１の実施例において示したＢ，Ｃ
部に対する露光は、適宜光源に対しＢ，Ｃ部に対
応した開孔を有するマスク等を用いて達成でき、
光源としては複写機においては露光ランプ等を用
いても良く、また別に電位検出部用の光源を設け
ても良い。

以上説明した如く本考案は誘電体表面の電位検
出部の巾d₁と検出素子の巾d₀との関係を、 d₀＞d₁ としたものであるから、検出素子の側部に対する
電荷の異常放電を生じず、このため検出誤差のな
い正確な表面電位の検出を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図ａ，ｂは従来装置の不都合点を説明する
ための図、第２図は本考案の１実施例を示す図、
第３図はその表面電位の状態を示す図、第４図は
本考案の別の実施例を示す図である。 １……誘電体、１ａ……検出部、２……検出素
子、４……検出回路、１０……感光体、１０ａ…
…検出部、Ｂ，Ｃ……露光位置、１１……帯電用
チヤージヤ、２０……シールド部材、２０ａ……
スリツト、d₀……検出素子の巾、d₁……検出部の
巾、V₀……表面電位（初期帯電電位）。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 １ 一方向に移動する誘電体の全面を帯電する帯
   電手段の下流位置で、上記誘電体表面の電位
   を、該表面に接触する導電性の検出素子に流れ
   る電流値によつて検出するようになした表面電
   位検出装置において、上記誘電体表面上におい
   て電位検出部を設定すると共に、その巾d₁を規
   制する手段を設け、上記検出素子の巾d₀との関
   係を、d₀＞d₁となしたことを特徴とする表面電
   位検出装置。 ２ 上記誘電体が光導電性を有する部材であり、
   上記規制手段が、上記検出部の巾d₁を残し、そ
   の両側を露光する露光手段である実用新案登録
   請求の範囲第１項記載の表面電位検出装置。 ３ 上記規制手段が上記誘電体を帯電する帯電手
   段と誘電体との間に設けられ、上記巾d₁のスリ
   ツトを有するシールド部材である実用新案登録
   請求の範囲第１項記載の表面電位検出装置。