JPS6239746A - 円筒体外観検査装置 - Google Patents
円筒体外観検査装置Info
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- JPS6239746A JPS6239746A JP60180334A JP18033485A JPS6239746A JP S6239746 A JPS6239746 A JP S6239746A JP 60180334 A JP60180334 A JP 60180334A JP 18033485 A JP18033485 A JP 18033485A JP S6239746 A JPS6239746 A JP S6239746A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/952—Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えば、発電用談燃料棒に用いられる核燃料
ベレット等のように横断面が円形をなす円筒形の検査体
の外観を自動的に検査する円筒体外観検査装置に関する
。
ベレット等のように横断面が円形をなす円筒形の検査体
の外観を自動的に検査する円筒体外観検査装置に関する
。
従来、例えば、円筒形核燃料ペレット（以下、ベレット
と称す）の外観検査は、検査Ｌ１が個々にベレットをビ
ンセットで掴み、目視で検査する方法や、レーザーによ
る走査及びラインセンサーを使った光学式による自動外
観検査装置で検査する方法等がある。これらのうち特徴
的なものとして、カメラを移動しながら円筒面（側面）
を検査する装Ｖｊｉ（特開昭５５−１６２１７８号公報
、特開昭５６−１６８４９号）、ペレットの端面の検査
装置（特開昭５５−１５４４４２号公報）、ペレットを
ローラーに乗せて回転させながら円筒面の検査をする方
法（特開昭５６−１６０６４５号公報）が挙げられる。
と称す）の外観検査は、検査Ｌ１が個々にベレットをビ
ンセットで掴み、目視で検査する方法や、レーザーによ
る走査及びラインセンサーを使った光学式による自動外
観検査装置で検査する方法等がある。これらのうち特徴
的なものとして、カメラを移動しながら円筒面（側面）
を検査する装Ｖｊｉ（特開昭５５−１６２１７８号公報
、特開昭５６−１６８４９号）、ペレットの端面の検査
装置（特開昭５５−１５４４４２号公報）、ペレットを
ローラーに乗せて回転させながら円筒面の検査をする方
法（特開昭５６−１６０６４５号公報）が挙げられる。
ところで、上述した目視による外観検査法は、人間によ
る官能検査であるため作業能率が低く、長時間の作業で
は、疲労等により検査レベルを−定に維持することが困
難であると共に、放射性のベレットの外観検査において
は、被曝防止のためにも、自動的に検査を行なえる外観
検査装置の開発が望まれていた。
る官能検査であるため作業能率が低く、長時間の作業で
は、疲労等により検査レベルを−定に維持することが困
難であると共に、放射性のベレットの外観検査において
は、被曝防止のためにも、自動的に検査を行なえる外観
検査装置の開発が望まれていた。
しかしながら、上記従来の外観検査装置には、それぞれ
次のような問題点がある。
次のような問題点がある。
すなわち、カメラを移動させながら側面を検査する装置
においては、機器の再現性、安定性、耐久性に問題があ
り、かつ速度にも限界がある。また、ベンッ１へを軸方
向に複数個並べて回転搬送さけながら、レーザーや一次
元センサーで検知するものは、検査しようとする円筒面
が回転と共に軸方向に移動するため、ベレットの境界が
不明瞭となり検査の信頼性が低くなったり、同時に端面
の検査が行なえない等の問題がある。さらに、特開昭５
５−１５４４４２号公報に記載された端面の検査装置に
あっては、その構造上、同時に円筒面の検査をすること
ができないという問題がある。
においては、機器の再現性、安定性、耐久性に問題があ
り、かつ速度にも限界がある。また、ベンッ１へを軸方
向に複数個並べて回転搬送さけながら、レーザーや一次
元センサーで検知するものは、検査しようとする円筒面
が回転と共に軸方向に移動するため、ベレットの境界が
不明瞭となり検査の信頼性が低くなったり、同時に端面
の検査が行なえない等の問題がある。さらに、特開昭５
５−１５４４４２号公報に記載された端面の検査装置に
あっては、その構造上、同時に円筒面の検査をすること
ができないという問題がある。
さらにまた、特開昭５６−１６０６４５号公報゛に記述
されている、ベレットをローラーに乗せ回転させながら
円筒面の検査を行なう方法にあっては、検出器が点また
は線画像を検出するイメージセンサ−であるために、検
査毎にベレットの搬送を止めて全周を検査した後、搬送
する間欠搬送をしなければならないが、ペレットがセラ
ミックのため、欠は易く、高速搬送が難しいので、ペレ
ットの搬送及び回転機構を高性能なものにしないと、ペ
レットに損傷（欠け、ひび等）を与えると共に、間欠搬
送や方向及び姿勢変換が必要になり、高速の検査は困難
である。
されている、ベレットをローラーに乗せ回転させながら
円筒面の検査を行なう方法にあっては、検出器が点また
は線画像を検出するイメージセンサ−であるために、検
査毎にベレットの搬送を止めて全周を検査した後、搬送
する間欠搬送をしなければならないが、ペレットがセラ
ミックのため、欠は易く、高速搬送が難しいので、ペレ
ットの搬送及び回転機構を高性能なものにしないと、ペ
レットに損傷（欠け、ひび等）を与えると共に、間欠搬
送や方向及び姿勢変換が必要になり、高速の検査は困難
である。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、その目的
とするところは、連続的にかつ自動的に円筒面の展開画
像を収集することができると共に、検査体を迅速かつ確
実に検査できるコンパクトな円筒体外観検査装置を提供
することにある。
とするところは、連続的にかつ自動的に円筒面の展開画
像を収集することができると共に、検査体を迅速かつ確
実に検査できるコンパクトな円筒体外観検査装置を提供
することにある。
上記目的を達成するために、本発明は、複数の円筒形の
検査体をそれぞれ同方向に回転させながら、各検査体を
その中心軸に直角方向に′＆続搬送する搬送部と、この
搬送部の上方に配置され、かつ上記各検査体を躍像する
エリアセンサーを備えたｗＬ＠部と、この充像部のエリ
アセンサーからの各検査体の中央部に対応した一次元画
素信号を選択的に読み出し、各検査体の画像メモリーに
スタック状に書き込んで各検査体の円筒面の展開画像を
連続的に収集する画像制御回路とを設けたものである。
検査体をそれぞれ同方向に回転させながら、各検査体を
その中心軸に直角方向に′＆続搬送する搬送部と、この
搬送部の上方に配置され、かつ上記各検査体を躍像する
エリアセンサーを備えたｗＬ＠部と、この充像部のエリ
アセンサーからの各検査体の中央部に対応した一次元画
素信号を選択的に読み出し、各検査体の画像メモリーに
スタック状に書き込んで各検査体の円筒面の展開画像を
連続的に収集する画像制御回路とを設けたものである。
本発明の円筒体外観検査装置にあっては、搬送部におい
て、回転しながら連続搬送させられている複数の検査体
の上方から、擾象部のエリアセンサーによって各検査体
を搬像すると共に、この搬像したエリアセンサーから各
検査体の中央部に対応する一次元画素信りを画像制御回
路において選択的に読み出し、画像メモリーにスタック
状に書き込んで各検査体の円筒面の展開画像を連続的に
収集する。
て、回転しながら連続搬送させられている複数の検査体
の上方から、擾象部のエリアセンサーによって各検査体
を搬像すると共に、この搬像したエリアセンサーから各
検査体の中央部に対応する一次元画素信りを画像制御回
路において選択的に読み出し、画像メモリーにスタック
状に書き込んで各検査体の円筒面の展開画像を連続的に
収集する。
以下、第１図ないし第６図に基づいて本発明の一実施例
を説明する。
を説明する。
第１図は本発明の一実施例の全体構成を示す図である。
この図において、符号１はベンッ１〜Ｐの搬送部であり
、この搬送部１においては、ペレットＰを回転させなが
らベレット供給部２からペレット排出部３に搬送するた
めの複数のローラー４が、それぞれ、それらの両端面に
回転自在に連結されたチェーン５によって、無端状（長
円状）に形成されると共に、これらのローラー４の両端
面とチェーン５との間において、各ローラー４の軸に装
着された歯車６が、第２図に示すように、各ローラー４
の下方の固定ベルト７に固定したラック８に噛合されて
いるものである。そして、図示せぬ駆動装置によって、
第２図において、チェーン５を左方に移動させると、こ
れに伴い、各ローラー４が左方に移動Ｊることにより、
固定ベルト７のラック８に噛合している歯車６が反時計
回りに反転して、ローラー４を反時計回りに回転させる
ようになっている。また、各ローラー４上に載置されて
いるベンッｌ−Ｐの回転が安定する搬送部１の中間部の
上方に゛は、レンズ９とエリアセンサ−１０と高速シャ
ッターとを有する円筒面画像様（撮像部）１１が、その
エリアセンサー１０の水平走査方向をペレットＰの軸方
向に一致させ、かつ複数（本実施例にＪ３いては３個）
のペレットＰの円筒面を同時に撮像するように配置され
ている。
、この搬送部１においては、ペレットＰを回転させなが
らベレット供給部２からペレット排出部３に搬送するた
めの複数のローラー４が、それぞれ、それらの両端面に
回転自在に連結されたチェーン５によって、無端状（長
円状）に形成されると共に、これらのローラー４の両端
面とチェーン５との間において、各ローラー４の軸に装
着された歯車６が、第２図に示すように、各ローラー４
の下方の固定ベルト７に固定したラック８に噛合されて
いるものである。そして、図示せぬ駆動装置によって、
第２図において、チェーン５を左方に移動させると、こ
れに伴い、各ローラー４が左方に移動Ｊることにより、
固定ベルト７のラック８に噛合している歯車６が反時計
回りに反転して、ローラー４を反時計回りに回転させる
ようになっている。また、各ローラー４上に載置されて
いるベンッｌ−Ｐの回転が安定する搬送部１の中間部の
上方に゛は、レンズ９とエリアセンサ−１０と高速シャ
ッターとを有する円筒面画像様（撮像部）１１が、その
エリアセンサー１０の水平走査方向をペレットＰの軸方
向に一致させ、かつ複数（本実施例にＪ３いては３個）
のペレットＰの円筒面を同時に撮像するように配置され
ている。
そして、この円筒面ＩＥｉ像様１１が撮像するペレット
Ｐの両端面の外方には、それぞれ、各端面を撮像するた
めの一対の端面撮８Ｉ機１２が配置されている。さらに
、一方の端面撮像機１２の近傍には、ペレットＰの位置
を検出するだめの３個の検出器１３が、それぞれ、ペレ
ットＰの搬送方向に並んだ状態で設置されている、ざら
にまた、上記ベレット排出部３のベレット選別部１４に
は、１個の検出器１３が配置されており、不合格のペレ
ットＰの通過をこの検出器１３が検出すると、ペレット
選別部１４のｎｒｇ１機構１４ａが開いて、・該ペレッ
トＰが下方に落下するようになっている。
Ｐの両端面の外方には、それぞれ、各端面を撮像するた
めの一対の端面撮８Ｉ機１２が配置されている。さらに
、一方の端面撮像機１２の近傍には、ペレットＰの位置
を検出するだめの３個の検出器１３が、それぞれ、ペレ
ットＰの搬送方向に並んだ状態で設置されている、ざら
にまた、上記ベレット排出部３のベレット選別部１４に
は、１個の検出器１３が配置されており、不合格のペレ
ットＰの通過をこの検出器１３が検出すると、ペレット
選別部１４のｎｒｇ１機構１４ａが開いて、・該ペレッ
トＰが下方に落下するようになっている。
上記各検出器１３の検出信号は、指令用コントローラ１
５に入力されており、この信０号によって、指令用コン
トローラ１５は、ペレットＰの位置に同期して上記各撮
像機１１．１２を制御して、ペレットＰの円筒面の展開
画像及び両端面の画像を得るようになっている。 − このペレットＰの円筒面の展開画像を得るための電気回
路部について、第３図に基づい′Ｃ説明すると、上記各
検出器１３の検出信号が入力された指令用コントローラ
１５の円筒面用の指令制御回路１６は、該検出信号に基
づいて、上記円筒面撮像機１１のエリアセンサー１０と
円筒面画像制御回路１７に対して指令信号を出力するよ
うにな−って、いる。このエリアセンサー１０としては
、例えば、３ケ所の走査画素をアドレス指定で読み出し
可能な５１２Ｘ５１２のエリアセンサーが用いられる。
５に入力されており、この信０号によって、指令用コン
トローラ１５は、ペレットＰの位置に同期して上記各撮
像機１１．１２を制御して、ペレットＰの円筒面の展開
画像及び両端面の画像を得るようになっている。 − このペレットＰの円筒面の展開画像を得るための電気回
路部について、第３図に基づい′Ｃ説明すると、上記各
検出器１３の検出信号が入力された指令用コントローラ
１５の円筒面用の指令制御回路１６は、該検出信号に基
づいて、上記円筒面撮像機１１のエリアセンサー１０と
円筒面画像制御回路１７に対して指令信号を出力するよ
うにな−って、いる。このエリアセンサー１０としては
、例えば、３ケ所の走査画素をアドレス指定で読み出し
可能な５１２Ｘ５１２のエリアセンサーが用いられる。
また、上記円筒面画像制御回路１７は、上記指令制御回
路１６の指令信号に基づいて、３個のペレットＰ＋ 、
Ｐ２ 、Ｐ３の像ＰＩ’、Ｐ２’ＩＰ３′の軸に相当す
るエリアセンサー１０の各水平走査撮像素子スタックＰ
Ｓ＋ 、ＰＳ２ 、ＰＳ３のみを能動化し、ＡＤ変換器
１８を介して、各ペレットＰ＋ 、Ｐ２ 、Ｐ３に対応
するそれぞれの二次元（Ｘ、Ｙ）の画像メモリー１９の
記憶部Ｍ１゜Ｍ２．Ｍ３．・・・に書き込むものである
。そして、画像メモリー１９の各記憶部Ｍ１〜Ｍ５に書
き込まれた円筒面の展開画像は、随時、画像の前処理が
行なわれ、画像切替え回路２０により、適時、画像モニ
ター２１でモニターされるようになっていると共に、円
筒面判定回路２２に送出されている。この円筒面判定回
路２２は、第４図に示すように、円筒面展開画像２３か
ら欠は像２４や割れ像２５を抽出し、検査基準と比較し
て、ペレットＰの合否を判定するものであり、この結果
が上記指令制御回路１６に入力されることによって、該
指令ルリ御回路１６は上記ペレット選別部１４を制御す
るようになっている。
路１６の指令信号に基づいて、３個のペレットＰ＋ 、
Ｐ２ 、Ｐ３の像ＰＩ’、Ｐ２’ＩＰ３′の軸に相当す
るエリアセンサー１０の各水平走査撮像素子スタックＰ
Ｓ＋ 、ＰＳ２ 、ＰＳ３のみを能動化し、ＡＤ変換器
１８を介して、各ペレットＰ＋ 、Ｐ２ 、Ｐ３に対応
するそれぞれの二次元（Ｘ、Ｙ）の画像メモリー１９の
記憶部Ｍ１゜Ｍ２．Ｍ３．・・・に書き込むものである
。そして、画像メモリー１９の各記憶部Ｍ１〜Ｍ５に書
き込まれた円筒面の展開画像は、随時、画像の前処理が
行なわれ、画像切替え回路２０により、適時、画像モニ
ター２１でモニターされるようになっていると共に、円
筒面判定回路２２に送出されている。この円筒面判定回
路２２は、第４図に示すように、円筒面展開画像２３か
ら欠は像２４や割れ像２５を抽出し、検査基準と比較し
て、ペレットＰの合否を判定するものであり、この結果
が上記指令制御回路１６に入力されることによって、該
指令ルリ御回路１６は上記ペレット選別部１４を制御す
るようになっている。
また、端面画像と全展開画像の処ｌＩｌ！系について第
５図に基づいて筒単に説明すると、指令用コントローラ
１５によって制御される端面撮像Ｉａ１２は、上記指令
制御回路１６の同期信号により、ペレットＰの両端面を
撮像するものであり、この搬像ざ゛れた端面画像は、端
面画像メモリー２６に書き込まれるようになっている。
５図に基づいて筒単に説明すると、指令用コントローラ
１５によって制御される端面撮像Ｉａ１２は、上記指令
制御回路１６の同期信号により、ペレットＰの両端面を
撮像するものであり、この搬像ざ゛れた端面画像は、端
面画像メモリー２６に書き込まれるようになっている。
、そして、この端面画像メモリー２６と円筒面用の画像
メモリー１９の端面画像と円筒面展ｌｒｉＩｉｉＭｉ像
とは、全展開画像メモリー２７に送出されて、全農Ｗｒ
Ｊ画像メモリー２７において、第６図に示すように、仝
展開画像２８が合成されるようになっている。この全展
開画像２８と端面画像とは、上＆！両像切ｎえ回路２０
に入力されて、それぞれ、画像モニター２１でモニター
されるようになっていると共に、各々、全展開画像判定
回路２９と端面１ｉｒｒｓ判定回路３０に対して送出さ
れている。そして、全展開画像判定回路２９は、第６図
に示すように、全展開画像２８から端部欠陥３１を抽出
して、検査基準と比較し、ペレットＰの合否を判定する
ものであり、また端面画像判定回路３０は、端面Ｆｆｉ
像から欠け、割れ等の欠陥を抽出して、検査基準と比較
して、ペレットＰの合否を判定するものである。これら
の判定回路２９．３０の選別信号は、上記指令用コント
ローラ１５に送られるようになっている。
メモリー１９の端面画像と円筒面展ｌｒｉＩｉｉＭｉ像
とは、全展開画像メモリー２７に送出されて、全農Ｗｒ
Ｊ画像メモリー２７において、第６図に示すように、仝
展開画像２８が合成されるようになっている。この全展
開画像２８と端面画像とは、上＆！両像切ｎえ回路２０
に入力されて、それぞれ、画像モニター２１でモニター
されるようになっていると共に、各々、全展開画像判定
回路２９と端面１ｉｒｒｓ判定回路３０に対して送出さ
れている。そして、全展開画像判定回路２９は、第６図
に示すように、全展開画像２８から端部欠陥３１を抽出
して、検査基準と比較し、ペレットＰの合否を判定する
ものであり、また端面画像判定回路３０は、端面Ｆｆｉ
像から欠け、割れ等の欠陥を抽出して、検査基準と比較
して、ペレットＰの合否を判定するものである。これら
の判定回路２９．３０の選別信号は、上記指令用コント
ローラ１５に送られるようになっている。
次に、上記のように構成された円筒面外観検査装置の動
作について説明する。
作について説明する。
まず、第１図と第２図に示すように、ベレットＰ＋ 、
Ｐ２ 、Ｐｇ・・・をローラー４で回転させながら、該
ローラー４を支持しているチェーン５を搬送させること
によって、水平方向に移動させる。
Ｐ２ 、Ｐｇ・・・をローラー４で回転させながら、該
ローラー４を支持しているチェーン５を搬送させること
によって、水平方向に移動させる。
この場合、例えば、直径９胴、長さ１５ｍＩＮの核燃料
ベレットの搬送速度を３０ｒｒｍ／ｓ１！ｅとし、ベレ
ットＰの回転速度を、該ベレットＰを３０姻搬送する間
に１回転するように設定する。そして、３ｉのベレット
Ｐ＋ 、Ｐ２ 、Ｐｇをレンズ９を通して、エリアセン
サー１０に各ベレットＰ＋ 、 Ｐ２ 、 Ｐｇの像Ｐ
＋ ’ ＋ Ｐ ２．” ｌ Ｐ ３ ’ を作り搬
像する。
ベレットの搬送速度を３０ｒｒｍ／ｓ１！ｅとし、ベレ
ットＰの回転速度を、該ベレットＰを３０姻搬送する間
に１回転するように設定する。そして、３ｉのベレット
Ｐ＋ 、Ｐ２ 、Ｐｇをレンズ９を通して、エリアセン
サー１０に各ベレットＰ＋ 、 Ｐ２ 、 Ｐｇの像Ｐ
＋ ’ ＋ Ｐ ２．” ｌ Ｐ ３ ’ を作り搬
像する。
この撮像操作は、各ベレットＰＩ 、 Ｐ２ 、 Ｐｇ
。
。
・・・の位置に対応して、指令制御回路１６によって、
円筒面比＠機１１が制御され、繰返し行なわれるが、こ
の時、各ベレットＰ＋ 、Ｐ２ 、Ｐｇ、、・・・が回
転し移動しているから、前に撮像された位置から回転移
動した円筒面が順次撮像される。
円筒面比＠機１１が制御され、繰返し行なわれるが、こ
の時、各ベレットＰ＋ 、Ｐ２ 、Ｐｇ、、・・・が回
転し移動しているから、前に撮像された位置から回転移
動した円筒面が順次撮像される。
次いで、上記各ベレットＰ＋ 、Ｐ２ 、Ｐｇの位置を
検出する検出器１３の検出信号によって、指令制御回路
１６が円筒面画像制御回路１７に指令を与え、各ベレッ
トＰ＋ 、Ｐ２ 、Ｐｇの像Ｐ１′。
検出する検出器１３の検出信号によって、指令制御回路
１６が円筒面画像制御回路１７に指令を与え、各ベレッ
トＰ＋ 、Ｐ２ 、Ｐｇの像Ｐ１′。
ｐ２ｒ、ｐ３ｒの中心軸に相当するエリアセンサ−１０
の各水平走査層像素子スタックＰＳ＋ 、Ｐｇ２ 、Ｐ
ｇ３を能動化する。そして、円筒面画像制御回路１７は
、各ベレットＰ＋ 、Ｐ２ 、Ｐｇの像Ｐ ＋ ’ ＊
Ｐ ２ ’ ｌ Ｐ ３ ’の中心軸に相当するエリ
アセンナ−１０の水平走査撮像素子スタックＰＳ＋ 、
Ｐｇ２ 、Ｐｇ３から水平方向の画素データを選択的に
読出し、ＡＤ変換器１８でデジタル化して、各ベレット
Ｐ＋ 、Ｐ２ 、Ｐｇに対応する画像メモリー１９の各
記憶部Ｍ１〜Ｍ５のＸ方向メモリーに、Ｙ方向へ積上げ
るように一次元配置で書き込む。
の各水平走査層像素子スタックＰＳ＋ 、Ｐｇ２ 、Ｐ
ｇ３を能動化する。そして、円筒面画像制御回路１７は
、各ベレットＰ＋ 、Ｐ２ 、Ｐｇの像Ｐ ＋ ’ ＊
Ｐ ２ ’ ｌ Ｐ ３ ’の中心軸に相当するエリ
アセンナ−１０の水平走査撮像素子スタックＰＳ＋ 、
Ｐｇ２ 、Ｐｇ３から水平方向の画素データを選択的に
読出し、ＡＤ変換器１８でデジタル化して、各ベレット
Ｐ＋ 、Ｐ２ 、Ｐｇに対応する画像メモリー１９の各
記憶部Ｍ１〜Ｍ５のＸ方向メモリーに、Ｙ方向へ積上げ
るように一次元配置で書き込む。
続いて、各ベレットＰ＋ 、Ｐ２ 、Ｐｇが搬送部１の
ローラー４によって一定距離移動回転した後、再度各ベ
レットＰ＋ 、Ｐ２ 、Ｐｇの像Ｐ＋ ’ 、 Ｐ２′
、Ｐ３′の中心ＩＴＩ！ｌに相当するエリアセンサー１
０の水平方向撮像素子スタックＰＳ＋ 、Ｐｇ２ 。
ローラー４によって一定距離移動回転した後、再度各ベ
レットＰ＋ 、Ｐ２ 、Ｐｇの像Ｐ＋ ’ 、 Ｐ２′
、Ｐ３′の中心ＩＴＩ！ｌに相当するエリアセンサー１
０の水平方向撮像素子スタックＰＳ＋ 、Ｐｇ２ 。
Ｐｇ３のみを円筒画面像制御回路１７で能動化し、円筒
面搬＠槻１１で各ベレットＰ＋ 、Ｐ２ 、Ｐｇを搬像
する。そして、円筒画面像制御回路１７は、各ベレット
Ｐ＋ 、Ｐ２ 、Ｐｇの像Ｐ＋’、Ｐｚ’。
面搬＠槻１１で各ベレットＰ＋ 、Ｐ２ 、Ｐｇを搬像
する。そして、円筒画面像制御回路１７は、各ベレット
Ｐ＋ 、Ｐ２ 、Ｐｇの像Ｐ＋’、Ｐｚ’。
Ｐ３′の中心軸に相当するエリアセンサー１０の水平方
向搬像素子スタックＰＳ＋ 、Ｐｇ２ 、Ｐｇ３から水
平方向の画素データを選択的に読出し、ＡＤ変換器１８
でデジタル化して、各ベレットＰ＋ 、Ｐ２ 、Ｐｇに
対応する画像メモリー１９の各記憶部Ｍ１〜Ｍ５に積上
げるように書き込む。
向搬像素子スタックＰＳ＋ 、Ｐｇ２ 、Ｐｇ３から水
平方向の画素データを選択的に読出し、ＡＤ変換器１８
でデジタル化して、各ベレットＰ＋ 、Ｐ２ 、Ｐｇに
対応する画像メモリー１９の各記憶部Ｍ１〜Ｍ５に積上
げるように書き込む。
これらの操作を繰り返すことにより、第４図に示すよう
に、画像メモリー１９の各記憶部Ｍ１〜Ｍ５にベレット
Ｐ＋ 、Ｐ２ 、Ｐｇ 、・・・の各円筒面展開画像２
３が順次記録される。これらの円筒面展開画像２３は、
随時画像の前処理が行われ、画像切替え回路２０によっ
て、適時、画像モニター２１でモニターされると共に、
円筒面判定回路２２によって、各ベレットＰ＋ 、Ｐ２
＊ Ｐｇ ＊・・・の欠は像２４１割れ像２５を抽出
し、検査基準と比較して、ベレットＰ＋ 、Ｐ２ 、Ｐ
ｇ 、・・・の合否が判定される。そして、この判定結
果゛が指令制御回路１６に送られ、指令制御回路１６は
、ベレットＰの搬送と同期させて、ベレット選別部１４
に指令信号を出力し、ベレットＰが不合格の場合に、開
閉機構１４ａを開いて、不合格のベレットＰを落下させ
る。
に、画像メモリー１９の各記憶部Ｍ１〜Ｍ５にベレット
Ｐ＋ 、Ｐ２ 、Ｐｇ 、・・・の各円筒面展開画像２
３が順次記録される。これらの円筒面展開画像２３は、
随時画像の前処理が行われ、画像切替え回路２０によっ
て、適時、画像モニター２１でモニターされると共に、
円筒面判定回路２２によって、各ベレットＰ＋ 、Ｐ２
＊ Ｐｇ ＊・・・の欠は像２４１割れ像２５を抽出
し、検査基準と比較して、ベレットＰ＋ 、Ｐ２ 、Ｐ
ｇ 、・・・の合否が判定される。そして、この判定結
果゛が指令制御回路１６に送られ、指令制御回路１６は
、ベレットＰの搬送と同期させて、ベレット選別部１４
に指令信号を出力し、ベレットＰが不合格の場合に、開
閉機構１４ａを開いて、不合格のベレットＰを落下させ
る。
また、ベレットＰ＋ 、Ｐ２ 、Ｐｇ 、Ｐ４ 、Ｐｓ
・・・は連続で順次回転Ｗｉ送され、かつこれらのベレ
ットＰ＋ 、Ｐ２．’Ｐ３．Ｐａ 、Ｐｓ・・・が順次
ｉ像、円筒面展開、判定と順次処理が行なわれることに
より、連続的に自動でベレットの円筒面の外観検査が行
なわれる。ぞして、上記判定処理が終了した各ベレット
Ｐ＋、Ｐ２．Ｐ３．”・の円筒面展間画像２３を書き込
んだ画像メモリー１９の各記憶部Ｍ１〜Ｍ５には、順次
、次に回転搬送されてくるベレットＰの円筒面展開画像
２３が書き込まれることによって、限定された画像メモ
リー１９で連続した外観検査が処理できる。
・・・は連続で順次回転Ｗｉ送され、かつこれらのベレ
ットＰ＋ 、Ｐ２．’Ｐ３．Ｐａ 、Ｐｓ・・・が順次
ｉ像、円筒面展開、判定と順次処理が行なわれることに
より、連続的に自動でベレットの円筒面の外観検査が行
なわれる。ぞして、上記判定処理が終了した各ベレット
Ｐ＋、Ｐ２．Ｐ３．”・の円筒面展間画像２３を書き込
んだ画像メモリー１９の各記憶部Ｍ１〜Ｍ５には、順次
、次に回転搬送されてくるベレットＰの円筒面展開画像
２３が書き込まれることによって、限定された画像メモ
リー１９で連続した外観検査が処理できる。
上記円筒面の判定処理と並行して、指令制御回路１６の
同期信号によって、各ベレットＰ （Ｐ＋ 。
同期信号によって、各ベレットＰ （Ｐ＋ 。
Ｐ２ ＊ Ｐｇ ＊・・・）の両端面が端面撮像機１２
によつて撮像され、この端面両像が端面画像判定回路３
０によって判定され、この結果が指令用コントローラ１
５に送られる。そして、指令用コントローラ１５は、上
記判定結果に基づいて、ベレット選別部１４に対して指
令信号を出力し、不合格のペレットＰをＩＦｉＩ１３＃
ＩＩｉ構１４ａを開くことによって、下方に落とす。
によつて撮像され、この端面両像が端面画像判定回路３
０によって判定され、この結果が指令用コントローラ１
５に送られる。そして、指令用コントローラ１５は、上
記判定結果に基づいて、ベレット選別部１４に対して指
令信号を出力し、不合格のペレットＰをＩＦｉＩ１３＃
ＩＩｉ構１４ａを開くことによって、下方に落とす。
また、これと同時に、ペレットＰの外観欠陥のうち、ペ
レット円筒端部に右る欠陥３１及びベレット端面の端に
ある欠陥３１については、上記円筒面展開画像２３と端
面画像を合わせた全展開画像２８を作り、この全展開画
像２８に基づいて、全展開画像判定回路２９において、
これらの端部欠陥３１を抽出して、検査、基準と比較し
、ペレットＰの合否を判定する。そして、この結果に基
づいて、指令用コントローラ１５がペレット選択部１４
に選別信号を送って、ペレットＰの選別を行なう。
レット円筒端部に右る欠陥３１及びベレット端面の端に
ある欠陥３１については、上記円筒面展開画像２３と端
面画像を合わせた全展開画像２８を作り、この全展開画
像２８に基づいて、全展開画像判定回路２９において、
これらの端部欠陥３１を抽出して、検査、基準と比較し
、ペレットＰの合否を判定する。そして、この結果に基
づいて、指令用コントローラ１５がペレット選択部１４
に選別信号を送って、ペレットＰの選別を行なう。
以上のようにして、ペレットＰの全自動外観検査が行な
われるが、この場゛合、ペレットＰをその軸線に直角な
方向に連続的に回転搬送しながら、選択的に能動化した
エリアセンＦｊ−１０で複数のベンッｌ−Ｐを同時に撮
像し、これらのペレットＰの画像のうち中心部の画素の
みを各ペレットＰに対応した画像メモリー１９の各記憶
部Ｍ１〜Ｍ５にそれぞれスタック状に書き込むことによ
って、円筒面の展開１ｉｈｉ像を得ることができ、従っ
て、ペレットＰを比較的低速回転及び低速搬送速度で移
動させるにもかかわらず、連続して複数個まとめて検査
することができ、処理効率の向上を図る゛ことができる
上に、コンパクトな検査装置で自動化を行なうことがで
きる。例えば、毎秒３個のペレットＰの自動外観検査を
行なう場合、ペレットＰを毎秒３ ｃｍ搬送させ、かつ
毎秒１回転させることにより、０．０６＃ｌｌ１１の分
解能で検査が可能となり、ペレットＰの搬送におけるト
ラブルを減少できる。
われるが、この場゛合、ペレットＰをその軸線に直角な
方向に連続的に回転搬送しながら、選択的に能動化した
エリアセンＦｊ−１０で複数のベンッｌ−Ｐを同時に撮
像し、これらのペレットＰの画像のうち中心部の画素の
みを各ペレットＰに対応した画像メモリー１９の各記憶
部Ｍ１〜Ｍ５にそれぞれスタック状に書き込むことによ
って、円筒面の展開１ｉｈｉ像を得ることができ、従っ
て、ペレットＰを比較的低速回転及び低速搬送速度で移
動させるにもかかわらず、連続して複数個まとめて検査
することができ、処理効率の向上を図る゛ことができる
上に、コンパクトな検査装置で自動化を行なうことがで
きる。例えば、毎秒３個のペレットＰの自動外観検査を
行なう場合、ペレットＰを毎秒３ ｃｍ搬送させ、かつ
毎秒１回転させることにより、０．０６＃ｌｌ１１の分
解能で検査が可能となり、ペレットＰの搬送におけるト
ラブルを減少できる。
また、ペレットＰの展開画像解析後、その画像メモリー
に新しい画像データを記録することにより、画像メモリ
ーの使用効率の向上を図ることができ、かつ連続したペ
レットＰの外観検査を限られた画像メモリーで処理でき
る。さらに、ペレットＰの円筒面展開画像と共に、両端
面画像を撮像して、両者を合わせて全展開画像を作成し
、外観の合否を判定するから、特に、ペレットＰの端面
と円筒面との境界部（端部）の欠陥を検査し易く、外観
検査の信頼性が大幅に向上する。さらにまた、ペレット
Ｐの円筒面展間画像、両端面画像、全展開画像をそれぞ
れ作成し、各画像毎に独自の検査基準を設定して、ペレ
ットＰの合否の判定を行ない、ベレット選択部１４にお
いて、選別を行なうものであるから、ペレットの外観検
査を速やかにかつ確実に行なうことができ、かつペレッ
トＰの合否の選別が円滑に行なえる。
に新しい画像データを記録することにより、画像メモリ
ーの使用効率の向上を図ることができ、かつ連続したペ
レットＰの外観検査を限られた画像メモリーで処理でき
る。さらに、ペレットＰの円筒面展開画像と共に、両端
面画像を撮像して、両者を合わせて全展開画像を作成し
、外観の合否を判定するから、特に、ペレットＰの端面
と円筒面との境界部（端部）の欠陥を検査し易く、外観
検査の信頼性が大幅に向上する。さらにまた、ペレット
Ｐの円筒面展間画像、両端面画像、全展開画像をそれぞ
れ作成し、各画像毎に独自の検査基準を設定して、ペレ
ットＰの合否の判定を行ない、ベレット選択部１４にお
いて、選別を行なうものであるから、ペレットの外観検
査を速やかにかつ確実に行なうことができ、かつペレッ
トＰの合否の選別が円滑に行なえる。
以上説明したように、本発明によれば、複数の円筒形の
検査体をそれぞれ同方向に回転させながら、各検査体を
それらの中心軸に対して直角方向に連続搬送する搬送部
と、この搬送部の上方に配置され、かつ上記各検査体を
Ｂ像するエリアセンサーを備えたＲ像部と、この撮像部
のエリアセンサーからの各検査体の中央部←対応した一
次元画素信号を選択的に読み出し、各検査体の画像メモ
リーにスタック状に書き込んで各検査体の円筒面の展開
画像を連続的に収集する画像制御回路とを設けたもので
あるから、回転しながら連続搬送させられている複数の
検査体の上方から、撮像部のエリアセンサーによって各
検査体を撮像づると共に、このＩＩ像したエリアセンサ
ーから各検査体の中央部に対応する一時元画素信号を画
像制御回路において選択的に読み出し、画像メモリーに
スタック状に古き込んで各検査体の円筒面の展開画像を
連続的にかつ自動的に収集するさとかできると共に、検
査体を迅速かつ確実に検査でき、検査効率の大幅な向上
を図ることができるという優れた効果を右する。
検査体をそれぞれ同方向に回転させながら、各検査体を
それらの中心軸に対して直角方向に連続搬送する搬送部
と、この搬送部の上方に配置され、かつ上記各検査体を
Ｂ像するエリアセンサーを備えたＲ像部と、この撮像部
のエリアセンサーからの各検査体の中央部←対応した一
次元画素信号を選択的に読み出し、各検査体の画像メモ
リーにスタック状に書き込んで各検査体の円筒面の展開
画像を連続的に収集する画像制御回路とを設けたもので
あるから、回転しながら連続搬送させられている複数の
検査体の上方から、撮像部のエリアセンサーによって各
検査体を撮像づると共に、このＩＩ像したエリアセンサ
ーから各検査体の中央部に対応する一時元画素信号を画
像制御回路において選択的に読み出し、画像メモリーに
スタック状に古き込んで各検査体の円筒面の展開画像を
連続的にかつ自動的に収集するさとかできると共に、検
査体を迅速かつ確実に検査でき、検査効率の大幅な向上
を図ることができるという優れた効果を右する。
第１図ないし第６図は本発明の一実施例を示づもので、
第１図は全体の構成を示す概略ＦＡ視図、第２図はペレ
ットの搬送部と円筒面躍像部の構成を示す側面図、第３
゛図はペレット円筒面展開画盛系の信号処理と制御の構
成を示すブロック図、第４図はベレット円筒面展開画像
の生成例を説明する説明図、第５図はベレット全展開画
像系の信号処理と制御の構成を示すブロック図、第６図
はベンッ１〜全展開画像の生成例を説明する説明図であ
る。 １・・・・・・搬送部、１０・・・・・・エリアセンナ
−１１１・・・・・・円筒面搬像別（ｂν像部）、１７
・・・・・・円筒面画像制御回路、１９・・・・・・画
像メモリー、２３・・・・・・円筒面展間画像、Ｐ、Ｐ
＋〜Ｐ５・・・・・・ベレット（検査体） 、ＰＳ＋
、ＰＳ２ 、ＰＳ３・・・・・・水平走査撮像素子スタ
ック。 第１図 第２図 第３図 第４図 第５図
第１図は全体の構成を示す概略ＦＡ視図、第２図はペレ
ットの搬送部と円筒面躍像部の構成を示す側面図、第３
゛図はペレット円筒面展開画盛系の信号処理と制御の構
成を示すブロック図、第４図はベレット円筒面展開画像
の生成例を説明する説明図、第５図はベレット全展開画
像系の信号処理と制御の構成を示すブロック図、第６図
はベンッ１〜全展開画像の生成例を説明する説明図であ
る。 １・・・・・・搬送部、１０・・・・・・エリアセンナ
−１１１・・・・・・円筒面搬像別（ｂν像部）、１７
・・・・・・円筒面画像制御回路、１９・・・・・・画
像メモリー、２３・・・・・・円筒面展間画像、Ｐ、Ｐ
＋〜Ｐ５・・・・・・ベレット（検査体） 、ＰＳ＋
、ＰＳ２ 、ＰＳ３・・・・・・水平走査撮像素子スタ
ック。 第１図 第２図 第３図 第４図 第５図
Claims (1)
- 複数の円筒形の検査体をそれぞれ同方向に回転させなが
ら、これらの検査体をその中心軸に直角方向に連続搬送
する搬送部と、この搬送部の上方に配置され、かつ上記
各検査体を撮像するエリアセンサーを備えた撮像部と、
この撮像部のエリアセンサーからの各検査体の中央部に
対応した一次元画素信号を選択的に読み出し、各検査体
の画像メモリーにスタック状に書き込んで各検査体の円
筒面の展開画像を連続的に収集する画像制御回路とを具
備したことを特徴とする円筒体外観検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60180334A JPS6239746A (ja) | 1985-08-16 | 1985-08-16 | 円筒体外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60180334A JPS6239746A (ja) | 1985-08-16 | 1985-08-16 | 円筒体外観検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6239746A true JPS6239746A (ja) | 1987-02-20 |
| JPH0362222B2 JPH0362222B2 (ja) | 1991-09-25 |
Family
ID=16081403
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60180334A Granted JPS6239746A (ja) | 1985-08-16 | 1985-08-16 | 円筒体外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6239746A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01284745A (ja) * | 1988-05-10 | 1989-11-16 | Showa Aruminiumukan Kk | 円筒状物の印刷良否選別装置 |
| EP0597639A1 (en) * | 1992-11-12 | 1994-05-18 | Westinghouse Electric Corporation | Non-contact surface flaw detection |
| JP2008064624A (ja) * | 2006-09-07 | 2008-03-21 | Toyo Inspections Kk | 撮像装置及び撮像方法 |
| JP2013542427A (ja) * | 2010-10-08 | 2013-11-21 | キャプシュゲル・ベルジウム・エヌ・ヴィ | 三次元物体表面の二次元画像を取得する装置及び方法 |
| JP2015064301A (ja) * | 2013-09-25 | 2015-04-09 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 表面欠陥検査装置及び表面欠陥検査方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018017547A (ja) * | 2016-07-26 | 2018-02-01 | 日本電気硝子株式会社 | ガラス物品の検査方法、ガラス物品の製造方法、及びガラス物品の検査装置 |
-
1985
- 1985-08-16 JP JP60180334A patent/JPS6239746A/ja active Granted
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01284745A (ja) * | 1988-05-10 | 1989-11-16 | Showa Aruminiumukan Kk | 円筒状物の印刷良否選別装置 |
| EP0597639A1 (en) * | 1992-11-12 | 1994-05-18 | Westinghouse Electric Corporation | Non-contact surface flaw detection |
| JP2008064624A (ja) * | 2006-09-07 | 2008-03-21 | Toyo Inspections Kk | 撮像装置及び撮像方法 |
| JP2013542427A (ja) * | 2010-10-08 | 2013-11-21 | キャプシュゲル・ベルジウム・エヌ・ヴィ | 三次元物体表面の二次元画像を取得する装置及び方法 |
| US9414027B2 (en) | 2010-10-08 | 2016-08-09 | Capsugel Belgium Nv | Apparatus and method for acquiring a two-dimensional image of the surface of a three-dimensional object |
| US9575011B2 (en) | 2010-10-08 | 2017-02-21 | Capsugel Belgium Nv | Apparatus and method for acquiring a two-dimensional image of the surface of a three-dimensional object |
| US10113977B2 (en) | 2010-10-08 | 2018-10-30 | Capsugel Belgium Nv | Apparatus and method for acquiring a two-dimensional image of the surface of a three-dimensional object |
| JP2015064301A (ja) * | 2013-09-25 | 2015-04-09 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 表面欠陥検査装置及び表面欠陥検査方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0362222B2 (ja) | 1991-09-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |